JPH10213616A - 液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法 - Google Patents
液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法Info
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- JPH10213616A JPH10213616A JP9013997A JP1399797A JPH10213616A JP H10213616 A JPH10213616 A JP H10213616A JP 9013997 A JP9013997 A JP 9013997A JP 1399797 A JP1399797 A JP 1399797A JP H10213616 A JPH10213616 A JP H10213616A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】液晶駆動出力端子の電流リークテストに際し
て、隣り合う出力端子相互間の電流リークを正確に測定
し得る液晶駆動用ＬＳＩを提供する。 【解決手段】それぞれ演算増幅回路からなる複数個の液
晶駆動出力回路１２１〜１２ｎと、複数個の液晶駆動出
力回路の各出力ノードにそれぞれ対応して接続された複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎと、複数個の液
晶駆動出力回路を複数個の液晶駆動出力端子の中の隣り
合う出力端子を含まないように間欠的に選択された出力
端子に対応する一部の液晶駆動出力回路の組み合わせと
なるように複数のグループに分け、複数のグループの中
の一部のグループを選択してそれに属する複数個の液晶
駆動出力回路がそれぞれ高出力インピーダンス状態にな
るように制御するテスト制御回路１４とを具備する。
て、隣り合う出力端子相互間の電流リークを正確に測定
し得る液晶駆動用ＬＳＩを提供する。 【解決手段】それぞれ演算増幅回路からなる複数個の液
晶駆動出力回路１２１〜１２ｎと、複数個の液晶駆動出
力回路の各出力ノードにそれぞれ対応して接続された複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎと、複数個の液
晶駆動出力回路を複数個の液晶駆動出力端子の中の隣り
合う出力端子を含まないように間欠的に選択された出力
端子に対応する一部の液晶駆動出力回路の組み合わせと
なるように複数のグループに分け、複数のグループの中
の一部のグループを選択してそれに属する複数個の液晶
駆動出力回路がそれぞれ高出力インピーダンス状態にな
るように制御するテスト制御回路１４とを具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶駆動用集積回
路およびそのテスト方法に係り、特に液晶駆動用の大規
模集積回路（ＬＳＩ）におけるアナログ入力／アナログ
出力用の液晶駆動出力回路として使用される演算増幅回
路のテストを容易化するために内蔵された制御回路およ
びそれを用いたテスト方法に関するもので、例えば液晶
表示装置、液晶表示パネルを有するパーソナルコンピュ
ータなどの電子装置およびその製造に際して適用される
ものである。
路およびそのテスト方法に係り、特に液晶駆動用の大規
模集積回路（ＬＳＩ）におけるアナログ入力／アナログ
出力用の液晶駆動出力回路として使用される演算増幅回
路のテストを容易化するために内蔵された制御回路およ
びそれを用いたテスト方法に関するもので、例えば液晶
表示装置、液晶表示パネルを有するパーソナルコンピュ
ータなどの電子装置およびその製造に際して適用される
ものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶駆動用ＬＳＩの製造に際して、ＬＳ
Ｉのパッケージの外部端子相互間に電流リークが存在す
る場合があるので、製品の特性テストの１つとして液晶
駆動出力端子の電流リークテストを行っている。
Ｉのパッケージの外部端子相互間に電流リークが存在す
る場合があるので、製品の特性テストの１つとして液晶
駆動出力端子の電流リークテストを行っている。
【０００３】即ち、液晶駆動用ＬＳＩのパッケージとし
て、例えばＴＡＢ（Tape AutomatedBonding）技術を用
いて半導体チップの外部端子群（例えばバンプ電極群）
をＴＡＢテープのインナーリード群にボンディング接続
した構造を採用している場合には、バンプ電極群とイン
ナーリード群との位置合わせのずれ、ＴＡＢテープの絶
縁フィルム上の配線パターン相互間に付着した塵埃など
に起因して、パッケージ外部端子相互間に電流リークが
存在する場合がある。
て、例えばＴＡＢ（Tape AutomatedBonding）技術を用
いて半導体チップの外部端子群（例えばバンプ電極群）
をＴＡＢテープのインナーリード群にボンディング接続
した構造を採用している場合には、バンプ電極群とイン
ナーリード群との位置合わせのずれ、ＴＡＢテープの絶
縁フィルム上の配線パターン相互間に付着した塵埃など
に起因して、パッケージ外部端子相互間に電流リークが
存在する場合がある。
【０００４】図４は、従来の液晶駆動用ＬＳＩの液晶駆
動出力端子の電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子と
テスター端子との対応関係を示している。液晶駆動用Ｌ
ＳＩ４０において、複数個の液晶駆動出力端子４３１〜
