JPH10319056A - 測定装置のための測定フロントエンドおよび信号電圧から複数個の測定パラメータを得るための方法 - Google Patents

測定装置のための測定フロントエンドおよび信号電圧から複数個の測定パラメータを得るための方法

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JPH10319056A
JPH10319056A JP10095856A JP9585698A JPH10319056A JP H10319056 A JPH10319056 A JP H10319056A JP 10095856 A JP10095856 A JP 10095856A JP 9585698 A JP9585698 A JP 9585698A JP H10319056 A JPH10319056 A JP H10319056A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 入力信号をデジタルサンプルに変換するため
に１本の経路を有する測定装置のためのフロントエンド
アーキテクチャを提供する。 【解決手段】 １対のテストリード（１２ａ、１２ｂ）
を介して、電圧源（１６）に信号調節器（１０２）が結
合されて、入力信号を生成する。入力信号はサンプリン
グシステム（１０４）に与えられて、連続するデジタル
サンプル列を生成する。デジタルサンプルは一組のデジ
タル抽出フィルタ（１１０、１１２、１１４、１１６）
に与えられる。各デジタル抽出フィルタはデジタルサン
プル列から測定パラメータを抽出するために適合された
構成および伝達関数を有する。デジタルサンプルおよび
デジタル測定値が連続した流れで到来するようパラメー
タ抽出は連続的に行なわれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の背景】本発明は一般に電子測定装置に関し、特
にデジタルサンプルから測定パラメータを抽出するため
のデジタルフィルタを用いる電子測定装置のためのフロ
ントエンドアーキテクチャに関する。
【０００２】デジタルマルチメータ（ＤＭＭ）は、交流
電圧および電流、直流電圧および電流、ならびに抵抗な
どのような種々の物理的パラメータを測定する機能を与
える一種の電子測定装置である。新しいＤＭＭ設計には
さらなる測定機能が加えられており、これらはダイオー
ドチェック、容量、温度、および周波数カウンタ／タイ
マ測定を含む。特定の応用には他の特殊な測定パラメー
タを加えることができる。たとえば、加熱、換気、およ
び空調（ＨＶＡＣ）サービスの応用におけるマイクロア
ンペア範囲での直流電流の測定などがある。
【０００３】多種多様な測定パラメータを測定するに
は、相対的に複雑な信号調節回路を用いて、計器入力端
子間に発生した信号を受取り、デジタルサンプルに変換
するのに適する入力信号を生成することが必要となる。
信号調節回路はアナログアンプおよび減衰器からなる整
合回路を含み、入力信号をアナログ−デジタルコンバー
タ（ＡＤＣ）で使用可能な振幅に基準化する。信号調節
回路は機械リレー、酸化金属バリスタ（ＭＯＶ）および
正温度係数抵抗器のような電圧保護回路を含んで範囲外
の電圧を調べる際のＤＭＭへの損傷を防ぐ。交流および
直流の電流、温度、ならびに圧力のような物理的パラメ
ータは、ＡＤＣによってデジタルサンプルに変換するた
めに、適切な振幅の入力電圧に変換されなければならな
い。
【０００４】入力信号はＤＭＭの信号調節回路で２つの
経路、すなわち交流または高周波数経路および直流また
は低周波数経路に分割される。入力信号の直流経路は典
型的には入力信号を低域フィルタ処理することにより、
理想的には直流電圧のみを得る。実際の低域フィルタの
遮断周波数は典型的に１０ヘルツより小さく、一部の交
流信号成分が存在し得る。低域フィルタで生成された直
流電圧はＡＤＣに与えられてデジタルサンプルをもたら
す。低周波数経路はゲインおよびオフセット電圧のため
に較正を必要とする。高周波数経路は低周波数ロールオ
フを考慮するためにゲイン対周波数の点で較正を必要と
する。
【０００５】大部分のＤＭＭにあるＡＤＣは、秒あたり
１００個未満のサンプルという最大サンプルレートを有
し、３．５から４．５桁の分解能を有する。５０／６０
ヘルツの周波数範囲の電力線信号のような交流信号を正
確に計るために、交流経路に二乗平均の平方根（ｒｍ
ｓ）−直流コンバータが設けられて、交流ｒｍｓ値を表
わす直流電圧を発生する。ｒｍｓコンバータはモノリシ
ック集積回路としてＤＭＭにおいて典型的に実現され
る。
【０００６】デジタルストレージオシロスコープ（ＤＳ
Ｏ）は、信号パラメータを後で計算するための入力信号
をデジタル的にサンプリングすることを可能にする別の
種類の電子測定装置である。ＤＳＯは入力信号のための
スイッチング可能交流結合および直流結合経路を与え
る。ＡＤＣ技術は秒あたり１００メガサンプル以上のサ
ンプリングレートを与えるほど発展しており、入力信号
が捕捉メモリにおいて時間記録としてストアされるデジ
タルサンプルに直接変換されることを可能にする。この
時間記録から、波形および種々の信号パラメータを計算
することができる。しかし、ＤＳＯフロントエンドの信
号調節器は信号電圧を獲得するためにのみ最適化されて
いる。低周波数物理パラメータである抵抗や電流のよう
な他のパラメータを測定する機能は、従来のＤＳＯには
組込まれていない。広範囲な物理パラメータを測定する
ためのＤＭＭ技術を、波形分析のためのＤＳＯ技術に組
合せた、混合型測定装置が開発されている。
【０００７】図１には（同じ割合では描かれていない）
測定装置１０が示されており、交流電圧および電流、直
流電圧および電流、抵抗、容量などの多様な物理パラメ
ータを測定するための１対のテストプローブ１２ａおよ
び１２ｂを含む。測定装置１０はコンポーネントにかか
る刺激信号を発生するために、電流および電圧源（図示
されていない）を用いてダイオードのような受動２端子
コンポーネントをテストすることもできる。測定装置１
０は多様な物理パラメータを測定する汎用性を有するこ
とが望ましい。
【０００８】測定装置１０の前パネルには図形ディスプ
レイ１４が取付けられており、ＤＭＭの態様で「１１７
ＶＡＣ ｒｍｓ」のような数値的測定パラメータやＤ
ＳＯの態様で入力信号の波形を表わす図形表示が表示さ
れる。測定装置１０は、電圧源１６、図２に示される電
流源１８、または図３に示されるコンポーネント２０に
結合され得る。コンポーネント２０は抵抗器、キャパシ
タ、インダクタ、ダイオードなどの受動２端子コンポー
ネント、または測定装置１０によって測定および分析さ
