JP3542247B2 - 放電ワイヤの高さ検査装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、シ−ルドケ−ス内に放電ワイヤを張架した放電装置の、放電ワイヤの高さの良否を検査するための高さ検査装置に関する。該放電装置は、例えば電子写真装置においては、感光体の荷電，除電，感光体上の顕像の記録紙への転写などに用いられる。しかし、本発明の高さ検査装置は、電子写真装置に使用する放電装置のみならず、他の用途の放電装置にも同様に適用できる。
【０００２】
【従来の技術】
例えばドラム又はロ−ラ状の感光体の荷電に用いられる放電装置は、そのシ−ルドケ−スをドラム軸と平行にして配設され、放電ワイヤがシ−ルドケ−スと平行に延びるので、放電ワイヤがドラム軸に平行である。感光体に対する放電ワイヤの距離のばらつきは感光体の荷電レベルのばらつきとなる。放電装置においては、シ−ルドケ−スの開口端縁（感光体対向端）に対する放電ワイヤの距離（高さ又は深さと呼ばれる）を所定にするワイヤ支持具を備えるが、組上った放電装置個々に、高さにばらつきを生じ易い。放電ワイヤの高さが、一定の規格内に収まっていないと帯電不良を起こし、画像濃度が薄いといった障害が発生する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
そこで放電ワイヤの高さの計測が必要であるが、放電ワイヤの高さの測定は困難を極めていた。ワイヤの線径は細く０．１ｍｍ以下でスケールや様々なゲージ類でも、宙吊りのワイヤの高さの正確な測定は困難であった。実開昭５８−１９４１号公報，特開平６−１３０７８５号公報および特開平７−８４３７７号公報には、放電ワイヤの高さを調整する機構が開示されている。しかし、部品点数が増え、コストがかかってしまう。高さ調整機構を備える場合には、調整の前および又は調整の後に、高さ測定が必要である。高さ調整機構を備えない場合は、出荷前に高さ測定をして規格品のみを選別するのが好ましい。しかし上述のように、正確な高さ測定が困難であり、作業能率のよい高さ合否検査が必要と思われる。
【０００４】
本発明は放電ワイヤの高さの合否検査を能率よく行なうことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明の放電ワイヤの高さ検査装置は、シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体（６Ａ１）を有する測定駒（５Ａ１）；前記シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体（６Ｂ１）を有する測定駒（５Ｂ１）；および、各測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）のワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ｂ１）への前記放電ワイヤの接触を電気的に検出する通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）；を備える。
【０００６】
なお、理解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述する実施例の対応要素の記号を、参考までに付記した。
【０００７】
これによれば、測定駒（５Ａ１）の基準面にシ−ルドケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒（５Ａ１）がシ−ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを越えるときには、ワイヤ検出導体（６Ａ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当らないので、放電ワイヤ（１４ｗ）はシ−ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ以下のときにはワイヤ検出導体（６Ａ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当り、放電ワイヤ（１４ｗ）もシ−ルドケ−スと同電位となる。したがって、通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）で、シ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ａ１）に電位を与えてこの電位が放電ワイヤ（１４ｗ）に現われるか否かを検出することにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを越える（放電ワイヤが低すぎる）か否かが分かる。
【０００８】
同様に、測定駒（５Ｂ１）の基準面にシ−ルドケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒（５Ｂ１）がシ−ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満のときには、ワイヤ検出導体（６Ｂ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当らないので、放電ワイヤ（１４ｗ）はシ−ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ以上のときにはワイヤ検出導体（６Ｂ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当り、放電ワイヤ（１４ｗ）もシ−ルドケ−スと同電位となる。したがって、通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）で、シ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ｂ１）に電位を与えてこの電位が放電ワイヤ（１４ｗ）に現われるか否かを検出することにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満（放電ワイヤが高すぎる）か否かが分かる。
【０００９】
このように２種類の測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を用いて、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを超える（放電ワイヤが低すぎる）か、上限値ａ以下下限値ｂ以上（ＯＫ）か、あるいは下限値ｂ未満（放電ワイヤが高すぎる）かを判定することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
（１）例えばテスタなど、通電（電気接続）の有無あるいは抵抗値を設定しうる通電測定器の１対の測定プロ−ブの１つをシ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）に接続し、もう１つの測定プロ−ブを放電装置（１４）の、放電ワイヤ（１４ｗ）を接続した電源接続ピン（コネクタピン）に接続して、測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を、そのワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ｂ１）をシ−ルドケ−スの開口内に挿入するようにして、その基準面をシ−ルドケ−スの開口縁に当てたときの、前記１対のプロ−ブ間の電気接続（通電）の有無もしくは抵抗値を把握又は計測することにより、簡易に上述の、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを超えるか否か、および、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満か否かの測定をすることができる。また放電装置（１４）に装着した測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を放電ワイヤに沿ってそれが延びる方向にずらすことにより、放電ワイヤの長手方向各部のワイヤ高さの合否を測定することができる。本発明のこの簡易な実施態様では、通電検出手段は、テスタなどの通電測定器である。
【００１１】
（２）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ａ１，５Ａ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体（６Ａ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体（６Ａ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体（６Ａ２）；および、第１および第２のワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ａ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１２】