４３ｎには、それぞれ対応して例えば演算増幅回路から
なる液晶駆動出力回路４２１〜４２ｎの出力ノードが接
続されており、電流リークテスト時には、前記全ての液
晶駆動出力回路４２１〜４２ｎがそれぞれ高出力インピ
ーダンス状態になるように出力回路駆動信号が制御され
る。
動出力端子の電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子と
テスター端子との対応関係を示している。液晶駆動用Ｌ
ＳＩ４０において、複数個の液晶駆動出力端子４３１〜
４３ｎには、それぞれ対応して例えば演算増幅回路から
なる液晶駆動出力回路４２１〜４２ｎの出力ノードが接
続されており、電流リークテスト時には、前記全ての液
晶駆動出力回路４２１〜４２ｎがそれぞれ高出力インピ
ーダンス状態になるように出力回路駆動信号が制御され
る。
【０００５】ＬＳＩ外部のテスター５０は、前記液晶駆
動用ＬＳＩ４０の全ての液晶駆動出力端子４３１〜４３
ｎにそれぞれ対応してテスト端子５１１〜５１ｎを接続
し、複数個の液晶駆動出力端子４３１〜４３ｎの配列に
おける奇数番目の出力端子群と残りの偶数番目の出力端
子群との２つのグループに分け、一方のグループの液晶
駆動出力端子群にはそれぞれ第１の電源から第１の電圧
Ｖ１を印加し、他方のグループの液晶駆動出力端子群に
はそれぞれ第２の電源から第２の電圧Ｖ２を印加し、上
記２つの電源相互間の電流（隣り合う液晶駆動出力端子
相互間の電流リーク量）を測定する。
動用ＬＳＩ４０の全ての液晶駆動出力端子４３１〜４３
ｎにそれぞれ対応してテスト端子５１１〜５１ｎを接続
し、複数個の液晶駆動出力端子４３１〜４３ｎの配列に
おける奇数番目の出力端子群と残りの偶数番目の出力端
子群との２つのグループに分け、一方のグループの液晶
駆動出力端子群にはそれぞれ第１の電源から第１の電圧
Ｖ１を印加し、他方のグループの液晶駆動出力端子群に
はそれぞれ第２の電源から第２の電圧Ｖ２を印加し、上
記２つの電源相互間の電流（隣り合う液晶駆動出力端子
相互間の電流リーク量）を測定する。
【０００６】しかし、前記したような従来の液晶駆動用
ＬＳＩの液晶駆動出力端子の電流リークテストでは、全
ての液晶駆動出力端子４３１〜４３ｎにテスター５０の
テスト端子５１１〜５１ｎを接続して行うので、例えば
液晶表示パネル駆動用ＬＳＩのように液晶駆動出力端子
数が多い場合にはテスターの価格が高くなり、テストコ
ストが高くなる。
ＬＳＩの液晶駆動出力端子の電流リークテストでは、全
ての液晶駆動出力端子４３１〜４３ｎにテスター５０の
テスト端子５１１〜５１ｎを接続して行うので、例えば
液晶表示パネル駆動用ＬＳＩのように液晶駆動出力端子
数が多い場合にはテスターの価格が高くなり、テストコ
ストが高くなる。
【０００７】また、前記電流リークテスト時には、液晶
駆動用ＬＳＩの全ての液晶駆動出力回路４２１〜４２ｎ
がそれぞれ高出力インピーダンス状態に制御された状態
で行われるので、隣り合う出力端子相互間の実際の抵抗
値が数ＫΩ以上の場合には、電流リーク量が少なくて電
流リークが存在するか否かを検出することが不可能であ
った。
駆動用ＬＳＩの全ての液晶駆動出力回路４２１〜４２ｎ
がそれぞれ高出力インピーダンス状態に制御された状態
で行われるので、隣り合う出力端子相互間の実際の抵抗
値が数ＫΩ以上の場合には、電流リーク量が少なくて電
流リークが存在するか否かを検出することが不可能であ
った。
【０００８】このように電流リークを検出できないと、
前記したような液晶駆動用ＬＳＩパッケージにおけるバ
ンプ電極群とインナーリード群との位置合わせのずれに
起因する隣り合う出力端子相互間の抵抗値が液晶駆動用
ＬＳＩの長期間の使用中に徐々に低下し、液晶駆動用Ｌ
ＳＩの使用中に電流リーク量が無視できないほど増大す
るおそれがあるので、問題となる。
前記したような液晶駆動用ＬＳＩパッケージにおけるバ
ンプ電極群とインナーリード群との位置合わせのずれに
起因する隣り合う出力端子相互間の抵抗値が液晶駆動用
ＬＳＩの長期間の使用中に徐々に低下し、液晶駆動用Ｌ
ＳＩの使用中に電流リーク量が無視できないほど増大す
るおそれがあるので、問題となる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
液晶駆動用集積回路は、液晶駆動出力端子の電流リーク
テストを行うためのテスターの価格、テストコストが高
くなり、隣り合う液晶駆動出力端子相互間に電流リーク
が存在する場合の電流リークを正確に測定することが不
可能であるという問題があった。
液晶駆動用集積回路は、液晶駆動出力端子の電流リーク
テストを行うためのテスターの価格、テストコストが高
くなり、隣り合う液晶駆動出力端子相互間に電流リーク
が存在する場合の電流リークを正確に測定することが不
可能であるという問題があった。
【００１０】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、液晶駆動出力端子の電流リークテストを行う
ためのテスターの価格、テストコストを低減でき、隣り
合う液晶駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場
合の電流リークを正確に測定し得る液晶駆動用集積回路
およびそのテスト方法を提供することを目的とする。
たもので、液晶駆動出力端子の電流リークテストを行う
ためのテスターの価格、テストコストを低減でき、隣り
合う液晶駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場
