JPH10125719A - ワイヤボンディング用パッドの形成方法 - Google Patents

ワイヤボンディング用パッドの形成方法

Info

Publication number
JPH10125719A
JPH10125719A JP8297386A JP29738696A JPH10125719A JP H10125719 A JPH10125719 A JP H10125719A JP 8297386 A JP8297386 A JP 8297386A JP 29738696 A JP29738696 A JP 29738696A JP H10125719 A JPH10125719 A JP H10125719A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire bonding
green sheet
layer
conductive paste
bonding pad
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8297386A
Other languages
English (en)
Inventor
Ichiro Muraki
伊知郎 村木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Original Assignee
Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc filed Critical Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Priority to JP8297386A priority Critical patent/JPH10125719A/ja
Publication of JPH10125719A publication Critical patent/JPH10125719A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/1012Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers
    • H01L2224/10122Auxiliary members for bump connectors, e.g. spacers being formed on the semiconductor or solid-state body to be connected
    • H01L2224/10125Reinforcing structures
    • H01L2224/10126Bump collar
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15312Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a pin array, e.g. PGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1532Connection portion the connection portion being formed on the die mounting surface of the substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4007Surface contacts, e.g. bumps

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来よりワイヤボンディング用パッド表面を
平坦化するため、グリーンシート上に形成した導体ペー
スト層をプレスして、表面を平坦化し、その後焼成する
方法が採用されていたが、キャビティ内部の階段部の単
位面積当りに形成するワイヤボンディング用パッドの数
が増大してきているため、かなりの圧力をかけても導体
ペースト層が埋設されにくく、多数の導体ペースト層を
グリーンシート内部に埋め込むことが難しくなってきて
いる。 【解決手段】 表面にワイヤボンディング用パッド16
を形成するための導体ペースト層22が形成されたグリ
ーンシート21をプレスして導体ペースト層22をグリ
ーンシート21内に埋設し、続いて作製したグリーンシ
ート積層体を焼成し、セラミック基板11上にワイヤボ
ンディング用導体層26を形成した後、ワイヤボンディ
ング用導体層26にエッチング処理を施して平坦化す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はワイヤボンディング
用パッドの形成方法に関し、より詳細には半導体素子等
を搭載するセラミック配線基板を構成するワイヤボンデ
ィング用パッドの形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、集積回路等が形成された半導体素
子は、該半導体素子を外部環境から保護し、かつマザー
ボードへの実装を容易にする等の目的のため、種々の材
料より構成されたパッケージに収納されている。PGA
(Pin Grid Array)タイプやBGA(Ball Grid Array)
等のパッケージの場合、半導体素子は配線基板に設けら
れたキャビティに収納され、該キャビティがリッドで気
密に封止されて実用に供されている。アルミナ等のセラ
ミックは耐熱性、耐久性、信頼性等に優れるため、前記
配線基板及び前記リッドの材料として好適であり、これ
らセラミックパッケージは現在盛んに使用されている。
【0003】図3(a)はPGAタイプのセラミックパ
ッケージを構成するセラミック配線基板を模式的に示し
た断面図であり、(b)はその平面図である。