これによれば、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ａ１，５Ａ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると手段（１３）が接触を表わす信号（低くない）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ超であると手段（１３）が非接触を表わす信号（ワイヤ低すぎ）を発生する。放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に載せることにより、このように放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが上限値ａ以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが低過ぎるか否かの検査の作業能率が高い。
【００１３】
（３）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体（６Ｂ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体（６Ｂ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体（６Ｂ２）；および、第１および第２のワイヤ検出導体（６Ｂ１，６Ｂ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１４】
これによれば、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が下限値ｂ以下であると手段（１３）が接触を表わす信号（ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ超であると手段（１３）が非接触を表わす信号（高くない）を発生する。放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に載せることにより、このように放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが下限値ｂ以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが高過ぎるか否かの検査の作業能率が高い。
【００１５】
（４）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ａ１，５Ａ２／５Ｂ１，５Ｂ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２／３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１組の第１ワイヤ検出導体（６Ａ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１ワイヤ検出導体（６Ａ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第１組の第２ワイヤ検出導体（６Ａ２）；第１および第２ワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ａ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第１手段（１３）；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第２組の第１ワイヤ検出導体（６Ｂ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第２組の第１ワイヤ検出導体（６Ｂ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２組の第２ワイヤ検出導体（６Ｂ２）；および、第２組の第１および第２ワイヤ検出導体（６Ｂ１，６Ｂ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第２手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１６】
これによれば、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ａ１，５Ａ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると第１手段（１３）が接触を表わす信号（低くない）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ超であると第１手段（１３）が非接触を表わす信号（ワイヤ低すぎ）を発生する。
【００１７】
また、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が下限値ｂ以下であると第２手段（１３）が接触を表わす信号（ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ超であると第２手段（１３）が非接触を表わす信号（高くない）を発生する。
【００１８】
放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に順次に載せることにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが上限値ａ以下かそれを越えるかを表わす信号と、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが下限値ｂ以下かそれを越えるかを表わす信号が順次に、自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが低過ぎるか否か、および、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが高過ぎるか否か、の検査の作業能率が高い。
【００１９】
（５）第１手段（１３）が接触有りを検知し第２手段（１３）が接触無しを検知したとき正常（ＯＫ）を表わす報知情報を、第１手段（１３）が接触無しを検知したとき放電ワイヤが低すぎる報知情報を、第１手段（１３）が接触有りを検知し第２手段（１３）が接触有りを検知したとき放電ワイヤが高すぎる報知情報を発生する論理処理手段（ＬＡ１，ＡＮ７，ＡＮ８）；を更に備える。
【００２０】
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【００２１】
【実施例】
−第１実施例−
図１に本発明の第１実施例の上面を、図２に正面を示す。両図面を参照すると、金属ベ−ス１に図示しない止めねじで絶縁体の検査台２が固着されており、この検査台２に、帯電チャ−ジャ（放電装置）１４のシ−ルドケ−ス１４ｓを第１位置（Ａ位置）に位置決めするための規制柱３Ａ１，３Ａ２および規制ピン４Ａ１，４Ａ２が立てられている。なお図１において、細線の丸は、止めねじ又はリ−ド接続ねじがねじ込まれ又は貫通する雌ねじ穴を示す。これらのねじ穴にねじ込まれた止めねじおよびリ−ド接続ねじの図示は省略した。上述の規制柱３Ａ１，３Ａ２は、それらのねじ通し穴（細線丸）を貫通し検査台２にの雌ねじ穴にねじ込まれた止めねじによって検査台２に固着されている。
【００２２】
同様に、検査台２に、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス１４ｓを第２位置（Ｂ位置）に位置決めするための規制柱３Ｂ１，３Ｂ２および規制ピン４Ｂ１，４Ｂ２が立てられている。
【００２３】
同様に、前後位置調整用のねじ８Ａがねじ結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ａと、ねじ８Ｂがねじ結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ｂが、検査台２に立てられている。ねじ８Ａは、規制柱３Ａ２と規制ピン４Ａ２の中間に位置し、ねじ８Ｂは、規制柱３Ｂ２と規制ピン４Ｂ２の中間に位置する。
【００２４】
