JPH10186662A - ポジ型感光性組成物 - Google Patents

ポジ型感光性組成物

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JPH10186662A
JPH10186662A JP8341792A JP34179296A JPH10186662A JP H10186662 A JPH10186662 A JP H10186662A JP 8341792 A JP8341792 A JP 8341792A JP 34179296 A JP34179296 A JP 34179296A JP H10186662 A JPH10186662 A JP H10186662A
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亨 藤森
Toshiaki Aoso
利明 青合
Shiro Tan
史郎 丹
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一也 上西
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 非画像部と画像部のディスクリミネーション
が向上し、高感度と高解像力と良好なプロファイルとを
有し、更に露光後加熱処理までの経時によるレジストパ
ターンの細りが生じないポジ型感光性組成物を提供する
ことである。 【解決手段】 (a)活性光線または放射線の照射によ
り酸を発生する化合物、及び(b)含水量1.7%以下
であるフェノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノ
ール性水酸基を、酸の作用により分解しアルカリ現像液
中での溶解性を増大させる基で保護された樹脂を含有す
るポジ型感光性組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平版印刷板やIC
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感光性組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3,666,473号、米
国特許第4,115,128号及び米国特許第4,173,470号等に、
また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホルムア
ルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクション・ト
ゥー・マイクロリソグラフィー」(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.2,19号、p112〜121)に記載されてい
る。このような基本的にノボラック樹脂とキノンジアジ
ド化合物から成るポジ型フォトレジストは、ノボラック
樹脂がプラズマエッチングに対して高い耐性を与え、ナ
フトキノンジアジド化合物は溶解阻止剤として作用す
る。そして、ナフトキノンジアジドは光照射を受けると
カルボン酸を生じることにより溶解阻止能を失い、ノボ
ラック樹脂のアルカリ溶解度を高めるという特性を持
つ。
【0003】これまで、かかる観点からノボラック樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、0.8μm〜
2μm程度までの線幅加工に於いては十分な成果をおさ
めてきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めて
おり、超LSIなどの半導体基板の製造に於いてはハー
フミクロン以下の線幅から成る超微細パターンの加工が
必要とされるようになってきた。この必要な解像力を達
成するためにフォトリソグラフィーに用いられる露光装
置の使用波長は益々短波化し、今では、遠紫外光やエキ
シマレーザー光(XeCl、KrF、ArFなど)が検
討されるまでになってきている。従来のノボラックとナ
フトキノンジアジド化合物から成るレジストを遠紫外光
やエキシマレーザー光を用いたリソグラフィーのパター
ン形成に用いると、ノボラック及びナフトキノンジアジ
ドの遠紫外領域に於ける吸収が強いために光がレジスト
底部まで到達しにくくなり、低感度でテーパーのついた
パターンしか得られない。
【0004】このような問題を解決する手段の一つが、
米国特許第4,491,628号、欧州特許第249,139号等に記載
されている化学増幅系レジスト組成物である。化学増幅
系ポジ型レジスト組成物は、遠紫外光などの放射線の照
射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒とする反
応によって、活性放射線の照射部と非照射部の現像液に
対する溶解性を変化させパターンを基板上に形成させる
パターン形成材料である。
【0005】このような例として、光分解により酸を発
生する化合物と、アセタールまたはO,N−アセタール
化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、オル
トエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ(特
開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又はケ
タール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−1
33429号)、エノールエーテル化合物との組合せ
(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭酸
化合物化合物との組合せ(特開昭55−126236
号)、主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組
合せ(特開昭56−17345号)、第3級アルキルエ
ステル化合物との組合せ(特開昭60−3625号)、
シリルエステル化合物との組合せ(特開昭60−102
47号)、及びシリルエーテル化合物との組合せ(特開
昭60−37549号、特開昭60−121446号)
等を挙げることができる。これらは原理的に量子収率が
1を越えるため、高い感光性を示す。
【0006】同様に、室温経時下では安定であるが、酸
存在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する
系として、例えば、特開昭59−45439号、特開昭
60−3625号、特開昭62−229242号、特開
昭63−27829号、特開昭63−36240号、特
開昭63−250642号、Polym.Eng.Sce.,23巻、101
2頁(1983);ACS.Sym.242巻、11頁(1984);Semicond
uctor World 1987年、11月号、91頁;Macromolecules,2
1巻、1475頁(1988);SPIE,920巻、42頁(1988)等に
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt-ブチル、2-シクロヘキセニ
ル)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合せ系が
挙げられる。これらの系も高感度を有し、且つ、ナフト
キノンジアジド/ノボラツク樹脂系と比べて、Deep-UV
領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波長化に
有効な系となり得る。
【0007】上記ポジ型化学増幅レジストは、アルカリ
可溶性樹脂、放射線等の露光によつて酸を発生する化合
物(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有するアルカリ可
溶性樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系と、
酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基(酸分解
性基)を有する樹脂と光酸発生剤からなる2成分系、あ
るいは酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基を
有する樹脂と溶解阻止化合物と光酸発生剤からなる2.
5成分系に大別できる。これら2成分系、2.5成分系
あるいは3成分系のポジ型化学増幅レジストにおいて
は、露光により光酸発生剤からの酸を介在させて、熱処
理後現像してレジストパターンを得るものである。
【0008】従来、化学増幅レジストは、非画像部と画
像部のディスクリミネーションが良好で高い解像度が要
求される。しかしながら、従来の化学増幅レジストでは
いまだディスクリミネーションが十分でなく解像度の低
い画像となってしまった。特開平8−146609号公
報には、含水量が0.05〜0.15%であるレジスト
組成物が記載されているが、最終物であるレジスト組成
物中の含水量の規定であり、その含水量の範囲でも未だ
感度、解像力において不十分なところがあった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、非画像部と画像部のディスクリミネーションが向上
し、高感度と高解像力と良好なプロファイルとを有し、
更に露光後加熱処理までの経時によるレジストパターン
の細りが生じないポジ型感光性組成物を提供することで
ある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、本発明の目的が、ポジ型
化学増幅系において、下記特定の含水量を有するフェノ
ール樹脂から得られた樹脂を用いることで達成されるこ
とを見いだし、本発明に到達した。即ち、本発明の目的
は下記構成により達成することが見出された。 (1) (a)活性光線または放射線の照射により酸を
発生する化合物、及び(b)含水量1.7%以下である
フェノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノール性
水酸基を、酸の作用により分解しアルカリ現像液中での
溶解性を増大させる基で保護された樹脂を含有すること
を特徴とするポジ型感光性組成物。 (2) (a)活性光線または放射線の照射により酸を
発生する化合物、(b)含水量1.7%以下であるフェ
ノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノール性水酸
基を、酸の作用により分解しアルカリ現像液中での溶解
性を増大させる基で保護された樹脂、及び(c)酸の作
用により分解しうる基を有し、アルカリ現像液中での溶
解度が酸の作用により増大する、分子量3000以下の
低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有することを特徴と
するポジ型感光性組成物。
【0011】詳細は不明であるが、通常用いられている
フェノール樹脂を原料として用い、その樹脂のフェノー
ル性水酸基を酸の作用により分解しアルカリ現像液中で
の溶解性を増大させる基(以下、酸分解性基ともいう)
で保護すると、その含水量がさまざまに異なることから
反応進行の様子が異なり、一定な品質の樹脂が得られな
いことが判った。高い含水量のフェノール性樹脂を用い
ると、得られる樹脂が一定でなく、しかも水による影響
を受けた副生成物が得られ、その結果それを用いて調整
したレジスト組成物は、感度、解像力が悪くなってしま
う。また、その副生成物の構造は不明で、その規制は非
常に困難であった。即ち、原料であるフェノール性樹脂
の含水量により、それを用いた組成物の感度、解像力が
大きく影響を受けることが判った。本発明においては、
その原料であるフェノール性樹脂の含水量を1.7%以
下に低減させることで、一定な品質で、しかも高品質な
酸分解性基含有樹脂が得られ、その樹脂を用いて調整し
