JPH10189214A - 放電ワイヤの高さ検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放電ワイヤの高さの合否検査を能率よく行な
う。 【解決手段】 シ−ルドケ−ス１４ｓおよび放電ワイヤ
１４ｗを有する放電装置１４の、該シ−ルドケ−スの開
口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電
ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し
該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体
６Ａ１を有する測定駒５Ａ１；シ−ルドケ−スの開口側
端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイ
ヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、基
準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体６Ｂ
１を有する測定駒５Ｂ１；および、各測定駒５Ａ１，５
Ｂ１のワイヤ検出導体６Ａ１，６Ｂ１への放電ワイヤの
接触を電気的に検出する通電検出手段９Ａ２，９Ｂ２，
１３；を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、シ−ルドケ−ス内
に放電ワイヤを張架した放電装置の、放電ワイヤの高さ
の良否を検査するための高さ検査装置に関する。該放電
装置は、例えば電子写真装置においては、感光体の荷
電，除電，感光体上の顕像の記録紙への転写などに用い
られる。しかし、本発明の高さ検査装置は、電子写真装
置に使用する放電装置のみならず、他の用途の放電装置
にも同様に適用できる。

【０００２】

【従来の技術】例えばドラム又はロ−ラ状の感光体の荷
電に用いられる放電装置は、そのシ−ルドケ−スをドラ
ム軸と平行にして配設され、放電ワイヤがシ−ルドケ−
スと平行に延びるので、放電ワイヤがドラム軸に平行で
ある。感光体に対する放電ワイヤの距離のばらつきは感
光体の荷電レベルのばらつきとなる。放電装置において
は、シ−ルドケ−スの開口端縁（感光体対向端）に対す
る放電ワイヤの距離（高さ又は深さと呼ばれる）を所定
にするワイヤ支持具を備えるが、組上った放電装置個々
に、高さにばらつきを生じ易い。放電ワイヤの高さが、
一定の規格内に収まっていないと帯電不良を起こし、画
像濃度が薄いといった障害が発生する。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】そこで放電ワイヤの高
さの計測が必要であるが、放電ワイヤの高さの測定は困
難を極めていた。ワイヤの線径は細く0.1mm以下でスケ
ールや様々なゲージ類でも、宙吊りのワイヤの高さの正
確な測定は困難であった。実開昭５８−１９４１号公
報，特開平６−１３０７８５号公報および特開平７−８
４３７７号公報には、放電ワイヤの高さを調整する機構
が開示されている。しかし、部品点数が増え、コストが
かかってしまう。高さ調整機構を備える場合には、調整
の前および又は調整の後に、高さ測定が必要である。高
さ調整機構を備えない場合は、出荷前に高さ測定をして
規格品のみを選別するのが好ましい。しかし上述のよう
に、正確な高さ測定が困難であり、作業能率のよい高さ
合否検査が必要と思われる。

【０００４】本発明は放電ワイヤの高さの合否検査を能
率よく行なうことを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の放電ワイヤの高
さ検査装置は、シ−ルドケ−ス(14s)および放電ワイヤ
(14w)を有する放電装置(14)の、該シ−ルドケ−スの開
口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電
ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し
該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体
(6A1)を有する測定駒(5A1)；前記シ−ルドケ−スの開口
側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワ
イヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、
該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体
(6B1)を有する測定駒(5B1)；および、各測定駒(5A1,5B
1)のワイヤ検出導体(6A1,6B1)への前記放電ワイヤの接
触を電気的に検出する通電検出手段(9A2,9B2,13)；を備
える。

【０００６】なお、理解を容易にするためにカッコ内に
は、図面に示し後述する実施例の対応要素の記号を、参
考までに付記した。

【０００７】これによれば、測定駒(5A1)の基準面にシ
−ルドケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒(5A1)
がシ−ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ(14w)
の深さが上限値ａを越えるときには、ワイヤ検出導体(6
A1)に放電ワイヤ(14w)が当らないので、放電ワイヤ(14
w)はシ−ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ
(14w)の深さが上限値ａ以下のときにはワイヤ検出導体
(6A1)に放電ワイヤ(14w)が当り、放電ワイヤ(14w)もシ
−ルドケ−スと同電位となる。したがって、通電検出手
段(9A2,9B2,13)で、シ−ルドケ−ス又は測定駒(5A1)に
電位を与えてこの電位が放電ワイヤ(14w)に現われるか
否かを検出することにより、放電ワイヤ(14w)の深さが
上限値ａを越える（放電ワイヤが低すぎる）か否かが分
かる。

