JPH1082624A - 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 - Google Patents
瓶口部・ネジ部ビリ検査装置Info
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- JPH1082624A JPH1082624A JP25560496A JP25560496A JPH1082624A JP H1082624 A JPH1082624 A JP H1082624A JP 25560496 A JP25560496 A JP 25560496A JP 25560496 A JP25560496 A JP 25560496A JP H1082624 A JPH1082624 A JP H1082624A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】瓶種毎の型替え設定を自動化し、瓶の口部・ネ
ジ部のビリ検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行
い、欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形等
の欠陥検出感度を有し、欠陥部位の仕分け、欠陥種別の
仕分けを行い、品質管理を向上させた瓶口部・ネジ部ビ
リ検査装置を提供する。 【解決手段】検査位置におかれた被検査瓶７を回転させ
る公知の回転手段５と、瓶口部及びネジ部を中心として
周囲に配置したＮ個、好ましくは２以上、より好ましく
は２〜３０個の、最も好ましくは２０個前後の投光器１
と、Ｍ個、好ましくは２以上、より好ましくは２〜１２
０個の、最も好ましくは６０〜７０個前後の受光器２
を、被検査瓶を中心として略半球形状に配置し、被検査
瓶の各検査ポイントに対して、Ｎ＊Ｍの回数の受光器に
よる明度処理を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって、
一定間隔、例えば、１〜１０ｍｍ間隔程度で明度処理を
行う。
ジ部のビリ検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行
い、欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形等
の欠陥検出感度を有し、欠陥部位の仕分け、欠陥種別の
仕分けを行い、品質管理を向上させた瓶口部・ネジ部ビ
リ検査装置を提供する。 【解決手段】検査位置におかれた被検査瓶７を回転させ
る公知の回転手段５と、瓶口部及びネジ部を中心として
周囲に配置したＮ個、好ましくは２以上、より好ましく
は２〜３０個の、最も好ましくは２０個前後の投光器１
と、Ｍ個、好ましくは２以上、より好ましくは２〜１２
０個の、最も好ましくは６０〜７０個前後の受光器２
を、被検査瓶を中心として略半球形状に配置し、被検査
瓶の各検査ポイントに対して、Ｎ＊Ｍの回数の受光器に
よる明度処理を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって、
一定間隔、例えば、１〜１０ｍｍ間隔程度で明度処理を
行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、製瓶又は瓶充填工場ラ
インにおいて、瓶口部・ネジ部のビリ検査において、自
動化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。
インにおいて、瓶口部・ネジ部のビリ検査において、自
動化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、製瓶又は瓶充填工場ラインにおい
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査は、ライン上にて、
目視検査によるか又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂ
のａ：ｂで検査部位毎に複数の検査ステーションを占有
して、公知のハンドリングマシン上で瓶種毎、ビリ欠陥
種毎に手動目視により投光器、受光器等を設定し、検査
を行っていた。また、もうひとつの方法としては、固定
の複数の照明を、瓶の口部・ネジ部にあて、ＣＣＤカメ
ラにて検査部位に公知のウインドウをかけて、検査を行
っている。
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査は、ライン上にて、
目視検査によるか又は複数の投光器ａ、複数の受光器ｂ
のａ：ｂで検査部位毎に複数の検査ステーションを占有
して、公知のハンドリングマシン上で瓶種毎、ビリ欠陥
種毎に手動目視により投光器、受光器等を設定し、検査
を行っていた。また、もうひとつの方法としては、固定
の複数の照明を、瓶の口部・ネジ部にあて、ＣＣＤカメ
ラにて検査部位に公知のウインドウをかけて、検査を行
っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
目視による方法では、高速に流れるライン上では、欠陥