合の電流リークを正確に測定し得る液晶駆動用集積回路
およびそのテスト方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶駆動用集積
回路は、それぞれ演算増幅回路からなる複数個の液晶駆
動出力回路と、前記複数個の液晶駆動出力回路の各出力
ノードにそれぞれ対応して接続された複数個の液晶駆動
出力端子と、前記複数個の液晶駆動出力回路を前記複数
個の液晶駆動出力端子の中から隣り合う出力端子を含ま
ないように間欠的に選択された出力端子に対応する一部
の液晶駆動出力回路の組み合わせとなるように複数のグ
ループに分け、電流リークテスト時に前記複数のグルー
プの中の一部のグループを選択してそれに属する複数個
の液晶駆動出力回路をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、前記一部のグループの液晶駆動出力回路に隣り合う
液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状態に制御
するテスト制御回路とを具備することを特徴とする。
回路は、それぞれ演算増幅回路からなる複数個の液晶駆
動出力回路と、前記複数個の液晶駆動出力回路の各出力
ノードにそれぞれ対応して接続された複数個の液晶駆動
出力端子と、前記複数個の液晶駆動出力回路を前記複数
個の液晶駆動出力端子の中から隣り合う出力端子を含ま
ないように間欠的に選択された出力端子に対応する一部
の液晶駆動出力回路の組み合わせとなるように複数のグ
ループに分け、電流リークテスト時に前記複数のグルー
プの中の一部のグループを選択してそれに属する複数個
の液晶駆動出力回路をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、前記一部のグループの液晶駆動出力回路に隣り合う
液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状態に制御
するテスト制御回路とを具備することを特徴とする。
【００１２】また、本発明の液晶駆動用集積回路のテス
ト方法は、本発明の液晶駆動用集積回路の液晶駆動出力
端子の電流リークテストを行う際、前記液晶駆動用集積
回路のテスト制御回路により前記一部のグループを選択
してそれに属する複数個の液晶駆動出力回路をそれぞれ
高出力インピーダンス状態、前記一部のグループの液晶
駆動出力回路に隣り合う液晶駆動出力回路をそれぞれ一
定電圧の出力状態に制御するステップと、前記液晶駆動
用集積回路の全ての液晶駆動出力端子の中で前記一部の
グループに属する複数個の液晶駆動出力回路に対応する
一部の液晶駆動出力端子に対して液晶駆動用集積回路外
部のテスターの複数個のテスト端子からそれぞれ所定の
テスト電圧を同時あるいは順次に印加し、前記各テスト
端子に流れる電流リークを測定するステップとを具備す
ることを特徴とする。
ト方法は、本発明の液晶駆動用集積回路の液晶駆動出力
端子の電流リークテストを行う際、前記液晶駆動用集積
回路のテスト制御回路により前記一部のグループを選択
してそれに属する複数個の液晶駆動出力回路をそれぞれ
高出力インピーダンス状態、前記一部のグループの液晶
駆動出力回路に隣り合う液晶駆動出力回路をそれぞれ一
定電圧の出力状態に制御するステップと、前記液晶駆動
用集積回路の全ての液晶駆動出力端子の中で前記一部の
グループに属する複数個の液晶駆動出力回路に対応する
一部の液晶駆動出力端子に対して液晶駆動用集積回路外
部のテスターの複数個のテスト端子からそれぞれ所定の
テスト電圧を同時あるいは順次に印加し、前記各テスト
端子に流れる電流リークを測定するステップとを具備す
ることを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実
施の形態に係る液晶駆動用ＬＳＩの一部を示している。
なお、この液晶駆動用ＬＳＩのパッケージとして、例え
ばＴＡＢ技術を用いて半導体チップの外部端子群（例え
ばバンプ電極群）をＴＡＢテープのインナーリード群に
ボンディング接続した構造を採用している。
施の形態を詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実
施の形態に係る液晶駆動用ＬＳＩの一部を示している。
なお、この液晶駆動用ＬＳＩのパッケージとして、例え
ばＴＡＢ技術を用いて半導体チップの外部端子群（例え
ばバンプ電極群）をＴＡＢテープのインナーリード群に
ボンディング接続した構造を採用している。
【００１４】図１に示す液晶駆動用ＬＳＩ１０におい
て、１１１〜１１ｎはそれぞれ液晶駆動制御信号（アナ
ログ信号）を生成する複数個の制御信号生成回路であ
る。１２１〜１２ｎはそれぞれ演算増幅回路からなり、
前記複数個の制御信号生成回路１１１〜１１ｎからそれ
ぞれ対応して液晶駆動制御信号が入力し、これを増幅し
て出力（アナログ信号）するための複数個の液晶駆動出
力回路であり、出力回路駆動信号により制御される。
て、１１１〜１１ｎはそれぞれ液晶駆動制御信号（アナ
ログ信号）を生成する複数個の制御信号生成回路であ
る。１２１〜１２ｎはそれぞれ演算増幅回路からなり、
前記複数個の制御信号生成回路１１１〜１１ｎからそれ
ぞれ対応して液晶駆動制御信号が入力し、これを増幅し
て出力（アナログ信号）するための複数個の液晶駆動出
力回路であり、出力回路駆動信号により制御される。
【００１５】１３１〜１３ｎは前記複数個の液晶駆動出