【０００８】同様に、測定駒(5B1)の基準面にシ−ルド
ケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒(5B1)がシ−
ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ(14w)の深さ
が下限値ｂ未満のときには、ワイヤ検出導体(6B1)に放
電ワイヤ(14w)が当らないので、放電ワイヤ(14w)はシ−
ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ(14w)の
深さが下限値ｂ以上のときにはワイヤ検出導体(6B1)に
放電ワイヤ(14w)が当り、放電ワイヤ(14w)もシ−ルドケ
−スと同電位となる。したがって、通電検出手段(9A2,9
B2,13)で、シ−ルドケ−ス又は測定駒(5B1)に電位を与
えてこの電位が放電ワイヤ(14w)に現われるか否かを検
出することにより、放電ワイヤ(14w)の深さが下限値ｂ
未満（放電ワイヤが高すぎる）か否かが分かる。

【０００９】このように２種類の測定駒(5A1,5B1)を用
いて、放電ワイヤ(14w)の深さが上限値ａを超える（放
電ワイヤが低すぎる）か、上限値ａ以下下限値ｂ以上
（ＯＫ）か、あるいは下限値ｂ未満（放電ワイヤが高す
ぎる）かを判定することができる。

【００１０】

【発明の実施の形態】

（１）例えばテスタなど、通電（電気接続）の有無ある
いは抵抗値を設定しうる通電測定器の１対の測定プロ−
ブの１つをシ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ａ１，５Ｂ
１）に接続し、もう１つの測定プロ−ブを放電装置（１
４）の、放電ワイヤ(14w)を接続した電源接続ピン(コネ
クタピン)に接続して、測定駒(5A1,5B1)を、そのワイヤ
検出導体(6A1,6B1)をシ−ルドケ−スの開口内に挿入す
るようにして、その基準面をシ−ルドケ−スの開口縁に
当てたときの、前記１対のプロ−ブ間の電気接続（通
電）の有無もしくは抵抗値を把握又は計測することによ
り、簡易に上述の、放電ワイヤ(14w)の深さが上限値ａ
を超えるか否か、および、放電ワイヤ(14w)の深さが下
限値ｂ未満か否かの測定をすることができる。また放電
装置(14)に装着した測定駒(5A1,5B1)を放電ワイヤに沿
ってそれが延びる方向にずらすことにより、放電ワイヤ
の長手方向各部のワイヤ高さの合否を測定することがで
きる。本発明のこの簡易な実施態様では、通電検出手段
は、テスタなどの通電測定器である。

【００１１】（２）検査台(1,2)；該検査台上の基準面
(5A1,5A2)；シ−ルドケ−ス(14s)および放電ワイヤ(14
w)を有する放電装置(14)の、該シ−ルドケ−スの開口側
端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に
該放電装置を位置決めするための、位置規制部材(3A1,3
A2,4A1,4A2)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口
側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに
放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体(6A
1)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対
する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ
受け端を有し、第１のワイヤ検出導体(6A1)とは放電ワ
イヤ(14w)の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体
(6A2)；および、第１および第２のワイヤ検出導体(6A1,
6A2)に対する放電ワイヤ(14w)の接触の有無を検知しそ
れを表わす信号を発生する手段(13)；を備える放電ワイ
ヤの高さ検査装置。

【００１２】これによれば、位置規制部材(3A1,3A2,4A
1,4A2)の規制に従って放電装置(14)を検査台(1,2)上
に、そのシ−ルドケ−ス(14s)の開口側端縁を基準面(5A
1,5A2)に当てて載せると、放電ワイヤ(14w)の深さ（開
口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると手段(13)
が接触を表わす信号(低くない）を発生し、放電ワイヤ
(14w)の深さが上限値ａ超であると手段(13)が非接触を
表わす信号(ワイヤ低すぎ）を発生する。放電装置(14)
を所定の姿勢で検査台(1,2)上の所定位置に載せること
により、このように放電ワイヤ(14w)の高さが上限値ａ
以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生さ
れ、放電ワイヤ(14w)の高さが低過ぎるか否かの検査の
作業能率が高い。

