JP3111748B2 - 磁気ディスク装置 - Google Patents
磁気ディスク装置Info
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- JP3111748B2 JP3111748B2 JP05128701A JP12870193A JP3111748B2 JP 3111748 B2 JP3111748 B2 JP 3111748B2 JP 05128701 A JP05128701 A JP 05128701A JP 12870193 A JP12870193 A JP 12870193A JP 3111748 B2 JP3111748 B2 JP 3111748B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＭＲ再生ヘッドを用いる
磁気記録装置に関する。
磁気記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＭＲ効果（磁気抵抗効果）を用いたＭＲ
再生ヘッドは、１）高感度であること、２）周速依存性
が無いこと、３）ヘッド雑音が低いこと、等の特徴から
従来の誘導型再生ヘッドに比べ高Ｓ／Ｎであり高密度磁
気記録に必須である。一般に、ＭＲ再生ヘッドはＭＲ効
果膜，磁区制御膜，バイアス膜，バイアス強化膜等、磁
性膜の積層構造をとる。通常、ＭＲ再生ヘッドが安定に
浮上している場合は問題ないが、１）外乱、２）装置内
部発塵および発ガス等により記録媒体とＭＲ再生ヘッド
の接触が頻発するとＭＲ再生ヘッドを構成する各磁性膜
が損傷を受け、最悪の場合は予め記録しておいた情報を
再生出来ないという問題が発生する。
再生ヘッドは、１）高感度であること、２）周速依存性
が無いこと、３）ヘッド雑音が低いこと、等の特徴から
従来の誘導型再生ヘッドに比べ高Ｓ／Ｎであり高密度磁
気記録に必須である。一般に、ＭＲ再生ヘッドはＭＲ効
果膜，磁区制御膜，バイアス膜，バイアス強化膜等、磁
性膜の積層構造をとる。通常、ＭＲ再生ヘッドが安定に
浮上している場合は問題ないが、１）外乱、２）装置内
部発塵および発ガス等により記録媒体とＭＲ再生ヘッド
の接触が頻発するとＭＲ再生ヘッドを構成する各磁性膜
が損傷を受け、最悪の場合は予め記録しておいた情報を
再生出来ないという問題が発生する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】以上述べた問題を避け
ることが本発明の目的である。
ることが本発明の目的である。
【０００４】
【課題を解決するための手段】ＭＲ再生ヘッドを構成す
る磁性膜が接触，損傷を受けた時に生じる典型的な三つ
の現象をＭＲヘッド再生時に検知してヘッド劣化を認知
し、その後に再生データを情報保全領域に記録しデータ
保全を行う。
る磁性膜が接触，損傷を受けた時に生じる典型的な三つ
の現象をＭＲヘッド再生時に検知してヘッド劣化を認知
し、その後に再生データを情報保全領域に記録しデータ
保全を行う。
【０００５】
【作用】ＭＲ再生ヘッドを構成する磁性膜が接触，損傷
を受けた時に生じる典型的な三つの現象、 １）ＭＲ効果膜の損傷および通電劣化によるＭＲ効果膜
直流抵抗値の増加現象、 ２）磁区制御膜の損傷によるバルクハウゼン雑音の発生
現象、 ３）接触発熱−放熱サイクルによる再生出力中心電圧の
パルス状変動現象、 を再生時、常に監視しておきそれぞれの結果を重みづけ
して劣化を認知するＭＲヘッド劣化検出回路が劣化を認
知したならば、再生データを情報保全領域に記録し直し
データ保全を行う。
を受けた時に生じる典型的な三つの現象、 １）ＭＲ効果膜の損傷および通電劣化によるＭＲ効果膜
直流抵抗値の増加現象、 ２）磁区制御膜の損傷によるバルクハウゼン雑音の発生
現象、 ３）接触発熱−放熱サイクルによる再生出力中心電圧の
パルス状変動現象、 を再生時、常に監視しておきそれぞれの結果を重みづけ
して劣化を認知するＭＲヘッド劣化検出回路が劣化を認
知したならば、再生データを情報保全領域に記録し直し
データ保全を行う。
【０００６】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。図１は本
発明を実施した５.２５″ 磁気ディスク装置１の構成図
と上位装置２の接続図である。上位装置２とのやり取り
は内蔵マイコン１２を介して行う。また、内蔵マイコン
１２は機構系の制御，記録再生系の制御も行う。
発明を実施した５.２５″ 磁気ディスク装置１の構成図
と上位装置２の接続図である。上位装置２とのやり取り
は内蔵マイコン１２を介して行う。また、内蔵マイコン
１２は機構系の制御，記録再生系の制御も行う。