図１に２点鎖線で示すように帯電チャ−ジャ１４を、その取手側エンドブロックと一体の取手をねじ８Ａの先端に当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口（感光体対向端の開口）を検査台２の表面に向けて検査台２に載せたとき、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン（２本）の先端が位置する所に、接点導体９Ａ１，９Ａ２がある。これらの接点導体９Ａ１，９Ａ２はステム１０を有し、それらのステムが絶縁体のホルダで、帯電チャ−ジャ１４の長手方向に移動自在に支持され、かつ圧縮コイルスプリング１１ａ（押し用）および１１ｂ（電気接続用）の反発力で、絶縁体のホルダから突き出すように付勢されている。図１に２点鎖線で示すように帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置くと、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス接続ピンが接点導体９Ａ１に、放電ワイヤ接続ピンが接点導体９Ａ２に接触する。
【００２５】
上述の接点導体９Ａ１，９Ａ２と同様な接点導体９Ｂ１，９Ｂ２が、帯電チャ−ジャ１４を、その取手側エンドブロックと一体の取手をねじ８Ｂの先端に当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口を検査台２の表面に向けて検査台２上の第２位置（Ｂ位置）に載せたとき、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン（２本）の先端が位置する所にあり、帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置くと、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス接続ピンが接点導体９Ｂ１に、放電ワイヤ接続ピンが接点導体９Ｂ２に接触する。
【００２６】
上述のように帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ１４ｗのコネクタピン近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）の第１ワイヤ検出導体６Ａ１が、放電ワイヤ１４ｗの取手近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）の第２ワイヤ検出導体６Ａ２がある。同様に、帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ１４ｗのコネクタピン近くの部位が位置する所に、第２組（Ｂ組）の第１ワイヤ検出導体６Ｂ１があり、放電ワイヤ１４ｗの取手近くの部位が位置する所に、第２組（Ｂ組）の第２ワイヤ検出導体６Ｂ２がある。
【００２７】
この第１実施例では、第１ワイヤ検出導体６Ａ１および６Ｂ１はそれぞれ、全体が導電体（金属）の第１組の第１の測定駒５Ａ１および第２組の第１の測定駒５Ｂ１の一部分（削り出し部）であり、第１組の第１ワイヤ検出導体６Ａ１の上端面は、測定駒５Ａ１の上面（基準面）よりａ（放電ワイヤの深さ上限値；具体的には６ｍｍ）の高さである。ところが第２組の第１ワイヤ検出導体６Ｂ１の上端面は、測定駒５Ｂ１の上面（基準面）よりｂ（放電ワイヤの深さ下限値；具体的には５．４ｍｍ）の高さであり、第１組のものよりも低い。
【００２８】
これらの測定駒５Ａ１，５Ｂ１を拡大して図３に示す。図３において１４，１５が検査台２にねじ込む止めねじが通るねじ通し穴、１６は、ワイヤ検出導体（測定駒）を測定回路装置１３の電気回路に接続するための電気リ−ドを測定駒に固着（電気接続）する接続ねじがねじ結合する雌ねじ穴である。
【００２９】
この第１実施例では第１測定駒５Ａ１，５Ｂ１は全体が導電体のものであるが、第２測定駒５Ａ２，５Ｂ２は、絶縁体ベ−ス（駒本体）に第２ワイヤ検出導体６Ａ２，６Ｂ２を立て、絶縁体ベ−スの下底のくぼみに沿って導体６Ａ２，６Ｂ２に接続した電気リ−ドを配設してその電気リ−ドをねじ通し穴（１５相当）を通して絶縁体ベ−スの上面の上方に引き出したものであり、基準面となる駒本体の表面は絶縁体面である。なお、第１組の第２ワイヤ検出導体６Ａ２の上端面は、測定駒５Ａ２の上面よりａの高さであり、第２組の第２ワイヤ検出導体６Ｂ２の上端面は、測定駒５Ｂ２の上面よりｂの高さであり、第１組のものよりも低い。
【００３０】
したがって、図１に示すように帯電チャ−ジャ１４を検査台２上の第１位置（Ａ位置）に載せてそのシ−ルドケ−スの開口縁を第１測定駒５Ａ１および第２測定駒５Ｂ１の基準面に当てると、第１測定駒５Ａ１（および第１ワイヤ検出導体６Ａ１），シ−ルドケ−ス１４ｓおよび第１接点導体９Ａ１が同電位となる。すなわち、第１測定駒５Ａ１に正電圧（Ｖｃ）を印加すると、第１接点導体９Ａ１が正電圧となる。この状態で、仮に第１ワイヤ検出導体６Ａ１に放電ワイヤ１４ｗが当接していると放電ワイヤ１４ｗ（したがって第２接点導体９Ａ２）が正電圧となる。この状態で仮に第２ワイヤ検出導体６Ａ２に放電ワイヤ１４ｗが当接していると、第２ワイヤ検出導体６Ａ２も正電圧となる。つまり、第１測定駒５Ａ１に正電圧を印加したとき、第２ワイヤ検出導体６Ａ２に正電圧が現われる（これを以下において、検出導体間導通と称す）。これは、放電ワイヤ１４ｗが第１および第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両者に接触していることを意味する。第１測定駒５Ａ１に正電圧を印加しているとき、放電ワイヤ１４ｗが第１および第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方と接触していないと、第２ワイヤ検出導体６Ａ２に正電圧が現われない（これを以下において、検出導体間遮断と称す）。
【００３１】
帯電チャ−ジャ１４を検査台２上の第２位置（Ｂ位置）に置いて、上述と同様に、検出導体間導通か検出導体間遮断かを知ることができる。上述のように第１組（Ａ組）のワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の高さａが放電ワイヤの深さ上限値、第２組（Ｂ組）のワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の高さｂが放電ワイヤの深さ限下値に定められているので、上述の、第１位置および第２位置での検出導体間導通か検出導体間遮断かの検出により、次のように、放電ワイヤの高さが規格内か否かを判定しうる。
【００３２】
第１表
第１位置での検出結果 第２位置での検出結果 規格内外判定
検出導体間導通 検出導体間遮断 ＯＫ（規格内）
検出導体間遮断 −−−−−−− 低（ワイヤ低すぎ）
検出導体間導通 検出導体間導通 高（ワイヤ高すぎ）。
【００３３】
図４に、図１および図２に示す測定回路装置１３の内部の電気回路を示す。第１組および第２組の第１ワイヤ検出導体６Ａ１および６Ｂ１に電源回路ＰＳＯが正電圧Ｖｃ（以下単に高レベルＨ又は単にＨと称す）を印加する。なお、Ｈの反転である機器ア−スレベルを、以下単に低レベルＬ又はＬと称す。
【００３４】
作業者が帯電チャ−ジャ１４を図１に２点鎖線で示すように第１位置（Ａ位置）に置くと、そのシ−ルドケ−ス１４ｓが測定駒５Ａ１に接触したときに第１接点導体９Ａ１がＨとなり、その立上り点でラッチＬＡ１に、そのときのワイヤ検出導体６Ａ２の電圧（検出導体間導通のときＨ／検出導体間遮断のときＬ）と、インバ−タＩＮ１が発生するその反転電圧（検出導体間導通のときＬ／検出導体間遮断のときＨ）が保持される。また、第１接点導体９Ａ１がＨの間、ラッチＬＡ２はクリア（初期化）される。
【００３５】
次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置くと、そのシ−ルドケ−ス１４ｓが測定駒５Ｂ１に接触したときに第１接点導体９Ｂ１がＨとなり、そのとき、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−トＡＮ７，８の出力（上記第１表の規格内外判定の欄の該当する行がＨの信号）がラッチＬＡ２に保持される。すなわち規格内外判定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨに、低のときには低信号ラインがＨに、高のときには高信号ラインがＨになる。
【００３６】
そしてＯＫ信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤがＯＫ表示ランプ１６を点灯すると共に、ブザ−ドライバＢＺＤが所定短時間の間ブザ−１９を鳴動付勢する。この表示およびブザ−音より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが規格内であることを認知する。
【００３７】
低信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤが低表示ランプ１７を点灯する。この表示より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、低すぎ規格外れであることを認知する。
【００３８】