の識別は困難であり、又前記の複数投光器を使用してビ
リ欠陥種別毎に手動目視により設定した検査方法では、
瓶の口部・ネジ部のどこに欠陥が発生するか判らない上
に、瓶の口部・ネジ部のビリに対しては、あらゆる型の
ビリに対応した検査を行うことができないし、公知の瓶
の型替え時には、投光器等の設定に時間を要するという
問題点を有している。前記もう一つの方法であるＣＣＤ
カメラによる検査では、縦状のビリ検出には有効である
が、瓶ネジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度
が低いという問題点を有している。また、型替え時には
カメラ、照明、感度等を再設定し直さなければならない
という問題点を有している。本発明は、従来容易でなか
った瓶種毎の型替え設定を自動化し、瓶の口部・ネジ部
のビリ検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行い、
且つ、欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形
等の欠陥検出感度を有し、さらに、欠陥部位の仕分け、
欠陥種別の仕分けを行い、品質管理を向上させることが
できる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置を提供することを目
的とする。
目視による方法では、高速に流れるライン上では、欠陥
の識別は困難であり、又前記の複数投光器を使用してビ
リ欠陥種別毎に手動目視により設定した検査方法では、
瓶の口部・ネジ部のどこに欠陥が発生するか判らない上
に、瓶の口部・ネジ部のビリに対しては、あらゆる型の
ビリに対応した検査を行うことができないし、公知の瓶
の型替え時には、投光器等の設定に時間を要するという
問題点を有している。前記もう一つの方法であるＣＣＤ
カメラによる検査では、縦状のビリ検出には有効である
が、瓶ネジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度
が低いという問題点を有している。また、型替え時には
カメラ、照明、感度等を再設定し直さなければならない
という問題点を有している。本発明は、従来容易でなか
った瓶種毎の型替え設定を自動化し、瓶の口部・ネジ部
のビリ検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行い、
且つ、欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形
等の欠陥検出感度を有し、さらに、欠陥部位の仕分け、
欠陥種別の仕分けを行い、品質管理を向上させることが
できる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置を提供することを目
的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、
検査位置におかれた被検査瓶を回転させる公知の回転手
段と、瓶口部及びネジ部を中心として周囲に配置したＮ
個、好ましくは２以上、より好ましくは２〜３０個の、
最も好ましくは２０個前後の投光器と、Ｍ個、好ましく
は２以上、より好ましくは２〜１２０個の、最も好まし
くは６０〜７０個前後の受光器を、被検査瓶を中心とし
て好ましくは略半球形状に配置し、被検査瓶の各検査ポ
イントに対して、ＮXＭの回数の受光器による明度処理
を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって、一定間隔、例
えば、１〜１０ｍｍ間隔程度で明度処理を行う。ここ
で、明度処理とは、受光輝度の採取処理をいう。検査ポ
イントとは、１スキャンにおいて、投受光される瓶上の
エリアのことである。その時、全周分の検査スキャン数
をＬとすると、ＬXＮXＭの数の明度処理データが採取さ
れる。次に、公知のデータ並替処理手段により、各投光
器毎、受光器毎のデータをチャンネル単位で並替を行う
と、並替られたデータが得られる。これをデータ並替処
理という。その後、前記Ｌに対して、ＮXＭの受光それ
ぞれについて、受光データの微分処理を行う。この微分
処理とは、公知の差分処理であり、公知の微分手段を用
いて実行される。この微分処理により、明暗の変化点と
受光データの変化量が検出され、 １）良品瓶の場合には、検出された前記変化量のいずれ
かのデータが、しきい値設定を越えないよう、微分レベ
ル判定値をＮXＭチャンネルに対して、それぞれ自動設
定しているため、ビリ欠陥として検出されない。 ２）ビリ欠陥瓶の場合には、ＮXＭチャンネルでいずれ
かの微分レベルデータが微分レベル判定値を越えるた
め、ビリ欠陥として検出され、排出信号が出力され、排
出される。ここで、微分レベル判定値とは、微分処理さ
れ、一定のマージンを持って設定される値のことであ
る。この場合、本発明では、各投光器からの投光が同時
点灯でないため、複数の投受光間の干渉現象が発生せ
ず、ビリ検出を正確に且つ網羅的に行うことができる。
成するために、瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、
