JPH1012738A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPH1012738A
JPH1012738A JP8159976A JP15997696A JPH1012738A JP H1012738 A JPH1012738 A JP H1012738A JP 8159976 A JP8159976 A JP 8159976A JP 15997696 A JP15997696 A JP 15997696A JP H1012738 A JPH1012738 A JP H1012738A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
blocks
output cell
capacity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8159976A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Morita
晃生 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu VLSI Ltd, Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu VLSI Ltd
Priority to JP8159976A priority Critical patent/JPH1012738A/ja
Publication of JPH1012738A publication Critical patent/JPH1012738A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square

Landscapes

  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】半導体集積回路装置の入出力セルを効率よく作
成する。 【解決手段】半導体チップ1には複数のパッド2が所定
のピッチL1 をもって配置されている。半導体チップ1
には、各パッド2に対応し、かつ、入出力回路を形成す
るための素子を有する複数の入出力セル4が形成されて
いる。入出力セル4は、パッド2の最小ピッチL0 と同
一の幅を持ち、かつ、パッド2について予め定められた
最大電流を流すことができる最大駆動能力のN分の1
(Nは2以上の自然数)の能力を持つ複数のブロック5
により構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路装置
(IC)に係り、より詳しくはゲートアレイやエンベデ
ッドアレイなどのapplication specificIC(ASI
C)における入出力セルのレイアウトに関する。
【0002】近年のASICは、大規模ゲートで多ピン
の要求もあれば、大規模ゲートでありながら少ピンでよ
いがチップサイズの小さくした低コスト化の要求もあ
る。入出力セルは、チップの周縁に沿うように配置され
る。そのため、多ピンのためには、入出力セルの配置方
向において短く、かつ、配置方向と直交する方向におい
て長い入出力セルを開発し、少ピンのためには、入出力
セルの配置方向において長く、かつ、配置方向と直交す
る方向において短い入出力セルを開発する必要がある。
しかも、入出力セルの開発期間を短縮する必要がある。
【0003】
【従来の技術】図15は従来のゲートアレイの一部を示
す。半導体チップ71の周縁寄りには複数のボンディン
グパッド72が所定のピッチL3 をもって配置されてい
る。パッドピッチL3 はボンディング装置またはプロー
ブ試験を行う試験装置の能力に基づいて決められる最小
の値である。
【0004】半導体チップ71の周縁に沿うように複数
の入出力セル73が設けられている。各入出力セル73
は、各ボンディングパッド72に対応して設けられると
ともに、パッドピッチL3 と同一の幅を有する。各入出
力セル73は入出力セルの配置方向と直交する方向に細
長く形成されており、各入出力セル73にはボンディン
グパッド72について予め定められた最大電流を流すこ
とができる複数個のpMOSトランジスタ及びnMOS
トランジスタが配置されている。
【0005】図15に示す入出力セル73を少ピン用に
使用するには、図16に示すように、例えば、斜線で示
す入出力セル73を1つ置きに未使用にする必要があ
る。ところが、入出力セル73は入出力セル73の配置
方向と直交する方向において細長く形成されているの
で、チップサイズを縮小化することはできない。
【0006】図17は従来の別のゲートアレイにおける
入出力セルを示す。このゲートアレイにおいては、半導
体チップ75の周縁に沿うように複数のボンディングパ