高信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤが高表示ランプ１８を点灯する。この表示より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、高すぎ規格外れであることを認知する。
【００３９】
−第２実施例−
第２実施例は、測定回路装置１３の内部の電気回路の構成が第１実施例のものと異なる。図５に第２実施例の測定回路装置１３の内部の電気回路を示す。また第２実施例では、第１組の第２測定駒５Ａ２は第１組の第１測定駒５Ａ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）である。同様に、第２組の第２測定駒５Ｂ２も第２組の第１測定駒５Ｂ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）である。その他は、第１実施例と同様である。
【００４０】
図５を参照すると、電源回路ＰＳＯが第１接点導体９Ａ１，９Ｂ１にＨを印加するので、帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置いたときならびに第２位置（Ｂ位置）に置いたときに、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス１４ｓがＨとなる。
【００４１】
作業者が帯電チャ−ジャ１４を第１位置に置いたときには、第１測定駒５Ａ１（およびそのワイヤ検出導体６Ａ１）および第２測定駒５Ａ２（およびそのワイヤ検出導体６Ａ２）がＨになり、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接している（ワイヤが低すぎない）と第２接点導体９Ａ２がＨとなって、アンドゲ−トＡＮ１の出力がＨとなるが、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２のいずれにも放電ワイヤが接触していなとアンドゲ−トＡＮ２の出力がＨとなる。ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両者が共にＨ（測定駒５Ａ１，５Ａ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になったときにアンドゲ−トＡＮ３の出力がＨとなりその立上り点でラッチＬＡ１に、アンドゲ−トＡＮ１の出力（Ｈ：ＯＫ／Ｌ：低すぎる）およびアンドゲ−トＡＮ１の出力（Ｈ：低すぎる／Ｌ：ＯＫ）が保持される。なお、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方がＨ（測定駒５Ａ１，５Ａ２の少くとも一方にシ−ルドケ−スが接触）のときにラッチＬＡ２がクリアされる。
【００４２】
次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位置に置いたときには、第１測定駒５Ｂ１（およびそのワイヤ検出導体６Ｂ１）および第２測定駒５Ｂ２（およびそのワイヤ検出導体６Ｂ２）がＨになり、ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接している（ワイヤが高すぎる）と第２接点導体９Ｂ２がＨとなって、アンドゲ−トＡＮ４の出力がＨとなるが、ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２のいずれにも放電ワイヤが接触していなとアンドゲ−トＡＮ５の出力がＨとなる。ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の両者が共にＨ（測定駒５Ｂ１，５Ｂ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になったときにアンドゲ−トＡＮ６の出力がＨとなりその立上り点でラッチＬＡ２に、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−トＡＮ７，８の出力が保持される。すなわち規格内外判定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨに、低のときには低信号ラインがＨに、高のときには高信号ラインがＨになる。ラッチＬＡ２以降の構成は、上述の第１実施例（図４）と同一である。
【００４３】
なお、シールドケースのサイズが、複数の場合には、上述の検査装置（第１実施例又は第２実施例）を各サイズ対応で備えてもよいし、同一ベ−ス（１）上に、サイズ対応で複数の検査装置を装備してもよい。
【００４４】
以上に説明したように、ワイヤ高さの判定ができる２種類（第１組および第２組）の測定駒を有しているので、容易に短時間にワイヤ高さの判定が可能となった。従来のハイトゲージやスケールで測定する方法だと時間もかかるし、測定誤差も多かったが、帯電チャ−ジャ１台あたりの測定時間２分位で判定が可能である。この装置だと具体的なワイヤ高さは測定できないが、製造ラインでは高さを測る必要もなく、ＯＫ（規格内）／ＮＧ（規格外）の判定をするだけであるので十分である。
【００４５】
上述の各実施例では、測定駒を検査台２に固定しているので、測定駒に付いているリ−ド線又はハーネスが絡まったりする事がなくなり、さらに測定時間の短縮が可能である。また、作業者によって測定駒をセットする位置がばらついたりするため、判定に差が出たりしたが、この装置を使うことにより、ばらつきはなくなる。測定時間は、２分くらいから１分くらいに短縮できる。
【００４６】
上述の各実施例では、導通チェック用のテスタの代わりにブザー／ランプを有しているので、ＯＫ／ＮＧの判定が容易にできるようになった。テスタでの判定も決して困難ではないが、作業者によってはもっと簡単に判別できる方法を好む。また、官能的に瞬時に判断できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例を示す平面図である。
【図２】第１実施例の正面図である。
【図３】図２に示す測定駒５Ａ１および５Ｂ１を拡大して示す図面であり、（ａ）は測定駒５Ａ１の拡大平面図、（ｂ）は測定駒５Ａ１の拡大正面図、（ｃ）は測定駒５Ｂ１の拡大平面図、（ｄ）は測定駒５Ｂ１の拡大正面図である。
【図４】図１および図２に示す測定回路装置１３の内部の電気回路を示すブロック図である。
【図５】本発明の第２実施例の測定回路装置１３の内部の電気回路を示すブロック図である。
【符号の説明】
１：金属ベ−ス ２：検査台
３Ａ１〜３Ｂ２：規制柱 ４Ａ１〜４Ｂ２：規制ピン
５Ａ１〜５Ｂ２：測定駒 ６Ａ１〜６Ｂ２：ワイヤ検出導体
７Ａ，７Ｂ：ストッパ ８Ａ，８Ｂ：ねじ
９Ａ１〜９Ｂ２：接点導体 １０：ステム
１１ａ，１１ｂ：圧縮コイルスプリング １２：外部接続導体
１３：測定回路装置 １４：帯電チャ−ジャ（放電装置）
１５Ｓ：電源スイッチ １５Ｌ：電源ランプ
１６〜１８：表示灯 １９：ブザ−
ＬＡ１，ＬＡ２：ラッチ
【発明の属する技術分野】
本発明は、シ−ルドケ−ス内に放電ワイヤを張架した放電装置の、放電ワイヤの高さの良否を検査するための高さ検査装置に関する。該放電装置は、例えば電子写真装置においては、感光体の荷電，除電，感光体上の顕像の記録紙への転写などに用いられる。しかし、本発明の高さ検査装置は、電子写真装置に使用する放電装置のみならず、他の用途の放電装置にも同様に適用できる。
【０００２】
【従来の技術】
例えばドラム又はロ−ラ状の感光体の荷電に用いられる放電装置は、そのシ−ルドケ−スをドラム軸と平行にして配設され、放電ワイヤがシ−ルドケ−スと平行に延びるので、放電ワイヤがドラム軸に平行である。感光体に対する放電ワイヤの距離のばらつきは感光体の荷電レベルのばらつきとなる。放電装置においては、シ−ルドケ−スの開口端縁（感光体対向端）に対する放電ワイヤの距離（高さ又は深さと呼ばれる）を所定にするワイヤ支持具を備えるが、組上った放電装置個々に、高さにばらつきを生じ易い。放電ワイヤの高さが、一定の規格内に収まっていないと帯電不良を起こし、画像濃度が薄いといった障害が発生する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
そこで放電ワイヤの高さの計測が必要であるが、放電ワイヤの高さの測定は困難を極めていた。ワイヤの線径は細く０．１ｍｍ以下でスケールや様々なゲージ類でも、宙吊りのワイヤの高さの正確な測定は困難であった。実開昭５８−１９４１号公報，特開平６−１３０７８５号公報および特開平７−８４３７７号公報には、放電ワイヤの高さを調整する機構が開示されている。しかし、部品点数が増え、コストがかかってしまう。高さ調整機構を備える場合には、調整の前および又は調整の後に、高さ測定が必要である。高さ調整機構を備えない場合は、出荷前に高さ測定をして規格品のみを選別するのが好ましい。しかし上述のように、正確な高さ測定が困難であり、作業能率のよい高さ合否検査が必要と思われる。
【０００４】
