JPH10163556A - 半導体レーザ駆動装置および画像記録装置 - Google Patents

半導体レーザ駆動装置および画像記録装置

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JPH10163556A
JPH10163556A JP8320410A JP32041096A JPH10163556A JP H10163556 A JPH10163556 A JP H10163556A JP 8320410 A JP8320410 A JP 8320410A JP 32041096 A JP32041096 A JP 32041096A JP H10163556 A JPH10163556 A JP H10163556A
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    • H01S5/00Semiconductor lasers
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    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、半導体レーザを駆動する半導体レー
ザ駆動装置および画像を記録する過程に画像情報を担持
するレーザビームにより所定の被走査体上を走査する過
程を含む画像記録装置に関し、アナログ的に高速かつ高
精度に電流−光出力特性を求め、これにより、高画質を
維持した上で高速描画を行なう。 【解決手段】第1の演算増幅器14による第1のフィー
ドバック回路と第2の演算増幅器15による第2のフィ
ードバック回路を備え、それら2重のフィードバックを
同時に行なうことにより、電流−光出力特性を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザを駆
動する半導体レーザ駆動装置および画像を記録する過程
に画像情報を担持するレーザビームにより所定の被走査
体上を走査する過程を含む画像記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばゼログラフィプロセスを採用した
画像記録装置において、光ビームを発生させる手段とし
て高速変調に適した半導体レーザが従来から用いられて
いる。この半導体レーザを画像記録装置に用いた場合、
この半導体レーザから所望の光量の光ビームが出射され
るように、実際の画像の形成に影響のないタイミングで
光量モニタ用の受光センサを用いてフィードバックをか
けAPC(AutoPower Control)を行
なうことにより所望の光量が得られる制御電圧を求め、
このときの制御電圧をアナログ的又はデジタル的に保持
しておいてフィードバックを停止し、実際の画像の形成
に影響を及ぼすタイミングでは、その保持された制御電
圧に基づいて半導体レーザに供給する電流を設定するオ
ープンループ制御を行ない、その後再びフィードバック
をかけるというように間欠的なフィードバック制御が行
なわれている。また、半導体レーザの変調方式には、パ
ルス幅変調方式と強度変調方式とがあり、それぞれ画質
を向上させるための技術が提供されている。そのうち強
度変調を行なう上で特に問題になるのは、オープンルー
プで所望の光量の光ビームをいかにして作り出すかとい
う点である。
【0003】以下、先ず半導体レーザの電流・出力パワ
ー特性について説明し、次いで従来提案されている技術
について説明する。図7は、半導体レーザに供給される
電流に対する、その半導体レーザから出力されるレーザ
光の発光パワーを示す図である。この図に示すように、
半導体レーザの光出力特性は、半導体レーザへの供給電
流が所定のレーザ発振閾値電流Ith未満のときのLED
領域と、供給電流がそのレーザ発振閾値電流Ith以上の
レーザ発振領域とに二分され、LED領域では半導体レ
ーザからレーザ光は出射されず、レーザ発振領域では、
供給電流からレーザ発振閾値電流Ithを差し引いた残り
の電流にほぼ比例したパワーの光出力が得られる。この
ため、レーザ発振閾値電流Ithと、レーザ発振領域にお
ける傾斜η(レーザ発光効率)を正確に求める必要があ
る。これは、半導体レーザの点灯、消灯の高速性を確保
するために、非発光時を含め半導体レーザにレーザ発振
閾値電流Ith近傍のバイアス電流を常時流しておく必要
があり(「Heterostructures Las
ers」HC CASEY.JR.,M.B.PANI
SH,ACADEMIC PRESS NEW YOR
K 1978、特開昭60−18982号公報参照)、
かつ、正確な発光光量を得るためにそのバイアス電流に
重畳すべき駆動電流を正確に定める必要があるからであ
る。これら閾値電流Ithや傾斜ηは半導体レーザ毎にば
らつきがあり環境によっても変化するため、あらかじめ
求めておけばよいというものではなく、動作中にもしょ
っちゅう求め直す必要がある。
【0004】特開昭63−184773号公報には、重
み付けされた複数の電流源とバイアス電流源を備え、マ
イクロプロセッサで制御される半導体レーザ駆動装置が
開示されており、この公報では、上記のような閾値電流
thや傾斜ηを求めるにあたり、最初にバイアス電流源
のみオンとしレーザがわずかに発光したのを検出してバ
イアス電流を決定し、さらに電流源を全てオンにしてお
いて規定最大光量発光するまで駆動電流を増大し、規定
最大光量になったところで複数の電流源の駆動の基準電
圧を設定し、そのあとは電流源スイッチを制御すること
でバイアス電流のみによる発光光量と最大光量との間で
強度変調を行う方式が提案されている。この方式をレー
ザゼログラフィの半導体レーザ駆動装置に適応した場合
に、例えば図7に示す電流I3 のように最小光出力を大
きくしすぎるとデータがゼロであっても潜像が形成さ
