JPH10335283A - 洗浄設備及び洗浄方法 - Google Patents
洗浄設備及び洗浄方法Info
- Publication number
- JPH10335283A JPH10335283A JP10088876A JP8887698A JPH10335283A JP H10335283 A JPH10335283 A JP H10335283A JP 10088876 A JP10088876 A JP 10088876A JP 8887698 A JP8887698 A JP 8887698A JP H10335283 A JPH10335283 A JP H10335283A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- cleaned
- type brush
- roll
- semiconductor wafer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 188
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 38
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 35
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 87
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 43
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract description 11
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 125
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 30
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 19
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 9
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 9
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 9
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 5
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 2
- 210000000050 mohair Anatomy 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 2
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 2
- 229920005830 Polyurethane Foam Polymers 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011496 polyurethane foam Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Cleaning In General (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
Abstract
経て清浄にする設備の洗浄効果を向上させる。 【解決手段】 ロール型洗浄機を1次洗浄機とし、1次
洗浄機で被洗浄物の全面にわたり洗浄を行い、次にロー
ル型洗浄機で取り除きにくいダストを取り除くのに好適
なペンシル型ブラシ洗浄機を2次洗浄機として被洗浄物
を高速回転し洗浄する。2次洗浄機をそのままスピン乾
燥機としても利用する。
Description
被洗浄物を洗浄する洗浄設備及び洗浄方法に関するもの
である。
て回路の配線が微細化し、このため、半導体ウエハ等上
に許容される残留ダストの数・大きさも十分小さいもの
でなければならなくなり、いわゆる超清浄化することが
必要になっている。そして半導体ウエハ等の超清浄化
は、半導体ウエハ等の洗浄において1回の洗浄のみで達
成することは困難である。このため、従来、半導体ウエ
ハ等の洗浄方法として、複数の洗浄機を用意し、半導体
ウエハ等の表面上のダストを複数の洗浄機を用いて複数
回洗浄する事で超清浄化する方法が用いられている。即
ち、例えば、ポリッシング装置において研磨した半導体
ウエハを洗浄する場合は、図3に示すようなロール型ブ
ラシ洗浄機を複数台並設し、更に別途図示しないスピン
乾燥機を設置していた。
状の半導体ウエハWの外周縁を支持して回転する複数本
(図3では6本)のスピンドル(回転駆動機構を具備す
る保持部材である)11と、円柱状であって半導体ウエ
ハWの上下に配置される2本のロール型ブラシ部材1
3、15と、ロール型ブラシ部材13、15を上下動さ
せ且つそれぞれ矢印F1又はF2方向に回転させるブラシ
駆動機構17、18と、半導体ウエハWの表面に洗浄液
(超純水)を供給する洗浄液供給ノズル19とを具備し
ている。なお、この例では、ロール型ブラシ部材13、
