JPH10241199A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH10241199A JPH10241199A JP9040517A JP4051797A JPH10241199A JP H10241199 A JPH10241199 A JP H10241199A JP 9040517 A JP9040517 A JP 9040517A JP 4051797 A JP4051797 A JP 4051797A JP H10241199 A JPH10241199 A JP H10241199A
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- optical
- beam splitter
- reflected
- optical waveguide
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/123—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
- G11B7/124—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate the integrated head arrangements including waveguides
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 調整が容易であり、小型，低コスト，かつ、
信頼性の高い光ピックアップを提供する。 【解決手段】 ホログラム７とグレーティング６との間
の光路上に、ディスクからの反射光の一部を反射する第
１の反射面８と、第１の反射面８と平行に配置された第
２の反射面９を有するビームスプリッタ１３が配置され
ている。ディスクで反射されホログラム７を通過した光
の一部は第１の反射面８で反射され、さらに第２の反射
面９で反射されて光導波路素子１１に導かれ光磁気信号
を検出する。ホログラム７を透過し第１の反射面８を透
過した光はフォトダイオード１０に導かれサーボエラー
信号を検出する。
信頼性の高い光ピックアップを提供する。 【解決手段】 ホログラム７とグレーティング６との間
の光路上に、ディスクからの反射光の一部を反射する第
１の反射面８と、第１の反射面８と平行に配置された第
２の反射面９を有するビームスプリッタ１３が配置され
ている。ディスクで反射されホログラム７を通過した光
の一部は第１の反射面８で反射され、さらに第２の反射
面９で反射されて光導波路素子１１に導かれ光磁気信号
を検出する。ホログラム７を透過し第１の反射面８を透
過した光はフォトダイオード１０に導かれサーボエラー
信号を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光磁気ディスクのよ
うな光記録媒体の記録再生を行なう光学的記録再生装置
において使用される光ピックアップの改良に関する。
うな光記録媒体の記録再生を行なう光学的記録再生装置
において使用される光ピックアップの改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ピックアップで光磁気ディスクからの
信号を検出するとき、一般に半導体レーザからの光を光
磁気ディスクに反射させ、その反射光をサーボエラー信
号検出用の光と光磁気信号検出用の光とに分離して、そ
れぞれの目的に使用する。このとき光を分離するために
ビームスプリッタが使用される。図７はその一例であっ
て、特開平８−１７１７４７に開示された光導波路を用
いた光磁気ディスク用の光ピックアップの平面図であ
る。パッケージ１１８上に設けられた半導体レーザ１０
１から出射された光１０２は、光分波手段である回折格
子によるグレーティング１０３によりメインビームとト
ラッキングビームに分波され、ホログラム１０４を透過
し、平板ガラス１１３とプリズム１１４とを張り合わせ
たビームスプリッタ１０５に入射される。その入射光は
平板ガラス１１３とプリズム１１４との境界面（ａ面）
にあるミラーで反射され、コリメートレンズ１０６を透
過し、立上げミラー１０７で図面に垂直に上方に反射さ
れて対物レンズ１０８により光記憶媒体としての光磁気
ディスク（図示されない）上に集光される。
信号を検出するとき、一般に半導体レーザからの光を光
磁気ディスクに反射させ、その反射光をサーボエラー信
号検出用の光と光磁気信号検出用の光とに分離して、そ
れぞれの目的に使用する。このとき光を分離するために
ビームスプリッタが使用される。図７はその一例であっ
て、特開平８−１７１７４７に開示された光導波路を用
いた光磁気ディスク用の光ピックアップの平面図であ
る。パッケージ１１８上に設けられた半導体レーザ１０
１から出射された光１０２は、光分波手段である回折格
子によるグレーティング１０３によりメインビームとト
ラッキングビームに分波され、ホログラム１０４を透過
し、平板ガラス１１３とプリズム１１４とを張り合わせ
たビームスプリッタ１０５に入射される。その入射光は
平板ガラス１１３とプリズム１１４との境界面（ａ面）
にあるミラーで反射され、コリメートレンズ１０６を透
過し、立上げミラー１０７で図面に垂直に上方に反射さ
れて対物レンズ１０８により光記憶媒体としての光磁気
ディスク（図示されない）上に集光される。
【０００３】光磁気ディスクで反射された光は、対物レ
ンズ１０８，立上げミラー１０７およびコリメートレン
ズ１０６を通って、ビームスプリッタ１０５に入射し、
ここでサーボエラー信号検出光１０９と光磁気信号検出
光１１０とに２分割される。サーボエラー信号検出光１
０９はビームスプリッタ１０５からホログラム１０４に
入射し、ここで回折され、フォトダイオード１１１に導
かれてサーボエラー信号として検出される。一方、光磁
気信号検出光１１０は、ビームスプリッタ１０５を構成
する平板ガラス裏面（ｂ面）のミラー面で反射されてホ
ログラム１０４を透過せず光導波路素子１１２のカプラ
部分に導かれる。このカプラ部分で光導波路に結合した
光は、光導波路内でＴＥ波とＴＭ波に偏光分離され、光
検出器に導かれて光磁気信号として検出される。
ンズ１０８，立上げミラー１０７およびコリメートレン
ズ１０６を通って、ビームスプリッタ１０５に入射し、
ここでサーボエラー信号検出光１０９と光磁気信号検出