れ、また図7に示す電流I4 に示すように小さくしすぎ
てLED領域に入ってしまうと微分量子効率が極めて低
いためわずかのレベルの違いで駆動電流が大幅に変化し
てしまい、駆動電流が大幅に小さく設定された場合等デ
ータを入力して強度変調してもレーザ発信閾値まで達せ
ず殆ど潜像が形成されないということになる。
【0005】また特開平4−122656号公報には、
半導体レーザの制御電流とレーザ発光出力とが線形とな
る領域で複数レベルの規定光量P1 ,P2 を発光させ
て、それら複数の規定光量に対応する複数の電流値I
1 ,I2 を出力するための複数の制御電圧を記憶してお
き、CPUを使用したデジタル演算により電流と発光パ
ワーとの関係を求める技術が開示されている。また特開
平4−320384号公報には、半導体レーザに供給す
る電流とその半導体レーザの発光パワーとの関係が線形
ではなくても設定光量レベル数を増やすことにより所定
の光パワーを得るようにしていることが提案されてい
る。これら2つの例は強度変調の精度の点では優れてい
るものの、いずれも制御をデジタル的に行っておりCP
Uを必要としてる。また制御に必要なデジタルデータ幅
も、例えばレーザゼログラフィでの使用を前提とするな
ら256階調を得るには少なくとも8ビット、実際には
感光体の非線形性ゆえに12ビット程度のデータサイズ
が必要とされる。このためコストアップの要因となる。
更に全てをデジタル的に行うため、長大なプログラムを
実行しなければならない。このためAPCに時間がかか
り過ぎ、レーザゼログラフィであれば画像を描く時間が
制約されてしまう結果を招く。
【0006】一方アナログ的にこれを実現する方式とし
ては特開平6−334248号公報が挙げられる。この
公報には、APC(Auto Power Contr
ol)を行うにあたり、最初に1つのサンプルホールド
回路に最小値を設定し、次に最大値設定のフィードバッ
クループの途中に配置されたD/A変換器のゲインを制
御することにより、もう1つのサンプルホールド回路に
最大値を設定する方式が開示されている。この方式によ
れば制御電圧の設定は全てアナログ的に行われるため、
フィードバックループを形成し信号が収束したときをも
って最小、最大の設定が行われ、極めて短時間に設定が
終了する。またデジタル演算を行っていないためCPU
を内蔵するということも必要としない。しかしながら、
前述した特開昭63−184773号公報と同様な問
題、すなわち、最小光量を大きく設定しすぎたり小さく
設定しすぎてしまうという問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】強度変調を高精度で行
うには電流に対する光量が直線となる領域を用いる必要
があり、このためには、この直線を光量がゼロとなる、
x軸(電流軸)まで延ばした外挿点であるレーザ発振閾
値電流Ithを求める必要がある(「Heterostr
uctures Lasers」HC CASEY.J
R.,M.B.PANISH,ACADEMIC PR
ESS NEW YORK 1978参照)。しかしな
がら従来このIthはデジタル演算でしか求められなかっ
たため、APCの速度とコストを犠牲にしてデジタル演
算を行うか、又はアナログ的に求めるには、制御精度を
犠牲にして外挿点ではなく、微小光量で簡易的にIth
算出し高速、簡単にAPCを行うしかなかった(特開昭
59−105568号公報参照)。
【0008】本発明は、上記事情に鑑み、アナログ的に
高速、かつ高精度に電流−光出力特性を求めることので
きる半導体レーザ駆動装置、およびその半導体レーザ駆
動装置を内蔵することにより高画質を維持して高速描画
を行なうことのできる画像記録装置を提供することを目
的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の半導体レーザ駆動装置は、 (1_1)半導体レーザに、第1の設定値に応じた電流
値の駆動電流であって、かつ利得制御値に応じて利得が
調整されてなる駆動電流を供給する駆動電流源 (1_2)半導体レーザに、電流制御値に応じたバイア
ス電流を供給するバイアス電流源 (1_3)第2の設定値に応じた第1のモニタ値であっ
て、かつ上記利得制御値に応じて利得が調整されてなる
第1のモニタ値と、上記電流制御値に応じた第2のモニ
タ値とが加算されてなるモニタ値を生成するモニタ値生
成回路 (1_4)半導体レーザの発光光量がモニタされてなる
発光光量モニタ信号と所定の第1の基準値とを入力し、
半導体レーザが第1の基準値に対応した発光光量で発光
するように電流制御値を生成してバイアス電流源および
モニタ値生成回路に供給する第1のフィードバック回路 (1_5)モニタ値生成回路で生成されてなるモニタ値
と所定の第2の基準値とを入力し、モニタ値生成回路に
より第2の基準値に対応したモニタ値が生成されるよう
に利得制御値を生成して駆動電流源およびモニタ値生成
回路に供給する第2のフィードバック回路 を備えたことを特徴とする。
【0010】ここで、本発明の半導体レーザ駆動装置
は、より具体的には、上記駆動電流源に、上記第1の設
定値としてモニタ生成回路に入力される第2の設定値と
同一の設定値を入力するとともに、上記第1のフィード
バック回路に、上記第1の基準値として第2の設定値に
対応した基準値を入力し、上記第2のフィードバック回
路に代えて第1のフィードバック回路で利得制御値を生
成して駆動電流源およびモニタ値生成回路に供給する第
1のモードと、上記駆動電流源に、上記第1の設定値と
してモニタ生成回路に入力される第2の設定値とは異な
る設定値を入力するとともに、上記第1のフィードバッ
ク回路に、上記第1の基準値として第1の設定値に対応
した基準値を入力し、上記第1のフィードバック回路で
電流制御値を生成してバイアス電流源およびモニタ値生