【００１３】（３）検査台(1,2)；該検査台上の基準面
(5B1,5B2)；シ−ルドケ−ス(14s)および放電ワイヤ(14
w)を有する放電装置(14)の、該シ−ルドケ−スの開口側
端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に
該放電装置を位置決めするための、位置規制部材(3B1,3
B2,4B1,4B2)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口
側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに
放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体(6B
1)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対
する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ
受け端を有し、第１のワイヤ検出導体(6B1)とは放電ワ
イヤ(14w)の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体
(6B2)；および、第１および第２のワイヤ検出導体(6B1,
6B2)に対する放電ワイヤ(14w)の接触の有無を検知しそ
れを表わす信号を発生する手段(13)；を備える放電ワイ
ヤの高さ検査装置。

【００１４】これによれば、位置規制部材(3B1,3B2,4B
1,4B2)の規制に従って放電装置(14)を検査台(1,2)上
に、そのシ−ルドケ−ス(14s)の開口側端縁を基準面(5B
1,5B2)に当てて載せると、放電ワイヤ(14w)の深さ（開
口側端縁からの距離）が下限値ｂ以下であると手段(13)
が接触を表わす信号(ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワ
イヤ(14w)の深さが下限値ｂ超であると手段(13)が非接
触を表わす信号(高くない）を発生する。放電装置(14)
を所定の姿勢で検査台(1,2)上の所定位置に載せること
により、このように放電ワイヤ(14w)の高さが下限値ｂ
以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生さ
れ、放電ワイヤ(14w)の高さが高過ぎるか否かの検査の
作業能率が高い。

【００１５】（４）検査台(1,2)；該検査台上の基準面
(5A1,5A2/5B1,5B2)；シ−ルドケ−ス(14s)および放電ワ
イヤ(14w)を有する放電装置(14)の、該シ−ルドケ−ス
の開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所
定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部
材(3A1,3A2,4A1,4A2/3B1,3B2,4B1,4B2)；基準面から、
前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイ
ヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第
１組の第１ワイヤ検出導体(6A1)；基準面から、前記シ
−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深
さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１ワイ
ヤ検出導体(6A1)とは放電ワイヤ(14w)の延びる方向に離
れた第１組の第２ワイヤ検出導体(6A2)；第１および第
２ワイヤ検出導体(6A1,6A2)に対する放電ワイヤ(14w)の
接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第１手
段(13)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁
に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワ
イヤ受け端を有する第２組の第１ワイヤ検出導体(6B
1)；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対
する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ
受け端を有し、第２組の第１ワイヤ検出導体(6B1)とは
放電ワイヤ(14w)の延びる方向に離れた第２組の第２ワ
イヤ検出導体(6B2)；および、第２組の第１および第２
ワイヤ検出導体(6B1,6B2)に対する放電ワイヤ(14w)の接
触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第２手段
(13)；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。

【００１６】これによれば、位置規制部材(3A1,3A2,4A
1,4A2)の規制に従って放電装置(14)を検査台(1,2)上
に、そのシ−ルドケ−ス(14s)の開口側端縁を基準面(5A
1,5A2)に当てて載せると、放電ワイヤ(14w)の深さ（開
口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると第１手段
(13)が接触を表わす信号(低くない）を発生し、放電ワ
イヤ(14w)の深さが上限値ａ超であると第１手段(13)が
非接触を表わす信号(ワイヤ低すぎ）を発生する。

【００１７】また、位置規制部材(3B1,3B2,4B1,4B2)の
規制に従って放電装置(14)を検査台(1,2)上に、そのシ
−ルドケ−ス(14s)の開口側端縁を基準面(5B1,5B2)に当
てて載せると、放電ワイヤ(14w)の深さ（開口側端縁か
らの距離）が下限値ｂ以下であると第２手段(13)が接触
を表わす信号(ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワイヤ(14
w)の深さが下限値ｂ超であると第２手段(13)が非接触を
表わす信号(高くない）を発生する。

