JPH103603A - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
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- JPH103603A JPH103603A JP15520296A JP15520296A JPH103603A JP H103603 A JPH103603 A JP H103603A JP 15520296 A JP15520296 A JP 15520296A JP 15520296 A JP15520296 A JP 15520296A JP H103603 A JPH103603 A JP H103603A
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- magnetic disk
- head
- disk medium
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Abstract
(57)【要約】
【課題】ＭＲヘッドを採用している磁気ディスク装置に
おいて、磁気ディスク媒体とＭＲ素子との接触で後発的
に発生するＴＡを検出する機能を付加し、その隣接数ト
ラックをエラー登録することによってリードエラーの回
避を可能とする。 【解決手段】本発明では、後発的に発生するＴＡによっ
て生ずるリードエラーを回避する手段として、ＴＡを検
知する機能を付加し、突起が高くなる前の軽微なＴＡを
検出することで、その発生部の前後数トラックのデータ
を退避させ、且つその箇所を欠陥登録を行えるようにす
る。そうすることにより、磁気ディスク装置稼働時にお
ける、後発的に発生するＴＡによるリードエラー、すな
わちデータ欠落による磁気ディスク装置障害の未然防止
をはかることができ、磁気ディスク装置の信頼性向上が
実現できる。
おいて、磁気ディスク媒体とＭＲ素子との接触で後発的
に発生するＴＡを検出する機能を付加し、その隣接数ト
ラックをエラー登録することによってリードエラーの回
避を可能とする。 【解決手段】本発明では、後発的に発生するＴＡによっ
て生ずるリードエラーを回避する手段として、ＴＡを検
知する機能を付加し、突起が高くなる前の軽微なＴＡを
検出することで、その発生部の前後数トラックのデータ
を退避させ、且つその箇所を欠陥登録を行えるようにす
る。そうすることにより、磁気ディスク装置稼働時にお
ける、後発的に発生するＴＡによるリードエラー、すな
わちデータ欠落による磁気ディスク装置障害の未然防止
をはかることができ、磁気ディスク装置の信頼性向上が
実現できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
に使用されるＴＡによるリードエラー増加の回避方法、
及び磁気ディスク装置に関する。
に使用されるＴＡによるリードエラー増加の回避方法、
及び磁気ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に従来の磁気ディスク装置におい
て、磁気ディスク媒体上の欠陥部検索、登録方法は、磁
気ディスク装置に組み込む前に磁気ディスク媒体を通常
状態よりも磁気ヘッドの浮上量を下げた状態で磁気ヘッ
ドとの接触をチェックし、合格した磁気ディスク媒体を
磁気ディスク装置に組んだものを、装置出荷前に全シリ
ンダに磁気ヘッドを走査させ、それぞれ各シリンダ上で
１枚または複数枚存在する磁気ディスク媒体すべてにつ
いてのデータ面上に配置されている磁気ヘッドにて磁気
ディスク媒体上に存在する欠陥部を探し、その発見され
た欠陥部の円周方向の位置情報としてその該当セクタナ
ンバーを磁気ディスク媒体上の所定の位置に登録し、そ
の登録されたデータに基づいて磁気ディスク装置の実稼
働時に欠陥が存在するセクタではデータの記録、再生を
行わない制御方法がとられている。また、特開昭５７−
１８６２６８等に記載されているように自動的に磁気デ
ィスク媒体の欠陥部を登録を行う方式も知られている。
て、磁気ディスク媒体上の欠陥部検索、登録方法は、磁
気ディスク装置に組み込む前に磁気ディスク媒体を通常
状態よりも磁気ヘッドの浮上量を下げた状態で磁気ヘッ
ドとの接触をチェックし、合格した磁気ディスク媒体を
磁気ディスク装置に組んだものを、装置出荷前に全シリ
ンダに磁気ヘッドを走査させ、それぞれ各シリンダ上で
１枚または複数枚存在する磁気ディスク媒体すべてにつ