【０００７】磁気ディスク装置１は位相弁別方式でサー
ボトラック位置決め方式，アクチュエータ８はリニア方
式である。磁気ディスク５はＣｏ系スパッタ媒体で回転
数は３６００ｒｐｍ、サーボヘッド７は薄膜誘導型であ
る。データヘッド６は薄膜誘導型記録ヘッドとＭＲ型再
生ヘッドを複合化した複合型ヘッドを用いた。記録周波
数は９ＭＨｚである。ＭＲ再生ヘッドはＭＲ効果膜にＦ
ｅＮｉ材，磁区制御膜にはＣｏＰｔ硬磁性膜，バイアス
膜はＮｂ材，バイアス強化膜にはＣｏ系軟磁性膜を用い
た。記録ヘッドの磁極材はＣｏ系軟磁性膜を用い、コイ
ル巻数は１５回である。
ボトラック位置決め方式，アクチュエータ８はリニア方
式である。磁気ディスク５はＣｏ系スパッタ媒体で回転
数は３６００ｒｐｍ、サーボヘッド７は薄膜誘導型であ
る。データヘッド６は薄膜誘導型記録ヘッドとＭＲ型再
生ヘッドを複合化した複合型ヘッドを用いた。記録周波
数は９ＭＨｚである。ＭＲ再生ヘッドはＭＲ効果膜にＦ
ｅＮｉ材，磁区制御膜にはＣｏＰｔ硬磁性膜，バイアス
膜はＮｂ材，バイアス強化膜にはＣｏ系軟磁性膜を用い
た。記録ヘッドの磁極材はＣｏ系軟磁性膜を用い、コイ
ル巻数は１５回である。
【０００８】ＭＲヘッド劣化検出回路３はＭＲ効果膜直
流抵抗値検出回路１６，バルクハウゼン雑音検出回路１
７，再生出力中心電圧変位検出回路１８，監視マイコン
１９より構成する。通常は内蔵マイコン１２の制御の
基、複合型ヘッド用Ｒ／ＷＩＣ１０，再生増幅器１４経
由で増幅された再生出力を監視する。
流抵抗値検出回路１６，バルクハウゼン雑音検出回路１
７，再生出力中心電圧変位検出回路１８，監視マイコン
１９より構成する。通常は内蔵マイコン１２の制御の
基、複合型ヘッド用Ｒ／ＷＩＣ１０，再生増幅器１４経
由で増幅された再生出力を監視する。
【０００９】ＭＲヘッド劣化検出回路３の条件出しは
１）ディスクシュラウド内に大気塵埃を投入してＭＲ再
生ヘッドの劣化を加速する実験と、２）磁気ディスク装
置筐体を加振させＭＲ再生ヘッドの劣化を加速する実験
を行い、結果を監視マイコン１９のマイクロプログラム
に反映させた。
１）ディスクシュラウド内に大気塵埃を投入してＭＲ再
生ヘッドの劣化を加速する実験と、２）磁気ディスク装
置筐体を加振させＭＲ再生ヘッドの劣化を加速する実験
を行い、結果を監視マイコン１９のマイクロプログラム
に反映させた。
【００１０】内蔵マイコン１２はＭＲヘッド劣化検出回
路３から劣化検知を受けた時、以下の様に制御するよう
にマイクロプログラムを組んだ。
路３から劣化検知を受けた時、以下の様に制御するよう
にマイクロプログラムを組んだ。
【００１１】ヘッド劣化を検出すると内蔵マイコン１２
は割込みを掛けて上位装置２とのやり取りを中断し、ビ
ジー状態となり、データ保全作業の制御を行う。
は割込みを掛けて上位装置２とのやり取りを中断し、ビ
ジー状態となり、データ保全作業の制御を行う。
【００１２】データ保全は作業１から３に分けて行う。
通常、ヘッド劣化が発生しても、即、読み取り不能とな
ることは無いので、ヘッド劣化を検知したら再読み取り
を行い、これを別ヘッド面の交替トラックに記録する。
そののちに交替先のアドレスを不揮発性記憶素子３０に
記録し、データ保全作業１を終了する。内蔵マイコン１
２はビジー状態を解除して上位装置２との連携動作を復
帰する。
通常、ヘッド劣化が発生しても、即、読み取り不能とな
ることは無いので、ヘッド劣化を検知したら再読み取り
を行い、これを別ヘッド面の交替トラックに記録する。
そののちに交替先のアドレスを不揮発性記憶素子３０に
記録し、データ保全作業１を終了する。内蔵マイコン１
２はビジー状態を解除して上位装置２との連携動作を復
帰する。
【００１３】データ保全作業２は内蔵マイコン１２で上
位装置２とのアクセス頻度を監視しておき、頻度が極端
に低い場合に割込みを掛けて、劣化ヘッド面の残りの情
報をすべて別ヘッド面の交替トラックに記録する。その
のちに交替先のアドレスを不揮発性記憶素子３０に記録
しデータ保全作業２を終了する。
位装置２とのアクセス頻度を監視しておき、頻度が極端
に低い場合に割込みを掛けて、劣化ヘッド面の残りの情
報をすべて別ヘッド面の交替トラックに記録する。その
のちに交替先のアドレスを不揮発性記憶素子３０に記録
しデータ保全作業２を終了する。
【００１４】更に、上位装置２に磁気ディスク装置内情
報のバックアップ指示警告を出し、上位装置２に接続し
たバックアップ装置にバックアップが終わりしだい保全
作業３を終り、一連のデータ保全作業を完了する。
報のバックアップ指示警告を出し、上位装置２に接続し
たバックアップ装置にバックアップが終わりしだい保全
