JPH10134569A - 同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ - Google Patents
同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリInfo
- Publication number
- JPH10134569A JPH10134569A JP8282511A JP28251196A JPH10134569A JP H10134569 A JPH10134569 A JP H10134569A JP 8282511 A JP8282511 A JP 8282511A JP 28251196 A JP28251196 A JP 28251196A JP H10134569 A JPH10134569 A JP H10134569A
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- refresh
- self
- signal
- bank
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Abstract
(57)【要約】
【課題】マルチバンクを持つ同期型DRAMにおいて、
アクセスしたいバンクとセルフリフレッシュを実行させ
たいバンクとが混在する場合に一部のバンクに対してを
選択的にリフレッシュ動作を実行させる。 【解決手段】マルチバンクに区分されたメモリセルアレ
イ18と、マルチバンクのうちでセルフリフレッシュモ
ードのエントリー/イグジットの対象となるバンクを選
択するセルフリフレッシュバンク選択回路10とを具備
する。
アクセスしたいバンクとセルフリフレッシュを実行させ
たいバンクとが混在する場合に一部のバンクに対してを
選択的にリフレッシュ動作を実行させる。 【解決手段】マルチバンクに区分されたメモリセルアレ
イ18と、マルチバンクのうちでセルフリフレッシュモ
ードのエントリー/イグジットの対象となるバンクを選
択するセルフリフレッシュバンク選択回路10とを具備
する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置に
係り、特にマルチバンクに区分されたメモリセルアレイ
を有する同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メ
モリ(DRAM)に関する。
係り、特にマルチバンクに区分されたメモリセルアレイ
を有する同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メ
モリ(DRAM)に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のマルチバンク構成の同期型DRA
Mのリフレッシュモードには、オートリフレッシュとセ
ルフリフレッシュの二種類がある。上記セルフリフレッ
シュモードは、2回のコマンド入力の間にリフレッシュ
動作を実行する。
Mのリフレッシュモードには、オートリフレッシュとセ
ルフリフレッシュの二種類がある。上記セルフリフレッ
シュモードは、2回のコマンド入力の間にリフレッシュ
動作を実行する。
【0003】図5は、従来のマルチバンク構成を持つ同
期型DRAMにおけるセルフリフレッシュ動作関連回路
の一例を示すブロック図である。図5において、61は
クロック信号CLKおよび制御信号CKEが入力するク
ロック入力バッファである。
期型DRAMにおけるセルフリフレッシュ動作関連回路
の一例を示すブロック図である。図5において、61は
クロック信号CLKおよび制御信号CKEが入力するク
ロック入力バッファである。
【0004】アドレスバッファ62は、アドレス信号A
0 〜Am-1 、AmおよびバンクアドレスBS0 〜BSn-
1 が入力し、前記クロック入力バッファ61の出力信号
に同期してバッファ増幅するものであり、バンクアドレ
ス信号BS0 〜BSn-1 入力をデコードするためのバン
ク選択回路を含む。
0 〜Am-1 、AmおよびバンクアドレスBS0 〜BSn-
1 が入力し、前記クロック入力バッファ61の出力信号
に同期してバッファ増幅するものであり、バンクアドレ
ス信号BS0 〜BSn-1 入力をデコードするためのバン
ク選択回路を含む。
【0005】コマンド・デコーダ63は、動作モード指
定用のコマンド入力として各種の外部制御信号(CKE
信号、チップ・セレクト信号/CS、ロウ・アドレス・
ストローブ信号/RAS、カラム・アドレス・ストロー
ブ信号/CAS、ライト・イネーブル信号/WE、アド
レス信号の最上位ビットAm)が入力し、前記クロック
入力バッファ61の出力信号に同期してデコードする。
定用のコマンド入力として各種の外部制御信号(CKE
信号、チップ・セレクト信号/CS、ロウ・アドレス・
ストローブ信号/RAS、カラム・アドレス・ストロー
ブ信号/CAS、ライト・イネーブル信号/WE、アド
レス信号の最上位ビットAm)が入力し、前記クロック
入力バッファ61の出力信号に同期してデコードする。
【0006】制御信号発生回路64は、前記コマンド・
デコーダ63のデコード出力信号が入力し、前記クロッ