いてのデータ面上に配置されている磁気ヘッドにて磁気
ディスク媒体上に存在する欠陥部を探し、その発見され
た欠陥部の円周方向の位置情報としてその該当セクタナ
ンバーを磁気ディスク媒体上の所定の位置に登録し、そ
の登録されたデータに基づいて磁気ディスク装置の実稼
働時に欠陥が存在するセクタではデータの記録、再生を
行わない制御方法がとられている。また、特開昭５７−
１８６２６８等に記載されているように自動的に磁気デ
ィスク媒体の欠陥部を登録を行う方式も知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】磁気ディスク装置の小
型化高密度化は、実機においてスライダ形状の小型化、
磁気ヘッドの低浮上化へと進み、磁気ヘッドと磁気ディ
スク媒体の微小突起部との接触の頻度が高まる一方、磁
気ヘッドも従来のインダクティブヘッドから電磁変換特
性に優れた磁気抵抗効果を利用したＭＲヘッドへと移行
しつつある。しかしＭＲヘッドの信号読み出しの原理
は、強磁性体であるＭＲ素子の磁気抵抗効果により媒体
上に記録されてある磁気の外部磁界の影響でＭＲ素子の
電気抵抗値が変化することを利用し、その変化分を信号
として再生しているため、例えば磁気ディスク媒体とＭ
Ｒヘッド素子部との接触があった場合に、ＭＲヘッドと
磁気ディスク媒体の間に相対速度があることから摩擦熱
が発生し、その摩擦熱によりＭＲ素子部に急激な温度上
昇が生じることでＭＲ素子部の電気抵抗値がそれに伴っ
て上昇し、再生信号の直流成分の移動を引き起こす。こ
の現象をサーマルアスペリティ（ＴＡ）といい、それに
よりリードエラーが発生する。
型化高密度化は、実機においてスライダ形状の小型化、
磁気ヘッドの低浮上化へと進み、磁気ヘッドと磁気ディ
スク媒体の微小突起部との接触の頻度が高まる一方、磁
気ヘッドも従来のインダクティブヘッドから電磁変換特
性に優れた磁気抵抗効果を利用したＭＲヘッドへと移行
しつつある。しかしＭＲヘッドの信号読み出しの原理
は、強磁性体であるＭＲ素子の磁気抵抗効果により媒体
上に記録されてある磁気の外部磁界の影響でＭＲ素子の
電気抵抗値が変化することを利用し、その変化分を信号
として再生しているため、例えば磁気ディスク媒体とＭ
Ｒヘッド素子部との接触があった場合に、ＭＲヘッドと
磁気ディスク媒体の間に相対速度があることから摩擦熱
が発生し、その摩擦熱によりＭＲ素子部に急激な温度上
昇が生じることでＭＲ素子部の電気抵抗値がそれに伴っ
て上昇し、再生信号の直流成分の移動を引き起こす。こ
の現象をサーマルアスペリティ（ＴＡ）といい、それに
よりリードエラーが発生する。
【０００４】ＴＡはＭＲ素子部と磁気ディスク媒体との
接触のうち、特に磁気ディスク媒体上に存在する微小な
突起との接触により発生することが多いが、ヘッドの低
浮上化に伴いその機会も増加し、それにより磁気ディス
ク媒体上の突起の形状が変化し、例えば磁気ディスク媒
体の保護膜等が剥がれかかることによってその突起の高
さが高くなる可能性も考えられる。すなわち、それによ
り磁気ディスク装置の稼働中に高く成長してしまう突起
により、初めには発生していなかったエラーが稼働後、
暫くたってから発生することになる。このことは、後発
的にエラーが発生することを意味する。また、そのＴＡ
は突起の存在するトラックだけではなく、その隣接する
数トラックに影響を及ぼす場合もある。
接触のうち、特に磁気ディスク媒体上に存在する微小な
突起との接触により発生することが多いが、ヘッドの低
浮上化に伴いその機会も増加し、それにより磁気ディス
ク媒体上の突起の形状が変化し、例えば磁気ディスク媒
体の保護膜等が剥がれかかることによってその突起の高
さが高くなる可能性も考えられる。すなわち、それによ
り磁気ディスク装置の稼働中に高く成長してしまう突起
により、初めには発生していなかったエラーが稼働後、
暫くたってから発生することになる。このことは、後発
的にエラーが発生することを意味する。また、そのＴＡ
は突起の存在するトラックだけではなく、その隣接する
数トラックに影響を及ぼす場合もある。
【０００５】本発明の目的は、上記問題点を除去するこ
とであり、磁気ディスク装置の信頼性を向上する新たな
手段を提供することにある。
とであり、磁気ディスク装置の信頼性を向上する新たな
手段を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、成長する突起によるＴＡの発生によっ
て生ずるリードエラーを回避する手段として、ＴＡを検