成回路に供給する第2のモードとを有し、モニタ値生成
回路により、上記第1のモードにおいて生成されたモニ
タ値を保持するモニタ値保持回路を備え、上記第2のフ
ィードバック回路が、上記第2のモードにおいて、モニ
タ値保持回路に保持された、第1のモードにおけるモニ
タ値を上記第2の基準値として入力し利得制御値を生成
して駆動電流源およびモニタ値生成回路に供給するもの
であることが好ましい。
【0011】また、上記本発明の半導体レーザ駆動装置
において、モニタ値生成回路が、モニタ値をM、駆動電
流の電流値ID 、バイアス電流の電流値をIB 、および
比例定数をCとしたとき、 M=C×{(第2の設定値/第1の設定値)×ID +I
B } なるモニタ値Mを生成するものであることが好ましい。
【0012】その場合に、半導体レーザに(ID +I
B )の電流を供給したときの該半導体レーザの発光光量
をP1 、半導体レーザに{(第2の設定値/第1の設定
値)×ID +IB }の電流を供給したときの半導体レー
ザの発光光量をP2 としたとき、上記第1および第2の
フィードバック回路により、 P2 /P1 =第2の設定値/第1の設定値 を満足する利得制御値および電流制御値が生成されるよ
うに、第1の基準値および第2の基準値が定められてい
てもよい。
【0013】また、上記モニタ値生成回路は、電流値が
{C×(第2の設定値/第1の設定値)×ID }の第1
のモニタ電流を生成する駆動電流ミラー回路と、電流値
が(C×IB )の第2のモニタ電流を生成するバイアス
電流ミラー回路とを備えたものであってもよい。
【0014】また、上記目的を達成する本発明の画像記
録装置は、画像を記録する過程に、画像情報を担持する
レーザビームにより所定の被走査体上を走査する過程を
含む画像記録装置において、 (2_1)レーザビームを出射する半導体レーザ (2_2)半導体レーザの発光光量をモニタして発光光
量モニタ信号を生成する光センサ (2_3)半導体レーザに電流を供給する半導体レーザ
駆動部 (2_4)半導体レーザから出射したレーザビームによ
り、所定の被走査体上を走査する走査光学系を備え、 上記(2_3)の半導体レーザ駆動部が、 (2_3_1)半導体レーザに、第1の設定値に応じた
電流値の駆動電流であって、かつ利得制御値に応じて利
得が調整されてなる駆動電流を供給する駆動電流源 (2_3_2)半導体レーザに、電流制御値に応じたバ
イアス電流を供給するバイアス電流値 (2_3_3)第2の設定値に応じた第1のモニタ値で
あって、かつ上記利得制御値に応じて利得が調整されて
なる第1のモニタ値と、上記電流制御値に応じた第2の
モニタ値とが加算されてなるモニタ値を生成するモニタ
値生成回路 (2_3_4)半導体レーザの発光光量がモニタされて
なる発光光量モニタ信号と所定の第1の基準値とを入力
し、半導体レーザがその第1の基準値に対応した発光光
量で発光するように電流制御値を生成してバイアス電流
源およびモニタ値生成回路に供給する第1のフィードバ
ック回路 (2_3_5)モニタ値生成回路で生成されてなるモニ
タ値と所定の第2の基準値とを入力し、モニタ値生成回
路によりその第2の基準値に対応したモニタ値が生成さ
れるように利得制御値を生成して駆動電流源およびモニ
タ値生成回路に供給する第2のフィードバック回路を備
えたことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態について
説明する。図1は、本発明の半導体レーザ駆動装置の基
本的な一実施形態を示すブロック図、図2、図3は、図
1に示す半導体レーザ駆動装置説明用の、設定値とレー
ザ発光パワーとの対応関係を示す図である。
【0016】図1に示す半導体レーザ駆動装置10に
は、駆動電流源11、バイアス電流源12、モニタ値生
成回路13、第1の演算増幅器14、および第2の演算
増幅器15が備えられている。駆動電流源11には、第
1の設定値が入力され、この駆動電流源11は、半導体
レーザ1に、その入力された第1の設定値に応じた電流
値の駆動電流ID を供給する。また、駆動電流源11に
は、第2の演算増幅器15の出力である利得制御値が入
力され、この駆動電流源で11では、入力された利得制
御値に応じてその利得が調整される。したがってこの駆
動電流源11から出力される駆動電流I D は、第1の設
定値を固定した状態においてもその利得制御値に応じて
電流値が調整されたものとなっている。
【0017】またバイアス電流源12には、第1の演算
増幅器14の出力である電流調整値が入力され、半導体
レーザ1に、その電流制御値に応じたバイアス電流IB
を供給する。したがって半導体レーザ1には、バイアス
電流IB と駆動電流ID とが重畳された電流が供給され
る。ここでは、これら2つの電流IB ,ID との合計の
電流を「供給電流」と称する。
【0018】モニタ値生成回路13は、例えば駆動電流
源11とバイアス電流源12とを合わせ持ったような作
用を成す回路である。すなわち、このモニタ値生成回路
13には、第2の設定値と、第2の演算増幅器15で生
成された利得制御値と、第1の演算増幅器14で生成さ
れた電流制御値とが入力され、第2の設定値に応じた第
1のモニタ値であって、かつ利得制御値に応じて利得が
調整されてなる第1のモニタ値(すなわち、駆動電流源
11で生成される駆動電流ID に対応する第1のモニタ
値)と、電流制御値に応じた第2のモニタ値(すなわち
バイアス電流源12で生成されるバイアス電流IB に対
応する第2のモニタ値)とが加算されてなるモニタ値が
生成される。ただし、駆動電流源11には、第1の設定
値が入力され、モニタ値生成回路13には第2の設定値
が入力されており、したがって第1のモニタ値は駆動電
流源11で生成されるバイアス電流IB とは直接的に対
応せず、第1の設定値と第2の設定値との双方の設定値