検査位置におかれた被検査瓶を回転させる公知の回転手
段と、瓶口部及びネジ部を中心として周囲に配置したＮ
個、好ましくは２以上、より好ましくは２〜３０個の、
最も好ましくは２０個前後の投光器と、Ｍ個、好ましく
は２以上、より好ましくは２〜１２０個の、最も好まし
くは６０〜７０個前後の受光器を、被検査瓶を中心とし
て好ましくは略半球形状に配置し、被検査瓶の各検査ポ
イントに対して、ＮXＭの回数の受光器による明度処理
を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって、一定間隔、例
えば、１〜１０ｍｍ間隔程度で明度処理を行う。ここ
で、明度処理とは、受光輝度の採取処理をいう。検査ポ
イントとは、１スキャンにおいて、投受光される瓶上の
エリアのことである。その時、全周分の検査スキャン数
をＬとすると、ＬXＮXＭの数の明度処理データが採取さ
れる。次に、公知のデータ並替処理手段により、各投光
器毎、受光器毎のデータをチャンネル単位で並替を行う
と、並替られたデータが得られる。これをデータ並替処
理という。その後、前記Ｌに対して、ＮXＭの受光それ
ぞれについて、受光データの微分処理を行う。この微分
処理とは、公知の差分処理であり、公知の微分手段を用
いて実行される。この微分処理により、明暗の変化点と
受光データの変化量が検出され、 １）良品瓶の場合には、検出された前記変化量のいずれ
かのデータが、しきい値設定を越えないよう、微分レベ
ル判定値をＮXＭチャンネルに対して、それぞれ自動設
定しているため、ビリ欠陥として検出されない。 ２）ビリ欠陥瓶の場合には、ＮXＭチャンネルでいずれ
かの微分レベルデータが微分レベル判定値を越えるた
め、ビリ欠陥として検出され、排出信号が出力され、排
出される。ここで、微分レベル判定値とは、微分処理さ
れ、一定のマージンを持って設定される値のことであ
る。この場合、本発明では、各投光器からの投光が同時
点灯でないため、複数の投受光間の干渉現象が発生せ
ず、ビリ検出を正確に且つ網羅的に行うことができる。
【０００５】同様に、本発明にかかる装置では、投光の
反射光の検出ができること、且つ光の反射方向が変わる
のを検出できるので、欠陥種別では、泡、異物、カケ、
ネジ出及び変形等の欠陥を検出することができる。ま
た、口部のうち、特に天面部に関しては、天スジ、天流
れ、天カミダシ、天泡を検出することができる。
反射光の検出ができること、且つ光の反射方向が変わる
のを検出できるので、欠陥種別では、泡、異物、カケ、
ネジ出及び変形等の欠陥を検出することができる。ま
た、口部のうち、特に天面部に関しては、天スジ、天流
れ、天カミダシ、天泡を検出することができる。
【０００６】又、その場合、欠陥部位の仕分け、欠陥種
別の仕分けを行うことにより、品質管理を向上させ、生
産性を高めることができる。即ち、前記ＮXＭの各チャ
ネルを使用者が任意に欠陥種別を設定することにより、
仕分けを各カウンターにより読みとることができる。
別の仕分けを行うことにより、品質管理を向上させ、生
産性を高めることができる。即ち、前記ＮXＭの各チャ
ネルを使用者が任意に欠陥種別を設定することにより、
仕分けを各カウンターにより読みとることができる。
【０００７】
【作用】本発明によれば、瓶口部・ネジ部のビリ欠陥検
出を網羅的に行うことができ、かつ、投受光器の配列が
固定化され、感度も自動設定のため、繁忙な瓶種毎の型
替作業を迅速に行うことができる。また、同時に泡、異
物、カケ、ネジ出及び変形欠陥等も検出でき、欠陥部位
の仕分け、欠陥種別の仕分けを行うことにより、品質管
理を向上させ、品質管理面の向上が計れる。
出を網羅的に行うことができ、かつ、投受光器の配列が
固定化され、感度も自動設定のため、繁忙な瓶種毎の型
替作業を迅速に行うことができる。また、同時に泡、異
物、カケ、ネジ出及び変形欠陥等も検出でき、欠陥部位
の仕分け、欠陥種別の仕分けを行うことにより、品質管
理を向上させ、品質管理面の向上が計れる。
【０００８】本発明で使用できる投光器としては、高速
点灯できるとの理由で、ＬＥＤ投光器が好ましいが、こ
れに限定されるものではなく、レーザー光でも可能であ
る。
点灯できるとの理由で、ＬＥＤ投光器が好ましいが、こ
れに限定されるものではなく、レーザー光でも可能であ
る。
【０００９】本発明で使用できる受光器としては、投光
器からの光量の変化を採取できれば良く、フォト受光器
が好ましいが、これに限定されるものではなく、受光デ
バイスであれば足りる。
器からの光量の変化を採取できれば良く、フォト受光器
が好ましいが、これに限定されるものではなく、受光デ
バイスであれば足りる。
【００１０】本発明で用いられる投光器及び受光器は、
好ましくは、略半球状の検査治具ベットによって、被検
査瓶の周囲に固定、または半固定で用いられる。
好ましくは、略半球状の検査治具ベットによって、被検
査瓶の周囲に固定、または半固定で用いられる。
【００１１】本発明において良品瓶を良品と判定するた
めの感度設定は、微分レベル判定値の増減によって行わ
れる。
めの感度設定は、微分レベル判定値の増減によって行わ
れる。
【００１２】本発明において、欠陥部位、欠陥種別の仕