知する機能を付加することにより、軽微なＴＡを検出で
きる様にし、磁気ディスク媒体上の突起が大きく成長
し、リードエラーになってしまう前に、そのＴＡが発生
した箇所に記録されているデータを、即座に、あらかじ
め用意しておいた領域に退避させる機能を有し、かつそ
の発生トラック、またその隣接するトラック情報と、円
周方向の位置情報としてセクタナンバー等を磁気ディス
ク装置媒体上の所定の位置等にエラー登録し、その箇所
を後に使用することを避けるように制御する方式を与え
るものである。
に、本発明では、成長する突起によるＴＡの発生によっ
て生ずるリードエラーを回避する手段として、ＴＡを検
知する機能を付加することにより、軽微なＴＡを検出で
きる様にし、磁気ディスク媒体上の突起が大きく成長
し、リードエラーになってしまう前に、そのＴＡが発生
した箇所に記録されているデータを、即座に、あらかじ
め用意しておいた領域に退避させる機能を有し、かつそ
の発生トラック、またその隣接するトラック情報と、円
周方向の位置情報としてセクタナンバー等を磁気ディス
ク装置媒体上の所定の位置等にエラー登録し、その箇所
を後に使用することを避けるように制御する方式を与え
るものである。
【０００７】そうすることにより、磁気ディスク装置稼
働時における、後発的に発生するＴＡによるリードエラ
ー、すなわちデータ欠落による磁気ディスク装置障害の
未然防止をはかることができ、磁気ディスク装置の信頼
性向上が実現できる。
働時における、後発的に発生するＴＡによるリードエラ
ー、すなわちデータ欠落による磁気ディスク装置障害の
未然防止をはかることができ、磁気ディスク装置の信頼
性向上が実現できる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図１
〜図４により説明する。
〜図４により説明する。
【０００９】図１は本発明の磁気ディスク装置１６にお
いて磁気ディスク媒体とＭＲヘッドが接触した時の再生
波形２であり、一般にＴＡ波形と呼ばれる。図２の接触
していない時の正常波形５と比較し、接触熱によるＭＲ
素子の抵抗値変化により再生出力電圧のＤＣ成分が変動
していることにより、データリードエラーを引き起こす
事がある。データの１ビット単位の出力に相当する交流
成分の大きさは変動しておらず、この事からも磁気ディ
スク媒体の磁気記録的な欠陥が原因ではなく、ＴＡ波形
であることを示す。
いて磁気ディスク媒体とＭＲヘッドが接触した時の再生
波形２であり、一般にＴＡ波形と呼ばれる。図２の接触
していない時の正常波形５と比較し、接触熱によるＭＲ
素子の抵抗値変化により再生出力電圧のＤＣ成分が変動
していることにより、データリードエラーを引き起こす
事がある。データの１ビット単位の出力に相当する交流
成分の大きさは変動しておらず、この事からも磁気ディ
スク媒体の磁気記録的な欠陥が原因ではなく、ＴＡ波形
であることを示す。
【００１０】図３は磁気ディスク媒体上のＴＡ発生を及
ぼす欠陥部の検出、及び欠陥部登録方法を示す磁気ディ
スク装置のブロック図である。
ぼす欠陥部の検出、及び欠陥部登録方法を示す磁気ディ
スク装置のブロック図である。
【００１１】まず、図３に示すエラー検出回路１３にお
いて行うＴＡ検出の方法について図１、２、３を用いて
説明する。エラー検出回路１３は、図１の再生出力波形
２に対し、あらかじめスライスレベル１を設定してお
き、このスライスレベルをあるビット数を超えるものを
ＴＡによるエラーとして検出し、ＴＡ検出波形３を生成
する。一方、図２に示す再生出力波形の場合はスライス
レベル４を超えないためエラー信号６は発生しない。Ｔ
Ａ検出波形３の信号が発生する時間τの大小は、図３に
示すＭＲヘッド７と、磁気ディスク媒体８の突起部等と
の接触力の大小にかかわるので、問題とする接触レベル
によりＴＡとみなす信号３の時間等の検出条件を設定す
る。また、検出したいＴＡ波形の出力レベルは、スライ
スレベル１、４の大小に依存するのでスライスレベル
１、４は図３に示すコントロール部（マイコン）１４に
よって制御可能としてもよい。
いて行うＴＡ検出の方法について図１、２、３を用いて
説明する。エラー検出回路１３は、図１の再生出力波形
２に対し、あらかじめスライスレベル１を設定してお
き、このスライスレベルをあるビット数を超えるものを
ＴＡによるエラーとして検出し、ＴＡ検出波形３を生成
する。一方、図２に示す再生出力波形の場合はスライス
