JP2001027616A - 瓶の壁を検査する機械 - Google Patents

瓶の壁を検査する機械

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 屈折欠陥を検知すると同時に、遮光欠陥を摘
出する瓶の検査機械を提供すること 【解決手段】 コンベア１２によって検査ステーション
に連続的に供給される、瓶１０の壁を検査する機械が開
示される。光源１６は、各々が黒い列は有しないが、明
るい（白い）列と、複数の隣接する列とを有する、複数
の垂直な、発光ダイオード列グループを画成し、該列グ
ループにおいて、光強度が、遮光欠陥を観察することが
可能な最小レベルまで体系的に減少し、また光強度が、
次の白い列よりも体系的に増加する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、瓶のようなガラス
製又はプラスチック製容器の検査機械、より具体的に
は、欠陥を検知するために容器の側壁を検査することの
できる検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】本出願は、当該出願人による、同時係属
特許出願第０９／０２６，３１１号の一部継続出願であ
る。
【０００３】ガラス製容器の側壁は、後方から照明した
ときレンズ効果を提供する（屈折欠陥）を生じさせる、
ガラス分配の不均一領域を含む、色々な型式の欠陥を含
む可能性がある。米国特許第５，００４，９０９号に示
されたような容器の検査機械は、黒及び白のストライプ
が交互に現れることにより画成された光源の前面に瓶を
置くことにより、ガラス製瓶の側壁を検査する。かかる
検査機械は、瓶がストライプの端縁に配置されたとき
に、屈折を最もよく検知することができる。米国特許第
４，６０１，３９５号に示されたような、容器の検査機
械は、常に、カメラの視野中にあり、色々な強さの外側
領域が横断方向に隔てられた単一の明領域により画成さ
れた光源の前面に瓶を置き且つその瓶を回転させること
により、ガラス製容器の側壁を検査する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の１つの目的
は、屈折欠陥(refractive defects)を検知するときに、
光遮断欠陥(light blocking defects)を識別する、容器
の検査機械を提供することである。
【０００５】本発明の他の目的及び有利な点は、特許法
の規定に従って、本発明の原理を具体化する現在の好ま
しい実施の形態を示す本明細書の以下の説明及び添付図
面から明らかになるであろう。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の上記の目的は、
次のような瓶の側壁を検査する機械によって実現され
る。すなわち、瓶を検査ステーションにて支持するコン
ベアと、該コンベアの一側部に設けられ、カメラ像を有
するＣＣＤカメラと、該ＣＣＤカメラ像手段上に瓶を作
像すべく、コンベアの反対側に設けられた、照射領域を
有する光源とを備えた検査ステーションと、欠陥として
検知するのに必要とされる以下の変化率で、後方の遮光
欠陥と前記光源の照射領域上における光とを識別する、
最小の明るさのレベル間において、空間的、周期的に、
且つ連続的に変化する光強度を画成する手段、及び変化
率が所定の値を越える欠陥を識別し得るように、光強度
の変化率を決定すべく隣接する画素（１つ以上離れたも
の）を単独で又は組み合わせて比較することにより、前
記カメラ画像を分析するコンピュータ手段とを備える瓶
の壁を検査する機械によって達成される。
【０００７】
【発明の実施の形態】ガラス又はプラスチック製とする
ことができる瓶１０は、図示した検査ステーションにて
検査するために、コンベア１２に沿って右方向から左方
向に搬送される。この検査ステーションにて、瓶は、Ｃ
ＣＤカメラ１４の画像として作像される。この画像は、
欠陥を示す異常画素の記録値を識別し得るように評価さ
れる。ＣＣＤカメラと関連するのは制御された光源１６
である。この光源は、発光ダイオードの垂直列(vertica
l row)１８を多数備えた（好ましい実施の形態におい
て）、大きい光領域を画成する。図１から理解し得るよ
うに、複数の発光ダイオードは、光が瓶の全体を通過し
（頂部から底部へ、及び側部から側部へ）、またカメラ
に作像されるように、焦点決めされ又は照準決めされ
る。また、これらの発光ダイオードの垂直列は、光を互
いに平行に放出し、また、放出された光がディフューザ
要素を介して通過するように支持されている。発光ダイ
オードの各垂直列１８は、電界効果型トランジスタ（図
示せず）等によってオン・オフが切り換えられる。
【０００８】図２において、発光ダイオードの垂直列１
８の各々に個々のタイマー２０が接続されており、この
ため、これらの垂直列の発光ダイオードが作動すると、
タイマーは、光の強度が作動時間の関数となって、作像
サイクルの選択された時間（０Ｔ、．２Ｔ、．４Ｔ、．
６Ｔ、．８Ｔ）にてタイムアウトする（時間Ｔは、発光
ダイオードの列が完全に作動して白く見えるのに必要な
時間）。
【０００９】図２から理解し得るように、光源は、各々
が８つの垂直列を有する、多数の発光ダイオード垂直列
グループによって形成されている。これらの８つの、発
光ダイオード垂直列は、明るさ（明度）“１．０”から
明るさ（明度）“．８”、明るさ（明度）“．６”、明
るさ（明度）“．４”、明るさ（明度）“．２”へと進