れ得る他の２端子装置を含むことができる。
【０００９】図４は、フルーク（Fluke ）８６０グラフ
ィカルマルチメータ測定装置に用いられる、先行技術に
従う測定フロントエンド９８の簡略ブロック図である。
１対のテストプローブ１２ａおよび１２ｂは電圧源１６
に結合されて電圧信号を信号調節器５０に結合する。信
号調節器５０は増幅器、分周器、およびフィルタを含ん
で、デジタルサンプルに変換するための、適切な振幅お
よび帯域幅を有する入力信号を与える。信号調節器５０
は測定装置１０を過電圧や過電流による損傷を防ぐため
に、さまざまな形の電圧保護回路（示されていない）を
含み得る。信号調節器５０はさらに種々の物理パラメー
タを入力信号に変換するための多様な回路を含み得る。
たとえば、電流源１８からの交流および直流電流は、較
正された電流の分流または電流クランプで生成された電
圧降下を発生することにより測定される。抵抗の測定
は、信号調節器５０内における電流源または電圧源（示
されていない）を用いて、コンポーネント２０にかかる
電圧降下を測定することにより行なわれる。収容しかつ
入力信号に変換しなければならないパラメータが多数あ
り、さらに過電圧および過電流保護のために、信号調節
器５０には著しい要求が課せられており、その結果回路
規模およびコストが増加することになる。
【００１０】信号調節器５０によって生成された入力信
号は低域フィルタ５２の入力に結合され、低域フィルタ
５２から直流信号が生成されてスイッチ５５の直流位置
に結合される。低域フィルタ５２は０ヘルツに近いロー
ルオフ周波数を典型的に有し、交流コンポーネントを取
除きながら入力信号の直流コンポーネントを生成する。
直流信号は直流位置のスイッチ５５を介して遅いＡＤＣ
５４に与えられる。遅いＡＤＣ５４は、典型的に１００
ヘルツ未満のサンプルレートで、３．５から４．５桁の
分解能で、直流信号のデジタルサンプルを生成する。低
域フィルタ５２は本質的に直流である入力信号に用いら
れて、直流電圧および電流、ならびに抵抗のような典型
的な直流パラメータの正確な測定値を与える。
【００１１】ｒｍｓコンバータ５６は入力信号を受取
り、スイッチ５５の交流ｒｍｓ位置に結合される。ｒｍ
ｓコンバータ５６は本質的に交流である入力信号に用い
られて、スイッチ５５が交流ｒｍｓ位置にある場合に、
遅いＡＤＣ５４に与えられる入力信号のｒｍｓ値を表わ
す直流電圧を生成する。ｒｍｓコンバータ５６、低域フ
ィルタ５２および遅いＡＤＣ５４は信号調節器５０との
組合せにおいて、ＤＭＭに一般にあるフロントエンドア
ーキテクチャを集合的になし、「ＤＭＭフロントエン
ド」と記されている。
【００１２】「波形フロントエンド」を集合的に含む回
路を加えることにより、測定装置１０にさらに波形機能
が与えられている。信号調節器５１は入力信号を受取
り、デジタルサンプルに変換するための第２の入力信号
を生成する。速いＡＤＣ５８は信号調節器５１からの入
力信号を受取り、遅いＡＤＣ５４のサンプルレートより
実質的に高いサンプルレートで、しかし典型的にはより
低い分解能で、デジタルサンプルを生成する。捕捉メモ
リ６０はデジタルサンプルを受取ってその中にストア
し、入力信号波形のデジタル時間記録を形成する。ＤＳ
Ｏ技術において周知な態様で、トリガ６２はトリガ信号
を出力してデジタル時間記録における波形の開始点を決
定する。ピーク最小値／最大値部６４はデジタルコンパ
レータとして動作し、捕捉メモリ６０にストアされてい
る最大および最小の値をストアし、最大および最小値を
デジタルサンプルとして出力する。
【００１３】信号調節器５１と関連して速いＡＤＣ５
８、捕捉メモリ６０、およびトリガ６２からなる波形フ
ロントエンドは、ＤＳＯにある典型的なフロントエンド
アーキテクチャである。入力信号は捕捉メモリ６０を埋
めるために、別々の捕捉時間にわたって捕捉される。デ
ジタルインターフェイス６６は遅いＡＤＣ５４、ピーク
最小値／最大値部６４、および捕捉メモリ６０からのデ
ジタルサンプルを受取り、このサンプルはデジタル測定
値として測定装置１０の残りの部分で用いられる。
【００１４】信号調節器５１は信号調節器５０と類似し
た電圧保護およびスケーリングを与えるが、その態様は
波形捕捉のために最適化される。信号調節器５１は測定
装置１０を電圧源１６に接続するのを可能にするが、電
流源１８またはコンポーネント２０には直接接続できな
い。さらに、信号調節器５０と異なる信号調節器５１の
設計事項がある。これはたとえば信号調節器５０より広
い範囲の周波数にわたる周波数応答平坦さを含み、重要
な要素となり得る。
【００１５】図５には、フルーク９３、９５および９７
のＳｃｏｐｅＭｅｔｅｒ測定装置で用いられる、先行技
術に係る測定フロントエンド９９の簡略ブロック図が示
される。１対のテストプローブ１２ａおよび１２ｂは電
圧源１６に結合されて、電圧信号を信号調節器７０に結
合する。信号調節器７０は増幅器、分周器、およびフィ
ルタを含んで、デジタルサンプルに変換するための、適
切な振幅および帯域幅を有する入力信号を出力する。信
号調節器７０は測定装置１０を過電圧や過電流状態によ
る損傷から防ぐためのさまざまな形の電圧保護回路（示
されていない）を含み得る。図４に示されている信号調
節器５１のように、信号調節器７０は波形捕捉のために
最適化される。
【００１６】第２のテストプローブ対１２ａ′および１
２ｂ′がコンポーネント２０に結合されて、抵抗および
その他のコンポーネントパラメータを測定することがで
きる。テストプローブ対１２ａ′および１２ｂ′は低周
波数測定のために最適化された信号調節器７０に結合さ
れる。好ましい実施例では、電流源１８の測定のための
供給はない。外部電流クランプまたは分流を用いて電圧
信号を信号調節器７０または７２に与えることができ
る。スイッチ７４は信号調節器７０に結合されるＤＩＯ
ＤＥ ＯＨＭＳ位置と信号調節器７２に結合されるＶＯ
ＬＴＳ位置とを有し、入力信号をＡＤＣ７６に選択的に
結合する。ＡＤＣ７６は入力信号をデジタル化し、デジ
タルサンプルを出力して捕捉メモリ７８に入力する。入
力信号を受取りかつトリガ信号を生成するトリガ８０
は、特定のデータ捕捉の開始の時間を計るために用いる
ことができる。捕捉メモリ７８の内容は分析されて多様
なパラメータを生成し、これらのパラメータはデジタル
インターフェイス８２に与えられて、デジタル測定値と
して測定装置１０に与えられ得る。測定フロントエンド
９９は１つのＡＤＣ７６のみを必要とするが、信号調節
器７０および７２ならびにスイッチ７４を介して別個の
信号経路が保たれる。信号パラメータは連続的ではな
く、実際にデジタル化される入力信号の部分からのみ抽