15の表面は、PVF(poly vinyl for
mal)製スポンジとしているが、他に発泡ポリウレタ
ン製のものや、ナイロン製のものや、モヘアも使用でき
る。
ハWを洗浄するには、まず半導体ウエハWの外周をスピ
ンドル11の上部のコマ12に設けた円周溝12a内に
収納して押付け、各コマ12を同一回転速度で高速回転
させることで半導体ウエハWを矢印E方向に略一定に回
転する。なお、半導体ウエハWは、被研磨面が上方を向
くよう位置している。次に、2本の回転するロール型ブ
ラシ部材13、15を半導体ウエハWを挟むように半導
体ウエハWの上下面にそれぞれ当接させ、同時に洗浄液
供給ノズル19から洗浄液を噴射又は流下する。これに
よって、半導体ウエハWの上下面に付着していたダスト
は、ロール型ブラシ部材13、15によって擦り取ら
れ、洗浄液と共に流される。
部材13、15の表面積(半導体ウエハWへの接触面
積)が大きいので、ポリッシング装置等によって研磨さ
れた後の非常に多くのダストが付着した半導体ウエハの
洗浄には、好適であり、またロール型ブラシ部材13、
15自体の寿命も長い。そして洗浄後の半導体ウエハW
は、2台目以降のロール型ブラシ洗浄機で同様に繰り返
し洗浄され、その後、図示しないスピン乾燥機で乾燥さ
れる。場合によっては、下側のロール型ブラシ部材15
は、省略できる。
術は、次のような問題点を有する。第1に、ロール型ブ
ラシ洗浄機は、ロール型ブラシ部材の外周速はどこでも
一定であるが、ウエハの周速は、中心部へ行く程小さい
ので、ロール型ブラシ部材とウエハWとの相対速度もウ
エハの半径方向に中心部へ行く程小さい。従って、ウエ
ハWの中心部分におけるダスト除去能力は、ウエハの外
周部分に比べて小さいため、ウエハの中心部分にダスト
が残りやすいという短所があった。また、1台目の洗浄
機で取れなかったウエハ中心部のダストは、2台目以降
の洗浄機においても同様に残る傾向があった。
2を回転することによって半導体ウエハWを回転するの
で、たとえコマ12をかなり高速で回転したとしても、
半導体ウエハWは、スリップして高速回転できない。ま
たコマ12の円周溝12aが摩耗しダストが発生するた
め、半導体ウエハWの洗浄を効果的に行うことができな
い。実用的には、ウエハの回転速度は、300rpm程
度であり、好ましくは、100rpm程である。また、
このためこのロール型ブラシ洗浄機を半導体ウエハを、
例えば2000rpm以上の高速で回転させることを必
要とするスピン乾燥機としてそのまま用いることはでき
ず、このロール型ブラシ洗浄機を複数台設置した場合
は、それ以外にスピン乾燥機構を設置しなければならな
いし、洗浄設備全体が大型化する。
びウエハ外周縁とコマ12の接触により回転するように
構成しているのは、ロール型ブラシ部材13又は15を
半導体ウエハWの表面又は裏面の直径に渡って設置さ
せ、コマ12及びスピンドル11には触れずにウエハの
両面のみならずウエハの周縁部にも常にブラシを接触す
ることができるからである。本発明は、上述の問題に鑑
みてなされたものである。本発明の目的は、効果的な洗
浄を行うことができ、しかも洗浄機をそのままスピン乾
燥機として利用することもできる洗浄設備及び洗浄方法
を提供することである。
物を複数の洗浄機による洗浄を経て清浄にする洗浄設備
に存する。本発明の洗浄設備において、複数の洗浄機の
内の前段の洗浄機は、被洗浄物の表面及び裏面の内の少
なくとも一方に接触して被洗浄物の洗浄面に略水平の回
転軸のまわりに回転するロール型ブラシ部材、及び被洗
浄物を保持する保持部材を備えるロール型ブラシ洗浄機
である。後段の洗浄機は、被洗浄物の表面及び裏面の内
の少なくとも一方に接触しながら被洗浄面上を移動する
ペンシル型ブラシ部材、及び被洗浄物自体を回転させる
回転駆動部材を備えるペンシル型ブラシ洗浄機である。
とができる。(a)ロール型ブラシ洗浄機は、被洗浄物
の洗浄面へ洗浄液を供給する手段を具備する。(b)保
持部材は、保持した被洗浄物を回転させる駆動機構を具
備する。(c)ロール型ブラシ部材の被洗浄物と接触す
る部分は、スポンジにより構成される。(d)ロール型
ブラシ部材は、その円筒形外面に多数の突起を備えるも
のである。(e)ペンシル型ブラシ部材は、被洗浄物の
洗浄面に略垂直の軸のまわりに回転される。(f)ペン
シル型ブラシ洗浄機は、被洗浄物の洗浄面へ洗浄液を供
給する手段を具備する。(g)ペンシル型ブラシ洗浄機
の被洗浄物と接触する部分は、スポンジにより構成され
る。
洗浄工程を経て清浄にする洗浄方法に存する。本発明の
洗浄方法において、複数の洗浄工程の内の前段の洗浄工
程は、被洗浄物の表面及び裏面の内の少なくとも一方に
回転するロール型ブラシ部材を接触させることにより洗
浄をする洗浄工程である。後段の洗浄工程は、回転する
被洗浄物の表面及び裏面の内の少なくとも一方にペンシ
ル型ブラシ部材を接触させることによって洗浄する洗浄
工程である。
とができる。(h)前段の洗浄工程は、被洗浄物の洗浄
面へ洗浄液を供給する工程を含む。(i)前段の洗浄工
程は、被洗浄物自体が回転される工程を含む。(j)後
段の洗浄工程は、ペンシル型ブラシ部材を被洗浄物の洗
浄面に略垂直の軸のまわりに回転する工程を含む。
(k)後段の洗浄工程は、被洗浄物の洗浄面へ洗浄液を
供給する工程を含む。
機において、保持部材により保持され、被洗浄物の表面