分けはチャンネルの位置の検出によって行われる。
分けはチャンネルの位置の検出によって行われる。
【００１３】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
以下に詳細に説明する。図１は、本発明の一実施例の概
略で、投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示す説
明図である。図２は、検査治具上における投受光センサ
の詳細配置図である。図３は、ハンドリングマシン上に
おける検査治具の取付側面図である。図４は、本発明の
一実施例の概略を示すシステムブロック図である。図５
は、投受光タイミングと検査エリアを示す説明図であ
る。図６は、実機オンライン時における検査処理タイミ
ング図である。図７は、本発明の一実施例の処理手段を
示すシステムのフローチャートである。図８は、実機オ
ンライン時における動作処理のフローチャートである。
図９は、微分処理の説明図である。図１０は、オンライ
ン時における表示画面である。
以下に詳細に説明する。図１は、本発明の一実施例の概
略で、投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示す説
明図である。図２は、検査治具上における投受光センサ
の詳細配置図である。図３は、ハンドリングマシン上に
おける検査治具の取付側面図である。図４は、本発明の
一実施例の概略を示すシステムブロック図である。図５
は、投受光タイミングと検査エリアを示す説明図であ
る。図６は、実機オンライン時における検査処理タイミ
ング図である。図７は、本発明の一実施例の処理手段を
示すシステムのフローチャートである。図８は、実機オ
ンライン時における動作処理のフローチャートである。
図９は、微分処理の説明図である。図１０は、オンライ
ン時における表示画面である。
【０００９】図１に示すように、検査位置におかれた被
検査瓶７は、回転方向８のように回転し、投光器配置位
置１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置し、投光線３、受光線４のエリ
アで投受光を行う。
検査瓶７は、回転方向８のように回転し、投光器配置位
置１には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置２に
は、複数の受光器を配置し、投光線３、受光線４のエリ
アで投受光を行う。
【００１４】図２に示すように、検査位置の被検査瓶７
は、ハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０個、受光器１２は６４個配置する。
は、ハンドリングマシン上のスターホイル１３上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド９上に位置し、投
光器１１は１０個、受光器１２は６４個配置する。
【００１５】図３に示したのは、検査治具の側面図で、
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により、治具ヘッド９を被検査
瓶７に対して、検査最適位置に設定する。
高さ位置可変ノブ１４、左右方向位置可変ノブ１５、前
後方向位置可変ノブ１６により、治具ヘッド９を被検査
瓶７に対して、検査最適位置に設定する。
【００１６】図４に、本システムのシステムブロック構
成図を示す。図５、図６を参考して説明する。投光レン
ズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成する投
光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０の投光タイミング（図５に示
す）を２８〜３７（図４）のようにコントロールロジッ
ク回路２１により制御した。受光レンズ１７、受光素子
１８、受光アンプ１９、受光ケーブル２０で構成する受
光器ＮＯ．１からＮＯ．６４は、受光タイミング３８の
タイミングで、一投光毎に受光スキャンを行い、投光
器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそれぞれ受光スキャンを行
う。コントロールロジック回路２１により、受光スキャ
ンのマルチプレックスタイミングを制御し、マルチプレ
ックスＡ／Ｄ変換を行い、コントロールロジック２１を
通して、ＣＰＵ２３に受光データを読み込み、投受光一
スキャン分のデータ採取が完了する。この投受光一スキ
ャンを瓶一周分にわたって、データ採取処理を行う。１
スキャン目の受光タイミング３９、２スキャン目の受光
タイミング４０であり、その時の１スキャン目の検査エ
リア４２、２スキャン目の検査エリア４３、３スキャン
目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検査エリア４１で
ある。被検査瓶７が回転方向８のように回転するため、
全周にわたってデータ採取処理が行われる。
成図を示す。図５、図６を参考して説明する。投光レン
ズ２５、投光素子２６、投光ケーブル２７で構成する投
