JPH10229100A - ワイヤボンディング方法及びプラスティックパッケージの製造方法 - Google Patents
ワイヤボンディング方法及びプラスティックパッケージの製造方法Info
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- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 作業性、接続信頼性及びコスト性に優れたワ
イヤボンディング方法を提供すること。 【解決手段】 電子部品搭載装置1側の端子10上にボ
ールボンディング法を利用してバンプ12を形成する。
その後、電子部品8側の端子11とバンプ12とをボン
ディングワイヤ13を介して接続する。
イヤボンディング方法を提供すること。 【解決手段】 電子部品搭載装置1側の端子10上にボ
ールボンディング法を利用してバンプ12を形成する。
その後、電子部品8側の端子11とバンプ12とをボン
ディングワイヤ13を介して接続する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤボンディン
グ方法及びそれを利用したプラスティックパッケージの
製造方法に関するものである。
グ方法及びそれを利用したプラスティックパッケージの
製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図10には、半導体チップ32を搭載す
る前の状態のプラスティックパッケージ31が示されて
いる。この種のパッケージ31は、インナーリード3
3、アウターリード34及びアイランド35を備えるリ
ードフレーム36を、モールド樹脂37で部分的にトラ
ンスファモールドした構成となっている。また、モール
ド樹脂37には、半導体チップ32を収容するためのキ
ャビティ38が形成されている。キャビティ38の底面
中央部にはアイランド35が位置し、キャビティ38の
底面周辺部にはインナーリード33の内端部が位置して
いる。なお、このキャビティ38は、トランスファモー
ルド工程の際に同時に形成される。
る前の状態のプラスティックパッケージ31が示されて
いる。この種のパッケージ31は、インナーリード3
3、アウターリード34及びアイランド35を備えるリ
ードフレーム36を、モールド樹脂37で部分的にトラ
ンスファモールドした構成となっている。また、モール
ド樹脂37には、半導体チップ32を収容するためのキ
ャビティ38が形成されている。キャビティ38の底面
中央部にはアイランド35が位置し、キャビティ38の
底面周辺部にはインナーリード33の内端部が位置して
いる。なお、このキャビティ38は、トランスファモー
ルド工程の際に同時に形成される。
【0003】このようなプラスティックパッケージ31
は、例えば次のような手順で製造される場合がある。ま
ず、最初にトランスファモールド工程を行うことによ
り、リードフレーム36の所定部分を封止しかつキャビ
ティ38を形成する。次いで、アイランド35上に、半
導体チップ32をダイボンドする。さらに、半導体チッ
プ32側のパッド39を一次側としかつインナーリード
33のパッド部40を二次側として、ワイヤボンダによ
りワイヤボンディングを行う。すると、図11に示され
るように、ボンディングワイヤ41を介してパッド39
とパッド部40とが接続され、パッケージ31が完成す
るようになっている。
は、例えば次のような手順で製造される場合がある。ま
ず、最初にトランスファモールド工程を行うことによ
り、リードフレーム36の所定部分を封止しかつキャビ
ティ38を形成する。次いで、アイランド35上に、半
導体チップ32をダイボンドする。さらに、半導体チッ
プ32側のパッド39を一次側としかつインナーリード
33のパッド部40を二次側として、ワイヤボンダによ
りワイヤボンディングを行う。すると、図11に示され
るように、ボンディングワイヤ41を介してパッド39
とパッド部40とが接続され、パッケージ31が完成す
るようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来方法で
は、キャビティ38内に薄皮状の樹脂バリが生じやす
く、その樹脂バリがインナーリード33のパッド部40
の表面に付着することがある。すると、パッド部40が
部分的に絶縁されてしまい、通常のウェッジボンディン
グ法ではボンディングワイヤ41の二次側端を確実に接
合できず、接続信頼性が低下するという問題があった。
また、接続信頼性を向上させるべくワイヤボンディング
時の温度を高く設定しようとしても、モールド樹脂37
が熱変形するおそれがあった。
は、キャビティ38内に薄皮状の樹脂バリが生じやす
く、その樹脂バリがインナーリード33のパッド部40
の表面に付着することがある。すると、パッド部40が
部分的に絶縁されてしまい、通常のウェッジボンディン
グ法ではボンディングワイヤ41の二次側端を確実に接
合できず、接続信頼性が低下するという問題があった。
また、接続信頼性を向上させるべくワイヤボンディング
時の温度を高く設定しようとしても、モールド樹脂37
が熱変形するおそれがあった。
【0005】従って、上記の問題を回避するためには、
バリ取り作業を実施する必要があった。しかしながら、
この場合には工数の増加が必至であるため、作業性の悪
化が避けられなかった。また、専用のバリ取り装置が必
要となることで、製造コストが高くなるという問題もあ
った。
バリ取り作業を実施する必要があった。しかしながら、
この場合には工数の増加が必至であるため、作業性の悪
化が避けられなかった。また、専用のバリ取り装置が必
要となることで、製造コストが高くなるという問題もあ