ッド76が所定のピッチL4 をもって配置されている。
パッドピッチL4 は図15のゲートアレイにおけるパッ
ドピッチL3 よりも大きい。
【0007】半導体チップ75には複数の入出力セル7
7が設けられている。各入出力セル77は、各ボンディ
ングパッド76に対応して設けられるとともに、パッド
ピッチL4 と同一の幅を有する。各入出力セル77は入
出力セルの配置方向に細長く形成されており、各入出力
セル77にはボンディングパッド76について予め定め
られた最大電流を流すことができる複数個のpMOSト
ランジスタ及びnMOSトランジスタが配置されてい
る。
【0008】図17に示す入出力セル77を多ピン用に
使用するには、パッドピッチL4 が大き過ぎるため、多
ピンには向かない。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従って、多ピン化の要
求に対しては、図15に示すように入出力セルの配置方
向と直交する方向に細長い入出力セル73を備えたゲー
トアレイを開発し、少ピン化の要求に対しては、図17
に示すように入出力セルの配置方向に細長い入出力セル
77を備えたゲートアレイを開発しなければならない。
しかも、少ピン化の要求には種々のパッドピッチがあ
り、サイズの異なる複数の入出力セル77を開発する必
要がある。そのため、多ピン用の入出力セルのセルファ
ミリー、少ピン用の入出力セルのセルファミリー及び多
くの入出力セルの開発に時間を要し、開発期間を短縮で
きない。
【0010】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的は、入出力セルを効率よく
作成できる半導体集積回路装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図である。半導体チップ1には複数のパッド2が所定の
ピッチL1 をもって配置されている。半導体チップ1に
は、各パッド2に対応し、かつ、入出力回路を形成する
ための素子を有する複数の入出力セル4が形成されてい
る。入出力セル4は、パッド2の最小ピッチL0 と同一
の幅を持ち、かつ、パッド2について予め定められた最
大電流を流すことができる最大駆動能力のN分の1(N
は2以上の自然数)の能力を持つ複数のブロック5によ
り構成されている。
【0012】(作用)各入出力セル4は複数のブロック
5により構成され、ブロック5の幅は多ピン化に対応で
きる最小ピッチL0 であり、ブロックは最大駆動能力の
N分の1の能力を持つ。そのため、ブロック5の配置個
数及び配置方向によって多ピン化、少ピン化に対応した
種々の入出力セルが作成され、ブロック5の情報を1つ
用意するだけで済む。
【0013】
【発明の実施の形態】
[第1の実施の形態]以下、本発明を具体化した第1の
実施の形態を図2〜図5に従って説明する。
【0014】図2はASICとしてのゲートアレイ10
を示す。ゲートアレイ10の半導体チップ11の中央部
には内部セル領域12が形成され、この内部セル領域1
2には種々の論理回路が配置される。
【0015】図3に示すように、半導体チップ11の周
縁寄りには複数のボンディングパッド13が所定のピッ
チL2 をもって配置され、これらのボンディングパッド
13は図示しないボンディングワイヤによってパッケー
ジに設けられた複数の入出力ピンと接続される。なお、
パッドピッチL2 はボンディング装置またはプローブ試
験を行う試験装置の能力に基づいて決められる最小の値
である。
【0016】半導体チップ11にはボンディングパッド
13と内部セル領域12との間に複数の入出力セル15
からなる入出力セル領域14が形成されている。各入出
力セル15は、各ボンディングパッド13に対応して設
けられるとともに、パッドピッチL2 と同一の幅を有す
る。図3に示すように、入出力セル15は、パッドピッ
チL2 と同一の幅を有する同一サイズのN個(本形態で
は4個)のブロックA(A1〜A4)を入出力セル15
の配置方向と直交する方向に配置して構成されている。
各ブロックAの駆動電流は等しく、パッドについて予め
定められた最大電流を流すことができる最大駆動能力の
N分の1(本形態では4分の1)の能力を持つ。
【0017】従って、入出力セル15を用いて最大駆動
能力の4分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックA1のみを使用し、最大駆動能力の4分の
1を越え4分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成す
るにはブロックA1,A2を使用し、最大駆動能力の4
分の2を越え4分の3以下の能力を持つ入出力回路を構