出され、これは合計時間のほんの一部である。
【００１７】別々のＤＭＭおよび波形信号経路を続けて
使用し、波形捕捉および低周波数ＤＭＭ測定のために最
適化された別個の信号調節器を用いることにより、測定
装置１０において実質的にコンポーネントが重複し、か
つ製造費および回路規模を増やすことになる。新しい種
類の信号パラメータを測定するために適合されるこのよ
うな測定装置の機能はその二股に分かれる構造により非
常に限定され得る。したがって、複数の種類の信号パラ
メータを連続的に抽出するのを可能にする、入力信号の
ために１本の経路だけを有する測定装置のためのフロン
トエンドアーキテクチャを設けることは望ましい。
【００１８】
【発明の概要】本発明に従って、ＡＤＣによってデジタ
ルサンプルに変換するための入力信号に対して１本の経
路を有する測定装置のためのフロントエンドアーキテク
チャが提供される。デジタルサンプルはデジタルフィル
タに与えられ、いくつかの選択パラメータが抽出され、
これらはデジタル測定値として測定装置に与えられる。
【００１９】信号調節器は１対のテストリードを介して
電圧源、電流源、またはコンポーネントに結合されて入
力信号を生成する。入力信号はサンプリングシステムに
与えられ、このサンプリングシステムはシグマ−デルタ
コンバータとその後続のデシメーションフィルタとを含
み、デジタルサンプルを出力する。代替的に、サンプリ
ングシステムはＡＤＣを含んでデジタルサンプルを出力
する。
【００２０】デジタルサンプルはデジタル抽出フィルタ
の組に与えられる。各デジタル抽出フィルタの構造およ
び伝達関数は、デジタルサンプル列から物理パラメータ
を抽出するよう適合される。デジタルサンプルおよびそ
の結果のデジタル測定値が連続した流れで到着するよ
う、パラメータ抽出は連続的に行なわれる。各デジタル
抽出フィルタは他のデジタル抽出フィルタと平行に同じ
デジタルサンプルを受取って動作するので、複数個の測
定パラメータを同時に同じデジタルサンプルから抽出す
ることができる。
【００２１】デジタル抽出フィルタの組により、デジタ
ルサンプルから入力信号の直流値、入力信号のｒｍｓ
値、入力信号の波形パラメータ、および入力信号のピー
ク最小／最大値を抽出することができる。直流値、ｒｍ
ｓ値、波形パラメータ、およびピーク最小／最大値など
多くの測定パラメータが、デジタルサンプルの連続する
流れから同時に抽出でき、デジタル測定値としてデジタ
ルインターフェイスを介して測定装置に与えられる。
【００２２】本発明の１つの目的は、入力信号に１本の
信号経路を用いて測定装置のためのフロントエンドアー
キテクチャを提供することである。
【００２３】本発明の別の目的は、複数のパラメータを
同時に抽出するためのフロントエンドアーキテクチャを
提供することである。
【００２４】本発明のさらなる目的は、入力信号のデジ
タルサンプルの連続する列から同時にパラメータを抽出
するために、抽出フィルタの組を有するフロントエンド
アーキテクチャを提供することである。
【００２５】本発明の他の目的は、簡単なフロントエン
ドアーキテクチャを用いて、さまざまなパラメータを測
定することができる測定装置を提供することである。
【００２６】他の特徴、目的、および利点は、添付の図
面とともに以下の記載を読むことにより、当業者にとっ
て明らかとなる。
【００２７】
【発明の実施の形態】図６は本発明に係る、図１に示さ
れる測定装置１０の測定フロントエンド１００の簡略ブ
ロック図である。信号調節器１０２は、直流または交流
電圧を測定するために、１対のテストリード１２ａおよ
び１２ｂを介して電圧源１６に発生した信号電圧を受取
るために結合される。信号調節器１０２は直流または交
流電流を測定するために、電流減１８（図２に示されて
いる）に代替的に結合され得る。信号調節器１０２はさ
らにコンポーネント２０（図３に示される）に結合され
て、抵抗、容量、または他の物理的パラメータを測定す
るよう構成され得る。信号電圧は適切な変換回路によっ
て生成されることができる。適切な変換回路は交流また
は直流電流を測定するための較正された電流分流を含む
ことができる。信号調節器１０２は典型的にマイクロプ
ロセッサコントロール（示されていない）を介して所望
の測定機能のために適切に構成されることができる。
【００２８】信号調節器１０２は、サンプリングシステ
ム１０２によってデジタルサンプルに変換するための、
適切な振幅および入力帯域幅を有する入力信号を出力す
る。好ましい実施例では、サンプリングシステム１０４
はシグマ−デルタコンバータ１０６を含み、入力帯域幅
より実質的に高いサンプリングレートで生デジタルサン
プルを生成し、この処理は過サンプリングとして当該技
術分野において一般的に知られている。生デジタルサン
プルはデシメーションフィルタ１０８に与えられる。デ
シメーションフィルタ１０８は生デジタルサンプルを低
域フィルタ処理し、選択されたサンプルレートでかつ増
加した分解能ビットでデジタルサンプルを出力する。
【００２９】好ましい実施例において、入力帯域幅は５
００キロヘルツとなるよう選択され、入力信号は１秒あ
たり１０メガサンプル、２０：１の割合でサンプリング
され、５ビットの分解能で生デジタルサンプルを生成す
る。デシメーションフィルタ１０８は生デジタルサンプ
ルを４回デシメートして、２．５メガサンプル／秒のサ
ンプルレートで、１３ビットの分解能でデジタルサンプ
ルを生成する。デシメーションフィルタ１０８は所望の
伝達関数を与えるために、ＦＩＲ（有限インパルス応
答）、ＩＩＲ（無限インパルス応答）またはＩＩＲとＦ
ＩＲとの組合せとして構成され得る。
【００３０】ハードウェアの条件を簡単にしかつ消費電
力を減らすために、好ましい実施例において２つのデシ
メーション段が用いられている。ベースバンド周波数に
折返される、入力信号にある４．５メガヘルツを超える
周波数コンポーネントは、デシメーションフィルタ１０
８で十分に抑制されるというのは非常に重要な設計的事
項である。所望の測定精度を得るために、４．５メガヘ
ルツで６０デシベル（ｄＢ）を超えるストップバンド除
波が選択された。デシメーションフィルタ１０８の所望
の伝達関数を達成するための正確なフィルタ構造および
フィルタ定数は当該技術分野において周知の技術を用い
て得ることができる。
【００３１】デシメーションフィルタ１０８からのデジ
タルサンプルは一連のデジタル抽出フィルタ１１０−１
１６に与えられる。各抽出フィルタ１１０−１１６は選
択された測定パラメータを抽出するために、同時にデジ
タルサンプル列を受取ることができる。デジタル抽出フ
ィルタの組１１０−１１６は、コンポーネントの数およ
び消費電力を減らすために、１つのモノリシック集積回