が等しいときに対応することになる。
【0019】本実施形態では、より具体的には、駆動電
流源11で生成される駆動電流をI D とし、バイアス電
流源12で生成されるバイアス電流をIB とし、さらに
比例定数をCとしたとき、モニタ値生成回路13では、 M=C×{(第2の設定値/第1の設定値)×ID +IB } ……(1) なるモニタ値Mが生成される。
【0020】半導体レーザ1に供給電流IB +ID が供
給されることにより半導体レーザ1から発したレーザ光
はその一部がフォトダイオード2で受光され、発光光量
モニタ信号として第1の演算増幅器14に入力される。
第1の演算増幅器14には、所定の第1の基準値も入力
され、半導体レーザ1が第1の基準値に対応した光量で
発光するように電流制御値が生成され、バイアス電流源
12およびモニタ値生成回路13に入力する。バイアス
電流源12では、前述したようにこの電流制御値を受け
て、その電流制御値に対応した電流値のバイアス電流I
B を生成して半導体レーザ1に供給する。一方、モニタ
値生成回路13においても、その電流制御値に対応した
第2のモニタ値C・IB (前述の(1)式参照)が生成
され、第1のモニタ値に加算される。
【0021】この第1の演算増幅器14、バイアス電流
源12,半導体レーザ1,フォトダイオード2を経由す
るループが本発明にいう第1のフィードバック回路に相
当する。また、モニタ値生成回路13で生成されたモニ
タ値Mは第2の演算増幅器15に入力され、所定の第2
の基準値と比較されて利得制御値が生成され、駆動電流
源11およびモニタ値生成回路13に入力される。駆動
電流源11では、半導体レーザ1への供給電流IB +I
D を第1の基準値に対応する一定電流を維持するという
条件の下に、電流制御値によってバイアス電流IB が調
整された分だけ駆動電流源11の利得が調整され、これ
に伴って駆動電流ID が調整される。本実施形態では、
この第2の演算増幅器15、駆動電流源11,半導体レ
ーザ1,フォトダイオード2を経由するループが、本発
明にいう第2のフィードバック回路に相当する。
【0022】ここで、図2に示すように、第1の設定
値、第2の設定値として、それぞれ設定値1,設定値2
を与え、第1の基準値、第2の基準値として、それぞ
れ、発光パワーP1に対応する基準値1,発光パワー2
に対応する基準値2を与えたとすると、図2に直線で示
すような直線が定まり、設定値=0のy切片の発光パワ
ーP0 に対応するバイアス電流が定められる。すなわ
ち、図2に示す例では、駆動電流ID をID =0とし
(設定値=0に相当する)、バイアス電流IB のみを供
給電流として半導体レーザ1に供給した場合に、半導体
レーザ1が発光パワーP 0 で発光することを意味してい
る。
【0023】そこで、図3の座標の原点を通る直線bが
定められるように、すなわち P2 /P1 =設定値2/設定値1 を満足するように、各設定値および各基準値を定めるこ
とにより、バイアス電流IB が丁度レーザ発振閾値電流
thとなり、光出力を正確に設定値に比例させることが
できる。あるいは、LED領域(図7参照)におけるわ
ずかな発光が問題になるときは、直線cが定められるよ
うに基準値を変更することにより、レーザ発光閾値Ith
よりも小さいバイアス電流IB が設定され、あるいは高
速性が要求されるときには、直線aが定められるように
基準値を変更することにより、レーザ発光閾値Ithをわ
ずかに越えたバイアス電流IB が設定され、設定値=0
であってもバイアス電流IB のみでわずかにレーザ発振
し、高速変調が可能となる。
【0024】このように、上記実施形態によれば、設定
値に対するレーザ出力特性を自由にしかも正確に調整す
ることができる。尚、LED領域の発光で設定値1にお
ける電流対光出力のリニアリティが悪い場合には設定値
1を設定値2に近づけることで設定値1以上での設定値
対光出力のリニアリティを改善することができる。
【0025】上記実施形態によれば、第1の演算増幅器
14からなる第1のフィードバック回路と第2の演算増
幅器15からなる第2のフィードバック回路を有し、こ
れら第1のフィードバック回路と第2のフィードバック
回路を同時に作用させ、演算増幅器14からなる第1の
フィードバックの図2ないし図3に示すような直線(設
定値に対するレーザ発光パワー特性)をアナログ的に定
めるようにしたため、従来技術として説明した、デジタ
ル的な演算により閾値電流を求める場合よりも、所要時
間が大幅に短縮することができる。また、この半導体レ
ーザ駆動装置を画像記録装置に適用した場合は、光量が
正確に調整できることから高画質化につながり、また、
APCを高速に実行することができることから高速描画
を図ることができる。
【0026】図4は、本発明の半導体レーザ駆動装置の
より具体的な一実施形態を示すブロック図である。この
図4に示す半導体レーザ駆動装置110には、第1のD
/Aコンバータ111、第2のD/Aコンバータ11
2、バイアス電流源121、ミラーバイアス電流源12
2、第1の演算増幅器141、第2の演算増幅器15
1、I/Vコンバータ161、第1のサンプルホルダ1
62、第2および第3のサンプルホルダ163,16
4、および図示の複数の切替スイッチが備えられてい
る。これらの切替スイッチは全て連動して切り替えら
れ、ここでは図示の黒丸の端子に接続された状態を第1
のモード、白丸の端子に切り替えられた状態を第2のモ
ードと称する。
【0027】ここで、第1のD/Aコンバータ111
は、本発明にいう駆動電流源に相当し、デジタル信号入
力端子INからデジタルの設定値が入力され、アナログ
出力端子OUTから、入力された設定値に応じた電流値
のアナログ電流が出力され、駆動電流ID として半導体
レーザ1に供給される。また、この第1のD/Aコンバ