【0004】セラミック配線基板30の中央にはキャビ
ティ部12が形成され、その周囲にはリッド(図示せ
ず)で封止する際に用いられるメタライズ層13が形成
されている。また、メタライズ層13の周囲には、多数
の外部接続ピン用パッド14が形成され、この外部接続
ピン用パッド14にマザーボード(図示せず)に接続す
るための外部接続ピン15が固着されている。また、キ
ャビティ部12は通常内部の周辺部分が階段状に構成さ
れており、中間の階段部19にはワイヤボンディング用
パッド36が形成され、底面部分はLSI等の半導体素
子18を載置する半導体素子搭載部17となっている。
【0005】キャビティ部12内の半導体素子搭載部1
7に固着される半導体素子18と、セラミック配線基板
30とは、ワイヤボンディングにより接続されるように
なっており、具体的には、半導体素子18上のパッド
(図示せず)と階段部19に形成されたワイヤボンディ
ング用パッド36とがAu等のワイヤを介して接続され
るようになっている。
【0006】図4は、このワイヤボンディング用パッド
36の一部の近傍を模式的に示した部分拡大斜視図であ
る。
【0007】近年、半導体素子18の高集積化が進行す
るのに伴い、半導体素子18の外部接続用端子の数も増
大してきており、セラミック配線基板30に形成される
ワイヤボンディング用パッド36の数も増大してきてい
る。しかし、ワイヤボンディング用パッド36を形成す
る階段部19の面積を大きく増加させるのは難しいた
め、小さな面積に多数のワイヤボンディング用パッド3
6を形成しなければならず、そのためにはワイヤボンデ
ィング用パッド36の幅及びその間隔を狭く設定するし
かない。従って、形成されるワイヤボンディング用パッ
ド36は、図4に示したように、その幅に対する高さの
比が大きくなり、断面形状が段々と円形、又は楕円形に
近くなってきている。
【0008】しかし、ワイヤとワイヤボンディング用パ
ッド36とを確実に接続するためには、その表面がなる
べく平坦である必要があり、例えば平坦部分の幅が少な
くとも70μm程度以上あることが必要であるとされて
いる。
【0009】この場合、ワイヤボンディング用パッド3
6を含む配線の厚さを薄くして平坦化させる方法も考え
られるが、ワイヤボンディング用パッド36を含む配線
が薄すぎると、断線が発生し易くなる。また、配線の体
積抵抗率が大きくなり、信号の伝送損失の増大等の問題
が発生するため好ましくない。
【0010】そこで、セラミック配線基板用のグリーン
シート上に導体ペースト層を従来と同様の厚さで形成
し、その後、プレス機等で前記導体ペースト層が形成さ
れたグリーンシートに厚さ方向に圧力をかけ、前記導体
ペースト層をグリーンシート内部に埋め込むとともにそ
の表面を平坦化した後、焼成する方法が採用されている
(例えば、特開平6−85101号公報)。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年の
半導体素子の外部接続用端子数の増大に伴い、階段部1
9の単位面積(単位長さ)当りに形成するワイヤボンデ
ィング用パッドの数が益々増大しているため、1本の導
体ペースト層(ワイヤボンディング用パッド形成用)に
かかる圧力は小さくなってしまう。また、導体ペースト
同士の間隔が短いため、圧力によりグリーンシート表面
も低下し易く、かなりの圧力をかけても導体ペースト層
が埋設されにくくなっている。
【0012】従って、導体ペースト層の幅が狭く、厚さ
が厚い導体ペースト層が単位面積当たりに多数形成され
ている場合には、グリーンシートを余り変形させずに多
数の導体ペースト層をグリーンシート内部に埋め込むこ
とが難しいという課題があった。
【0013】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、その幅及び間隔が狭くてもワイヤとの接続性が良好
な、平坦性に優れたワイヤボンディング用パッドをセラ
ミック基板上に多数形成することができるワイヤボンデ
ィング用パッドの形成方法を提供することを目的として
いる。
【0014】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成するために本発明に係るワイヤボンディング用パッ
ドの形成方法は、表面にワイヤボンディング用パッドを
形成するために導体ペーストを印刷、乾燥させた後、プ
レス処理を施し、導体ペースト層が形成されたグリーン
シートを含むグリーンシート積層体を焼成し、セラミッ
ク基板上にワイヤボンディング用導体層を形成した後、
該ワイヤボンディング用導体層にエッチング処理を施し
て平坦化することを特徴としている。
【0015】上記ワイヤボンディング用パッドの形成方
法によれば、エッチング処理という比較的容易な方法
で、安価にその表面の平坦性に優れるワイヤボンディン
グ用パッドを形成することができ、ワイヤとの接続性を
改善することができる。また、上記エッチング処理によ
りエッチングされた部分のワイヤボンディング用パッド
の断面積は小さくなるが、エッチングされた部分の長さ
は全体の配線長さと比較すると短く、また表層をAuメ
ッキ層等で被覆することができるため、抵抗値は殆ど増
大せず、信号の伝送損失の増大を防止することができ
る。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係るワイヤボンデ
ィング用パッドの形成方法の実施の形態を図面に基づい
て説明する。
【0017】図1(a)〜(d)は実施の形態に係るワ
イヤボンディング用パッドの形成方法における工程の一
部を模式的に示した断面図である。
【0018】本実施の形態において、ワイヤボンディン
グ用パッド16を形成する対象となるセラミック配線基
板11の材料は特に限定されるものではないが、具体的