光１１０とに２分割される。サーボエラー信号検出光１
０９はビームスプリッタ１０５からホログラム１０４に
入射し、ここで回折され、フォトダイオード１１１に導
かれてサーボエラー信号として検出される。一方、光磁
気信号検出光１１０は、ビームスプリッタ１０５を構成
する平板ガラス裏面（ｂ面）のミラー面で反射されてホ
ログラム１０４を透過せず光導波路素子１１２のカプラ
部分に導かれる。このカプラ部分で光導波路に結合した
光は、光導波路内でＴＥ波とＴＭ波に偏光分離され、光
検出器に導かれて光磁気信号として検出される。
【０００４】光導波路素子１１２のカプラ部分につい
て、その側面図（図８）およびその平面図（図９）に基
づき説明する。カプラ部分はプリズム１２１とマイクロ
レンズ１２２とよりなる。ビームスプリッタ１０５のｂ
面で反射された光磁気信号検出光１１０は、ホログラム
１０４の右側方を透過しパッケージ１１８内に導かれ、
一旦収束した後発散光となり、マイクロレンズ１２２を
経由してプリズム１２１に導かれる。プリズム１２１上
に設けられたマイクロレンズ１２２によりその発散光は
平行光に変換され、所定の入射角で光導波路１２３に結
合する。前述のカプラから光導波路１２３に導かれた光
は、偏光分離素子１２９により、各偏光成分この場合は
ＴＥ波とＴＭ波に分離され、フォトダイオード１２４で
光磁気信号が検出される。
て、その側面図（図８）およびその平面図（図９）に基
づき説明する。カプラ部分はプリズム１２１とマイクロ
レンズ１２２とよりなる。ビームスプリッタ１０５のｂ
面で反射された光磁気信号検出光１１０は、ホログラム
１０４の右側方を透過しパッケージ１１８内に導かれ、
一旦収束した後発散光となり、マイクロレンズ１２２を
経由してプリズム１２１に導かれる。プリズム１２１上
に設けられたマイクロレンズ１２２によりその発散光は
平行光に変換され、所定の入射角で光導波路１２３に結
合する。前述のカプラから光導波路１２３に導かれた光
は、偏光分離素子１２９により、各偏光成分この場合は
ＴＥ波とＴＭ波に分離され、フォトダイオード１２４で
光磁気信号が検出される。
【０００５】図７の光学系では、半導体レーザ１０１と
光導波路素子１１２をパッケージ１１８内に取付けた
後、パッケージ１１８にビームスプリッタ１０５を取付
けるので、光導波路素子１１２の取付位置のずれや、ビ
ームスプリッタ１０５の平板ガラス１１３の作成誤差に
よって発生する光磁気ディスクからの反射光と光導波路
素子１１２の相対位置のずれは、ビームスプリッタ１０
５の姿勢調整で補償する必要がある。
光導波路素子１１２をパッケージ１１８内に取付けた
後、パッケージ１１８にビームスプリッタ１０５を取付
けるので、光導波路素子１１２の取付位置のずれや、ビ
ームスプリッタ１０５の平板ガラス１１３の作成誤差に
よって発生する光磁気ディスクからの反射光と光導波路
素子１１２の相対位置のずれは、ビームスプリッタ１０
５の姿勢調整で補償する必要がある。
【０００６】図１０はビームスプリッタ１０５の姿勢調
整による調整原理を示す図である。今、光導波路素子１
１２がＹ方向にずれて配置されており、半導体レーザ１
０１からの光Ｌ１０１は、プリズム１１４の背面で反射
されＬ１０２となり、ディスクから反射されたＬ１０２
は平板ガラス１１３の背面で反射されＬ１０３となり、
光導波路素子１１２の方に向かう。このときディスクか
らの反射光Ｌ１０３と光導波路素子１１２の相対位置が
ずれているとする。この場合、ビームスプリッタ１０５
をＸ軸まわりにθだけ回転させると、ディスクからの反
射光は光路Ｌ１０２′→Ｌ１０３′を通るようになり、
光導波路素子１１２に正しく入射する。
整による調整原理を示す図である。今、光導波路素子１
１２がＹ方向にずれて配置されており、半導体レーザ１
０１からの光Ｌ１０１は、プリズム１１４の背面で反射
されＬ１０２となり、ディスクから反射されたＬ１０２
は平板ガラス１１３の背面で反射されＬ１０３となり、
光導波路素子１１２の方に向かう。このときディスクか
らの反射光Ｌ１０３と光導波路素子１１２の相対位置が
ずれているとする。この場合、ビームスプリッタ１０５
をＸ軸まわりにθだけ回転させると、ディスクからの反
射光は光路Ｌ１０２′→Ｌ１０３′を通るようになり、
光導波路素子１１２に正しく入射する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】前述の光ピックアップ
では、ビームスプリッタ１０５はコリメートレンズ１０
６とホログラム１０４の間に配置されるため、光源から
の距離が遠くなり、必要有効径（ビームスプリッタ内の
光の通過する範囲）が大きくなり、結果として光磁気信
号検出光１１０の収束点が、グレーティング１０３が形
成される部材の下面の間近となり、直接光導波路１２３
に結合させることができず、発散光となった光磁気信号
検出光１１０を平行光に変換するマイクロレンズを必要
とした。マイクロレンズの焦点距離は１ｍｍ程度であ
り、このように強いレンズをカプラのプリズム上に作成
するのは容易でない。
では、ビームスプリッタ１０５はコリメートレンズ１０
６とホログラム１０４の間に配置されるため、光源から
の距離が遠くなり、必要有効径（ビームスプリッタ内の
光の通過する範囲）が大きくなり、結果として光磁気信
号検出光１１０の収束点が、グレーティング１０３が形
成される部材の下面の間近となり、直接光導波路１２３
に結合させることができず、発散光となった光磁気信号
検出光１１０を平行光に変換するマイクロレンズを必要
とした。マイクロレンズの焦点距離は１ｍｍ程度であ
り、このように強いレンズをカプラのプリズム上に作成
するのは容易でない。
【０００８】また、ビームスプリッタ１０５の回転調整
によりａ面が傾くため、半導体レーザ１０１からの光Ｌ
１０１は当初の光路Ｌ１０２から２θずれた光路Ｌ１０
２′に沿って進む。このため、半導体レーザ１０１の出
射光の中心とコリメートレンズ１０６の中心がずれた
り、コリメートレンズ１０６から出射される平行光が斜
めに進行する等の問題が生じ、矯正が困難であった。
によりａ面が傾くため、半導体レーザ１０１からの光Ｌ
１０１は当初の光路Ｌ１０２から２θずれた光路Ｌ１０
２′に沿って進む。このため、半導体レーザ１０１の出
射光の中心とコリメートレンズ１０６の中心がずれた
り、コリメートレンズ１０６から出射される平行光が斜