ータ111には、制御端子GAINが備えられており、
この制御端子GAINからは利得制御信号(本発明にい
う利得制御値)が入力され、第1のD/Aコンバータ1
11では、その入力された利得制御信号に応じて入力デ
ジタル設定値に対する出力アナログ電流値の利得が調整
されるように構成されている。APCに際し、この第1
のD/Aコンバータ111には、第1のモードではデジ
タル設定値2(図2参照)が入力され、第2のモードに
切り替えられるとデジタル設定値1が入力される。
【0028】また、第2のD/Aコンバータ112は、
本発明にいうモニタ値生成回路の一部を成すものであ
り、第1のD/Aコンバータ111と同様のデジタル入
力端子IN,制御端子GAIN、およびアナログ出力端
子OUTを備えている。ただし、本実施形態では、第1
のD/Aコンバータ111と比べ、同一のデジタル設定
値、同一の利得設定値に対して、1/10の電流値のモ
ニタ用駆動電流IMD(本発明にいう第1のモニタ値に相
当する)を出力するように構成されている。これは、こ
の半導体レーザ駆動装置110の消費電力を抑えるとと
もに、第1のモニタ電流IMDを正確なモニタを行なうこ
とのできるレベルに設定するためであり、例えば駆動電
流ID は通常は10mA以上であり、その1/10の1
mA以上の第1のモニタ電流IMDを確保すれば十分なノ
イズマージンを確保することができる。この第2のD/
Aコンバータ112には、APCに際し、第1のモー
ド、第2のモードを問わずにデジタル設定値2が固定的
に入力される。
【0029】また、バイアス電流源121は、本発明に
いうバイアス電流源に相当し、このバイアス電流源12
1には、電流制御信号が入力され、このバイアス電流源
121では、その入力された電流制御信号に応じた電流
値のバイアス電流IB が生成され、第1のD/Aコンバ
ータ111から出力された駆動電流ID とともに半導体
レーザ1に供給される。
【0030】また、ミラーバイアス電流源122は、バ
イアス電流源121に入力される電流制御信号と同一の
電流制御信号を入力し、バイアス電流源121から出力
されるバイアス電流IB の1/10のモニタ用バイアス
電流IMB(本発明にいう第2のモニタ値に相当する)を
出力する。このミラーバイアス電流源122は、前述し
た第2のD/Aコンバータ112とともに、本発明にい
うモニタ値生成回路の一部を成するものである。
【0031】I/Vコンバータ161は、このI/Vコ
ンバータ161に流入する電流、すなわち、第2のD/
Aコンバータ112から出力されたモニタ用駆動電流I
MDとミラーバイアス電流源122から出力されたモニタ
用バイアス電流IMBとの和(以下、この和の電流をモニ
タ電流と称する)に相当する電圧信号(モニタ電圧と称
する)を出力する。このモニタ電圧は、サンプルホルダ
162に入力され、このサンプルホルダ162には、後
述する第1のモードから第2のモードへの切り替えの時
点におけるモニタ電圧がホールドされる。
【0032】また、演算増幅器141には、半導体レー
ザ1からの発光光の一部がフォトダイオード2で受光さ
れることにより得られた発光光量モニタ信号と、モード
に応じた基準値(第1のモードでは基準値2、第2のモ
ードでは基準値1)が入力される。ここで、これら基準
値1,基準値2は値が異なるのであって、いずれも本発
明にいう、第1のフィードバック回路に入力される第1
の基準値に相当する。この第1の演算増幅器141の出
力信号は、第1のモードにおいては、サンプルホルダ1
63を経由して第1のD/Aコンバータ111および第
2のD/Aコンバータ112に利得制御信号として入力
され、第2のモードにおいては、サンプルホルダ164
を経由してバイアス電流源121およびミラーバイアス
電流源122に電流制御信号として入力される。この第
1の演算増幅器141は、本発明にいう第1のフィード
バック回路の一部を成すものである。
【0033】また、第2の演算増幅器151には、サン
プルホルダ162を経由したモニタ電圧とサンプルホル
ダ162に入力される前のモニタ電圧とが入力される。
この第2の演算増幅器151は第2のモードにおいて有
効であって、第1のサンプルホルダ162には、第1の
モードから第2のモードに切り替えられる瞬間のモニタ
電圧がホールドされ、そのホールドされたモニタ電圧
(本発明にいう第2の基準値に相当する)と、第2のモ
ードにおける現在のモニタ電圧とがこの第2の演算増幅
器15に入力される。この第2の演算増幅器151の出
力信号は、第2のモードにおいて、第2のサンプルホル
ダ163を経由し利得制御信号として第1のD/Aコン
バータ111および第2のD/Aコンバータ112に入
力される。
【0034】第2および第3のサンプルホルダ163,
164は、APC、すなわちフィードバック制御と、オ
ープンループ制御との切替え用であり、ここで問題とし
ているAPCにおいては入力がそのまま出力に通り抜け
るスルー状態にあり、以下に説明するAPC動作が終了
した時点で、次のAPCの開始時点までの間、そのとき
(第2のモードのとき)の、第2の演算増幅器141の
出力信号である利得制御信号、および第1の演算増幅器
141の出力信号である電流制御信号がそれぞれホール
ドされる。
【0035】以下、図4に示すレーザ駆動装置110の
APC動作について説明する。先ず、図4に示す切替ス
イッチを図示の状態(第1のモード)に設定し、第1の
サンプルホルダ162、および第2、第3のサンプルホ
ルダ163,164を全てスルー状態に設定する。する
と、第1および第2のD/Aコンバータ111,112
にデジタル設定値2(図2参照)が入力され、その設定
値2に応じた駆動電流ID およびモニタ用駆動電流IMD
が出力される。この第1のモードでは、バイアス電流源
121およびミラーバイアス電流源122から出力され