本発明は放電ワイヤの高さの合否検査を能率よく行なうことを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明の放電ワイヤの高さ検査装置は、シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体（６Ａ１）を有する測定駒（５Ａ１）；前記シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体（６Ｂ１）を有する測定駒（５Ｂ１）；および、各測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）のワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ｂ１）への前記放電ワイヤの接触を電気的に検出する通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）；を備える。
【０００６】
なお、理解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述する実施例の対応要素の記号を、参考までに付記した。
【０００７】
これによれば、測定駒（５Ａ１）の基準面にシ−ルドケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒（５Ａ１）がシ−ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを越えるときには、ワイヤ検出導体（６Ａ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当らないので、放電ワイヤ（１４ｗ）はシ−ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ以下のときにはワイヤ検出導体（６Ａ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当り、放電ワイヤ（１４ｗ）もシ−ルドケ−スと同電位となる。したがって、通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）で、シ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ａ１）に電位を与えてこの電位が放電ワイヤ（１４ｗ）に現われるか否かを検出することにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを越える（放電ワイヤが低すぎる）か否かが分かる。
【０００８】
同様に、測定駒（５Ｂ１）の基準面にシ−ルドケ−スの開口側端縁に当てたとき、測定駒（５Ｂ１）がシ−ルドケ−スと同電位になるが、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満のときには、ワイヤ検出導体（６Ｂ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当らないので、放電ワイヤ（１４ｗ）はシ−ルドケ−スと同電位にはならない。放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ以上のときにはワイヤ検出導体（６Ｂ１）に放電ワイヤ（１４ｗ）が当り、放電ワイヤ（１４ｗ）もシ−ルドケ−スと同電位となる。したがって、通電検出手段（９Ａ２，９Ｂ２，１３）で、シ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ｂ１）に電位を与えてこの電位が放電ワイヤ（１４ｗ）に現われるか否かを検出することにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満（放電ワイヤが高すぎる）か否かが分かる。
【０００９】
このように２種類の測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を用いて、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを超える（放電ワイヤが低すぎる）か、上限値ａ以下下限値ｂ以上（ＯＫ）か、あるいは下限値ｂ未満（放電ワイヤが高すぎる）かを判定することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
（１）例えばテスタなど、通電（電気接続）の有無あるいは抵抗値を設定しうる通電測定器の１対の測定プロ−ブの１つをシ−ルドケ−ス又は測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）に接続し、もう１つの測定プロ−ブを放電装置（１４）の、放電ワイヤ（１４ｗ）を接続した電源接続ピン（コネクタピン）に接続して、測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を、そのワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ｂ１）をシ−ルドケ−スの開口内に挿入するようにして、その基準面をシ−ルドケ−スの開口縁に当てたときの、前記１対のプロ−ブ間の電気接続（通電）の有無もしくは抵抗値を把握又は計測することにより、簡易に上述の、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａを超えるか否か、および、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ未満か否かの測定をすることができる。また放電装置（１４）に装着した測定駒（５Ａ１，５Ｂ１）を放電ワイヤに沿ってそれが延びる方向にずらすことにより、放電ワイヤの長手方向各部のワイヤ高さの合否を測定することができる。本発明のこの簡易な実施態様では、通電検出手段は、テスタなどの通電測定器である。
【００１１】
（２）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ａ１，５Ａ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体（６Ａ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体（６Ａ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体（６Ａ２）；および、第１および第２のワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ａ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１２】
これによれば、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ａ１，５Ａ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると手段（１３）が接触を表わす信号（低くない）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ超であると手段（１３）が非接触を表わす信号（ワイヤ低すぎ）を発生する。放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に載せることにより、このように放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが上限値ａ以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが低過ぎるか否かの検査の作業能率が高い。
【００１３】
（３）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体（６Ｂ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体（６Ｂ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体（６Ｂ２）；および、第１および第２のワイヤ検出導体（６Ｂ１，６Ｂ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１４】
これによれば、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が下限値ｂ以下であると手段（１３）が接触を表わす信号（ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ超であると手段（１３）が非接触を表わす信号（高くない）を発生する。放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に載せることにより、このように放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが下限値ｂ以下かそれを越えるかを表わす信号が自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが高過ぎるか否かの検査の作業能率が高い。
