JPH05322562A - 電子レベルと電子レベル用標尺 - Google Patents
電子レベルと電子レベル用標尺Info
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- JPH05322562A JPH05322562A JP15598292A JP15598292A JPH05322562A JP H05322562 A JPH05322562 A JP H05322562A JP 15598292 A JP15598292 A JP 15598292A JP 15598292 A JP15598292 A JP 15598292A JP H05322562 A JPH05322562 A JP H05322562A
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- pattern
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Abstract
(57)【要約】
［目的］ 本発明は電子レベルと電子レベル用標尺に係
わり、特に、電子レベルが、電子レベル用標尺に形成さ
れた距離測定用パターンから距離を演算し、この演算距
離に基づき、電子レベル用標尺に形成されたランダムな
パターンである近距離測定用パターン及び遠距離測定用
パターンの何れかを選択することにより、高低差を算出
する電子レベルを提供することを目的とする。 ［構成］ 本発明は対物レンズ部が、近距離測定用パタ
ーンと、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターン
の像を形成し、エリアセンサ部が、対物レンズ部によっ
て形成された近距離測定用パターンと、遠距離測定用パ
ターン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換
し、距離算出部が距離測定用パターンの所定間隔を検出
し、この検出値から、電子レベルと電子レベル用標尺と
の距離を演算する。更に高低差算出部が近距離の場合に
は、近距離測定用パターンに対応する電気信号から高低
差を求め、また遠距離の場合には、遠距離測定用パター
ンに対応する電気信号から高低差を求める様になってい
る。
わり、特に、電子レベルが、電子レベル用標尺に形成さ
れた距離測定用パターンから距離を演算し、この演算距
離に基づき、電子レベル用標尺に形成されたランダムな
パターンである近距離測定用パターン及び遠距離測定用
パターンの何れかを選択することにより、高低差を算出
する電子レベルを提供することを目的とする。 ［構成］ 本発明は対物レンズ部が、近距離測定用パタ
ーンと、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターン
の像を形成し、エリアセンサ部が、対物レンズ部によっ
て形成された近距離測定用パターンと、遠距離測定用パ
ターン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換
し、距離算出部が距離測定用パターンの所定間隔を検出
し、この検出値から、電子レベルと電子レベル用標尺と
の距離を演算する。更に高低差算出部が近距離の場合に
は、近距離測定用パターンに対応する電気信号から高低
差を求め、また遠距離の場合には、遠距離測定用パター
ンに対応する電気信号から高低差を求める様になってい
る。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電子レベルと、これに
使用する電子レベル用標尺に係わり、特に、電子レベル
が、電子レベル用標尺に形成された距離測定用パターン
から、電子レベルと標尺との距離を演算し、この演算距
離に基づき、電子レベル用標尺に形成されたランダムな
パターンである近距離測定用パターン及び遠距離測定用
パターンの何れかを選択することにより、高低差を算出
する電子レベルに関するものである。
使用する電子レベル用標尺に係わり、特に、電子レベル
が、電子レベル用標尺に形成された距離測定用パターン
から、電子レベルと標尺との距離を演算し、この演算距
離に基づき、電子レベル用標尺に形成されたランダムな
パターンである近距離測定用パターン及び遠距離測定用
パターンの何れかを選択することにより、高低差を算出
する電子レベルに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から直接水準測量等を行う場合に
は、レベル（水準儀）と標尺が使用されていた。即ち、
測量者が、標尺の目盛りをレベルを使用して目視するこ
とにより高低差を測定していた。この古典的なレベルに
よる測量は、測量者による読み誤りが発生していた。こ
の読み誤りを解消するために、標尺の目盛り作業を電子
的に行う電子レベルが開発された。この電子レベルは例
えば、標尺側から所定信号を包含させた光を発光させ、
この光を電子レベル側で受光して識別し、標尺の目盛り
を読み取る様に構成されていた。
は、レベル（水準儀）と標尺が使用されていた。即ち、
測量者が、標尺の目盛りをレベルを使用して目視するこ
とにより高低差を測定していた。この古典的なレベルに
よる測量は、測量者による読み誤りが発生していた。こ
の読み誤りを解消するために、標尺の目盛り作業を電子
的に行う電子レベルが開発された。この電子レベルは例
えば、標尺側から所定信号を包含させた光を発光させ、
この光を電子レベル側で受光して識別し、標尺の目盛り
を読み取る様に構成されていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら画像処理
技術が進歩した今日では、距離に応じて倍率が変化する
標尺の目盛りを画像処理することにより、電子的に標尺
の目盛りを読み取ることも可能であるが、膨大な処理時
間を必要とし、実用性に乏しいという問題点があった。
従って、距離に応じて標尺の目盛りの倍率が変化して
も、簡易な信号処理により、電子的に標尺の目盛りを読
み取ることのできる電子レベルの出現が強く望まれてい
た。
技術が進歩した今日では、距離に応じて倍率が変化する
標尺の目盛りを画像処理することにより、電子的に標尺
の目盛りを読み取ることも可能であるが、膨大な処理時
間を必要とし、実用性に乏しいという問題点があった。
従って、距離に応じて標尺の目盛りの倍率が変化して
も、簡易な信号処理により、電子的に標尺の目盛りを読
み取ることのできる電子レベルの出現が強く望まれてい
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題に鑑み
案出されたもので、測定を行う際に鉛直方向に配置さ
れ、ランダムなパターンである近距離測定用パターンを
形成した近距離測定用パターン部と、この近距離測定用
パターンよりも大きなピッチの遠距離測定用パターンを