るバイアス電流IB およびモニタ用バイアス電流IMB
各電流値は、図4に示す回路上では不定であるが、各初
期値に設定されるものとする。
【0036】第1のD/Aコンバータ111から出力さ
れた駆動電流ID とバイアス電流源121から出力され
たバイアス電流IB は、双方が合流して半導体レーザ1
に供給され、半導体レーザ1は、その合流した供給電流
D +IB に応じた発光光量で発光する。この発光がフ
ォトダイオード2でモニタされ、発光光量モニタ信号が
第1の演算増幅器141に入力される。この第1のモー
ドでは、第1の演算増幅器141には基準値2が入力さ
れており、第1の演算増幅器141の出力信号は、スル
ー状態にある第2のサンプルホルタ163をそのまま通
り抜けて第1および第2のD/Aコンバータ111,1
12に利得制御信号として入力され、半導体レーザ1が
基準値2に対応する発光パワーP2 (図2参照)で発光
するように第1のD/Aコンバータ111の利得が調整
され、これに伴って第2のD/Aコンバータ112の利
得も調整される。
【0037】一方、I/Vコンバータ161には、第2
のD/Aコンバータ112から出力された、駆動電流I
D の1/10の電流値のモニタ用駆動電流IMDと、ミラ
ーバイアス電流源122から出力された、バイアス電流
B の1/10のモニタ用バイアス電流IMBが合流して
入力され、その合流したモニタ電流に対応するモニタ電
圧が生成されて第1のサンプルホルダ162に入力され
る。以上の状態で回路が安定すると、第1のモードから
第2のモードに切り替えられ、その切替時点のモニタ電
圧が第1のサンプルホルダ162にホールドされる。
【0038】すなわち、この第1のモードでは、半導体
レーザ1は、基準値2により定まるレーザー発光パワー
2 で発光し、そのときの半導体レーザ1への供給電流
の電流値の情報を持つモニタ電圧が第1のサンプルホル
ダ162にホールドされることになる。この第1のサン
プルホルダ162にホールドされた、第1のモールドに
おけるモニタ値は、前述したように、第2のモードにお
いて第2の演算増幅器151に本発明にいう第2の基準
値として入力される。また、この第1のモードにより、
設定値2と、発光パワーP2 および基準値2とが対応づ
けられたことになる。
【0039】第2のモードでは、図4に示すスイッチが
白丸の方に切り替えられる。この第2のモードでは、第
1の演算増幅器141を含む第1のフィードバック回路
と、第2の演算増幅器151を含む第2のフィードバッ
ク回路が同時に作用する。図4に示すスイッチが白丸の
方に切り替えられた第2のモードでは、第1のD/Aコ
ンバータ111にはデジタル設定値1(図2参照)が入
力され、第1の演算増幅器141には、基準値1が入力
される。ただし第2のD/Aコンバータ112には、第
2のモードにおいても、デジタル設定値2が入力され続
ける。
【0040】また、第2のモードにおいては、前述した
ように、第1の演算増幅器141の出力信号は、第3の
サンプルホルダ164を通り抜けて電流制御信号として
バイアス電流源121およびミラーバイアス電流源12
2に入力され、第2の演算増幅器151の出力信号は、
第2のサンプルホルダ163を通り抜けて第1および第
2のD/Aコンバータ111,112に利得制御信号と
して入力される。
【0041】この第2のモードでは第2のD/Aコンバ
ータ112には第1のモードのときと変わらずに設定値
2が入力され続けており、かつ、第2の演算増幅器15
1には、第1のサンプルホルダ162にホールドされた
第1のモードにおけるモニタ値と、現在のモニタ値とが
入力されているため、第2の演算増幅器151の出力信
号は、第1のD/Aコンバータ111に仮に設定値2が
入力され続けているとした場合に半導体レーザ1が基準
値2に対応する発光パワーP2 で発光するように、第1
のD/Aコンバータ111の利得を制御し続け、それに
伴い第2のD/Aコンバータ112の利得も制御し続け
る。ところが実際は、第1のD/Aコンバータ111に
は設定値1が入力されているため、第1のコンバータ1
11からはその設定値1に応じた電流値の駆動電流ID
が出力され、バイアス電流IB とともに半導体レーザ1
に供給される。半導体レーザ1の発光光量はフォトダイ
オード2でモニタされ、その発光光量モニタ信号が第1
の演算増幅器141に入力される。この第1の演算増幅
器141には、この第2のモードにおいては基準値1が
入力されており、この第1の演算増幅器141の出力信
号により、半導体レーザ1の発光パワーが基準値1に対
応する発光パワーP1 となるようにバイアス電流源12
1から出力されるバイアス電流IB の電流値を調整す
る。またそれに伴い、ミラーバイアス電流源122から
出力されるモニタ用バイアス電流IMBの電流値も調整さ
れる。
【0042】例えば、第1のモードにおけるバイアス電
流IB の初期値としての電流値が仮にIB =0であった
とき、第2のモードに切り換えられた以降、第1のD/
Aコンバータ111に仮に設定値2が入力され続けてい
たとした場合に半導体レーザ1が第1のモードのときの
発光パワーP2 をそのまま維持するという条件を満足す
るとともに、実際には半導体レーザ1が基準値1に対応
する発光パワーP1 で発光するように、バイアス電流源
121から出力されるバイアス電流IB が増加するとと
もに、第1のD/Aコンバータ111の利得が下げられ
駆動電流ID が減少する。第1のモードにおける、バイ
アス電流IB の初期値としての電流値がIB =0以外の
電流値であったときも同様であり、第2のモードに切り
替えられた時点以降、上記の条件を満足するようにバイ
アス電流IB の電流値と第1のD/Aコンバータ111
の利得が調整される。これにより、図2ないし図3に示
すような直線が定められることになる。