ク入力バッファ61の出力信号に同期して各種の内部制
御信号を発生する。
デコーダ63のデコード出力信号が入力し、前記クロッ
ク入力バッファ61の出力信号に同期して各種の内部制
御信号を発生する。
【0007】65はリフレッシュアドレス信号を生成す
るリフレッシュカウンタである。66はそれぞれ通常動
作モード/セルフリフレッシュモードに応じて前記アド
レスバッファ62の出力信号/前記リフレッシュカウン
タ65の出力信号(リフレッシュアドレス信号)をラッ
チする2n個のアドレスラッチ回路である。
るリフレッシュカウンタである。66はそれぞれ通常動
作モード/セルフリフレッシュモードに応じて前記アド
レスバッファ62の出力信号/前記リフレッシュカウン
タ65の出力信号(リフレッシュアドレス信号)をラッ
チする2n個のアドレスラッチ回路である。
【0008】67はそれぞれ対応して前記複数個のアド
レスラッチ回路66の各出力信号が入力し、前記制御信
号発生回路64の出力信号によりデコード動作の可否が
制御され、デコード出力信号により対応するバンク0〜
バンク(2n-1)のロウ選択を行う2n個のロウデコーダ
である。
レスラッチ回路66の各出力信号が入力し、前記制御信
号発生回路64の出力信号によりデコード動作の可否が
制御され、デコード出力信号により対応するバンク0〜
バンク(2n-1)のロウ選択を行う2n個のロウデコーダ
である。
【0009】次に、図5の回路におけるセルフリフレッ
シュモードのエントリー/イグジット動作について図
6、図7を参照しながら説明する。セルフリフレッシュ
モードに入る際には、全てのバンク0〜バンク(2n-
1)をそれぞれアイドル状態にしておき、図6に示すよ
うに、セルフリフレッシュ・エントリー・コマンドを入
力する(CKE信号が“L”になる)ことによりセルフ
リフレッシュモードに入り、分散リフレッシュ方式によ
り自動的にリフレッシュ動作を開始する。
シュモードのエントリー/イグジット動作について図
6、図7を参照しながら説明する。セルフリフレッシュ
モードに入る際には、全てのバンク0〜バンク(2n-
1)をそれぞれアイドル状態にしておき、図6に示すよ
うに、セルフリフレッシュ・エントリー・コマンドを入
力する(CKE信号が“L”になる)ことによりセルフ
リフレッシュモードに入り、分散リフレッシュ方式によ
り自動的にリフレッシュ動作を開始する。
【0010】セルフリフレッシュモードから抜け出す際
には、図7に示すように、セルフリフレッシュ・イグジ
ット・コマンドが入力する(CKE信号が“H”にな
る)ことによりリフレッシュ動作を終了する。
には、図7に示すように、セルフリフレッシュ・イグジ
ット・コマンドが入力する(CKE信号が“H”にな
る)ことによりリフレッシュ動作を終了する。
【0011】上記セルフリフレッシュモードは、セルフ
リフレッシュ・エントリー・コマンド入力からセルフリ
フレッシュ・イグジット・コマンド入力までの間(CK
E信号が“L”になってから“H”に戻るまで)リフレ
ッシュ動作を継続する。
リフレッシュ・エントリー・コマンド入力からセルフリ
フレッシュ・イグジット・コマンド入力までの間(CK
E信号が“L”になってから“H”に戻るまで)リフレ
ッシュ動作を継続する。
【0012】この場合、CKE信号が入力するクロック
入力バッファ61以外の全ての入出力バッファをディセ
ーブル状態にすることにより消費電力の抑制が可能であ
るので、長時間にわたって記憶データを保持したい場合
に使用される。
入力バッファ61以外の全ての入出力バッファをディセ
ーブル状態にすることにより消費電力の抑制が可能であ
るので、長時間にわたって記憶データを保持したい場合
に使用される。
【0013】しかし、図5の回路は、セルフリフレッシ
ュ用のロウアドレス信号を生成するカウンタとしてデバ
イス全体で1個(前記リフレッシュカウンタ65)しか
持っていない。
ュ用のロウアドレス信号を生成するカウンタとしてデバ
イス全体で1個(前記リフレッシュカウンタ65)しか
持っていない。
【0014】このため、セルフリフレッシュモードにお
いては、全てのバンク0〜バンク(2n-1)に対して一
度にリフレッシュ動作を実行させなければならない。ま
た、セルフリフレッシュ・エントリー・コマンド入力時
には、各バンク共にアイドル状態にしていないとセルフ
リフレッシュモードに入ることができない。
いては、全てのバンク0〜バンク(2n-1)に対して一
度にリフレッシュ動作を実行させなければならない。ま
た、セルフリフレッシュ・エントリー・コマンド入力時
には、各バンク共にアイドル状態にしていないとセルフ
リフレッシュモードに入ることができない。
【0015】従って、アクセスしたいバンクとセルフリ
フレッシュを実行させたいバンク(記憶データを長時間
にわたって保持したいバンク)とが同一チップ上に混在
する場合に、一部のバンクをアクセスし、残りのバンク
の記憶データを長時間にわたって保持したい場合には、
セルフリフレッシュモードに入ることができない。この
ような場合、従来は、汎用DRAMにおけるROR(/R
AS Only Refresh )モードのようなバンク・アクティブ
/バンク・プリチャージコマンドを繰り返し入力してリ