形成した遠距離測定用パターン部と、前記近距離測定用
パターン部及び前記遠距離測定用パターン部を挟み、そ
のパターン方向と略直交する方向に、所定の間隔で形成
される距離測定用パターンを形成した距離測定用パター
ン部とからなる電子レベル用標尺を使用して測定を行う
電子レベルであって、前記近距離測定用パターンと、前
記遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を
形成するための対物レンズ部と、この対物レンズ部によ
って形成された前記近距離測定用パターンと、前記遠距
離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を電気信
号に変換するためのエリアセンサ部と、このエリアセン
サ部から得られた電気信号の内、前記距離測定用パター
ンに対応する電気信号から該距離測定用パターンの所定
間隔を検出し、この検出値から、前記電子レベルと前記
電子レベル用標尺との距離を演算するための距離算出部
と、この距離算出部により演算された演算距離が所定距
離以下である場合には、前記エリアセンサ部から得られ
た電気信号の内、前記近距離測定用パターンに対応する
電気信号から高低差を求め、前記距離算出部により演算
された演算距離が所定距離を越える場合には、前記エリ
アセンサ部から得られた電気信号の内、前記遠距離測定
用パターンに対応する電気信号から高低差を求めるため
の高低差算出部とから構成されている。
案出されたもので、測定を行う際に鉛直方向に配置さ
れ、ランダムなパターンである近距離測定用パターンを
形成した近距離測定用パターン部と、この近距離測定用
パターンよりも大きなピッチの遠距離測定用パターンを
形成した遠距離測定用パターン部と、前記近距離測定用
パターン部及び前記遠距離測定用パターン部を挟み、そ
のパターン方向と略直交する方向に、所定の間隔で形成
される距離測定用パターンを形成した距離測定用パター
ン部とからなる電子レベル用標尺を使用して測定を行う
電子レベルであって、前記近距離測定用パターンと、前
記遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を
形成するための対物レンズ部と、この対物レンズ部によ
って形成された前記近距離測定用パターンと、前記遠距
離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を電気信
号に変換するためのエリアセンサ部と、このエリアセン
サ部から得られた電気信号の内、前記距離測定用パター
ンに対応する電気信号から該距離測定用パターンの所定
間隔を検出し、この検出値から、前記電子レベルと前記
電子レベル用標尺との距離を演算するための距離算出部
と、この距離算出部により演算された演算距離が所定距
離以下である場合には、前記エリアセンサ部から得られ
た電気信号の内、前記近距離測定用パターンに対応する
電気信号から高低差を求め、前記距離算出部により演算
された演算距離が所定距離を越える場合には、前記エリ
アセンサ部から得られた電気信号の内、前記遠距離測定
用パターンに対応する電気信号から高低差を求めるため
の高低差算出部とから構成されている。
【０００５】また本発明は、遠距離測定用パターン部
が、近距離測定用パターン部を挟み込む様に左右に配置
されており、前記エリアセンサ部から得られた電気信号
の内、前記左右の遠距離測定用パターンに対応する電気
信号から、前記電子レベル用標尺の傾斜を求めるための
傾斜演算手段と、この傾斜演算手段により得られた前記
電子レベル用標尺の傾斜を考慮して、前記高低差算出部
が高低差を算出する様に構成することもできる。
が、近距離測定用パターン部を挟み込む様に左右に配置
されており、前記エリアセンサ部から得られた電気信号
の内、前記左右の遠距離測定用パターンに対応する電気
信号から、前記電子レベル用標尺の傾斜を求めるための
傾斜演算手段と、この傾斜演算手段により得られた前記
電子レベル用標尺の傾斜を考慮して、前記高低差算出部
が高低差を算出する様に構成することもできる。
【０００６】更に本発明は、高低差算出部が、前記近距
離測定用パターンに対応する電気信号と、遠距離測定用
パターンに対応する電気信号とに相関処理を施し、高低
差を算出する様に構成することもできる。
離測定用パターンに対応する電気信号と、遠距離測定用
パターンに対応する電気信号とに相関処理を施し、高低
差を算出する様に構成することもできる。
【０００７】そして本発明の電子レベル用標尺は、測定
を行う際の鉛直方向に形成され、ランダムなパターンで
ある近距離測定用パターンを形成した近距離測定用パタ
ーン部と、この近距離測定用パターンよりも大きなピッ
チの遠距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パタ
ーン部と、前記近距離測定用パターン部及び前記遠距離
測定用パターン部を挟み、そのパターン方向と略直交す
る方向に、所定の幅で形成される距離測定用パターンを
形成した距離測定用パターン部とからなっている。
を行う際の鉛直方向に形成され、ランダムなパターンで
ある近距離測定用パターンを形成した近距離測定用パタ
ーン部と、この近距離測定用パターンよりも大きなピッ
チの遠距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パタ
ーン部と、前記近距離測定用パターン部及び前記遠距離
測定用パターン部を挟み、そのパターン方向と略直交す
る方向に、所定の幅で形成される距離測定用パターンを
形成した距離測定用パターン部とからなっている。
【０００８】
【作用】以上の様に構成された本発明は、ランダムなパ
ターンである近距離測定用パターンを形成した近距離測
定用パターン部を測定を行う際に鉛直方向に配置し、こ
の近距離測定用パターンよりも大きなピッチの遠距離測
定用パターンを形成した遠距離測定用パターン部を測定
を行う際に鉛直方向に配置する。更に、距離測定用パタ
ーンが形成された距離測定用パターン部が、近距離測定
用パターン部及び遠距離測定用パターン部を挟み、その
パターン方向と略直交する方向に、所定の間隔で配置さ
れる。そして対物レンズ部が、近距離測定用パターン
と、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像
を形成し、エリアセンサ部が、対物レンズ部によって形
成された近距離測定用パターンと、遠距離測定用パター
ン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換し、距
離算出部が、エリアセンサ部から得られた電気信号の
内、距離測定用パターンに対応する電気信号から距離測
定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、電
子レベルと電子レベル用標尺との距離を演算する。更に