光器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０の投光タイミング（図５に示
す）を２８〜３７（図４）のようにコントロールロジッ
ク回路２１により制御した。受光レンズ１７、受光素子
１８、受光アンプ１９、受光ケーブル２０で構成する受
光器ＮＯ．１からＮＯ．６４は、受光タイミング３８の
タイミングで、一投光毎に受光スキャンを行い、投光
器ＮＯ．１〜ＮＯ．１０までそれぞれ受光スキャンを行
う。コントロールロジック回路２１により、受光スキャ
ンのマルチプレックスタイミングを制御し、マルチプレ
ックスＡ／Ｄ変換を行い、コントロールロジック２１を
通して、ＣＰＵ２３に受光データを読み込み、投受光一
スキャン分のデータ採取が完了する。この投受光一スキ
ャンを瓶一周分にわたって、データ採取処理を行う。１
スキャン目の受光タイミング３９、２スキャン目の受光
タイミング４０であり、その時の１スキャン目の検査エ
リア４２、２スキャン目の検査エリア４３、３スキャン
目の検査エリア４４、Ｎスキャン目の検査エリア４１で
ある。被検査瓶７が回転方向８のように回転するため、
全周にわたってデータ採取処理が行われる。
【００１７】これをハンドリングマシンとのタイミング
で説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が瓶
１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内に瓶
全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中ま
での間、検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検査
結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信号
を出力する。
で説明すると、マシン回転クロック４５の一周期分が瓶
１本のハンドリングとすると、検査中４６の期間内に瓶
全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中ま
での間、検査処理４８が行われ、検査中の先頭で検査
結果４７を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信号
を出力する。
【００１８】図７にＣＰＵ部２３におけるソフトウェア
の処理の概要を示し、その説明を行うと、POWER ON５８
で初期設定５９の処理により、システム動作の準備を行
う。次に、選択が、オフライン６０の場合は、オフライ
ンの初期設定６２の処理によりオフライン処理の準備を
行い、処理選択を待つ。オフライン処理には個別投光画
面処理６３、欠陥検出モニター処理６４、ファイル処理
６５があり、選択により実行する。又、選択がオンライ
ンの場合には、ON LINE処理６１を実行する。
の処理の概要を示し、その説明を行うと、POWER ON５８
で初期設定５９の処理により、システム動作の準備を行
う。次に、選択が、オフライン６０の場合は、オフライ
ンの初期設定６２の処理によりオフライン処理の準備を
行い、処理選択を待つ。オフライン処理には個別投光画
面処理６３、欠陥検出モニター処理６４、ファイル処理
６５があり、選択により実行する。又、選択がオンライ
ンの場合には、ON LINE処理６１を実行する。
【００１９】図８にON LINE処理６１のフローチャート
を示して説明すると、ON LINEスタート７０により処理
が開始され、検査中、信号比較手段７１により検査中４
６（図６）を認識し、投受光のスキャンが開始される。
その時、ＣＰＵは受光データ採取処理手段７２により、
一投光器当たり６０受光データ、１スキャン１０投光器
分のデータを読み込み、瓶一周分以上、瓶回転速度に対
応したスキャン数、およそ約１００スキャン分のデータ
を読み込む作業を行う。次に、データ並替処理手段７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、チャンネル単位で並替を行うと、
１０Ｘ６０スキャンの並び替えられたデータとして成立
する。その後、それらのスキャンデータを各スキャン毎
に微分処理手段７５により公知の微分処理を行うことに
より、受光データの変化量を算出する。そして、良品瓶
の場合には、検出された前記変化量のいずれかのデータ
ががしきい値設定を越えないよう、微分レベル判定値を
ＮXＭチャンネルに対して、それぞれ自動設定している
ため、ビリ欠陥として検出されないが、ビリ欠陥瓶の場
合には、ＮXＭチャンネルでいずれかの微分レベルデー
タが微分レベル判定値を越えるため、ビリ欠陥として検
出され、排出信号が出力され、排出される。そして、し
きい値比較処理手段７６により設定されたしきい値を越
えた場合は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥
分類処理手段７７により、投光器と受光器の関係によっ
て、あらかじめ決められた欠陥分類によって分類され
る。そして、検査結果処理手段７８により、ＮＧ信号が
出力され、被検査瓶は排出され、画面表示処理手段７９
でＮＧ検出を表示し、ループ８０で次の被検査瓶を待
