JPH10312922A - ワイヤを有する電子部品及びその製造方法 - Google Patents

ワイヤを有する電子部品及びその製造方法

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JPH10312922A
JPH10312922A JP9124102A JP12410297A JPH10312922A JP H10312922 A JPH10312922 A JP H10312922A JP 9124102 A JP9124102 A JP 9124102A JP 12410297 A JP12410297 A JP 12410297A JP H10312922 A JPH10312922 A JP H10312922A
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孝臣 問井
Tetsuya Morinaga
哲也 森長
Masahiro Bando
政博 坂東
Tetsuo Hatanaka
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 実装時に安定性がよく、ワイヤ端末の電極へ
の接合性が良好な電子部品及びその製造方法を提供す
る。 【解決手段】 コア10の両端部に設けた電極13を、
Ag又はAg−Pd等からなる良導電材層13aと、N
iからなる耐半田材層13bと、Sn又は半田からなる
親半田材層13cとで構成し、導電性ワイヤ15の端末
16を親半田材層13cに略同一平面となるように埋め
込んだチップコイル。ワイヤ端末16は加熱圧着によっ
て耐半田材層13bと固相溶接され、親半田材層13c
とろう接される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、巻線型チップコイ
ル等のワイヤを有する電子部品及びその製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術とその課題】従来、チップコイルとして
は、図5に示すように、磁性材からなるコア1に導電性
ワイヤ5を巻回し、ワイヤ5の両端末5a,5aをコア
1に設けた電極2,2上にワイヤボンディング等で熱圧
着したものが提供されていた。電極2はAg又はAg−
Pd等からなり、ワイヤ端末5aは電極2の表面に盛り
上がった状態で固着されていた。そのため、この種のチ
ップコイルではプリント基板上に実装する際の安定性が
悪く、傾いたり、倒れるという不具合を有していた。ま
た、ワイヤ端末5aは直接空気に露出しているため、酸
化して実装時の半田付け性が悪くなるという問題点を有
していた。
【0003】安定性に関しては、図6に示すように、コ
ア1の両端部にワイヤ端末5aを収納する凹部3,3を
形成することが考えられる。しかし、これではコア1の
形状が複雑で、製造に手間を要する。
【0004】そこで、本発明の目的は、実装時に安定性
がよいワイヤを有する電子部品及びその製造方法を提供
することにある。本発明の他の目的は、電極上に固着さ
れたワイヤが酸化されにくい電子部品を提供することに
ある。本発明のさらに他の目的は、電極とワイヤとの接
合状態が安定しており、信頼性の高い電子部品の製造方
法を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段及び作用】以上の目的を達
成するため、本発明は、絶縁性基体に形成された電極上
に導電性ワイヤを固着した電子部品において、前記電極
が少なくとも高融点耐半田材層とその表面に設けた低融
点親半田材層とを備え、前記導電性ワイヤが加熱圧着に
よって前記親半田材層に略同一平面となるように埋めら
れていることを特徴とする。
【0006】本発明の電子部品において、導電性ワイヤ
は加熱圧着されて偏平に成形された状態で親半田材層に
略同一平面となるように埋められており、電極上に突出
することはない。従って、この電子部品は回路基板上に
実装される際、傾いたり、倒れたりすることがなく、安
定性が良好である。本発明の電子部品では、前記親半田
材層及び前記導電性ワイヤの表面をさらに親半田材層で
覆うことが好ましい。これにて電極の表面がよりフラッ
トになり、かつ、ワイヤの酸化が防止される。
【0007】さらに、本発明に係る電子部品の製造方法
は、絶縁体基体上に、少なくとも高融点耐半田材層とそ
の表面に設けた低融点親半田材層とからなる電極を形成
する工程と、前記電極上に導電性ワイヤを加圧しつつ加
熱し、該ワイヤと耐半田材層とを固相溶接すると共に、
該ワイヤと親半田材層とをろう接する工程とを備えてい
る。
【0008】以上の製造方法によれば、加熱によって親
半田材層が溶融し、加圧によりワイヤが押しつぶされて