レベル４を超えないためエラー信号６は発生しない。Ｔ
Ａ検出波形３の信号が発生する時間τの大小は、図３に
示すＭＲヘッド７と、磁気ディスク媒体８の突起部等と
の接触力の大小にかかわるので、問題とする接触レベル
によりＴＡとみなす信号３の時間等の検出条件を設定す
る。また、検出したいＴＡ波形の出力レベルは、スライ
スレベル１、４の大小に依存するのでスライスレベル
１、４は図３に示すコントロール部（マイコン）１４に
よって制御可能としてもよい。
【００１２】次に、図３について説明する。ＭＲヘッド
７は、少なくとも１枚以上回転体に締結した磁気ディス
ク媒体８の上を、磁気ディスク媒体の半径方向にキャリ
ッジ９により走査される。これらの機構はＨＤＡ（ヘッ
ド・ディスク・アセンブリ）と呼ばれる。ＭＲヘッド７
の走査制御は、サーボ制御回路１０が行う。ＨＤＡ製造
行程にてあらかじめ磁気ディスク媒体８に書き込まれた
同心円位置決め信号（以下、サーボ信号）を、走査中の
ＭＲヘッド７が再生して、トラック位置が認識される。
７は、少なくとも１枚以上回転体に締結した磁気ディス
ク媒体８の上を、磁気ディスク媒体の半径方向にキャリ
ッジ９により走査される。これらの機構はＨＤＡ（ヘッ
ド・ディスク・アセンブリ）と呼ばれる。ＭＲヘッド７
の走査制御は、サーボ制御回路１０が行う。ＨＤＡ製造
行程にてあらかじめ磁気ディスク媒体８に書き込まれた
同心円位置決め信号（以下、サーボ信号）を、走査中の
ＭＲヘッド７が再生して、トラック位置が認識される。
【００１３】データの再生は、ドライブコントローラ１
１からの命令により、前述の方法にてトラック位置決め
制御されたＭＲヘッド７からの再生信号を、記録／再生
制御回路１２にてデータ弁別する。このとき同時に記録
／再生制御回路１２で増幅された再生信号から、図１の
２に示した信号、すなわちＭＲ素子と磁気ディスク媒体
上の主に突起部等との接触によって発生するＴＡ信号を
前記方法にて検出し、その発生位置であるトラックと、
セクタ等の情報をコントロール部（マイコン）１４によ
ってあらかじめ用意しておいた領域にデータ退避させ
る。この時、後発的に発生するＴＡによるエラーに対す
る予防として、ＴＡ発生部の隣接数トラックの同じセク
タ番号のデータを退避するようにする。その後その対象
セクタは欠陥部としてコントロール部（マイコン）１４
により登録し、以降使用しないようにする。この退避、
登録一連の動作は、ＴＡ検出後即刻行うのがよいが、一
時的にメモリ（ＲＡＭ）１５にＴＡ発生位置情報を蓄え
て、後程行ってもよい。
１からの命令により、前述の方法にてトラック位置決め
制御されたＭＲヘッド７からの再生信号を、記録／再生
制御回路１２にてデータ弁別する。このとき同時に記録
／再生制御回路１２で増幅された再生信号から、図１の
２に示した信号、すなわちＭＲ素子と磁気ディスク媒体
上の主に突起部等との接触によって発生するＴＡ信号を
前記方法にて検出し、その発生位置であるトラックと、
セクタ等の情報をコントロール部（マイコン）１４によ
ってあらかじめ用意しておいた領域にデータ退避させ
る。この時、後発的に発生するＴＡによるエラーに対す
る予防として、ＴＡ発生部の隣接数トラックの同じセク
タ番号のデータを退避するようにする。その後その対象
セクタは欠陥部としてコントロール部（マイコン）１４
により登録し、以降使用しないようにする。この退避、
登録一連の動作は、ＴＡ検出後即刻行うのがよいが、一
時的にメモリ（ＲＡＭ）１５にＴＡ発生位置情報を蓄え
て、後程行ってもよい。
【００１４】交替セクタを用意し磁気ディスク媒体欠陥
部を使用しない様に制御する方法は、特開昭５７−１８
６２６８、特開昭６１−２３６００２等に示されている
が、本発明は、後発ＴＡに対するリードエラーという装
置障害の予防策として微小なＴＡが発生した場合に、そ
の隣接する数トラックをエラー登録することに特徴があ
る。
部を使用しない様に制御する方法は、特開昭５７−１８
６２６８、特開昭６１−２３６００２等に示されている
が、本発明は、後発ＴＡに対するリードエラーという装
置障害の予防策として微小なＴＡが発生した場合に、そ
の隣接する数トラックをエラー登録することに特徴があ
る。
【００１５】このように、ＴＡ発生によってエラー登録
するセクタ数は従来の欠陥部そのものを登録する方式に
比べ、複数トラックに亘って登録するために増えること
が予想されるので、データを退避させる領域はそれに伴
い多数確保されていなければならない。しかし、後発的