【００１５】
（４）検査台（１，２）；該検査台上の基準面（５Ａ１，５Ａ２／５Ｂ１，５Ｂ２）；シ−ルドケ−ス（１４ｓ）および放電ワイヤ（１４ｗ）を有する放電装置（１４）の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２／３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１組の第１ワイヤ検出導体（６Ａ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１ワイヤ検出導体（６Ａ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第１組の第２ワイヤ検出導体（６Ａ２）；第１および第２ワイヤ検出導体（６Ａ１，６Ａ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第１手段（１３）；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第２組の第１ワイヤ検出導体（６Ｂ１）；基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第２組の第１ワイヤ検出導体（６Ｂ１）とは放電ワイヤ（１４ｗ）の延びる方向に離れた第２組の第２ワイヤ検出導体（６Ｂ２）；および、第２組の第１および第２ワイヤ検出導体（６Ｂ１，６Ｂ２）に対する放電ワイヤ（１４ｗ）の接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第２手段（１３）；を備える放電ワイヤの高さ検査装置。
【００１６】
これによれば、位置規制部材（３Ａ１，３Ａ２，４Ａ１，４Ａ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ａ１，５Ａ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が上限値ａ以下であると第１手段（１３）が接触を表わす信号（低くない）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが上限値ａ超であると第１手段（１３）が非接触を表わす信号（ワイヤ低すぎ）を発生する。
【００１７】
また、位置規制部材（３Ｂ１，３Ｂ２，４Ｂ１，４Ｂ２）の規制に従って放電装置（１４）を検査台（１，２）上に、そのシ−ルドケ−ス（１４ｓ）の開口側端縁を基準面（５Ｂ１，５Ｂ２）に当てて載せると、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さ（開口側端縁からの距離）が下限値ｂ以下であると第２手段（１３）が接触を表わす信号（ワイヤ高すぎ）を発生し、放電ワイヤ（１４ｗ）の深さが下限値ｂ超であると第２手段（１３）が非接触を表わす信号（高くない）を発生する。
【００１８】
放電装置（１４）を所定の姿勢で検査台（１，２）上の所定位置に順次に載せることにより、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが上限値ａ以下かそれを越えるかを表わす信号と、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが下限値ｂ以下かそれを越えるかを表わす信号が順次に、自動的に発生され、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが低過ぎるか否か、および、放電ワイヤ（１４ｗ）の高さが高過ぎるか否か、の検査の作業能率が高い。
【００１９】
（５）第１手段（１３）が接触有りを検知し第２手段（１３）が接触無しを検知したとき正常（ＯＫ）を表わす報知情報を、第１手段（１３）が接触無しを検知したとき放電ワイヤが低すぎる報知情報を、第１手段（１３）が接触有りを検知し第２手段（１３）が接触有りを検知したとき放電ワイヤが高すぎる報知情報を発生する論理処理手段（ＬＡ１，ＡＮ７，ＡＮ８）；を更に備える。
【００２０】
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【００２１】
【実施例】
−第１実施例−
図１に本発明の第１実施例の上面を、図２に正面を示す。両図面を参照すると、金属ベ−ス１に図示しない止めねじで絶縁体の検査台２が固着されており、この検査台２に、帯電チャ−ジャ（放電装置）１４のシ−ルドケ−ス１４ｓを第１位置（Ａ位置）に位置決めするための規制柱３Ａ１，３Ａ２および規制ピン４Ａ１，４Ａ２が立てられている。なお図１において、細線の丸は、止めねじ又はリ−ド接続ねじがねじ込まれ又は貫通する雌ねじ穴を示す。これらのねじ穴にねじ込まれた止めねじおよびリ−ド接続ねじの図示は省略した。上述の規制柱３Ａ１，３Ａ２は、それらのねじ通し穴（細線丸）を貫通し検査台２にの雌ねじ穴にねじ込まれた止めねじによって検査台２に固着されている。
【００２２】
同様に、検査台２に、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス１４ｓを第２位置（Ｂ位置）に位置決めするための規制柱３Ｂ１，３Ｂ２および規制ピン４Ｂ１，４Ｂ２が立てられている。
【００２３】
同様に、前後位置調整用のねじ８Ａがねじ結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ａと、ねじ８Ｂがねじ結合した帯電チャ−ジャ取手側ストッパ７Ｂが、検査台２に立てられている。ねじ８Ａは、規制柱３Ａ２と規制ピン４Ａ２の中間に位置し、ねじ８Ｂは、規制柱３Ｂ２と規制ピン４Ｂ２の中間に位置する。
【００２４】
図１に２点鎖線で示すように帯電チャ−ジャ１４を、その取手側エンドブロックと一体の取手をねじ８Ａの先端に当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口（感光体対向端の開口）を検査台２の表面に向けて検査台２に載せたとき、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン（２本）の先端が位置する所に、接点導体９Ａ１，９Ａ２がある。これらの接点導体９Ａ１，９Ａ２はステム１０を有し、それらのステムが絶縁体のホルダで、帯電チャ−ジャ１４の長手方向に移動自在に支持され、かつ圧縮コイルスプリング１１ａ（押し用）および１１ｂ（電気接続用）の反発力で、絶縁体のホルダから突き出すように付勢されている。図１に２点鎖線で示すように帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置くと、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス接続ピンが接点導体９Ａ１に、放電ワイヤ接続ピンが接点導体９Ａ２に接触する。
【００２５】
上述の接点導体９Ａ１，９Ａ２と同様な接点導体９Ｂ１，９Ｂ２が、帯電チャ−ジャ１４を、その取手側エンドブロックと一体の取手をねじ８Ｂの先端に当てて、シ−ルドケ−ス１４ｓの開口を検査台２の表面に向けて検査台２上の第２位置（Ｂ位置）に載せたとき、帯電チャ−ジャ１４のコネクタピン（２本）の先端が位置する所にあり、帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置くと、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス接続ピンが接点導体９Ｂ１に、放電ワイヤ接続ピンが接点導体９Ｂ２に接触する。
【００２６】
上述のように帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ１４ｗのコネクタピン近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）の第１ワイヤ検出導体６Ａ１が、放電ワイヤ１４ｗの取手近くの部位が位置する所に、第１組（Ａ組）の第２ワイヤ検出導体６Ａ２がある。同様に、帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置いたとき、その放電ワイヤ１４ｗのコネクタピン近くの部位が位置する所に、第２組（Ｂ組）の第１ワイヤ検出導体６Ｂ１があり、放電ワイヤ１４ｗの取手近くの部位が位置する所に、第２組（Ｂ組）の第２ワイヤ検出導体６Ｂ２がある。
【００２７】