めに進行する等の問題が生じ、矯正が困難であった。
【０００９】また、図７の光学系では、ディスク上のト
ラックとメインビームとトラッキングビームの３つの光
スポットの方位を合わせるため、ビームスプリッタ１０
５と半導体レーザ１０１を含むパッケージ１１８をコリ
メートレンズ１０６の光軸（ＣＬ）まわりに回転させる
ための別途回転機構が必要であった。
ラックとメインビームとトラッキングビームの３つの光
スポットの方位を合わせるため、ビームスプリッタ１０
５と半導体レーザ１０１を含むパッケージ１１８をコリ
メートレンズ１０６の光軸（ＣＬ）まわりに回転させる
ための別途回転機構が必要であった。
【００１０】また、半導体レーザ１０１から出射されａ
面を透過しｂ面で反射された光が、ディスクで反射され
て光検出器で検出されて信号品質が劣化するのを避ける
ため、ｂ面の半導体レーザ１０１に対向する部分に部分
的に反射防止膜１１６を形成する必要があり、ビームス
プリッタ１０５の量産性が損なわれる問題もあった。
面を透過しｂ面で反射された光が、ディスクで反射され
て光検出器で検出されて信号品質が劣化するのを避ける
ため、ｂ面の半導体レーザ１０１に対向する部分に部分
的に反射防止膜１１６を形成する必要があり、ビームス
プリッタ１０５の量産性が損なわれる問題もあった。
【００１１】また、光導波路素子１１２はパッケージ１
１８に直接配置されており、高さを含む３次元の位置調
整は困難であった。
１８に直接配置されており、高さを含む３次元の位置調
整は困難であった。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、光源と、光源から放射される光束を光記録媒体上に
集光する集光手段と、光源から集光手段に至る光路上に
配置された光源からの光束を分波する光分波手段と、光
分波手段の集光手段側の光路の途中に配置された光記録
媒体からの反射光の一部を回折させる回折手段と、光分
波手段と回折手段との間に配置されたビームスプリッタ
と、ビームスプリッタを通過してきた回折された記録媒
体からの反射光を検出する光検出手段と、ビームスプリ
ッタを通過してきた記録媒体からの反射光の偏光面の回
転を検出する偏光検出手段とを有し、ビームスプリッタ
は、光源からの光束を透過させ、かつ回折手段を通過し
た記録媒体からの反射光の一部を光分波手段と干渉しな
い方向に透過させ、回折手段を通過した反射光の他の部
分を反射させる第１の反射面と、第１の反射面からの反
射光を偏光検出手段の方向に反射させる第２の反射面と
を有している。
は、光源と、光源から放射される光束を光記録媒体上に
集光する集光手段と、光源から集光手段に至る光路上に
配置された光源からの光束を分波する光分波手段と、光
分波手段の集光手段側の光路の途中に配置された光記録
媒体からの反射光の一部を回折させる回折手段と、光分
波手段と回折手段との間に配置されたビームスプリッタ
と、ビームスプリッタを通過してきた回折された記録媒
体からの反射光を検出する光検出手段と、ビームスプリ
ッタを通過してきた記録媒体からの反射光の偏光面の回
転を検出する偏光検出手段とを有し、ビームスプリッタ
は、光源からの光束を透過させ、かつ回折手段を通過し
た記録媒体からの反射光の一部を光分波手段と干渉しな
い方向に透過させ、回折手段を通過した反射光の他の部
分を反射させる第１の反射面と、第１の反射面からの反
射光を偏光検出手段の方向に反射させる第２の反射面と
を有している。
【００１３】本発明に使用されるビームスプリッタは、
断面が平行四辺形状の部材と、これを挟む台形状の部材
からなり、その第１の反射面と第２の反射面は、断面が
平行四辺形状の部材の相対する２面で形成されている。
断面が平行四辺形状の部材と、これを挟む台形状の部材
からなり、その第１の反射面と第２の反射面は、断面が
平行四辺形状の部材の相対する２面で形成されている。
【００１４】偏光検出手段としては光導波路素子を用い
る。光源と、光検出器と、偏光検出手段が、同一のパッ
ケージ内に配置され気密封止されている。
る。光源と、光検出器と、偏光検出手段が、同一のパッ
ケージ内に配置され気密封止されている。
【００１５】偏光検出手段が光導波路素子であって、光
導波路素子は光透過性の材料からなるくさび状のブロッ
クを介してパッケージに接着固定されている。
導波路素子は光透過性の材料からなるくさび状のブロッ
クを介してパッケージに接着固定されている。
【００１６】ビームスプリッタは円柱状部材を介して、
光路に対する角度を変更できるように光分波手段の壁面
に接触される。
光路に対する角度を変更できるように光分波手段の壁面
に接触される。
【００１７】
【発明の実施の形態】図１は本発明に基づく光ピックア
ップの平面図であり、図２はその側面図である。
ップの平面図であり、図２はその側面図である。
【００１８】これらの図に示されるように、本発明の光
ピックアップは、光源である半導体レーザ１と、半導体
レーザ１から放射される光束を光磁気記録媒体であるデ
ィスク５上に集光する集光手段としてのコリメートレン
ズ２および対物レンズ４と、半導体レーザ１からコリメ
ートレンズ２に至る光路上に配置され半導体レーザ１か
らの光束をメインビームとトラッキングビームよりなる
少なくとも３つの光束に分割する光分波手段である回折
格子よりなるグレーティング６と、グレーティング６か
らコリメートレンズ２に至る光路上に配置され前記ディ
スク５からの反射光の一部を回折させる回折手段である
ホログラム７と、ホログラム７で回折されたディスク５
からの反射光の一部の強度を検出する光検出手段である
フォトダイオード１０と、ホログラム７からグレーティ
ング６に至る光路上に配置されホログラム７で回折され
なかった前記ディスク５からの反射光の一部を反射する
第１の反射面８と、第１の反射面８と平行に配置され反
射面８からの反射光を再度反射させる第２の反射面９を
有するビームスプリッタ１３と、半導体レーザ１ととも
に同一のパッケージ１８内に配置され前記ビームスプリ
ッタ１３で分岐された光束の偏光面の回転を検出する偏
光検出手段である光導波路素子１１によって構成されて
いる。４５°ミラー３は、コリメートレンズ２からの光
を９０°方向を変えるように配置されている。
ピックアップは、光源である半導体レーザ１と、半導体
レーザ１から放射される光束を光磁気記録媒体であるデ
ィスク５上に集光する集光手段としてのコリメートレン