つ。
を示して説明すると、ON LINEスタート７０により処理
が開始され、検査中、信号比較手段７１により検査中４
６（図６）を認識し、投受光のスキャンが開始される。
その時、ＣＰＵは受光データ採取処理手段７２により、
一投光器当たり６０受光データ、１スキャン１０投光器
分のデータを読み込み、瓶一周分以上、瓶回転速度に対
応したスキャン数、およそ約１００スキャン分のデータ
を読み込む作業を行う。次に、データ並替処理手段７４
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約１００スキ
ャンのデータとして、チャンネル単位で並替を行うと、
１０Ｘ６０スキャンの並び替えられたデータとして成立
する。その後、それらのスキャンデータを各スキャン毎
に微分処理手段７５により公知の微分処理を行うことに
より、受光データの変化量を算出する。そして、良品瓶
の場合には、検出された前記変化量のいずれかのデータ
ががしきい値設定を越えないよう、微分レベル判定値を
ＮXＭチャンネルに対して、それぞれ自動設定している
ため、ビリ欠陥として検出されないが、ビリ欠陥瓶の場
合には、ＮXＭチャンネルでいずれかの微分レベルデー
タが微分レベル判定値を越えるため、ビリ欠陥として検
出され、排出信号が出力され、排出される。そして、し
きい値比較処理手段７６により設定されたしきい値を越
えた場合は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥
分類処理手段７７により、投光器と受光器の関係によっ
て、あらかじめ決められた欠陥分類によって分類され
る。そして、検査結果処理手段７８により、ＮＧ信号が
出力され、被検査瓶は排出され、画面表示処理手段７９
でＮＧ検出を表示し、ループ８０で次の被検査瓶を待
つ。
【００２０】図９に微分処理と、しきい値比較処理の説
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０個の投光器、６４個の受光器のうちの一投
光器、一受光器における約１００スキャン分のデータの
並替後のデータである。欠陥時レベルデータ６８、受光
センサベースデータ６６のような場合、微分比較幅であ
るＣＰパラメータ６７は、設定値１〜１０程度の数値で
設定し、何スキャン前のデータと差分をとるかを設定す
るパラメータである。スライスパラメータ６９は設定値
５〜１００程度の数値で設定し、しきい値として使用さ
れ、このしきい値を越えると欠陥と判定される。
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ８３
は、前記１０個の投光器、６４個の受光器のうちの一投
光器、一受光器における約１００スキャン分のデータの
並替後のデータである。欠陥時レベルデータ６８、受光
センサベースデータ６６のような場合、微分比較幅であ
るＣＰパラメータ６７は、設定値１〜１０程度の数値で
設定し、何スキャン前のデータと差分をとるかを設定す
るパラメータである。スライスパラメータ６９は設定値
５〜１００程度の数値で設定し、しきい値として使用さ
れ、このしきい値を越えると欠陥と判定される。
【００２１】図１０に、ＯＮ ＬＩＮＥ時の画面を示
し、説明すると、良品本数８４、欠陥本数８５、トータ
ル処理本数８６をモニターし、欠陥本数８５の内分とし
て、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックすることにより、欠陥原因を究明する
ために重要なデータとなる。
し、説明すると、良品本数８４、欠陥本数８５、トータ
ル処理本数８６をモニターし、欠陥本数８５の内分とし
て、横ビリ本数８７、縦ビリ本数８８を表示し、さら
に、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示される。投光器
番号８９、受光器番号９０、欠陥検出比較９１は、製瓶
における欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上
にフィードバックすることにより、欠陥原因を究明する
ために重要なデータとなる。
【発明の効果】本発明によれば、製瓶工場において、瓶
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずることができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずることができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。
【図１】 投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示
す説明図。
す説明図。
【図２】 投受光センサの詳細配置図。
【図３】 検査治具の取付側面図。
【図４】 本発明の一実施例のシステムブロック図。
【図５】 投受光タイミングと検査エリアを示す説明
図。
図。
【図６】 実機オンライン時における検査処理タイミン
グ図。
グ図。
【図７】 本発明の一実施例のソフトウェアの概略を示
すシステムのフローチャート。
