JPH10219372A - 電気、電子部品用銅合金とその製造方法 - Google Patents

電気、電子部品用銅合金とその製造方法

Info

Publication number
JPH10219372A
JPH10219372A JP3848397A JP3848397A JPH10219372A JP H10219372 A JPH10219372 A JP H10219372A JP 3848397 A JP3848397 A JP 3848397A JP 3848397 A JP3848397 A JP 3848397A JP H10219372 A JPH10219372 A JP H10219372A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
weight
copper alloy
less
electric
electronic parts
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3848397A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3904118B2 (ja
Inventor
Hiroshi Arai
浩史 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
Priority to JP03848397A priority Critical patent/JP3904118B2/ja
Publication of JPH10219372A publication Critical patent/JPH10219372A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3904118B2 publication Critical patent/JP3904118B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高強度、高導電性を備え、ばね限界値、応力
緩和特性、金型摩耗性、耐マイグレーション性に優れる
電気、電子部品用銅合金を得る。 【解決手段】 Mg:0.05〜1.5重量%、Zn:
0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.1重
量%、Pb:0.0005〜0.015重量%、S:
0.05重量%以下を含有し、さらに必要に応じてS
n:0.005〜1.0重量%、Cr:0.001〜
0.5重量%、Mn:0.01〜0.5重量%のうちい
ずれか1種又は2種以上を合計で1重量%以下含有し、
残部がCu及び不可避的不純物からなり、結晶粒径が2
0μm以下とされた銅合金。最終冷間加工後又は最終冷
間加工したものを電気、電子部品に成形後、100〜4
50℃の温度で10秒〜5時間加熱することで、ばね限
界値及び応力緩和特性が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、端子、コネクタ又
は半導体用リードフレームなどの電気、電子部品に用い
られる銅合金に関し、特に、高強度、高導電性を備え、
さらに、ばね限界値、応力緩和特性、金型摩耗性、耐マ
イグレーション性に優れる電気、電子部品用銅合金に関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、高強度、高導電性を必要とする電
気、電子部品用銅合金としては、Cu−Mg、Cu−S
n−P等の銅合金が用いられてきた。一方、近年、民生
用・産業用電気機器及び自動車等に搭載されている電
気、電子部品は急速に小型化が進んでおり、使用環境も
厳しくなっている。たとえば、自動車用電気部品(特に
エンジン回り品)等は、使用中の温度が約150℃以上
に達することがあり、これらの部品に使用される銅合金
の端子、コネクター部品に対しては、高温での強度、特
にばね特性の維持や応力緩和特性の向上が強く要求され
ている。
【0003】さらに、これらの部品を実装する配線回路
(ブスバー平面板、プリント配線板)もその影響を受け
て高密度化、多層化となるため、リード間隔は狭くな
り、従来の材料では金属の電気化学的なマイグレーショ
ンが生じて絶縁性が低下する問題が起きている。即ち、
電極間に結露等が起こると金属元素がイオン化し、この
イオン化した金属元素がクーロンフォースにより陰極に
移動して析出し、めっき(電析)と同じように陰極から
樹脂状に金属結晶が成長して陽極側まで達し短絡する現
象である。
【0004】また、これらの電子、電気部品は多くの場
合、銅合金板材からプレス打抜き(スタンピング加工)
成型される。最近、プレス打抜き製品の品質要求及びそ
の生産性を向上させるために、打抜き後の端子のバリや
だれの発生が少なく、かつ打抜きプレスの金型の磨耗が
少ない(金型寿命が長い)銅合金素材の開発要求が高く
なっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の電