高低差算出部が、距離算出部により演算された演算距離
が所定距離以下である場合には、エリアセンサ部から得
られた電気信号の内、近距離測定用パターンに対応する
電気信号から高低差を求め、距離算出部により演算され
た演算距離が所定距離を越える場合には、エリアセンサ
部から得られた電気信号の内、遠距離測定用パターンに
対応する電気信号から高低差を求める様になっている。
ターンである近距離測定用パターンを形成した近距離測
定用パターン部を測定を行う際に鉛直方向に配置し、こ
の近距離測定用パターンよりも大きなピッチの遠距離測
定用パターンを形成した遠距離測定用パターン部を測定
を行う際に鉛直方向に配置する。更に、距離測定用パタ
ーンが形成された距離測定用パターン部が、近距離測定
用パターン部及び遠距離測定用パターン部を挟み、その
パターン方向と略直交する方向に、所定の間隔で配置さ
れる。そして対物レンズ部が、近距離測定用パターン
と、遠距離測定用パターン及び距離測定用パターンの像
を形成し、エリアセンサ部が、対物レンズ部によって形
成された近距離測定用パターンと、遠距離測定用パター
ン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変換し、距
離算出部が、エリアセンサ部から得られた電気信号の
内、距離測定用パターンに対応する電気信号から距離測
定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、電
子レベルと電子レベル用標尺との距離を演算する。更に
高低差算出部が、距離算出部により演算された演算距離
が所定距離以下である場合には、エリアセンサ部から得
られた電気信号の内、近距離測定用パターンに対応する
電気信号から高低差を求め、距離算出部により演算され
た演算距離が所定距離を越える場合には、エリアセンサ
部から得られた電気信号の内、遠距離測定用パターンに
対応する電気信号から高低差を求める様になっている。
【００１０】また本発明は、遠距離測定用パターン部
を、近距離測定用パターン部を挟み込む様に左右に配置
し、傾斜演算手段が、エリアセンサ部から得られた電気
信号の内、左右の遠距離測定用パターンに対応する電気
信号から電子レベル用標尺の傾斜を求め、高低差算出部
が、傾斜演算手段により得られた電子レベル用標尺の傾
斜を考慮して高低差を算出することもできる。
を、近距離測定用パターン部を挟み込む様に左右に配置
し、傾斜演算手段が、エリアセンサ部から得られた電気
信号の内、左右の遠距離測定用パターンに対応する電気
信号から電子レベル用標尺の傾斜を求め、高低差算出部
が、傾斜演算手段により得られた電子レベル用標尺の傾
斜を考慮して高低差を算出することもできる。
【００１１】更に本発明は、高低差算出部が、前記近距
離測定用パターンに対応する電気信号と、遠距離測定用
パターンに対応する電気信号とに相関処理を施し、高低
差を算出することもできる。
離測定用パターンに対応する電気信号と、遠距離測定用
パターンに対応する電気信号とに相関処理を施し、高低
差を算出することもできる。
【００１２】そして本発明の電子レベル用標尺は、ラン
ダムなパターンである近距離測定用パターンを形成した
近距離測定用パターン部を測定を行う際に鉛直方向に配
置し、この近距離測定用パターンよりも大きなピッチの
遠距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パターン
部を測定を行う際に鉛直方向に配置する。更に、距離測
定用パターンが形成された距離測定用パターン部が、近
距離測定用パターン部及び遠距離測定用パターン部を挟
み、そのパターン方向と略直交する方向に、所定の幅で
配置する様になっている。
ダムなパターンである近距離測定用パターンを形成した
近距離測定用パターン部を測定を行う際に鉛直方向に配
置し、この近距離測定用パターンよりも大きなピッチの
遠距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パターン
部を測定を行う際に鉛直方向に配置する。更に、距離測
定用パターンが形成された距離測定用パターン部が、近
距離測定用パターン部及び遠距離測定用パターン部を挟
み、そのパターン方向と略直交する方向に、所定の幅で
配置する様になっている。
【００１３】
【００１４】本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
【００１５】図１〜図３に示す様に、本実施例の測量装
置は、電子レベル１と、電子レベル用標尺２とからなっ
ている。電子レベル１は、図３に示す様に整準装置１０
０上に載置されており、図１に示す様に、対物レンズ部
１１と、コンペンセータ１２と、ビームスプリッタ１３
と、接眼レンズ部１４と、エリアセンサ１５と、演算処
理手段１６とから構成されている。
置は、電子レベル１と、電子レベル用標尺２とからなっ
ている。電子レベル１は、図３に示す様に整準装置１０
０上に載置されており、図１に示す様に、対物レンズ部
１１と、コンペンセータ１２と、ビームスプリッタ１３
と、接眼レンズ部１４と、エリアセンサ１５と、演算処
理手段１６とから構成されている。
【００１６】対物レンズ部１１は、電子レベル用標尺２
のパターンの像を形成するためのものである。コンペン
セータ１２は、電子レベル１の光軸が多少傾いても、視
準線を自動的に水平にするための自動補償機構であり、
水平光線を上下に変化させて結像させるものである。ビ
ームスプリッタ１３は、光を接眼レンズ部１４方向と、
エリアセンサ１５方向に分割させるためのものである。
接眼レンズ部１４は、測量者が、電子レベル用標尺２を
目視するためのものである。エリアセンサ１５はエリア
センサ部に該当するもので、対物レンズ部によって形成
された電子レベル用標尺２のパターン像を電気信号に変
換するためのものである。本実施例では、ＣＣＤエリア
センサが使用されている。このエリアセンサ１５は、ホ
トダイオードを２次元的に配置したエリアイメージセン
サであれば、何れのセンサを採用することができる。
のパターンの像を形成するためのものである。コンペン
セータ１２は、電子レベル１の光軸が多少傾いても、視
準線を自動的に水平にするための自動補償機構であり、
水平光線を上下に変化させて結像させるものである。ビ
ームスプリッタ１３は、光を接眼レンズ部１４方向と、
エリアセンサ１５方向に分割させるためのものである。
接眼レンズ部１４は、測量者が、電子レベル用標尺２を
目視するためのものである。エリアセンサ１５はエリア
センサ部に該当するもので、対物レンズ部によって形成
された電子レベル用標尺２のパターン像を電気信号に変
換するためのものである。本実施例では、ＣＣＤエリア
センサが使用されている。このエリアセンサ１５は、ホ
トダイオードを２次元的に配置したエリアイメージセン
サであれば、何れのセンサを採用することができる。