この第１実施例では、第１ワイヤ検出導体６Ａ１および６Ｂ１はそれぞれ、全体が導電体（金属）の第１組の第１の測定駒５Ａ１および第２組の第１の測定駒５Ｂ１の一部分（削り出し部）であり、第１組の第１ワイヤ検出導体６Ａ１の上端面は、測定駒５Ａ１の上面（基準面）よりａ（放電ワイヤの深さ上限値；具体的には６ｍｍ）の高さである。ところが第２組の第１ワイヤ検出導体６Ｂ１の上端面は、測定駒５Ｂ１の上面（基準面）よりｂ（放電ワイヤの深さ下限値；具体的には５．４ｍｍ）の高さであり、第１組のものよりも低い。
【００２８】
これらの測定駒５Ａ１，５Ｂ１を拡大して図３に示す。図３において１４，１５が検査台２にねじ込む止めねじが通るねじ通し穴、１６は、ワイヤ検出導体（測定駒）を測定回路装置１３の電気回路に接続するための電気リ−ドを測定駒に固着（電気接続）する接続ねじがねじ結合する雌ねじ穴である。
【００２９】
この第１実施例では第１測定駒５Ａ１，５Ｂ１は全体が導電体のものであるが、第２測定駒５Ａ２，５Ｂ２は、絶縁体ベ−ス（駒本体）に第２ワイヤ検出導体６Ａ２，６Ｂ２を立て、絶縁体ベ−スの下底のくぼみに沿って導体６Ａ２，６Ｂ２に接続した電気リ−ドを配設してその電気リ−ドをねじ通し穴（１５相当）を通して絶縁体ベ−スの上面の上方に引き出したものであり、基準面となる駒本体の表面は絶縁体面である。なお、第１組の第２ワイヤ検出導体６Ａ２の上端面は、測定駒５Ａ２の上面よりａの高さであり、第２組の第２ワイヤ検出導体６Ｂ２の上端面は、測定駒５Ｂ２の上面よりｂの高さであり、第１組のものよりも低い。
【００３０】
したがって、図１に示すように帯電チャ−ジャ１４を検査台２上の第１位置（Ａ位置）に載せてそのシ−ルドケ−スの開口縁を第１測定駒５Ａ１および第２測定駒５Ｂ１の基準面に当てると、第１測定駒５Ａ１（および第１ワイヤ検出導体６Ａ１），シ−ルドケ−ス１４ｓおよび第１接点導体９Ａ１が同電位となる。すなわち、第１測定駒５Ａ１に正電圧（Ｖｃ）を印加すると、第１接点導体９Ａ１が正電圧となる。この状態で、仮に第１ワイヤ検出導体６Ａ１に放電ワイヤ１４ｗが当接していると放電ワイヤ１４ｗ（したがって第２接点導体９Ａ２）が正電圧となる。この状態で仮に第２ワイヤ検出導体６Ａ２に放電ワイヤ１４ｗが当接していると、第２ワイヤ検出導体６Ａ２も正電圧となる。つまり、第１測定駒５Ａ１に正電圧を印加したとき、第２ワイヤ検出導体６Ａ２に正電圧が現われる（これを以下において、検出導体間導通と称す）。これは、放電ワイヤ１４ｗが第１および第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両者に接触していることを意味する。第１測定駒５Ａ１に正電圧を印加しているとき、放電ワイヤ１４ｗが第１および第２ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方と接触していないと、第２ワイヤ検出導体６Ａ２に正電圧が現われない（これを以下において、検出導体間遮断と称す）。
【００３１】
帯電チャ−ジャ１４を検査台２上の第２位置（Ｂ位置）に置いて、上述と同様に、検出導体間導通か検出導体間遮断かを知ることができる。上述のように第１組（Ａ組）のワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の高さａが放電ワイヤの深さ上限値、第２組（Ｂ組）のワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の高さｂが放電ワイヤの深さ限下値に定められているので、上述の、第１位置および第２位置での検出導体間導通か検出導体間遮断かの検出により、次のように、放電ワイヤの高さが規格内か否かを判定しうる。
【００３２】
第１表
第１位置での検出結果 第２位置での検出結果 規格内外判定
検出導体間導通 検出導体間遮断 ＯＫ（規格内）
検出導体間遮断 −−−−−−− 低（ワイヤ低すぎ）
検出導体間導通 検出導体間導通 高（ワイヤ高すぎ）。
【００３３】
図４に、図１および図２に示す測定回路装置１３の内部の電気回路を示す。第１組および第２組の第１ワイヤ検出導体６Ａ１および６Ｂ１に電源回路ＰＳＯが正電圧Ｖｃ（以下単に高レベルＨ又は単にＨと称す）を印加する。なお、Ｈの反転である機器ア−スレベルを、以下単に低レベルＬ又はＬと称す。
【００３４】
作業者が帯電チャ−ジャ１４を図１に２点鎖線で示すように第１位置（Ａ位置）に置くと、そのシ−ルドケ−ス１４ｓが測定駒５Ａ１に接触したときに第１接点導体９Ａ１がＨとなり、その立上り点でラッチＬＡ１に、そのときのワイヤ検出導体６Ａ２の電圧（検出導体間導通のときＨ／検出導体間遮断のときＬ）と、インバ−タＩＮ１が発生するその反転電圧（検出導体間導通のときＬ／検出導体間遮断のときＨ）が保持される。また、第１接点導体９Ａ１がＨの間、ラッチＬＡ２はクリア（初期化）される。
【００３５】
次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位置（Ｂ位置）に置くと、そのシ−ルドケ−ス１４ｓが測定駒５Ｂ１に接触したときに第１接点導体９Ｂ１がＨとなり、そのとき、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−トＡＮ７，８の出力（上記第１表の規格内外判定の欄の該当する行がＨの信号）がラッチＬＡ２に保持される。すなわち規格内外判定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨに、低のときには低信号ラインがＨに、高のときには高信号ラインがＨになる。
【００３６】
そしてＯＫ信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤがＯＫ表示ランプ１６を点灯すると共に、ブザ−ドライバＢＺＤが所定短時間の間ブザ−１９を鳴動付勢する。この表示およびブザ−音より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが規格内であることを認知する。
【００３７】
低信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤが低表示ランプ１７を点灯する。この表示より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、低すぎ規格外れであることを認知する。
【００３８】
高信号ラインがＨになるとランプドライバＬＡＤが高表示ランプ１８を点灯する。この表示より作業者は帯電チャ−ジャ１４の放電ワイヤの高さが、高すぎ規格外れであることを認知する。
【００３９】
−第２実施例−
第２実施例は、測定回路装置１３の内部の電気回路の構成が第１実施例のものと異なる。図５に第２実施例の測定回路装置１３の内部の電気回路を示す。また第２実施例では、第１組の第２測定駒５Ａ２は第１組の第１測定駒５Ａ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）である。同様に、第２組の第２測定駒５Ｂ２も第２組の第１測定駒５Ｂ１と同一構造であり、全体が導電体（金属）である。その他は、第１実施例と同様である。
【００４０】
図５を参照すると、電源回路ＰＳＯが第１接点導体９Ａ１，９Ｂ１にＨを印加するので、帯電チャ−ジャ１４を第１位置（Ａ位置）に置いたときならびに第２位置（Ｂ位置）に置いたときに、帯電チャ−ジャ１４のシ−ルドケ−ス１４ｓがＨとなる。
【００４１】
作業者が帯電チャ−ジャ１４を第１位置に置いたときには、第１測定駒５Ａ１（およびそのワイヤ検出導体６Ａ１）および第２測定駒５Ａ２（およびそのワイヤ検出導体６Ａ２）がＨになり、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接している（ワイヤが低すぎない）と第２接点導体９Ａ２がＨとなって、アンドゲ−トＡＮ１の出力がＨとなるが、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２のいずれにも放電ワイヤが接触していなとアンドゲ−トＡＮ２の出力がＨとなる。ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の両者が共にＨ（測定駒５Ａ１，５Ａ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になったときにアンドゲ−トＡＮ３の出力がＨとなりその立上り点でラッチＬＡ１に、アンドゲ−トＡＮ１の出力（Ｈ：ＯＫ／Ｌ：低すぎる）およびアンドゲ−トＡＮ１の出力（Ｈ：低すぎる／Ｌ：ＯＫ）が保持される。なお、ワイヤ検出導体６Ａ１，６Ａ２の少くとも一方がＨ（測定駒５Ａ１，５Ａ２の少くとも一方にシ−ルドケ−スが接触）のときにラッチＬＡ２がクリアされる。
【００４２】