に発生するＴＡの個数は、図４に示すように磁気ディス
ク装置の稼働時間に対して減少傾向になることから、登
録するセクタ数を１個のＴＡ発生に対して前後３トラッ
クを登録するとして７セクタ分であり、ヘッドの本数が
たとえば１０本であった場合には、ＴＡ発生によるデー
タ交替用として用意するセクタ領域は、合計１００セク
タから２００セクタ分の割り当てを確保するのが適当で
ある。
するセクタ数は従来の欠陥部そのものを登録する方式に
比べ、複数トラックに亘って登録するために増えること
が予想されるので、データを退避させる領域はそれに伴
い多数確保されていなければならない。しかし、後発的
に発生するＴＡの個数は、図４に示すように磁気ディス
ク装置の稼働時間に対して減少傾向になることから、登
録するセクタ数を１個のＴＡ発生に対して前後３トラッ
クを登録するとして７セクタ分であり、ヘッドの本数が
たとえば１０本であった場合には、ＴＡ発生によるデー
タ交替用として用意するセクタ領域は、合計１００セク
タから２００セクタ分の割り当てを確保するのが適当で
ある。
【００１６】また、磁気ディスク媒体上の欠陥部登録方
法として、磁気ディスク装置稼働時だけではなく、装置
出荷前の欠陥部登録時にＴＡ発生位置の隣接セクタも含
めて登録する方法も有効である。
法として、磁気ディスク装置稼働時だけではなく、装置
出荷前の欠陥部登録時にＴＡ発生位置の隣接セクタも含
めて登録する方法も有効である。
【００１７】
【発明の効果】ＭＲヘッドを使用した磁気ディスク装置
において、磁気ディスク媒体と、ＭＲヘッドが接触する
こと等によって、磁気ディスク媒体上に存在する微小な
突起の形状が変化する場合がある。それにより、初めに
は発生していなかったエラーが稼働後しばらくたってか
ら発生してしまう、いわゆる後発的なＴＡによるデータ
エラーは数シリンダに亘ることが多く、装置障害が発生
してしまうことになる。
において、磁気ディスク媒体と、ＭＲヘッドが接触する
こと等によって、磁気ディスク媒体上に存在する微小な
突起の形状が変化する場合がある。それにより、初めに
は発生していなかったエラーが稼働後しばらくたってか
ら発生してしまう、いわゆる後発的なＴＡによるデータ
エラーは数シリンダに亘ることが多く、装置障害が発生
してしまうことになる。
【００１８】発明によれば、これによる装置障害を予防
でき、磁気ディスク装置信頼性が向上する。
でき、磁気ディスク装置信頼性が向上する。
【図１】ＴＡ発生時の再生波形である。
【図２】正常時の再生波形である。
【図３】ＴＡ検出および動作制御方法を示すブロック図
である。
である。
【図４】後発的ＴＡの発生状況である。
１…ＴＡ検出スライスレベル、 ２…ＴＡ発生時
再生波形、３…ＴＡ検出波形、 ４…
ＴＡ検出スライスレベル、５…正常時再生波形、
６…ＴＡ検出波形、７…ＭＲヘッド、
８…磁気ディスク媒体（円板）、９…キ
ャリッジ、 １０…サーボ検出回路、
１１…ドライブコントローラ、 １２…記録／再
生制御回路、１３…エラー検出回路、 １
４…コントロール部、１５…メモリ（ＲＡＭ）。
再生波形、３…ＴＡ検出波形、 ４…
ＴＡ検出スライスレベル、５…正常時再生波形、
６…ＴＡ検出波形、７…ＭＲヘッド、
８…磁気ディスク媒体（円板）、９…キ
ャリッジ、 １０…サーボ検出回路、
１１…ドライブコントローラ、 １２…記録／再
生制御回路、１３…エラー検出回路、 １
４…コントロール部、１５…メモリ（ＲＡＭ）。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (2)
- 【請求項１】磁気ディスク媒体と、磁気ディスク媒体を
一定速度にて回転させるためのスピンドルモータと、磁
気ディスク媒体からデータを読む素子に磁気抵抗効果素
子（ＭＲ素子）を用いた磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘ
ッド）と、ＭＲヘッドを該磁気ディスク媒体上の所定の
位置に位置決めするためのキャリッジを有する磁気ディ
スク装置において、ＭＲヘッド特有のサーマルアスペリ
ティ（ＴＡ）現象を検知する機能を付加することによ
り、軽微なＴＡを検出し、そのＴＡが発生した箇所、及
びその前後数トラックに記録されているデータを、即座
に、あらかじめ用意してある領域に退避させる機能を有
する磁気ディスク装置。 - 【請求項２】磁気ディスク媒体と、磁気ディスク媒体を
一定速度にて回転させるためのスピンドルモータと、磁
気ディスク媒体からデータを読む素子に磁気抵抗効果素