路で実現される。
【００３２】「直流」と示されるデジタル抽出フィルタ
１１０は、信号調節器１０２から受取られ、かつサンプ
リングシステム１０４でデジタル化された、入力信号の
直流値を抽出するよう設計された構成を有する直流抽出
フィルタである。デジタル抽出フィルタ１１０は低域フ
ィルタの伝達関数を有し、好ましい実施例において以下
の抽出フィルタパラメータを有する。
【００３３】
【表１】
【００３４】測定装置１０が１秒あたり２つの読取とい
うデータ捕捉レートで５桁の直流測定精度を有するとい
う設計条件により、フィルタパラメータは設定される。
ストップバンド除波は５０／６０ヘルツ電力線周波数リ
プルを除くのに必要である。直流値を抽出するために、
抽出フィルタ１１０の所望の伝達関数を達成するための
正確なフィルタ構成およびフィルタ定数は、当該技術分
野において周知の技術を用いて得ることができる。抽出
フィルタパラメータおよび関連の伝達関数は、特定の測
定条件の測定精度およびデータ捕捉レートに適するよう
容易に変えることができる。
【００３５】ＲＭＳと示されるデジタル抽出フィルタ１
１２は、信号調節器１０２から受取られ、サンプリング
システム１０４でデジタル化された、入力信号のｒｍｓ
（二乗平均の平方根）を抽出するよう設計された構成を
有するｒｍｓ抽出フィルタである。入力信号のｒｍｓ値
は幾通りもの方法で抽出できる。好ましい実施例では、
以下で説明するように、ｒｍｓ値は既知の信号周期また
は所定の測定周期に依存しない態様で連続的に計算され
る。代替的に、ｒｍｓ値は所定の測定期間、波形の下の
領域を積分することにより計算され得る。
【００３６】図７は、本発明の好ましい実施例に従っ
て、連続的にデジタルサンプルの列からｒｍｓ値を抽出
するよう構成されるデジタル抽出フィルタ１１２の簡略
ブロック図である。図６に示されるサンプリングシステ
ム１０４からのデジタルサンプルはデジタル抽出フィル
タ１１２に到着する。各デジタルサンプルは二乗回路２
００で二乗されて二乗デジタルサンプルとなる。二乗回
路２００はデジタル抽出フィルタ２０２と同じ集積回路
に実現されるハードウェア乗算回路であり得る。代替的
に、乗算は外部マイクロプロセッサによって行なわれて
二乗デジタルサンプルを得ることができる。各二乗デジ
タルサンプルはｒｍｓデジタルフィルタ２０２に与えら
れる。ｒｍｓデジタルフィルタ２０２は低域フィルタと
して動作するようフィルタ係数が選択されている。フィ
ルタ係数およびデジタルフィルタトポロジィは、所望の
特性を有する低域フィルタを提供するために、既知のＩ
ＩＲおよびＦＩＲ技術またはその組合せに従って設計さ
れ得る。好ましい実施例において、ｒｍｓデジタルフィ
ルタ２０２は以下の特性を有する。
【００３７】
【表２】
【００３８】デジタルｒｍｓフィルタ２０２において、
電力線周波数から５０／６０ヘルツリプルの高いストッ
プバンド除波を備えて、ステップ応答にはオーバシュー
トがないというのが設計条件であった。デジタルｒｍｓ
フィルタ１３２によって生成されたフィルタ処理された
ｒｍｓ値は平方根回路２０４に与えられ、そこでフィル
タ処理されたｒｍｓ値の平方根を取ることによりｒｍｓ
値が生成される。平方根回路２０４はデジタル抽出フィ
ルタ２０２と同じ集積回路に実現されるハードウェア平
方根回路を含んでもよい。代替的に、平方根演算は外部
マイクロプロセッサによって行なわれてｒｍｓ値を得る
ことができる。
【００３９】測定装置１０は１秒あたり２つの読取とい
うデータ捕捉レートで５桁の交流ｒｍｓ測定精度を有す
るという設計条件によって、フィルタパラメータは設定
される。ストップバンド除波は５０／６０ヘルツ電力線
周波数リプルを除くために必要である。抽出フィルタパ
ラメータおよび関連の伝達関数は、特定の測定応用のた
めに測定精度およびデータ捕捉レートのための他の設計
条件に適するよう容易に変えられる。交流ｒｍｓ値を抽
出するためにデジタル抽出フィルタ１１２の所望の伝達
関数を達成する正確なフィルタ構成およびフィルタ定数
は、当該技術分野において周知の技術を用いて得ること
ができる。
【００４０】再度図６を参照して、「波形」と示される
デジタル抽出フィルタ１１４は、信号調節器１０２から
受取られ、サンプリングシステム１０４でデジタル化さ
れた、入力信号の波形を抽出するよう設計された構成を
持つ波形抽出フィルタである。デジタル抽出フィルタ１
１４は波形捕捉のために最適化され得る伝達関数を有す
る。たとえば、デジタル抽出フィルタは十分に狭い期間
および十分に高い振幅のパルスがメモリでの記憶を引起
こす、グリッチ獲得のために最適化された構造を有し得
る。自動車応用にある点火パルスのように、一般的に知
られている形およびタイミングパラメータを有する特殊
な波形は、デジタル抽出フィルタ１０４を用いて獲得し
かつ表示のために最適化され得る。
【００４１】デジタル抽出フィルタ１１４は高域フィル
タ、低域フィルタ、バンドパスフィルタ、および帯域消
去フィルタを含む構成を組込むことができ、当該技術分
野において周知の技術を用いて望ましくない周波数を濾
波したり所望の周波数を通過させたりする。たとえば、
低域フィルタ構成を用いて高周波数ノイズを抑制するこ
とができる。既知の周波数の所望の信号は帯域フィルタ
を用いて選択的に通過させることができる。デジタル抽
出フィルタ１１４の構成を適合したり変形する多様性
は、測定装置１０がより広い多様な信号パラメータを測
定するよう容易に適合されるのを可能にする著しい利点
である。
【００４２】「ピーク最小／最大」と示されているデジ
タル抽出フィルタ１１６は、サンプリングシステムから
得られるデジタル測定値に見られる、入力信号の最小値
および最大値のみを抽出するよう設計された構成を有す
るピーク最小／最大抽出フィルタである。この構成はデ
ジタルサンプルの最小値および最大値を取込むためのデ
ジタルコンパレータおよびレジスタによってのみ構成さ
れればよいのであり、一般に外部信号（示されていな
い）によってリセットされ得る。このような構成は実現
が簡単でありながら多様な信号パラメータを抽出させる
ことができ、特に他の構造と組合せられると、抽出処理
の信頼性を高める。たとえば、交流正弦波の形にある入
力信号のピークピーク値をデジタルサンプルから抽出し
たいのなら、デジタルコンパレータおよびレジスタの前
段に５０／６０ヘルツ付近を中心とした帯域フィルタを
含む構成を用いて、所望の電力線信号に関連しない外来
のノイズの消去を向上させ、それによりピークピーク測
定の品質を高める。
【００４３】デジタル抽出フィルタ１１０−１１６によ
って与えられる直流値、交流ｒｍｓ値、波形パラメータ