気、電子部品用銅合金の上記問題点に鑑み、種々の要求
に応えるべくなされたもので、高強度、高導電性を備
え、さらに、ばね限界値、応力緩和特性、金型摩耗性、
耐マイグレーション性に優れる電気、電子部品用銅合金
を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電気、電子
部品用銅合金は、Mg:0.05〜1.5重量%、Z
n:0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.
1重量%,Pb:0.0005〜0.015重量%、
S:0.05重量%以下を含有し、必要に応じてさら
に、Sn:0.005〜1.0重量%、Cr:0.00
1〜0.5重量%、Mn:0.01〜0.5重量%のう
ちいずれかを含有し、残部がCu及び不可避的不純物か
らなることを特徴とする。Snを含み、かつCrとMn
のうちいずれか一方又は双方を含む場合、Sn、Cr、
Mnの合計を1.0重量%以下とする。この銅合金は、
結晶粒径20μm以下のとき、優れた強度、ばね限界値
及び応力緩和率を示す。
【0007】上記の銅合金は、最終冷間加工後又は最終
冷間加工したものを電気、電子部品に成形後、100〜
450℃の温度で10秒〜5時間加熱することで、結晶
粒径20μm以下のとき、ばね限界値:30kgf/m
2以上(室温)、応力緩和率:160℃にて35%以
下、導電率:40%IACS以上、耐熱温度:350℃
以上の材料特性値を得ることができる。なお、これらの
材料特性値の測定手段については後述する。
【0008】
【発明の実施の形態】次に、本発明に係る電気、電子部
品用銅合金における各添加元素の添加理由及び組成限定
理由を説明する。
【0009】Mg:0.05〜1.5重量% Mgは銅の導電率を大きく低下させることなく、強度、
ばね限界値などの機械的性質を向上させる効果を有す
る。特に、R.T.〜160℃の使用温度においてもば
ね限界値の低下を抑制し、応力緩和特性の向上にも寄与
する。また、電圧印加時の銅のマイグレーションの発生
を防止する。さらに、Sによる熱間脆性を改善する。し
かし、その含有量が0.05重量%未満の場合は上記の
効果を得ることができない。
【0010】さらに、Mgは銅合金中に含有されるSと
MgSを形成し、銀めっきを行ったとき板材表面のMg
Sの部分でAgが突起状に異常析出する表面欠陥とな
る。AgめっきによってAgの突起を発生させるMg及
びSの含有量は合金系によって異なるが、本合金系にお
いてはMgの含有量が0.05%未満ではAg突起を発
生させ易い。以上の理由で、Mgの含有量は0.05重
量%以上でなければならない。
【0011】一方、Mgを1.5重量%を超えて含有し
た場合は電気伝導度、曲げ加工性の低下を招く。従っ
て、Mgの添加量は0.05〜1.5重量%とした。な
お、好ましい範囲は、0.05〜1.0重量%である。
また、添加されたMgは材料の熱処理の際にSnよりも
優先的に酸化して、表面におけるSnの酸化物の生成を
抑制する。材料の表面に存在するMgを主体とする酸化
物は通常の酸洗(硫酸などを使用)で容易に除去できる
ため、はんだ付け性、めっき性などに優れる効果を合わ
せ持つ。
【0012】Zn:0.05〜3.0重量% Znは、Mg同様、電圧が印加された電気、電子部品の
極間に水の侵入又は結露等が生じた場合のCuのマイグ
レ−ションを抑制し、漏洩電流を抑制するための必須元
素である。さらに、はんだの密着性向上やウイスカー発
生を抑制する作用をもつ。Zn含有量が0.05重量%
未満でははんだの密着性向上やウイスカー発生の抑制効
果が小さく、Zn含有量が3.0重量%を超えた場合
は、導電率が低くなり、また応力腐食割れを起こし易く
なる。従って、Zn含有量は0.05〜3.0重量%と
する。なお、Znの好ましい範囲は0.05〜2.5重
量%である。また、添加されたZnはMgと同様に、材
料の熱処理においてSnよりも優先的に酸化して表面に
おけるSnの酸化物の生成を抑制する。材料の表面に存
在するZn及びMgを主体とする酸化物は通常の酸洗
(硫酸などを使用)で容易に除去できるため、はんだ付
け性、めっき性などに優れる効果を合わせ持つ。
【0013】P:0.0005〜0.1重量% Pは主として鋳塊の健全性向上(脱酸・湯流れ等)に寄
与する元素である。Pの含有量が、0.0005重量%
未満では、溶湯の脱酸及び湯流れの改善効果が得られ
ず、また、0.1重量%を超えて含有すると熱間加工性
の劣化、導電率の低下をもたらし、さらには応力腐食割
れが発生しやすくなり、酸化膜の密着性も低下する。従
って、P含有量は0.0005〜0.1重量%とする。
なお、Pの好ましい範囲は0.0005〜0.05重量
%である。
【0014】Pb:0.0005〜0.015重量% Pbは、プレス打抜き時の金型の摩耗性を著しく改善す
る。その含有量が0.0005重量%未満では所望の改
善効果が得られず、0.015重量%を超えて含有して
も、含有量に見合う改善効果は得られず、かえって熱間