【００１７】演算処理手段１６は、アンプ１６１と、サ
ンプルホールド１６２と、Ａ／Ｄ変換器１６３と、ＲＡ
Ｍ１６４と、クロックドライバ１６５と、マイクロコン
ピュータ１６６と、表示器１６７とから構成されてい
る。
ンプルホールド１６２と、Ａ／Ｄ変換器１６３と、ＲＡ
Ｍ１６４と、クロックドライバ１６５と、マイクロコン
ピュータ１６６と、表示器１６７とから構成されてい
る。
【００１８】次に電子レベル用標尺２は、図２に示す様
に、近距離測定用パターン部２１と、遠距離測定用パタ
ーン部２２、２２と、距離測定用パターン部２３とが形
成されている。近距離測定用パターン部２１と遠距離測
定用パターン部２２、２２とは、測定を行う際に鉛直方
向に配置される様になっており、近距離測定用パターン
部２１には、ランダムなパターンである近距離測定用パ
ターンが形成されている。遠距離測定用パターン部２
２、２２には、近距離測定用パターン部２１の近距離測
定用パターンよりも大きなピッチの遠距離測定用パター
ンが形成されている。これは測定距離が長くなるため、
パターンのピッチを大きくする必要があるからである。
また遠距離測定用パターン部２２、２２は、近距離測定
用パターン部２１の両側部に一対形成されている。即
ち、遠距離測定用パターン部２２、２２が、近距離測定
用パターン部２１を挟み込む様に左右に配置されてい
る。更に、距離測定用パターンが形成された距離測定用
パターン部２３が、近距離測定用パターン部２１及び遠
距離測定用パターン部２２、２２を挟み、そのパターン
方向と略直交する方向に、所定の幅Ｗで配置されてい
る。
に、近距離測定用パターン部２１と、遠距離測定用パタ
ーン部２２、２２と、距離測定用パターン部２３とが形
成されている。近距離測定用パターン部２１と遠距離測
定用パターン部２２、２２とは、測定を行う際に鉛直方
向に配置される様になっており、近距離測定用パターン
部２１には、ランダムなパターンである近距離測定用パ
ターンが形成されている。遠距離測定用パターン部２
２、２２には、近距離測定用パターン部２１の近距離測
定用パターンよりも大きなピッチの遠距離測定用パター
ンが形成されている。これは測定距離が長くなるため、
パターンのピッチを大きくする必要があるからである。
また遠距離測定用パターン部２２、２２は、近距離測定
用パターン部２１の両側部に一対形成されている。即
ち、遠距離測定用パターン部２２、２２が、近距離測定
用パターン部２１を挟み込む様に左右に配置されてい
る。更に、距離測定用パターンが形成された距離測定用
パターン部２３が、近距離測定用パターン部２１及び遠
距離測定用パターン部２２、２２を挟み、そのパターン
方向と略直交する方向に、所定の幅Ｗで配置されてい
る。
【００１９】以上の様に構成された本測量装置の測定原
理を説明する。
理を説明する。
【００２０】まず、電子レベル１と電子レベル用標尺２
との距離を演算する方法を説明する。本実施例の電子レ
ベル用標尺２には、距離測定用パターン部２３が形成さ
れているので、この距離測定用パターンである幅Ｗを使
用して電子レベル１と電子レベル用標尺２との距離を演
算する。
との距離を演算する方法を説明する。本実施例の電子レ
ベル用標尺２には、距離測定用パターン部２３が形成さ
れているので、この距離測定用パターンである幅Ｗを使
用して電子レベル１と電子レベル用標尺２との距離を演
算する。
【００２１】図５に示す様に、電子レベル１によるレン
ズの像をｗとし、レンズから電子レベル用標尺２までの
距離をＬ、レンズから像までの距離をｄとすれば、
ズの像をｗとし、レンズから電子レベル用標尺２までの
距離をＬ、レンズから像までの距離をｄとすれば、
【００２２】Ｌ＝ｄ（Ｗ／ｗ）となり、ｄ≒ｆであるか
ら（ｆはレンズの焦点距離）
ら（ｆはレンズの焦点距離）
【００２３】Ｌ＝ｄ（Ｗ／ｗ）≒ｆ（Ｗ／ｗ）
【００２４】となる。従って、距離測定用パターンであ
る幅Ｗの倍率（Ｗ／ｗ）を演算すれば、電子レベル１と
電子レベル用標尺２との概略距離を求めることができ
る。
る幅Ｗの倍率（Ｗ／ｗ）を演算すれば、電子レベル１と
電子レベル用標尺２との概略距離を求めることができ
る。
【００２５】次に、高低差の測定原理を説明する。
【００２６】まず電子レベル用標尺２のコードは既知と
する。エリアセンサ１５上に現れた電子レベル用標尺２
のコードの一単位が、エリアセンサ１５の何ビットに相
当するかは、電子レベル１と電子レベル用標尺２との距
離で変化する。
する。エリアセンサ１５上に現れた電子レベル用標尺２
のコードの一単位が、エリアセンサ１５の何ビットに相
当するかは、電子レベル１と電子レベル用標尺２との距
離で変化する。
【００２７】従って距離測定用パターンである幅Ｗが、
近距離測定用パターンでｙ1 単位であり、遠距離測定用
パターンでｙ2 単位であり、エリアセンサ１５上で、距
離測定用パターンである幅ＷがＸビットであったとすれ
ば、
近距離測定用パターンでｙ1 単位であり、遠距離測定用
パターンでｙ2 単位であり、エリアセンサ１５上で、距
離測定用パターンである幅ＷがＸビットであったとすれ
ば、
【００２８】近距離測定用パターンでは、（Ｘ／ｙ1）
を一単位としたコードに変換され、遠距離測定用パター
ンでは、（Ｘ／ｙ2）を一単位としたコードに変換され
る。
を一単位としたコードに変換され、遠距離測定用パター
ンでは、（Ｘ／ｙ2）を一単位としたコードに変換され
る。
【００２９】次に、近距離測定用パターン部２１と遠距
離測定用パターン部２２、２２を詳細に説明する。本実
施例の近距離測定用パターン部２１と遠距離測定用パタ
ーン部２２、２２には、Ｍ系列のランダムパターンが採
用されている。
離測定用パターン部２２、２２を詳細に説明する。本実
施例の近距離測定用パターン部２１と遠距離測定用パタ
ーン部２２、２２には、Ｍ系列のランダムパターンが採
用されている。
【００３０】ここで、Ｍ系列について詳細に説明する。
【００３１】 ｆ（ｘ）＝１＋ｃ1ｘ＋ｃ2ｘ2＋・・・・・ｃpｘp （ｃp＝１）
【００３２】の係数を用いたｐ次の線形漸化式
【００３３】 ａt＝ｃ1ａt-1＋ｃ2ａt-2＋・・・・・・ｃpａt-p
【００３４】によって生成される数列ａtを考える。こ
の数列が周期的であり、その周期Ｔが、２p−１となる
ためには、ｆ（ｘ）が原始多項式であることが必要であ
る。この条件が成立するとき、数列ａtをｐ次の線形最
大周期列（Ｍａｘｉｍｕｍーｌｅｎｇｔｈ ｌｉｎｅａ
ｒｌｙ ｒｅｃｕｒｒｉｎｇ ｓｅｑｕｅｎｃｅ）、略
してＭ系列と呼んでいる。
の数列が周期的であり、その周期Ｔが、２p−１となる
ためには、ｆ（ｘ）が原始多項式であることが必要であ
る。この条件が成立するとき、数列ａtをｐ次の線形最
大周期列（Ｍａｘｉｍｕｍーｌｅｎｇｔｈ ｌｉｎｅａ
ｒｌｙ ｒｅｃｕｒｒｉｎｇ ｓｅｑｕｅｎｃｅ）、略
してＭ系列と呼んでいる。
【００３５】本実施例では８ビット構成となっているの