み、次に明るさ（明度）“．４”、明るさ（明度）“．
６”及び明るさ（明度）“．８”へと変化する。説明し
た実施の形態にあっては、５つの光強度レベル（２０
％、４０％、６０％、８０％、１００％）が存在する
が、その他の数を使用することもできる。遮光欠陥を識
別するのに十分な最小光強度レベル（２０％）を設定す
ることにより、光源領域の１００％に亙って遮光欠陥及
び屈折欠陥の双方をＣＣＤカメラにより同時に識別する
ことができる。
【００１０】図２において、個々のタイマー２０は、電
界効果型トランジスタの各々に接続され、発光ダイオー
ド列の各々が選択された時間だけ作動する。光の強度が
作動時間の関数となって、タイマーは、作像サイクルの
選択された時点（．２Ｔ，．４Ｔ，．６Ｔ，．８Ｔ，
１．０Ｔ）にてタイムアウトする（この場合、時間は、
発光ダイオードの列が選択された度合いに応じて照射す
るのに必要な理想的な時間に等しく設定される）。例え
ば、“．６０Ｔ”は、発光ダイオードの列の光強度が６
０％にて出現するために、該発光ダイオードの垂直列が
点灯していることを要する時間である。説明の目的上、
完全に点灯した、光源の光は、「白」と称されるが、こ
の光源は、着色され、また、照射された光は、実際上、
非可視光（例えば赤外線発光ダイオード）であることを
理解すべきである。実際の「作動」時間は、重なり合う
照明効果を補償するように変更することもできる。光の
出力が重なり合うために、特定の列(column)に対する実
際の「作動」時間は、また連続的に変化する所望の光強
度サイクルに最も良く適合し得るように、変更すること
が必要となろう。例えば、隣接する“．８Ｔ”の列(col
umn)からの光の一部のみを受け取るために、完全に白と
なることはできない、完全な明るさ（１．０Ｔ）の列
は、作動時間を例えば、“１．１５Ｔ”に延長する必要
があろう。照射方法、この場合、発光ダイオード／ディ
フューザの組み合わせ体における実際の性能に基づく計
算は、暗い部分と明るい部分の、光源の光強度の限界範
囲内において、所望の空間的、周期的に且つ連続的に変
化する光強度を生じさせ得るように補正程度を計算する
方法を決定することになろう。
【００１１】図３において、単一の制御により８つの列
の発光ダイオードを作動させて、ビットマスク２２を画
成する一方、該ビットマスクは、作像サイクルの４つの
等しく反復される時間ステップの各々（各ステップは、
“．２Ｔ”続行する）について、所望の発光ダイオード
の垂直列を作動させて、同一の効果が達成されるように
する。その画像はこれら４つのステップの期間に亙って
画成される。これらの説明は、所望の光強度レベルを実
現するための時間の利用について記述するが、同一目的
のため、代替的に電流レベルを制御してもよい。同一の
目的のため、シャッタ付きカメラと共に、面積方法につ
いて、ＬＣＤパネル又はプリントパターン(printed pat
tern)のような色々な光の出力制御装置と共に、その他
の光源を使用することもできる。図示した実施の形態に
おいて、５つの光強度レベル（２０％、４０％、６０
％、８０％、１００％）があるが、その他の数値を使用
することが可能である。２０％の明るさ（明度）と１０
０％の明るさ（明度）との間における光強度の空間的、
周期的に且つ連続的変化が、光源の照射領域上に画成さ
れる。この照射領域は、欠陥として検知するのに必要と
されるよりも少ない変化率にて周期的に変化する。光源
の領域の１００％に亙ってＣＣＤカメラにより遮光欠陥
又は屈折欠陥の何れかを摘出し得るように、最小の明る
さ（明度）レベル（２０％）が選択される。
【００１２】図３から理解し得るように、個々の発光ダ
イオードの列における光強度を完全に制御することによ
り、上述の直線的に計算したパーセンテージの値を越え
ることになる。ここに示したパターンは、その頂点が完
全に（１００％）明るく、谷部分が２０％の明るさであ
る三角形波として説明することができる。図３から明ら
かであるように、２０％の明るさから１００％の明るさ
に変化する列(column)の数について完全に制御すること
ができる。容器の寸法又は欠陥の寸法について、周期的
なパターンの性質を最適化するため、列(column)の数を
変更することができる。空間的に変化する光強度サイク
ルは、水平又は垂直とし、又は他の何らかの角度を付け
ることができる。これは、また、角度を組み合わせるこ
ともできる。
【００１３】また、全体的な後方照明に対するパターン
の相対的な位置（従って、検査すべき容器）を完全に制
御することもできる。検査方法が動的に位置決めした領
域を使用することができる場合、パターンの明部分は、
容器の位置決めに資するように、最適な位置に配置する
ことができる。
【００１４】１つの軸線が周期的に変化する毎に、光源
の質を測定するならば、その光源の略平坦なヒストグラ
ム分析が可能となる。また、光弁、ＬＣＤ又はプリント
パターン(printed pattern)のような、透過性光の制御
スキームを使用して、個々の発光ダイオードを制御する
ことにより、かかる変化を生じさせ得るように、２軸線
の周期的な光源を使用することもできる。変化率が所定
の値を上廻る個所の欠陥を識別するためその光強度の変
化率を測定すべく隣接する画素（１つ以上離れたもの）
を単独で又は組み合わせて比較することにより、コンピ
ュータ１５は、カメラの画像を分析する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の教示に従って形成された容器の検査機
械の平面図である。