加工性を低下させる。従って、Pbの含有量は0.00
05〜0.015重量%とする。なお、Pbの好ましい
範囲は、0.0005〜0.01重量%である。
【0015】S:0.05重量%以下 Sは溶解雰囲気、炉材、原料、スクラップなどから混入
する元素であり、鋳塊においては粒界に存在して粒界の
強度を低下させるため熱間加工性を低下させる。また、
本合金はMgを含有するためSと高融点で安定なMg化
合物を形成し、熱間加工性が改善されるが、その含有量
が0.05重量%を越すと、Mgを1.5重量%含有し
ても熱間加工性が低下し、さらには組織中に大量のMg
Sが形成され、材料の耐熱性及び応力緩和特性を低下さ
せる。また、Mg含有量が0.05重量%未満のときに
は、材料にAgめっきを行ったときAgの突起が発生し
やすくなる。したがって、Sの含有量は0.05重量%
以下とする。好ましくは0.005重量%以下である。
【0016】Cr:0.001〜0.5重量% Mn:0.001〜0.5重量% Cr及びMnは材料の耐熱性及びRT〜160℃におけ
る応力緩和特性の向上に寄与する元素である。しかし、
いずれも0.001重量%未満では上記の効果が得られ
ない。一方、Crを0.5重量%を超えて含有するとC
rの酸化物が大量に発生して良好な鋳塊が得られず、ま
た組織中に粗大なCrの晶出物が発生してスタンピング
の金型摩耗を激しくし、曲げ加工性、伸びを低下させ
る。また、Mnを0.5重量%を超えて含有すると、は
んだ耐熱剥離性が劣化すると共に導電率も低下する。従
ってCr:0.001〜0.5重量%、Mn:0.00
1〜0.5重量%のうちいずれか一方又は双方を添加す
ることとした。なお、Crの好ましい範囲は0.001
〜0.2重量%、Mnの好ましい範囲は0.001〜
0.05重量%である。
【0017】Sn:0.005〜1.0重量% Snは、Mgとの共添によって強度をさらに向上させる
元素であり、必要に応じて添加される。その含有量が
0.005重量%未満では効果が得られず、また、1.
0重量%を超えて含有すると導電率の低下を招く。従っ
て、Snの添加量は0.005〜1.0重量%とした。
好ましい範囲は0.005〜0.8重量%である。な
お、CrとMnの何れか一方又は双方とSnを共に添加
する場合、導電率の観点から合計を1重量%以下、好ま
しくは0.8重量%以下とする。
【0018】なお、銅合金中には不可避的不純物とし
て、Fe、Si、Al、Ni、B、Ti及びZr等の元
素が原料として用いるスクラップ等から混入することが
あるが、これらの元素の総含有量が0.5重量%以下、
個別には0.05重量%以下であれば、本合金の機械的
性質、導電率、耐マイグレーション性、プレス加工性に
悪影響を及ぼすおそれはないのでこの範囲の含有は許容
される。
【0019】本発明に係る銅合金は、通常の製造方法に
より製造することができる。具体的には、連続鋳造によ
って作製したスラブを熱延し、その後冷延と中間焼鈍を
組合わせて所定の厚さの薄板とする。あるいは、熱間圧
延によらず横型連続鋳造で作製した10〜30mmの薄
スラブを用い、これを冷延と熱処理を組合わせた工程で
薄板とする方法でも製作可能である。
【0020】本発明に係る銅合金は熱間加工性、冷間加
工性とも良好で、製造に伴う割れなどの問題はほとんど
発生しない。また、この合金は析出硬化型合金でないた
め、中間焼鈍にはバッチ式、連続式のどちらを採用して
もよい。中間焼鈍はバッチ炉を用いた場合は350〜6
00℃×1〜5時間(材料の到達温度と到達後の保持時
間)、連続焼鈍炉を用いた場合は400〜850℃の雰
囲気で10秒〜300秒加熱(材料の到達温度と到達後
の保持時間)することによって目的を達成できる。これ
らの中間焼鈍によって材料は再結晶するが、本合金に良
好なプレス打抜き性及び曲げ加工性を与えるために、中
間焼鈍後の材料の結晶粒径は30μm以下とすることが
望ましい。
【0021】また、中間焼鈍後の最終冷間圧延加工によ
って材料の強度が向上し、延性が低下する。目的とする
強度、伸びの値によって加工率が決定されるが、通常は
5〜90%の最終加工率が採用され、最終的に結晶粒径
は20μm以下とされる。この最終加工のあと、さらに
ばね限界値の向上や延性の回復を目的とする熱処理を行
ってもよい。この熱処理の方式としてバッチ式、連続式
のどちらを採用しても目的とする最終特性を得ることが
可能である。
【0022】最終冷間加工後の熱処理は、100〜45
0℃の温度で10秒〜5時間行われる。この加熱により
転位の再配列が発生し、材料内部の残留応力が均質化さ
れ、ばね限界値、応力緩和特性の向上、延性の回復、曲
げ性の向上、疲労強度の向上、プレス加工後の材料の寸
法精度の向上と歪の減少などの効果が認められる。な
お、この熱処理により結晶粒径はほとんど変化しない。
この熱処理は、端子、リードフレーム等の電気、電子部
品に成形した後、行ってもよい。
【0023】この加熱温度が100℃未満では上記の特
性向上は認められず、450℃を越えると軟化し、強度
低下が大きくなる。また、加熱時間が10秒未満ではそ
