JPH101772A - ウェハートレーと真空装置、及び熱電性ウェハーの真空処理方法 - Google Patents
ウェハートレーと真空装置、及び熱電性ウェハーの真空処理方法Info
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- JPH101772A JPH101772A JP17301596A JP17301596A JPH101772A JP H101772 A JPH101772 A JP H101772A JP 17301596 A JP17301596 A JP 17301596A JP 17301596 A JP17301596 A JP 17301596A JP H101772 A JPH101772 A JP H101772A
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Abstract
なっても帯電しないウェハートレーを提供する。 【解決手段】 電気絶縁性の耐熱板4表面に導電性薄膜
61を形成してウェハートレー2を構成する。そのウェ
ハートレー2に熱電性ウェハーを配して真空槽内のトレ
ー保持治具上に乗せてウェハー2を真空処理したとき
に、ウェハーに生じた静電気を導電性薄膜61を介して
逃がす。このとき、耐熱板の側面と裏面にも導電膜
62、63を形成しておき、ウェハー2に生じた静電気を
裏面の導電膜63と接触しているウェハー保持治具から
逃がすとよい。
Description
気内で処理する真空技術分野にかかり、特に、ウェハー
に生じた静電気を除去するウェハートレーに関する。
置や蒸着装置等の真空槽内への搬出入したり、真空槽内
で保持するために、図3(a)の符号112や同図(b)の
符号122で示すウェハートレーが用いられている。
れ保持板114、124を有しており、ウェハートレー
112の保持板114上には、3本のピン111が正角
形の頂点位置に設けられ、各ピン111の内側にウェハ
ーを収納できるように構成されている。
ン111の内側にウェハーを置き、ウェハーごとウェハ
ートレー112を移動させると、ウェハーを落とすこと
なく真空槽への搬出入を行うことができる。
持板124の中央位置に凹部125が設けられており、
凹部125内にウェハーを収納すると、同様に、ウェハ
ーを落とすことなく真空槽への搬出入を行える。
122は高温に曝されるため、その保持板は耐熱性物質
で構成されており、種々の真空槽置に対応するため、そ
の耐熱性物質が装置側の要求する寸法、形状に切削加工
されて用いられている。
ウェハーは、LiTaO3やLiNbO3等の熱電性素材
(加熱、冷却による温度差により帯電する材料)で構成さ
れており、そのような熱電性のウェハーを従来技術のウ
ェハートレー112、122上に置いてスパッタリング
や蒸着を行うと、薄膜形成に伴うウェハーの温度上昇や
ヒーター加熱による温度上昇によってそのウェハーが帯
電し、そのため、ウェハーがウェハートレーに貼り付い
てしまったり、自己放電を起こし、そのショックによっ
て破損してしまうことがあった。
の不都合を解決するために創作されたもので、その目的
は、熱電性のウェハーを帯電させないで真空処理できる
ウェハートレーを提供することにある。
に、請求項1記載の発明装置は、電気絶縁性の耐熱板を
有し、真空槽内に配置できるように構成されたウェハー
トレーであって、前記耐熱板表面のうちの少なくともウ
ェハーが配される面には導電性膜が形成され、前記ウェ
ハーに生じた静電気を、前記導電膜を介して逃がせるよ
うに構成されたことを特徴とする。
に、前記ウェハーが配される表面の裏面と側面にも導電
性膜を形成し、各面に形成された導電膜を電気的に接続
しておくとよい。
項記載のウェハートレーについては、請求項3記載の発
明装置のように、ウェハーが配された状態で前記真空槽
内に搬出入できるように構成しておくと都合がよい。
のいずれか1項記載のウェハートレーを用いる真空装置
では、請求項4記載の発明装置のように、前記真空槽内
に、電気伝導性を有し、前記真空槽と電気的に接続され
たトレー保持治具を設け、該トレー保持治具に前記ウェ
ハートレーを配せるように構成するとよい。
によって帯電する熱電性ウェハーをウェハートレーに配
し、該熱電性ウェハーを真空槽内に搬入して処理する熱
電性ウェハーの真空処理方法であって、熱電性ウェハー
に生じた静電気を前記ウェハートレーを介して逃がすこ
とを特徴とする。
に配置できるように構成されたウェハートレーの電気絶
縁性の耐熱板について、その表面のうちの少なくともウ
ェハーが配される面に導電性膜を形成したので、ウェハ
ーに生じた静電気をその導電性膜から逃がすことができ
る。
膜を形成し、耐熱板の各面に形成された導電膜が電気的
に接続されるようにしておくと、ウェハーに生じた静電
気を裏面の導電膜から逃がすことができるので都合がよ
い。
送すると割れるおそれがあるので、ウェハートレーを、
ウェハーを配した状態で真空槽内に搬出入できるように
構成しておくとウェハーには力が加わらず、割れや欠け
が生じることがなくなる。
トレー保持治具に配されており、ウェハートレーの裏面
はそのトレー保持治具と接触しているのが普通なので、
そのウェハー保持治具に電気導電性を持たせ、真空槽と
電気的に接続しておけば、真空槽は接地電位に置かれて