子（ＭＲ素子）を用いた磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘ
ッド）と、ＭＲヘッドを該磁気ディスク媒体上の所定の
位置に位置決めするためのキャリッジを有する磁気ディ
スク装置において、ＭＲヘッド特有のサーマルアスペリ
ティ（ＴＡ）現象が発生することでリードエラーが起こ
る事を回避する手段として、装置稼働後にＴＡが発生し
た場合に、その前後数トラックを追加エラー登録する機
能を有する事を特徴とする磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15520296A JPH103603A (ja) | 1996-06-17 | 1996-06-17 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15520296A JPH103603A (ja) | 1996-06-17 | 1996-06-17 | 磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH103603A true JPH103603A (ja) | 1998-01-06 |
Family
ID=15600739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15520296A Pending JPH103603A (ja) | 1996-06-17 | 1996-06-17 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH103603A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990065700A (ko) * | 1998-01-16 | 1999-08-05 | 윤종용 | 하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법 |
| KR100564533B1 (ko) * | 1998-01-15 | 2006-05-25 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브의 서보 디펙트 검사방법 |
| KR100564534B1 (ko) * | 1998-01-15 | 2006-05-29 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브에서의 서보 디펙트 처리방법 |
| US7251908B2 (en) | 2005-02-28 | 2007-08-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive to alleviate damage from thermal asperity |
-
1996
- 1996-06-17 JP JP15520296A patent/JPH103603A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100564533B1 (ko) * | 1998-01-15 | 2006-05-25 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브의 서보 디펙트 검사방법 |
| KR100564534B1 (ko) * | 1998-01-15 | 2006-05-29 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 드라이브에서의 서보 디펙트 처리방법 |
| KR19990065700A (ko) * | 1998-01-16 | 1999-08-05 | 윤종용 | 하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법 |
| US7251908B2 (en) | 2005-02-28 | 2007-08-07 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetic disk drive to alleviate damage from thermal asperity |
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