【0043】第2のモードにおいて回路全体の信号が安
定すると、第2および第3のサンプルホルダ162,1
63がホールド状態となり、これによりAPCが終了
し、オープンループ制御に移行する。図5は、本発明の
画像記録装置の一実施形態を示すブロック図、図6は、
図5に示す画像記録装置のレーザ走査系の構成図であ
る。
【0044】図5に示す画像記録装置は、その構成が信
号処理系210、レーザ走査系220、および画像出力
系230に大別される。画像を読み取って画像信号を得
る例えばデジタルスキャナ等の画像生成系201で得ら
れた画像信号が、信号処理系210を構成する画像信号
処理システム211に入力されると、この画像処理シス
テム211では、画像出力系230を構成する電子写真
プロセス232の機構を制御する機構制御部231から
の制御情報、例えば現像条件等の情報を受け、それに適
合するように、入力された画像信号に適切な画像処理、
例えば階調処理や色補正処理等が施され、その画像処理
後の画像信号がレーザ変調信号生成部212に入力され
る。レーザ変調信号生成部212では、入力された画像
信号に基づいて、レーザ走査系220を構成するレーザ
ダイオード222から出射されるレーザ光の変調強度を
表わすレーザ変調信号を生成する。このレーザ変調信号
の生成にあたっては、レーザ走査系220を構成する走
査レーザ光の同期検知手段226からの情報を受け、レ
ーザ走査と同期するようにレーザ変調信号が生成され
る。この走査レーザ光の同期検知手段226は、本実施
形態では、図6に示すように、ミラー226_1と光セ
ンサ226_2とからなり、光センサ226_2から
は、レーザダイオード222から出射したレーザ光が図
6に示す矢印A方向に一回偏向される毎に同期パルスが
出力される。
【0045】図5に示すレーザ変調信号生成部212で
生成されたレーザ変調信号SL は、レーザ走査系220
を構成するLDドライバ221に入力される。LDドラ
イバ221には、機構制御部231からの機構制御情報
C も入力され、LDドライバ221は、その機構制御
に合わせて、半導体レーザ(LD;レーザダイオード)
222を駆動する。半導体レーザ222は、LDドライ
バ221の駆動により時系列的な強度変調を伴ったレー
ザ光を出射し、その出射レーザ光は、レンズ223_
1,アパーチャ223_2,シリンドリカルレンズ22
3_3からなるプレポリゴン光学系223を経由し、矢
印B方向に回転するポリゴンミラー224_1を含む光
偏向器224により矢印A方向に繰り返し偏向され、さ
らにfθレンズ225_1,およびシリンドリカルミラ
ー225_2からなるポストポリゴン光学系225を経
由し、画像出力系230を構成する、矢印C方向に回転
する感光体233上を矢印A’方向に繰り返し走査(主
走査)する。
【0046】この感光体233は、光の照射により表面
の抵抗値が変化する性質を有し、画像情報を担持したレ
ーザ光により走査されることにより、その表面に静電潜
像が形成される。この感光体233に形成された静電潜
像は所定の電子写真プロセス232を経て、所定の用紙
上に、画像生成系201で得られた画像信号が担持する
画像のハードコピー202が生成される。
【0047】本実施形態の画像記録装置のLDドライバ
221には、図4を参照して説明した構成の半導体レー
ザ駆動装置が含まれており、従って、この画像記録装置
では、半導体レーザ222は、APC動作においてその
発光光量が高速に調整され、したがって高画質の画像が
高速に形成される。
【0048】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体レ
ーザ駆動装置によれば、アナログ的に高速かつ高精度に
光出力特性が求められる。したがって本発明の画像記録
装置によれば、高速な画像を高速に描画することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体レーザ駆動装置の基本的な一実
施形態を示すブロック図である。
【図2】図1に示す半導体レーザ駆動装置説明用の、設
定値とレーザ発光パワーとの対応関係を示す図である。
【図3】図1に示す半導体レーザ駆動装置説明用の、設
定値とレーザ発光パワーとの対応関係を示す図である。
【図4】本発明の半導体レーザ駆動装置のより具体的な
一実施形態を示すブロック図である。
【図5】本発明の画像記録装置の一実施形態を示すブロ
ック図である。
【図6】図5に示す画像記録装置のレーザ走査系の構成
図である。
【図7】半導体レーザに供給される電流に対する、その
半導体レーザから出力されるレーザ光の発光パワーを示
す図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ 2 フォトダイオード 10 半導体レーザ駆動装置 11 駆動電流源 12 バイアス電流源 13 モニタ値生成回路 14 第1の演算増幅器 15 第2の演算増幅器 110 半導体レーザ駆動装置 111 第1のD/Aコンバータ 112 第2のD/Aコンバータ 121 バイアス電流源 122 ミラーバイアス電流源 141 第1の演算増幅器 151 第2の演算増幅器 161 I/Vコンバータ 162 第1のサンプルホルダ 163 第2のサンプルホルダ 164 第3のサンプルホルダ 221 LDドライバ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザに、第1の設定値に応じた
    電流値の駆動電流であって、かつ利得制御値に応じて利
    得が調整されてなる駆動電流を供給する駆動電流源と、 前記半導体レーザに、電流制御値に応じたバイアス電流
    を供給するバイアス電流源と、 第2の設定値に応じた第1のモニタ値であって、かつ前
    記利得制御値に応じて利得が調整されてなる第1のモニ