いるので、ウェハートレーに形成された導電膜の電位を
ウェハーの処理中も接地電位に維持し、ウェハーに生じ
た静電気をトレー保持治具から逃がすことが可能とな
る。
面を用いて説明する。図1の符号2に示すものは、本発
明装置のウェハートレーの一例であり、耐熱性を有し、
切削加工可能なマセライトで構成された耐熱板4を有し
ている。その耐熱板4は円盤状に成形され、表面中央部
に3インチウェハーの直径よりも僅かに大きい円形の凹
部5が設けられている。
タリングが2回に分けて行われており、耐熱板4の表面
と裏面とに膜厚1〜2μmのアルミニウム膜で構成され
た導電性膜61、62が形成されている。そのスパッタリ
ングの際には、アルミニウム粒子の回り込みにより、耐
熱板4の側面にも導電性膜63が形成されており、各導
電性膜61〜63によって耐熱板4の周囲を覆うように導
電性膜6が構成されている。
な真空装置3に用いる場合を説明する。この真空装置3
はスパッタリング装置であり、接地電位に置かれた真空
槽31を有している。該真空槽31は、真空ポンプ35
によって高真空状態にできるように構成されており、そ
の天井には、カソード電極32が真空槽31とは絶縁し
た状態で取り付けられ、カソード電極32の真空槽31
内に位置する面にはアルミニウム材料から成るターゲッ
ト33が設けられている。
空円筒形状に成形されて成るトレー保持治具8が、真空
槽31に鉛直に固定されており、該トレー保持治具8の
上端のフランジ状に成形された部分には、真空槽31内
に搬入されたウェハートレー2を載置できるように構成
されている。
ーター37が設けられており、該赤外線ヒーター37へ
の通電によってトレー保持治具8上に載置されたウェハ
ートレー2を加熱できるように構成されている。
TaO2基板から成るウェハー9の表面にアルミニウム
薄膜を成膜した。先ず、ウェハートレー2の凹部5内に
そのウェハー9を納め、その状態で真空槽31内に搬入
し、トレー保持治具8上に載置し、真空槽31内を真空
状態にした。次いで、赤外線ヒーター37によってウェ
ハートレー2を介してウェハー9を加熱し、同時にガス
導入口36からアルゴンガスを導入した。
mであり、真空槽31内の圧力が0.4Paで安定し、
ウェハー温度が200℃に達したところで電源38を起
動してカソード電極32に電圧を印加し、1.0kWの
投入電力でターゲット33をスパッタリングし、ウェハ
ー9の表面へアルミニウム薄膜を形成した。
0μmであり、熱電性を有しているので、薄膜形成に伴
う温度上昇があったり、赤外線ヒーター37の加熱によ
る温度上昇があると、浮遊電位に置かれている状態では
発生した静電気が蓄積され、帯電してしまう。上記ウェ
ハートレー2はトレー保持治具8上に載置されており、
そのトレー保持治具8は接地電位に置かれた真空槽31
に設けられているので、ウェハー9に生じた静電気はウ
ェハートレー2に形成された導電性膜6を介してトレー
保持治具8へ逃がされる。
にされており、その状態でウェハー9へのスパッタリン
グを50秒間行った後、ウェハートレー2ごと真空槽3
1から搬出した。
2では、その上からウェハー9を容易に離すことがで
き、静電気は帯びていなかった。また、そのウェハー9
には、割れやクラックは発生していなかった。上記スパ
ッタリングによりウェハー9表面に形成されたアルミニ
ウム薄膜の膜厚を測定したところ100nmであった。
熱電性を有するLiNbO3のウェハーを上記ウェハー
トレー2上に乗せ、真空槽31内に搬入してスパッタリ
ングによるアルミニウム薄膜の形成を行ったが、このL
iNbO3のウェハーでも帯電は生じなかった。
レー2によればウェハー9に生じた静電気を逃がすこと
ができるので、ウェハーを帯電させることなく真空処理
を行うことができる。また、耐熱板4に導電性膜6を形
成しているので、ウェハートレー2を繰り返し使用した
場合でも、反りや歪みが生じることはない。使用回数が
増え、ウェハートレー2に薄膜が付着した場合には、そ
れが剥離してダストになる前に洗浄することができる。
その洗浄によって導電性膜が除去されてしまった場合に
は、スパッタリングや蒸着によって導電性膜を形成し直
して再生することができるので経済的である。
構成する材料はマセライトであったが、導電性膜を形成
する対象はそれに限定されるものではなく、耐熱性を有
し、繰り返し高温に曝されても変形や歪みが生じない材
質であればよい。但し、熱膨張係数がウェハーと同程度
であり、また、切削加工できるものが望ましい。そのよ
うな材料にはマセライトの他、例えばSiO2等がある
が、金属材料は温度上昇による変形が無視できないので
不適当である。他方、カーボン材料は耐熱性があり、変
形や歪みが生じないが、擦れた場合、表面から微粒子が
脱落し、ダストになるので望ましくない。
ム膜(Al膜)に限定されるものではなく、AlSi膜、
AlSiCu膜等、成膜対象であるウェハー表面に形成
する薄膜と同じ組成の膜か、その薄膜に近い材料の導電
性膜を用いることができる。耐熱板への導電性膜の形成
方法もスパッタリング法に限定されるものではなく、蒸
着法等の種々の成膜技術を用いることができる。
にウェハー9を乗せた状態で、水平にして真空槽31内
に搬出入するものであったが、ピンを設けたものであっ
てもよいし、ウェハーを鉛直に保持して真空槽内に搬出
入するものであってもよい。また、必ずしもウェハーと