力回路１２１〜１２ｎの各出力ノードにそれぞれ対応し
て接続された複数個の液晶駆動出力端子である。１４は
前記複数個の液晶駆動出力回路１２１〜１２ｎを前記複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎの中の隣り合う
出力端子を含まないように間欠的に選択された出力端子
に対応する一部の液晶駆動出力回路の組み合わせとなる
ように複数のグループに分け、前記複数のグループの中
の一部のグループを選択してそれに属する複数個の液晶
駆動出力回路をそれぞれ高出力インピーダンス状態、残
りの液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状態に
制御するテスト制御回路である。
力回路１２１〜１２ｎの各出力ノードにそれぞれ対応し
て接続された複数個の液晶駆動出力端子である。１４は
前記複数個の液晶駆動出力回路１２１〜１２ｎを前記複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎの中の隣り合う
出力端子を含まないように間欠的に選択された出力端子
に対応する一部の液晶駆動出力回路の組み合わせとなる
ように複数のグループに分け、前記複数のグループの中
の一部のグループを選択してそれに属する複数個の液晶
駆動出力回路をそれぞれ高出力インピーダンス状態、残
りの液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状態に
制御するテスト制御回路である。
【００１６】上記テスト制御回路１４の一例としては、
前記一部のグループに属する複数個の液晶駆動出力回路
に対する出力回路駆動信号供給ラインにそれぞれテスト
制御信号により制御される駆動制御回路１５を挿入し、
残りの液晶駆動出力回路には出力回路駆動信号を直接に
供給するように構成されている。
前記一部のグループに属する複数個の液晶駆動出力回路
に対する出力回路駆動信号供給ラインにそれぞれテスト
制御信号により制御される駆動制御回路１５を挿入し、
残りの液晶駆動出力回路には出力回路駆動信号を直接に
供給するように構成されている。
【００１７】これにより、テスト制御信号が入力した時
に前記一部のグループに属する複数個の液晶駆動出力回
路に対する出力回路駆動信号の供給を遮断してそれぞれ
高出力インピーダンス状態に制御し、残りの液晶駆動出
力回路には出力回路駆動信号を供給してそれぞれ一定電
圧の出力状態に制御することが可能になる。
に前記一部のグループに属する複数個の液晶駆動出力回
路に対する出力回路駆動信号の供給を遮断してそれぞれ
高出力インピーダンス状態に制御し、残りの液晶駆動出
力回路には出力回路駆動信号を供給してそれぞれ一定電
圧の出力状態に制御することが可能になる。
【００１８】前記複数個の液晶駆動出力回路１２１〜１
２ｎのグループ分けの一例として、本例では、複数個の
液晶駆動出力端子の配列における奇数番目の出力端子群
に対応する液晶駆動出力回路群１２１、１２３、…を第
１グループとし、残りの偶数番目の出力端子群に対応す
る液晶駆動出力回路群１２２、…、１２ｎを第２グルー
プとしている。これに対応して、前記テスト制御回路１
４は、電流リークテスト時に、前記２つのグループの中
の一方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１２
２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、他方のグループの液晶駆動出力回路郡（本例では１
２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧の出力状態に制
御するように構成されている。
２ｎのグループ分けの一例として、本例では、複数個の
液晶駆動出力端子の配列における奇数番目の出力端子群
に対応する液晶駆動出力回路群１２１、１２３、…を第
１グループとし、残りの偶数番目の出力端子群に対応す
る液晶駆動出力回路群１２２、…、１２ｎを第２グルー
プとしている。これに対応して、前記テスト制御回路１
４は、電流リークテスト時に、前記２つのグループの中
の一方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１２
２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、他方のグループの液晶駆動出力回路郡（本例では１
２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧の出力状態に制
御するように構成されている。
【００１９】図２は、図１に示した液晶駆動用ＬＳＩの
液晶駆動出力端子の電流リークテストを行う際のＬＳＩ
端子とテスター端子との対応関係を示している。ＬＳＩ
外部のテスター２０は、前記液晶駆動用ＬＳＩ１０の複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎの中でそれぞれ
高出力インピーダンス状態に制御される前記一方のグル
ープの液晶駆動出力回路群（本例では１２２、…、１２
ｎ）に接続されている液晶駆動出力端子群（本例では１
３２、…、１３ｎ）にそれぞれ対応してテスト端子２１
を接続し、各テスト端子２１からそれぞれ等しい所定の
テスト電圧（例えば液晶駆動出力回路の出力電圧の範囲
内の電圧である１Ｖあるいは１１Ｖ）を同時あるいは順
次にに印加し、各テスト端子２１に流れる電流（電流リ
ーク量）を測定し得るように構成されている。