及び裏面の内の少なくとも一方が、被洗浄物の洗浄面に
略水平の回転軸のまわりに回転するロール型ブラシ部材
に接触され、被洗浄物とロール型ブラシ部材が相対的に
摺動され、被洗浄物からダストが除去される。次に被洗
浄物は、ペンシル型ブラシ洗浄機において、被洗浄物の
表面及び裏面の内の少なくとも一方に接触しながら被洗
浄面上を移動するペンシル型ブラシ部材に接触され、且
つ被洗浄物の外周をチャック機構で把持し回転させる構
造の回転駆動部材に把持され回転されることにより、被
洗浄物の表面からダストが除去される。その後、被洗浄
物は、ペンシル型ブラシ洗浄機の回転駆動部材により高
速回転され、スピン乾燥される。
を参照して説明する。図1は、本発明を適用するポリッ
シング装置全体の内部構造を示す概略平面図である。図
1のポリッシング装置は、ポリッシング部130と洗浄
部150とによって構成される。ポリッシング部130
は、ターンテーブル133の両側にトップリング135
を取り付けたポリッシングユニット137、ドレッシン
グツール139を取り付けたドレッシングユニット14
1、及びワーク受渡装置143を備える。洗浄部150
は、中央に矢印Z方向に移動可能な2台の搬送ロボット
151、153を設置し、その一方側に1次洗浄機1
0、2次洗浄機30及び洗浄機能付きスピン乾燥機60
を並列に設置し、他方側に2台のワーク反転機161、
163を並列に設置して構成される。
要部斜視図である。図2に示すように、搬送ロボット1
51、153は、何れもその上面に2組ずつアーム機構
154を取り付けて構成される。各アーム機構154の
先端には、それぞれ半導体ウエハを保持するハンド25
5、256、257、258が取り付けられている。な
おハンド255、256と、ハンド257、258は、
それぞれ上下に重なるように配置される。
ル型ブラシ洗浄機を用いている。一方、2次洗浄機30
は、図4に示す構造のペンシル型ブラシ洗浄機を用いて
いる。図3又は図5に示すロール型洗浄機10は、円盤
状の半導体ウエハWの外周縁を支持して回転する複数本
(図では6本)のスピンドル(回転駆動機構を具備する
保持部材)11と、ロール状であって半導体ウエハWの
上下に配設される2本のロール型ブラシ部材13、15
と、ウエハWに平行な回転シャフト13b、15bをウ
エハWに対し接近又は離間させ且つ矢印F1、F2方向へ
それぞれ回転させるブラシ駆動機構17、18と、半導
体ウエハWの表面に洗浄液(超純水)を供給する洗浄液
供給ノズル19とを具備する。ウエハWの裏面側にもノ
ズル19と同様のノズルを備えてウエハの裏面に洗浄液
を供給する。
13は、円筒形ブラシ13a、15aの円筒内面をシャ
フト13b、15bに固着して構成される。ロール型ブ
ラシ13a、15aは、多孔質のPVF製スポンジによ
り構成される。この場合、スポンジに形成される孔の平
均直径は、実験結果から小さいほどブラシ部材13、1
5のダスト除去能力が高いことが解っており、最も好ま
しくは、110μm以下である。また、ロール型ブラシ
13a、15aは、発泡ポリウレタン製のものでもよ
い。
れ、ブラシ部材13の長手方向に所定ピッチpだけ離間
される多数の突起13cを有する。突起13cの列は、
ブラシ部材13のまわりに所定ピッチだけ円周方向に離
間される。ブラシ部材13の円周方向において、隣接す
る突起13cは、相互に、ブラシ部材13の長手方向に
おけるピッチの半分(p/2)だけ離間される。即ち、
突起13cは、隣同士の突起が交互に規則正しく配置さ
れる。ブラシ部材13がそれ自体の軸線G−Gのまわり
に回転されるとき、突起13cの第1列が半導体ウエハ
Wを擦る。突起13cの第1列により擦られなかった半
導体ウエハWのあらゆる表面区域は、突起13cの第1
列に隣接する突起13cの第2列により擦られる。半導
体ウエハWは、このように突起13cの連続する列によ
り擦られるから、その全表面が突起13cにより擦られ
る。その結果、半導体ウエハWは、ブラシ部材13によ
り効果的に浄化される。ブラシ部材15は、ブラシ部材
13と同様の構造を有する。各ブラシ部材13、15
は、異なる円筒面、例えば、突起のない円筒面、溝付き
の円筒面、その他、を有することができる。
機30は、回転チャック機構(回転駆動部材)31、及
びペンシル型ブラシ機構41を備える。回転チャック機
構31は、その上部に円盤状の半導体ウエハWの外周を
挟持するチャック爪33を有し、また回転駆動軸35に
よって矢印A方向に回転駆動される。回転チャック機構
31のチャック爪33は、半導体ウエハWをロボットの
ハンドにより搬入搬出できるように、図4では省略され
ているが、開閉可能に構成される。
ように、シャフト43に一端が揺動自在に支持されたア
ーム45を具備し、アーム45の他端にウエハWの洗浄
面に向かって鉛直下方に突出する回転駆動軸49を設
け、回転駆動軸49の下端に多孔質のPVF製スポンジ
で形成されたペンシル型ブラシ51を取り付けて構成さ
れる。ペンシル型ブラシ51の材料は、発泡ポリウレタ
ンとすることが可能である。ペンシル型ブラシ51は、
ウエハWとの接触面が水平となる底面を有する略円柱状
に形成される。ペンシル型ブラシ51の寸法は、例え
ば、高さ約5mm、外径約20mmである。また、スポ
ンジに形成される微小孔の平均径は、約110μmであ
る。微小孔の平均直径が小さくなればなるほどスポンジ
の効果が大きくなるので、好ましい孔径は、80μmよ