った。
【0006】本発明は上記の課題に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、作業性、接続信頼性及びコスト性
に優れたワイヤボンディング方法を提供することにあ
る。また、本発明の別の目的は、外観の悪化等を伴うこ
となく信頼性の高いプラスティックパッケージを製造で
きる方法を提供することにある。
であり、その目的は、作業性、接続信頼性及びコスト性
に優れたワイヤボンディング方法を提供することにあ
る。また、本発明の別の目的は、外観の悪化等を伴うこ
となく信頼性の高いプラスティックパッケージを製造で
きる方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項1に記載の発明では、電子部品搭載装置側
の端子上にボールボンディング法を利用してバンプを形
成した後、電子部品側の端子と前記バンプとをボンディ
ングワイヤを介して接続することを特徴としたワイヤボ
ンディング方法をその要旨とする。
めに、請求項1に記載の発明では、電子部品搭載装置側
の端子上にボールボンディング法を利用してバンプを形
成した後、電子部品側の端子と前記バンプとをボンディ
ングワイヤを介して接続することを特徴としたワイヤボ
ンディング方法をその要旨とする。
【0008】請求項2に記載の発明では、電子部品側の
端子と電子部品搭載装置側の端子とをボンディングワイ
ヤを介して接続するワイヤボンディング方法において、
前記電子部品搭載装置側の端子上にキャピラリか吐出さ
れるボンディングワイヤをボールボンディング法により
圧着するバンプ圧着工程と、前記キャピラリの移動によ
って前記ボンディングワイヤを引きちぎることにより、
前記電子部品搭載装置側の端子上にバンプを形成するバ
ンプ分離工程と、同キャピラリを前記電子部品側の端子
の位置に移動させるとともに、同電子部品側の端子上に
前記ボンディングワイヤをボールボンディング法により
圧着するファーストボンド工程と、前記ボンディングワ
イヤを引きちぎることなく前記キャピラリを前記バンプ
の形成位置まで移動させ、かつそのバンプに対して前記
ボンディングワイヤをウェッジボンディング法により圧
着するセカンドボンド工程とを含むことを特徴とするワ
イヤボンディング方法をその要旨とした。
端子と電子部品搭載装置側の端子とをボンディングワイ
ヤを介して接続するワイヤボンディング方法において、
前記電子部品搭載装置側の端子上にキャピラリか吐出さ
れるボンディングワイヤをボールボンディング法により
圧着するバンプ圧着工程と、前記キャピラリの移動によ
って前記ボンディングワイヤを引きちぎることにより、
前記電子部品搭載装置側の端子上にバンプを形成するバ
ンプ分離工程と、同キャピラリを前記電子部品側の端子
の位置に移動させるとともに、同電子部品側の端子上に
前記ボンディングワイヤをボールボンディング法により
圧着するファーストボンド工程と、前記ボンディングワ
イヤを引きちぎることなく前記キャピラリを前記バンプ
の形成位置まで移動させ、かつそのバンプに対して前記
ボンディングワイヤをウェッジボンディング法により圧
着するセカンドボンド工程とを含むことを特徴とするワ
イヤボンディング方法をその要旨とした。
【0009】請求項3に記載の発明では、樹脂材料を用
いてリードフレームの所定部分をトランスファモールド
しかつ同時に半導体チップを収容するためのキャビティ
を形成する工程と、前記リードフレームのアイランドに
前記半導体チップをダイボンドする工程と、前記リード
フレームのインナーリードと前記半導体チップのパッド
とを請求項1または2の方法によりワイヤボンディング
する工程とからなるプラスティックパッケージの製造方
法をその要旨とした。
いてリードフレームの所定部分をトランスファモールド
しかつ同時に半導体チップを収容するためのキャビティ
を形成する工程と、前記リードフレームのアイランドに
前記半導体チップをダイボンドする工程と、前記リード
フレームのインナーリードと前記半導体チップのパッド
とを請求項1または2の方法によりワイヤボンディング
する工程とからなるプラスティックパッケージの製造方
法をその要旨とした。
【0010】以下、本発明の「作用」を説明する。その
前に、ボールボンディング法とウェッジボンディング法
とを比較する。図9(a)はボールボンディング法によ
るボンディングワイヤW1 の接合部位の様子を示し、図
9(b)はウェッジボンディング法によるボンディング
ワイヤW1の接合部位の様子を示している。図中、T1
は金属からなる端子である。
前に、ボールボンディング法とウェッジボンディング法
とを比較する。図9(a)はボールボンディング法によ
るボンディングワイヤW1 の接合部位の様子を示し、図
9(b)はウェッジボンディング法によるボンディング
ワイヤW1の接合部位の様子を示している。図中、T1
は金属からなる端子である。
【0011】同一条件下でワイヤボンディングを実施し
た場合、ボールボンディング法とウェッジボンディング
法とでは、いわゆる「形状効果」により、前者において
金属すべりが起こりやすい。即ち、図9(a)に示され
たポイントP1 と、図9(b)に示されたポイントP2
とを比較すると、P1 のほうに加わる圧力のほうが大き
いからである。そして、この圧力が大きいと金属すべり
も大きくなり、かつ金属部材間の結合も促進される。従
って、端子T1 上に薄皮状の樹脂バリなどという異物が
あったとしても、それによって金属すべりがストップす
ることはない。つまり、金属すべりはその異物を迂回し
て進行し、相手側金属である端子T1 と強固に結合する
ことができる。
た場合、ボールボンディング法とウェッジボンディング