【図２】図１に図示した光源の作用を示す、概略図であ
る。
【図３】具体化された、光源の作用を示す概略図であ
る。
【符号の説明】
１０ 瓶 １２ コンベア １４ ＣＣＤカメラ １５ コンピュー
タ １６ 光源 １８ Ｌ．Ｓ．
Ｄ．ｓ ２０ タイマー ２２ ビットマス
ク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０６Ｔ 1/00 ３００ Ｇ０１Ｂ 11/24 Ｋ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 瓶の壁を検査する機械において、 瓶を検査ステーションにて支持するコンベアと、 前記コンベアの一側部に設けられ、カメラ像を有するＣ
    ＣＤカメラと、該ＣＣＤカメラ像手段上に瓶を作像すべ
    く、コンベアの反対側に設けられた、照射領域を有する
    光源とを備えた検査ステーションと、 欠陥として検知するのに必要とされる以下の変化率で、
    後方の遮光欠陥と前記光源の照射領域上における光とを
    識別する、最小の明るさのレベル間において、空間的、
    周期的に、且つ連続的に変化する光強度を画成する手段
    と、 変化率が所定の値を越える欠陥を識別し得るように、光
    強度の変化率を決定すべく隣接する画素（１つ以上離れ
    たもの）を単独で又は組み合わせて比較することによ
    り、前記カメラ画像を分析するコンピュータ手段とを備
    える、瓶の壁を検査する機械。
  2. 【請求項２】 請求項１による瓶の壁を検査する機械に
    おいて、前記光源が複数の発光ダイオード列を備える、
    瓶の壁を検査する機械。
  3. 【請求項３】 請求項２による瓶の壁を検査する機械に
    おいて、前記複数の発光ダイオード列が、複数の発光ダ
    イオード列グループを画成し、各々の発光ダイオード列
    グループが、一側部の明るい（白い）列と、最小の明る
    さの列と、該明るい（白い）列と該最小の明るさの列と
    の中間にあって、最小の明るさ列での光強度と明るい
    （白い）列での光強度との中間の光強度を有する少なく
    とも１つの列と、前記明るい（白い）列から離れて前記
    最小の明るさの列の側部に設けられ、最小の明るさの列
    での光強度と明るい（白い）列での光強度との中間の光
    強度を有する少なくとも１つの列とを画成する、瓶の壁
    を検査する機械。
  4. 【請求項４】 請求項３による瓶の輪郭及び壁を検査す
    る機械において、前記最小の明るさの列と前記明るい
    （白い）列との中間に、複数の垂直な発光ダイオード列
    が存在し、該複数の中間発光ダイオード列の光強度が、
    前記明るい（白い）列から前記最小の明るさの列に向け
    て均一に減少する、瓶の壁を検査する機械。
  5. 【請求項５】 請求項４による瓶の輪郭及び壁を検査す
    る機械において、前記明るい（白い）列から離れた前記
    最小の明るさの列の側部に、複数の垂直な発光ダイオー
    ド列が存在し、該側部の該複数の垂直な発光ダイオード
    の列の光強度が、前記最小の明るさの列から離れるに伴
    って均一に増加する、瓶の壁を検査する機械。
  6. 【請求項６】 請求項５による瓶の輪郭及び壁を検査す
    る機械において、前記最小の明るさの列が約２０％の明
    るさレベルを有し、前記垂直な発光ダイオード列グルー
    プの各々が、前記最小の明るさの列と前記明るい（白
    い）列との中間に３つの垂直な発光ダイオード列を有
    し、該３つの垂直な発光ダイオード列のうち、前記最小
    の明るさの列に隣接する列の光強度が前記明るい（白
    い）列の約４０％の光強度を有し、前記明るい（白い）
    列に隣接する列の光強度が前記明るい（白い）列の約８
    ０％の光強度を有し、中間の列の光強度が前記明るい
    （白い）列の約６０％の強さを有する、瓶の壁を検査す
    る機械。
  7. 【請求項７】 請求項６による瓶の輪郭及び壁を検査す
    る機械において、前記垂直な発光ダイオード列グループ
    の各々が、前記明るい（白い）列から離れた前記最小明
    るさの列の側部に、３つの垂直な発光ダイオード列を有
    し、該３つの垂直な発光ダイオード列のうち、前記最小
    明るさの列に隣接する列の光強度が前記明るい（白い）
    列の約４０％の強さを有し、次の列の光強度が前記明る
    い（白い）列の約６０％の強さを有し、前記最小明るさ
    の列から離れた最後の列の光強度が前記明るい（白い）
    列の約８０％の強さを有する、瓶の壁を検査する機械。
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IT (1) IT1317656B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001356097A (ja) * 2000-04-06 2001-12-26 Krones Ag 透明容器を光学的に検査するための方法および装置

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE412172T1 (de) 2002-11-14 2008-11-15 Ccs Inc System zur einstellung der lichtintensität