たレジスト組成物は高感度、高解像力なものが得られ、
更に露光後加熱処理までの経時でのレジストパターンの
細りが生じないことを見出した。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明に使用する化合物に
ついて詳細に説明する。 〔(b)の樹脂〕(b)の樹脂は、含水量1.7%以下
であるフェノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノ
ール性水酸基を、酸分解性基により保護された樹脂であ
る。本発明において、フェノール性樹脂の含水量は、好
ましくは1.5%以下、より好ましくは1.2%以下で
ある。フェノール性樹脂は、従来吸湿性が非常に高いの
で、場合によっては、入手後更に従来の方法により高温
・真空乾燥することにより目的の含水量まで低下させる
ことができる。その方法としては、例えば高温・真空乾
燥機中で、100〜140℃に昇温し8〜20時間真空
乾燥する方法などが用いられる。この操作は必要な場合
に行えば良く、必ずしも必要な操作ではない。
【0013】本発明における(b)の樹脂は、酸分解性
基を有し、上記特性を有するものであれば、いずれの樹
脂でもよい。酸分解性基は、樹脂の主鎖または側鎖、あ
るいは、主鎖及び側鎖の両方に含有することができる。
この内、酸分解性基を側鎖に有する樹脂がより好まし
い。
【0014】ここで、好ましい酸分解性基としては、酸
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0−COO−A0、又は−Ar
−O−B0で示される基が挙げられる。ここでA0は、−
C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0は、A0又は−CO−O−A0基を示す。
01、R02、R03、R04及びR05は、それぞれ同一でも
相異していても良く、水素原子、アルキル基、シクロア
ルキル基、アルケニル基もしくはアリール基を示し、R
06はアルキル基もしくはアリール基を示す。但し、R01
〜R03の内少なくとも2つは水素原子以外の基であり、
又、R01〜R03、及びR04〜R06の内の2つの基が結合
して環を形成してもよい。R0は置換基を有していても
良い2価以上の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基を示
し、−Ar−は単環もしくは多環の置換基を有していて
も良い2価以上の芳香族基を示す。2価以上の脂肪族基
としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、イ
ソプロピレン基、ブチレン基、イソブチレン基、t−ブ
チレン基などのような2価、メチン基やエチン基のよう
な3価及び4価で炭素数1〜4個のものが好ましく、こ
れらはさらに置換基によって置換されていてもよい。ま
た、2価以上の芳香族基としては、1,4−フェニレ
ン、1,3−フェニレン、1,2−フェニレンのような
単環のもの、1,2−ナフチレン、1,3−ナフチレ
ン、1,4−ナフチレン、1,5−ナフチレン、1,6
−ナフチレン、1,7−ナフチレン、1,8−ナフチレ
ン、2,3−ナフチレン、2,4−ナフチレン、2,5
−ナフチレン、2,6−ナフチレン、2,7−ナフチレ
ン、2,8−ナフチレンなどのような2環のもの、アン
トラセンのような3環のものなどが挙げられ、更に多く
の環を縮環していても良く、置換基を有していてもよ
い。
【0015】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0016】酸分解性基としては好ましくは、シリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセタ
ール基である。この中で、アセタール基又はケタール基
が特に好ましい。
【0017】本発明において、母体樹脂の側鎖に酸分解
性基を導入する方法は、これまでに既存の方法を用いる
ことができる。例えば、第3級アルキルカーボネート基
は第3級アルキルカーボネート無水物とアミンとを用い
て樹脂の側鎖に導入することができる。また、アセター
ル基やケタール基は対応するビニルエーテルを酸存在下
反応させることにより導入が可能である。本発明におい
ては、アセタール基やケタール基の導入のような、酸触
媒存在下で行う反応に対して特に有効な効果が得られ
る。
【0018】次に、これら酸で分解し得る基が側鎖とし
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有し、含水量1%以下のフェノール性
樹脂である。例えば、後述のフェノール性樹脂を挙げる
ことができる。
【0019】これらフェノール性樹脂のアルカリ溶解速
度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイドロ
オキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170A
/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A/
秒以上のものである(Aはオングストローム)。また、
矩形プロファイルを達成する点から遠紫外光やエキシマ
レーザー光に対する透過率が高いフェノール性樹脂が好
ましい。好ましくは、1μm膜厚の248nmでの透過
率が20〜80%である。このような観点から、特に好
ましいフェノール性樹脂は、o−,m−,p−ポリヒド
ロキシスチレン及びこれらの共重合体、水素化ポリヒド
ロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置換ポリヒ
ドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの一部、O
−アルキル化もしくはO−アシル化物、スチレン−ヒド
ロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン−ヒドロ
キシスチレン共重合体及び水素化ノボラック樹脂であ
る。
【0020】本発明において、酸で分解し得る基を有す
る樹脂として好ましいものとしては、母体樹脂のOH基
の全量に対して、15〜35モル%のOH基がアセター
ル基又はケタール基で保護されているものが好ましい。
酸で分解し得る基の含有率は、樹脂中の酸で分解し得る
基の数(B)と酸で分解し得る基で保護されていないア
ルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/(B+S)で
表される。含有率は好ましくは0.01〜0.5、より
好ましくは0.05〜0.40、更に好ましくは0.0
5〜0.30である。B/(B+S)>0.5ではPE
B後の膜収縮、基板への密着不良やスカムの原因となり
好ましくない。一方、B/(B+S)<0.01では、
パターン側壁に顕著に定在波が残ることがあるので好ま
しくない。
【0021】上記(b)の樹脂としては、フェノール性
樹脂を酸分解性基で保護したものさらには、架橋構造を
有していてもよい。好ましくは、含水量1.7%以下の
フェノール性樹脂、ビニルエーテル化合物を反応させて
得られる樹脂、または、含水量1.7%以下のフェノー
ル性樹脂、ビニルエーテル化合物及び2価以上のヒドロ
キシル基及び/又はカルボキシル基を有する架橋剤を反
応させて得られる樹脂である。
【0022】上記フェノール性樹脂としては、例えばノ
ボラック樹脂、水素化ノボラツク樹脂、アセトン−ピロ
ガロール樹脂、o−ポリヒドロキシスチレン、m−ポリ
ヒドロキシスチレン、p−ポリヒドロキシスチレン、水
素化ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキ
ル置換ポリヒドロキシスチレン、ヒドロキシスチレン−
N−置換マレイミド共重合体、o/p−及びm/p−ヒ
ドロキシスチレン共重合体、ポリヒドロキシスチレンの
水酸基に対する一部O−アルキル化物(例えば、5〜3
0モル%のO−メチル化物、O−(1−メトキシ)エチ
ル化物、O−(1−エトキシ)エチル化物、O−2−テ
トラヒドロピラニル化物、O−(t−ブトキシカルボニ
ル)メチル化物等)もしくはO−アシル化物(例えば、
5〜30モル%のo−アセチル化物、O−(t−ブトキ
シ)カルボニル化物等)、スチレン−無水マレイン酸共
重合体、スチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−
メチルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、カルボ
キシル基含有メタクリル系樹脂及びその誘導体を挙げる
ことができるが、これらに限定されるものではない。特
に好ましいフェノール性樹脂はノボラック樹脂及びo−
ポリヒドロキシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレ
ン、p−ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合
体、アルキル置換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロ
キシスチレンの一部O−アルキル化、もしくはO−アシ
ル化物、スチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−
メチルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合体である。
該ノボラック樹脂は所定のモノマーを主成分として、酸
性触媒の存在下、アルデヒド類と付加縮合させることに
より得られる。
【0023】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、m
−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロ
ロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノー
ルA、フェニルフェノール、レゾルシノール、ナフトー
ル等のヒドロキシ芳香化合物を単独もしくは2種類以上
混合して使用することができるが、これらに限定される
ものではない。
【0024】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセ
トアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−
フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒド
ロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒ
ド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズア
ルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベ
ンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メ
チルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、
p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデ
ヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラー
ル、クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール
体、例えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール
等を使用することができるが、これらの中で、ホルムア
ルデヒドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド
類は、単独でもしくは2種類以上組み合わせて用いられ
る。酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ
酸等を使用することができる。
【0025】樹脂(b)の重量平均分子量は、2000
以上、好ましくは5000〜200000、より好まし
くは10000〜200000である。また、レジスト
膜の耐熱性を向上させるという観点からは、25000
以上が好ましい。ここで、重量平均分子量はゲルパーミ
エーションクロマトグラフィーのポリスチレン換算値を
もって定義される。
【0026】ビニルエーテル化合物としては、好ましく
は下記一般式(1)で示される化合物である。
【0027】一般式(1)
【化1】
【0028】式(1)中、R11〜R13は、同じでも異な
ってもよく、水素原子、アルキル基、アリル基、アラル
キル基、シクロアルキル基を表す。R14はアルキル基、
アリル基、アラルキル基、シクロアルキル基を表す。R
11とR13、又はR11とR12は炭素原子の5〜10員環、
あるいは−O−、−S−、−SO2 −、−N(R15)−
のヘテロ原子を含む環を形成してもよい。R15は、アル
キル基、アリル基、アラルキル基を表す。R12とR14
酸素原子と炭素原子を含む5〜8員環を含む環を形成し
てもよい。
【0029】式(1)中のR11〜R15のアルキル基とし
ては、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル
基、sec−ブチル基、t−ブチル基の様な炭素数1〜
4個のものが好ましく、アリル基としては、ビニル基が
好ましく、アラルキル基としては、ベンジル基、フエネ
チル基、クミル基の様な炭素数7〜10個のアラルキル
基が好ましく、シクロアルキル基としては、シクロプロ
ピル基、シクロブチル基、シクロヘキシル基、アダマン
チル基の様な炭素数3〜10個のものが好ましい。
【0030】R11とR13、又はR11とR12が形成する炭
素原子の5〜10員環としては、シクロヘキシル基、シ
クロペンチル基、シクロブチル基等が挙げられる。R11
とR13、又はR11とR12が形成する、−O−、−S−、
−SO2 −、−N(R15)−のヘテロ原子を含む環とし
ては、
【0031】
【化2】
【0032】等の構造が挙げられ、これら複素環は更に
置換基を有していてもよい。但し、上記構造において、
一般式(1)と結合する場所は、各構造の炭素原子の部
分である。R12とR14が形成する酸素原子と炭素原子を
含む5〜8員環を含む環としては、テトラヒドロピラニ
ル基、テトラヒドロフラニル基等が挙げられる。
【0033】2価以上のヒドロキシ基及びカルボキシル
基を有する架橋剤としては、好ましくは下記一般式
(2)で示される化合物である。
【0034】
【化3】
【0035】式(2)中、R20、R22は同じでも異なっ
ていてもよく、−OHあるいは−COOHを表す。R21
は2価以上(m+n価)の連結基を表す。m、nは自然
数を表す。R21は具体的には、2価以上(m+n価)の
脂肪族あるいは芳香族炭化水素基を表し、2価以上の脂
肪族基としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン
基、イソプロピレン基、ブチレン基、イソブチレン基、
t−ブチレン基などのようなアルキレン基、メチン基や
エチン基のような3価及び4価で炭素数1〜4個のもの
が好ましく、これらはさらに置換基によって置換されて
いてもよい。また、2価以上の芳香族基としては、1,
4−フェニレン、1,3−フェニレン、1,2−フェニ
レンのような単環のもの、1,2−ナフチレン、1,3
−ナフチレン、1,4−ナフチレン、1,5−ナフチレ
ン、1,6−ナフチレン、1,7−ナフチレン、1,8
−ナフチレン、2,3−ナフチレン、2,4−ナフチレ
ン、2,5−ナフチレン、2,6−ナフチレン、2,7
−ナフチレン、2,8−ナフチレンなどのような2環の
もの、アントラセンのような3環のものなどのアリーレ
ン基が挙げられ、更に多くの環を縮環していても良く、
置換基を有していてもよい。
【0036】本発明に用いられる樹脂の合成法として
は、例えば、上記のようなフェノール性樹脂と、上記エ
ノールエーテル化合物と上記架橋剤とを反応させて得ら
れる。この場合、必要に応じて架橋剤を添加せずに架橋
なしの樹脂を得ることも可能である。具体的には、上記
のようなフェノール性樹脂と架橋剤を酸触媒存在下でエ
ノールエーテル化合物によって反応を行う。
【0037】酸触媒としては、塩酸、硫酸、パラトルエ
ンスルホン酸一水和物、無水パラトルエンスルホン酸、
ピリジウムパラトルエンスルホネート、活性白土などが
挙げられる。脱水剤、溶剤を添加してもよい。反応温度
は、室温から加熱還流までのその化合物の様子によって
適宜設定することができる。酸触媒量は微量でよい。そ
の反応において、フェノール性樹脂、架橋剤、エノール
エーテル化合物の添加量としては、フェノール性樹脂に
対して、架橋剤を0.01〜10mol%、エノールエ
ーテルが1mol%〜45mol%である。より好まし
くは架橋剤が0.05〜5mol%、エノールエーテル
が5mol%〜40mol%である。更に好ましくは架
橋剤が0.1〜5mol%、エノールエーテルが10m
ol%〜35mol%である。また、必要に応じて架橋
剤を添加しない場合は、上記架橋剤の添加量を0mol
%にすればよい。
【0038】本発明における(b)の樹脂は2種類以上
混合して使用しても良い。本発明におけるこれら樹脂の
使用量は、感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準
として40〜99重量%、好ましくは60〜95重量%
である。
【0039】〔活性光線又は放射線の照射により酸を発
生する化合物〕本発明で使用される活性光線または放射
線の照射により分解して酸を発生する化合物としては、
光カチオン重合の光開始剤、光ラジカル重合の光開始
剤、色素類の光消色剤、光変色剤、あるいはマイクロレ
ジスト等に使用されている公知の光により酸を発生する
化合物およびそれらの混合物を適宜に選択して使用する
ことができる。
【0040】たとえば S.I.Schlesinger,Photogr.Sci.E
ng.,18,387(1974)、T.S.Bal etal,Polymer,21,423(198
0)等に記載のジアゾニウム塩、米国特許第4,069,055
号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、特願平3-140,140
号等に記載のアンモニウム塩、D.C.Necker etal,Macrom
olecules,17,2468(1984)、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Con
f.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)、米国特許第
4,069,055号、同4,069,056号等に記載のホスホニウム
塩、J.V.Crivello etal,Macromorecules,10(6),1307(19
77)、Chem.&Eng.News,Nov.28,p31(1988)、欧州特許第10
4,143号、米国特許第339,049 号、同第410,201号、特開
平2-150,848号、特開平2-296,514号等に記載のヨードニ
ウム塩、J.V.Crivello etal,Polymer J.17,73(1985)、
J.V.Crivello etal.J.Org.Chem.,43,3055(1978)、W.R.W
att etal,J.Polymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,22,1789(1
984) 、J.V.Crivello etal,Polymer Bull.,14,279(198
5)、J.V.Crivello etal,Macromorecules,14(5),1141(19
81)、J.V.Crivello etal,J.PolymerSci.,Polymer Chem.
Ed.,17,2877(1979)、欧州特許第370,693 号、同3,902,1
14号、同233,567号、同297,443号、同297,442号、米国
特許第4,933,377号、同161,811号、同410,201号、同33
9,049号、同4,760,013号、同4,734,444号、同2,833,827
号、獨国特許第2,904,626号、同3,604,580号、同3,604,
581号等に記載のスルホニウム塩、J.V.Crivello etal,M
acromorecules,10(6),1307(1977)、J.V.Crivello etal,
J.PolymerSci.,Polymer Chem.Ed., 17,1047(1979) 等に
記載のセレノニウム塩、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Conf.R
ad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)等に記載のアル
ソニウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815号、
特公昭46-4605 号、特開昭48-36281号、特開昭55-32070
号、特開昭60-239736号、特開昭61-169835 号、特開昭6
1-169837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401号、
特開昭63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の有機
ハロゲン化合物、K.Meier etal,J.Rad.Curing,13(4),26
(1986) 、T.P.Gill etal,Inorg.Chem.,19,3007(198
0)、D.Astruc,Acc.Chem.Res.,19(12),377(1896)、特開
平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロゲン化物、
S.Hayase etal,J.Polymer Sci.,25,753(1987)、E.Reich
manis etal,J.Pholymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,23,1(1
985)、Q.Q.Zhu etal,J.Photochem.,36,85,39,317(1987)、
B.Amit etal,Tetrahedron Lett.,(24)2205(1973)、D.H.
R.Barton etal,J.Chem Soc.,3571(1965)、 P.M.Collins
etal,J.Chem.SoC.,Perkin I,1695(1975)、M.Rudinstein
etal,Tetrahedron Lett.,(17),1445(1975)、J.W.Walker
etalJ.Am.Chem.Soc.,110,7170(1988)、S.C.Busman etal,
J.Imaging Technol.,11(4),191(1985)、H.M.Houlihan et
al,Macormolecules,21,2001(1988)、P.M.Collins etal,
J.Chem.Soc.,Chem.Commun.,532(1972)、S.Hayase etal,M
acromolecules,18,1799(1985)、E.Reichmanis etal,J.El
ectrochem.Soc.,Solid State Sci.Technol.,130(6)、 F.
