JPH1038563A - 電子レベル用標尺及び電子レベル - Google Patents

電子レベル用標尺及び電子レベル

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JPH1038563A
JPH1038563A JP8194321A JP19432196A JPH1038563A JP H1038563 A JPH1038563 A JP H1038563A JP 8194321 A JP8194321 A JP 8194321A JP 19432196 A JP19432196 A JP 19432196A JP H1038563 A JPH1038563 A JP H1038563A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】マーク１１が付された標尺１を視準して視準位
置の高さｈを電子レベル２内で演算により自動的に求め
る際に、標尺１の画像パターンの形状からｈを求める
と、標尺１と電子レベル２との距離に応じて電子レベル
２内で標尺１の画像パターンの大きさを修正する必要が
あり、修正のための演算処理に長時間を要していた。 【解決手段】標尺１の画像からマーク１１の間隔の比率
を求め、その比率の並び方からｈを求めるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、自動的に高さを求
める電子レベルと該電子レベルに用いる標尺に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種のものとして、例えば、特
公平５−１８０４２号公報や特開平７−４９５９号公報
により、複数のバー状のマークが長手方向に並設された
電子レベル用標尺であって、各マークのピッチを適宜相
違させたものを電子レベルで視準し、電子レベル内で視
準位置のマークの配列パターンから求められる波形を予
め電子レベル内に記憶されている波形と比較し、波形が
一致する部分の位置から視準位置の高さを求めるように
したものが知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】標尺に付されたマーク
の配列パターンから求められる波形は、標尺と電子レベ
ルとの距離や電子レベルの倍率によって大きさが変化す
る。前記従来のものでは、該波形が予め記憶されている
波形に一致することによって視準位置を求めているた
め、前記波形同士を比較する前に所定の大きさに修正す
る必要がある。ところが、このような修正を行うために
は標尺と電子レベルとの距離を求める必要があり、また
修正のための演算に長時間を要するという不具合があ
る。
【０００４】そこで本発明は、前記不具合を解消するこ
とを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明は、複数のバー状のマークが長手方向に並設さ
れた電子レベル用標尺において、前記複数のマークの前
記長手方向に沿った方向の幅寸法を相互に同一寸法にす
ると共に、各マークのピッチの比率が複数の整数で表さ
れ、かつ各ピッチの比率を順次並べた数列から連続して
所定個数取り出した数値の順列がいずれの位置から取り
出した順列に対しても相互に異なるようにしたことを特
徴とする。
【０００６】ここで、前記ピッチをマークの幅寸法の整
数倍とし、かつ整数は２以上にしてもよく、また、前記
マークの幅寸法より狭い適宜の幅寸法の副尺用マークを
併設してもよい。
【０００７】また、前記電子レベル用標尺を視準して測
定を行う電子レベルであって、標尺の配設パターンを検
出するパターン検出部と、前記数列を予め記憶する記憶
部とを有し、パターン検出部からの検出信号に基づき各
マーク相互のピッチの比率を並べた順列が記憶部の数列
のどの部分に一致するかを求め、その一致する部分の位
置から視準位置を求める演算部を備えたことを特徴とす
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１を参照して、１は標尺であ
り、電子レベル２で視準され、視準位置の高さｈを測定
するためのものであり、黒地の表面には後述するピッチ
で複数のバー状のマーク１１（白色）が記されている。
【０００９】図２及び図３を参照して、電子レベル２の
内部には、光学系２１及び傾斜自動補償機構（コンペン
セータ）２２が設けられており、受光された標尺１の画
像はビームスプリッタ２３によってラインセンサ２４に
分岐される。ビームスプリッタ２３を通過するものが視
準光学系であり、ラインセンサ２４へと分岐されたもの
が映像光学系となる。視準光学系は上記光学系２１と傾
斜自動補償機構２２とビームスプリッタ２３と焦点板２
０ａと接眼レンズ２０ｂとで構成されている。映像光学
系は光学系２１と傾斜自動補償機構２２とビームスプリ
ッタ２３とラインセンサ２４とで構成されている。該ラ
インセンサ２４は受光された標尺１の画像を電気信号に
変換しアンプ２５に出力する（Ｓ１）。アンプ２５で増
幅された信号はクロックドライバ２６のクロック信号に
同期してサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）し、そのホールド
した信号をデジタル信号に変換する（Ａ／Ｄ）（Ｓ
２）。デジタル信号に変換された信号はＲＡＭ２８に記
憶される（Ｓ３）。マイコン３は該ＲＡＭ２８に記憶さ
れている信号を基に各マーク１１の画像の位置を求め
（Ｓ４）、各マーク１１の中心間隔からマーク１１の間
隔を求める（Ｓ５）。尚、駆動回路２９はラインセンサ
２４の作動を制御する回路である。尚、上記視準光学系
の光軸と映像光学系の光軸とは互いに一致させているの
で、標尺１上の視準点と映像光学系の視準点とは相互に
一致する。
【００１０】前記Ｓ４及びＳ５の内容を図４を参照しつ
つ詳述する。標尺１には前記のごとく黒地に白色のマー
ク１１が付されている。各マーク１１の幅の寸法は全て
寸法Ｄに統一されている。また、各マーク１１の間隔は
単位寸法ＰＩの整数倍になるように設定されている。と
ころで、Ｍ種類の整数からなる数列より連続してＮ個の
整数を取り出した順列はＭのＮ乗通りある。本実施形態
ではＰＩの２倍（２ＰＩ）・３倍（３ＰＩ）・４倍（４
ＰＩ）の３種類の整数倍の間隔としたが、これら３種類
の整数からなる数列から連続して３個取り出した数値の
順列がいずれの位置から取り出した順列に対しても相互
に異なるように各マーク１１の間隔が設定されている。
即ち、図４に示す標尺１では、マーク１１の間隔の比率
を並べた数列は、 ・・・３，４，２，４，２，３，３，３，４，３，３，２，２・・・ ：（１） で現される。
【００１１】そして、図４の下部に示したラインセンサ
２４の出力信号の内、視準位置のマークに対応する位置
Ｘを求め、更にＸから連続して信号のピーク間隔Ａ１，
Ａ２，Ａ３を求める。次に、図３のＳ６に示すように、
Ａ１，Ａ２，Ａ３を数値化する。Ａ１，Ａ２，Ａ３の比
率は１：２：１になるが、マーク１１の幅寸法であるＤ
に相当するＷを基準にして、マーク間隔に相当する順列
〔２，４，２〕を得ることができる。一方、ＲＯＭには
予め標尺１のマーク間隔の比率を並べた数列（前記数列
（１）と同じもの）がテーブルとして記憶されており、
該テーブルを呼び出し（Ｓ７）、順列〔２，４，２〕が
テーブルのどの位置に一致するかを求め、一致した位置
から前記Ｘの絶対位置を算出し（Ｓ８）その結果を表示
器に表示する（Ｓ９）。
【００１２】ところで、前記実施形態ではマーク１１の
間隔の比率をそのまま用いたが、マーク１１の幅寸法Ｄ
をＰＩに一致させ、図５に示すように、標尺１をＰＩづ
つ区切り、白色のマーク部分を１とすると共に黒地部分
を０とする。すると、マーク間隔を２進法で表すことが
できる。２進法で表すということは即ち２値化すること
であり、連続して取り出した３個の間隔の順列データと
テーブルとをマイコン３内で比較するときに演算処理が
容易になる。
【００１３】前記標尺１と電子レベル２との距離が比較
的離れており、ラインセンサ２４に比較的多数のマーク
１１の映像が入る場合には問題はないが、両者の距離が
接近しラインセンサ２４に入るマーク１１の映像の数が
確保できなくなると測定が行えない。そこで、図６に示
すように、予め１乃至５のコードを、ＰＩを１６ｍｍと
して、４：１２に内分される場合を１とし、順次１２：
４に内分される場合を５とするように１乃至５のコード
を設定しておく。一方、図７に示すように、前記図５の
場合と同様に標尺１をＰＩづつ区切り、該ＰＩで区切ら
れた黒地部分に白色の細い副尺用のマーク１２を付す。
該マーク１２は前記図６に示すコードに対応する位置に
付す。また、前記白色のマーク１１の中央に黒色のマー
ク１３を付し、該マーク１１の部分でコード０を表すよ
うにする。即ち、前記図６に示した１乃至５のコードと
０のコードとの６種類のコードを用いて副尺についての
数列を形成することができる。その数列から前記と同様
に連続して３つの数字を取り出して視準位置の絶対位置
を求めるようにすると、６の３乗である２１６通りの順
列から、コード０が連続する１１通りの順列を引いた２
０５通りの順列で視準位置を表すことができる。尚、副
尺等のマーク１２・１３はマーク１１の幅より細く設定
しているので、標尺１と電子レベル２との距離が離れて
いる場合にはラインセンサ２４で識別することができ
ず、従って、前記図４または図５に示す場合に、マーク
１２・１３が邪魔をすることはない。
【００１４】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
は、標尺に付したマークの間隔の比率から視準位置の絶
対位置を求めるようにしたので電子レベルの倍率や標尺
と電子レベルとの距離に影響を受けることがなく、標尺
と電子レベルとの距離の基づく修正を行う必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る標尺の使用状態を示す図
【図２】電子レベルの内部構成を示すブロック図
【図３】電子レベル内での演算処理の内容を示すフロー
図
【図４】標尺の構成及び標尺の映像信号を説明する図
【図５】標尺の他の実施形態を示す図
【図６】副尺のコードを説明する図
【図７】副尺用のマークを付した標尺を示す図
【符号の説明】
１ 標尺 ２ 電子レベル