親半田材層に沈み込み、電極表面が略フラットに成形さ
れると共に、ワイヤと耐半田材層とが固相溶接され、ワ
イヤと親半田材層とがろう接され、ワイヤと電極との接
合が安定化する。また、ワイヤがポリエステルイミド等
の絶縁皮膜を有する場合、前記加熱によって絶縁皮膜が
溶融/気化し、ことさら皮膜を除去する必要はない。
【0009】特に、前記接合工程にあっては、瞬時にワ
イヤと電極とを親半田材層の融点以上で耐半田材層の融
点以下の温度で加熱し、さらに、瞬時に親半田材層の融
点以下の温度に冷却することが好ましい。加熱、保温及
び冷却時間はワイヤの材質や直径等によって微少に異な
るが、それぞれ数秒以下、さらに1秒以下の瞬時であ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る電子部品及び
その製造方法の実施形態について添付図面を参照して説
明する。
【0011】(第1実施形態、図1、図2、図3参照)
図1は第1実施形態であるチップコイルを示す。このチ
ップコイルはセラミックスからなるコア10の胴部11
に導電性ワイヤ15を巻回し、この端末16,16をコ
ア10の両端突部12,12に設けた電極13,13上
に熱圧着にて固着したものである。
【0012】電極13は、図1(C)に示すように、コ
ア10上にAg又はAg−Pd等からなる良導電材層1
3aを塗布、焼付にて形成し、その表面にNiからなる
耐半田材層13bを電気めっきにて形成し、さらに、そ
の表面にSn又は半田からなる親半田材層13cを電気
めっきにて形成したものである。ワイヤ15はCuから
なる直径20〜60μmの導体上にポリエステルイミド
等の絶縁材で被覆したもので、端末16,16は加熱圧
着された状態で親半田材層13cに埋められている。
【0013】以下、ワイヤ15を電極13に接合する工
程について説明する。図2(A)に示すように、電極1
3上にワイヤ端末16を乗せて上方からヒータ20で加
熱、加圧する。加熱、加圧はヒータ20によって二つの
端末16,16を同時に行い、1秒以内の瞬時に、ヒー
タ20の温度を、親半田材層13cの融点以上で、(S
nの融点は231℃、半田の融点は183℃)、耐半田
材層13bの融点以下(Niの融点は1455℃)の温
度に、好ましくは500℃以上に上昇させ、1秒以内こ
の温度を維持する。次に、1秒以内の瞬時に、親半田材
層13cの融点以下に急冷し、ヒータ20を取り外す。
ヒータ20は例えばパルス電流を供給して加熱するパル
スヒート方式とすることで加熱、加圧を良好にコントロ
ールできる。なお、Cuの融点は1083℃、Agの融
点は960.5℃である。
【0014】また、加熱は前記パルスヒート方式以外
に、超音波を放射する方式等によってもよい。以上の接
合工程において、加熱によってワイヤ端末16の絶縁皮
膜が溶融/気化する。ワイヤ端末16はその表面が溶融
した状態で軟化し、親半田材層13cも溶融する。そし
てワイヤ端末16は押しつぶされて偏平となり、親半田
材層13cに沈み込む(図1(C)参照)。この状態に
おいて、ワイヤ端末16と耐半田材層13bとは接合面
17aにおいて固相溶接され、ワイヤ端末16と親半田
材層13cとは接合面17bにおいてろう接される。
【0015】接合状態において、ワイヤ端末16は親半
田材層13cと略同一平面となり、電極13から突出す
ることがない。従って、このチップコイルをプリント基
板上に実装する際、傾いたり、倒れたりすることがな
く、安定性が良好である。また、ワイヤ端末16は電極
13に固相溶接及びろう接されるため、接合状態が安定
かつ確実である。さらに、加熱と同時にワイヤ端末16
の絶縁皮膜が除去され、皮膜を除去する工程を省略する
ことができる。なお、加熱時間は極めて短時間であるた
め、ワイヤ15の巻線部分の絶縁皮膜にダメージを与え
ることはない。
【0016】ところで、図1(C)に矢印で示すよう
に、溶融した親半田材層13cが流れてワイヤ端末16
上を薄く被覆する場合があり、電極13表面の平坦性が
より向上し、かつ、ワイヤ端末16の酸化が防止され
る。特に、図3に示すように、ワイヤ端末16を接合し
た電極13上に、さらにSn又は半田からなる親半田材
層13dをめっき等で形成すれば、平坦性がより向上
し、ワイヤ端末16の酸化防止効果も向上する。また、
めっきによって親半田材層13dを形成する場合には、
めっき浴に還元作用があるため、ワイヤ端末16が還元
され、親半田材層13dの存在という相乗的効果で半田
付け性が向上する。
【0017】(第2実施形態、図4参照)図4は本発明
の第2実施形態であるチップコイルを示し、前記第1実
施形態と異なる点は、コア10に設けた電極13’が、
Niからなる耐半田材層13bとSn又は半田からなる
親半田材層13cとの2層で構成されていることであ