フレッシュ対象となるバンクをリフレッシュ動作させな
ければならなかった。
フレッシュを実行させたいバンク(記憶データを長時間
にわたって保持したいバンク)とが同一チップ上に混在
する場合に、一部のバンクをアクセスし、残りのバンク
の記憶データを長時間にわたって保持したい場合には、
セルフリフレッシュモードに入ることができない。この
ような場合、従来は、汎用DRAMにおけるROR(/R
AS Only Refresh )モードのようなバンク・アクティブ
/バンク・プリチャージコマンドを繰り返し入力してリ
フレッシュ対象となるバンクをリフレッシュ動作させな
ければならなかった。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
マルチバンク構成を持つ同期型DRAMのセルフリフレ
ッシュモードは、全てのバンクに対して一度にリフレッ
シュ動作を実行させなければならず、アクセスしたいバ
ンクとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが混
在する場合に不都合があった。
マルチバンク構成を持つ同期型DRAMのセルフリフレ
ッシュモードは、全てのバンクに対して一度にリフレッ
シュ動作を実行させなければならず、アクセスしたいバ
ンクとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが混
在する場合に不都合があった。
【0017】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、アクセスしたいバンクとセルフリフレッシュ
を実行させたいバンクとが同一チップ上に混在する場合
に、一部のバンクに対して選択的にリフレッシュ動作を
実行させることが可能になるマルチバンク構成を持つ同
期型DRAMを提供することを目的とする。
たもので、アクセスしたいバンクとセルフリフレッシュ
を実行させたいバンクとが同一チップ上に混在する場合
に、一部のバンクに対して選択的にリフレッシュ動作を
実行させることが可能になるマルチバンク構成を持つ同
期型DRAMを提供することを目的とする。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明の同期型DRAM
は、マルチバンクに区分されたメモリセルアレイと、前
記マルチバンクのうちでセルフリフレッシュモードのエ
ントリー/イグジットの対象となるバンクを選択するセ
ルフリフレッシュバンク選択回路とを具備することを特
徴とする。
は、マルチバンクに区分されたメモリセルアレイと、前
記マルチバンクのうちでセルフリフレッシュモードのエ
ントリー/イグジットの対象となるバンクを選択するセ
ルフリフレッシュバンク選択回路とを具備することを特
徴とする。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実
施の形態に係るマルチバンク構成を持つ同期型DRAM
におけるセルフリフレッシュ動作関連回路の一例を示す
ブロック図である。
施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実
施の形態に係るマルチバンク構成を持つ同期型DRAM
におけるセルフリフレッシュ動作関連回路の一例を示す
ブロック図である。
【0020】図1において、11はクロック信号CLK
および制御信号CKEが入力するクロック入力バッファ
である。アドレスバッファ12は、アドレス信号A0 〜
Am-1 、Amおよびバンクアドレス信号BS0 〜BSn-
1 が入力し、前記クロック入力バッファ11の出力信号
に同期してバッファ増幅するものであり、バンクアドレ
ス信号BS0 〜BSn-1入力をデコードしてセルフリフ
レッシュバンク選択回路10へ信号を出力するためのバ
ンク選択回路12aを含む。
および制御信号CKEが入力するクロック入力バッファ
である。アドレスバッファ12は、アドレス信号A0 〜
Am-1 、Amおよびバンクアドレス信号BS0 〜BSn-
1 が入力し、前記クロック入力バッファ11の出力信号
に同期してバッファ増幅するものであり、バンクアドレ
ス信号BS0 〜BSn-1入力をデコードしてセルフリフ
レッシュバンク選択回路10へ信号を出力するためのバ
ンク選択回路12aを含む。
【0021】セルフリフレッシュバンク選択回路10
は、セルフリフレッシュモードにおけるバンク選択信号
を生成するためのものである。コマンド・デコーダ13
は、動作モード指定用のコマンド入力として各種の外部
制御信号(CKE信号、チップ・セレクト信号/CS、
ロウ・アドレス・ストローブ信号/RAS、カラム・ア
ドレス・ストローブ信号/CAS、ライト・イネーブル
信号/WE、アドレス信号の最上位ビットAm)が入力
し、前記クロック入力バッファ11の出力信号に同期し
てデコードする。
は、セルフリフレッシュモードにおけるバンク選択信号
を生成するためのものである。コマンド・デコーダ13
は、動作モード指定用のコマンド入力として各種の外部
制御信号(CKE信号、チップ・セレクト信号/CS、
ロウ・アドレス・ストローブ信号/RAS、カラム・ア
ドレス・ストローブ信号/CAS、ライト・イネーブル
