JPH10510922A - 向流形スニッファ漏れ検査器 - Google Patents

向流形スニッファ漏れ検査器

Info

Publication number
JPH10510922A
JPH10510922A JP8519446A JP51944696A JPH10510922A JP H10510922 A JPH10510922 A JP H10510922A JP 8519446 A JP8519446 A JP 8519446A JP 51944696 A JP51944696 A JP 51944696A JP H10510922 A JPH10510922 A JP H10510922A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum pump
sniffer
high vacuum
leak detector
hose
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP8519446A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3485574B2 (ja
Inventor
ベーム トーマス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leybold GmbH
Original Assignee
Leybold Vakuum GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leybold Vakuum GmbH filed Critical Leybold Vakuum GmbH
Publication of JPH10510922A publication Critical patent/JPH10510922A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3485574B2 publication Critical patent/JP3485574B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
    • G01M3/205Accessories or associated equipment; Pump constructions
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/207Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material calibration arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)

Abstract

(57)【要約】 本発明は、検出器として質量分光計(3)を備えた向流形スニッファ漏れ検査器(1)であって、向流でプローブガスによって貫流される高真空ポンプ(4,13)または高真空ポンプ段(14)と、該高真空ポンプもしくは高真空ポンプ段の出口側に接続されたスニッファホース(7)と、該スニッフアホース(7)の入口領域(8)の大気圧とスニッファホースの出口領域(9)の圧力との間の圧力差を維持する絞りとが設けられている形式のものに関する。感度および応答時間を改善するために本発明の構成では、スニッファホース(7)の少なくとも一部、有利にはスニッファホース(7)全体が、所望の絞り作用が得られるように寸法設定されている。