値、およびピーク最小／最大値はそれぞれデジタルイン
ターフェイス１１８に与えられ、これらの値の各々が選
択的にデジタル測定値として測定装置１０の残りの部分
に送られる。こうして、デジタルインターフェイス１１
８は、必要に応じて、典型的には表示するための選択さ
れたパラメータおよび表示更新レートに従って、測定パ
ラメータを組立てて測定装置１０で利用できるようにす
る。デジタルインターフェイス１１８はデジタルデータ
を記憶および転送するために商業的に利用できるバッフ
ァ、メモリ、および他のデジタル装置を用いて実現でき
る。
【００４４】測定フロントエンド１００は測定装置１０
の所望な測定機能に従って、デジタル測定値を与える。
入力信号には経路が１本しかなく、デジタルサンプルに
変換する前には交流経路と直流経路との間には区別がな
いので、信号調節器１０２の条件は非常に簡単なものに
なる。デジタル抽出フィルタ１１０−１１６の組により
同じ入力信号から所望の数のパラメータを同時に抽出す
ることができるので、より多様な信号パラメータを測定
するために適合される測定装置１０の機能は実質的に拡
張される。
【００４５】図８は本発明の別の実施例に係る、測定フ
ロントエンド１００の簡略ブロック図である。サンプリ
ングシステム１０４は図６に示されるシグマ−デルタコ
ンバータ１０６およびデシメーションフィルタ１０８の
代わりに、ＡＤＣ１２０で実現されてデジタルサンプル
を生成する。さらに、サンプリングシステム１０４内に
おいて他のアナログ−デジタルコンバータトポロジィを
容易に置換することができる。ただし、ＡＤＣ１２０の
サンプルレートおよび精度は測定装置１０の所望の入力
帯域幅および測定精度に適するものでなければならな
い。
【００４６】当業者にとって本発明のより広い局面にお
いて発明の精神から逸脱することなく、本発明の上記に
記載の好ましい実施例は種々の点において多くの変更が
可能であることは自明である。たとえば、所望のパラメ
ータの数を抽出するのに、より多くのまたはより少ない
数のデジタル抽出フィルタを用いることができる。デジ
タル抽出フィルタは標準のデジタルフィルタエレメント
を用いて、さらに必要なら乗算、平方根および除算のよ
うな一般的数学演算ブロックを用いてさらなる信号パラ
メータを測定するために適合され得る。さらに、特定の
電圧レベルを検出するのにデジタルコンパレータおよび
レジスタを使用することができる。したがって、本発明
の範囲は前掲の特許請求の範囲によって決定されるべき
である。
【図面の簡単な説明】
【図１】電圧源に結合された、多様な物理パラメータを
測定することができる測定装置の図である。
【図２】図１の測定装置が代替的に結合され得る電流源
の図である。
【図３】図１の測定装置が代替的に結合され得るコンポ
ーネントの図である。
【図４】従来技術に係る測定装置のための測定フロント
エンドの簡易ブロック図である。
【図５】先行技術に係る、測定装置のための第２の測定
フロントエンドの簡易ブロック図である。
【図６】本発明の好ましい実施例に係る測定装置の測定
フロントエンドの簡易ブロック図である。
【図７】本発明に従って連続的にデジタルサンプルの列
からｒｍｓ値を抽出するよう構成されたフロントエンド
内のデジタル抽出フィルタの簡易ブロック図である。
【図８】本発明の代替の実施例に係る測定装置の測定フ
ロントエンドの簡易ブロック図である。
【符号の説明】
１６ 電圧源 １２ａ、１２ｂ テストリード １０２ 信号調節器 １０４ サンプリングシステム １０６ シグマ−デルタコンバータ １０８ デシメーションフィルタ １１０、１１２、１１４、１１６ デジタル抽出フィル
タ １１８ デジタルインターフェイス

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 測定装置のための測定フロントエンドで
    あって、 （ａ） 信号電圧を受取りかつ前記信号電圧から入力電
    圧を生成するための信号調節器と、 （ｂ） 前記信号調節器に結合され、前記入力電圧を受
    取りかつ前記入力電圧からデジタルサンプルを生成する
    サンプリングシステムと、 （ｃ） デジタル抽出フィルタの組とを含み、各前記デ
    ジタル抽出フィルタは前記デジタルサンプルを受取るた
    めに前記サンプリングシステムに結合され、前記デジタ
    ル抽出フィルタは前記デジタルサンプルから前記入力信
    号の複数個の測定パラメータを抽出する、測定装置のた
    めの測定フロントエンド。
  2. 【請求項２】 前記サンプリングシステムは前記デジタ
    ル抽出フィルタの組に結合され、前記測定フィルタの組
    から前記測定パラメータを受取り前記測定装置にデジタ
    ル測定値を与えるデジタルインターフェイスをさらに含
    む、請求項１に記載の測定装置のための測定フロントエ
    ンド。
  3. 【請求項３】 前記サンプリングシステムは （ａ） 前記入力電圧を受取り、生デジタルサンプルを
    生成するためのシグマ−デルタコンバータと、 （ｂ） 前記シグマ−デルタコンバータに結合され、前
    記生デジタルサンプルを受取り、前記デジタルサンプル
    は生成するデシメーションフィルタとを含む、請求項１
    に記載の測定装置のための測定フロントエンド。
  4. 【請求項４】 前記サンプリングシステムは前記入力電
    圧を受取り、前記デジタルサンプルを生成するためのア
    ナログ−デジタルコンバータをさらに含む、請求項１に
    記載の測定装置のための測定フロントエンド。
  5. 【請求項５】 前記デジタル抽出フィルタの組は直流抽
    出フィルタ、ｒｍｓ抽出フィルタ、波形抽出フィルタ、
    およびピーク最小／最大抽出フィルタをさらに含む、請
    求項１に記載の測定装置のための測定フロントエンド。
  6. 【請求項６】 前記測定パラメータは直流、ｒｍｓ、波
    形およびピーク最小／最大値をさらに含む、請求項１に
    記載の測定装置のための測定フロントエンド。
  7. 【請求項７】 前記デジタル抽出フィルタの組は連続的
    に前記複数個の測定パラメータを抽出する、請求項１に
    記載の測定装置のための測定フロントエンド。
  8. 【請求項８】 測定装置において、信号電圧から複数個
    の測定パラメータを得るための方法であって、 （ａ） 前記信号電圧を調節して入力信号を得るステッ
    プと、 （ｂ） サンプリングシステムにおいて前記入力信号を
    サンプリングしてデジタルサンプルを得るステップと、 （ｃ） デジタル抽出フィルタの組を用いて、前記デジ
    タルサンプルから前記複数個の測定パラメータを抽出す