NL1031853C2 (nl) * 2006-05-22 2007-11-23 Eagle Vision Systems B V Werkwijze en inrichting voor het detecteren van een ongewenst object of defect.
US7541572B2 (en) 2006-10-23 2009-06-02 Emhart Glass S.A. Machine for inspecting rotating glass containers with light source triggered multiple times during camera exposure time
EP1916515B1 (en) * 2006-10-23 2014-09-17 Emhart Glass S.A. Machine for inspecting glass containers
JP5159237B2 (ja) * 2006-10-23 2013-03-06 エムハート・グラス・ソシエテ・アノニム ガラス容器を検査する装置
FR2907553B1 (fr) * 2006-10-24 2009-02-13 Tiama Sa Procede et dispositif pour detecter des defauts a faible et fort contrastes dans des objets transparents ou translucides
DE102010032166B4 (de) * 2010-07-23 2016-03-10 Khs Gmbh Erfassungssystem und Inspektionsverfahren zur Flaschennaht- und Embossingausrichtung
CN102564572B (zh) * 2010-12-29 2014-04-09 致茂电子(苏州)有限公司 模拟发光二极管光源混光状态的检测方法
DE102011002269A1 (de) * 2011-04-26 2012-10-31 Wincor Nixdorf International Gmbh Erfassungs- und Kalibriereinheit für Leergutrücknahmeautomaten und Verfahren zur Kalibrierung
CN102445270A (zh) * 2011-05-20 2012-05-09 上海蓝光科技有限公司 一种led芯片发光角度、分布的测试方法
KR101775195B1 (ko) * 2011-06-15 2017-09-05 기린 테크노시스템 가부시끼가이샤 글래스 보틀의 검사 방법 및 장치
CN103063294A (zh) * 2011-10-21 2013-04-24 中央大学 量测装置及其量测方法
CN103791852B (zh) * 2013-12-27 2017-02-22 杭州依镭科技有限公司 一种注射器针头倒针检测方法及装置
FR3016699B1 (fr) * 2014-01-22 2016-02-12 Msc & Sgcc Procede et dispositif pour la detection notamment de defauts refractants
US9322787B1 (en) 2014-10-18 2016-04-26 Emhart Glass S.A. Glass container inspection machine with a graphic user interface
US20160178535A1 (en) * 2014-12-17 2016-06-23 Xerox Corporation Inspection Device And Method
US10422755B2 (en) * 2016-12-07 2019-09-24 Applied Vision Corporation Identifying defects in transparent containers
DE102018107305A1 (de) * 2018-03-27 2019-10-02 Krones Ag Vorrichtung und Verfahren zur optischen Positionserkennung transportierter Objekte
CN108917629B (zh) * 2018-04-24 2021-03-30 雅视特科技（杭州）有限公司 球墨铸铁球化度无损测量设备及其测量方法
FR3132352A1 (fr) 2022-01-28 2023-08-04 Tiama Procédés et systèmes opto-informatiques d’inspection en lumière traversante d’un récipient en verre

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04220551A (ja) * 1990-12-19 1992-08-11 Toyo Glass Co Ltd 透明物体の欠陥検査方法とその装置
JPH05209734A (ja) * 1992-01-31 1993-08-20 Mazda Motor Corp 表面状態検査装置
JPH05223746A (ja) * 1992-02-12 1993-08-31 Toyo Glass Co Ltd 透明物体の欠陥検出方法とその装置
JPH07110302A (ja) * 1993-10-13 1995-04-25 Hajime Sangyo Kk 透明板の欠陥検出装置