り小である。ナイロン製のブラシ又はモヘヤがペンシル
型ブラシ51の原材料として用いられ得る。
降でき、また軸43の回転によりアーム45は、矢印C
に示すように揺動し、更にまた回転駆動軸49の回転に
よりペンシル型ブラシ51は、矢印D方向に回転する。
つまりペンシル型ブラシ機構41は、ブラシ(洗浄具)
がその先端についており、それが自転する構造である。
ペンシル型ブラシ洗浄機30は、更に洗浄液供給用ノズ
ル55を具備する。また、ペンシル型ブラシ機構41の
停止時にペンシル型ブラシ51を収納し洗浄するため、
カップ状のブラシ収納部53を具備する。
の要部を示す図である。図10に示すように、洗浄機能
付きスピン乾燥機60は、回転チャック機構(回転駆動
部材)61、及び液噴射洗浄用ノズル63を具備する。
ノズル63は、図4に示すアーム45と同様のアームの
先端に取り付けられて、アーム45と同様にウエハ表面
を移動しながらウエハ表面へ洗浄液を噴射する。図10
の回転チャック機構61は、図4の回転チャック機構3
1と同様の構造であるので、詳細説明は、省略する。液
噴射洗浄用ノズル63は、超音波の振動エネルギーを与
えた洗浄液(超純水)、キャビテーションを有する洗浄
液(超純水)、又は高圧洗浄液(超純水)のいずれか1
つ又は幾つかを組み合わせて噴射する構造とすることが
できる。
浄用ノズル63の構造を示す概略断面図である。図7に
示すノズル63は、超音波洗浄用であり、ノズル本体3
63内部に超音波振動子365を収納する。超音波振動
子365は、洗浄液に500kHz〜1.5MHzの振
動を与える。超音波振動子365を起動した状態で注入
口367から高圧の超純水を注入することにより、超音
波エネルギーが付与された超純水が噴射口369から半
導体ウエハWの上面へ噴射される。
浄用であり、低圧ノズル371の注入口375から1〜
2kg/cm2の低圧の超純水を注入すると同時に高圧
ノズル373の注入口377から30〜150kg/c
m2の高圧の超純水を注入すると、噴射口379から噴
射される低速噴射流中を噴射口381から噴射される高
速噴流が通過することにより、両噴流の境界面でキャビ
テーションが発生する。そしてキャビテーションが破壊
する位置に半導体ウエハWの表面を位置させることによ
りダストにキャビテーションの破壊エネルギーが与えら
れ、該ダストは、半導体ウエハWの表面から剥離され
る。
である。ノズル本体383内部に細径の噴射口385を
設けた構造であり、注入口387に30〜150kg/
cm2の高圧の超純水を注入すると、噴射口385から
高速流となって噴射され、これが半導体ウエハWの上面
に衝突する。
明する。図1及び図2に示すように、研磨前の半導体ウ
エハWを収納したカセット165が図示の位置にセット
されると、搬送ロボット153のハンド257がカセッ
ト165から半導体ウエハWを1枚ずつ取り出してワー
ク反転機163へ渡して半導体ウエハWを反転する。さ
らに半導体ウエハWは、ワーク反転機163から搬送ロ
ボット151のハンド255に渡されてポリッシング部
130のワーク受渡装置143に搬送される。
は、矢印Pで示すように、回動するポリッシングユニッ
ト137のトップリング135下面に保持されてターン
テーブル133上に移動され、回転する研磨面134上
で研磨される。このとき研磨面134上には、図示しな
い供給管から砥液が供給される。研磨後の半導体ウエハ
Wは、再びワーク受渡装置143に戻され、搬送ロボッ
ト151のハンドル256(図2)によってワーク反転
機161に渡されてリンス液でリンスされながら反転さ
れた後、ハンド256によって1次洗浄機10へ移送さ
れる。
研磨後の多量のダストが付着した半導体ウエハWの外周
をコマ12の円周溝12a内に押し付けて保持し、この
状態でコマ12を回転して半導体ウエハWを回転すると
同時に、2本の回転するロール型ブラシ部材13、15
を半導体ウエハWの上下面にそれぞれ当接させ、ウエハ
Wの上下面に上面用洗浄液供給ノズル19及び図示しな
い下面用洗浄液供給ノズルから洗浄液を供給する。これ
によって、半導体ウエハWの上下面に付着していた多量
のダストは、洗浄液と共に流される。
31のようにチャック爪33が軸35まわりを回転する
ものではないので、前述のように、ロール型ブラシ部材
13、15は、半導体ウエハWの一端から他端まで対向
することができ、ロール型ブラシ部材13、15は、半
導体ウエハWと接触する面積が大きいので、ポリッシン
グ装置によって研磨された後の非常に多くのスラリーや
ダストが付着した半導体ウエハWから効率良くダストを
除去できる。またロール型ブラシ部材13、15は、自
転しつつ使用するので、その外周表面の全体を洗浄に使
用するため長寿命化が可能である。図1、図2に示すよ
うに、洗浄後の半導体ウエハWは、ハンド255によっ
て1次洗浄機10から2次洗浄機30へ移送される。
半導体ウエハWの外周縁をチャック33が把持し、この
状態で駆動軸35を回転駆動することで回転チャック機
構31全体を高速回転し、これによって半導体ウエハW
を500〜1500rpmにおける所定回転数で回転す
る。図3のウエハ回転機構は、半導体ウエハの回転速度
が、コマ12の周速とウエハの外周とコマとの間のスリ
ップの発生により決定されるので、低速である。しか
し、図4の回転チャック機構31は、ウエハとチャック
爪が回転中にずれることがなく、ウエハと同じ直径の回