で、２8−１（２５５）個で１周期となり、Ｍ系列は２
値の周期列であるので、２５５個のデータを白（１）と
黒（０）でパターン化することができる。
で、２8−１（２５５）個で１周期となり、Ｍ系列は２
値の周期列であるので、２５５個のデータを白（１）と
黒（０）でパターン化することができる。
【００３６】このパターンの配列は、フィードバック付
きのシフトレジスタで発生させることができる。図６に
示す様に、Ｓ１からＳ８までがシフトレジスタである。
これらは、１または０が取り得る様になっており、一定
時間間隔で、Ｓ１からＳ８までのシフトレジスタの保持
している値は、右隣のシフトレジスタに転送（シフト）
される。またＳ１のシフトレジスタには、各シフトレジ
スタの保持していた値の加重和が転送される。いま、時
刻ｔデルタにおけるＳ１のシフトレジスタの内容をａt
とすれば、時刻（ｔ−１）デルタにおけるＳｉ（１≦ｉ
≦８）のシフトレジスタの内容は、ａt-i となり、
きのシフトレジスタで発生させることができる。図６に
示す様に、Ｓ１からＳ８までがシフトレジスタである。
これらは、１または０が取り得る様になっており、一定
時間間隔で、Ｓ１からＳ８までのシフトレジスタの保持
している値は、右隣のシフトレジスタに転送（シフト）
される。またＳ１のシフトレジスタには、各シフトレジ
スタの保持していた値の加重和が転送される。いま、時
刻ｔデルタにおけるＳ１のシフトレジスタの内容をａt
とすれば、時刻（ｔ−１）デルタにおけるＳｉ（１≦ｉ
≦８）のシフトレジスタの内容は、ａt-i となり、
【００３７】 ａt＝ｃ1ａt-1＋ｃ2ａt-2＋・・・・・・ｃ8ａt-8
【００３８】が成立する。
【００３９】以上の様に、上述したシフト動作を２５５
回繰り返せば、Ｍ系列データを得ることができ、２５５
に至るまで、その組合せの同じものは一度も現れない。
従って、パターンの各ビット位置に検出器を置き、パタ
ーンを１ビットずつ８回移動させると、各検出器には異
なった符号の白黒信号が現れることを意味する。本実施
例は、この性質を利用したものである。即ち、本実施例
の近距離測定用パターン部２１と遠距離測定用パターン
部２２、２２には、Ｍ系列のランダムパターンが、通常
の標尺の目盛りの代わりに表示されている。
回繰り返せば、Ｍ系列データを得ることができ、２５５
に至るまで、その組合せの同じものは一度も現れない。
従って、パターンの各ビット位置に検出器を置き、パタ
ーンを１ビットずつ８回移動させると、各検出器には異
なった符号の白黒信号が現れることを意味する。本実施
例は、この性質を利用したものである。即ち、本実施例
の近距離測定用パターン部２１と遠距離測定用パターン
部２２、２２には、Ｍ系列のランダムパターンが、通常
の標尺の目盛りの代わりに表示されている。
【００４０】なお本実施例ではＭ系列が採用されている
が、その他のランダムパターンを使用することも可能で
ある。
が、その他のランダムパターンを使用することも可能で
ある。
【００４１】次に本実施例の電子レベル１に搭載された
演算処理手段１６を詳細に説明する。アンプ１６１は、
エリアセンサ１５からの電気信号を増幅するものであ
り、サンプルホールド１６２は、増幅された電気信号を
クロックドライバ１６５からのタイミング信号でサンプ
ルホールドするものである。Ａ／Ｄ変換器１６３は、サ
ンプルホールドされた電気信号をＡ／Ｄ変換するための
ものである。そしてＲＡＭ１６４は、Ａ／Ｄ変換された
デジタル信号を記憶するためのものである。またマイク
ロコンピュータ１６６は、各種演算処理を行うものであ
る。
演算処理手段１６を詳細に説明する。アンプ１６１は、
エリアセンサ１５からの電気信号を増幅するものであ
り、サンプルホールド１６２は、増幅された電気信号を
クロックドライバ１６５からのタイミング信号でサンプ
ルホールドするものである。Ａ／Ｄ変換器１６３は、サ
ンプルホールドされた電気信号をＡ／Ｄ変換するための
ものである。そしてＲＡＭ１６４は、Ａ／Ｄ変換された
デジタル信号を記憶するためのものである。またマイク
ロコンピュータ１６６は、各種演算処理を行うものであ
る。
【００４２】ここでマイクロコンピュータ１６６が果た
す機能を図４に基づいて説明すると、演算処理手段１６
は、距離算出部１６６１と、高低差算出部１６６２と、
傾斜演算手段１６６３とからなり、距離算出部１６６１
は、エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、距離
測定用パターンに対応する電気信号から距離測定用パタ
ーンの幅Ｗを検出し、この検出値から、電子レベル１と
電子レベル用標尺２との距離を演算するためのものであ
る。高低差算出部１６６２は、距離算出部１６６１によ
り演算された演算距離が所定距離以下である場合には、
エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、近距離測
定用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、距
離算出部１６６１により演算された演算距離が所定距離
を越える場合には、エリアセンサ１５から得られた電気
信号の内、遠距離測定用パターンに対応する電気信号か
ら高低差を求めるためのものである。傾斜演算手段１６
６３は、エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、
左右の遠距離測定用パターン２２、２２に対応する電気
信号から、電子レベル用標尺２の傾斜を求めるためのも
のである。
す機能を図４に基づいて説明すると、演算処理手段１６
は、距離算出部１６６１と、高低差算出部１６６２と、
傾斜演算手段１６６３とからなり、距離算出部１６６１
は、エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、距離
測定用パターンに対応する電気信号から距離測定用パタ
ーンの幅Ｗを検出し、この検出値から、電子レベル１と
電子レベル用標尺２との距離を演算するためのものであ
る。高低差算出部１６６２は、距離算出部１６６１によ
り演算された演算距離が所定距離以下である場合には、
エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、近距離測
定用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、距
離算出部１６６１により演算された演算距離が所定距離
を越える場合には、エリアセンサ１５から得られた電気
信号の内、遠距離測定用パターンに対応する電気信号か
ら高低差を求めるためのものである。傾斜演算手段１６
６３は、エリアセンサ１５から得られた電気信号の内、
左右の遠距離測定用パターン２２、２２に対応する電気
信号から、電子レベル用標尺２の傾斜を求めるためのも
のである。
【００４３】そして表示器１６７は、高低差算出部１６