ズ２および対物レンズ４と、半導体レーザ１からコリメ
ートレンズ２に至る光路上に配置され半導体レーザ１か
らの光束をメインビームとトラッキングビームよりなる
少なくとも３つの光束に分割する光分波手段である回折
格子よりなるグレーティング６と、グレーティング６か
らコリメートレンズ２に至る光路上に配置され前記ディ
スク５からの反射光の一部を回折させる回折手段である
ホログラム７と、ホログラム７で回折されたディスク５
からの反射光の一部の強度を検出する光検出手段である
フォトダイオード１０と、ホログラム７からグレーティ
ング６に至る光路上に配置されホログラム７で回折され
なかった前記ディスク５からの反射光の一部を反射する
第１の反射面８と、第１の反射面８と平行に配置され反
射面８からの反射光を再度反射させる第２の反射面９を
有するビームスプリッタ１３と、半導体レーザ１ととも
に同一のパッケージ１８内に配置され前記ビームスプリ
ッタ１３で分岐された光束の偏光面の回転を検出する偏
光検出手段である光導波路素子１１によって構成されて
いる。４５°ミラー３は、コリメートレンズ２からの光
を９０°方向を変えるように配置されている。
【００１９】パッケージ１８は、ステム１５，キャップ
１６，カバーガラス１７からなり、半導体レーザ１とフ
ォトダイオード１０はステム１５に直接配置され、光導
波路素子１１はくさび状ブロック１２を介してステム１
５上に配置されている。光導波路素子１１を高さを含む
３次元で位置調整し、くさび状ブロック１２を光導波路
素子１１の裏面とステム１５に押し当てて接着すること
により、容易に光導波路素子１１を高さを含む３次元で
位置調整および固定が実現できる。くさび状ブロック１
２の形状は、ディスク５からの反射光が所定の入射角で
後述の光導波路層２４に結合されるように決定される。
１６，カバーガラス１７からなり、半導体レーザ１とフ
ォトダイオード１０はステム１５に直接配置され、光導
波路素子１１はくさび状ブロック１２を介してステム１
５上に配置されている。光導波路素子１１を高さを含む
３次元で位置調整し、くさび状ブロック１２を光導波路
素子１１の裏面とステム１５に押し当てて接着すること
により、容易に光導波路素子１１を高さを含む３次元で
位置調整および固定が実現できる。くさび状ブロック１
２の形状は、ディスク５からの反射光が所定の入射角で
後述の光導波路層２４に結合されるように決定される。
【００２０】偏光検出手段としては、光学結晶を用いた
プリズムやポラロイドフィルムのような吸収型検光子も
利用できるが、後述するようにフォトダイオードが集積
化できる点から光導波路素子が好ましい。
プリズムやポラロイドフィルムのような吸収型検光子も
利用できるが、後述するようにフォトダイオードが集積
化できる点から光導波路素子が好ましい。
【００２１】半導体レーザ１から放射された光束は、グ
レーティング６によって３つの光束に分割され、コリメ
ートレンズ２と対物レンズ４によりディスク５上に２つ
のトラッキングビームスポットと１つのメインビームス
ポットを形成する。ディスク５で反射された光は再び対
物レンズ４，コリメートレンズ２を通過しホログラム７
によりその一部が回折され第１の反射面８を透過し、グ
レーティング６の右方を通過し、フォトダイオード１０
でサーボエラー信号が検出される。ホログラム７とフォ
トダイオード１０の形状は従来のものと同様でありサー
ボ信号の検出原理も従来と同じである。
レーティング６によって３つの光束に分割され、コリメ
ートレンズ２と対物レンズ４によりディスク５上に２つ
のトラッキングビームスポットと１つのメインビームス
ポットを形成する。ディスク５で反射された光は再び対
物レンズ４，コリメートレンズ２を通過しホログラム７
によりその一部が回折され第１の反射面８を透過し、グ
レーティング６の右方を通過し、フォトダイオード１０
でサーボエラー信号が検出される。ホログラム７とフォ
トダイオード１０の形状は従来のものと同様でありサー
ボ信号の検出原理も従来と同じである。
【００２２】ホログラム７で回折されなかった光束は、
ビームスプリッタ１３の第１の反射面８でその一部が反
射され、さらに第２の反射面９でほぼ全光束が反射され
る。このようにして分離された第２の反射面９からの光
は、グレーティング６の左側部を透過して光導波路素子
１１に結合される。
ビームスプリッタ１３の第１の反射面８でその一部が反
射され、さらに第２の反射面９でほぼ全光束が反射され
る。このようにして分離された第２の反射面９からの光
は、グレーティング６の左側部を透過して光導波路素子
１１に結合される。
【００２３】光導波路素子１１としては、たとえば特願
平８−１７９７０５に示されるものが利用できる。その
斜視図を図６に示す。光導波路素子１１は、フォトダイ
オード２６，２６や図示しない電子回路などを形成した
Ｓｉ基板２２上に、バッファ層２３および光導波路層２
４を積層し、さらにカプラプリズム２５を接着して作製
される。ビームスプリッタ１３で分岐された光はカプラ
プリズム２５のコーナーに焦点を結び光導波路層２４に
結合する。光導波路内に導かれた光は、偏光分離素子２
１により、各偏光成分、すなわちＴＥ光とＴＭ光に分離
され、フォトダイオード２６，２６で光磁気信号が検出
される。
平８−１７９７０５に示されるものが利用できる。その
斜視図を図６に示す。光導波路素子１１は、フォトダイ
オード２６，２６や図示しない電子回路などを形成した
Ｓｉ基板２２上に、バッファ層２３および光導波路層２
４を積層し、さらにカプラプリズム２５を接着して作製
される。ビームスプリッタ１３で分岐された光はカプラ
プリズム２５のコーナーに焦点を結び光導波路層２４に
結合する。光導波路内に導かれた光は、偏光分離素子２
１により、各偏光成分、すなわちＴＥ光とＴＭ光に分離
され、フォトダイオード２６，２６で光磁気信号が検出
される。
【００２４】図１に戻り、ビームスプリッタ１３の第１
の反射面８で反射され、さらに第２の反射面９で反射さ
れ、光導波路素子１１に結合されるディスクからの反射
光の収束点が、カバーガラス１７から離れるようにする
方が、光導波路素子１１の配置に自由度が増し好まし
い。本発明に基づく光ピックアップでは、ホログラム７
と光源である半導体レーザ１の間に第１の反射面を含む
ビームスプリッタ１３が配置されているので、ビームス
プリッタ１３の必要有効径を小さくでき、結果としてデ