転チャック機構31を回転させればよいので、半導体ウ
エハを高速回転できる。図4の回転チャック機構31に
よる半導体ウエハの回転速度は、回転駆動軸35に接続
される図示しない駆動モーターの数千rpm程度の許容
回転数の範囲内から選択することができる。
ペンシル型ブラシ51を回転状態にある半導体ウエハW
の上面に当接し、洗浄液供給用ノズル55から洗浄液を
供給し同時にアーム45を揺動することにより、洗浄さ
れる。ペンシル型ブラシ51は、図3に示すロール型ブ
ラシ部材13、15と相違し、半導体ウエハに接触する
面積が小さいので、多量のダストが付着した半導体ウエ
ハWの洗浄には、ロール型ブラシ部材が適する。しかし
ながら、ペンシル型ブラシ51の代わりに、単にロール
型ブラシ部材を用いるとすると、ロール型ブラシ部材
は、チャック爪33に当接して破損しダストが発生す
る。また、ロール型ブラシ部材は、前述のように、ウエ
ハ中心部にダストが残る可能性がある。これに対し、ペ
ンシル型ブラシ51は、チャック爪33と当接しない範
囲で揺動されることにより、ウエハ中心部に残留するダ
ストを除去することができる。
エハWの場合は、図4の洗浄機は、高速回転状態で半導
体ウエハWの表面を洗浄できるので、洗浄効率を上げる
ことができ、好適である。特に1次洗浄機10としてロ
ール型ブラシ洗浄機を用い、且つ2次洗浄機30として
ペンシル型ブラシ洗浄機を用いれば、半導体ウエハWの
表面へのブラシの擦り合わせ方法が全く違うので、1次
洗浄機10で取り除きにくいダストを2次洗浄機30に
よって容易に除去でき、全体として効果的且つ確実にダ
ストの除去を図ることができる。
洗浄後の半導体ウエハWは、ハンド258によって洗浄
機能付きスピン乾燥機60へ送られる。洗浄機能付きス
ピン乾燥機60では、図4に示すように、半導体ウエハ
Wは、回転チャック機構61に把持されて、500〜1
500rpmにおける所定回転速度で回転され、同時に
液噴射洗浄ノズル63から前述のように超音波の振動エ
ネルギーを与えた洗浄液が噴射されるか、キャビテーシ
ョンを有する洗浄液が噴射されるか、或いは高圧の洗浄
液が噴射され、これらによって更に確実に半導体ウエハ
Wの表面からダストが取り除かれ、次に液噴射洗浄ノズ
ル63からの洗浄液の供給を停止して回転チャック機構
61によって2000rpm以上の回転数で高速回転
し、これによってスピン乾燥を行う。そしてスピン乾燥
された半導体ウエハWは、図2に示すハンド257によ
って元のカセット165に戻される。
い被洗浄物を洗浄するのに好適なロール型ブラシ洗浄機
を1次洗浄機10とし、ロール型ブラシ洗浄機で取りに
くいダストを取り除くのに好適なペンシル型ブラシ洗浄
機を2次洗浄機30としたので、2台ともロール型ブラ
シ洗浄機とした場合に比べてその洗浄効果は極めて高
い。2次洗浄機30及び洗浄機能付きスピン乾燥機60
では、1次洗浄機10のコマ12を用いないため、コマ
12と半導体ウエハWの接触により半導体ウエハWを回
転する機構に比べ、半導体ウエハWの回転時に粉塵が生
じないという利点がある。
自体を洗浄機能付きスピン乾燥機として使用し、3段目
の洗浄機能付きスピン乾燥機60を省略することができ
る。つまり、本発明においては、2次洗浄機30として
ペンシル型ブラシ洗浄機を使用しているので、回転チャ
ック機構31(図10)を使用でき、これによって半導
体ウエハWを高速回転することができ、従ってこの2次
洗浄機30自体を用いてスピン乾燥させることができ
る。この場合、図11に示すように、図4に示す回転チ
ャック機構(回転駆動部材)31及びペンシル型ブラシ
機構41の他に、図10に示す液噴射洗浄用ノズル63
を設置して2次洗浄機30−2を構成してブラシ洗浄と
洗浄液噴射による洗浄とスピン乾燥を兼用すれば、洗浄
設備を小型化でき、好適である。
例を示したが、本発明は、この実施形態に限定されず、
LCD等の他の被洗浄物の洗浄にも利用できる。また設
置する洗浄機は、上記の台数に限定されず、要は、前段
の洗浄機としてロール型ブラシ洗浄機を用い、次段の洗
浄機としてペンシル型ブラシ洗浄機を用いる構成であれ
ばそれ以外のどのような組み合わせでもよい。
型ブラシ洗浄機の場合は、半導体ウエハWを回転させた
が、反対に半導体ウエハWを固定してロール型ブラシ部
材13、15を半導体ウエハWの上で旋回するような構
造にしてもよい。ロール型ブラシ洗浄機は、要は、半導
体ウエハWとロール型ブラシ部材13、15とを相対的
に回転させる構造であればよい。
ブラシ部材13、15は、図3に示す実施形態において
は、半導体ウエハWの上下面に設置したが、半導体ウエ
ハWの上面又は下面の何れか一方のみにロール型ブラシ
洗浄部材13又は15を設置してもよい。また2次及び
3次洗浄機でウエハの表面(上面)を洗浄中に、ウエハ
の下面に洗浄液を供給して、ウエハ上面から下面へダス
トが流れないようにしてもよい。またウエハをスピン乾
燥する際にN2等の不活性ガスをウエハ両面に供給して
もよい。
面を洗浄した後、ウエハを反転機161又は163に戻
して反転させ、次に本実施例の2次洗浄機でウエハの裏
面を洗浄し、再び反転機161又は163にウエハを戻
して反転させ、更に2次洗浄機でウエハの表面を洗浄す
るようにしてもよい。或いは、研磨を終えた後、ウエハ
は、反転機161に行かず、直接1次洗浄機に行って被
研磨面(表面)を下にした状態で両面を洗浄し、次に2