次に作業者が帯電チャ−ジャ１４を第２位置に置いたときには、第１測定駒５Ｂ１（およびそのワイヤ検出導体６Ｂ１）および第２測定駒５Ｂ２（およびそのワイヤ検出導体６Ｂ２）がＨになり、ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の少くとも一方に放電ワイヤが当接している（ワイヤが高すぎる）と第２接点導体９Ｂ２がＨとなって、アンドゲ−トＡＮ４の出力がＨとなるが、ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２のいずれにも放電ワイヤが接触していなとアンドゲ−トＡＮ５の出力がＨとなる。ワイヤ検出導体６Ｂ１，６Ｂ２の両者が共にＨ（測定駒５Ｂ１，５Ｂ２の両者にシ−ルドケ−スが接触）になったときにアンドゲ−トＡＮ６の出力がＨとなりその立上り点でラッチＬＡ２に、ラッチＬＡ１およびアンドゲ−トＡＮ７，８の出力が保持される。すなわち規格内外判定がＯＫのときにはＯＫ信号ラインがＨに、低のときには低信号ラインがＨに、高のときには高信号ラインがＨになる。ラッチＬＡ２以降の構成は、上述の第１実施例（図４）と同一である。
【００４３】
なお、シールドケースのサイズが、複数の場合には、上述の検査装置（第１実施例又は第２実施例）を各サイズ対応で備えてもよいし、同一ベ−ス（１）上に、サイズ対応で複数の検査装置を装備してもよい。
【００４４】
以上に説明したように、ワイヤ高さの判定ができる２種類（第１組および第２組）の測定駒を有しているので、容易に短時間にワイヤ高さの判定が可能となった。従来のハイトゲージやスケールで測定する方法だと時間もかかるし、測定誤差も多かったが、帯電チャ−ジャ１台あたりの測定時間２分位で判定が可能である。この装置だと具体的なワイヤ高さは測定できないが、製造ラインでは高さを測る必要もなく、ＯＫ（規格内）／ＮＧ（規格外）の判定をするだけであるので十分である。
【００４５】
上述の各実施例では、測定駒を検査台２に固定しているので、測定駒に付いているリ−ド線又はハーネスが絡まったりする事がなくなり、さらに測定時間の短縮が可能である。また、作業者によって測定駒をセットする位置がばらついたりするため、判定に差が出たりしたが、この装置を使うことにより、ばらつきはなくなる。測定時間は、２分くらいから１分くらいに短縮できる。
【００４６】
上述の各実施例では、導通チェック用のテスタの代わりにブザー／ランプを有しているので、ＯＫ／ＮＧの判定が容易にできるようになった。テスタでの判定も決して困難ではないが、作業者によってはもっと簡単に判別できる方法を好む。また、官能的に瞬時に判断できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例を示す平面図である。
【図２】第１実施例の正面図である。
【図３】図２に示す測定駒５Ａ１および５Ｂ１を拡大して示す図面であり、（ａ）は測定駒５Ａ１の拡大平面図、（ｂ）は測定駒５Ａ１の拡大正面図、（ｃ）は測定駒５Ｂ１の拡大平面図、（ｄ）は測定駒５Ｂ１の拡大正面図である。
【図４】図１および図２に示す測定回路装置１３の内部の電気回路を示すブロック図である。
【図５】本発明の第２実施例の測定回路装置１３の内部の電気回路を示すブロック図である。
【符号の説明】
１：金属ベ−ス ２：検査台
３Ａ１〜３Ｂ２：規制柱 ４Ａ１〜４Ｂ２：規制ピン
５Ａ１〜５Ｂ２：測定駒 ６Ａ１〜６Ｂ２：ワイヤ検出導体
７Ａ，７Ｂ：ストッパ ８Ａ，８Ｂ：ねじ
９Ａ１〜９Ｂ２：接点導体 １０：ステム
１１ａ，１１ｂ：圧縮コイルスプリング １２：外部接続導体
１３：測定回路装置 １４：帯電チャ−ジャ（放電装置）
１５Ｓ：電源スイッチ １５Ｌ：電源ランプ
１６〜１８：表示灯 １９：ブザ−
ＬＡ１，ＬＡ２：ラッチ
Claims (5)
- シ−ルドケ−スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体を有する測定駒；
前記シ−ルドケ−スの開口側端縁が当る導電体の基準面と、該基準面から、放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、該基準面と電気的な接続接続関係にあるワイヤ検出導体を有する測定駒；および、
各測定駒のワイヤ検出導体への前記放電ワイヤの接触を電気的に検出する通電検出手段；
を備える放電ワイヤの高さ検査装置。 - 検査台；
該検査台上の基準面；
シ−ルドケ−スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体；および、
第１および第２のワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段；
を備える放電ワイヤの高さ検査装置。 - 検査台；
該検査台上の基準面；
シ−ルドケ−スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１のワイヤ検出導体；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１のワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向に離れた第２のワイヤ検出導体；および、
第１および第２のワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する手段；
を備える放電ワイヤの高さ検査装置。 - 検査台；
該検査台上の基準面；
シ−ルドケ−スおよび放電ワイヤを有する放電装置の、該シ−ルドケ−スの開口側端縁を前記基準面に当てて、前記検査台上の所定位置に該放電装置を位置決めするための、位置規制部材；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有する第１組の第１ワイヤ検出導体；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ上限値ａの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第１ワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向に離れた第１組の第２ワイヤ検出導体；
第１組の第１および第２ワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第１手段；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有する第２組の第１ワイヤ検出導体；
基準面から、前記シ−ルドケ−スの開口側端縁に対する前記放電ワイヤの深さ下限値ｂの高さに放電ワイヤ受け端を有し、第２組の第１ワイヤ検出導体とは放電ワイヤの延びる方向に離れた第２組の第２ワイヤ検出導体；および、
第２組の第１および第２ワイヤ検出導体に対する放電ワイヤの接触の有無を検知しそれを表わす信号を発生する第２手段；
を備える放電ワイヤの高さ検査装置。 - 第１手段が接触有りを検知し第２手段が接触無しを検知したとき正常を表わす報知情報を、第１手段が接触無しを検知したとき放電ワイヤが低すぎる報知情報を、第１手段が接触有りを検知し第２手段が接触有りを検知したとき放電ワイヤが高すぎる報知情報を発生する論理処理手段；を更に備える請求項４記載の放電ワイヤの高さ検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34927296A JP3542247B2 (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 放電ワイヤの高さ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34927296A JP3542247B2 (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 放電ワイヤの高さ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10189214A JPH10189214A (ja) | 1998-07-21 |
| JP3542247B2 true JP3542247B2 (ja) | 2004-07-14 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34927296A Expired - Fee Related JP3542247B2 (ja) | 1996-12-27 | 1996-12-27 | 放電ワイヤの高さ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3542247B2 (ja) |
-
1996
- 1996-12-27 JP JP34927296A patent/JP3542247B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH10189214A (ja) | 1998-07-21 |
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|
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