法とでは、いわゆる「形状効果」により、前者において
金属すべりが起こりやすい。即ち、図9(a)に示され
たポイントP1 と、図9(b)に示されたポイントP2
とを比較すると、P1 のほうに加わる圧力のほうが大き
いからである。そして、この圧力が大きいと金属すべり
も大きくなり、かつ金属部材間の結合も促進される。従
って、端子T1 上に薄皮状の樹脂バリなどという異物が
あったとしても、それによって金属すべりがストップす
ることはない。つまり、金属すべりはその異物を迂回し
て進行し、相手側金属である端子T1 と強固に結合する
ことができる。
【0012】従って、請求項1,2に記載の発明による
と、かかるボールボンディング法によりあらかじめバン
プを形成し、そのバンプに対してボンディングワイヤを
接合することにより、電子部品側と電子部品搭載装置側
とが確実に接続される。よって、高い接続信頼性が確保
される。また、この方法であるとバリ取りが不要になる
ため、工数が増加することもなく、作業性の向上が図ら
れる。さらに、専用のバリ取り装置も不要となるため、
製造コストの高騰を回避することができる。また、この
方法であると、金属すべりが充分に起こることから、ワ
イヤボンディング時の温度の設定を高くする必要がない
という利点がある。
と、かかるボールボンディング法によりあらかじめバン
プを形成し、そのバンプに対してボンディングワイヤを
接合することにより、電子部品側と電子部品搭載装置側
とが確実に接続される。よって、高い接続信頼性が確保
される。また、この方法であるとバリ取りが不要になる
ため、工数が増加することもなく、作業性の向上が図ら
れる。さらに、専用のバリ取り装置も不要となるため、
製造コストの高騰を回避することができる。また、この
方法であると、金属すべりが充分に起こることから、ワ
イヤボンディング時の温度の設定を高くする必要がない
という利点がある。
【0013】特に請求項2に記載の発明によると、バン
プ圧着工程及びバンプ分離工程を経ることにより、電子
部品搭載装置側の端子上にあらかじめバンプが形成され
る。続くファーストボンド工程では、同じキャピラリに
よってボンディングワイヤの一次側端が電子部品側の端
子上に接合される。さらに、セカンドボンド工程では、
そのキャピラリの移動によってループが形成されるとと
もに、ボンディングワイヤの二次側端がバンプ上に接合
される。以上の結果、電子部品側の端子と電子部品搭載
装置側の端子とが、ボンディングワイヤ及びバンプを介
して確実に接続される。
プ圧着工程及びバンプ分離工程を経ることにより、電子
部品搭載装置側の端子上にあらかじめバンプが形成され
る。続くファーストボンド工程では、同じキャピラリに
よってボンディングワイヤの一次側端が電子部品側の端
子上に接合される。さらに、セカンドボンド工程では、
そのキャピラリの移動によってループが形成されるとと
もに、ボンディングワイヤの二次側端がバンプ上に接合
される。以上の結果、電子部品側の端子と電子部品搭載
装置側の端子とが、ボンディングワイヤ及びバンプを介
して確実に接続される。
【0014】ここで本発明の方法では、同じキャピラリ
を用いて一連の工程を実施していることから、基本的に
は既存のワイヤボンダの利用が可能である。従って、別
に新たなバンプ形成装置が必要となるわけではなく、低
コスト化にとって有利である。また、同じキャピラリを
用いているため作業効率も向上する。さらに、同じキャ
ピラリから吐出されるボンディングワイヤは材質も同一
であるため、ボンディングワイヤの二次側端とバンプと
の結合もより強固なものとなる。ゆえに、接続信頼性が
よりいっそう向上する。
を用いて一連の工程を実施していることから、基本的に
は既存のワイヤボンダの利用が可能である。従って、別
に新たなバンプ形成装置が必要となるわけではなく、低
コスト化にとって有利である。また、同じキャピラリを
用いているため作業効率も向上する。さらに、同じキャ
ピラリから吐出されるボンディングワイヤは材質も同一
であるため、ボンディングワイヤの二次側端とバンプと
の結合もより強固なものとなる。ゆえに、接続信頼性が
よりいっそう向上する。
【0015】請求項3に記載の発明によると、上記の優
れたワイヤボンディング方法を採用したことから、ワイ
ヤボンディング時の温度設定を高くする必要がなくな
る。そのため、モールド樹脂の熱変形が回避され、パッ
ケージの外観の悪化や歩留まり低下が確実に防止され
る。
れたワイヤボンディング方法を採用したことから、ワイ
ヤボンディング時の温度設定を高くする必要がなくな
る。そのため、モールド樹脂の熱変形が回避され、パッ
ケージの外観の悪化や歩留まり低下が確実に防止され
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明をプラスティックパ
ッケージ1の製造方法に具体化した一実施の形態を図1
〜図8に基づき詳細に説明する。
ッケージ1の製造方法に具体化した一実施の形態を図1
〜図8に基づき詳細に説明する。
【0017】図1に示されるように、本実施形態のプラ
スティックパッケージ1は、2つの側面からアウターリ
ード4を突出させた、いわゆるDIP(Double Inline
Package )タイプのパッケージ1である。
スティックパッケージ1は、2つの側面からアウターリ
ード4を突出させた、いわゆるDIP(Double Inline
Package )タイプのパッケージ1である。
【0018】このパッケージ1を構成するリードフレー
ム2は導電性金属からなり、インナーリード3、アウタ
ーリード4及びアイランド5を同一面内に備えている。
インナーリード3及びアウターリード4はそれぞれ複数