次洗浄機で裏面を洗浄し、次に反転機161又は163
に戻し、反転させた後、更に2次洗浄機でウエハの表面
を洗浄するようにしてもよい。これによりウエハの表裏
が共に清浄にできる。
ンシル型ブラシ部材41も図4に示す実施形態において
は半導体ウエハWの上面のみに設置したが、半導体ウエ
ハWの下面又は上下面の両方に設置してもよい。更にま
た上記の実施形態では、ペンシル型ブラシ51を回転駆
動したが、これを回転せずにアーム45の揺動のみで半
導体ウエハWの上面を洗浄してもよい。或いは、研磨を
終えた後、ウエハは、反転機に行かず、直接1次洗浄機
に行って被研磨面(表面)を下にした状態で両面を洗浄
し、次に2次洗浄機で裏面を洗浄し、次に反転機161
又は163に戻し、反転させた後、更に2次洗浄機でウ
エハの表面を洗浄するようにしてもよい。更にまた、本
実施例では、洗浄液として純水を用いているが、酸性、
アルカリ性又は界面活性剤等の薬液を使用してウエハの
洗浄度を更に上げるようにしてもよい。
(1)汚れが著しく多い被洗浄物を洗浄するのに好適な
ロール型洗浄機を1次洗浄機とし、1次洗浄機で被洗浄
物の全面にわたり洗浄を行い、次にロール型洗浄機で取
り除きにくいダストを取り除くのに好適なペンシル型ブ
ラシ洗浄機を2次洗浄機として被洗浄物を高速回転し効
率よく洗浄するので、効果的な洗浄を行うことができ
る。1次洗浄機のロール型ブラシ部材は、長寿命を保て
る。(2)2次洗浄機としてペンシル型ブラシ洗浄機を
用いたので、この2次洗浄機に回転チャック機構を用い
ることができ、このためこの2次洗浄機をそのままスピ
ン乾燥機としても利用することができる。(3)2次洗
浄機では、回転チャック機構を用いることができるた
め、被洗浄物の回転時に粉塵が生じることもなくなる。
これは、特に後段の洗浄工程ほど、より高い洗浄度が被
洗浄物に要求されるため重要である。
を示す概略平面図。
を示す要部斜視図。
機を示す要部斜視図。
ル型ブラシ洗浄機の上面図。
平面におけるロール型ブラシ部材の断面図。
図。
図。
図。
視図。
ブラシ洗浄機を示す要部斜視図である。
ピンドル、13、15:ロール型ブラシ部材、13a、
15a:ロール型ブラシ、13b:円筒形ブラシ部材、
13c:突起、17、18:ブラシ駆動機構、19:洗
浄液供給ノズル、30:2次洗浄機(ペンシル型ブラシ
洗浄機)、31:回転チャック機構、33:チャック
爪、41:ペンシル型ブラシ機構、35:回転駆動軸、
43:軸、45:アーム、49:回転駆動軸、51:ペ
ンシル型ブラシ、53:ブラシ収納部、60:スピン乾
燥機、61:回転チャック機構、63:液噴射洗浄用ノ
ズル、130:ポリッシング部、133:ターンテーブ
ル、134:研磨面、135:トップリング、143:
ワーク受渡装置、150:洗浄部、151、153:搬
送ロボット、154:アーム、161、163:ワーク
反転機、165:カセット、255、256、257、
258:ハンド、363:ノズル本体、365:超音波
振動子、W:半導体ウエハ。
Claims (5)
- 【請求項1】 板状の被洗浄物を複数の洗浄機による洗
浄を経て清浄にする洗浄設備において、 複数の洗浄機の内の前段の洗浄機は、被洗浄物の表面及
び裏面の内の少なくとも一方に接触して被洗浄物の洗浄
面に略水平の回転軸のまわりに回転するロール型ブラシ
部材、及び被洗浄物を保持する保持部材を備えるロール
型ブラシ洗浄機であり、 後段の洗浄機は、被洗浄物の表面及び裏面の内の少なく
とも一方に接触しながら被洗浄面上を移動するペンシル
型ブラシ部材、及び被洗浄物自体を回転させる回転駆動
部材を備えるペンシル型ブラシ洗浄機である洗浄設備。 - 【請求項2】 前記ロール型ブラシ部材は、その円筒形
外面に多数の突起を備えるものである請求項1の洗浄設
備。 - 【請求項3】 前記保持部材は、保持した被洗浄物を回
転させる駆動機構を具備する請求項1又は2の洗浄設
備。 - 【請求項4】 前記ロール型ブラシ部材又はペンシル型
ブラシ部材の少なくとも一方の被洗浄物と接触する部分
は、スポンジにより構成される請求項1乃至3のいずれ
か1項の洗浄設備。 - 【請求項5】 板状の被洗浄物を複数の洗浄工程を経て
清浄にする洗浄方法において、 前記複数の洗浄工程の内の前段の洗浄工程は、被洗浄物
の表面及び裏面の内の少なくとも一方に回転するロール
型ブラシ部材を接触させることにより洗浄をする洗浄工
程であり、 後段の洗浄工程は、回転する被洗浄物の表面及び裏面の
内の少なくとも一方にペンシル型ブラシ部材を接触させ
ることによって洗浄する洗浄工程である洗浄方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10088876A JPH10335283A (ja) | 1997-04-01 | 1998-04-01 | 洗浄設備及び洗浄方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9976997 | 1997-04-01 | ||
JP9-99769 | 1997-04-01 | ||
JP10088876A JPH10335283A (ja) | 1997-04-01 | 1998-04-01 | 洗浄設備及び洗浄方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10335283A true JPH10335283A (ja) | 1998-12-18 |