すシステムのフローチャート。
【図８】 実機オンライン時における動作処理のフロー
チャート。
チャート。
【図９】 微分処理の説明図。
【図１０】 オンライン時における表示画面。
１ 投光器配置位置 ２ 受光器配置位置 ３ 投光線 ４ 受光線 ５ 瓶回転受ローラー ６ 瓶回転ローラー ７ 被検査瓶 ８ 瓶回転方向 ９ 治具ヘッド １０ 欠 １１ 投光器 １２ 受光器 １３ スターホイル １４ 高さ可変ツマミ １５ 左右可変ツマミ １６ 前後方向可変ツマミ １７ 受光レンズ １８ 受光素子 １９ 受光アンプ ２０ 受光ケーブル ２１ マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路 ２２ コントロールロジック回路 ２３ ＣＰＵ部 ２４ 表示部 ２５ 投光レンズ ２６ 投光素子 ２７ 投光ケーブル ２８〜３７ 投光器ＮＯ，１〜ＮＯ．１０投光タイミン
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ ８４ 良品本数 ８５ 欠陥本数 ８６ トータル処理本数 ８７ 横ビリ本数 ８８ 縦ビリ本数 ８９ 投光器番号 ９０ 受光器番号 ９１ 欠陥検出比率
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成８年１１月１日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】 投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示
す説明図。
す説明図。
【図２】 投受光センサの詳細配置図。
【図３】 検査治具の取付側面図。
【図４】 本発明の一実施例のシステムブロック図。
【図５】 投受光タイミングと検査エリアを示す説明
図。
図。
【図６】 実機オンライン時における検査処理タイミン
グ図。
グ図。
【図７】 本発明の一実施例のソフトウェアの概略を示
すシステムのフローチャート。
すシステムのフローチャート。
【図８】 実機オンライン時における動作処理のフロー
チャート。
チャート。
【図９】 微分処理の説明図。
【符号の説明】 １ 投光器配置位置 ２ 受光器配置位置 ３ 投光線 ４ 受光線 ５ 瓶回転受ローラー ６ 瓶回転ローラー ７ 被検査瓶 ８ 瓶回転方向 ９ 治具ヘッド １０ 欠 １１ 投光器 １２ 受光器 １３ スターホイル １４ 高さ可変ツマミ １５ 左右可変ツマミ １６ 前後方向可変ツマミ １７ 受光レンズ １８ 受光素子 １９ 受光アンプ ２０ 受光ケーブル ２１ マルチプレックスＡ／Ｄ変換回路 ２２ コントロールロジック回路 ２３ ＣＰＵ部 ２４ 表示部 ２５ 投光レンズ ２６ 投光素子 ２７ 投光ケーブル ２８〜３７ 投光器ＮＯ，１〜ＮＯ．１０投光タイミン
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ
グ ３８ 受光タイミング ３９ １スキャン目の受光タイミング ４０ ２スキャン目の受光タイミング ４１ Ｎスキャン目の検査エリア ４２ １スキャン目の検査エリア ４３ ２スキャン目の検査エリア ４４ ３スキャン目の検査エリア ４５ マシン回転クロック ４６ 検査中 ４７ 検査結果 ４８ 検査処理 ４９ 瓶静止回転タイミング ５０ 瓶静止回転終了タイミング ５１ 検査結果出力タイミング ５８ ＰＯＷＥＲ ＯＮ ５９ 初期設定 ６０ ＯＦＦ ＬＩＮＥ ６１ ＯＮ ＬＩＮＥ処理 ６２ 初期設定２ ６３ 個別投光画面処理手段 ６４ 欠陥検出モニタ処理手段 ６５ ファイル処理手段 ６６ 受光センサベースデータ ６７ ＣＰパラメータ ６８ 欠陥時レベルデータ ６９ スライスパラメータ ７０ ＯＮ ＬＩＮＥスタート ７１ 検査中信号比較手段１ ７２ 受光データ採取処理手段 ７３ 検査中信号比較手段２ ７４ データ並替処理手段 ７５ 微分処理手段 ７６ しきい値比較処理手段 ７７ 欠陥分類処理手段 ７８ 検査結果処理手段 ７９ 画面表示処理手段 ８０ ループ１ ８１ ループ２ ８２ ループ３ ８３ スキャンデータ
Claims (4)
- 【請求項１】 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置であって、
検査位置におかれた被検査瓶を回転させる回転手段と、
瓶口部及びネジ部を中心として周囲に、略半円球状の取
付治具に複数個の投光器と、複数個の受光器を配置し、
前記投光器の数をＮ、受光器の数をＭとすると、前記被
検査瓶に対して１スキャン当たりＮXＭのデータを採取
するデータ採取手段と、採取されたデータを並替るデー
タ並替処理手段及び並替られたデータを微分する微分手
段とからなることを特徴とする瓶口部・ネジ部ビリ検査
装置。 - 【請求項２】 良品サンプルに対しては、前記被検査瓶
に対して、１スキャン当たりＮXＭのデータを瓶口部・
ネジ部全周にわたって実施したとき、良品となるように
受光の感度を自動設定し、不良サンプルに対しては、前
記感度設定状態で瓶口部・ネジ部ビリ欠陥の検出を行う
ことを特徴とする前記請求項１記載の瓶口部・ネジ部ビ
リ検査装置。 - 【請求項３】 公知の欠陥種別である瓶口部・ネジ部に