【００１８】放電装置(14)を所定の姿勢で検査台(1,2)
上の所定位置に順次に載せることにより、放電ワイヤ(1
4w)の高さが上限値ａ以下かそれを越えるかを表わす信
号と、放電ワイヤ(14w)の高さが下限値ｂ以下かそれを
越えるかを表わす信号が順次に、自動的に発生され、放
電ワイヤ(14w)の高さが低過ぎるか否か、および、放電
ワイヤ(14w)の高さが高過ぎるか否か、の検査の作業能
率が高い。

【００１９】（５）第１手段(13)が接触有りを検知し第
２手段(13)が接触無しを検知したとき正常(OK)を表わす
報知情報を、第１手段(13)が接触無しを検知したとき放
電ワイヤが低すぎる報知情報を、第１手段(13)が接触有
りを検知し第２手段(13)が接触有りを検知したとき放電
ワイヤが高すぎる報知情報を発生する論理処理手段(LA
1,AN7,AN8)；を更に備える。

【００２０】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。

【００２１】

【実施例】 −第１実施例− 図１に本発明の第１実施例の上面を、図２に正面を示
す。両図面を参照すると、金属ベ−ス１に図示しない止
めねじで絶縁体の検査台２が固着されており、この検査
台２に、帯電チャ−ジャ（放電装置）１４のシ−ルドケ
−ス１４ｓを第１位置（Ａ位置）に位置決めするための
規制柱３Ａ１，３Ａ２および規制ピン４Ａ１，４Ａ２が
立てられている。なお図１において、細線の丸は、止め
ねじ又はリ−ド接続ねじがねじ込まれ又は貫通する雌ね
じ穴を示す。これらのねじ穴にねじ込まれた止めねじお
よびリ−ド接続ねじの図示は省略した。上述の規制柱３
Ａ１，３Ａ２は、それらのねじ通し穴（細線丸）を貫通
し検査台２にの雌ねじ穴にねじ込まれた止めねじによっ
て検査台２に固着されている。

【００２２】同様に、検査台２に、帯電チャ−ジャ１４
のシ−ルドケ−ス１４ｓを第２位置（Ｂ位置）に位置決
めするための規制柱３Ｂ１，３Ｂ２および規制ピン４Ｂ
１，４Ｂ２が立てられている。

【００２３】同様に、前後位置調整用のねじ８Ａがねじ
結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ａと、ねじ８
Ｂがねじ結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ｂ
が、検査台２に立てられている。ねじ８Ａは、規制柱３
Ａ２と規制ピン４Ａ２の中間に位置し、ねじ８Ｂは、規
制柱３Ｂ２と規制ピン４Ｂ２の中間に位置する。

【００２４】図１に２点鎖線で示すように帯電チャ−ジ
ャ１４を、その取手側エンドブロックと一体の取手をね
じ８Ａの先端に当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口
（感光体対向端の開口）を検査台２の表面に向けて検査
台２に載せたとき、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン
（２本）の先端が位置する所に、接点導体９Ａ１，９Ａ
２がある。これらの接点導体９Ａ１，９Ａ２はステム１
０を有し、それらのステムが絶縁体のホルダで、帯電チ
ャ−ジャ１４の長手方向に移動自在に支持され、かつ圧
縮コイルスプリング１１ａ（押し用）および１１ｂ（電
気接続用）の反発力で、絶縁体のホルダから突き出すよ
うに付勢されている。図１に２点鎖線で示すように帯電
チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置くと、帯電チ
ャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス接続ピンが接点導体９Ａ
１に、放電ワイヤ接続ピンが接点導体９Ａ２に接触す
る。

【００２５】上述の接点導体９Ａ１，９Ａ２と同様な接
点導体９Ｂ１，９Ｂ２が、帯電チャ−ジャ１４を、その
取手側エンドブロックと一体の取手をねじ８Ｂの先端に
当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口を検査台２の表面
に向けて検査台２上の第２位置（Ｂ位置）に載せたと
き、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン（２本）の先端
が位置する所にあり、帯電チャ−ジャ１４を第２位置
（Ｂ位置）に置くと、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ
−ス接続ピンが接点導体９Ｂ１に、放電ワイヤ接続ピン
が接点導体９Ｂ２に接触する。