ィスク５からの反射光をマイクロレンズを介さずに光導
波路素子１１に結合させることが可能となる。
の反射面８で反射され、さらに第２の反射面９で反射さ
れ、光導波路素子１１に結合されるディスクからの反射
光の収束点が、カバーガラス１７から離れるようにする
方が、光導波路素子１１の配置に自由度が増し好まし
い。本発明に基づく光ピックアップでは、ホログラム７
と光源である半導体レーザ１の間に第１の反射面を含む
ビームスプリッタ１３が配置されているので、ビームス
プリッタ１３の必要有効径を小さくでき、結果としてデ
ィスク５からの反射光をマイクロレンズを介さずに光導
波路素子１１に結合させることが可能となる。
【００２５】また、ディスク５で反射された光が再度グ
レーティング６を通過すると、トラッキング用ビームと
メインビームが重なり合い、正しく情報が再生できなく
なるので、ビームスプリッタ１３はグレーティング６と
ディスクの間に配置する必要がある。したがって、ホロ
グラム７とグレーティング６の間にビームスプリッタ１
３を配置するのが最も望ましい。
レーティング６を通過すると、トラッキング用ビームと
メインビームが重なり合い、正しく情報が再生できなく
なるので、ビームスプリッタ１３はグレーティング６と
ディスクの間に配置する必要がある。したがって、ホロ
グラム７とグレーティング６の間にビームスプリッタ１
３を配置するのが最も望ましい。
【００２６】ここで本発明による光ピックアップの調整
法について、図３に基づき述べる。今、光導波路素子１
１がＹ方向にずれて配置され、光路Ｌ１→Ｌ２→Ｌ３を
通るディスク５からの反射光と、光導波路素子１１の相
対位置がずれているとする。この場合、ビームスプリッ
タ１３をＸ軸まわりにθだけ回転させると、ディスクか
らの反射光は、光路Ｌ１→Ｌ２′→Ｌ３′を通るように
なり、光導波路素子１１に正しく入射するようになる。
この際、半導体レーザ１からの光は、第１の反射面８を
透過してコリメートレンズ２に至るようにされているの
で、ビームスプリッタ１３が回転してもその影響を受け
ず、光路Ｌ１を通ってコリメートレンズ２に入射する。
したがって、本発明による光ピックアップでは、ビーム
スプリッタ１３の姿勢調整により光路が変化せず、従来
のように光路が変化して調整が困難になることはない。
また、図１の光学系では、半導体レーザ１とコリメート
レンズ２が一直線上に配置されているので、パッケージ
の外形を光軸ＣＬを中心とする円とし、パッケージを光
軸ＣＬ中心に回転させることにより、容易にディスク上
のトラックと３つの光スポットとの方位を合わせること
ができる。
法について、図３に基づき述べる。今、光導波路素子１
１がＹ方向にずれて配置され、光路Ｌ１→Ｌ２→Ｌ３を
通るディスク５からの反射光と、光導波路素子１１の相
対位置がずれているとする。この場合、ビームスプリッ
タ１３をＸ軸まわりにθだけ回転させると、ディスクか
らの反射光は、光路Ｌ１→Ｌ２′→Ｌ３′を通るように
なり、光導波路素子１１に正しく入射するようになる。
この際、半導体レーザ１からの光は、第１の反射面８を
透過してコリメートレンズ２に至るようにされているの
で、ビームスプリッタ１３が回転してもその影響を受け
ず、光路Ｌ１を通ってコリメートレンズ２に入射する。
したがって、本発明による光ピックアップでは、ビーム
スプリッタ１３の姿勢調整により光路が変化せず、従来
のように光路が変化して調整が困難になることはない。
また、図１の光学系では、半導体レーザ１とコリメート
レンズ２が一直線上に配置されているので、パッケージ
の外形を光軸ＣＬを中心とする円とし、パッケージを光
軸ＣＬ中心に回転させることにより、容易にディスク上
のトラックと３つの光スポットとの方位を合わせること
ができる。
【００２７】本構成によれば、ビームスプリッタ１３内
で生じた不要な反射光がディスク５で反射されてフォト
ダイオード１０で検出されて、信号品質が劣化すること
はないから、ビームスプリッタ１３に部分的に反射防止
膜を形成する必要がない。したがって、ビームスプリッ
タ１３の量産性が改善される。
で生じた不要な反射光がディスク５で反射されてフォト
ダイオード１０で検出されて、信号品質が劣化すること
はないから、ビームスプリッタ１３に部分的に反射防止
膜を形成する必要がない。したがって、ビームスプリッ
タ１３の量産性が改善される。
【００２８】ビームスプリッタ１３は、断面が平行四辺
形状の部材Ａを２つの台形状の部材Ｂ，Ｃで挟んだ形状
となっている。このような形状とすることにより、研磨
時の部材Ａの欠けが抑制でき、歩留りが向上する。ま
た、第１および第２の反射面が組立時に汚染されて光学
特性が劣化することがない。さらに、グレーティング６
やホログラム７と積層させやすい。
形状の部材Ａを２つの台形状の部材Ｂ，Ｃで挟んだ形状
となっている。このような形状とすることにより、研磨
時の部材Ａの欠けが抑制でき、歩留りが向上する。ま
た、第１および第２の反射面が組立時に汚染されて光学
特性が劣化することがない。さらに、グレーティング６
やホログラム７と積層させやすい。
【００２９】ビームスプリッタ１３の反射面８の反射特
性に偏光特性を付加することにより、カー回転角を見か
け上増倍することができる。たとえば、Ｐ偏光の反射率
を３０％、Ｓ偏光の反射率を１００％とすれば、カー回
転角は見かけ上１．８倍される。
性に偏光特性を付加することにより、カー回転角を見か
け上増倍することができる。たとえば、Ｐ偏光の反射率
を３０％、Ｓ偏光の反射率を１００％とすれば、カー回
転角は見かけ上１．８倍される。
【００３０】光導波路素子１１は、ステムにくさび状の
ブロック１２を介して接着固定されているが、好ましく
は、ブロック１２の材質は、ガラスあるいは透明樹脂な
どの光透過性のある材質にするのが良い。ブロック１２
の材質を光透過性とすることで、ブロック１２と光導波
路素子１１の接着に光硬化性接着剤が使用でき、光導波
路素子１１に熱的なストレスをかけずに済む上、嫌気性
接着剤を用いたときのような素子の位置調整時間の制約
はない。また、ガラスを用いた場合には、光導波路素子
１１を半導体レーザ１やフォトダイオード１０から電気
的に絶縁できるので、ピックアップに接続する電気回路
の設計の自由度が大きくなり、同時に他の回路の影響を
受けにくくなるので、ＳＮ比の良い再生情報信号が得ら
れる。