    るステップとを含む、信号電圧から複数個の測定パラメ
    ータを得るための方法。
  9. 【請求項９】 測定装置において、前記複数個の測定パ
    ラメータをデジタル測定値として前記測定装置に選択的
    に与えるステップをさらに含む、請求項８に記載の信号
    電圧から複数個の測定パラメータを得るための方法。
  10. 【請求項１０】 測定装置において、前記デジタル抽出
    フィルタの組は直流抽出フィルタ、ｒｍｓ抽出フィル
    タ、波形抽出フィルタ、およびピーク最小／最大抽出フ
    ィルタをさらに含む、請求項８に記載の信号電圧から複
    数個の測定パラメータを得るための方法。
  11. 【請求項１１】 測定装置において、前記複数個の測定
    パラメータは直流、ｒｍｓ、波形およびピーク最小／最
    大値をさらに含む、請求項１０に記載の信号電圧から複
    数個の測定パラメータを得るための方法。
  12. 【請求項１２】 測定装置において、前記デジタル抽出
    フィルタの組を用いて、前記デジタルサンプルから前記
    複数個の測定パラメータを連続的に抽出するステップを
    さらに含む、請求項８に記載の信号電圧から複数個の測
    定パラメータを得るための方法。
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TW (1) TW358157B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000301602A (ja) * 1999-04-15 2000-10-31 Sulzer Chemtech Ag ストリップ状フィルムの製造方法
JP2005214932A (ja) * 2004-02-02 2005-08-11 Daihen Corp 信号処理装置、この信号処理装置を用いた電圧測定装置及び電流測定装置
JP2010139393A (ja) * 2008-12-12 2010-06-24 Hioki Ee Corp 測定装置
JP2012173158A (ja) * 2011-02-22 2012-09-10 Hioki Ee Corp 測定装置

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7184899B2 (en) * 2005-01-05 2007-02-27 Power Probe, Inc Energizable electrical test device for measuring current and resistance of an electrical circuit
US9063191B2 (en) 2012-02-24 2015-06-23 Power Probe, Inc. Electrical test device and method
US6243652B1 (en) * 1998-06-10 2001-06-05 Hubbell Incorporated System for concurrent digital measurement of peak voltage and RMS voltage in high voltage system
US6392402B1 (en) * 1998-07-30 2002-05-21 Fluke Corporation High crest factor rms measurement method
DE19912410A1 (de) * 1999-03-19 2000-10-12 Reinhausen Maschf Scheubeck Meßverfahren für eine Hochspannungsdurchführung und geeignete Meßanordnung
US6615148B2 (en) * 2000-05-17 2003-09-02 Tektronix, Inc. Streaming distributed test and measurement instrument
ES2192961B1 (es) * 2001-11-19 2005-02-16 Consejo Sup. Investig. Cientificas. Dispositivo y procedimiento para la medida de parametros de señales oscilatorias periodicas.
US6859763B2 (en) 2002-02-15 2005-02-22 General Motors Corporation Technique for computing a measure on an ultrasonic signal having application to identify valve defects in operating engines
US6970118B2 (en) * 2002-08-14 2005-11-29 National Instruments Corporation High-speed high-resolution ADC for precision measurements
US6674379B1 (en) * 2002-09-30 2004-01-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Digital controller with two control paths
TWI233589B (en) * 2004-03-05 2005-06-01 Ind Tech Res Inst Method for text-to-pronunciation conversion capable of increasing the accuracy by re-scoring graphemes likely to be tagged erroneously
US7034517B2 (en) * 2004-03-15 2006-04-25 Fluke Corporation Multimeter with filtered measurement mode
US7162397B2 (en) * 2004-05-07 2007-01-09 Snap-On Incorporated Decoding an alternator output signal
US7072804B2 (en) * 2004-09-28 2006-07-04 Agilent Technologies, Inc. Digital trigger filter for a real time digital oscilloscope