信号/WE、アドレス信号の最上位ビットAm)が入力
し、前記クロック入力バッファ11の出力信号に同期し
てデコードする。
【0022】制御信号発生回路14は、前記コマンド・
デコーダ13のデコード出力信号が入力し、前記クロッ
ク入力バッファ11の出力信号に同期して各種の内部制
御信号(セルフリフレッシュ制御信号を含む)を発生す
る。
デコーダ13のデコード出力信号が入力し、前記クロッ
ク入力バッファ11の出力信号に同期して各種の内部制
御信号(セルフリフレッシュ制御信号を含む)を発生す
る。
【0023】15はそれぞれリフレッシュアドレス信号
を生成する2n個のリフレッシュカウンタである。16
はそれぞれ通常動作モード/セルフリフレッシュモード
に応じて前記アドレスバッファ12の出力信号(バンク
選択信号を含む)/前記複数個のリフレッシュカウンタ
15の出力信号(リフレッシュアドレス信号)をラッチ
する2n個のアドレスラッチ回路である。
を生成する2n個のリフレッシュカウンタである。16
はそれぞれ通常動作モード/セルフリフレッシュモード
に応じて前記アドレスバッファ12の出力信号(バンク
選択信号を含む)/前記複数個のリフレッシュカウンタ
15の出力信号(リフレッシュアドレス信号)をラッチ
する2n個のアドレスラッチ回路である。
【0024】17はそれぞれ対応して前記複数個のアド
レスラッチ回路16の各出力信号が対応して入力し、前
記セルフリフレッシュバンク選択回路10からのバンク
選択信号によりデコード動作の可否が制御され、デコー
ド出力信号により対応するバンク0〜バンク(2n-1)
のロウ選択を行う2n個のロウデコーダである。なお、
18は前記バンク0〜バンク(2n-1)を含むメモリセ
ルアレイである。
レスラッチ回路16の各出力信号が対応して入力し、前
記セルフリフレッシュバンク選択回路10からのバンク
選択信号によりデコード動作の可否が制御され、デコー
ド出力信号により対応するバンク0〜バンク(2n-1)
のロウ選択を行う2n個のロウデコーダである。なお、
18は前記バンク0〜バンク(2n-1)を含むメモリセ
ルアレイである。
【0025】図2は、図1中のセルフリフレッシュバン
ク選択回路10の一具体例を示す回路図である。ここで
は、セルフリフレッシュモードにおいて例えば4個のバ
ンクを択一的に選択指定するためのバンク選択信号を生
成する例を示している。
ク選択回路10の一具体例を示す回路図である。ここで
は、セルフリフレッシュモードにおいて例えば4個のバ
ンクを択一的に選択指定するためのバンク選択信号を生
成する例を示している。
【0026】2ビットのバンクアドレス信号BS0 、B
S1 はインバータ回路21〜24群によりそれぞれ相補
的な信号(BS0 、/BS0 )、(BS1 、/BS1 )
に変換された後、ナンド回路25〜28群からなるデコ
ーダ部でデコードされる。
S1 はインバータ回路21〜24群によりそれぞれ相補
的な信号(BS0 、/BS0 )、(BS1 、/BS1 )
に変換された後、ナンド回路25〜28群からなるデコ
ーダ部でデコードされる。
【0027】このデコーダ部は、制御信号発生回路14
からのセルフリフレッシュ制御信号がインバータ回路2
9で反転された信号によりセルフリフレッシュモードに
おいてデコード動作が可能になるように制御される。
からのセルフリフレッシュ制御信号がインバータ回路2
9で反転された信号によりセルフリフレッシュモードに
おいてデコード動作が可能になるように制御される。
【0028】このデコーダ部のデコード出力信号は、そ
れぞれインバータ回路30で反転され、セルフリフレッ
シュモードにおけるバンク選択信号として前記複数個の
ロウデコーダ17に供給される。
れぞれインバータ回路30で反転され、セルフリフレッ
シュモードにおけるバンク選択信号として前記複数個の
ロウデコーダ17に供給される。
【0029】次に、図1の回路におけるセルフリフレッ
シュモードのエントリー/イグジット動作について図
3、図4を参照しながら説明する。本例では、セルフリ
フレッシュ・エントリー・コマンドは、図3に示すよう
に、/CS信号入力が活性状態“L”、/RAS信号入
力が活性状態“L”、/CAS信号入力が活性状態
“L”、/WE信号入力が非活性状態“H”、CKE信
号入力が非活性状態“L”(1サイクル前は“H”)、
バンクアドレス信号BS0 〜BSn-1 が確定した状態に
おいて、クロック入力バッファ11の出力信号(CLK
と同等)が立ち上がることにより入力する。
シュモードのエントリー/イグジット動作について図
3、図4を参照しながら説明する。本例では、セルフリ
フレッシュ・エントリー・コマンドは、図3に示すよう
に、/CS信号入力が活性状態“L”、/RAS信号入
力が活性状態“L”、/CAS信号入力が活性状態
“L”、/WE信号入力が非活性状態“H”、CKE信
号入力が非活性状態“L”(1サイクル前は“H”)、
バンクアドレス信号BS0 〜BSn-1 が確定した状態に
おいて、クロック入力バッファ11の出力信号(CLK
と同等)が立ち上がることにより入力する。
【0030】また、セルフリフレッシュ・イグジット・
コマンドは、図4に示すように、/RAS信号入力、/