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 複数のバー状のマークが長手方向に並
    設された電子レベル用標尺において、前記複数のマーク
    の前記長手方向に沿った方向の幅寸法を相互に同一寸法
    にすると共に、各マークのピッチの比率が複数の整数で
    表され、かつ各ピッチの比率を順次並べた数列から連続
    して所定個数取り出した数値の順列がいずれの位置から
    取り出した順列に対しても相互に異なるようにしたこと
    を特徴とする電子レベル用標尺。
  2. 【請求項２】 前記ピッチをマークの幅寸法の整数倍
    とし、かつ整数は２以上であることを特徴とする請求項
    １記載の電子レベル用標尺。
  3. 【請求項３】 前記マークの幅寸法より狭い適宜の幅
    寸法の副尺用マークを併設したことを特徴とする請求項
    １または請求項２記載の電子レベル用標尺。
  4. 【請求項４】 請求項１乃至請求項３のいずれかに記
    載の電子レベル用標尺を視準して測定を行う電子レベル
    であって、標尺の配設パターンを検出するパターン検出
    部と、前記数列を予め記憶する記憶部とを有し、パター
    ン検出部からの検出信号に基づき各マーク相互のピッチ
    の比率を並べた順列が記憶部の数列のどの部分に一致す
    るかを求め、その一致する部分の位置から視準位置を求
    める演算部を備えたことを特徴とする電子レベル。
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