成するにはブロックA1,A2,A3を使用し、最大駆
動能力の4分の3を越える能力を持つ入出力回路を構成
するにはすべてのブロックA1,A2,A3,A4を使
用すればよい。
【0018】図4はブロックAの一例を示す。ブロック
Aは各1つのpMOSトランジスタ17及びnMOSト
ランジスタ18を備える。pMOSトランジスタ17及
びnMOSトランジスタ18のドレインは互いに接続さ
れ、pMOSトランジスタ17のソースは電源VDDに接
続され、nMOSトランジスタ18のソースは電源V SS
に接続されている。両トランジスタ17,18のゲート
は入力端子INに接続され、両トランジスタ17,18
のドレインは出力端子OUTに接続されている。
【0019】図5は、入出力セル15におけるすべての
ブロックA1〜A4を用いて構成された入出力回路19
を示す。入出力回路19は、4つのブロックA1〜A4
における各入力端子IN及び各出力端子OUTをCAD
装置によって自動配線した配線20,21によって接続
されている。
【0020】さて、本実施の形態は、以下の効果があ
る。 (1)本形態の入出力セル15は、複数のブロックA
(A1〜A4)を入出力セル15の配置方向と直交する
方向に配置して構成されており、各ブロックAの幅はボ
ンディングパッドの最小パッドピッチL2 であり、ブロ
ックAは最大駆動能力のN分の1の能力を持つ。そのた
め、ブロックAの情報を1つ用意するだけで済み、入出
力セル15の幅方向(配置方向)の寸法の増加を防止で
き、多ピン化に対応した入出力セル15を容易に作成す
ることができる。
【0021】[第2の実施の形態]次に、第2の実施の
形態を図6,図7に従って説明する。なお、図3と同様
の構成については同一の符号を付して説明する。
【0022】図7は別のゲートアレイ25における入出
力セルを示す。半導体チップ26の周縁よりには複数の
ボンディングパッド27が最小パッドピッチL2 の2倍
のピッチ2・L2 をもって配置されている。
【0023】入出力セル領域28は複数の入出力セル2
9からなる。これらの入出力セル29は各ボンディング
パッド27に対応して設けられており、各入出力セル2
9はボンディングパッド27の配置方向においてピッチ
2・L2 と同一の幅を有する。各入出力セル29は、前
記ブロックA(A1〜A4)を入出力セル29の配置方
向と直交する方向において2段に配置して構成されてい
る。
【0024】従って、入出力セル29を用いて最大駆動
能力の4分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックA1のみを使用し、最大駆動能力の4分の
1を越え4分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成す
るにはブロックA1,A2を使用し、最大駆動能力の4
分の2を越え4分の3以下の能力を持つ入出力回路を構
成するにはブロックA1,A2,A3を使用し、最大駆
動能力の4分の3を越える能力を持つ入出力回路を構成
するにはすべてのブロックA1,A2,A3,A4を使
用すればよい。
【0025】図7は、入出力セル29におけるすべての
ブロックブロックA1〜A4を用いて構成された入出力
回路30を示す。入出力回路30は、4つのブロックA
1〜A4における各入力端子IN及び各出力端子OUT
をCAD装置によって自動配線した配線31,32によ
って接続されている。
【0026】さて、本実施の形態は、以下の効果があ
る。 (1)本形態の入出力セル29は、複数のブロックA
(A1〜A4)を入出力セル29の配置方向と直交する
方向において2段に配置して構成されており、各ブロッ
クAの幅はボンディングパッドの最小パッドピッチL2
であり、ブロックAは最大駆動能力のN分の1の能力を
持つ。そのため、ブロックAの情報を1つ用意するだけ
で済み、入出力セル29の幅方向(配置方向)の寸法の
増加を防止でき、多ピン化と少ピン化の中間に対応した
入出力セル29を容易に作成することができる。
【0027】[第3の実施の形態]次に、第3の実施の
形態を図8,図9に従って説明する。なお、図3と同様
の構成については同一の符号を付して説明する。
【0028】図8は別のゲートアレイ35における入出
力セルを示す。半導体チップ36の周縁よりには複数の
ボンディングパッド37が最小パッドピッチL2 の4倍
のピッチ4・L2 をもって配置されている。
【0029】入出力セル領域38は複数の入出力セル3
9からなる。これらの入出力セル39は各ボンディング
パッド37に対応して設けられており、各入出力セル3
9はボンディングパッド37の配置方向においてピッチ
4・L2 と同一の幅を有する。各入出力セル39は、前
記ブロックA(A1〜A4)を入出力セル39の配置方