６２で算出された高低差を表示するもので、液晶表示等
の表示手段を採用してもよく、更に、外部記憶手段等に
出力させる構成としてもよい。
６２で算出された高低差を表示するもので、液晶表示等
の表示手段を採用してもよく、更に、外部記憶手段等に
出力させる構成としてもよい。
【００４４】以上の様に構成された本実施例の作用を図
７に基づいて説明する。
７に基づいて説明する。
【００４５】まず、ステップ１（以下、Ｓ１と略する）
で、被測定点に電子レベル用標尺２を設置し、電子レベ
ル１を起動させて測量を開始する。次にＳ２では、エリ
アセンサ１５が、対物レンズ部１１によって形成された
近距離測定用パターン部２１と、遠距離測定用パターン
部２２、２２及び距離測定用パターン部２３の像を電気
信号に変換する。更にＳ３では、エリアセンサ１５から
取り込まれた電気信号をＡ／Ｄ変換し、Ｓ４で、変換さ
れたディジタル信号をＲＡＭ１６４に記憶させる。更に
Ｓ５では、エリアセンサ１５から取り込まれた電気信号
の内、水平方向のデータである距離測定用パターンを抽
出する。そしてＳ６では、Ｓ５で抽出された距離測定用
パターンの幅Ｗを検出し、Ｓ７で、Ｓ６で得られた距離
測定用パターンの幅Ｗから、距離算出部１６６１が、電
子レベル１と電子レベル用標尺２との概略距離を算出す
る。
で、被測定点に電子レベル用標尺２を設置し、電子レベ
ル１を起動させて測量を開始する。次にＳ２では、エリ
アセンサ１５が、対物レンズ部１１によって形成された
近距離測定用パターン部２１と、遠距離測定用パターン
部２２、２２及び距離測定用パターン部２３の像を電気
信号に変換する。更にＳ３では、エリアセンサ１５から
取り込まれた電気信号をＡ／Ｄ変換し、Ｓ４で、変換さ
れたディジタル信号をＲＡＭ１６４に記憶させる。更に
Ｓ５では、エリアセンサ１５から取り込まれた電気信号
の内、水平方向のデータである距離測定用パターンを抽
出する。そしてＳ６では、Ｓ５で抽出された距離測定用
パターンの幅Ｗを検出し、Ｓ７で、Ｓ６で得られた距離
測定用パターンの幅Ｗから、距離算出部１６６１が、電
子レベル１と電子レベル用標尺２との概略距離を算出す
る。
【００４６】そしてＳ８では、Ｓ７で算出された概略距
離が、所定距離以下であるか否かを判断する。所定距離
以下であり近距離と判断された場合には、Ｓ９に進み、
マイクロコンピュータ１６６が近距離参照パターンを形
成する。即ち、マイクロコンピュータ１６６のシフトレ
ジスタにより、Ｍ系列のランダムパターンのデータを作
成する。次にＳ１０では、ＲＡＭ１６４からエリアセン
サ１５から取り込まれた電気信号の内、近距離測定用パ
ターンに該当する信号を抽出する。そしてＳ１１に進
み、Ｓ１１では、Ｓ９で作成した近距離参照パターン
と、Ｓ１０で抽出された近距離測定用パターンとの相関
処理を行う。即ちＳ１１は、Ｍ系列のランダムパターン
のデータを積分し、この積分データと、エリアセンサ１
５の鉛直方向の出力データとの相互相関を計算し、その
最大値となるデータを選択し、その最大値となった点に
対応する電子レベル用標尺２の鉛直位置を決定すること
ができる。
離が、所定距離以下であるか否かを判断する。所定距離
以下であり近距離と判断された場合には、Ｓ９に進み、
マイクロコンピュータ１６６が近距離参照パターンを形
成する。即ち、マイクロコンピュータ１６６のシフトレ
ジスタにより、Ｍ系列のランダムパターンのデータを作
成する。次にＳ１０では、ＲＡＭ１６４からエリアセン
サ１５から取り込まれた電気信号の内、近距離測定用パ
ターンに該当する信号を抽出する。そしてＳ１１に進
み、Ｓ１１では、Ｓ９で作成した近距離参照パターン
と、Ｓ１０で抽出された近距離測定用パターンとの相関
処理を行う。即ちＳ１１は、Ｍ系列のランダムパターン
のデータを積分し、この積分データと、エリアセンサ１
５の鉛直方向の出力データとの相互相関を計算し、その
最大値となるデータを選択し、その最大値となった点に
対応する電子レベル用標尺２の鉛直位置を決定すること
ができる。
【００４７】そしてＳ１２では、Ｓ１１で決定された鉛
直位置から高低差が演算され、演算値が表示器１６７に
表示される。更にＳ１３に進み、Ｓ１３では測定終了か
否かを判断し、測定終了の場合にはＳ１４に進んで測量
を終了する。なおＳ１３で、測定を終了しない場合に
は、Ｓ２に戻って測量を繰り返す様になっている。
直位置から高低差が演算され、演算値が表示器１６７に
表示される。更にＳ１３に進み、Ｓ１３では測定終了か
否かを判断し、測定終了の場合にはＳ１４に進んで測量
を終了する。なおＳ１３で、測定を終了しない場合に
は、Ｓ２に戻って測量を繰り返す様になっている。
【００４８】なおＳ８で、Ｓ７で算出された概略距離
が、所定距離を越えて遠距離と判断された場合には、Ｓ
１５に進み、マイクロコンピュータ１６６が遠距離参照
パターンを形成する。次にＳ１６では、ＲＡＭ１６４か
らエリアセンサ１５から取り込まれた電気信号の内、遠
距離測定用パターンに該当する信号を抽出する。そして
そしてＳ１１に進み、Ｓ１１では、Ｓ１５で作成した遠
距離参照パターンと、Ｓ１６で抽出された遠距離測定用
パターンとの相関処理を行う。そしてＳ１２で、高低差
を演算する様に構成されている。
が、所定距離を越えて遠距離と判断された場合には、Ｓ
１５に進み、マイクロコンピュータ１６６が遠距離参照
パターンを形成する。次にＳ１６では、ＲＡＭ１６４か
らエリアセンサ１５から取り込まれた電気信号の内、遠
距離測定用パターンに該当する信号を抽出する。そして
そしてＳ１１に進み、Ｓ１１では、Ｓ１５で作成した遠
距離参照パターンと、Ｓ１６で抽出された遠距離測定用
パターンとの相関処理を行う。そしてＳ１２で、高低差
を演算する様に構成されている。
【００４９】なお本実施例では、遠距離測定用パターン
部２２、２２が、同一の高さで左右一対に形成されてい
るので、傾斜演算手段１６６３が、エリアセンサ１５か
ら得られた電気信号の内、左右の遠距離測定用パターン
２２、２２に対応する電気信号から電子レベル用標尺２
の傾斜を求め、その平均化を行うことにより、電子レベ
ル用標尺２の倒れを補正することができる。そして本実
施例は、１回の測定で電子レベル用標尺２の倒れを補正
することができるという卓越した効果がある。
部２２、２２が、同一の高さで左右一対に形成されてい
るので、傾斜演算手段１６６３が、エリアセンサ１５か
ら得られた電気信号の内、左右の遠距離測定用パターン
２２、２２に対応する電気信号から電子レベル用標尺２
の傾斜を求め、その平均化を行うことにより、電子レベ
ル用標尺２の倒れを補正することができる。そして本実
施例は、１回の測定で電子レベル用標尺２の倒れを補正
することができるという卓越した効果がある。
【００５０】更に実施例は、距離データ及び高低差デー
タを電気的に出力できるので、データレコーダ等を使用
して作業の能率化を図ることができる。