の効果は得られず、5時間を超えて加熱しても上述の効
果が飽和してしまい、不経済である。従って、加熱温
度:100〜450℃、加熱時間:10秒〜5時間とす
る。好ましくは、加熱温度:200〜400℃、加熱温
度:30秒〜3時間である。
【0024】本発明に係る銅合金に加工率5〜90%の
最終の冷間加工後、前記の条件で熱処理を行うことによ
って、ばね限界値:30kgf/mm2以上、応力緩和
率:160℃にて35%以下、導電率:40%IACS
以上、耐熱温度:350℃以上の材料特性値を有する銅
合金が製造でき、リードフレーム、端子、コネクターな
どの電気、電子部品用として最適な特性を持つ。なお、
この銅合金に錫めっきを行って、例えば端子材として用
いる場合、めっき後のリフロー処理をこの熱処理と兼ね
て行うことができる。
【0025】
【実施例】以下、本発明の実施例について比較例と比較
してその特性を説明する。 [実施例1]下記表1及び表2に示す組成の銅合金を、
電気炉により大気中で木炭被覆下で溶解し、厚さが15
0mm、幅が500mm、長さが3000mmの鋳塊を
溶製した。このようにして溶製した鋳塊を800〜85
0℃に1時間加熱後、熱間圧延して厚さ15mmに仕上
げた。
【0026】次に、上記熱間圧延材の表面の酸化スケ−
ルをフライスで除去した後、冷間圧延し、425〜57
5℃で2時間の焼鈍を行い、その後70%の最終冷間圧
延を行って0.25mmの冷間圧延材を作製した。この
薄板から各種試験片を加工し、以下の試験を実施した。
【0027】(ばね限界値)JISH3130に基づ
き、モーメント式試験により永久たわみ量を測定し、
R.T.及び150℃におけるKb0.1を算出した。 (応力緩和特性)図1及び図2に示すように、幅10m
mの試験片1を片持ち梁式にて、長さ(l)80mmの
位置に耐力の8割の曲げ応力を負荷し、応力を負荷した
状態で160℃×1000Hr保持した後、応力の負荷
を取り除く。応力を負荷したときの負荷点での試験片の
たわみ量(δ)と、応力を取り除いたときの変位量(ε
1)を測定し、次式により応力緩和率を算出した。 応力緩和率(%)=(ε1/δ)×100 なお、曲げ応力(σ)は次式で計算される。 σ=(3・E・t・δ)/(2・l2) ただし、 σ:曲げ応力=耐力×0.8 E:試験片のヤング率(N/mm2) t:試験片の板厚=0.25mm
【0028】(機械的強度)引張強さ、伸びは試験片の
長手方向を圧延方向に平行としたJIS5号試験片にて
測定した。 (導電率)JISH0505に基づいて測定した。 (Agめっき性)Agめっき性は、シアン系Agめっき
を厚さ1μm行ったときに、局所的に厚さが厚くなる現
象(突起)の有無を実体顕微鏡で観察した。
【0029】(結晶粒径)結晶粒径の測定は試料の組織
が繊維状組織となっていないときは圧延方向に平行な断
面においてJISH0501の伸銅品結晶粒度試験方法
に従い、また試料の組織が繊維状となっているときは圧
延方向に平行な断面において板厚方向の結晶粒の寸法を
測定した。同一試料に対して5視野の観察を行い、その
平均値を各試料の結晶粒径とした。本発明の合金は中間
焼鈍により再結晶したとき結晶粒径がほぼ均一な整粒組
織となるため、最終冷間加工の加工率によらず同一試料
では異なる部位を観察しても結晶粒径の差はほとんどな
かった。
【0030】(はんだ耐熱剥離性)6Sn/4Pbはん
だを245±5℃×5秒にてはんだ付けした後、150
℃のオーブンで1000Hrまで加熱した。この試験片
を曲げ半径0.25mmで180゜曲げ戻しにて加工を
加え、加工部のはんだが剥離するか観察した。 (耐熱温度)試料を200〜600℃に5分保持後、水
焼入れした試料の硬さを測定し、初期硬さの8割を有す
る温度を耐熱温度とした。
【0031】(耐マイグレーション性)幅3.0mm、
長さ80mmの試験片を採取した。この試験片を2枚1
組とし供試した。第3図及び第4図は、上記試験片を使
用して漏洩電流を測定する試験方法の説明図である。第
3図及び第4図において、2a、2bは試験片、3は厚
さ1mmのABS樹脂、3aはこのABS樹脂3に形成
された穴、4はこのABS樹脂3の押え板である。5は
押え板4を押圧固定するため表面に絶縁塗料を塗布した
クリップ、6はバッテリ−、7は電線である。試験片2
a、2bは端部に電線7が接続されている。第3図及び
第4図に示す2枚の試験片2a、2bにバッテリ−6か
ら直流電流14Vを印加して、水道水中に5分間浸漬し
た後、続いて10分間乾燥する乾燥試験を50回行い、
その間の最大漏洩電流を高感度レコ−ダ−(図示せず)
で測定した。
【0032】(打抜加工性)16ピンのリ−ドフレ−ム
を連続打抜きし、打抜かれたリードフレームのバリが
0.02mmになり、金型の再研磨が必要となるストロ
−ク数を測定した。
【0033】銅合金組成を表1、表2に、特性評価結果
を表3、表4に示す。
【0034】
【表1】
【0035】
【表2】
【0036】
【表3】
【0037】
【表4】
【0038】表3の結果から明らかなように、本発明に