向に配置して構成されている。
【0030】従って、入出力セル39を用いて最大駆動
能力の4分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックA1のみを使用し、最大駆動能力の4分の
1を越え4分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成す
るにはブロックA1,A2を使用し、最大駆動能力の4
分の2を越え4分の3以下の能力を持つ入出力回路を構
成するにはブロックA1,A2,A3を使用し、最大駆
動能力の4分の3を越える能力を持つ入出力回路を構成
するにはすべてのブロックA1,A2,A3,A4を使
用すればよい。
【0031】図9は、入出力セル39におけるすべての
ブロックブロックA1〜A4を用いて構成された入出力
回路40を示す。入出力回路40は、4つのブロックA
1〜A4における各入力端子IN及び各出力端子OUT
をCAD装置によって自動配線した配線41,42によ
って接続されている。
【0032】さて、本実施の形態は、以下の効果があ
る。 (1)本形態の入出力セル39は、複数のブロックA
(A1〜A4)を入出力セル39の配置方向に配置して
構成されており、各ブロックAの幅はボンディングパッ
ドの最小パッドピッチL2 であり、ブロックAは最大駆
動能力のN分の1の能力を持つ。そのため、ブロックA
の情報を1つ用意するだけで済み、少ピン化に対応した
入出力セル39を容易に作成することができる。また、
入出力セル39の高さ方向(配置方向と直交する方向)
の寸法の増加を防止でき、チップサイズを縮小すること
ができる。
【0033】[第4の実施の形態]次に、本発明の第4
の実施の形態を図10に従って説明する。図10は別の
ゲートアレイ45における入出力セルを示す。半導体チ
ップ46の周縁よりには複数のボンディングパッド47
が最小パッドピッチL2 をもって配置されている。
【0034】入出力セル領域48は複数の入出力セル4
9からなる。これらの入出力セル49は各ボンディング
パッド47に対応して設けられており、各入出力セル4
9はボンディングパッド47の配置方向においてパッド
ピッチL2 と同一の幅を有する。入出力セル49は、パ
ッドピッチL2 と同一の幅を有する同一サイズのN個
(本形態では3個)のブロックB(B1〜B3)を入出
力セル49の配置方向と直交する方向に配置して構成さ
れている。各ブロックBの駆動電流は等しく、パッドに
ついて予め定められた最大電流を流すことができる最大
駆動能力のN分の1(本形態では3分の1)の能力を持
つ。
【0035】従って、入出力セル49を用いて最大駆動
能力の3分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックB1のみを使用し、最大駆動能力の3分の
1を越え3分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成す
るにはブロックB1,B2を使用し、最大駆動能力の3
分の2を越える能力を持つ入出力回路を構成するにはす
べてのブロックB1,B2,B3を使用すればよい。
【0036】さて、本実施の形態の入出力セル49は、
複数のブロックB(B1〜B3)を入出力セル49の配
置方向と直交する方向に配置して構成されており、各ブ
ロックBの幅はボンディングパッドの最小パッドピッチ
2 であり、ブロックBは最大駆動能力のN分の1の能
力を持つ。そのため、ブロックBの情報を1つ用意する
だけで済み、入出力セル49の幅方向(配置方向)の寸
法の増加を防止でき、多ピン化に対応した入出力セル4
9を容易に作成することができる。
【0037】[第5の実施の形態]次に、本発明の第5
の実施の形態を図11に従って説明する。なお、図10
と同様の構成については同一の符号を付して説明する。
【0038】図11は別のゲートアレイ50における入
出力セルを示す。半導体チップ51の周縁よりには複数
のボンディングパッド52が最小パッドピッチL2 の3
倍のピッチ3・L2 をもって配置されている。
【0039】入出力セル領域53は複数の入出力セル5
4からなる。これらの入出力セル54は各ボンディング
パッド52に対応して設けられており、各入出力セル5
4はボンディングパッド52の配置方向においてパッド
ピッチ3・L2 と同一の幅を有する。各入出力セル54
は、前記ブロックB(B1〜B3)を入出力セル54の
配置方向に配置して構成されている。
【0040】従って、入出力セル54を用いて最大駆動
能力の3分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックB1のみを使用し、最大駆動能力の3分の