Family
ID=26430218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10088876A Pending JPH10335283A (ja) | 1997-04-01 | 1998-04-01 | 洗浄設備及び洗浄方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10335283A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1077474A2 (en) * | 1999-08-14 | 2001-02-21 | Applied Materials, Inc. | Backside etching in a scrubber |
JP2003059875A (ja) * | 2001-08-09 | 2003-02-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研磨装置 |
CN1302864C (zh) * | 2003-08-07 | 2007-03-07 | 显示器生产服务株式会社 | 一种用于平面显示面板的清洗装置 |
JP2007294920A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-11-08 | Ebara Corp | 基板保持回転機構、基板処理装置 |
JP2009066527A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Nec Electronics Corp | 洗浄用ローラおよび洗浄装置 |
JP2009238896A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
US7938130B2 (en) | 2006-03-31 | 2011-05-10 | Ebara Corporation | Substrate holding rotating mechanism, and substrate processing apparatus |
US20110209727A1 (en) * | 2010-03-01 | 2011-09-01 | Xinming Wang | Method and apparatus for cleaning substrate |
JP2012256800A (ja) * | 2011-06-10 | 2012-12-27 | Ebara Corp | 洗浄性能予測方法及び基板洗浄方法 |
CN103367105A (zh) * | 2012-03-26 | 2013-10-23 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 一种改良的笔形海绵固定装置 |
JP2017535418A (ja) * | 2014-11-24 | 2017-11-30 | コーニング インコーポレイテッド | 基板表面洗浄方法および装置 |
-
1998
- 1998-04-01 JP JP10088876A patent/JPH10335283A/ja active Pending
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1077474A2 (en) * | 1999-08-14 | 2001-02-21 | Applied Materials, Inc. | Backside etching in a scrubber |
EP1077474A3 (en) * | 1999-08-14 | 2004-05-12 | Applied Materials, Inc. | Backside etching in a scrubber |
US6921494B2 (en) | 1999-08-14 | 2005-07-26 | Applied Materials, Inc. | Backside etching in a scrubber |
JP2003059875A (ja) * | 2001-08-09 | 2003-02-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研磨装置 |
CN1302864C (zh) * | 2003-08-07 | 2007-03-07 | 显示器生产服务株式会社 | 一种用于平面显示面板的清洗装置 |
US7938130B2 (en) | 2006-03-31 | 2011-05-10 | Ebara Corporation | Substrate holding rotating mechanism, and substrate processing apparatus |
JP2007294920A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-11-08 | Ebara Corp | 基板保持回転機構、基板処理装置 |
US8087419B2 (en) | 2006-03-31 | 2012-01-03 | Ebara Corporation | Substrate holding rotating mechanism, and substrate processing apparatus |