規定する組成をもつNo.1〜No.7は、高強度と高導電率
を兼ね備えているとともに、良好な耐マイグレーション
性、プレス打抜加工性、はんだ耐熱剥離性、Agめっき
性を有している。さらに、No.8、No.9、No.26は、
Snの添加により引張強さ、ばね限界値及び応力緩和特
性が一段と向上している。これに対し、No.10〜No.1
2はNo.1〜No.3と化学成分は同じであるが、結晶粒径
が30μmと大きいため、引張強さ及びばね限界値が低
く、応力緩和率が劣っている。
【0039】また、比較合金No.13は、Mg含有量が
本発明の規定範囲を超えているため導電率が劣り、No.
14は、反対にMg含有量が本発明の規定範囲に満たな
いため、機械的性質に劣り、耐熱温度も低い。比較合金
No.15は、Zn含有量が本発明の規定範囲を超えてい
るため導電率が劣り、さらに応力腐食割れを起こしやす
くなる。No.16は、Zn含有量が規定範囲に満たない
ため、はんだ耐熱剥離性が劣っている。
【0040】比較合金No.17は、P含有量が本発明の
規定範囲を超えているため導電率が劣っており、No.1
8は、反対にP含有量が規定範囲に満たないため、造塊
時の湯流れが悪く、鋳塊の表面に酸化物の巻込みが発生
して良好な鋳塊を得られず、後の試験を断念した。比較
合金No.19は、Pb含有量が本発明の規定範囲を超え
ており、熱間圧延時に割れが発生したため、後の試験を
断念した。比較合金No.20は、Pb含有量が本発明の
規定範囲に満たないため、打抜き加工性に劣っている。
【0041】比較合金No.21は、Cr含有量が本発明
の規定範囲を超えており、溶解時、Crの酸化物が大量
に発生して良好な鋳塊が得られなかったので、熱間圧延
を断念した。比較合金:No.22は、Sn含有量が請求
範囲を超えており、機械的性質は向上しているが、導電
率が40%IACSを下回っている。
【0042】比較合金No.23は、Mg及びZn含有量
が本発明の規定範囲に満たないため、強度が低く、耐マ
イグレーション性においても最大漏洩電流値が3.12
Aと高く、さらに、応力緩和特性及びはんだ耐熱剥離性
にも劣っている。比較合金No.24は、S含有量が本発
明の規定範囲を超えており、熱間圧延が不可能であっ
た。比較合金No.25は、Mg及びZn含有量が本発明
の規定範囲に満たないため強度が低く、耐マイグレーシ
ョン性においても最大漏洩電流値が3.04Aと高く、
さらに、応力緩和特性、はんだ耐熱剥離性及びAgめっ
き性にも劣っている。
【0043】[実施例2]表1のNo.2の試料に、30
0℃×20秒(2−1)、250℃×2時間(2−
2)、50℃×20秒(2−3)、500℃×20秒
(2−4)、300℃×5秒(2−5)の低温焼鈍を施
した後の特性評価結果を表5に示す。
【0044】
【表5】
【0045】表5の結果より、本発明に規定する条件で
低温焼鈍を行ったNo.2−1及び2−2は、ばね限界値
及び応力緩和特性が向上するとともに、耐マイグレーシ
ョン性、プレス打抜加工性及びはんだ耐熱剥離性も良好
である。これに対し、焼鈍温度が低いNo.2−3は、ば
ね限界値、応力緩和特性の向上が認められず、焼鈍温度
が高いNo.2−4は、強度、ばね限界値が低下し、焼鈍
時間が短いNo.2−5は、ばね限界値、応力緩和特性の
向上が認められない。
【0046】[実施例3]表1のNo.2の組成の合金及
びNo.24の組成の合金を、厚さ20mm、幅640m
mの薄スラブコイルに水平連鋳し、700℃で6時間均
質化処理を行った。均質化処理後、材料表面の酸化スケ
−ルをフライスで除去して冷間圧延し、500℃で2時
間の焼鈍を行った。その後70%の冷間圧延を行って
0.25mmの薄板とし、その後300℃で20秒間の
低温焼鈍を行った。作製した薄板から試験片を採取し、
実施例1と同じ試験を実施した。試験結果を表6に示
す。
【0047】
【表6】
【0048】本発明合金No.2−6は、高強度と高導電
率を兼ね備えているとともに、良好な耐マイグレーショ
ン性、プレス打抜加工性、はんだ耐熱剥離性を有してい
る。一方、比較例合金No.24−2は、熱延しなかった
ため薄板に加工可能であったが、S含有量が多いため大
量のMgSが形成され、耐熱性が低く、応力緩和率が大
きい。
【0049】
【発明の効果】本発明によれば、ばね限界値をはじめと
する機械的性質、応力緩和特性及びAgめっき性に優
れ、かつ高い導電率を合わせ持つ電気、電子部品用銅合
金を得ることができる。また、Cuのマイグレ−ション
現象が抑制されるため、電極間の短絡がなく、さらにプ
レス打抜加工性に優れるため、金型寿命が延長され、金
型交換に要するコストを低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】応力緩和率特性を評価する方法を説明するため
の斜視図である。
【図2】その側面図である。
【図3】最大漏洩電流の測定方法を説明するための平面
図である。
【図4】そのX−X断面図である。
【符号の説明】
1、2a、2b 試験片