個形成されている。アウターリード4は、パッケージ1
を構成するモールド樹脂6の2つの側面から突出してい
る。これらのアウターリード4は、パッケージ1の下面
側に向かって直角に屈曲している。
ム2は導電性金属からなり、インナーリード3、アウタ
ーリード4及びアイランド5を同一面内に備えている。
インナーリード3及びアウターリード4はそれぞれ複数
個形成されている。アウターリード4は、パッケージ1
を構成するモールド樹脂6の2つの側面から突出してい
る。これらのアウターリード4は、パッケージ1の下面
側に向かって直角に屈曲している。
【0019】モールド樹脂6の上面には、半導体チップ
8を収容するためのキャビティ9が形成されている。な
お、このようなキャビティ9は、トランスファモールド
工程の際に同時に形成される。キャビティ9の底面中央
部にはアイランド5が位置し、キャビティ9の底面周辺
部にはインナーリード3の内端部(即ちパッド部10)
が位置している。なお、このキャビティ9は、トランス
ファモールド工程の際に同時に形成される。また、前記
パッド部10には、ニッケル−金めっき等が施されてい
る。
8を収容するためのキャビティ9が形成されている。な
お、このようなキャビティ9は、トランスファモールド
工程の際に同時に形成される。キャビティ9の底面中央
部にはアイランド5が位置し、キャビティ9の底面周辺
部にはインナーリード3の内端部(即ちパッド部10)
が位置している。なお、このキャビティ9は、トランス
ファモールド工程の際に同時に形成される。また、前記
パッド部10には、ニッケル−金めっき等が施されてい
る。
【0020】キャビティ9内にあるアイランド5上に
は、図示しない接着剤によって、電子部品としての半導
体チップ8がダイボンドされている。半導体チップ8
は、電子部品搭載装置側の端子としてのパッド11を複
数個備えている。前記パッド11は、半導体チップ8の
上面外縁部に形成されている。
は、図示しない接着剤によって、電子部品としての半導
体チップ8がダイボンドされている。半導体チップ8
は、電子部品搭載装置側の端子としてのパッド11を複
数個備えている。前記パッド11は、半導体チップ8の
上面外縁部に形成されている。
【0021】半導体搭載装置側であるパッケージ1側に
おいて、インナーリード3のパッド部10上には、バン
プ12が形成されている。このバンプ12はボールボン
ディング法を利用して形成されたものであって、ボンデ
ィングワイヤとしての金ワイヤ13をその形成材料とす
る。また、半導体チップ8上の各パッド11と各バンプ
12とは、それぞれ金ワイヤ13を介して接続されてい
る。なお、金ワイヤ13の一次側端13aは、パッド1
1の上面にボールボンディング法により接合されてい
る。一方、金ワイヤ13の二次側端13bは、ウェッジ
ボンディング法によりバンプ12の上面に接合されてい
る。従って、金ワイヤ13を介して半導体チップ8側と
パッケージ1側が電気的に接続されている。
おいて、インナーリード3のパッド部10上には、バン
プ12が形成されている。このバンプ12はボールボン
ディング法を利用して形成されたものであって、ボンデ
ィングワイヤとしての金ワイヤ13をその形成材料とす
る。また、半導体チップ8上の各パッド11と各バンプ
12とは、それぞれ金ワイヤ13を介して接続されてい
る。なお、金ワイヤ13の一次側端13aは、パッド1
1の上面にボールボンディング法により接合されてい
る。一方、金ワイヤ13の二次側端13bは、ウェッジ
ボンディング法によりバンプ12の上面に接合されてい
る。従って、金ワイヤ13を介して半導体チップ8側と
パッケージ1側が電気的に接続されている。
【0022】次に、本実施形態のプラスティックパッケ
ージ1を製造する手順の一例を、図3〜図8に基づいて
説明する。まず、熱硬化性エポキシ樹脂等の樹脂材料を
用いて、リードフレーム2の所定部分をトランスファモ
ールドする。このようなモールド工程では、モールド金
型により同時にキャビティ9も形成される。その際、図
2に示されるように薄皮状の樹脂バリ14が生じること
もある。
ージ1を製造する手順の一例を、図3〜図8に基づいて
説明する。まず、熱硬化性エポキシ樹脂等の樹脂材料を
用いて、リードフレーム2の所定部分をトランスファモ
ールドする。このようなモールド工程では、モールド金
型により同時にキャビティ9も形成される。その際、図
2に示されるように薄皮状の樹脂バリ14が生じること
もある。
【0023】次に行われるダイボンド工程では、リード
フレーム2のアイランド5にあらかじめ接着剤を塗布
し、ダイボンダによって半導体チップ8をアイランド5
にダイボンドする。
フレーム2のアイランド5にあらかじめ接着剤を塗布
し、ダイボンダによって半導体チップ8をアイランド5
にダイボンドする。
【0024】ダイボンド工程の後にはワイヤボンディン
グ工程が実施される。まず、そのためのワイヤボンダの
構造を簡単に説明する。ワイヤボンダはキャピラリ21
を備える。キャピラリ21には図示しないワイヤスプー
ルから引き出された金ワイヤ13が挿通されている。キ
ャピラリ21とワイヤスプールとの間には、金ワイヤ1
3を挟むための図示しないクランパが配置されている。
また、このワイヤボンダは、放電を行うための手段とし
て電気トーチ(図示略)を備えている。電気トーチは、
キャピラリ21の先端にあるワイヤ吐出口の近傍まで移
動しうるように構成されている。なお、キャピラリ21
は、図示しない駆動装置によってX,Y,Z方向に駆動
される。また、このワイヤボンダは、キャピラリ21に
超音波振動を与えるための振動付与手段(図示略)を備
えている。なお、ワイヤボンダは図示しないヒータも備