タを電気的に出力できるので、データレコーダ等を使用
して作業の能率化を図ることができる。
【００５１】またエリアセンサ１５の出力信号をＮＴＳ
Ｃ信号とすることも可能であり、この場合には、電子レ
ベル１をテレビカメラとして使用することができる。
Ｃ信号とすることも可能であり、この場合には、電子レ
ベル１をテレビカメラとして使用することができる。
【００５２】
【効果】以上の様に構成された本発明は、測定を行う際
に鉛直方向に配置され、ランダムなパターンである近距
離測定用パターンを形成した近距離測定用パターン部
と、この近距離測定用パターンよりも大きなピッチの遠
距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パターン部
と、前記近距離測定用パターン部及び前記遠距離測定用
パターン部を挟み、そのパターン方向と略直交する方向
に、所定の間隔で形成される距離測定用パターンを形成
した距離測定用パターン部とからなる電子レベル用標尺
を使用して測定を行う電子レベルであって、前記近距離
測定用パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離
測定用パターンの像を形成するための対物レンズ部と、
この対物レンズ部によって形成された前記近距離測定用
パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離測定用
パターンの像を電気信号に変換するためのエリアセンサ
部と、このエリアセンサ部から得られた電気信号の内、
前記距離測定用パターンに対応する電気信号から該距離
測定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、
前記電子レベルと前記電子レベル用標尺との距離を演算
するための距離算出部と、この距離算出部により演算さ
れた演算距離が所定距離以下である場合には、前記エリ
アセンサ部から得られた電気信号の内、前記近距離測定
用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、前記
距離算出部により演算された演算距離が所定距離を越え
る場合には、前記エリアセンサ部から得られた電気信号
の内、前記遠距離測定用パターンに対応する電気信号か
ら高低差を求めるための高低差算出部とから構成されて
いるので、画像処理のみで、電子レベル用標尺までの距
離と高低差を測定することができ、読み取りミスもな
く、高速処理が行えるので、水準測量を行う時間の短縮
化を図ることができるという卓越した効果がある。
に鉛直方向に配置され、ランダムなパターンである近距
離測定用パターンを形成した近距離測定用パターン部
と、この近距離測定用パターンよりも大きなピッチの遠
距離測定用パターンを形成した遠距離測定用パターン部
と、前記近距離測定用パターン部及び前記遠距離測定用
パターン部を挟み、そのパターン方向と略直交する方向
に、所定の間隔で形成される距離測定用パターンを形成
した距離測定用パターン部とからなる電子レベル用標尺
を使用して測定を行う電子レベルであって、前記近距離
測定用パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離
測定用パターンの像を形成するための対物レンズ部と、
この対物レンズ部によって形成された前記近距離測定用
パターンと、前記遠距離測定用パターン及び距離測定用
パターンの像を電気信号に変換するためのエリアセンサ
部と、このエリアセンサ部から得られた電気信号の内、
前記距離測定用パターンに対応する電気信号から該距離
測定用パターンの所定間隔を検出し、この検出値から、
前記電子レベルと前記電子レベル用標尺との距離を演算
するための距離算出部と、この距離算出部により演算さ
れた演算距離が所定距離以下である場合には、前記エリ
アセンサ部から得られた電気信号の内、前記近距離測定
用パターンに対応する電気信号から高低差を求め、前記
距離算出部により演算された演算距離が所定距離を越え
る場合には、前記エリアセンサ部から得られた電気信号
の内、前記遠距離測定用パターンに対応する電気信号か
ら高低差を求めるための高低差算出部とから構成されて
いるので、画像処理のみで、電子レベル用標尺までの距
離と高低差を測定することができ、読み取りミスもな
く、高速処理が行えるので、水準測量を行う時間の短縮
化を図ることができるという卓越した効果がある。
【００５３】また本発明は、左右の遠距離測定用パター
ンに対応する電気信号から、前記電子レベル用標尺の傾
斜を求めるための傾斜演算手段が備えられているので、
１回の測定で、電子レベル用標尺の倒れ補正を行うこと
ができるという効果がある。
ンに対応する電気信号から、前記電子レベル用標尺の傾
斜を求めるための傾斜演算手段が備えられているので、
１回の測定で、電子レベル用標尺の倒れ補正を行うこと
ができるという効果がある。
【００５４】
【図１】本発明の実施例の電子レベル１の構成を示す図
である。
である。
【図２】本実施例の電子レベル用標尺２を説明する図で
ある。
ある。
【図３】本実施例の電子レベル１の外観を示す斜視図で
ある。
ある。
【図４】本実施例の演算処理手段１６の構成を示す図で
ある。
ある。
【図５】本実施例の距離測定の原理を説明する図であ
る。
る。
【図６】本実施例のＭ系列データの発生原理を説明する
図である。
図である。
【図７】本実施例の作用を説明する図である。
１ 電子レベル １１ 対物レンズ １２ コンペンセータ １３ ビームスプリッタ １４ 接眼レンズ部１４ １５ エリアセンサ １６ 演算処理手段 １６６１ 距離算出部 １６６２ 高低差算出部 １６６３ 傾斜演算手段 ２ 電子レベル用標尺 ２１ 近距離測定用パターン部 ２２ 遠距離測定用パターン部 ２３ 距離測定用パターン部
Claims (4)
- 【請求項１】 測定を行う際に鉛直方向に配置され、ラ
ンダムなパターンである近距離測定用パターンを形成し
た近距離測定用パターン部と、この近距離測定用パター
ンよりも大きなピッチの遠距離測定用パターンを形成し
た遠距離測定用パターン部と、前記近距離測定用パター
ン部及び前記遠距離測定用パターン部を挟み、そのパタ
ーン方向と略直交する方向に、所定の間隔で形成される
距離測定用パターンを形成した距離測定用パターン部と
からなる電子レベル用標尺を使用して測定を行う電子レ
ベルであって、前記近距離測定用パターンと、前記遠距
離測定用パターン及び距離測定用パターンの像を形成す
るための対物レンズ部と、この対物レンズ部によって形
成された前記近距離測定用パターンと、前記遠距離測定
用パターン及び距離測定用パターンの像を電気信号に変
換するためのエリアセンサ部と、このエリアセンサ部か
ら得られた電気信号の内、前記距離測定用パターンに対
応する電気信号から該距離測定用パターンの所定間隔を
検出し、この検出値から、前記電子レベルと前記電子レ