US7896807B2 (en) 2004-10-29 2011-03-01 Worcester Polytechnic Institute Multi-channel electrophysiologic signal data acquisition system on an integrated circuit
CN101208699A (zh) * 2005-06-27 2008-06-25 诺沃-诺迪斯克有限公司 提供双参数设置的输送系统的用户接口
US7610178B2 (en) * 2006-08-02 2009-10-27 Tektronix, Inc. Noise reduction filter for trigger circuit
US7928721B2 (en) * 2007-07-26 2011-04-19 Fluke Corporation Method and apparatus for amplifying a signal and test device using same
US9347975B2 (en) 2007-08-14 2016-05-24 Fluke Corporation Auto-numbering of measurements in digital multimeter
US8269481B2 (en) * 2007-08-14 2012-09-18 Fluke Corporation Automatic capture and storage of measurements in digital multimeter
TWI361281B (en) * 2008-04-17 2012-04-01 Cyrustek Co A measurement unit including an auto switch low-pass filter
EP2342950B1 (en) 2008-09-23 2014-08-27 Aegis Industries, Inc. Stun device testing apparatus and methods
US20120116696A1 (en) * 2009-03-24 2012-05-10 Infinirel Corporation Systems, devices and methods for predicting power electronics failure
EP2546943B1 (en) * 2010-03-12 2022-07-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Control system, transformer, security control device, and bitstream memory unit
US8271235B2 (en) 2010-03-30 2012-09-18 Qualcomm Incorporated Efficient concurrent sampling at different rates
DE102010046437A1 (de) * 2010-06-23 2011-12-29 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messvorrichtung und Verfahren zur Dezimation eines Datenstroms
DE102013221394A1 (de) * 2013-10-22 2015-04-23 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messgerät und Verfahren zur Messung eines Hochfrequenzsignals mit Deembedding
DE102014205683B4 (de) * 2014-02-28 2015-10-22 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Messgerät und Verfahren zum Anzeigen eines Messsignals
US10132842B2 (en) * 2015-04-01 2018-11-20 Eaton Intelligent Power Limited Virtual ground sensing circuit for high impedance voltage sensors
US11860189B2 (en) 2019-12-12 2024-01-02 Innova Electronics Corporation Rotational electrical probe

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6191170U (ja) * 1984-11-21 1986-06-13
JPH03212116A (ja) * 1990-01-16 1991-09-17 Hitachi Ltd ディジタル信号処理方法及びその装置
JPH0634678A (ja) * 1992-07-20 1994-02-10 Yokogawa Electric Corp 多相電力計
JPH06237171A (ja) * 1992-08-31 1994-08-23 Crystal Semiconductor Corp 連続的に較正される電圧基準を備えたａ／ｄコンバータ
JPH06273453A (ja) * 1993-03-23 1994-09-30 Yokogawa Electric Corp 交流信号測定装置
JPH06331662A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Yokogawa Electric Corp 電力測定装置
JPH0798336A (ja) * 1993-09-28 1995-04-11 Yokogawa Electric Corp サンプリング式測定装置
JPH07249988A (ja) * 1994-03-11 1995-09-26 Sony Corp アナログ／デジタルコンバータ

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH672374A5 (ja) * 1986-11-04 1989-11-15 Bbc Brown Boveri & Cie
US5051799A (en) * 1989-02-17 1991-09-24 Paul Jon D Digital output transducer