Description

【発明の詳細な説明】 向流形スニッファ漏れ検査器 本発明は、検出器として質量分光計を備えた向流形スニッファ漏れ検査器であ って、向流(Gegenstrom)でプローブガスによって貫流される高真空ポンプまたは 高真空ポンプ段と、該高真空ポンプもしくは高真空ポンプ段の出口側に接続され たスニッファホースと、該スニッファホースの入口領域の大気圧とスニッファホ ースの出口領域の圧力との間の圧力差を維持する絞りとが設けられている形式の ものに関する。 このような形式の漏れ検査器において、短い応答時間と高い検知感度とを得る ために、所望の絞り作用が達成されるようにスニッファホースを形成することが 提案される。 このような手段により、常に最大限許容し得るガス流がスニッファホースを貫 流する。ヘリウムプローブガス検査時に対象となる漏れは10-2mbar/1/ secオーダの範囲にあるので、場合によっては存在する漏れ個所から逃げる全 プローブガス流が吸い込まれ、漏れ検査器内に達することが保証される。これに より高い検知感度が得られる。さらに本発明に基づき寸法設定されたスニッファ ホース内の流れ速度が比較的高いので、付加的に短い応答時間も得られる。こ のような利点は、スニッファホースがその全長にわたって統一された直径を有し ていてこれにより全体的に所望の絞り作用を生ぜしめるようになっていると、特 に良好に達成される。しかしながら、与えられた課題を解決するためには、スニ ッファホースの唯1つの比較的大きな部分、例えばその長さの50%または75 %の部分が絞り機能を有する一方、残りの部分は検査しようとするガスを著しい 抵抗無しに漏れ検査器に供給するようになっていれば十分である。 スニッファ漏れ検査器はドイツ連邦共和国特許出願公告第2441124号明 細書に基づき公知である。この明細書に記載された先行技術の構成においては、 スニッファホースの入口領域に絞りが設けられている。前記明細書の請求項1に 記載のスニッファ漏れ検査器は、質量分光計検出器の直前に配置された絞りを有 している。これらの両構成においては、場合によっては存在する漏れ個所から流 出したプローブガスの一部が漏れ検査器の入口内には達しないことを回避するこ とはできない。 特別な利点が本発明の範囲において、校正に関連して得られる。本発明に基づ く種類のスニッファ漏れ検査器の場合、校正を行うために、高真空ポンプと前置 真空ポンプとの間の接続導管の領域内に、既知量のプローブガスがテストリーク (Testleck)によって流入させられる。従来ではスニッファ漏れ検査器において必 要であった外部のテストリークによる校正は不要となる。 本発明の更なる利点および詳細を第1図および第2図につき説明する。 第1図および第2図においては、概略的に示された漏れ検査器が符号1を、こ の漏れ検査器の入口が符号2を有している。この漏れ検査器は質量分光計3を有 している。この質量分光計は、高真空ポンプ4、有利にはターボ分子ポンプの入 口に接続されている。高真空ポンプ4は接続導管5を介して前置真空ポンプ6に 接続されている。 漏れ検査器1の入口2には、スニッファホース7が接続されている。このスニ ッファホースの両端部は符号8(入口)および符号9(出口)を有している。ス ニッファホースの入口8の領域は、試験体11の漏れの疑いのある領域を介して 案内されている。漏れ個所が符号12で示されている。 第1図に示した漏れ検査器の場合、漏れ検査器1の入口2は接続導管5に接続 されている。向流で運転される高真空ポンプ4として、ターボ分子真空ポンプ1 3が選択されている。 第2図に示した漏れ検査器の場合、高真空ポンプ4は、高真空側に位置する段 14(有利にはターボ分子ポンプ段)と前真空側に位置する段15(有利には分 子ポンプ段)とを有している。高真空ポンプ4は、高 真空ポンプ段14,15の間の領域に接続された接続部16を備えている。漏れ 検査器1の入口2は選択的に、図示していない弁によって高真空ポンプ4と前置 真空ポンプ6との間の接続導管5に接続されるか、または、感度を増大するため に高真空ポンプ4の入口16に接続されてもよい。 スニッファホース7の寸法(長さ、内径)は、このスニッファホースが、その 入口8の領域における大気圧と出口9の領域における圧力との間の圧力差を維持 することができるように選択されている。漏れ検査器1の入口2が高真空ポンプ 4と前置真空ポンプ6との間の接続導管に接続されている(第1図)場合、出口 9の領域における圧力は約2mbarである。漏れ検査器1の入口2が高真空ポ ンプ4の接続部16に接続されている(第2図)場合、スニッファホース7の出 口9の領域における圧力は約0.1barである。約0.4mmの内径と約4m の長さとを有するスニッファホース7が所望の絞り作用を有する。このようなス ニッファホースにおいては、約0.4mbar/L/secのガス貫流が得られ る。スニッファホースがより長い場合にはその内径をより大きく選択しなければ ならず、スニッファホースがより短い場合にはその内径をより小さく選択しなけ ればならない。 高真空ポンプ4と前置真空ポンプ6との間の接続導管5には、さらに、弁17 を介してテストリーク18 が接続されている。スニッファホース7が特別な特性を有しているので、漏れ検 査器の校正は、組み付けられたテストリーク18で行うだけで十分である。外部 のテストリークによる校正はもはや必要でない。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.検出器として質量分光計(3)を備えた向流形スニッファ漏れ検査器(1) であって、向流でプローブガスによって貫流される高真空ポンプ(4,13)ま たは高真空ポンプ段(14)と、該高真空ポンプもしくは高真空ポンプ段の出口 側に接続されたスニッファホース(7)と、該スニッファホース(7)の入口領 域(8)の大気圧とスニッファホースの出口領域(9)の圧力との間の圧力差を 維持する絞りとが設けられている形式のものにおいて、 スニッファホース(7)の少なくとも一部、有利にはスニッファホース(7 )全体が、所望の絞り作用が得られるように寸法設定されていることを特徴とす る、向流形スニッファ漏れ検査器。 2.漏れ検査器(1)の入口(2)が導管(5)に接続されており、該導管が高 真空ポンプ(4)と前置真空ポンプ(6)とを接続している、請求項1記載の漏 れ検査器。 3.高真空ポンプ(4)がターボ分子ポンプ(13)である、請求項2記載の漏 れ検査器。 4.高真空ポンプ(4)が2つの段(14,15)をしており、高真空ポンプが 、両段(14,15)相互間の中間領域に開口する入口(16)を備えており、 漏れ検査器(1)の入口(2)が、高真空ポ ンプ(4)の入口(16)に接続可能である、請求項1記載の漏れ検査器。 5.高真空ポンプ(4)と前置真空ポンプ(6)との間の接続導管(5)に、テ ストリーク(18)が接続されている、請求項1から4までのいずれか1項記載 の漏れ検査器。 6.スニッファホース(7)が、4mの長さで0.4mmの内径を有している、 請求項1から5までのいずれか1項記載の漏れ検査器。
JP51944696A 1994-12-22 1995-09-09 向流形スニッファ漏れ検査器 Expired - Lifetime JP3485574B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE4445829A DE4445829A1 (de) 1994-12-22 1994-12-22 Gegenstrom-Schnüffellecksucher
DE4445829.0 1994-12-22
PCT/EP1995/003554 WO1996019721A1 (de) 1994-12-22 1995-09-09 Gegenstrom-schnüffellecksucher