M.Houlihan etal,Macromolcules,21,2001(1988)、欧州特
許第0290,750号、同046,083号、同156,535号、同271,85
1号、同0,388,343号、 米国特許第3,901,710号、同4,18
1,531号、特開昭60-198538号、特開昭53-133022号等に
記載のo−ニトロベンジル型保護基を有する光酸発生
剤、M.TUNOOKAetal,Polymer Preprints Japan,35(8)、G.
Berner etal,J.Rad.Curing,13(4)、W.J.Mijs etal,Coati
ng Technol.,55(697),45(1983),Akzo、H.Adachi etal,P
olymer Preprints,Japan,37(3)、欧州特許第0199,672
号、同84515号、同199,672号、同044,115号、同0101,12
2号、米国特許第618,564号、同4,371,605号、同4,431,7
74号、特開昭64-18143 号、特開平2-245756号、特願平3
-140109号等に記載のイミノスルフォネ−ト等に代表さ
れる光分解してスルホン酸を発生する化合物、特開昭61
-166544号等に記載のジスルホン化合物を挙げることが
できる。
【0041】また、これらの光により酸を発生する基、
あるいは化合物をポリマーの主鎖または側鎖に導入した
化合物、たとえば、M.E.Woodhouse etal,J.Am.Chem.So
c.,104,5586(1982)、S.P.Pappas etal,J.Imaging Sc
i.,30(5),218(1986)、S.Kondoetal,Makromol.Chem.,Rap
id Commun.,9,625(1988)、Y.Yamadaetal,Makromol.Che
m.,152,153,163(1972) 、J.V.Crivello etal,J.Polymer
Sci.,Polymer Chem.Ed.,17,3845(1979)、米国特許第3,8
49,137号、獨国特許第3914407号、特開昭63-26653号、
特開昭55-164824号、特開昭62-69263号、特開昭63-1460
38 号、特開昭63-163452号、特開昭62-153853号、特開
昭63-146029号等に記載の化合物を用いることができ
る。
【0042】さらにV.N.R.Pillai,Synthesis,(1),1(198
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
【0043】上記活性光線または放射線の照射により分
解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に用いられ
るものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体または一般式(PA
G2)で表されるS−トリアジン誘導体。
【0044】
【化4】
【0045】式中、R201 は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、R202 は置換もしくは未置換の
アリール基、アルケニル基、アルキル基、−C(Y)3
をしめす。Yは塩素原子または臭素原子を示す。具体的
には以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定
されるものではない。
【0046】
【化5】
【0047】
【化6】
【0048】
【化7】
【0049】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、または一般式(PAG4)で表され
るスルホニウム塩。
【0050】
【化8】
【0051】ここで式Ar1、Ar2は各々独立に置換も
しくは未置換のアリール基を示す。好ましい置換基とし
ては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアルキル
基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボキシ
ル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メルカ
プト基およびハロゲン原子が挙げられる。
【0052】R203 、R204 、R205 は各々独立に、置
換もしくは未置換のアルキル基、アリール基を示す。好
ましくは、炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8
のアルキル基およびそれらの置換誘導体である。好まし
い置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8
のアルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、ニトロ
基、カルボキシル基、ヒロドキシ基およびハロゲン原子
であり、アルキル基に対しては炭素数1〜8のアルコキ
シ基、カルボキシル基、アルコシキカルボニル基であ
る。
【0053】Z-は対アニオンを示し、例えばBF4 -
AsF6 -、PF6 -、SbF6-、SiF6 2-、ClO4 -
CF3SO3 -等のパーフルオロアルカンスルホン酸アニ
オン、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸アニオン、ナ
フタレン−1−スルホン酸アニオン等の縮合多核芳香族
スルホン酸アニオン、アントラキノンスルホン酸アニオ
ン、スルホン酸基含有染料等を挙げることができるがこ
れらに限定されるものではない。
【0054】またR203 、R204 、R205 のうちの2つ
およびAr1、Ar2はそれぞれの単結合または置換基を
介して結合してもよい。
【0055】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0056】
【化9】
【0057】
【化10】
【0058】
【化11】
【0059】
【化12】
【0060】
【化13】
【0061】
【化14】
【0062】
【化15】
【0063】
【化16】
【0064】
【化17】
【0065】
【化18】
【0066】
【化19】
【0067】一般式(PAG3)、(PAG4)で示さ
れる上記オニウム塩は公知であり、たとえばJ.W.Knapcz
yk etal,J.Am.Chem.Soc.,91,145(1969)、A.L.Maycok et
al,J.Org.Chem.,35,2532,(1970)、E.Goethas etal ,Bul
l.Soc.Chem.Belg.,73,546,(1964) 、H.M.Leicester、J.A
me.Chem.Soc.,51,3587(1929)、J.V.Crivello etal,J.Po
lym.Chem.Ed.,18,2677(1980)、米国特許第2,807,648 号
および同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記載の
方法により合成することができる。
【0068】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体または一般式(PAG6)で表される
イミノスルホネート誘導体。
【0069】
【化20】
【0070】式中、Ar3、Ar4は各々独立に置換もし
くは未置換のアリール基を示す。R 206 は置換もしくは
未置換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もし
くは未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレ
ン基を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0071】
【化21】
【0072】
【化22】
【0073】
【化23】
【0074】
【化24】
【0075】
【化25】
【0076】
【化26】
【0077】これらの活性光線または放射線の照射によ
り分解して酸を発生する化合物の添加量は、感光性組成
物の全重量(塗布溶媒を除く)を基準として通常0.0
01〜40重量%の範囲で用いられ、好ましくは0.0
1〜20重量%、更に好ましくは0.1〜10重量%の
範囲で使用される。
【0078】〔低分子酸分解性溶解阻止化合物〕本発明
において、低分子酸分解性溶解阻止化合物を用いること
が好ましい。本発明に用いられる酸分解性溶解阻止化合
物としては、その構造中に酸で分解し得る基を少なくと
も2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置に
おいて、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも8個経
由する化合物である。本発明において、好ましくは酸分
解性溶解阻止化合物は、その構造中に酸で分解し得る基
を少なくとも2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも10個、好ましくは少なくとも11個、更に好まし
くは少なくとも12個経由する化合物、又は酸分解性基
を少なくとも3個有し、該酸分解性基間の距離が最も離
れた位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なく
とも9個、好ましくは少なくとも10個、更に好ましく
は少なくとも11個経由する化合物である。又、上記結
合原子の好ましい上限は50個、更に好ましくは30個
である。本発明において、酸分解性溶解阻止化合物が、
酸分解性基を3個以上、好ましくは4個以上有する場
合、又酸分解性基を2個有するものにおいても、該酸分
解性基が互いにある一定の距離以上離れている場合、樹
脂に対する溶解阻止性が著しく向上する。なお、本発明
における酸分解性基間の距離は、酸分解性基を除く、経
由結合原子数で示される。例えば、以下の化合物
(1),(2)の場合、酸分解性基間の距離は、各々結
合原子4個であり、化合物(3)では結合原子12個で
ある。
【0079】
【化27】
【0080】また、本発明の酸分解性溶解阻止化合物
は、1つのベンゼン環上に複数個の酸分解性基を有して
いても良いが、好ましくは、1つのベンゼン環上に1個
の酸分解性基を有する骨格から構成される化合物であ
る。更に、本発明の酸分解性溶解阻止化合物の分子量は
3,000以下であり、好ましくは500〜3,00
0、更に好ましくは1,000〜2,500である。
【0081】本発明の好ましい実施態様においては、酸
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0 −COO−A0 、又は−A
r−O−B0 で示される基が挙げられる。ここでA