【００２６】上述のように帯電チャ−ジャ１４を第１位
置（Ａ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ１４ｗのコ
ネクタピン近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）
の第１ワイヤ検出導体６Ａ１が、放電ワイヤ１４ｗの取
手近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）の第２ワ
イヤ検出導体６Ａ２がある。同様に、帯電チャ−ジャ１
４を第２位置（Ｂ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ
１４ｗのコネクタピン近くの部位が位置する所に、第２
組（Ｂ組）の第１ワイヤ検出導体６Ｂ１があり、放電ワ
イヤ１４ｗの取手近くの部位が位置する所に、第２組
（Ｂ組）の第２ワイヤ検出導体６Ｂ２がある。

【００２７】この第１実施例では、第１ワイヤ検出導体
６Ａ１および６Ｂ１はそれぞれ、全体が導電体（金属）
の第１組の第１の測定駒５Ａ１および第２組の第１の測
定駒５Ｂ１の一部分（削り出し部）であり、第１組の第
１ワイヤ検出導体６Ａ１の上端面は、測定駒５Ａ１の上
面（基準面）よりａ（放電ワイヤの深さ上限値；具体的
には6mm)の高さである。ところが第２組の第１ワイヤ検
出導体６Ｂ１の上端面は、測定駒５Ｂ１の上面（基準
面）よりｂ（放電ワイヤの深さ下限値；具体的には5.4m
m)の高さであり、第１組のものよりも低い。

【００２８】これらの測定駒５Ａ１，５Ｂ１を拡大して
図３に示す。図３において１４，１５が検査台２にねじ
込む止めねじが通るねじ通し穴、１６は、ワイヤ検出導
体（測定駒）を測定回路装置１３の電気回路に接続する
ための電気リ−ドを測定駒に固着（電気接続）する接続
ねじがねじ結合する雌ねじ穴である。

【００２９】この第１実施例では第１測定駒５Ａ１，５
Ｂ１は全体が導電体のものであるが、第２測定駒５Ａ
２，５Ｂ２は、絶縁体ベ−ス（駒本体）に第２ワイヤ検
出導体６Ａ２，６Ｂ２を立て、絶縁体ベ−スの下底のく
ぼみに沿って導体６Ａ２，６Ｂ２に接続した電気リ−ド
を配設してその電気リ−ドをねじ通し穴（１５相当）を
通して絶縁体ベ−スの上面の上方に引き出したものであ
り、基準面となる駒本体の表面は絶縁体面である。な
お、第１組の第２ワイヤ検出導体６Ａ２の上端面は、測
定駒５Ａ２の上面よりａの高さであり、第２組の第２ワ
イヤ検出導体６Ｂ２の上端面は、測定駒５Ｂ２の上面よ
りｂの高さであり、第１組のものよりも低い。

【００３０】したがって、図１に示すように帯電チャ−
ジャ１４を検査台２上の第１位置（Ａ位置）に載せてそ
のシ−ルドケ−スの開口縁を第１測定駒５Ａ１および第
２測定駒５Ｂ１の基準面に当てると、第１測定駒５Ａ１
（および第１ワイヤ検出導体６Ａ１），シ−ルドケ−ス
１４ｓおよび第１接点導体９Ａ１が同電位となる。すな
わち、第１測定駒５Ａ１に正電圧（Ｖｃ）を印加する
と、第１接点導体９Ａ１が正電圧となる。この状態で、
仮に第１ワイヤ検出導体６Ａ１に放電ワイヤ１４ｗが当
接していると放電ワイヤ１４ｗ（したがって第２接点導
体９Ａ２）が正電圧となる。この状態で仮に第２ワイヤ
検出導体６Ａ２に放電ワイヤ１４ｗが当接していると、
第２ワイヤ検出導体６Ａ２も正電圧となる。つまり、第
１測定駒５Ａ１に正電圧を印加したとき、第２ワイヤ検
出導体６Ａ２に正電圧が現われる（これを以下におい
て、検出導体間導通と称す）。これは、放電ワイヤ１４
ｗが第１および第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両
者に接触していることを意味する。第１測定駒５Ａ１に
正電圧を印加しているとき、放電ワイヤ１４ｗが第１お
よび第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方
と接触していないと、第２ワイヤ検出導体６Ａ２に正電
圧が現われない（これを以下において、検出導体間遮断
と称す）。