えている。前記ヒータは、ワイヤボンディング時にキャ
ピラリ21の周囲を150℃〜180℃に加熱する。な
お、このときの設定温度は、一般的なワイヤボンディン
グ時の温度(200℃〜230℃)よりも低い。
グ工程が実施される。まず、そのためのワイヤボンダの
構造を簡単に説明する。ワイヤボンダはキャピラリ21
を備える。キャピラリ21には図示しないワイヤスプー
ルから引き出された金ワイヤ13が挿通されている。キ
ャピラリ21とワイヤスプールとの間には、金ワイヤ1
3を挟むための図示しないクランパが配置されている。
また、このワイヤボンダは、放電を行うための手段とし
て電気トーチ(図示略)を備えている。電気トーチは、
キャピラリ21の先端にあるワイヤ吐出口の近傍まで移
動しうるように構成されている。なお、キャピラリ21
は、図示しない駆動装置によってX,Y,Z方向に駆動
される。また、このワイヤボンダは、キャピラリ21に
超音波振動を与えるための振動付与手段(図示略)を備
えている。なお、ワイヤボンダは図示しないヒータも備
えている。前記ヒータは、ワイヤボンディング時にキャ
ピラリ21の周囲を150℃〜180℃に加熱する。な
お、このときの設定温度は、一般的なワイヤボンディン
グ時の温度(200℃〜230℃)よりも低い。
【0025】そして、ワイヤボンディングに先立ち、ま
ず金ワイヤ13の先端をあらかじめキャピラリ21のワ
イヤ吐出口から僅かに吐出させておく。この状態で、金
ワイヤ13の先端の近傍まで電気トーチを移動し、かつ
金ワイヤ13と非接触の状態で通電を行う。すると、電
気トーチから金ワイヤ13へと電流が流れる結果、金ワ
イヤ3の先端が溶融してボール22が形成される(図3
参照)。
ず金ワイヤ13の先端をあらかじめキャピラリ21のワ
イヤ吐出口から僅かに吐出させておく。この状態で、金
ワイヤ13の先端の近傍まで電気トーチを移動し、かつ
金ワイヤ13と非接触の状態で通電を行う。すると、電
気トーチから金ワイヤ13へと電流が流れる結果、金ワ
イヤ3の先端が溶融してボール22が形成される(図3
参照)。
【0026】次のバンプ圧着工程では、キャピラリ21
を下動させることにより、前記ボール22をパッド部1
0の上面におけるバンプ形成位置に圧着する(図4参
照)。即ち、ボールボンディング法によりバンプ12が
形成される。
を下動させることにより、前記ボール22をパッド部1
0の上面におけるバンプ形成位置に圧着する(図4参
照)。即ち、ボールボンディング法によりバンプ12が
形成される。
【0027】次のバンプ分離工程では、金ワイヤ13を
クランプした状態でキャピラリ21を上動させ、金ワイ
ヤ13をあらかじめ設定された所定の長さで引きちぎる
(図5参照)。その結果、ボール22が金ワイヤ13か
ら分離され、バンプ12が形成される。
クランプした状態でキャピラリ21を上動させ、金ワイ
ヤ13をあらかじめ設定された所定の長さで引きちぎる
(図5参照)。その結果、ボール22が金ワイヤ13か
ら分離され、バンプ12が形成される。
【0028】次のファーストボンド工程では、キャピラ
リ21をパッド11側の上方位置に移動させるととも
に、上記手法により再び金ワイヤ13の先端にボール2
2を形成する。この状態でキャピラリ21を下動させ、
ボール22をパッド11上に圧着する。即ち、半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とを接続する金ワイヤ13の
一次側端13aが、ボールボンディング法により形成さ
れる(図6参照)。
リ21をパッド11側の上方位置に移動させるととも
に、上記手法により再び金ワイヤ13の先端にボール2
2を形成する。この状態でキャピラリ21を下動させ、
ボール22をパッド11上に圧着する。即ち、半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とを接続する金ワイヤ13の
一次側端13aが、ボールボンディング法により形成さ
れる(図6参照)。
【0029】次のセカンドボンド工程では、金ワイヤ1
3を引きちぎることなく、キャピラリ21をバンプ12
の形成位置まで移動させる。その結果、金ワイヤ13の
ループが形成される。さらに、バンプ12の上面に対し
て金ワイヤ13の先端を圧着する(図7参照)。この状
態でクランパを作動しかつキャピラリ21を移動させる
ことにより、金ワイヤ13を切断する。即ち、半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とを接続する金ワイヤ13の
二次側端13bが、ウェッジボンディング法により圧着
・切断される(図8参照)。
3を引きちぎることなく、キャピラリ21をバンプ12
の形成位置まで移動させる。その結果、金ワイヤ13の
ループが形成される。さらに、バンプ12の上面に対し
て金ワイヤ13の先端を圧着する(図7参照)。この状
態でクランパを作動しかつキャピラリ21を移動させる
ことにより、金ワイヤ13を切断する。即ち、半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とを接続する金ワイヤ13の
二次側端13bが、ウェッジボンディング法により圧着
・切断される(図8参照)。
【0030】このようにしてワイヤボンディング工程を
実施した後、さらにポッティング等によってキャビティ
9を全体的に封止することにより、所望のパッケージ1
が完成する。
実施した後、さらにポッティング等によってキャビティ
9を全体的に封止することにより、所望のパッケージ1
が完成する。
【0031】さて、以下に本実施形態において特徴的な
作用効果を列挙する。 (イ)このパッケージ1の製造方法では、上述したよう