0 は、−C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01
(R02)(R 03)もしくは−C(R04)(R05)−O−
06基を示す。B0 は、A0 又は−CO−O−A0 基を
示す。R01、R02、R03、R04及びR05は、それぞれ同
一でも相異していても良く、水素原子、アルキル基、シ
クロアルキル基、アルケニル基もしくはアリール基を示
し、R06はアルキル基もしくはアリール基を示す。但
し、R01〜R03の内少なくとも2つは水素原子以外の基
であり、又、R01〜R03、及びR04〜R06の内の2つの
基が結合して環を形成してもよい。R0 は置換基を有し
ていても良い2価以上の脂肪族もしくは芳香族炭化水素
基を示し、−Ar−は単環もしくは多環の置換基を有し
ていても良い2価以上の芳香族基を示す。
【0082】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0083】酸により分解しうる基として、好ましく
は、シリルエーテル基、クミルエステル基、アセタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基である。
【0084】酸分解性溶解阻止化合物としては、好まし
くは、特開平1−289946号、特開平1−2899
47号、特開平2−2560号、特開平3−12895
9号、特開平3−158855号、特開平3−1793
53号、特開平3−191351号、特開平3−200
251号、特開平3−200252号、特開平3−20
0253号、特開平3−200254号、特開平3−2
00255号、特開平3−259149号、特開平3−
279958号、特開平3−279959号、特開平4
−1650号、特開平4−1651号、特開平4−11
260号、特開平4−12356号、特開平4−123
57号、特願平3−33229号、特願平3−2307
90号、特願平3−320438号、特願平4−251
57号、特願平4−52732号、特願平4−1032
15号、特願平4−104542号、特願平4−107
885号、特願平4−107889号、同4−1521
95号等の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物の
フエノール性OH基の一部もしくは全部を上に示した
基、−R0 −COO−A0 もしくはB0 基で結合し、保
護した化合物が含まれる。
【0085】更に好ましくは、特開平1−289946
号、特開平3−128959号、特開平3−15885
5号、特開平3−179353号、特開平3−2002
51号、特開平3−200252号、特開平3−200
255号、特開平3−259149号、特開平3−27
9958号、特開平4−1650号、特開平4−112
60号、特開平4−12356号、特開平4−1235
7号、特願平4−25157号、特願平4−10321
5号、特願平4−104542号、特願平4−1078
85号、特願平4−107889号、同4−15219
5号の明細書に記載されたポリヒドロキシ化合物を用い
たものが挙げられる。
【0086】このようなポリヒドロキシ化合物としてよ
り具体的には、一般式[I]〜[XVI]で表される化
合物が挙げられる。
【0087】
【化28】
【0088】
【化29】
【0089】
【化30】
【0090】
【化31】
【0091】ここで、 R101 、R102 、R108 、R130 :同一でも異なってい
ても良く、水素原子、−R0−COO−C(R01)(R
02)(R03)又は−CO−O−C(R01)(R0 2)(R
03)、但し、R0、R01、R02及びR03の定義は前記と
同じである。
【0092】R100 :−CO−,−COO−,−NHC
ONH−,−NHCOO−,−O−、−S−,−SO
−,−SO2−,−SO3−,もしくは
【0093】
【化32】
【0094】ここで、G=2〜6 但し、G=2の時は
150 、R151 のうち少なくとも一方はアルキル基、 R150 、R151 :同一でも異なっていても良く、水素原
子,アルキル基,アルコキシ基、−OH,−COOH,
−CN,ハロゲン原子,−R152 −COOR15 3 もしく
は−R154 −OH、 R152 、R154 :アルキレン基、 R153 :水素原子,アルキル基,アリール基,もしくは
アラルキル基、 R99、R103 〜R107 、R109 、R111 〜R118 、R
121 〜R123 、R128 〜R129 、R131 〜R134 、R
138 〜R141 及びR143 :同一でも異なっても良く、水
素原子,水酸基,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,アリールオキシ基,ア
ラルキル基,アラルキルオキシ基,ハロゲン原子,ニト
ロ基,カルボキシル基,シアノ基,もしくは −N(R155)(R156)(R155、R156:H,アルキル基,もしく
はアリール基) R110 :単結合,アルキレン基,もしくは
【0095】
【化33】
【0096】R157 、R159 :同一でも異なっても良
く、単結合,アルキレン基,−O−,−S−,−CO
−,もしくはカルボキシル基、 R158 :水素原子,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,ニトロ基,水酸基,シ
アノ基,もしくはカルボキシル基、但し、水酸基が酸分
解性基(例えば、t−ブトキシカルボニルメチル基、テ
トラヒドロピラニル基、1−エトキシ−1−エチル基、
1−t−ブトキシ−1−エチル基)で置き換ってもよ
い。
【0097】R119 、R120 :同一でも異なっても良
く、メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、但し本願において
低級アルキル基とは炭素数1〜4のアルキル基を指す、 R124 〜R127 :同一でも異なっても良く、水素原子も
しくはアルキル基、 R135 〜R137 :同一でも異なっても良く、水素原子,
アルキル基,アルコキシ基,アシル基,もしくはアシロ
キシ基、 R142 :水素原子,−R0−COO−C(R01
(R02)(R03)又は−CO−O−C(R01)(R02
(R03)、もしくは
【0098】
【化34】
【0099】R144 、R145 :同一でも異なっても良
く、水素原子,低級アルキル基,低級ハロアルキル基,
もしくはアリール基、 R146 〜R149 :同一でも異なっていても良く、水素原
子,水酸基,ハロゲン原子,ニトロ基,シアノ基,カル
ボニル基,アルキル基,アルコキシ基,アルコキシカル
ボニル基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アルケニル基,アルケニルオキシ
基,アリール基,アリールオキシ基,もしくはアリール
オキシカルボニル基、但し、各4個の同一記号の置換基
は同一の基でなくても良い、 Y:−CO−,もしくは−SO2−、 Z,B:単結合,もしくは−O−、 A:メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、 E:単結合,もしくはオキシメチレン基、 a〜z,a1〜y1:複数の時、()内の基は同一または異な
っていてもよい、 a〜q、s,t,v,g1〜i1,k1〜m1,o1,q1,s1,u1:0もしくは
1〜5の整数、 r,u,w,x,y,z,a1〜f1,p1,r1,t1,v1〜x1:0もしくは1〜
4の整数、 j1,n1,z1,a2,b2,c2,d2:0もしくは1〜3の整数、z1,a
2,c2,d2のうち少なくとも1つは1以上、 y1:3〜8の整数、 (a+b),(e+f+g),(k+l+m),(q+r+s),(w+x+y),(c1+d1),(g1+
h1+i1+j1),(o1+p1),(s1+t1)≧2、 (j1+n1)≦3、 (r+u),(w+z),(x+a1),(y+b1),(c1+e1),(d1+f1),(p1+r1),
(t1+v1),(x1+w1)≦4、但し一般式[V]の場合は(w+
z),(x+a1)≦5、 (a+c),(b+d),(e+h),(f+i),(g+j),(k+n),(l+o),(m+p),(q
+t),(s+v),(g1+k1),(h1+l1),(i1+m1),(o1+q1),(s1+u1)
≦5、 を表す。
【0100】
【化35】
【0101】
【化36】
【0102】
【化37】
【0103】
【化38】
【0104】好ましい化合物骨格の具体例を以下に示
す。
【0105】
【化39】
【0106】
【化40】
【0107】
【化41】
【0108】
【化42】
【0109】
【化43】
【0110】
【化44】
【0111】
【化45】
【0112】
【化46】
【0113】
【化47】
【0114】
【化48】
【0115】
【化49】
【0116】
【化50】
【0117】
【化51】
【0118】
【化52】
【0119】
【化53】
【0120】
【化54】
【0121】
【化55】
【0122】
【化56】
【0123】
【化57】
【0124】化合物(1)〜(63)中のRは、水素原
子、又は
【0125】
【化58】
【0126】を表す。但し、少なくとも2個、もしくは
構造により3個は水素原子以外の基であり、各置換基R
は同一の基でなくても良い。但し、少なくとも2個、も
しくは構造により3個は水素原子以外の基であり、各置
換基Rは同一の基でなくても良い。
【0127】本発明に用いることができる溶解阻止化合
物の添加量は、レジスト組成物の全重量(溶媒を除く)
を基準として3〜50重量%であり、好ましくは5〜3
5重量%の範囲である。本発明に用いられる溶解阻止化
合物の添加量が3重量%より少ないと、高解像度が得ら
れず、また50重量%より多いと保存安定性が悪化し、
膜収縮が起こり、レジストの耐熱性が悪化する。
【0128】本発明の組成物には、水不溶でアルカリ水
溶液に可溶な樹脂(以下、アルカリ可溶性樹脂ともい
う)を添加してもよい。本発明に用いられるアルカリ可
溶性樹脂としては、例えばノボラック樹脂、水素化ノボ
ラツク樹脂、アセトン−ピロガロール樹脂、o−ポリヒ
ドロキシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレン、p−
ポリヒドロキシスチレン、水素化ポリヒドロキシスチレ
ン、ハロゲンもしくはアルキル置換ポリヒドロキシスチ
レン、ヒドロキシスチレン−N−置換マレイミド共重合
体、o/p−及びm/p−ヒドロキシスチレン共重合
体、ポリヒドロキシスチレンの水酸基に対する一部O−
アルキル化物(例えば、5〜30モル%のO−メチル化
物、O−(1−メトキシ)エチル化物、O−(1−エト
キシ)エチル化物、O−2−テトラヒドロピラニル化
物、O−(t−ブトキシカルボニル)メチル化物等)も
しくはO−アシル化物(例えば、5〜30モル%のo−
アセチル化物、O−(t−ブトキシ)カルボニル化物