作業３を終り、一連のデータ保全作業を完了する。
【００１５】図２は本発明の効果を示す図である。効果
を認定する試験はＭＲ再生ヘッドの劣化を加速してデー
タの保全がどの程度行われるかで調べた。ＭＲ再生ヘッ
ドの劣化を加速するために磁気ディスク装置シュラウド
内の塵埃濃度がクラス5000一定となるように大気塵を供
給し続けて、上位装置２と連動させて試験を行った。
を認定する試験はＭＲ再生ヘッドの劣化を加速してデー
タの保全がどの程度行われるかで調べた。ＭＲ再生ヘッ
ドの劣化を加速するために磁気ディスク装置シュラウド
内の塵埃濃度がクラス5000一定となるように大気塵を供
給し続けて、上位装置２と連動させて試験を行った。
【００１６】本発明を実施した場合、１０回試験を行っ
たところ塵埃供給開始から１０分から１５分間の間にヘ
ッドの劣化検出がなされ、ほぼ同時にデータ保全作業１
が始まり１分で終了。約１時間後にデータ保全作業２が
始まり約１０分で終了。続いて、上位装置２に接続され
た磁気テープ装置にバックアップ作業が開始されほぼ５
時間で終了、ヘッド劣化検出から約６時間で磁気ディス
ク装置内の全てのデータ保全作業が完了した。その後も
続いて塵埃供給を行ったところ、約１０時間でデータエ
ラーが頻発し、その後３時間でデータの読み取りが出来
なくなった。磁気ディスク表面を観察したところディス
ク全面（８枚：１６面）にスクラッチ状の傷が入ってい
た。このようにＭＲ再生ヘッド劣化検出回路によるデー
タ保全作業により、磁気ディスク装置内の全てのデータ
が消失しない効果がある。
たところ塵埃供給開始から１０分から１５分間の間にヘ
ッドの劣化検出がなされ、ほぼ同時にデータ保全作業１
が始まり１分で終了。約１時間後にデータ保全作業２が
始まり約１０分で終了。続いて、上位装置２に接続され
た磁気テープ装置にバックアップ作業が開始されほぼ５
時間で終了、ヘッド劣化検出から約６時間で磁気ディス
ク装置内の全てのデータ保全作業が完了した。その後も
続いて塵埃供給を行ったところ、約１０時間でデータエ
ラーが頻発し、その後３時間でデータの読み取りが出来
なくなった。磁気ディスク表面を観察したところディス
ク全面（８枚：１６面）にスクラッチ状の傷が入ってい
た。このようにＭＲ再生ヘッド劣化検出回路によるデー
タ保全作業により、磁気ディスク装置内の全てのデータ
が消失しない効果がある。
【００１７】一方、監視マイコン１９の動作を止めて、
本発明を実施しない状態で同様の加速試験を行ったとこ
ろ、やはり約１０時間後にデータエラーが頻発し、３時
間でデータの読み取りが出来なくなり、磁気ディスク装
置内の全てのデータが消失した。尚、データ保全領域は
劣化ヘッド面以外の磁気記録媒体に限るものではなく、
例えばバックアップ専用の不揮発性半導体素子を用いて
も良い。更に、不揮発性半導体素子を簡便に取付け、増
設可能とすればより耐障害性能が向上する。
本発明を実施しない状態で同様の加速試験を行ったとこ
ろ、やはり約１０時間後にデータエラーが頻発し、３時
間でデータの読み取りが出来なくなり、磁気ディスク装
置内の全てのデータが消失した。尚、データ保全領域は
劣化ヘッド面以外の磁気記録媒体に限るものではなく、
例えばバックアップ専用の不揮発性半導体素子を用いて
も良い。更に、不揮発性半導体素子を簡便に取付け、増
設可能とすればより耐障害性能が向上する。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、ＭＲ再生ヘッド劣化検
出回路によるデータ保全作業により、磁気ディスク装置
内の全てのデータが消失することがない。
出回路によるデータ保全作業により、磁気ディスク装置
内の全てのデータが消失することがない。
【図１】本発明の実施例を示すブロック図。
【図２】本発明の効果を示す説明図。
１…５.２５″ 磁気ディスク装置、２…上位装置、５…
磁気ディスク、６…データヘッド、７…サーボヘッド、
１０…複合型Ｒ／Ｗ ＩＣ、１４…再生増幅器、３…Ｍ
Ｒヘッド劣化検出回路、１６…ＭＲ効果膜直流抵抗値検
出回路、１７…バルクハウゼン雑音検出回路、１８…再
生出力中心電圧変位検出回路、１９…監視マイコン、１
２…内蔵マイコン、３０…不揮発性半導体記憶素子。
磁気ディスク、６…データヘッド、７…サーボヘッド、
１０…複合型Ｒ／Ｗ ＩＣ、１４…再生増幅器、３…Ｍ
Ｒヘッド劣化検出回路、１６…ＭＲ効果膜直流抵抗値検
出回路、１７…バルクハウゼン雑音検出回路、１８…再
生出力中心電圧変位検出回路、１９…監視マイコン、１