1を越え3分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成す
るにはブロックB1,B2を使用し、最大駆動能力の3
分の2を越える能力を持つ入出力回路を構成するにはす
べてのブロックB1,B2,B3を使用すればよい。
【0041】さて、本実施の形態の入出力セル54は、
複数のブロックB(B1〜B3)を入出力セル54の配
置方向に配置して構成されており、各ブロックBの幅は
ボンディングパッドの最小パッドピッチL2 であり、ブ
ロックBは最大駆動能力のN分の1の能力を持つ。その
ため、ブロックBの情報を1つ用意するだけで済み、少
ピン化に対応した入出力セル54を容易に作成すること
ができる。また、入出力セル54の高さ方向(配置方向
と直交する方向)の寸法の増加を防止でき、チップサイ
ズを縮小することができる。
【0042】[第6の実施の形態]次に、本発明の第6
の実施の形態を図12に従って説明する。図12は別の
ゲートアレイ55における入出力セルを示す。半導体チ
ップ56の周縁よりには複数のボンディングパッド57
が最小パッドピッチL2 をもって配置されている。
【0043】入出力セル領域58は複数の入出力セル5
9からなる。これらの入出力セル59は各ボンディング
パッド57に対応して設けられており、各入出力セル5
9はボンディングパッド57の配置方向においてパッド
ピッチL2 と同一の幅を有する。入出力セル59は、パ
ッドピッチL2 の2分の1の幅L2 /2を有する同一サ
イズのN個(本形態では6個)のブロックC(C1〜C
6)を入出力セル59の配置方向と直交する方向に3段
配置して構成されている。各ブロックCの駆動電流は等
しく、パッドについて予め定められた最大電流を流すこ
とができる最大駆動能力のN分の1(本形態では6分の
1)の能力を持つ。
【0044】従って、入出力セル59を用いて最大駆動
能力の3分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックC1,C2を使用し、最大駆動能力の3分
の1を越え3分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成
するにはブロックC1,C2,C3,C4を使用し、最
大駆動能力の3分の2を越える能力を持つ入出力回路を
構成するにはすべてのブロックC1,C2,C3,C
4,C5,C6を使用すればよい。
【0045】さて、本実施の形態の入出力セル59は、
複数のブロックC(C1〜C6)を入出力セル59の配
置方向と直交する方向に3段配置して構成されており、
各ブロックCの幅はボンディングパッドの最小パッドピ
ッチL2 の2分の1であり、ブロックCは最大駆動能力
のN分の1の能力を持つ。そのため、ブロックCの情報
を1つ用意するだけで済み、入出力セル59の幅方向
(配置方向)の寸法の増加を防止でき、多ピン化に対応
した入出力セル59を容易に作成することができる。
【0046】[第7の実施の形態]次に、第7の実施の
形態を図13に従って説明する。なお、図12と同様の
構成については同一の符号を付して説明する。
【0047】図13は別のゲートアレイ60における入
出力セルを示す。半導体チップ61の周縁よりには複数
のボンディングパッド62が最小パッドピッチL2 の3
/2倍のピッチ3・L2 /2をもって配置されている。
【0048】入出力セル領域63は複数の入出力セル6
4からなる。これらの入出力セル64は各ボンディング
パッド62に対応して設けられており、各入出力セル6
4はボンディングパッド62の配置方向においてピッチ
3・L2 /2と同一の幅を有する。各入出力セル64
は、前記ブロックC(C1〜C6)を入出力セル64の
配置方向と直交する方向において2段に配置して構成さ
れている。
【0049】従って、入出力セル64を用いて最大駆動
能力の3分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックC1,C4を使用し、最大駆動能力の3分
の1を越え3分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成
するにはブロックC1,C2,C4,C5を使用し、最
大駆動能力の3分の2を越える能力を持つ入出力回路を
構成するにはすべてのブロックC1,C2,C3,C
4,C5,C6を使用すればよい。
【0050】さて、本実施の形態の入出力セル64は、
複数のブロックC(C1〜C6)を入出力セル64の配
置方向と直交する方向において2段に配置して構成され
ており、各ブロックCの幅はボンディングパッドの最小
パッドピッチL2 の2分の1であり、ブロックCは最大
駆動能力のN分の1の能力を持つ。そのため、ブロック
Cの情報を1つ用意するだけで済み、入出力セル64の