CAS信号入力、/WE信号入力の状態に関係なく、/
CS信号入力が非活性状態“H”、CKE信号入力が非
活性状態“L”(1サイクル前は“H”)、バンクアド
レス信号BS0 〜BSn-1 が確定した状態においてクロ
ック入力バッファ11の出力信号(CLKと同等)が立
ち上がることにより入力する。
コマンドは、図4に示すように、/RAS信号入力、/
CAS信号入力、/WE信号入力の状態に関係なく、/
CS信号入力が非活性状態“H”、CKE信号入力が非
活性状態“L”(1サイクル前は“H”)、バンクアド
レス信号BS0 〜BSn-1 が確定した状態においてクロ
ック入力バッファ11の出力信号(CLKと同等)が立
ち上がることにより入力する。
【0031】あるいは、上記セルフリフレッシュ・イグ
ジット・コマンドは、/WE信号入力の状態に関係な
く、/CS信号入力が活性状態“L”、/RAS信号入
力が非活性状態“H”、/CAS信号入力が非活性状態
“H”、CKE信号入力が非活性状態“L”(1サイク
ル前は“H”)、バンクアドレス信号BS0 〜BSn-1
が確定した状態においてクロック入力バッファ11の出
力信号(CLKと同等)が立ち上がることにより入力す
る。
ジット・コマンドは、/WE信号入力の状態に関係な
く、/CS信号入力が活性状態“L”、/RAS信号入
力が非活性状態“H”、/CAS信号入力が非活性状態
“H”、CKE信号入力が非活性状態“L”(1サイク
ル前は“H”)、バンクアドレス信号BS0 〜BSn-1
が確定した状態においてクロック入力バッファ11の出
力信号(CLKと同等)が立ち上がることにより入力す
る。
【0032】そして、前記セルフリフレッシュ・エント
リー・コマンド入力あるいはセルフリフレッシュ・イグ
ジット・コマンド入力を前記コマンド・デコーダ13で
デコードした時の出力信号に基づいて、前記制御信号発
生回路14はセルフリフレッシュ制御信号出力を活性化
する。
リー・コマンド入力あるいはセルフリフレッシュ・イグ
ジット・コマンド入力を前記コマンド・デコーダ13で
デコードした時の出力信号に基づいて、前記制御信号発
生回路14はセルフリフレッシュ制御信号出力を活性化
する。
【0033】従って、セルフリフレッシュモードに入る
際には、リフレッシュ動作の対象となる特定のバンクを
アイドル状態にしておき、図3に示すように各種信号入
力を設定することによりセルフリフレッシュ・エントリ
ー・コマンドを入力する。
際には、リフレッシュ動作の対象となる特定のバンクを
アイドル状態にしておき、図3に示すように各種信号入
力を設定することによりセルフリフレッシュ・エントリ
ー・コマンドを入力する。
【0034】この時、前記CKE信号が“L”の期間
に、有効なバンクアドレス信号BS0〜BSn-1 入力が
取り込まれ、デコードされてバンク選択信号が生成され
るので、特定のバンクを選択して分散リフレッシュ方式
により自動的にリフレッシュ動作を開始し、記憶データ
を長時間にわたって保持させることが可能になる。
に、有効なバンクアドレス信号BS0〜BSn-1 入力が
取り込まれ、デコードされてバンク選択信号が生成され
るので、特定のバンクを選択して分散リフレッシュ方式
により自動的にリフレッシュ動作を開始し、記憶データ
を長時間にわたって保持させることが可能になる。
【0035】なお、上記したようにセルフリフレッシュ
動作を開始しているバンクは、以下に説明するセルフリ
フレッシュ・イグジット・コマンド以外のコマンドは入
力が禁止される。
動作を開始しているバンクは、以下に説明するセルフリ
フレッシュ・イグジット・コマンド以外のコマンドは入
力が禁止される。
【0036】また、このセルフリフレッシュモードに入
っている期間には、CKE信号が入力するクロック入力
バッファ11以外の入出力バッファもイネーブル状態に
する(従来の同期型DRAMとは異なる。)ことによ
り、引き続いてコマンド入力が可能になる。換言すれ
ば、従来の同期型DRAMのようには消費電力を抑制す
ることができないが、分散リフレッシュ方式によりリフ
レッシュ動作(例えば15.6μs毎に1回のリフレッ
シュ動作)を行うので、サイクルタイムベースでは全体
の消費電流を少なくすることが可能になる。
っている期間には、CKE信号が入力するクロック入力
バッファ11以外の入出力バッファもイネーブル状態に
する(従来の同期型DRAMとは異なる。)ことによ
り、引き続いてコマンド入力が可能になる。換言すれ
ば、従来の同期型DRAMのようには消費電力を抑制す
ることができないが、分散リフレッシュ方式によりリフ
レッシュ動作(例えば15.6μs毎に1回のリフレッ
シュ動作)を行うので、サイクルタイムベースでは全体
の消費電流を少なくすることが可能になる。
【0037】セルフリフレッシュモードから抜け出す際
には、図4に示すように各種信号入力を設定することに
よりセルフリフレッシュ・イグジット・コマンドを入力
する。この時、前記CKE信号が“L”の期間に、有効
なバンクアドレス信号BS0〜BSn-1 入力が取り込ま
れ、デコードされてバンク選択信号がリセットされるの
で、特定のバンクを選択してリフレッシュ動作を終了す
る(通常の動作モードに戻る)ことが可能になる。
には、図4に示すように各種信号入力を設定することに