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Mg:0.05〜1.5重量%、Zn:
    0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.1重
    量%、Pb:0.0005〜0.015重量%、S:
    0.05重量%以下を含有し、残部がCu及び不可避的
    不純物からなることを特徴とする電気、電子部品用銅合
    金。
  2. 【請求項2】 Mg:0.05〜1.5重量%、Zn:
    0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.1重
    量%、Sn:0.005〜1.0重量%、Pb:0.0
    005〜0.015重量%、S:0.05重量%以下を
    含有し、残部がCu及び不可避的不純物からなることを
    特徴とする電気、電子部品用銅合金。
  3. 【請求項3】 Mg:0.05〜1.5重量%、Zn:
    0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.1重
    量%、Pb:0.0005〜0.015重量%、S:
    0.05重量%以下を含有し、さらにCr:0.001
    〜0.5重量%、Mn:0.001〜0.5重量%のう
    ちいずれか一方又は双方を含有し、残部がCu及び不可
    避的不純物からなることを特徴とする電気、電子部品用
    銅合金。
  4. 【請求項4】 Mg:0.05〜1.5重量%、Zn:
    0.05〜3.0重量%、P:0.0005〜0.1重
    量%、Sn:0.005〜1.0重量%、Pb:0.0
    005〜0.015重量%、S:0.05重量%以下を
    含有し、さらにCr:0.001〜0.5重量%、M
    n:0.01〜0.5重量%のうちいずれか一方又は双
    方をSn、Cr、Mnの合計が1.0重量%以下となる
    ように含有し、残部がCu及び不可避的不純物からなる
    ことを特徴とする電気、電子部品用銅合金。
  5. 【請求項5】 結晶粒径が20μm以下であることを特
    徴とする請求項1〜4のいずれかに記載された電気、電
    子部品用銅合金。
  6. 【請求項6】 ばね限界値:30kgf/mm2以上、
    応力緩和率:160℃にて35%以下、導電率:40%
    IACS以上、耐熱温度:350℃以上の材料特性値を
    有することを特徴とする請求項5に記載された電気、電
    子部品用銅合金。
  7. 【請求項7】 請求項1〜4のいずれかに記載された組
    成の銅合金を、最終冷間加工後又は最終冷間加工したも
    のを電気、電子部品に成形後、100〜450℃の温度
    で10秒〜5時間加熱し、結晶粒径:20μm以下、ば
    ね限界値:30kgf/mm2以上、応力緩和率:16
    0℃にて35%以下、導電率:40%IACS以上、耐
    熱温度:350℃以上の材料特性値を有する電気電子部
    品用銅合金を得ることを特徴とする電気、電子部品用銅
    合金の製造方法。
JP03848397A 1997-02-05 1997-02-05 電気、電子部品用銅合金とその製造方法 Expired - Lifetime JP3904118B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03848397A JP3904118B2 (ja) 1997-02-05 1997-02-05 電気、電子部品用銅合金とその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP03848397A JP3904118B2 (ja) 1997-02-05 1997-02-05 電気、電子部品用銅合金とその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10219372A true JPH10219372A (ja) 1998-08-18
JP3904118B2 JP3904118B2 (ja) 2007-04-11