【００３１】帯電チャ−ジャ１４を検査台２上の第２位
置（Ｂ位置）に置いて、上述と同様に、検出導体間導通
か検出導体間遮断かを知ることができる。上述のように
第１組（Ａ組）のワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の高さ
ａが放電ワイヤの深さ上限値、第２組（Ｂ組）のワイヤ
検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の高さｂが放電ワイヤの深さ限
下値に定められているので、上述の、第１位置および第
２位置での検出導体間導通か検出導体間遮断かの検出に
より、次のように、放電ワイヤの高さが規格内か否かを
判定しうる。

【００３２】 第１表 第１位置での検出結果 第２位置での検出結果 規格内外判定 検出導体間導通 検出導体間遮断 ＯＫ（規格内） 検出導体間遮断 −−−−−−− 低（ワイヤ低すぎ) 検出導体間導通 検出導体間導通 高（ワイヤ高すぎ)。

【００３３】図４に、図１および図２に示す測定回路装
置１３の内部の電気回路を示す。第１組および第２組の
第１ワイヤ検出導体６Ａ１および６Ｂ１に電源回路ＰＳ
Ｏが正電圧Ｖc（以下単に高レベルＨ又は単にＨと称
す）を印加する。なお、Ｈの反転である機器ア−スレベ
ルを、以下単に低レベルＬ又はＬと称す。

【００３４】作業者が帯電チャ−ジャ１４を図１に２点
鎖線で示すように第１位置（Ａ位置）に置くと、そのシ
−ルドケ−ス１４ｓが測定駒５Ａ１に接触したときに第
１接点導体９Ａ１がＨとなり、その立上り点でラッチＬ
Ａ１に、そのときのワイヤ検出導体６Ａ２の電圧（検出
導体間導通のときＨ／検出導体間遮断のときＬ）と、イ
ンバ−タＩＮ１が発生するその反転電圧（検出導体間導
通のときＬ／検出導体間遮断のときＨ）が保持される。
また、第１接点導体９Ａ１がＨの間、ラッチＬＡ２はク
リア（初期化）される。

【００３５】次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位
置（Ｂ位置）に置くと、そのシ−ルドケ−ス１４ｓが測
定駒５Ｂ１に接触したときに第１接点導体９Ｂ１がＨと
なり、そのとき、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−トＡＮ
７，８の出力（上記第１表の規格内外判定の欄の該当す
る行がＨの信号）がラッチＬＡ２に保持される。すなわ
ち規格内外判定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨ
に、低のときには低信号ラインがＨに、高のときには高
信号ラインがＨになる。

【００３６】そしてＯＫ信号ラインがＨになるとランプ
ドライバＬＡＤがＯＫ表示ランプ１６を点灯すると共
に、ブザ−ドライバＢＺＤが所定短時間の間ブザ−１９
を鳴動付勢する。この表示およびブザ−音より作業者は
帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが規格内である
ことを認知する。

【００３７】低信号ラインがＨになるとランプドライバ
ＬＡＤが低表示ランプ１７を点灯する。この表示より作
業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、低す
ぎ規格外れであることを認知する。

【００３８】高信号ラインがＨになるとランプドライバ
ＬＡＤが高表示ランプ１８を点灯する。この表示より作
業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、高す
ぎ規格外れであることを認知する。

【００３９】−第２実施例− 第２実施例は、測定回路装置１３の内部の電気回路の構
成が第１実施例のものと異なる。図５に第２実施例の測
定回路装置１３の内部の電気回路を示す。また第２実施
例では、第１組の第２測定駒５Ａ２は第１組の第１測定
駒５Ａ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）であ
る。同様に、第２組の第２測定駒５Ｂ２も第２組の第１
測定駒５Ｂ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）
である。その他は、第１実施例と同様である。