液晶駆動出力端子の電流リークテストを行う際のＬＳＩ
端子とテスター端子との対応関係を示している。ＬＳＩ
外部のテスター２０は、前記液晶駆動用ＬＳＩ１０の複
数個の液晶駆動出力端子１３１〜１３ｎの中でそれぞれ
高出力インピーダンス状態に制御される前記一方のグル
ープの液晶駆動出力回路群（本例では１２２、…、１２
ｎ）に接続されている液晶駆動出力端子群（本例では１
３２、…、１３ｎ）にそれぞれ対応してテスト端子２１
を接続し、各テスト端子２１からそれぞれ等しい所定の
テスト電圧（例えば液晶駆動出力回路の出力電圧の範囲
内の電圧である１Ｖあるいは１１Ｖ）を同時あるいは順
次にに印加し、各テスト端子２１に流れる電流（電流リ
ーク量）を測定し得るように構成されている。
【００２０】次に、図１および図２を参照しながら、図
１の液晶駆動用ＬＳＩのテスト方法の一例について説明
する。図１の液晶駆動用ＬＳＩ１０の液晶駆動出力端子
の電流リークテストを行う際、（１）第１ステップとし
て、液晶駆動用ＬＳＩ１０のテスト制御回路１４により
一方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１２
２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、他方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１
２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧の出力状態に制
御する。（２）第２ステップとして、前記液晶駆動用Ｌ
ＳＩ１０においてそれぞれ高出力インピーダンス状態に
制御される一方のグループの液晶駆動出力回路群に接続
されている液晶駆動出力端子群（本例では１３２、…、
１３ｎ）にそれぞれ対応してテスター２０のテスト端子
２１を接続した状態で、各テスト端子２１からそれぞれ
テスト電圧として前記他方のグループの液晶駆動出力回
路群（本例では１２１、１２３、…）の一定出力電圧
（例えば５Ｖ）とは異なる電圧（例えば１Ｖあるいは１
１Ｖ）を同時あるいは順次に印加し、前記各テスト端子
２１に流れる電流リークを測定する。
１の液晶駆動用ＬＳＩのテスト方法の一例について説明
する。図１の液晶駆動用ＬＳＩ１０の液晶駆動出力端子
の電流リークテストを行う際、（１）第１ステップとし
て、液晶駆動用ＬＳＩ１０のテスト制御回路１４により
一方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１２
２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力インピーダンス状
態、他方のグループの液晶駆動出力回路群（本例では１
２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧の出力状態に制
御する。（２）第２ステップとして、前記液晶駆動用Ｌ
ＳＩ１０においてそれぞれ高出力インピーダンス状態に
制御される一方のグループの液晶駆動出力回路群に接続
されている液晶駆動出力端子群（本例では１３２、…、
１３ｎ）にそれぞれ対応してテスター２０のテスト端子
２１を接続した状態で、各テスト端子２１からそれぞれ
テスト電圧として前記他方のグループの液晶駆動出力回
路群（本例では１２１、１２３、…）の一定出力電圧
（例えば５Ｖ）とは異なる電圧（例えば１Ｖあるいは１
１Ｖ）を同時あるいは順次に印加し、前記各テスト端子
２１に流れる電流リークを測定する。
【００２１】上記した液晶駆動用ＬＳＩおよびその電流
リークテスト方法によれば、テスト電圧（例えば１Ｖあ
るいは１１Ｖ）が印加される液晶駆動出力端子と液晶駆
動出力回路の一定出力電圧（例えば５Ｖ）が印加される
液晶駆動出力端子とが隣り合うので、この隣り合う液晶
駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場合には、
電流リーク量が少なくても電流リークを正確に検出する
ことが可能になる。具体的には、前記隣り合う出力端子
相互間の抵抗値が１ＭΩ以上の場合でも電流リークを正
確に検出することが可能になる。
リークテスト方法によれば、テスト電圧（例えば１Ｖあ
るいは１１Ｖ）が印加される液晶駆動出力端子と液晶駆
動出力回路の一定出力電圧（例えば５Ｖ）が印加される
液晶駆動出力端子とが隣り合うので、この隣り合う液晶
駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場合には、
電流リーク量が少なくても電流リークを正確に検出する
ことが可能になる。具体的には、前記隣り合う出力端子
相互間の抵抗値が１ＭΩ以上の場合でも電流リークを正
確に検出することが可能になる。
【００２２】しかも、全ての液晶駆動出力端子１３１〜
１３ｎにテスター２０のテスト端子２１を接続して電流
リークテストを行うのではなく、一部（本例では半数）
の液晶駆動出力端子群（本例では１３２、…、１３ｎ）
にテスター２０のテスト端子２１を接続して行うので、
テスター２０の電流リークテスト用のテスト端子２１の
数を半減でき、例えば液晶表示パネル駆動用ＬＳＩのよ
うに液晶駆動出力端子数が多い場合にはテスターの価格
およびテストコストの低減効果が大きい。
１３ｎにテスター２０のテスト端子２１を接続して電流
リークテストを行うのではなく、一部（本例では半数）
の液晶駆動出力端子群（本例では１３２、…、１３ｎ）
にテスター２０のテスト端子２１を接続して行うので、