２…内蔵マイコン、３０…不揮発性半導体記憶素子。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小山 直樹 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社 日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 佐々木 忍 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社 日立製作所 中央研究所内 (72)発明者 土山 龍司 東京都国分寺市東恋ケ窪１丁目280番地 株式会社 日立製作所 中央研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−133504（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−183003（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−124005（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−103505（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 5/02
Claims (5)
- 【請求項１】誘導型記録ヘッドとＭＲ再生ヘッドと磁気
記録媒体を組み合わせて情報の記録再生を行う磁気ディ
スク装置において、ＭＲ効果膜直流抵抗変化検出を有す
るＭＲ再生ヘッド劣化検出回路を有し、情報の再生時、
前記ＭＲ再生ヘッドの劣化を検出した場合、情報を情報
保全領域に記録することを特徴とする磁気ディスク装
置。 - 【請求項２】誘導型記録ヘッドとＭＲ再生ヘッドと磁気
記録媒体を組み合わせて情報の記録再生を行う磁気ディ
スク装置において、バルクハウゼン雑音検出回路を有す
るＭＲ再生ヘッド劣化検出回路を有し、情報の再生時、
前記ＭＲ再生ヘッドの劣化を検出した場合、情報を情報
保全領域に記録することを特徴とする磁気ディスク装
置。 - 【請求項３】誘導型記録ヘッドとＭＲ再生ヘッドと磁気
記録媒体を組み合わせて情報の記録再生を行う磁気ディ
スク装置において、再生出力中心電圧変位検出回路を有
するＭＲ再生ヘッド劣化検出回路を有し、情報の再生
時、前記ＭＲ再生ヘッドの劣化を検出した場合、情報を
情報保全領域に記録することを特徴とする磁気ディスク
装置。 - 【請求項４】情報保全領域が、劣化を生じないＭＲ再生
ヘッドの面で再生可能な磁気記録媒体面である請求項１
から３のいずれか１に記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項５】情報保全領域が、前記磁気ディスク装置に
内蔵した不揮発性半導体記憶素子である請求項１から３
のいずれか１に記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05128701A JP3111748B2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05128701A JP3111748B2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 磁気ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06338004A JPH06338004A (ja) | 1994-12-06 |
| JP3111748B2 true JP3111748B2 (ja) | 2000-11-27 |
Family
ID=14991292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05128701A Expired - Fee Related JP3111748B2 (ja) | 1993-05-31 | 1993-05-31 | 磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3111748B2 (ja) |
-
1993
- 1993-05-31 JP JP05128701A patent/JP3111748B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06338004A (ja) | 1994-12-06 |
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Legal Events
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