等)、スチレン−無水マレイン酸共重合体、スチレン−
ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン−ヒ
ドロキシスチレン共重合体、カルボキシル基含有メタク
リル系樹脂及びその誘導体を挙げることができるが、こ
れらに限定されるものではない。特に好ましいアルカリ
可溶性樹脂はノボラック樹脂及びo−ポリヒドロキシス
チレン、m−ポリヒドロキシスチレン、p−ポリヒドロ
キシスチレン及びこれらの共重合体、アルキル置換ポリ
ヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの一部O
−アルキル化、もしくはO−アシル化物、スチレン−ヒ
ドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン−ヒド
ロキシスチレン共重合体である。該ノボラック樹脂は所
定のモノマーを主成分として、酸性触媒の存在下、アル
デヒド類と付加縮合させることにより得られる。
【0129】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、m
−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロ
ロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノー
ルA、フェニルフェノール、レゾルシノール、ナフトー
ル等のヒドロキシ芳香化合物を単独もしくは2種類以上
混合して使用することができるが、これらに限定される
ものではない。
【0130】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセ
トアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−
フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒド
ロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒ
ド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズア
ルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベ
ンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メ
チルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、
p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデ
ヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラー
ル、クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール
体、例えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール
等を使用することができるが、これらの中で、ホルムア
ルデヒドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド
類は、単独でもしくは2種類以上組み合わせて用いられ
る。酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ
酸等を使用することができる。
【0131】こうして得られたノボラック樹脂の重量平
均分子量は、1,000〜30,000の範囲であるこ
とが好ましい。1,000未満では未露光部の現像後の
膜減りが大きく、30,000を越えると現像速度が小
さくなってしまう。特に好適なのは2,000〜20,
000の範囲である。また、ノボラック樹脂以外の前記
ポリヒドロキシスチレン、及びその誘導体、共重合体の
重量平均分子量は、2000以上、好ましくは5000
〜200000、より好ましくは10000〜1000
00である。また、レジスト膜の耐熱性を向上させると
いう観点からは、25000以上が好ましい。ここで、
重量平均分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフ
ィーのポリスチレン換算値をもって定義される。本発明
に於けるこれらのアルカリ可溶性樹脂は2種類以上混合
して使用しても良い。アルカリ可溶性樹脂の使用量は、
感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準として、5
0〜97重量%、好ましくは60〜90重量%である。
【0132】本発明において、上記(b)の樹脂以外
に、酸により分解し、アルカリ現像液中での溶解性を増
大させる基を有する樹脂を用いることができる。そのよ
うな樹脂としては、樹脂の主鎖または側鎖、あるいは、
主鎖及び側鎖の両方に、酸で分解し得る基を有する樹脂
である。この内、酸で分解し得る基を側鎖に有する樹脂
がより好ましい。
【0133】ここで、好ましい酸分解性基としては、酸
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0−COO−A0、又は−Ar
−O−B0で示される基が挙げられる。ここでA0は、−
C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0は、A0又は−CO−O−A0基を示す。
01、R02、R03、R04及びR05は、それぞれ同一でも
相異していても良く、水素原子、アルキル基、シクロア
ルキル基、アルケニル基もしくはアリール基を示し、R
06はアルキル基もしくはアリール基を示す。但し、R01
〜R03の内少なくとも2つは水素原子以外の基であり、
又、R01〜R03、及びR04〜R06の内の2つの基が結合
して環を形成してもよい。R0は置換基を有していても
良い2価以上の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基を示
し、−Ar−は単環もしくは多環の置換基を有していて
も良い2価以上の芳香族基を示す。2価以上の脂肪族基
としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、イ
ソプロピレン基、ブチレン基、イソブチレン基、t−ブ
チレン基などのような2価、メチン基やエチン基のよう
な3価及び4価で炭素数1〜4個のものが好ましく、こ
れらはさらに置換基によって置換されていてもよい。ま
た、2価以上の芳香族基としては、1,4−フェニレ
ン、1,3−フェニレン、1,2−フェニレンのような
単環のもの、1,2−ナフチレン、1,3−ナフチレ
ン、1,4−ナフチレン、1,5−ナフチレン、1,6
−ナフチレン、1,7−ナフチレン、1,8−ナフチレ
ン、2,3−ナフチレン、2,4−ナフチレン、2,5
−ナフチレン、2,6−ナフチレン、2,7−ナフチレ
ン、2,8−ナフチレンなどのような2環のもの、アン
トラセンのような3環のものなどが挙げられ、更に多く
の環を縮環していても良く、置換基を有していてもよ
い。
【0134】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0135】酸分解性基としては好ましくは、シリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセタ
ール基である。この中で、アセタール基又はケタール基
が特に好ましい。
【0136】次に、これら酸で分解し得る基が側鎖とし
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有するアルカリ可溶性樹脂である。例
えば、前記アルカリ可溶性樹脂を挙げることができる。
【0137】これらアルカリ可溶性樹脂のアルカリ溶解
速度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170
A/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A
/秒以上のものである(Aはオングストローム)。ま
た、矩形プロファイルを達成する点から遠紫外光やエキ
シマレーザー光に対する透過率が高いアルカリ可溶性樹
脂が好ましい。好ましくは、1μm膜厚の248nmで
の透過率が20〜80%である。このような観点から、
特に好ましいアルカリ可溶性樹脂は、o−,m−,p−
ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、水素化
ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部、O−アルキル化もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体及び水素化ノボラック樹
脂である。
【0138】本発明に用いられる酸で分解し得る基を有
する樹脂は、欧州特許254853号、特開平2−25
850号、同3−223860号、同4−251259
号等に開示されているように、アルカリ可溶性樹脂に酸
で分解し得る基の前駆体を反応させる、もしくは、酸で
分解し得る基の結合したアルカリ可溶性樹脂モノマーを
種々のモノマーと共重合して得ることができる。
【0139】本発明において、酸で分解し得る基を有す
る樹脂として好ましいものとしては、母体樹脂のOH基
の全量に対して、15〜35モル%のOH基がアセター
ル基又はケタール基で保護されているものが好ましい。
これにより、本発明の成分との相溶性が良好となる。上
記(b)の樹脂及び併用可能な樹脂を含めて、本発明に
使用される酸により分解し得る基を有する樹脂の具体例
を以下に示すが、本発明がこれらに限定されるものでは
ない。
【0140】
【化59】
【0141】
【化60】
【0142】
【化61】
【0143】
【化62】
【0144】
【化63】
【0145】
【化64】
【0146】
【化65】
【0147】
【化66】
【0148】酸で分解し得る基の含有率は、樹脂中の酸
で分解し得る基の数(B)と酸で分解し得る基で保護さ
れていないアルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/
(B+S)で表される。含有率は好ましくは0.01〜
0.5、より好ましくは0.05〜0.40、更に好ま
しくは0.05〜0.30である。B/(B+S)>
0.5ではPEB後の膜収縮、基板への密着不良やスカ
ムの原因となり好ましくない。一方、B/(B+S)<
0.01では、パターン側壁に顕著に定在波が残ること
があるので好ましくない。
【0149】酸で分解し得る基を有する樹脂の重量平均
分子量(Mw)は、2,000〜200,000の範囲
であることが好ましい。2,000未満では未露光部の