テスター２０の電流リークテスト用のテスト端子２１の
数を半減でき、例えば液晶表示パネル駆動用ＬＳＩのよ
うに液晶駆動出力端子数が多い場合にはテスターの価格
およびテストコストの低減効果が大きい。
【００２３】図３は、本発明の第２の実施の形態に係る
液晶駆動用ＬＳＩの液晶駆動出力端子の電流リークテス
トを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子との対応関係を
示している。
液晶駆動用ＬＳＩの液晶駆動出力端子の電流リークテス
トを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子との対応関係を
示している。
【００２４】図３中に示す液晶駆動用ＬＳＩ３０は、図
１に示した液晶駆動用ＬＳＩ１０と比べて、テスト制御
回路が異なり、その他は同じであるので図１中と同一符
号を付している。
１に示した液晶駆動用ＬＳＩ１０と比べて、テスト制御
回路が異なり、その他は同じであるので図１中と同一符
号を付している。
【００２５】即ち、液晶駆動用ＬＳＩ３０のテスト制御
回路（図示せず）は、電流リークテスト時に、前記した
複数個の液晶駆動出力回路１２１〜１２ｎの２つのグル
ープの中の一方のグループに属する液晶駆動出力回路群
（本例では１２２、…、１２ｎ）の電源供給線に対する
電源供給をオフ状態に制御し、他方のグループに属する
液晶駆動出力回路群（本例では１２１、１２３、…）の
電源供給線に対する電源供給をオン状態に制御し得るよ
うに構成されている。
回路（図示せず）は、電流リークテスト時に、前記した
複数個の液晶駆動出力回路１２１〜１２ｎの２つのグル
ープの中の一方のグループに属する液晶駆動出力回路群
（本例では１２２、…、１２ｎ）の電源供給線に対する
電源供給をオフ状態に制御し、他方のグループに属する
液晶駆動出力回路群（本例では１２１、１２３、…）の
電源供給線に対する電源供給をオン状態に制御し得るよ
うに構成されている。
【００２６】これにより、電流リークテスト時に前記２
つのグループの中の一方のグループの液晶駆動出力回路
群（本例では１２２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力イ
ンピーダンス状態、他方のグループの液晶駆動出力回路
群（本例では１２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧
の出力状態に制御することが可能になる。
つのグループの中の一方のグループの液晶駆動出力回路
群（本例では１２２、…、１２ｎ）をそれぞれ高出力イ
ンピーダンス状態、他方のグループの液晶駆動出力回路
群（本例では１２１、１２３、…）をそれぞれ一定電圧
の出力状態に制御することが可能になる。
【００２７】上記した第２の実施の形態に係る液晶駆動
用ＬＳＩ３０においても、前記した第１の実施の形態に
係る液晶駆動用ＬＳＩ１０における動作に準じてそれと
同様の効果が得られる。
用ＬＳＩ３０においても、前記した第１の実施の形態に
係る液晶駆動用ＬＳＩ１０における動作に準じてそれと
同様の効果が得られる。
【００２８】なお、前記各例では、複数個の液晶駆動出
力回路１２１〜１２ｎを２グループに分けたが、これに
限らず、３グループ以上に分けるようにしてもよい。例
えば３グループに分ける場合には、複数個の液晶駆動出
力端子１３１〜１３ｎの配列における１，４，７…番目
の出力端子群に対応する液晶駆動出力回路群を第１グル
ープとし、２，５，８…番目の出力端子群に対応する液
晶駆動出力回路群を第２グループとし、３，６，９…番
目の出力端子群に対応する液晶駆動出力回路群を第３グ
ループとする。この場合には、前記テスト制御回路とし
て、電流リークテスト時に、１つのグループの液晶駆動
出力回路群がそれぞれ高出力インピーダンス状態、残り
の液晶駆動出力回路群をそれぞれ一定電圧の出力状態に
制御するように構成している。
力回路１２１〜１２ｎを２グループに分けたが、これに
限らず、３グループ以上に分けるようにしてもよい。例
えば３グループに分ける場合には、複数個の液晶駆動出
力端子１３１〜１３ｎの配列における１，４，７…番目
の出力端子群に対応する液晶駆動出力回路群を第１グル
ープとし、２，５，８…番目の出力端子群に対応する液
晶駆動出力回路群を第２グループとし、３，６，９…番
目の出力端子群に対応する液晶駆動出力回路群を第３グ
ループとする。この場合には、前記テスト制御回路とし
て、電流リークテスト時に、１つのグループの液晶駆動
出力回路群がそれぞれ高出力インピーダンス状態、残り
の液晶駆動出力回路群をそれぞれ一定電圧の出力状態に
制御するように構成している。
【００２９】上記したように３グループに分けて電流リ
ークテストを行う際には、テスト制御回路により１つの
グループに属する複数個の液晶駆動出力回路をそれぞれ
高出力インピーダンス状態、残りの液晶駆動出力回路を
それぞれ一定電圧の出力状態に制御する。そして、液晶
駆動用ＬＳＩの全ての液晶駆動出力端子の中で前記１つ
のグループに属する液晶駆動出力回路に対応する液晶駆
動出力端子に対してテスターの複数個のテスト端子から
それぞれ所定のテスト電圧を同時あるいは順次に印加
し、前記各テスト端子に流れる電流リークを測定すれば
よい。
ークテストを行う際には、テスト制御回路により１つの
グループに属する複数個の液晶駆動出力回路をそれぞれ
高出力インピーダンス状態、残りの液晶駆動出力回路を
それぞれ一定電圧の出力状態に制御する。そして、液晶