幅方向(配置方向)の寸法の増加を防止でき、多ピン化
と少ピン化の中間に対応した入出力セル64を容易に作
成することができる。
【0051】[第8の実施の形態]次に、第8の実施の
形態を図14に従って説明する。なお、図12と同様の
構成については同一の符号を付して説明する。
【0052】図14は別のゲートアレイ65における入
出力セルを示す。半導体チップ66の周縁よりには複数
のボンディングパッド67が最小パッドピッチL2 の3
倍のピッチ3・L2 をもって配置されている。
【0053】入出力セル領域68は複数の入出力セル6
9からなる。これらの入出力セル69は各ボンディング
パッド67に対応して設けられており、各入出力セル6
9はボンディングパッド67の配置方向においてピッチ
3・L2 と同一の幅を有する。各入出力セル69は、前
記ブロックC(C1〜C6)を入出力セル69の配置方
向に配置して構成されている。
【0054】従って、入出力セル69を用いて最大駆動
能力の3分の1以下の能力を持つ入出力回路を構成する
にはブロックC1,C2を使用し、最大駆動能力の3分
の1を越え3分の2以下の能力を持つ入出力回路を構成
するにはブロックC1,C2,C3,C4を使用し、最
大駆動能力の3分の2を越える能力を持つ入出力回路を
構成するにはすべてのブロックC1,C2,C3,C
4,C5,C6を使用すればよい。
【0055】さて、本実施の形態の入出力セル69は、
複数のブロックC(C1〜C6)を入出力セル69の配
置方向に配置して構成されており、各ブロックCの幅は
ボンディングパッドの最小パッドピッチL2 の2分の1
であり、ブロックCは最大駆動能力のN分の1の能力を
持つ。そのため、ブロックCの情報を1つ用意するだけ
で済み、少ピン化に対応した入出力セル69を容易に作
成することができる。また、入出力セル69の高さ方向
(配置方向と直交する方向)の寸法の増加を防止でき、
チップサイズを縮小することができる。
【0056】なお、本発明は次のように任意に変更して
具体化することも可能である。 (1)上記各形態ではゲートアレイに具体化したが、R
OM、RAM又は乗算器等のマクロを搭載したエンベデ
ッドアレイ等のASICに具体化してもよい。この場合
にも、上記形態と同様の効果がある。
【0057】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
入出力セルを効率よく作成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図
【図2】第1の形態のゲートアレイを示すレイアウト図
【図3】入出力セルを示す平面図
【図4】ブロックの詳細を示す説明図
【図5】入出力回路の構成例を示す説明図
【図6】第2の形態の入出力セルを示す平面図
【図7】入出力回路の構成例を示す説明図
【図8】第3の形態の入出力セルを示す平面図
【図9】入出力回路の構成例を示す説明図
【図10】第4の形態の入出力セルを示す平面図
【図11】第5の形態の入出力セルを示す平面図
【図12】第6の形態の入出力セルを示す平面図
【図13】第7の形態の入出力セルを示す平面図
【図14】第8の形態の入出力セルを示す平面図
【図15】従来のゲートアレイの一部を示すレイアウト
【図16】入出力セルの少ピン化における問題を示す説
明図
【図17】従来の別の入出力セルを示す平面図
【符号の説明】
2 パッド 5 ブロック L0 最小パッドピッチ L1 パッドピッチ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定のピッチをもって配置された複数の
    パッドと、各パッドに対応して設けられ、かつ、入出力
    回路を形成するための素子を有する複数の入出力セルと
    を半導体チップに形成した半導体集積回路装置におい
    て、 前記入出力セルを、前記パッドの最小ピッチと同一の幅
    を持ち、かつ、前記パッドについて予め定められた最大
    電流を流すことができる最大駆動能力のN分の1(Nは
    2以上の自然数)の能力を持つ複数のブロックにより構
    成した半導体集積回路装置。
  2. 【請求項2】 所定のピッチをもって配置された複数の
    パッドと、各パッドに対応して設けられ、かつ、入出力
    回路を形成するための素子を有する複数の入出力セルと
    を半導体チップに形成した半導体集積回路装置におい
    て、 前記入出力セルを、前記パッドの最小ピッチの2分の1
    の幅を持ち、かつ、前記パッドについて予め定められた
    最大電流を流すことができる最大駆動能力のN分の1
    (Nは2以上の自然数)の能力を持つ複数のブロックに
    より構成した半導体集積回路装置。