ブロック１２を介して接着固定されているが、好ましく
は、ブロック１２の材質は、ガラスあるいは透明樹脂な
どの光透過性のある材質にするのが良い。ブロック１２
の材質を光透過性とすることで、ブロック１２と光導波
路素子１１の接着に光硬化性接着剤が使用でき、光導波
路素子１１に熱的なストレスをかけずに済む上、嫌気性
接着剤を用いたときのような素子の位置調整時間の制約
はない。また、ガラスを用いた場合には、光導波路素子
１１を半導体レーザ１やフォトダイオード１０から電気
的に絶縁できるので、ピックアップに接続する電気回路
の設計の自由度が大きくなり、同時に他の回路の影響を
受けにくくなるので、ＳＮ比の良い再生情報信号が得ら
れる。
【００３１】光硬化性接着剤は吸湿により膨潤すること
があるので、パッケージ１８は好ましくは気密封止され
る。気密封止によりパッケージ内が乾燥した状態に保た
れるので、接着剤が膨潤することなく、光導波路素子１
１と半導体レーザ１の相対的位置が安定に保たれる。
があるので、パッケージ１８は好ましくは気密封止され
る。気密封止によりパッケージ内が乾燥した状態に保た
れるので、接着剤が膨潤することなく、光導波路素子１
１と半導体レーザ１の相対的位置が安定に保たれる。
【００３２】図４は、光導波路素子１１，半導体レーザ
１およびフォトダイオード１０の配置例を示す平面図で
ある。半導体レーザ１からの出射光の偏光方向はＹ軸に
平行である。一方ディスク５からの反射光はカー効果に
より偏光面が１〜２°回転されている。しかし、その回
転量は微小であるため、ディスク５に集光される光の偏
光に対して、±４５°の偏光方位となる偏光成分を検出
し、その差動信号を検出するのが好ましい。
１およびフォトダイオード１０の配置例を示す平面図で
ある。半導体レーザ１からの出射光の偏光方向はＹ軸に
平行である。一方ディスク５からの反射光はカー効果に
より偏光面が１〜２°回転されている。しかし、その回
転量は微小であるため、ディスク５に集光される光の偏
光に対して、±４５°の偏光方位となる偏光成分を検出
し、その差動信号を検出するのが好ましい。
【００３３】したがって、図４に示すように光導波路素
子１１をＹ軸に対して４５°傾けて配置すると、光導波
路素子１１のＴＥ光およびＴＭ光は、半導体レーザ１か
ら出射される光の偏光方位に対して±４５°の方位の偏
光成分に対応するようになり、ＳＮ比の高い再生信号が
得られる。
子１１をＹ軸に対して４５°傾けて配置すると、光導波
路素子１１のＴＥ光およびＴＭ光は、半導体レーザ１か
ら出射される光の偏光方位に対して±４５°の方位の偏
光成分に対応するようになり、ＳＮ比の高い再生信号が
得られる。
【００３４】本発明による光ピックアップでは、図１に
示されるように、ステム１５に半導体レーザ１，フォト
ダイオード１０，光導波路素子１１を所定の位置に固定
し、キャップ１６を被せた後、グレーティング６，ビー
ムスプリッタ１３，ホログラム７を順次位置調整し固定
する。この際、図３に示すように、ビームスプリッタ１
３のＸ軸まわりおよびＺ軸まわりに回転させて、ディス
クからの反射光と光導波路素子１１の位置を合わせる
が、Ｘ軸まわりには支点がないので調整軸や手順が複雑
になる。そこで、図５に示すように、ビームスプリッタ
１３を円柱状部材を介してグレーティング６の壁面に接
触させれば、Ｘ軸まわりに容易に回転できるようにな
る。円柱状部材としては、たとえば、真円度が高く安価
な光ファイバなどが良い。
示されるように、ステム１５に半導体レーザ１，フォト
ダイオード１０，光導波路素子１１を所定の位置に固定
し、キャップ１６を被せた後、グレーティング６，ビー
ムスプリッタ１３，ホログラム７を順次位置調整し固定
する。この際、図３に示すように、ビームスプリッタ１
３のＸ軸まわりおよびＺ軸まわりに回転させて、ディス
クからの反射光と光導波路素子１１の位置を合わせる
が、Ｘ軸まわりには支点がないので調整軸や手順が複雑
になる。そこで、図５に示すように、ビームスプリッタ
１３を円柱状部材を介してグレーティング６の壁面に接
触させれば、Ｘ軸まわりに容易に回転できるようにな
る。円柱状部材としては、たとえば、真円度が高く安価
な光ファイバなどが良い。
【００３５】
【発明の効果】ホログラムと光源との間に第１の反射面
を配置することにより、パッケージ内での光導波路素子
の配置の自由度が高まり、マイクロレンズなしでディス
クからの反射光を光導波路素子に導くことが可能にな
る。
を配置することにより、パッケージ内での光導波路素子
の配置の自由度が高まり、マイクロレンズなしでディス
クからの反射光を光導波路素子に導くことが可能にな
る。
【００３６】第２の反射面を、第１の反射面と平行に配
置し、ディスクからの反射光を偏光検出手段に導く構成
とすることにより、調整が容易な光ピックアップを提供
することができる。
置し、ディスクからの反射光を偏光検出手段に導く構成
とすることにより、調整が容易な光ピックアップを提供
することができる。
【００３７】偏光検出手段として、光導波路素子を用い
ることにより、光学系の一部と電子回路が集積でき、ピ
ックアップの小型，軽量化と低価格化が可能になる。
ることにより、光学系の一部と電子回路が集積でき、ピ
ックアップの小型，軽量化と低価格化が可能になる。
【００３８】ビームスプリッタを平行四辺形状の部材を
台形状の部材で挟む構成とすることにより、ビームスプ
リッタが効率良く作製できる。また、グレーティングお
よびホログラムとを容易に積み重ねて組立てることがで
きる。さらに第１および第２の反射面が台形状の部材で
保護されているので、組立あるいは使用時において反射
面が汚染され光学特性が劣化することがない。
台形状の部材で挟む構成とすることにより、ビームスプ
リッタが効率良く作製できる。また、グレーティングお
よびホログラムとを容易に積み重ねて組立てることがで
きる。さらに第１および第２の反射面が台形状の部材で
保護されているので、組立あるいは使用時において反射
面が汚染され光学特性が劣化することがない。
【００３９】光源とホログラムの間に、光源からの光束
を少なくとも３つの光束に分解する光分波手段を配置す
ることにより、トレース性の安定な３ビーム法でトラッ
キング信号を検出できるようになる。また、光分波手段
を、光源からの光束と、トラッキング用ビームとメイン
ビームの反射光が重なり合わないように、光源と第１の
反射面との間にグレーティングを配置することができ