駆動用ＬＳＩの全ての液晶駆動出力端子の中で前記１つ
のグループに属する液晶駆動出力回路に対応する液晶駆
動出力端子に対してテスターの複数個のテスト端子から
それぞれ所定のテスト電圧を同時あるいは順次に印加
し、前記各テスト端子に流れる電流リークを測定すれば
よい。
【００３０】上記したように３グループに分ける場合に
は、前記したように２３グループに分ける場合と比べ
て、電流リークテスト時に液晶駆動出力端子群にテスト
電圧を印加するためのテスターのテスト端子を減少させ
ることが可能になるので、テスターの価格およびテスト
コストをさらに低減させることが可能になる。
は、前記したように２３グループに分ける場合と比べ
て、電流リークテスト時に液晶駆動出力端子群にテスト
電圧を印加するためのテスターのテスト端子を減少させ
ることが可能になるので、テスターの価格およびテスト
コストをさらに低減させることが可能になる。
【００３１】
【発明の効果】上述したように本発明によれば、液晶駆
動出力端子の電流リークテストに際して、隣り合う液晶
駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場合の電流
リークを正確に測定し得る液晶駆動用集積回路およびそ
のテスト方法を提供することができる。
動出力端子の電流リークテストに際して、隣り合う液晶
駆動出力端子相互間に電流リークが存在する場合の電流
リークを正確に測定し得る液晶駆動用集積回路およびそ
のテスト方法を提供することができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る液晶駆動用集
積回路を示すブロック図。
積回路を示すブロック図。
【図２】図１の液晶駆動用ＬＳＩの液晶駆動出力端子の
電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子
との対応関係を示すブロック図。
電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子
との対応関係を示すブロック図。
【図３】本発明の第２の実施の形態に係る液晶駆動用Ｌ
ＳＩの電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスタ
ー端子との対応関係を示すブロック図。
ＳＩの電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスタ
ー端子との対応関係を示すブロック図。
【図４】従来の液晶駆動用ＬＳＩの液晶駆動出力端子の
電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子
との対応関係を示すブロック図。
電流リークテストを行う際のＬＳＩ端子とテスター端子
との対応関係を示すブロック図。
１０…液晶駆動用ＬＳＩ、 １１１〜１１ｎ…制御信号生成回路、 １２１〜１２ｎ…液晶駆動出力回路（演算増幅回路）、 １３１〜１３ｎ…液晶駆動出力端子、 １４…テスト制御回路、 １５…駆動制御回路、 ２０…テスター、 ２１…テスト端子。
Claims (6)
- 【請求項１】 それぞれ演算増幅回路からなる複数個の
液晶駆動出力回路と、 前記複数個の液晶駆動出力回路の各出力ノードにそれぞ
れ対応して接続された複数個の液晶駆動出力端子と、 前記複数個の液晶駆動出力回路を前記複数個の液晶駆動
出力端子の中から隣り合う出力端子を含まないように間
欠的に選択された出力端子に対応する一部の液晶駆動出
力回路の組み合わせとなるように複数のグループに分
け、電流リークテスト時に前記複数のグループの中の一
部のグループを選択してそれに属する複数個の液晶駆動
出力回路をそれぞれ高出力インピーダンス状態、前記一
部のグループの液晶駆動出力回路に隣り合う液晶駆動出
力回路をそれぞれ一定電圧の出力状態に制御するテスト
制御回路とを具備することを特徴とする液晶駆動用集積
回路。 - 【請求項２】 請求項１記載の液晶駆動用集積回路にお
いて、 前記テスト制御回路は、前記複数個の液晶駆動出力端子
の配列における奇数番目の出力端子群に対応する液晶駆
動出力回路群および残りの偶数番目の出力端子群に対応
する対応する液晶駆動出力回路群の２つのグループに分
け、電流リークテスト時に前記２つのグループの中の一
方のグループの液晶駆動出力回路群をそれぞれ高出力イ
ンピーダンス状態、他方のグループの液晶駆動出力回路
をそれぞれ一定電圧の出力状態に制御することを特徴と
する液晶駆動用集積回路。 - 【請求項３】 請求項１記載の液晶駆動用集積回路にお
いて、 前記テスト制御回路は、前記複数個の液晶駆動出力端子
の配列における２個間隔毎の出力端子群に対応する相異
なる液晶駆動出力回路群を単位として３つのグループに
分け、電流リークテスト時に１つのグループの液晶駆動
出力回路群をそれぞれ高出力インピーダンス状態，残り
のグループの液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出
力状態に制御することを特徴とする液晶駆動用集積回
路。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれか１項に記載の
液晶駆動用集積回路の液晶駆動出力端子の電流リークテ
ストを行う際、 前記液晶駆動用集積回路のテスト制御回路により一部の
グループを選択してそれに属する複数個の液晶駆動出力
回路をそれぞれ高出力インピーダンス状態、前記一部の
グループの液晶駆動出力回路に隣り合う液晶駆動出力回