JPH08178855A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Asahi Glass Co Ltd 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
JPH11211443A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Matsushita Electric Works Ltd ３次元形状計測装置

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4175236A (en) * 1977-12-23 1979-11-20 Owens-Illinois, Inc. Method and apparatus of cavity identification of mold of origin
IE47919B1 (en) 1979-02-26 1984-07-25 Udaras Na Gaeltachta Apparatus for inspecting translucent articles for faults
US4601398A (en) 1984-03-26 1986-07-22 Esselte Pendaflex Corporation Frame for hanging files
GB2157824B (en) 1984-04-19 1988-09-14 Owens Illinois Inc Inspecting and sorting of glass containers
US4601395A (en) * 1984-04-23 1986-07-22 Owens-Illinois, Inc. Inspecting and sorting of glass containers
JPH0627717B2 (ja) * 1988-04-13 1994-04-13 株式会社キリンテクノシステム 壜の胴部検査装置
EP0344617B1 (en) * 1988-05-30 1995-08-02 Kabushiki Kaisha Kirin Techno System Method and apparatus for inspecting sidewalls of bottles
AU6538090A (en) 1989-08-15 1991-05-31 Pressco Technologies Inc. Engineered video inspection lighting array
US5243400A (en) 1992-04-27 1993-09-07 Owens-Brockway Glass Container Inc. Inspection of transparent containers
DK0644417T3 (da) 1993-09-16 2000-08-07 Owens Brockway Glass Container Inspektion af gennemskinnelige beholdere
US5548120A (en) 1994-11-14 1996-08-20 Eastman Kodak Company Linear integrating cavity light source for infra-red illumination of sensitized media
US5822053A (en) 1995-04-25 1998-10-13 Thrailkill; William Machine vision light source with improved optical efficiency
JPH11108844A (ja) 1997-10-01 1999-04-23 Asahi Glass Co Ltd 鏡面材料並びに透過材料の検査用光源装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04220551A (ja) * 1990-12-19 1992-08-11 Toyo Glass Co Ltd 透明物体の欠陥検査方法とその装置
JPH05209734A (ja) * 1992-01-31 1993-08-20 Mazda Motor Corp 表面状態検査装置
JPH05223746A (ja) * 1992-02-12 1993-08-31 Toyo Glass Co Ltd 透明物体の欠陥検出方法とその装置
JPH07110302A (ja) * 1993-10-13 1995-04-25 Hajime Sangyo Kk 透明板の欠陥検出装置
JPH08178855A (ja) * 1994-12-20 1996-07-12 Asahi Glass Co Ltd 透光性物体あるいは鏡面性物体の検査方法
JPH11211443A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Matsushita Electric Works Ltd ３次元形状計測装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001356097A (ja) * 2000-04-06 2001-12-26 Krones Ag 透明容器を光学的に検査するための方法および装置

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