る。
を少なくとも３つの光束に分解する光分波手段を配置す
ることにより、トレース性の安定な３ビーム法でトラッ
キング信号を検出できるようになる。また、光分波手段
を、光源からの光束と、トラッキング用ビームとメイン
ビームの反射光が重なり合わないように、光源と第１の
反射面との間にグレーティングを配置することができ
る。
【００４０】光導波路素子をくさび状ブロックを介して
ステムに接着固定する構造とすることにより、光導波路
素子の３次元の位置調整が容易に行なえる。また、くさ
び状ブロックを光透過性の材質とすることにより、光硬
化性接着剤の使用が可能となり、調整時間の確保と光導
波路素子への熱的ダメージの回避が両立できる。また、
材質をガラスあるいは樹脂とすることにより光導波路素
子を光源や光検出手段から電気的に絶縁できるので、ピ
ックアップに接続する電気回路の設計の自由度が大きく
なり、同時に他の回路の影響を受けにくくなるので、Ｓ
Ｎ比の良い再生情報信号が得られる。
ステムに接着固定する構造とすることにより、光導波路
素子の３次元の位置調整が容易に行なえる。また、くさ
び状ブロックを光透過性の材質とすることにより、光硬
化性接着剤の使用が可能となり、調整時間の確保と光導
波路素子への熱的ダメージの回避が両立できる。また、
材質をガラスあるいは樹脂とすることにより光導波路素
子を光源や光検出手段から電気的に絶縁できるので、ピ
ックアップに接続する電気回路の設計の自由度が大きく
なり、同時に他の回路の影響を受けにくくなるので、Ｓ
Ｎ比の良い再生情報信号が得られる。
【００４１】パッケージを気密封止することにより、光
導波路素子を固定する接着剤が吸湿，膨潤して光導波路
素子とディスクからの反射光の相対位置が変化し、出力
が低下することを抑制できる。光分波手段とビームスプ
リッタの間に円柱状の部材を配置することにより、ビー
ムスプリッタの傾き調整が容易になる。
導波路素子を固定する接着剤が吸湿，膨潤して光導波路
素子とディスクからの反射光の相対位置が変化し、出力
が低下することを抑制できる。光分波手段とビームスプ
リッタの間に円柱状の部材を配置することにより、ビー
ムスプリッタの傾き調整が容易になる。
【図１】本発明による光ピックアップの実施の形態の一
例を示す平面図である。
例を示す平面図である。
【図２】本発明による光ピックアップの実施の形態の一
例を示す側面図である。
例を示す側面図である。
【図３】本発明による光ピックアップの調整法の説明図
である。
である。
【図４】本発明による光ピックアップの実施の形態の一
例のパッケージ内を示す平面図である。
例のパッケージ内を示す平面図である。
【図５】本発明による光ピックアップの他の実施の形態
の一例を示す平面図である。
の一例を示す平面図である。
【図６】本発明による光ピックアップの実施の形態の一
例に適用される光導波路素子の斜視図である。
例に適用される光導波路素子の斜視図である。
【図７】従来の光ピックアップを示す平面図である。
【図８】従来の光ピックアップに適用される光導波路素
子の一例の側面図である。
子の一例の側面図である。
【図９】従来の光ピックアップに適用される光導波路素
子の一例の平面図である。
子の一例の平面図である。
【図１０】従来の光ピックアップによる光学調整法の説
明図である。
明図である。
１ 半導体レーザ ２ コリメートレンズ ３ ４５°ミラー ４ 対物レンズ ５ ディスク ６ グレーティング ７ ホログラム ８ 第１の反射面 ９ 第２の反射面 １０ 光検出器 １１ 光導波路素子 １２ ブロック １３ ビームスプリッタ １８ パッケージ
Claims (6)
- 【請求項１】 光源と、 光源から放射される光束を光記録媒体上に集光する集光
手段と、 光源から集光手段に至る光路上に配置された光源からの
光束を分波する光分波手段と、 光分波手段の集光手段側の光路の途中に配置された光記
録媒体からの反射光の一部を回折させる回折手段と、 光分波手段と回折手段との間に配置されたビームスプリ
ッタと、 ビームスプリッタを通過してきた回折された反射光を検
出する光検出手段と、 ビームスプリッタを通過してきた記録媒体からの反射光
の偏光面の回転を検出する偏光検出手段とを有し、 ビームスプリッタは、光源からの光束を透過させ、か
つ、回折手段を通過した記録媒体からの反射光の一部を
光分波手段と干渉しない方向に透過させ、回折手段を通
過した反射光の他の部分を反射させる第１の反射面と、
第１の反射面からの反射光を偏光検出手段の方向に反射
させる第２の反射面とを有することを特徴とする光ピッ
クアップ。 - 【請求項２】 ビームスプリッタは、断面が平行四辺形
状の部材と、これを挟む台形状の部材からなり、第１の
反射面と第２の反射面は断面が平行四辺形状の部材の相
対する２面で形成されていることを特徴とする請求項１
記載の光ピックアップ。 - 【請求項３】 偏光検出手段が光導波路素子であること
を特徴とする請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項４】 光源と、光検出器と、偏光検出手段が、
同一のパッケージ内に配置され気密封止されていること
を特徴とする請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項５】 偏光検出手段が光導波路素子であって、
該光導波路素子は光透過性の材料からなるくさび状のブ
ロックを介してパッケージに接着固定されていることを
特徴とする請求項４記載の光ピックアップ。 - 【請求項６】 ビームスプリッタは円柱状部材を介して
光路に対する角度を変更できるように光分波手段の壁面
に接触させることを特徴とする請求項１記載の光ピック
アップ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9040517A JPH10241199A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 光ピックアップ |
| KR1019980005722A KR100277157B1 (ko) | 1997-02-25 | 1998-02-24 | 광학계가 집적화된 광 픽업 |
| EP98103214A EP0860818B1 (en) | 1997-02-25 | 1998-02-24 | Optical pickup integrated with optical system |