よりセルフリフレッシュ・イグジット・コマンドを入力
する。この時、前記CKE信号が“L”の期間に、有効
なバンクアドレス信号BS0〜BSn-1 入力が取り込ま
れ、デコードされてバンク選択信号がリセットされるの
で、特定のバンクを選択してリフレッシュ動作を終了す
る(通常の動作モードに戻る)ことが可能になる。
【0038】なお、前記したようにアクセスしたいバン
クとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが同一
チップ上に混在する場合としては、パソコンなどのマル
チウインドウシステムにおいて、各アプリケーションソ
フトをウインドウ上でアクティブにする際に記憶データ
を長時間にわたって保持したいバンクが存在があり、こ
のような場合に本発明は有効である。
クとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが同一
チップ上に混在する場合としては、パソコンなどのマル
チウインドウシステムにおいて、各アプリケーションソ
フトをウインドウ上でアクティブにする際に記憶データ
を長時間にわたって保持したいバンクが存在があり、こ
のような場合に本発明は有効である。
【0039】さらに、将来的には、同期型DRAMは大
容量化し、ビット構成とともにバンク構成も増える傾向
にある。そうなると、同一チップ上にアクセスしたいバ
ンクとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが混
在する機会も多くなる。この際、従来の同期型DRAM
のように、全てのバンクが一度にセルフリフレッシュ動
作を行うシステムは使い勝手が悪くなると思われ、本発
明の優位性が明らかになる。
容量化し、ビット構成とともにバンク構成も増える傾向
にある。そうなると、同一チップ上にアクセスしたいバ
ンクとセルフリフレッシュを実行させたいバンクとが混
在する機会も多くなる。この際、従来の同期型DRAM
のように、全てのバンクが一度にセルフリフレッシュ動
作を行うシステムは使い勝手が悪くなると思われ、本発
明の優位性が明らかになる。
【0040】
【発明の効果】上述したように本発明のマルチバンク構
成を持つ同期型DRAMによれば、アクセスしたいバン
クとセルフリフレッシュを実行させたい(記憶データを
長時間にわたって保持したい)バンクとが混在する場合
に一部のバンクに対して選択的にリフレッシュ動作を実
行させることができる。
成を持つ同期型DRAMによれば、アクセスしたいバン
クとセルフリフレッシュを実行させたい(記憶データを
長時間にわたって保持したい)バンクとが混在する場合
に一部のバンクに対して選択的にリフレッシュ動作を実
行させることができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係るマルチバンク
構成を持つ同期型DRAMにおけるセルフリフレッシュ
動作関連回路の一例を示すブロック図。
構成を持つ同期型DRAMにおけるセルフリフレッシュ
動作関連回路の一例を示すブロック図。
【図2】図1中のセルフリフレッシュバンク選択回路1
0の一具体例を示す回路図。
0の一具体例を示す回路図。
【図3】図1のDRAMのバンク選択可能なセルフリフ
レッシュ・エントリー・コマンド入力の一例を示すタイ
ミング波形図。
レッシュ・エントリー・コマンド入力の一例を示すタイ
ミング波形図。
【図4】図1のDRAMのバンク選択可能なセルフリフ
レッシュ・イグジット・コマンド入力の一例を示すタイ
ミング波形図。
レッシュ・イグジット・コマンド入力の一例を示すタイ
ミング波形図。
【図5】従来のマルチバンク構成を持つ同期型DRAM
におけるセルフリフレッシュ動作関連回路の一例を示す
ブロック図。
におけるセルフリフレッシュ動作関連回路の一例を示す
ブロック図。
【図6】図5のDRAMのセルフリフレッシュ・エント
リー・コマンド入力の一例を示すタイミング波形図。
リー・コマンド入力の一例を示すタイミング波形図。
【図7】図5のDRAMのセルフリフレッシュ・イグジ
ット・コマンド入力の一例を示すタイミング波形図。
ット・コマンド入力の一例を示すタイミング波形図。
10…セルフリフレッシュバンク選択回路、 11…クロック入力バッファ、 12…アドレスバッファ、 13…コマンド・デコーダ、 14…制御信号発生回路、 15…リフレッシュカウンタ、 16…アドレスラッチ回路、 17…ロウデコーダ、 18…メモリセルアレイ、 A0 〜Am-1 、Am…アドレス信号、 BS0 〜BSn-1 …バンクアドレス信号。
Claims (4)
- 【請求項1】 マルチバンクに区分されたメモリセルア
レイと、 前記マルチバンクのうちでセルフリフレッシュモードの
エントリー/イグジットの対象となるバンクを選択する
セルフリフレッシュバンク選択回路とを具備することを
特徴とする同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・
メモリ。 - 【請求項2】 請求項1記載の同期型ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリにおいて、さらに、 クロック信号および制御信号が入力するクロック入力バ