に、パッド部10上にボールボンディング法を利用して
バンプ12を形成した後、半導体チップ8のパッド11
とバンプ12とを金ワイヤ13を介して接続している。
従って、バンプ12の形成時には、ボールボンディング
法における「形状効果」により、パッド部11とボール
22との間で金属すべりが起こりやすい。従って、たと
え薄皮状の樹脂バリ14がパッド部10上にあったとし
ても、それにより金属すべりがストップすることはな
い。ゆえに、バンプ12はパッド部10に対して強固に
結合し、両者12,10が確実に接合される。
作用効果を列挙する。 (イ)このパッケージ1の製造方法では、上述したよう
に、パッド部10上にボールボンディング法を利用して
バンプ12を形成した後、半導体チップ8のパッド11
とバンプ12とを金ワイヤ13を介して接続している。
従って、バンプ12の形成時には、ボールボンディング
法における「形状効果」により、パッド部11とボール
22との間で金属すべりが起こりやすい。従って、たと
え薄皮状の樹脂バリ14がパッド部10上にあったとし
ても、それにより金属すべりがストップすることはな
い。ゆえに、バンプ12はパッド部10に対して強固に
結合し、両者12,10が確実に接合される。
【0032】そして、この状態でワイヤボンディングを
実施すると、金属部分であるバンプ12の上面に金ワイ
ヤ13の二次側端13bを接合することができる。従っ
て、その金ワイヤ13及びバンプ12を介して半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とが確実に接続され、高い接
続信頼性が確保される。
実施すると、金属部分であるバンプ12の上面に金ワイ
ヤ13の二次側端13bを接合することができる。従っ
て、その金ワイヤ13及びバンプ12を介して半導体チ
ップ8側とパッケージ1側とが確実に接続され、高い接
続信頼性が確保される。
【0033】(ロ)また、本実施形態の方法であるとバ
リ取りが不要になるため、工数が増加することもなく、
作業性の向上が図られる。さらに、専用のバリ取り装置
も不要となるため、製造コストの高騰を回避することが
できる。
リ取りが不要になるため、工数が増加することもなく、
作業性の向上が図られる。さらに、専用のバリ取り装置
も不要となるため、製造コストの高騰を回避することが
できる。
【0034】(ハ)また、本実施形態の方法であると、
パッド部10とボール22との間に金属すべりが充分に
起こることから、ワイヤボンディング時の温度設定を高
くする必要がないという利点がある。従って、モールド
樹脂6の熱変形が回避され、パッケージ1の外観の悪化
や歩留まり低下が確実に防止される。
パッド部10とボール22との間に金属すべりが充分に
起こることから、ワイヤボンディング時の温度設定を高
くする必要がないという利点がある。従って、モールド
樹脂6の熱変形が回避され、パッケージ1の外観の悪化
や歩留まり低下が確実に防止される。
【0035】(ニ)さらに、本実施形態の方法では、同
じキャピラリ21を用いて一連のワイヤボンディング工
程を実施していることから、基本的には既存のワイヤボ
ンダの利用が可能である。従って、別に新たなバンプ形
成装置が必要となるわけではなく、低コスト化にとって
有利である。また、同じキャピラリ21を用いているた
め作業効率も向上する。さらに、同じキャピラリ21か
ら吐出される金ワイヤ13は材質も同一であるため、金
ワイヤ13の二次側端13bとバンプ12との結合もよ
り強固なものとなる。ゆえに、接続信頼性がよりいっそ
う向上する。
じキャピラリ21を用いて一連のワイヤボンディング工
程を実施していることから、基本的には既存のワイヤボ
ンダの利用が可能である。従って、別に新たなバンプ形
成装置が必要となるわけではなく、低コスト化にとって
有利である。また、同じキャピラリ21を用いているた
め作業効率も向上する。さらに、同じキャピラリ21か
ら吐出される金ワイヤ13は材質も同一であるため、金
ワイヤ13の二次側端13bとバンプ12との結合もよ
り強固なものとなる。ゆえに、接続信頼性がよりいっそ
う向上する。
【0036】(ホ)また、本実施形態では、ボンディン
グワイヤとして金ワイヤ13を選択している。金は軟質
かつ良導体であるため、それを使用することにより、バ
ンプ12の低抵抗化、ひいては全体の低抵抗化を図るこ
とができる。また、同じ金属種同士で接続されること
も、接続信頼性の向上に貢献している。
グワイヤとして金ワイヤ13を選択している。金は軟質
かつ良導体であるため、それを使用することにより、バ
ンプ12の低抵抗化、ひいては全体の低抵抗化を図るこ
とができる。また、同じ金属種同士で接続されること
も、接続信頼性の向上に貢献している。
【0037】なお、本発明は上記の実施形態のみに限定
されることはなく、例えば次のような形態に変更するこ
とが可能である。 ◎ 金ワイヤ13のほかにも、例えば銀ワイヤ、アルミ
ニウムワイヤ、銅ワイヤ、ニッケルワイヤ等をボンディ
ングワイヤとして選択することも許容されうる。ただ
し、上述した理由により、金ワイヤを選択することが最
も好ましい。
されることはなく、例えば次のような形態に変更するこ
とが可能である。 ◎ 金ワイヤ13のほかにも、例えば銀ワイヤ、アルミ
ニウムワイヤ、銅ワイヤ、ニッケルワイヤ等をボンディ
ングワイヤとして選択することも許容されうる。ただ
し、上述した理由により、金ワイヤを選択することが最
も好ましい。
【0038】◎ 同じキャピラリ21を用いて一連のワ
イヤボンディング工程を行う実施形態に代え、例えばバ
ンプ圧着・分離工程のための専用のキャピラリ21を、
ファーストボンド工程等のための既存のキャピラリ21
と別個に設けてもよい。