おける泡、異物、カケ、ネジ出及び変形の欠陥を検出す
ることができる前記請求項１ないし２記載の瓶口部・ネ
ジ部ビリ検査装置。 - 【請求項４】 欠陥部位の仕分け、欠陥種別の仕分けを
行い、表示及びモニターすることができる前記請求項１
乃至３記載の瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25560496A JP2891947B2 (ja) | 1996-09-05 | 1996-09-05 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25560496A JP2891947B2 (ja) | 1996-09-05 | 1996-09-05 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1082624A true JPH1082624A (ja) | 1998-03-31 |
| JP2891947B2 JP2891947B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=17281046
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25560496A Expired - Fee Related JP2891947B2 (ja) | 1996-09-05 | 1996-09-05 | 瓶口部・ネジ部ビリ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2891947B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7329855B2 (en) | 2002-10-18 | 2008-02-12 | Kirin Techno-System Corporation | Optical inspection of glass bottles using multiple cameras |
| US7330251B2 (en) | 2002-10-18 | 2008-02-12 | Kirin Techno-System Corporation | Method and apparatus for producing reference image in glass bottle inspecting apparatus |
| WO2012043618A1 (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-05 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査装置および方法 |
-
1996
- 1996-09-05 JP JP25560496A patent/JP2891947B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7329855B2 (en) | 2002-10-18 | 2008-02-12 | Kirin Techno-System Corporation | Optical inspection of glass bottles using multiple cameras |
| US7330251B2 (en) | 2002-10-18 | 2008-02-12 | Kirin Techno-System Corporation | Method and apparatus for producing reference image in glass bottle inspecting apparatus |
| WO2012043618A1 (ja) * | 2010-10-01 | 2012-04-05 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査装置および方法 |
| JPWO2012043618A1 (ja) * | 2010-10-01 | 2014-02-24 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査装置および方法 |
| JP5799356B2 (ja) * | 2010-10-01 | 2015-10-21 | キリンテクノシステム株式会社 | ガラス壜の検査装置および方法 |
| US9194814B2 (en) | 2010-10-01 | 2015-11-24 | Kirin Techno-System Company, Limited | Glass bottle inspection apparatus and method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2891947B2 (ja) | 1999-05-17 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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