ッファと、 アドレス信号A0 〜Am-1 、Amおよびバンクアドレス
信号BS0 〜BSn-1が入力し、前記クロック入力バッ
ファの出力信号に同期してバッファ増幅するアドレスバ
ッファと、 動作モード指定用のコマンド入力として各種の外部制御
信号が入力し、前記クロック入力バッファの出力信号に
同期してデコードするコマンド・デコーダと、 前記コマンド・デコーダのデコード出力信号が入力し、
前記クロック入力バッファの出力信号に同期してセルフ
リフレッシュ制御信号を含む各種の内部制御信号を発生
する制御信号発生回路と、 それぞれリフレッシュアドレス信号を生成する複数のリ
フレッシュカウンタと、 通常動作モード/セルフリフレッシュモードに応じて前
記アドレスバッファの出力信号/前記複数のリフレッシ
ュカウンタの出力信号をラッチする複数のアドレスラッ
チ回路と、 それぞれ対応して前記複数のアドレスラッチ回路の各出
力信号が入力し、前記セルフリフレッシュバンク選択回
路からのバンク選択信号によりデコード動作の可否が制
御され、デコード出力信号により対応するバンクのロウ
選択を行う複数のロウデコーダとを具備し、 前記セルフリフレッシュバンク選択回路は、前記制御信
号発生回路からのセルフリフレッシュ制御信号によりデ
コード動作が制御され、バンクアドレス信号入力をデコ
ードしてセルフリフレッシュモードにおける前記バンク
選択信号を生成することを特徴とする同期型ダイナミッ
ク・ランダム・アクセス・メモリ。 - 【請求項3】 請求項2記載の同期型ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリにおいて、 前記セルフリフレッシュモードに入るためのセルフリフ
レッシュ・エントリー・コマンド入力/セルフリフレッ
シュ・イグジット・コマンド入力は、チップ・セレクト
信号/CS入力、制御信号CKE入力の組み合わせが使
用されることを特徴とする同期型ダイナミック・ランダ
ム・アクセス・メモリ。 - 【請求項4】 請求項3記載の同期型ダイナミック・ラ
ンダム・アクセス・メモリにおいて、 前記制御信号発生回路は、前記セルフリフレッシュ・エ
ントリー・コマンド入力あるいはセルフリフレッシュ・
イグジット・コマンド入力を前記コマンド・デコーダで
デコードした時の出力信号に基づいて前記セルフリフレ
ッシュ制御信号出力を活性化することを特徴とする同期
型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8282511A JPH10134569A (ja) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | 同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8282511A JPH10134569A (ja) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | 同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10134569A true JPH10134569A (ja) | 1998-05-22 |
Family
ID=17653407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8282511A Pending JPH10134569A (ja) | 1996-10-24 | 1996-10-24 | 同期型ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10134569A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6285616B1 (en) | 1999-03-02 | 2001-09-04 | Nec Corporation | Memory refreshing control apparatus comprising a unique refreshing counter |
US6563757B2 (en) | 2001-01-16 | 2003-05-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor memory device |
KR100427723B1 (ko) * | 2001-11-21 | 2004-04-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 서브시스템 |
KR100437610B1 (ko) * | 2001-09-20 | 2004-06-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정상 모드와 부분 어레이 셀프 리프레쉬 모드를 갖는저전력 반도체 메모리 장치 |
KR100506057B1 (ko) * | 2002-07-15 | 2005-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부분 어레이 셀프 리프레시를 수행하는 반도체 메모리 장치 |