【００４０】図５を参照すると、電源回路ＰＳＯが第１
接点導体９Ａ１，９Ｂ１にＨを印加するので、帯電チャ
−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置いたときならびに
第２位置（Ｂ位置）に置いたときに、帯電チャ−ジャ１
４のシ−ルドケ−ス１４ｓがＨとなる。

【００４１】作業者が帯電チャ−ジャ１４を第１位置に
置いたときには、第１測定駒５Ａ１（およびそのワイヤ
検出導体６Ａ１）および第２測定駒５Ａ２（およびその
ワイヤ検出導体６Ａ２）がＨになり、ワイヤ検出導体６
Ａ１，６Ａ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接してい
る（ワイヤが低すぎない）と第２接点導体９Ａ２がＨと
なって、アンドゲ−トＡＮ１の出力がＨとなるが、ワイ
ヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２のいずれにも放電ワイヤが接
触していなとアンドゲ−トＡＮ２の出力がＨとなる。ワ
イヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両者が共にＨ（測定駒５
Ａ１，５Ａ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になった
ときにアンドゲ−トＡＮ３の出力がＨとなりその立上り
点でラッチＬＡ１に、アンドゲ−トＡＮ１の出力（Ｈ：
ＯＫ／Ｌ：低すぎる）およびアンドゲ−トＡＮ１の出力
（Ｈ：低すぎる／Ｌ：ＯＫ）が保持される。なお、ワイ
ヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方がＨ（測定駒
５Ａ１，５Ａ２の少くとも一方にシ−ルドケ−スが接
触）のときにラッチＬＡ２がクリアされる。

【００４２】次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位
置に置いたときには、第１測定駒５Ｂ１（およびそのワ
イヤ検出導体６Ｂ１）および第２測定駒５Ｂ２（および
そのワイヤ検出導体６Ｂ２）がＨになり、ワイヤ検出導
体６Ｂ１，６Ｂ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接し
ている（ワイヤが高すぎる）と第２接点導体９Ｂ２がＨ
となって、アンドゲ−トＡＮ４の出力がＨとなるが、ワ
イヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２のいずれにも放電ワイヤが
接触していなとアンドゲ−トＡＮ５の出力がＨとなる。
ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の両者が共にＨ（測定駒
５Ｂ１，５Ｂ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になっ
たときにアンドゲ−トＡＮ６の出力がＨとなりその立上
り点でラッチＬＡ２に、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−
トＡＮ７，８の出力が保持される。すなわち規格内外判
定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨに、低のときに
は低信号ラインがＨに、高のときには高信号ラインがＨ
になる。ラッチＬＡ２以降の構成は、上述の第１実施例
（図４）と同一である。

【００４３】なお、シールドケースのサイズが、複数の
場合には、上述の検査装置（第１実施例又は第２実施
例）を各サイズ対応で備えてもよいし、同一ベ−ス
（１）上に、サイズ対応で複数の検査装置を装備しても
よい。

【００４４】以上に説明したように、ワイヤ高さの判定
ができる２種類（第１組および第２組）の測定駒を有し
ているので、容易に短時間にワイヤ高さの判定が可能と
なった。従来のハイトゲージやスケールで測定する方法
だと時間もかかるし、測定誤差も多かったが、帯電チャ
−ジャ１台あたりの測定時間２分位で判定が可能であ
る。この装置だと具体的なワイヤ高さは測定できない
が、製造ラインでは高さを測る必要もなく、ＯＫ（規格
内）／ＮＧ（規格外）の判定をするだけであるので十分
である。

【００４５】上述の各実施例では、測定駒を検査台２に
固定しているので、測定駒に付いているリ−ド線又はハ
ーネスが絡まったりする事がなくなり、さらに測定時間
の短縮が可能である。また、作業者によって測定駒をセ
ットする位置がばらついたりするため、判定に差が出た
りしたが、この装置を使うことにより、ばらつきはなく
なる。測定時間は、２分くらいから１分くらいに短縮で
きる。