  3. 【請求項3】 前記複数のブロックを入出力セルの配置
    方向と直交する方向に配置して入出力セルを構成した請
    求項1又は2に記載の半導体集積回路装置。
  4. 【請求項4】 前記複数のブロックを入出力セルの配置
    方向に配置して入出力セルを構成した請求項1又は2に
    記載の半導体集積回路装置。
JP8159976A 1996-06-20 1996-06-20 半導体集積回路装置 Withdrawn JPH1012738A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8159976A JPH1012738A (ja) 1996-06-20 1996-06-20 半導体集積回路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8159976A JPH1012738A (ja) 1996-06-20 1996-06-20 半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1012738A true JPH1012738A (ja) 1998-01-16

Family

ID=15705293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8159976A Withdrawn JPH1012738A (ja) 1996-06-20 1996-06-20 半導体集積回路装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH1012738A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6446250B1 (en) * 2000-10-02 2002-09-03 Artisan Components, Inc. Input/output cell generator
JP2013089771A (ja) * 2011-10-18 2013-05-13 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6446250B1 (en) * 2000-10-02 2002-09-03 Artisan Components, Inc. Input/output cell generator
JP2013089771A (ja) * 2011-10-18 2013-05-13 Renesas Electronics Corp 半導体集積回路装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100433025B1 (ko) 반도체장치,반도체집적회로장치,플립플롭회로,배타적논리합회로,멀티플렉서및가산기
JPH05308136A (ja) マスタスライス集積回路
JP4510370B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPS59163837A (ja) 半導体集積回路
JPH1012738A (ja) 半導体集積回路装置
JPH07106521A (ja) セルベース設計半導体集積回路装置
KR100226084B1 (ko) 반도체장치
JPH08306791A (ja) 半導体集積回路装置
JP2740374B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPS6112043A (ja) マスタ−スライス型ゲ−トアレイ装置
JP3501880B2 (ja) 半導体集積回路装置の製造方法および半導体ウエハ
JPS60257542A (ja) 半導体集積回路装置
JPS6223618A (ja) 論理集積回路
JPH0786534A (ja) 半導体装置
JPH07130972A (ja) 半導体集積回路装置
JPS6342419B2 (ja)
JPS62112420A (ja) 論理回路
JPH06232377A (ja) 半導体集積回路
JPS5844741A (ja) 半導体集積回路
JPH0821625B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH098227A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0563165A (ja) 半導体装置
JPH06232267A (ja) 半導体集積回路装置の設計方法
JPS6320440U (ja)
JPH0245957A (ja) 半導体集積回路装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20030902