KR100515072B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2005-09-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리프레시 동작에서의 전력소모를 줄이기 위한반도체메모리장치 |
JP2006500711A (ja) * | 2002-09-25 | 2006-01-05 | インフィネオン テヒノロギーズ アーゲー | メモリ・アレイを有するic用更新制御回路 |
JP2007035151A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Elpida Memory Inc | 半導体メモリ装置およびメモリシステムのリフレッシュ制御方法 |
EP1833057A1 (en) | 2006-03-09 | 2007-09-12 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory, memory system and refresh method of semiconductor memory |
KR100805359B1 (ko) * | 2001-04-03 | 2008-02-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 다이내믹 메모리내의 리프레시 메커니즘 |
-
1996
- 1996-10-24 JP JP8282511A patent/JPH10134569A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6285616B1 (en) | 1999-03-02 | 2001-09-04 | Nec Corporation | Memory refreshing control apparatus comprising a unique refreshing counter |
KR100515072B1 (ko) * | 2000-06-30 | 2005-09-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 리프레시 동작에서의 전력소모를 줄이기 위한반도체메모리장치 |
US6563757B2 (en) | 2001-01-16 | 2003-05-13 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor memory device |
KR100805359B1 (ko) * | 2001-04-03 | 2008-02-20 | 주식회사 하이닉스반도체 | 다이내믹 메모리내의 리프레시 메커니즘 |
KR100437610B1 (ko) * | 2001-09-20 | 2004-06-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 정상 모드와 부분 어레이 셀프 리프레쉬 모드를 갖는저전력 반도체 메모리 장치 |
KR100427723B1 (ko) * | 2001-11-21 | 2004-04-28 | 주식회사 하이닉스반도체 | 메모리 서브시스템 |
KR100506057B1 (ko) * | 2002-07-15 | 2005-08-03 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부분 어레이 셀프 리프레시를 수행하는 반도체 메모리 장치 |
JP2006500711A (ja) * | 2002-09-25 | 2006-01-05 | インフィネオン テヒノロギーズ アーゲー | メモリ・アレイを有するic用更新制御回路 |
JP2007035151A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Elpida Memory Inc | 半導体メモリ装置およびメモリシステムのリフレッシュ制御方法 |
EP1833057A1 (en) | 2006-03-09 | 2007-09-12 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory, memory system and refresh method of semiconductor memory |
JP2007242158A (ja) * | 2006-03-09 | 2007-09-20 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ、メモリシステムおよび半導体メモリの動作方法 |
US7911866B2 (en) | 2006-03-09 | 2011-03-22 | Fujitsu Semiconductor Limited | Semiconductor memory for automatic executing refresh operations |
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