【００４６】上述の各実施例では、導通チェック用のテ
スタの代わりにブザー／ランプを有しているので、ＯＫ
／ＮＧの判定が容易にできるようになった。テスタでの
判定も決して困難ではないが、作業者によってはもっと
簡単に判別できる方法を好む。また、官能的に瞬時に判
断できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１実施例を示す平面図である。

【図２】 第１実施例の正面図である。

【図３】 図２に示す測定駒５Ａ１および５Ｂ１を拡大
して示す図面であり、（ａ）は測定駒５Ａ１の拡大平面
図、（ｂ）は測定駒５Ａ１の拡大正面図、（ｃ）は測定
駒５Ｂ１の拡大平面図、（ｄ）は測定駒５Ｂ１の拡大正
面図である。

【図４】 図１および図２に示す測定回路装置１３の内
部の電気回路を示すブロック図である。

【図５】 本発明の第２実施例の測定回路装置１３の内
部の電気回路を示すブロック図である。

【符号の説明】

１：金属ベ−ス ２：検査台 ３Ａ１〜３Ｂ２：規制柱 ４Ａ１〜４Ｂ
２：規制ピン ５Ａ１〜５Ｂ２：測定駒 ６Ａ１〜６Ｂ
２：ワイヤ検出導体 ７Ａ，７Ｂ：ストッパ ８Ａ，８Ｂ：
ねじ ９Ａ１〜９Ｂ２：接点導体 １０：ステム １１ａ，１１ｂ：圧縮コイルスプリング １２：外部接
続導体 １３：測定回路装置 １４：帯電チ
ャ−ジャ（放電装置） １５Ｓ：電源スイッチ １５Ｌ：電源
ランプ １６〜１８：表示灯 １９：ブザ− ＬＡ１，ＬＡ２：ラッチ

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】シ−ルドケ−スおよび放電ワイヤを有する
   放電装置の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電
   体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ上限値
   ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的
   な接続接続関係にあるワイヤ検出導体を有する測定駒；
   前記シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面
   と、該基準面から、放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに
   放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的な接続接続
   関係にあるワイヤ検出導体を有する測定駒；および、 各測定駒のワイヤ検出導体への前記放電ワイヤの接触を
   電気的に検出する通電検出手段；を備える放電ワイヤの
   高さ検査装置。
2. 【請求項２】検査台；該検査台上の基準面；シ−ルドケ
   −スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルド
   ケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台
   上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置
   規制部材；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端
   縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電
   ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体；基準面か
   ら、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電
   ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有
   し、第１のワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向
   に離れた第２のワイヤ検出導体；および、 第１および第２のワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの
   接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段；
   を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
3. 【請求項３】検査台；該検査台上の基準面；シ−ルドケ
   −スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルド
   ケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台
   上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置
   規制部材；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端
   縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電
   ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体；基準面か
   ら、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電
   ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有
   し、第１のワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向
   に離れた第２のワイヤ検出導体；および、 第１および第２のワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの
   接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段；
   を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
4. 【請求項４】検査台；該検査台上の基準面；シ−ルドケ
   −スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルド
   ケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台
   上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置
   規制部材；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端
   縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電
   ワイヤ受け端を有する第１組の第１ワイヤ検出導体；基
   準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前
   記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端
   を有し、第１ワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方
   向に離れた第１組の第２ワイヤ検出導体；第１組の第１
   および第２ワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの接触の
   有無を検知しそれを表わす信号を発生する第１手段；基
   準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前
   記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端
   を有する第２組の第１ワイヤ検出導体；基準面から、前
   記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤ
   の深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第２
   組の第１ワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向に
   離れた第２組の第２ワイヤ検出導体；および、 第２組の第１および第２ワイヤ検出導体に対する放電ワ
   イヤの接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する
   第２手段；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
5. 【請求項５】第１手段が接触有りを検知し第２手段が接
   触無しを検知したとき正常を表わす報知情報を、第１手
   段が接触無しを検知したとき放電ワイヤが低すぎる報知
   情報を、第１手段が接触有りを検知し第２手段が接触有
   りを検知したとき放電ワイヤが高すぎる報知情報を発生
   する論理処理手段；を更に備える請求項４記載の放電ワ
   イヤの高さ検査装置。