JP2009066527A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Nec Electronics Corp | 洗浄用ローラおよび洗浄装置 |
JP2009238896A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路装置の製造方法 |
US20110209727A1 (en) * | 2010-03-01 | 2011-09-01 | Xinming Wang | Method and apparatus for cleaning substrate |
US9089881B2 (en) * | 2010-03-01 | 2015-07-28 | Ebara Corporation | Method and apparatus for cleaning substrate |
JP2012256800A (ja) * | 2011-06-10 | 2012-12-27 | Ebara Corp | 洗浄性能予測方法及び基板洗浄方法 |
TWI501342B (zh) * | 2011-06-10 | 2015-09-21 | Ebara Corp | 洗淨性能預測方法及基板洗淨方法 |
CN103367105A (zh) * | 2012-03-26 | 2013-10-23 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 一种改良的笔形海绵固定装置 |
CN103367105B (zh) * | 2012-03-26 | 2016-08-10 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 一种笔形海绵固定装置 |
JP2017535418A (ja) * | 2014-11-24 | 2017-11-30 | コーニング インコーポレイテッド | 基板表面洗浄方法および装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0764478B1 (en) | Method of and apparatus for cleaning workpiece | |
JP2002043267A (ja) | 基板洗浄装置、基板洗浄方法及び基板処理装置 | |
JP3990073B2 (ja) | 基板洗浄装置及び基板洗浄方法 | |
US5868866A (en) | Method of and apparatus for cleaning workpiece | |
KR102033791B1 (ko) | 기판 세정 방법 및 기판 세정 장치 | |
KR101277614B1 (ko) | 기판처리장치 및 기판처리방법 | |
JP2001007069A5 (ja) | 基板洗浄装置及び基板洗浄方法 | |
US6106635A (en) | Washing method and washing apparatus | |
JP2003151943A (ja) | スクラブ洗浄装置 | |
JP2001035821A (ja) | 基板の研磨方法及び装置 | |
US10170343B1 (en) | Post-CMP cleaning apparatus and method with brush self-cleaning function | |
US6560809B1 (en) | Substrate cleaning apparatus | |
JPH10335283A (ja) | 洗浄設備及び洗浄方法 | |
JP7290695B2 (ja) | 超音波洗浄装置および洗浄具のクリーニング装置 | |
US6079073A (en) | Washing installation including plural washers | |
WO2021044694A1 (ja) | 研磨装置、研磨方法、および基板処理装置 | |
JPH10308374A (ja) | 洗浄方法及び洗浄装置 | |
JP4172567B2 (ja) | 基板洗浄具及び基板洗浄装置 | |
JPH0786218A (ja) | 基板洗浄装置 | |
JP4283068B2 (ja) | 基板洗浄装置の洗浄部材の初期化方法、基板洗浄装置並びに基板研磨及び洗浄システム | |
JP2020184581A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2017147334A (ja) | 基板の裏面を洗浄する装置および方法 | |
JP2543007B2 (ja) | ウエ−ハ枚葉洗浄装置 | |
JP2000040684A (ja) | 洗浄装置 | |
JPH1126408A (ja) | 基板の洗浄方法及び装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041115 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041115 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061222 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070206 |