イヤボンディング工程を行う実施形態に代え、例えばバ
ンプ圧着・分離工程のための専用のキャピラリ21を、
ファーストボンド工程等のための既存のキャピラリ21
と別個に設けてもよい。
【0039】◎ 半導体チップ8のパッド11上に対し
ても、ウェッジボンディング法により一次側端13aを
圧着させることも可能である。 ここで、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほか
に、前述した実施形態によって把握される技術的思想を
その効果とともに以下に列挙する。
ても、ウェッジボンディング法により一次側端13aを
圧着させることも可能である。 ここで、特許請求の範囲に記載された技術的思想のほか
に、前述した実施形態によって把握される技術的思想を
その効果とともに以下に列挙する。
【0040】(1) 請求項1,2において、前記ボン
ディングワイヤは金ワイヤであることを特徴とするワイ
ヤボンディング方法。この方法であると、低抵抗化及び
接続信頼性の向上を図ることができる。
ディングワイヤは金ワイヤであることを特徴とするワイ
ヤボンディング方法。この方法であると、低抵抗化及び
接続信頼性の向上を図ることができる。
【0041】(2) 請求項2において、前記キャピラ
リは、ウェッジボンディング及びボールボンディングに
併用される超音波キャピラリであることを特徴とするワ
イヤボンディング方法。
リは、ウェッジボンディング及びボールボンディングに
併用される超音波キャピラリであることを特徴とするワ
イヤボンディング方法。
【0042】(3) 請求項1,2において、前記ワイ
ヤボンディングは150℃〜180℃の範囲内で行われ
ることを特徴とするワイヤボンディング方法。この方法
であると、熱に弱い部材に変形等をもたらすことがない
という利点がある。
ヤボンディングは150℃〜180℃の範囲内で行われ
ることを特徴とするワイヤボンディング方法。この方法
であると、熱に弱い部材に変形等をもたらすことがない
という利点がある。
【0043】なお、本明細書中において使用した技術用
語を次のように定義する。 「プラスティックパッケージ: SIP,SOP,DI
P,QFP,QFJ,QFL等の各種パッケージをい
う。」
語を次のように定義する。 「プラスティックパッケージ: SIP,SOP,DI
P,QFP,QFJ,QFL等の各種パッケージをい
う。」
【0044】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1,2に記
載の発明によれば、作業性、接続信頼性及びコスト性に
優れたワイヤボンディング方法を提供することができ
る。特に、請求項2に記載の発明によれば、同じキャピ
ラリを用いて一連の工程を実施しているため、接続信頼
性及びコスト性がいっそう向上するとともに、作業効率
も向上する。
載の発明によれば、作業性、接続信頼性及びコスト性に
優れたワイヤボンディング方法を提供することができ
る。特に、請求項2に記載の発明によれば、同じキャピ
ラリを用いて一連の工程を実施しているため、接続信頼
性及びコスト性がいっそう向上するとともに、作業効率
も向上する。
【0045】請求項3に記載の発明によれば、モールド
樹脂の熱変形が回避されることで、パッケージの外観の
悪化や歩留まり低下を確実に防止することができる。
樹脂の熱変形が回避されることで、パッケージの外観の
悪化や歩留まり低下を確実に防止することができる。
【図1】本発明を具体化した実施形態のプラスティック
パッケージを示す平面図。
パッケージを示す平面図。
【図2】同パッケージに半導体チップをダイボンドする
前の状態を示す平面図。
前の状態を示す平面図。
【図3】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図4】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図5】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図6】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図7】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図8】ワイヤボンディング工程を説明するための部分
概略断面図。
概略断面図。
【図9】(a)はボールボンディング法によるボンディ
ングワイヤの接合部位の様子を示す断面図、(b)はウ
ェッジボンディング法によるボンディングワイヤの接合
部位の様子を示す断面図。
ングワイヤの接合部位の様子を示す断面図、(b)はウ
ェッジボンディング法によるボンディングワイヤの接合
部位の様子を示す断面図。
【図10】ダイボンド前の従来のプラスティックパッケ
ージを示す斜視図。
ージを示す斜視図。
【図11】同パッケージにおけるワイヤボンディング工
程の問題点を説明するための部分概略断面図。
程の問題点を説明するための部分概略断面図。
1…電子部品搭載装置としてのプラスティックパッケー
ジ、2…リードフレーム、5…アイランド、8…電子部
品としての半導体チップ、9…キャビティ、10…電子
部品搭載装置側の端子としてのインナーリードのパッド
部、11…電子部品側の端子としてのパッド、12…バ
ンプ、13…ボンディングワイヤとしての金ワイヤ、2
1…キャピラリ。
ジ、2…リードフレーム、5…アイランド、8…電子部
品としての半導体チップ、9…キャビティ、10…電子
部品搭載装置側の端子としてのインナーリードのパッド
部、11…電子部品側の端子としてのパッド、12…バ
ンプ、13…ボンディングワイヤとしての金ワイヤ、2