    タ値と、前記電流制御値に応じた第2のモニタ値とが加
    算されてなるモニタ値を生成するモニタ値生成回路と、 前記半導体レーザの発光光量がモニタされてなる発光光
    量モニタ信号と所定の第1の基準値とを入力し、該半導
    体レーザが該第1の基準値に対応した発光光量で発光す
    るように前記電流制御値を生成して前記バイアス電流源
    および前記モニタ値生成回路に供給する第1のフィード
    バック回路と、 前記モニタ値生成回路で生成されてなるモニタ値と所定
    の第2の基準値とを入力し、該モニタ値生成回路により
    該第2の基準値に対応したモニタ値が生成されるように
    前記利得制御値を生成して前記駆動電流源および前記モ
    ニタ値生成回路に供給する第2のフィードバック回路と
    を備えたことを特徴とする半導体レーザ駆動装置。
  2. 【請求項2】 前記駆動電流源に、前記第1の設定値と
    して前記モニタ生成回路に入力される第2の設定値と同
    一の設定値を入力するとともに、前記第1のフィードバ
    ック回路に、前記第1の基準値として該第2の設定値に
    対応した基準値を入力し、前記第2のフィードバック回
    路に代えて該第1のフィードバック回路で前記利得制御
    値を生成して前記駆動電流源および前記モニタ値生成回
    路に供給する第1のモードと、 前記駆動電流源に、前記第1の設定値として前記モニタ
    生成回路に入力される第2の設定値とは異なる設定値を
    入力するとともに、前記第1のフィードバック回路に、
    前記第1の基準値として該第1の設定値に対応した基準
    値を入力し、前記第1のフィードバック回路で前記電流
    制御値を生成して前記バイアス電流源および前記モニタ
    値生成回路に供給する第2のモードとを有し、 前記モニタ値生成回路により、前記第1のモードにおい
    て生成されたモニタ値を保持するモニタ値保持回路を備
    え、 前記第2のフィードバック回路が、前記第2のモードに
    おいて、前記モニタ値保持回路に保持された前記第1の
    モードにおけるモニタ値を前記第2の基準値として入力
    し前記利得制御値を生成して前記駆動電流源および前記
    モニタ値生成回路に供給するものであることを特徴とす
    る請求項1記載の半導体レーザ駆動装置。
  3. 【請求項3】 前記モニタ値生成回路が、前記モニタ値
    をM、前記駆動電流の電流値ID 、前記バイアス電流の
    電流値をIB 、および比例定数をCとしたとき、 M=C×{(前記第2の設定値/前記第1の設定値)×
    D +IB } なるモニタ値Mを生成するものであることを特徴とする
    請求項1記載の半導体レーザ駆動装置。
  4. 【請求項4】 前記半導体レーザに(ID +IB )の電
    流を供給したときの該半導体レーザの発光光量をP1
    前記半導体レーザに{(前記第2の設定値/前記第1の
    設定値)×ID +IB }の電流を供給したときの該半導
    体レーザの発光光量をP2 としたとき、 前記第1および第2のフィードバック回路により、 P2 /P1 =前記第2の設定値/前記第1の設定値 を満足する前記利得制御値および前記電流制御値が生成
    されるように、前記第1の基準値および前記第2の基準
    値が定められてなることを特徴とする請求項3記載の半
    導体レーザ駆動装置。
  5. 【請求項5】 前記モニタ値生成回路が、 電流値が{C×(前記第2の設定値/前記第1の設定
    値)×ID }の第1のモニタ電流を生成する駆動電流ミ
    ラー回路と、 電流値が(C×IB )の第2のモニタ電流を生成するバ
    イアス電流ミラー回路とを備えたことを特徴とする請求
    項3記載の半導体レーザ駆動装置。
  6. 【請求項6】 画像を記録する過程に、画像情報を担持
    するレーザビームにより所定の被走査体上を走査する過
    程を含む画像記録装置において、 レーザビームを出射する半導体レーザ、 前記半導体レーザの発光光量をモニタして発光光量モニ
    タ信号を生成する光センサ、 前記半導体レーザに電流を供給する半導体レーザ駆動
    部、および前記半導体レーザから出射したレーザビーム
    により、所定の被走査体上を走査する走査光学系を備
    え、 前記半導体レーザ駆動部が、 前記半導体レーザに、第1の設定値に応じた電流値の駆
    動電流であって、かつ利得制御値に応じて利得が調整さ
    れてなる駆動電流を供給する駆動電流源と、 前記半導体レーザに、電流制御値に応じたバイアス電流
    を供給するバイアス電流値と、 第2の設定値に応じた第1のモニタ値であって、かつ前
    記利得制御値に応じて利得が調整されてなる第1のモニ
    タ値と、前記電流制御値に応じた第2のモニタ値とが加
    算されてなるモニタ値を生成するモニタ値生成回路と、 前記半導体レーザの発光光量がモニタされてなる発光光
    量モニタ信号と所定の第1の基準値とを入力し、該半導
    体レーザが該第1の基準値に対応した発光光量で発光す
    るように前記電流制御値を生成して前記バイアス電流源
    および前記モニタ値生成回路に供給する第1のフィード
    バック回路と、 前記モニタ値生成回路で生成されてなるモニタ値と所定
    の第2の基準値とを入力し、該モニタ値生成回路により
    該第2の基準値に対応したモニタ値が生成されるように
    前記利得制御値を生成して前記駆動電流源および前記モ
    ニタ値生成回路に供給する第2のフィードバック回路と
    を備えたことを特徴とする画像記録装置。
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