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10510922A true JPH10510922A (ja) 1998-10-20
JP3485574B2 JP3485574B2 (ja) 2004-01-13

Family

ID=6536608

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51944696A Expired - Lifetime JP3485574B2 (ja) 1994-12-22 1995-09-09 向流形スニッファ漏れ検査器

Country Status (8)

Country Link
US (1) US5907092A (ja)
EP (1) EP0799414B1 (ja)
JP (1) JP3485574B2 (ja)
KR (1) KR100389722B1 (ja)
CN (1) CN1081325C (ja)
DE (2) DE4445829A1 (ja)
TW (1) TW326072B (ja)
WO (1) WO1996019721A1 (ja)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19735250A1 (de) * 1997-08-14 1999-02-18 Leybold Vakuum Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Heliumlecksuchers und für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Heliumlecksucher
DE10055057A1 (de) * 2000-11-07 2002-05-08 Pfeiffer Vacuum Gmbh Leckdetektorpumpe
DE10118085A1 (de) 2001-04-11 2002-10-17 Inficon Gmbh Lecksuchgerät mit Prüfleck und Prüfleck für den Einbau in ein Lecksuchgerät
DE10156205A1 (de) * 2001-11-15 2003-06-05 Inficon Gmbh Testgaslecksuchgerät
NZ536328A (en) 2002-05-13 2007-11-30 Metabasis Therapeutics Inc Novel phosphonic acid based prodrugs of PMEA and its analogues
DE10302987A1 (de) * 2003-01-25 2004-08-05 Inficon Gmbh Lecksuchgerät mit einem Einlass
WO2005031169A1 (en) * 2003-09-26 2005-04-07 The Boc Group Plc Detection of contaminants within fluid pumped by a vacuum pump
DE102004029637A1 (de) * 2004-06-18 2006-01-05 Inficon Gmbh Lecksuchgerät mit Schnüffelsonde
DE102004059485A1 (de) * 2004-12-10 2006-06-22 Inficon Gmbh Lecksuchgerät
DE102005009713A1 (de) * 2005-03-03 2006-09-07 Inficon Gmbh Lecksuchgerät mit Schnüffelsonde
DE202005011372U1 (de) * 2005-07-20 2006-11-30 Inficon Gmbh Schnüffellecksuchgerät
DE102005043494A1 (de) 2005-09-13 2007-03-15 Inficon Gmbh Lecksuchgerät mit Schnüffelsonde
DE102006012957C5 (de) * 2006-03-21 2009-10-15 Spheros Gmbh Heizgerät mit Überhitzungsschutz und Verfahren zum Bereitstellen eines für den Überhitzungsschutz verwertbaren Signals
US20070240493A1 (en) * 2006-04-18 2007-10-18 Shane Conlan Sprayer-sniffer probe
US7500381B2 (en) * 2006-08-31 2009-03-10 Varian, Inc. Systems and methods for trace gas leak detection of large leaks at relatively high test pressures
DE102006047856A1 (de) * 2006-10-10 2008-04-17 Inficon Gmbh Schnüffellecksucher
CN101159217B (zh) * 2007-11-07 2012-05-23 上海宏力半导体制造有限公司 一种离子注入机的测漏桶
CN101561336B (zh) * 2008-04-18 2011-04-13 纬创资通股份有限公司 测试装置及测试方法
DE102009010064A1 (de) * 2009-02-21 2010-08-26 Inficon Gmbh Schnüffellecksucher
CN103424513B (zh) * 2013-07-29 2016-02-03 淮南矿业(集团)有限责任公司 气体成分检测装置
DE102013218506A1 (de) * 2013-09-16 2015-03-19 Inficon Gmbh Schnüffellecksucher mit mehrstufiger Membranpumpe
CN105092182A (zh) * 2015-08-14 2015-11-25 中广核工程有限公司 核电厂功率运行阶段凝汽器真空氦气查漏法
DE102016205381B4 (de) * 2016-03-31 2023-11-30 Inficon Gmbh Gaslecksuche mit einer Testgassprühvorrichtung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3690151A (en) * 1968-07-25 1972-09-12 Norton Co Leak detector
DE2441124B2 (de) * 1974-08-28 1979-07-19 Leybold-Heraeus Gmbh, 5000 Koeln Lecksucheinrichtung
US4472962A (en) * 1981-08-03 1984-09-25 Balzers Aktiengesellschaft Low pressure leak detector
US4499752A (en) * 1983-06-22 1985-02-19 Varian Associates, Inc. Counterflow leak detector with cold trap
US4735084A (en) * 1985-10-01 1988-04-05 Varian Associates, Inc. Method and apparatus for gross leak detection
DE3613694A1 (de) * 1986-04-23 1987-10-29 Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg Vorrichtung zur kalibrierung des detektors eines lecksuchgeraetes
EP0283543B1 (de) * 1987-03-27 1991-12-11 Leybold Aktiengesellschaft Lecksuchgerät und Betriebsverfahren dazu
US5301537A (en) * 1991-05-31 1994-04-12 W. C. Wood Company Limited Method for detecting halocarbon refrigerant leaks by usage of a continually heated mass spectrometer
DE4140366A1 (de) * 1991-12-07 1993-06-09 Leybold Ag, 6450 Hanau, De Lecksucher fuer vakuumanlagen sowie verfahren zur durchfuehrung der lecksuche an vakuumanlagen
DE4228313A1 (de) * 1992-08-26 1994-03-03 Leybold Ag Gegenstrom-Lecksucher mit Hochvakuumpumpe