Family

ID=12526515

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP03848397A Expired - Lifetime JP3904118B2 (ja) 1997-02-05 1997-02-05 電気、電子部品用銅合金とその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3904118B2 (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1482063A1 (en) * 2003-05-27 2004-12-01 Fisk Alloy Wire, Inc. Processing copper-magnesium alloys and improved copper alloy wire
US20110146855A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-23 Mitsubishi Shindoh Co., Ltd. Cu-Mg-P based copper alloy material and method of producing the same
US20110281134A1 (en) * 2008-08-01 2011-11-17 Mitsubishi Materials Corporation Sputtering target for forming wiring film of flat panel display
JP2011241411A (ja) * 2010-05-14 2011-12-01 Mitsubishi Materials Corp 電子機器用銅合金、電子機器用銅合金の製造方法及び電子機器用銅合金圧延材
EP2530175A1 (en) * 2010-01-26 2012-12-05 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy with high strength and high electrical conductivity
US8562764B2 (en) * 2007-11-05 2013-10-22 Kobelco & Materials Copper Tube, Ltd. Copper alloy tube for heat exchangers
JP2015045083A (ja) * 2013-07-31 2015-03-12 三菱マテリアル株式会社 電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金塑性加工材、電子・電気機器用部品及び端子
US9587299B2 (en) 2011-10-28 2017-03-07 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic equipment, method for producing copper alloy for electronic equipment, rolled copper alloy material for electronic equipment, and part for electronic equipment
US10032536B2 (en) 2010-05-14 2018-07-24 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic device, method for producing copper alloy for electronic device, and copper alloy rolled material for electronic device
US10153063B2 (en) 2011-11-07 2018-12-11 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic devices, method of manufacturing copper alloy for electronic devices, copper alloy plastic working material for electronic devices, and component for electronic devices
US10458003B2 (en) 2011-11-14 2019-10-29 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy and copper alloy forming material
CN113637868A (zh) * 2021-08-09 2021-11-12 宁波博威合金材料股份有限公司 一种可铆接及切削加工的铜合金及其制备方法和应用

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103502487B (zh) * 2011-06-06 2015-09-16 三菱综合材料株式会社 电子设备用铜合金、电子设备用铜合金的制造方法、电子设备用铜合金塑性加工材料、及电子设备用组件