現像により膜減りが大きく、200,000を越えると
アルカリ可溶性樹脂自体のアルカリに対する溶解速度が
遅くなり感度が低下してしまう。より好ましくは、5,
000〜100,000の範囲であり、更に好ましくは
8,000〜50,000の範囲である。ここで、重量
平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ーのポリスチレン換算値をもって定義される。
【0150】また、本発明における酸で分解し得る基を
有する樹脂は2種類以上混合して使用しても良い。本発
明におけるこれら樹脂の使用量は、感光性組成物の全重
量(溶媒を除く)を基準として40〜99重量%、好ま
しくは60〜95重量%である。
【0151】本発明の組成物に有機塩基性化合物を用い
ることのできる。これにより、保存時の安定性向上及び
PEDによる線巾変化が少なくなるため好ましい。本発
明で用いることのできる好ましい有機塩基性化合物と
は、フェノールよりも塩基性の強い化合物である。中で
も含窒素塩基性化合物が好ましい。好ましい化学的環境
として、下記式(A)〜(E)構造を挙げることができ
る。
【0152】
【化67】
【0153】更に好ましい化合物は、一分子中に異なる
化学的環境の窒素原子を2個以上有する含窒素塩基性化
合物であり、特に好ましくは、置換もしくは未置換のア
ミノ基と窒素原子を含む環構造の両方を含む化合物もし
くはアルキルアミノ基を有する化合物である。好ましい
具体例としては、置換もしくは未置換のグアニジン、置
換もしくは未置換のアミノピリジン、置換もしくは未置
換のアミノアルキルピリジン、置換もしくは未置換のア
ミノピロリジン、置換もしくは未置換のイミダゾール、
置換もしくは未置換のピラゾール、置換もしくは未置換
のピラジン、置換もしくは未置換のピリミジン、置換も
しくは未置換のプリン、置換もしくは未置換のイミダゾ
リン、置換もしくは未置換のピラゾリン、置換もしくは
未置換のピペラジン、置換もしくは未置換のアミノモル
フォリン、置換もしくは未置換のアミノアルキルモルフ
ォリン等が挙げられる。好ましい置換基は、アミノ基、
アミノアルキル基、アルキルアミノ基、アミノアリール
基、アリールアミノ基、アルキル基、アルコキシ基、ア
シル基、アシロキシ基、アリール基、アリールオキシ
基、ニトロ基、水酸基、シアノ基である。特に好ましい
化合物として、グアニジン、1,1−ジメチルグアニジ
ン、1,1,3,3,−テトラメチルグアニジン、2−
アミノピリジン、3−アミノピリジン、4−アミノピリ
ジン、2−ジメチルアミノピリジン、4−ジメチルアミ
ノピリジン、2−ジエチルアミノピリジン、2−(アミ
ノメチル)ピリジン、2−アミノ−3−メチルピリジ
ン、2−アミノ−4−メチルピリジン、2−アミノ−5
−メチルピリジン、2−アミノ−6−メチルピリジン、
3−アミノエチルピリジン、4−アミノエチルピリジ
ン、3−アミノピロリジン、ピペラジン、N−(2−ア
ミノエチル)ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピ
ペリジン、4−アミノ−2,2,6,6−テトラメチル
ピペリジン、4−ピペリジノピペリジン、2−イミノピ
ペリジン、1−(2−アミノエチル)ピロリジン、ピラ
ゾール、3−アミノ−5−メチルピラゾール、5−アミ
ノ−3−メチル−1−p−トリルピラゾール、ピラジ
ン、2−(アミノメチル)−5−メチルピラジン、ピリ
ミジン、2,4−ジアミノピリミジン、4,6−ジヒド
ロキシピリミジン、2−ピラゾリン、3−ピラゾリン、
N−アミノモルフォリン、N−(2−アミノエチル)モ
ルフォリンなどが挙げられるがこれに限定されるもので
はない。
【0154】これらの含窒素塩基性化合物は、単独であ
るいは2種以上一緒に用いられる。含窒素塩基性化合物
の使用量は、感光性樹脂組成物(溶媒を除く)100重
量部に対し、通常、0.001〜10重量部、好ましく
は0.01〜5重量部である。0.001重量部未満で
は上記効果が得られない。一方、10重量部を超えると
感度の低下や非露光部の現像性が悪化する傾向がある。
【0155】本発明の化学増幅型ポジレジスト組成物に
は必要に応じて、更に界面活性剤、染料、顔料、可塑
剤、光増感剤及び現像液に対する溶解性を促進させるフ
エノール性OH基を2個以上有する化合物などを含有さ
せることができる。
【0156】好適な界面活性剤は、具体的にはポリオキ
シエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステ
アリルエーテル、ポリオキシエチレンセチルエーテル、
ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチ
ルフェノールエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェ
ノールエーテル等のポリオキシエチレンアルキルアリル
エーテル類、ポリオキシエチレン・ポリオキシプロピレ
ンブロックコポリマー類、ソルビタンモノラウレート、
ソルビタンモノパルミテート、ソルビタンモノステアレ
ート、ソルビタンモノオレエート、ソルビタントリオレ
エート、ソルビタントリステアレート等のソルビタン脂
肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソルビタンモノラ
ウレート、ポリオキシエチレンソルビタンモノパルミテ
−ト、ポリオキシエチレンソルビタンモノステアレー
ト、ポリオキシエチレンソルビタントリオレエート、ポ
リオキシエチレンソルビタントリステアレート等のポリ
オキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル類等のノニオ
ン系界面活性剤、エフトップEF301,EF303,
EF352(新秋田化成(株)製)、メガファックF1
71,F173 (大日本インキ(株)製)、フロラ−
ドFC430,FC431(住友スリーエム(株)
製)、アサヒガードAG710,サーフロンS−38
2,SC101,SC102,SC103,SC10
4,SC105,SC106(旭硝子(株)製)等のフ
ッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP3
41(信越化学工業(株)製)やアクリル酸系もしくは
メタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.75,N
o.95(共栄社油脂化学工業(株)製)などを挙げる
ことができる。
【0157】これらの界面活性剤は単独で添加してもよ
いし、また、いくつかの組み合わせで添加することもで
きる。好ましい添加量は、組成物(溶媒を除く)100
重量部に対して、0.0005〜0.01重量部であ
る。好適な染料としては油性染料及び塩基性染料があ
る。具体的にはオイルイエロー#101、オイルイエロ
ー#103、オイルピンク#312、オイルグリーンB
G、オイルブルーBOS,オイルブルー#603、オイ
ルブラックBY、オイルブラックBS、オイルブラック
T−505(以上オリエント化学工業株式会社製)、ク
リスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイ
オレット(CI42535)、ローダミンB(CI45
170B)、マラカイトグリーン(CI42000)、
メチレンブルー(CI52015)等を挙げることがで
きる。
【0158】さらに、下記に挙げるような分光増感剤を
添加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外よ
り長波長領域に増感させることで、本発明の化学増幅型
ポジレジストをiまたはg線に感度を持たせることがで
きる。好適な分光増感剤としては、具体的にはベンゾフ
ェノン、p,p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノ
ン、p,p’−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノ
ン、2−クロロチオキサントン、アントロン、9−エト
キシアントラセン、アントラセン、ピレン、ペリレン、
フェノチアジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベン
ゾフラビン、セトフラビン−T、9,10−ジフェニル
アントラセン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フ
ェナントレン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセ
ナフテン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニ
リン、N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロ
アニリン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチル
アミン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアン
トラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−
ベンズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−
1,9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,
2−ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,
7−ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等で
あるがこれらに限定されるものではない。
【0159】現像液に対する溶解性を促進させるフェノ
ール性OH基を2個以上有する化合物としては、ポリヒ
ドロキシ化合物が挙げられ、好ましくはポリヒドロキシ
化合物には、フェノール類、レゾルシン、フロログルシ
ン、フロログルシド、2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベン
ゾフェノン、α,α' ,α''−トリス(4−ヒドロキシ
フェニル)−1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、トリス(4
−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1’−ビス(4−
ヒドロキシフェニル)シクロヘキサンがある。
【0160】上記化学増幅型ポジレジスト組成物は精密
集積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリ
コン/二酸化シリコン被覆)上にスピナー、コーター等
の適当な塗布方法により塗布後、所定のマスクを通して
露光し、ベークを行い現像することにより良好なレジス
トパターンを得ることができる。
【0161】本発明の感光性組成物の現像液としては、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、
ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルア
ミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−ブチ
ルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メチル
ジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノール
アミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン
類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム
塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカ
リ性水溶液を使用することができる。更に、上記アルカ
リ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加し
て使用することもできる。
【0162】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。
【0163】本発明の樹脂の合成例−1 ポリパラヒドロキシスチレン(含水量1.0%)21g
をフラスコに入れ、THFにて溶解した後t−ブチルビ
ニルエーテル7g及びPTS(パラトルエンスルホン
酸)を5mg添加し、室温にて16時間攪拌した。反応
液を水3リットルに投入し、析出物をろ取、乾燥し、白
色粉体として25gを得た。
【0164】本発明の樹脂の合成例−2 ポリパラヒドロキシスチレン(含水量0.9%)21
g、2,2−ビス(4−ヒドロキシシクロヘキシル)プ
ロパン0.86gをフラスコに入れ、THFにて溶解し
た後t−ブチルビニルエーテル7g及びPTSを5mg
添加し、室温にて16時間攪拌した。反応液を水に投入
し、析出物をろ取、乾燥し、白色粉体として26gを得
た。
【0165】本発明の樹脂の合成例−3 ポリパラヒドロキシスチレン(含水量1.0%)21g
をフラスコに入れ、THFにて溶解した後エチルビニル
エーテル5.5g及びPTSを10mg添加し、室温に
て16時間攪拌した。反応液を水3リットルに投入し、
析出した粉体をろ取、乾燥し、白色粉体として25gを
得た。
【0166】本発明の樹脂の合成例−4 ポリパラヒドロキシスチレン(含水量0.9%)21
g、2,2−ビス(4−ヒドロキシシクロヘキシル)プ
ロパン0.86gをフラスコに入れ、THFにて溶解し
た後エチルビニルエーテル5.5g及びPTSを10m
g添加し、室温にて16時間攪拌した。反応液を水に投
入し、析出物をろ取、乾燥し、白色粉体として26gを
得た。
【0167】本発明の樹脂の合成例−5 ポリパラヒドロキシスチレン(含水量1.1%)50
g、2,2−ビス(4−ヒドロキシシクロヘキシル)プ
ロパン4gをフラスコに入れ、THFにて溶解した後イ
ソブチルビニルエーテル17g及びPTSを10mg添
加し、室温にて16時間攪拌した。反応液にトリエチル
アミン20mgを添加した後、水に投入し、析出物をろ
取、乾燥し、白色粉体として55gを得た。上記合成例
1〜5と同様に実施例、比較例で用いた樹脂を合成し
た。
【0168】〔溶解阻止剤化合物の合成例−1〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をテトラヒドロフラ
ン400mlに溶解した。この溶液に窒素雰囲気下でtert
-ブトキシカリウム14g を加え、室温にて10分間攪拌
後、ジ−tert−ブチルジカーボネート29.2g を加え
た。室温下、3時間反応させ、反応液を氷水に注ぎ、生
成物を酢酸エチルで抽出した。酢酸エチル層を更に水洗
浄し、乾燥させた後溶媒を留去した。得られた結晶性の
固体を再結晶後(ジエチルエーテル)、乾燥させ、化合
物例(31:Rは全てt−BOC基)25.6g を得た。
【0169】〔溶解阻止剤化合物の合成例−2〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をジエチルエーテル
400ml に溶解した。この溶液に窒素雰囲気下で3,4−
ジヒドロ−2H−ピラン31.6g、触媒量 の塩酸を
加え、リフラツクス下24時間反応させた。反応終了
後、少量の水酸化ナトリウムを加え濾過した。濾液の溶
媒を留去し、得られた生成物をカラムクロマトグラフイ
ーで精製し、乾燥させ、化合物例(31:Rは総てTH
P基)を得た。
【0170】〔溶解阻止剤化合物の合成例−3〕α,
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン19.2g(0.040
モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120ml溶液
に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、更にブ
ロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)を添加
し、120℃にて7時間撹拌した。その後反応混合物を
水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出した。硫酸マ
グネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カラムクロマ
トグラフイー(担体:シリカゲル,展開溶媒:酢酸エチ
ル/n−ヘキサン=3/7(体積比))にて精製した結
果淡黄色粘稠固体30gを得た。NMRにより、これが
化合物例(31:Rは総て−CH2COOC49 t基)で
あることを確認した。
【0171】〔溶解阻止剤化合物の合成例−4〕原料
に、1,3,3,5−テトラキス−(4−ヒドロキシフ
ェニル)ヘプタンを用い、上記合成例−3の方法に従っ
て合成した。NMRにより、これが化合物例60(Rは
総て−CH2 COOC4 9 t 基)であることを確認し
た。
【0172】〔溶解阻止剤化合物の合成例−5〕上記合
成例−3、−4と同様の方法により、化合物例62(R
は総て−CH2COOC4 9 t 基)を合成し、NMR
により、それであることを確認した。
【0173】実施例1〜12、及び比較例1〜3 上記合成例で示した本発明の化合物を用いレジストを調
製した。そのときの処方を表1に示す。
【0174】
【表1】
【0175】表1において使用した略号は下記の内容を
表す。 <溶解阻止剤中の酸分解性基>
【0176】
【化68】
【0177】[感光性組成物の調製と評価]表1に示す
各素材をプロピレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート9.5gに溶解し、0.2μmのフィルターで濾
過してレジスト溶液を作成した。このレジスト溶液を、
スピンコーターを利用して、シリコンウエハー上に塗布
し、120℃60秒間真空吸着型のホットプレートで乾
燥して、膜厚1.0μmのレジスト膜を得た。このレジ
スト膜に、248nmKrFエキシマレーザーステツパ
ー(NA=0.45)を用いて露光を行った。露光直
後、及び露光1時間後にそれぞれ100℃の真空吸着型
ホットプレートで60秒間加熱を行い、ただちに2.3
8%テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(T
MAH)水溶液で60秒間浸漬し、30秒間水でリンス
して乾燥した。このようにして得られたシリコンウエハ
ー上のパターンの露光直後及び露光2時間後に加熱処理
した場合のプロファイル、感度、解像力を各々下記のよ
うに評価し、比較した。その結果を表2に示す。
【0178】〔プロファイル〕このようにして得られた
シリコンウエハー上のパターンを走査型電子顕微鏡で観
察し、レジストのプロファイルを評価した。 〔感度〕感度は0.50μmのマスクパターンを再現す
る露光量をもって定義した。 〔解像力〕解像力は0.50μmのマスクパターンを再
現する露光量における限界解像力を表す。
【0179】〔線幅変化〕露光直後と露光後2時間経時
した後の加熱における線幅変化は、露光直後での線幅を
基準に変化した割合を%で示し、線幅が太る場合は+
で、細る場合は−で示した。それらの結果を表2に示
す。
【0180】
【表2】
【0181】表2の結果から本発明のレジストは、溶解
阻止効果が維持され、良好なプロファイルと高感度、高
解像力を有し、露光後加熱処理までの経時による線巾変
化がないポジ型感光性組成物であることがわかる。一
方、比較例1〜3は、表2が示すように、解像力、プロ
ファイルが本発明に比べて不良で、露光後加熱処理まで
の経時による線巾変化があることが判る。
【0182】
【発明の効果】本発明により、高感度と高解像力と良好
なプロファイルとを有し、且つ露光後加熱処理までの経
時による線巾変化がないポジ型感光性組成物を提供でき
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上西 一也 静岡県榛原郡吉田町川尻4000番地 富士写 真フイルム株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)活性光線または放射線の照射によ
    り酸を発生する化合物、及び(b)含水量1.7%以下
    であるフェノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノ
    ール性水酸基を、酸の作用により分解しアルカリ現像液
    中での溶解性を増大させる基で保護された樹脂を含有す
    ることを特徴とするポジ型感光性組成物。
  2. 【請求項2】 (a)活性光線または放射線の照射によ
    り酸を発生する化合物、(b)含水量1.7%以下であ
    るフェノール性樹脂を原料として、該樹脂のフェノール
    性水酸基を、酸の作用により分解しアルカリ現像液中で
    の溶解性を増大させる基で保護された樹脂、及び(c)
    酸の作用により分解しうる基を有し、アルカリ現像液中
    での溶解度が酸の作用により増大する、分子量3000
    以下の低分子酸分解性溶解阻止化合物を含有することを
    特徴とするポジ型感光性組成物。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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