| US09/028,334 US6201228B1 (en) | 1997-02-25 | 1998-02-24 | Optical pickup integrated with optical system |
| DE69830015T DE69830015T2 (de) | 1997-02-25 | 1998-02-24 | Optischer Aufnehmer mit integriert-optischem System |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9040517A JPH10241199A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 光ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10241199A true JPH10241199A (ja) | 1998-09-11 |
Family
ID=12582717
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9040517A Pending JPH10241199A (ja) | 1997-02-25 | 1997-02-25 | 光ピックアップ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6201228B1 (ja) |
| EP (1) | EP0860818B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10241199A (ja) |
| KR (1) | KR100277157B1 (ja) |
| DE (1) | DE69830015T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6310527B1 (en) * | 1997-12-26 | 2001-10-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multi-layer circuit board including reactance element and a method of trimming a reactance element in a circuit board |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3659089B2 (ja) * | 1999-10-25 | 2005-06-15 | 株式会社日立製作所 | 光ヘッド及びそれを用いた光学的情報媒体記録再生装置 |
| TW468170B (en) * | 2000-05-08 | 2001-12-11 | Ind Tech Res Inst | Multiple beam holographic optical pickup head |
| US7145844B2 (en) * | 2002-07-22 | 2006-12-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head with adjustable beam shaping element |
| JP2007103775A (ja) | 2005-10-06 | 2007-04-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 可変抵抗器 |
| US8024748B1 (en) | 2009-09-09 | 2011-09-20 | Western Digital Technologies, Inc. | Method and system for coupling a laser with a slider in an energy assisted magnetic recording disk drive |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05135420A (ja) | 1991-11-13 | 1993-06-01 | Sharp Corp | 光磁気記録再生装置における光ピツクアツプ装置 |
| JP2638403B2 (ja) | 1992-07-30 | 1997-08-06 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップ |
| JPH06111334A (ja) * | 1992-09-24 | 1994-04-22 | Sony Corp | 円盤状記録媒体用の記録及び／又は再生装置、光検出器及び光ヘッド |
| JP3335212B2 (ja) | 1993-04-07 | 2002-10-15 | オリンパス光学工業株式会社 | 光ヘッド |
| JP3319094B2 (ja) | 1993-11-09 | 2002-08-26 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップ及び光ガイド部材 |
| JP3029541B2 (ja) | 1994-12-19 | 2000-04-04 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JPH08287511A (ja) | 1995-04-18 | 1996-11-01 | Sony Corp | 光ピックアップ装置及び光検出装置 |
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| US6310527B1 (en) * | 1997-12-26 | 2001-10-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multi-layer circuit board including reactance element and a method of trimming a reactance element in a circuit board |
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