1…キャピラリ。
Claims (3)
- 【請求項1】電子部品搭載装置側の端子上にボールボン
ディング法を利用してバンプを形成した後、電子部品側
の端子と前記バンプとをボンディングワイヤを介して接
続することを特徴としたワイヤボンディング方法。 - 【請求項2】電子部品側の端子と電子部品搭載装置側の
端子とをボンディングワイヤを介して接続するワイヤボ
ンディング方法において、 前記電子部品搭載装置側の端子上にキャピラリから吐出
されるボンディングワイヤをボールボンディング法によ
り圧着するバンプ圧着工程と、 前記キャピラリの移動によって前記ボンディングワイヤ
を引きちぎることにより、前記電子部品搭載装置側の端
子上にバンプを形成するバンプ分離工程と、 同キャピラリを前記電子部品側の端子の位置に移動させ
るとともに、同電子部品側の端子上に前記ボンディング
ワイヤをボールボンディング法により圧着するファース
トボンド工程と、 前記ボンディングワイヤを引きちぎることなく前記キャ
ピラリを前記バンプの形成位置まで移動させ、かつその
バンプに対して前記ボンディングワイヤをウェッジボン
ディング法により圧着するセカンドボンド工程とを含む
ことを特徴とするワイヤボンディング方法。 - 【請求項3】樹脂材料を用いてリードフレームの所定部
分をトランスファモールドしかつ同時に半導体チップを
収容するためのキャビティを形成する工程と、前記リー
ドフレームのアイランドに前記半導体チップをダイボン
ドする工程と、前記リードフレームのインナーリードと
前記半導体チップのパッドとを請求項1または2の方法
によりワイヤボンディングする工程とからなるプラステ
ィックパッケージの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3191897A JPH10229100A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | ワイヤボンディング方法及びプラスティックパッケージの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3191897A JPH10229100A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | ワイヤボンディング方法及びプラスティックパッケージの製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10229100A true JPH10229100A (ja) | 1998-08-25 |
Family
ID=12344366
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3191897A Pending JPH10229100A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | ワイヤボンディング方法及びプラスティックパッケージの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10229100A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2853135A1 (fr) * | 2003-03-28 | 2004-10-01 | Denso Corp | Dispositif a semiconducteur et procede de soudage de fil pour un dispositif a semiconducteur |
WO2006095805A1 (ja) * | 2005-03-09 | 2006-09-14 | Hitachi Kyowa Engineering Co., Ltd. | 電子回路およびその製造方法 |
JP2007234960A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Epson Toyocom Corp | 電子デバイスおよびその製造方法 |
US7285854B2 (en) | 2004-03-18 | 2007-10-23 | Denso Corporation | Wire bonding method and semiconductor device |
US8174104B2 (en) * | 2008-06-09 | 2012-05-08 | Micronas Gmbh | Semiconductor arrangement having specially fashioned bond wires |
JP2013251477A (ja) * | 2012-06-04 | 2013-12-12 | Rohm Co Ltd | ワイヤボンディング構造および半導体装置 |
WO2014083805A1 (ja) * | 2012-11-28 | 2014-06-05 | パナソニック株式会社 | 半導体装置およびワイヤボンディング配線方法 |
-
1997
- 1997-02-17 JP JP3191897A patent/JPH10229100A/ja active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP4558539B2 (ja) * | 2005-03-09 | 2010-10-06 | 日立協和エンジニアリング株式会社 | 電子回路用基板、電子回路、電子回路用基板の製造方法および電子回路の製造方法 |
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