一緒に真空槽内に搬出入されるものでなくてもよい。例
えば真空槽内に固定されるものであっても、静電気が生
じるウェハーが配されるものであれば本発明に含まれ
る。その静電気も、熱電性により生じるものに限定され
るものではない。
たが、本発明のウェハートレーは蒸着装置やCVD装置
等、プロセス処理中にウェハーが帯電するおそれがある
真空装置に広く使用することができる。
処理しても帯電することがない。熱電性のウェハーが帯
電しないので、ウェハーがウェハートレーに貼り付いて
しまったり、自己放電によって割れたりすることがな
い。
具 9……熱電性ウェハー 31……真空槽
Claims (5)
- 【請求項1】 電気絶縁性の耐熱板を有し、真空槽内に
配置できるように構成されたウェハートレーであって、 前記耐熱板表面のうちの少なくともウェハーが配される
面には導電性膜が形成され、 前記ウェハーに生じた静
電気を、前記導電膜を介して逃がせるように構成された
ことを特徴とするウェハートレー。 - 【請求項2】 前記ウェハーが配される表面の裏面と側
面にも導電性膜が形成され、各面に形成された導電膜が
電気的に接続されていることを特徴とする請求項1記載
のウェハートレー。 - 【請求項3】 前記ウェハートレーは、ウェハーが配さ
れた状態で前記真空槽内に搬出入できるように構成され
たことを特徴とする請求項1又は請求項2のいずれか1
項記載のウェハートレー。 - 【請求項4】 前記真空槽を有し、請求項1乃至請求項
3のいずれか1項記載のウェハートレーが用いられる真
空装置であって、 前記真空槽内には、電気伝導性を有し、前記真空槽と電
気的に接続されたトレー保持治具が設けられ、該トレー
保持治具に前記ウェハートレーを配せるように構成され
たことを特徴とする真空装置。 - 【請求項5】 温度差によって帯電する熱電性ウェハー
をウェハートレーに配し、該熱電性ウェハーを真空槽内
に搬入して処理する熱電性ウェハーの真空処理方法であ
って、 熱電性ウェハーに生じた静電気を前記ウェハートレーを
介して逃がすことを特徴とする真空処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17301596A JP3775858B2 (ja) | 1996-06-12 | 1996-06-12 | 成膜装置、成膜方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH101772A true JPH101772A (ja) | 1998-01-06 |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006028977A1 (de) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Infineon Technologies Ag | Sputterdepositions-Vorrichtung und -Verfahren |
KR100865546B1 (ko) * | 2002-06-28 | 2008-10-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 포토마스크의 식각장치 |
US7743295B2 (en) | 2006-03-14 | 2010-06-22 | Infineon Technologies Ag | System and method for testing an integrated circuit |
US10275592B2 (en) | 2013-11-15 | 2019-04-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing device, information processing method, and computer program product |
-
1996
- 1996-06-12 JP JP17301596A patent/JP3775858B2/ja not_active Expired - Fee Related
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DE102006028977B4 (de) * | 2006-06-23 | 2012-04-12 | Qimonda Ag | Sputterdepositions-Vorrichtung |
US10275592B2 (en) | 2013-11-15 | 2019-04-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Information processing device, information processing method, and computer program product |
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A977 | Report on retrieval |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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