Also Published As

Publication number Publication date
CN1081325C (zh) 2002-03-20
EP0799414B1 (de) 2001-05-16
CN1130757A (zh) 1996-09-11
DE59509268D1 (de) 2001-06-21
US5907092A (en) 1999-05-25
JP3485574B2 (ja) 2004-01-13
WO1996019721A1 (de) 1996-06-27
TW326072B (en) 1998-02-01
EP0799414A1 (de) 1997-10-08
KR100389722B1 (ko) 2003-09-19
DE4445829A1 (de) 1996-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH10510922A (ja) 向流形スニッファ漏れ検査器
JP2541615B2 (ja) 漏洩検査器及びこれの運転法
CN108369151B (zh) 测试气体入口处的压力测量
JP3568536B2 (ja) 真空ポンプを有する漏れ検出器及び漏れ検出器を運転する方法
JP3124842B2 (ja) ヘリウム漏れ検出器
JPH07501622A (ja) 真空装置のための漏えい検出装置並びに真空装置の漏えい検出を実施する方法
JPH0478936B2 (ja)
JP2635587B2 (ja) リーク検査装置のディテクタを較正する装置
JP3391027B2 (ja) サーチガス漏洩検出器
US6658920B2 (en) Leak detector pump
JP4164030B2 (ja) 試験ガス漏れ検出装置
CA1310765C (en) Counterflow leak detector with high and low sensitivity operating modes
JP5948349B2 (ja) 漏れ検出デバイス
US5107697A (en) Tracer gas leak detection system
JP2014522976A (ja) 漏れ検出装置及び漏れ検出装置を用いて気密性に関して物体を検査するための方法
JP3544989B2 (ja) 前真空ポンプを有する漏れ検出装置
JP3737132B2 (ja) 多数の類似の被検体の漏洩を検査する方法
US5193380A (en) High flow-rate leak detector having three molecular filters
JP2023554280A (ja) 試験体のガスリークを検出するガスリーク検知装置およびガスリーク検知方法
US6282946B1 (en) Leak detector
US5708194A (en) Test gas leak detector
JP3675983B2 (ja) ヘリウムリークディテクター
JP4130968B2 (ja) 漏洩検知装置
JPH11326108A (ja) ヘリウムリークディテクタ
CN117501083A (zh) 泄漏检测器

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071024

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081024

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091024

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091024

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101024

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101024

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111024

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111024

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121024

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121024

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131024

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term