路をそれぞれ一定電圧の出力状態に制御するステップ
と、 前記液晶駆動用集積回路の全ての液晶駆動出力端子の中
で前記一部のグループに属する複数個の液晶駆動出力回
路に対応する一部の液晶駆動出力端子に対して液晶駆動
用集積回路外部のテスターの複数個のテスト端子からそ
れぞれ所定のテスト電圧を同時あるいは順次に印加し、
前記各テスト端子に流れる電流リークを測定するステッ
プとを具備することを特徴とする液晶駆動用集積回路の
テスト方法。 - 【請求項５】 請求項４記載の液晶駆動用集積回路のテ
スト方法において、 前記複数個の液晶駆動出力端子の配列における奇数番目
の出力端子群に対応する液晶駆動出力回路群および残り
の偶数番目の出力端子群に対応する対応する液晶駆動出
力回路群の２つのグループに分け、 電流リークテスト時に、前記テスト制御回路により、前
記２つのグループの中の一方のグループの液晶駆動出力
回路群をそれぞれ高出力インピーダンス状態、他方のグ
ループの液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状
態に制御し、前記液晶駆動用集積回路の全ての液晶駆動
出力端子の中で前記一方のグループに属する複数個の液
晶駆動出力回路に対応する一部の液晶駆動出力端子に対
してテスターからテスト電圧を同時あるいは順次に印加
することを特徴とする液晶駆動用集積回路のテスト方
法。 - 【請求項６】 請求項４記載の液晶駆動用集積回路のテ
スト方法において、 前記複数個の液晶駆動出力端子の配列における２個間隔
毎の出力端子群に対応する相異なる液晶駆動出力回路群
を単位として３つのグループに分け、 電流リークテスト時に、前記テスト制御回路により、前
記３つのグループの中の１つのグループの液晶駆動出力
回路群をそれぞれ高出力インピーダンス状態、残りのグ
ループの液晶駆動出力回路をそれぞれ一定電圧の出力状
態に制御し、前記液晶駆動用集積回路の全ての液晶駆動
出力端子の中で前記１つのグループに属する複数個の液
晶駆動出力回路に対応する一部の液晶駆動出力端子に対
してテスターからテスト電圧を同時あるいは順次に印加
することを特徴とする液晶駆動用集積回路のテスト方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9013997A JPH10213616A (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9013997A JPH10213616A (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10213616A true JPH10213616A (ja) | 1998-08-11 |
Family
ID=11848879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9013997A Withdrawn JPH10213616A (ja) | 1997-01-28 | 1997-01-28 | 液晶駆動用集積回路およびそのテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10213616A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7257755B2 (en) | 2003-12-25 | 2007-08-14 | Seiko Epson Corporation | Driver IC and inspection method for driver IC and output device |
| JP2008216442A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Nec Electronics Corp | 表示パネルのデータ側駆動回路、及びそのテスト方法 |
| US7936179B2 (en) | 2009-08-07 | 2011-05-03 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor integrated circuit and method of testing circuit |
-
1997
- 1997-01-28 JP JP9013997A patent/JPH10213616A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7257755B2 (en) | 2003-12-25 | 2007-08-14 | Seiko Epson Corporation | Driver IC and inspection method for driver IC and output device |
| JP2008216442A (ja) * | 2007-03-01 | 2008-09-18 | Nec Electronics Corp | 表示パネルのデータ側駆動回路、及びそのテスト方法 |
| US7936179B2 (en) | 2009-08-07 | 2011-05-03 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor integrated circuit and method of testing circuit |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040406 |