る。コイル端末16の熱圧着工程及びコイル端末16が
耐半田材層13bとの接合面17aにおいて固相溶接さ
れ、親半田材層13cとの接合面17bにおいてろう接
されることは第1実施形態と同様である。さらに、接合
されたコイル端末16が親半田材層13cに埋められ、
電極13’の表面がフラットであることも第1実施形態
と同様である。また、ワイヤ端末16を接合した表面を
Sn又は半田等の親半田材層で被覆してもよいことは勿
論である。
【0018】(他の実施形態)なお、本発明に係る電子
部品及びその製造方法は前記実施形態に限定するもので
はなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができ
る。特に、本発明は第1、第2実施形態に示した横置き
タイプのチップコイルのみならず、縦置きタイプ(コイ
ルの巻回軸が実装面に対して鉛直方向に位置するタイ
プ)に対しても適用できる。絶縁性基体としては前記磁
性コア10のみならず、セラミック積層体であってもよ
い。さらに、本発明はチップコイル以外の巻線型インダ
クタに適用すること、あるいはコンデンサ等の他の電気
機能素子を内蔵した複合型電子部品にも幅広く適用可能
である。
【0019】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、絶縁性基体に設けた電極が少なくとも高融点耐
半田材層と低融点親半田材層とを備え、導電性ワイヤが
加熱圧着によって親半田材層に略同一平面となるように
埋められているため、ワイヤが電極上から突出すること
がなく、プリント基板への実装時の安定性が良好にな
る。特に、加熱圧着されたワイヤの表面をさらに親半田
材層で覆うことによって、ワイヤの酸化が防止され、半
田付け性が向上する。
【0020】また、本発明によれば、電極上にワイヤを
加圧しつつ加熱し、該ワイヤと耐半田材層とを固相溶接
すると共に、該ワイヤと親半田材層とをろう接するよう
にしたため、ワイヤの電極への接合が安定化、確実化
し、衝撃や振動に耐え得る信頼性の高い電子部品とする
ことができる。また、加熱によってワイヤの絶縁皮膜が
溶融/気化するため、皮膜除去の工程が不要となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態であるチップコイルを示
し、(A)は斜視図、(B)は平面図、(C)は(B)
のC−C断面図である。
【図2】本発明に係る製造方法の一例を示し、(A)は
加熱圧着直前、(B)は加熱圧着時の断面図である。
【図3】前記第1実施形態の変形例を示す断面図。
【図4】本発明の第2実施形態であるチップコイルの製
造方法を示し、(A)は加熱圧着直前、(B)は加熱圧
着後の断面図である。
【図5】従来のチップコイルの一例を示す斜視図。
【図6】従来のチップコイルの他の例を示す斜視図。
【符号の説明】
10…コア 13…電極 13a…良導電材層 13b…耐半田材層 13c…親半田材層 13d…親半田材層 15…ワイヤ 16…端末 20…ヒータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 畠中 哲夫 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性基体に形成された電極上に導電性
    ワイヤを固着した電子部品において、 前記電極が少なくとも高融点耐半田材層とその表面に設
    けた低融点親半田材層とを備え、 前記導電性ワイヤが加熱圧着によって前記親半田材層に
    略同一平面となるように埋められていること、 を特徴とする電子部品。
  2. 【請求項2】 前記親半田材層及び前記導電性ワイヤの
    表面が、さらに親半田材層にて覆われていることを特徴
    とする請求項1記載の電子部品。
  3. 【請求項3】 絶縁性基体上に、少なくとも高融点耐半
    田材層とその表面に設けた低融点親半田材層とからなる
    電極を形成する工程と、 前記電極上に導電性ワイヤを加圧しつつ加熱し、該ワイ
    ヤと前記耐半田材層とを固相溶接すると共に、該ワイヤ
    と前記親半田材層とをろう接する工程と、 を備えたことを特徴とする電子部品の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記電極上に前記導電性ワイヤを加圧し
    つつ加熱する際、瞬時にワイヤと電極とを親半田材層の
    融点以上で耐半田材層の融点以下の温度で加熱し、さら
    に、瞬時に親半田材層の融点以下の温度に冷却すること
    を特徴とする請求項3記載の電子部品の製造方法。
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