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1482063A1 (en) * 2003-05-27 2004-12-01 Fisk Alloy Wire, Inc. Processing copper-magnesium alloys and improved copper alloy wire
US8562764B2 (en) * 2007-11-05 2013-10-22 Kobelco & Materials Copper Tube, Ltd. Copper alloy tube for heat exchangers
KR20180088751A (ko) * 2008-08-01 2018-08-06 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 플랫 패널 디스플레이용 배선막 형성용 스퍼터링 타깃
US20110281134A1 (en) * 2008-08-01 2011-11-17 Mitsubishi Materials Corporation Sputtering target for forming wiring film of flat panel display
US9212419B2 (en) * 2008-08-01 2015-12-15 Mitsubishi Materials Corporation Sputtering target for forming wiring film of flat panel display
US9255310B2 (en) * 2009-12-23 2016-02-09 Mitsubishi Shindoh Co., Ltd. Cu—Mg—P based copper alloy material and method of producing the same
US20110146855A1 (en) * 2009-12-23 2011-06-23 Mitsubishi Shindoh Co., Ltd. Cu-Mg-P based copper alloy material and method of producing the same
EP2530175A1 (en) * 2010-01-26 2012-12-05 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy with high strength and high electrical conductivity
EP2530175A4 (en) * 2010-01-26 2017-03-29 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy with high strength and high electrical conductivity
JP2011241411A (ja) * 2010-05-14 2011-12-01 Mitsubishi Materials Corp 電子機器用銅合金、電子機器用銅合金の製造方法及び電子機器用銅合金圧延材
US10056165B2 (en) 2010-05-14 2018-08-21 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic device, method for producing copper alloy for electronic device, and copper alloy rolled material for electronic device
US10032536B2 (en) 2010-05-14 2018-07-24 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic device, method for producing copper alloy for electronic device, and copper alloy rolled material for electronic device
US9587299B2 (en) 2011-10-28 2017-03-07 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic equipment, method for producing copper alloy for electronic equipment, rolled copper alloy material for electronic equipment, and part for electronic equipment
US10153063B2 (en) 2011-11-07 2018-12-11 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic devices, method of manufacturing copper alloy for electronic devices, copper alloy plastic working material for electronic devices, and component for electronic devices
US10458003B2 (en) 2011-11-14 2019-10-29 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy and copper alloy forming material
JP2015045083A (ja) * 2013-07-31 2015-03-12 三菱マテリアル株式会社 電子・電気機器用銅合金、電子・電気機器用銅合金塑性加工材、電子・電気機器用部品及び端子
US10294547B2 (en) 2013-07-31 2019-05-21 Mitsubishi Materials Corporation Copper alloy for electronic and electrical equipment, plastically worked copper alloy material for electronic and electrical equipment, and component and terminal for electronic and electrical equipment
CN113637868A (zh) * 2021-08-09 2021-11-12 宁波博威合金材料股份有限公司 一种可铆接及切削加工的铜合金及其制备方法和应用
CN113637868B (zh) * 2021-08-09 2022-04-26 宁波博威合金材料股份有限公司 一种可铆接及切削加工的铜合金及其制备方法和应用

Also Published As

Publication number Publication date
JP3904118B2 (ja) 2007-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6052829B2 (ja) 電気電子部品用銅合金材
KR100876051B1 (ko) 굽힘 가공성을 구비한 전기 전자 부품용 구리 합금판
JP4660735B2 (ja) 銅基合金板材の製造方法
JP3962751B2 (ja) 曲げ加工性を備えた電気電子部品用銅合金板
JP4787986B2 (ja) 銅合金およびその製造方法
JP4439447B2 (ja) 異形断面銅合金板の製造方法
JP5619389B2 (ja) 銅合金材料
JP4887851B2 (ja) Ni−Sn−P系銅合金
JP3383615B2 (ja) 電子材料用銅合金及びその製造方法
JP5132467B2 (ja) 導電率および強度に優れる電気・電子部品用銅合金およびSnめっき銅合金材
JP5950499B2 (ja) 電気・電子部品用銅合金及びSnめっき付き銅合金材
JP3904118B2 (ja) 電気、電子部品用銅合金とその製造方法
JP2000178670A (ja) 半導体リードフレーム用銅合金
JP4154100B2 (ja) 表面特性の優れた電子材料用銅合金およびその製造方法
JP3800269B2 (ja) スタンピング加工性及び銀めっき性に優れる高力銅合金
JP2521880B2 (ja) 電子電気機器用銅合金とその製造法
JP2009068114A (ja) プレス打ち抜き性に優れた銅基合金およびその製造方法
JPH10195562A (ja) 打抜加工性に優れた電気電子機器用銅合金およびその製造方法
JP4186095B2 (ja) コネクタ用銅合金とその製造法
JPH0570692B2 (ja)
JP3807475B2 (ja) 端子・コネクタ用銅合金板及びその製造方法
JP3906472B2 (ja) Niメッキ密着性に優れた銅合金
JP3470889B2 (ja) 電気・電子部品用銅合金
JPH11323463A (ja) 電気・電子部品用銅合金
JPH0718355A (ja) 電子機器用銅合金およびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070104

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120119

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130119

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130119

Year of fee payment: 6

EXPY Cancellation because of completion of term