US4950999A (en) * 1989-03-06 1990-08-21 Agnello Anthony M Self-contained, real-time spectrum analyzer
DE69027292T2 (de) * 1990-01-16 1997-01-23 Hitachi Ltd Verfahren und System zur digitalen Signalverarbeitung.
US5485393A (en) * 1990-08-30 1996-01-16 Metricom, Inc. Method and apparatus for measuring electrical parameters using a differentiating current sensor and a digital integrator
US5392042A (en) * 1993-08-05 1995-02-21 Martin Marietta Corporation Sigma-delta analog-to-digital converter with filtration having controlled pole-zero locations, and apparatus therefor
US5619202A (en) * 1994-11-22 1997-04-08 Analog Devices, Inc. Variable sample rate ADC
US5532944A (en) * 1994-07-28 1996-07-02 Sorrento Electronics, Inc. Multi-channel analysis system and method using digital signal processing
EP0702235A1 (en) * 1994-09-15 1996-03-20 Fluke Corporation Graphical trend display methods and apparatus in a test instrument
US5475651A (en) * 1994-10-18 1995-12-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Method for real-time extraction of ocean bottom properties
US5600318A (en) * 1995-02-28 1997-02-04 Western Atlas International, Inc. Seismic data acquisition system
US5621345A (en) * 1995-04-07 1997-04-15 Analog Devices, Inc. In-phase and quadrature sampling circuit
US5724037A (en) * 1995-05-23 1998-03-03 Analog Devices, Inc. Data acquisition system for computed tomography scanning and related applications
US5684850A (en) * 1995-08-14 1997-11-04 William K. Warburton Method and apparatus for digitally based high speed x-ray spectrometer
US5592165A (en) * 1995-08-15 1997-01-07 Sigmatel, Inc. Method and apparatus for an oversampled digital to analog convertor
US5698984A (en) * 1996-01-30 1997-12-16 Fluke Corporation Adaptive digital filter for improved measurement accuracy in an electronic instrument

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6191170U (ja) * 1984-11-21 1986-06-13
JPH03212116A (ja) * 1990-01-16 1991-09-17 Hitachi Ltd ディジタル信号処理方法及びその装置
JPH0634678A (ja) * 1992-07-20 1994-02-10 Yokogawa Electric Corp 多相電力計
JPH06237171A (ja) * 1992-08-31 1994-08-23 Crystal Semiconductor Corp 連続的に較正される電圧基準を備えたａ／ｄコンバータ
JPH06273453A (ja) * 1993-03-23 1994-09-30 Yokogawa Electric Corp 交流信号測定装置
JPH06331662A (ja) * 1993-05-19 1994-12-02 Yokogawa Electric Corp 電力測定装置
JPH0798336A (ja) * 1993-09-28 1995-04-11 Yokogawa Electric Corp サンプリング式測定装置
JPH07249988A (ja) * 1994-03-11 1995-09-26 Sony Corp アナログ／デジタルコンバータ

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000301602A (ja) * 1999-04-15 2000-10-31 Sulzer Chemtech Ag ストリップ状フィルムの製造方法
JP4539933B2 (ja) * 1999-04-15 2010-09-08 ズルツァー・ケムテック・アクチェンゲゼルシャフト ストリップ状フィルムの製造方法及び同方法を実施するためのプラント
JP2005214932A (ja) * 2004-02-02 2005-08-11 Daihen Corp 信号処理装置、この信号処理装置を用いた電圧測定装置及び電流測定装置
JP2010139393A (ja) * 2008-12-12 2010-06-24 Hioki Ee Corp 測定装置
JP2012173158A (ja) * 2011-02-22 2012-09-10 Hioki Ee Corp 測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
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