ベル用標尺との距離を演算するための距離算出部と、こ
の距離算出部により演算された演算距離が所定距離以下
である場合には、前記エリアセンサ部から得られた電気
信号の内、前記近距離測定用パターンに対応する電気信
号から高低差を求め、前記距離算出部により演算された
演算距離が所定距離を越える場合には、前記エリアセン
サ部から得られた電気信号の内、前記遠距離測定用パタ
ーンに対応する電気信号から高低差を求めるための高低
差算出部とから構成されている電子レベル。 - 【請求項２】 遠距離測定用パターン部が、近距離測定
用パターン部を挟み込む様に左右に配置されており、前
記エリアセンサ部から得られた電気信号の内、前記左右
の遠距離測定用パターンに対応する電気信号から、前記
電子レベル用標尺の傾斜を求めるための傾斜演算手段
と、この傾斜演算手段により得られた前記電子レベル用
標尺の傾斜を考慮して、前記高低差算出部が高低差を算
出する請求項１記載の電子レベル。 - 【請求項３】 高低差算出部が、前記近距離測定用パタ
ーンに対応する電気信号と、遠距離測定用パターンに対
応する電気信号とに相関処理を施し、高低差を算出する
請求項１記載の電子レベル。 - 【請求項４】 測定を行う際の鉛直方向に形成され、ラ
ンダムなパターンである近距離測定用パターンを形成し
た近距離測定用パターン部と、この近距離測定用パター
ンよりも大きなピッチの遠距離測定用パターンを形成し
た遠距離測定用パターン部と、前記近距離測定用パター
ン部及び前記遠距離測定用パターン部を挟み、そのパタ
ーン方向と略直交する方向に、所定の幅で形成される距
離測定用パターンを形成した距離測定用パターン部とか
らなる電子レベル用標尺。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04155982A JP3141123B2 (ja) | 1992-05-23 | 1992-05-23 | 電子レベルと電子レベル用標尺 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04155982A JP3141123B2 (ja) | 1992-05-23 | 1992-05-23 | 電子レベルと電子レベル用標尺 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05322562A true JPH05322562A (ja) | 1993-12-07 |
| JP3141123B2 JP3141123B2 (ja) | 2001-03-05 |
Family
ID=15617771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04155982A Expired - Fee Related JP3141123B2 (ja) | 1992-05-23 | 1992-05-23 | 電子レベルと電子レベル用標尺 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3141123B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5416606A (en) * | 1989-12-21 | 1995-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for encoding or decoding an image in accordance with image characteristics |
| JP2003083746A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-19 | Pentax Precision Co Ltd | 光学距離測定装置 |
| JP2007108118A (ja) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Sokkia Co Ltd | 標尺領域検出方法およびその装置 |
| JP2007536538A (ja) * | 2004-05-06 | 2007-12-13 | ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト | 標尺、標尺を用いたレベル測定装置および測定方法 |
| WO2012035835A1 (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | 株式会社ソキア・トプコン | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
| JP2013015405A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Topcon Corp | 電子レベル用標尺 |
| JP2013205278A (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-07 | Denso It Laboratory Inc | 測位用マーカおよび撮像装置の位置・姿勢推定システム |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101926063B1 (ko) * | 2017-11-21 | 2018-12-06 | 이재윤 | 랩 절취를 위한 열선이 구비된 랩 케이스 |
-
1992
- 1992-05-23 JP JP04155982A patent/JP3141123B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP4834661B2 (ja) * | 2004-05-06 | 2011-12-14 | ライカ ジオシステムズ アクチェンゲゼルシャフト | 標尺、標尺を用いたレベル測定装置および測定方法 |
| JP2007108118A (ja) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Sokkia Co Ltd | 標尺領域検出方法およびその装置 |
| WO2012035835A1 (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | 株式会社ソキア・トプコン | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
| JP2012058189A (ja) * | 2010-09-13 | 2012-03-22 | Sokkia Topcon Co Ltd | 電子レベル及び電子レベル用標尺 |
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