には、例えばアルミナ等の酸化物系セラミック、窒化ア
ルミニウム等の非酸化物系セラミック、ガラスセラミッ
ク等が挙げられる。また、表面にワイヤボンディング用
パッド16を形成するセラミック配線基板11であれ
ば、そのタイプも特に限定されるものではないが、具体
的には、例えばPGAタイプ、BGAタイプ、QFP(Q
uad Flat Package) タイプ、MCM(Multi Tip Module)
タイプ等が挙げられる。以下の説明においては、PGA
タイプのセラミック基板を例にとって説明する。
【0019】まず、図1には示していないが、従来の場
合と同様にセラミック粉末に樹脂(バインダ)、溶剤、
可塑剤等を添加、混合して調製したスラリをドクタブレ
ード法等により成形し、グリーンシート21を作製す
る。次に、このグリーンシート21上にW、Mo等の金
属を含む導体ペーストを印刷して、乾燥させ、ワイヤボ
ンディング用パッド16を形成するための導体ペースト
層22を形成する(図1(a))。なお、図1には示し
ていないが、必要により導体ペースト層22以外の導体
ペースト層も同時に形成し、ビアホール用の貫通孔等も
形成する。また、後工程で積層する他のグリーンシート
21にも同様に導体ペースト層の形成や貫通孔の形成等
を行っておく。
【0020】上記工程により形成される導体ペースト層
22の厚さは、20〜30μm程度であり、その幅は8
0〜150μm程度であり、導体ペースト層22同士の
間隔は、最も狭い部分で40〜60μm程度である。
【0021】次に、プレス処理工程として、平板な金型
等を用いたプレス機で、ワイヤボンディング用パッド1
6を形成するための導体ペースト層22を含む部分に、
グリーンシート21の厚さ方向に圧力をかけ、グリーン
シート21の内部に導体ペースト層22の一部を埋め込
む(図1(b))。従来は、上記したプレス工程により
大部分の導体ペースト層22を埋め込むことができた
が、形成する導体ペースト層22の密度が大きくなるに
従い、大部分の導体ペースト層22をグリーンシート2
1内に埋め込むのが難しくなってきている。上記プレス
処理における圧力は、通常、40〜120kg/cm2
程度が好ましい。プレス処理の圧力が40kg/cm2
未満では、導体ペースト層22を埋め込むのが難しくな
り、後工程のエッチング処理でエッチングにより除去す
る金属の体積が大きくなりすぎ、時間がかかるとともに
エッチング処理後の導体層の断面積が小さくなり、抵抗
値が増大する。他方、プレス処理の圧力が120kg/
cm2 を超えると、グリーンシート21の形状が崩れ易
くなるとともにその厚さも変化するため好ましくない。
グリーンシート21の温度は、グリーンシート21に適
当な柔らかさを与えるため、100〜120℃程度に維
持しておくことが好ましい。
【0022】次に、導体ペースト層22が形成されたグ
リーンシート21と、導体ペースト層の形成等の処理が
施された他のグリーンシート21を積層し、グリーンシ
ート積層体を作製した後、脱脂処理及び焼成処理を施
し、セラミック基板11上にワイヤボンディング用導体
層26を形成する(図1(c))。
【0023】上記工程により形成されるワイヤボンディ
ング用導体層26のセラミック基板11表面からの突出
高さは、5〜10μm程度となっている。
【0024】次に、エッチング処理工程として、このワ
イヤボンディング用導体層26が形成されたセラミック
基板11をエッチング液に浸漬し、ワイヤボンディング
用導体層26の表面近傍をエッチングにより除去して平
坦化する(図1(d))。この際、セラミック基板11
の表面に露出している他の導体層がエッチングされるの
を防止するため、エッチング処理前に他の導体層を含む
部分にマスクフィルムを貼り付けて保護する。
【0025】エッチング処理液は、W、Mo等のワイヤ
ボンディング用導体層26をエッチング処理により平坦
化することができ、セラミック基板11をエッチングし
ないものであれば、いかなる薬品を含む溶液でも構わな
いが、比較的低温で短時間にエッチング処理を行うこと
ができ、セラミック基板11のエッチング等も発生しな
い点からフェリシアン化カリウムと水酸化カリウムを含
む水溶液が好ましい。この水溶液中のフェリシアン化カ
リウムの濃度は50〜100g/リットルが好ましく、
水酸化カリウムの濃度は50〜100g/リットルが好
ましい。
【0026】また、上記エッチング処理におけるエッチ
ング処理液の温度は、安定したエッチング処理を行うた
めに、低温での処理が好ましい。よって温度コントロー
ルの行い易さの面より40℃程度が好ましい。さらに、
エッチング処理の時間は、迅速にエッチング処理を終了
させる観点から30〜60秒程度が好ましい。
【0027】上記エッチング処理により、セラミック基
板11表面からの突出高さが0〜5μm程度で、平坦化
されたワイヤボンディング用パッド16が形成される。
このエッチング処理により、ワイヤボンディング用導体
層26表面の凹凸も除去され、平坦な面が形成されるた
め、ワイヤとの接合がより容易になる。形成されたワイ
ヤボンディング用パッド16の厚さは7〜13μm程度
であり、エッチング前に比べてワイヤボンディング用パ
ッド16の断面積は減少するが、エッチングされるワイ
ヤボンディング用パッド16の長さは全体の配線(セラ
ミック基板11の内部等)に比べて短いため、全体の抵
抗値は殆ど増大しない。また、通常はワイヤボンディン
グ用パッド16の上にAuメッキ被膜を形成するため、
抵抗値の変化は殆ど問題とならない。
【0028】上記エッチング処理により平坦性に優れる
ワイヤボンディング用パッド16が形成されるため、半
導体素子18(図3)上のパッドと、セラミック基板1
1の階段部19に形成されたワイヤボンディング用パッ
ド16(図1)とをワイヤを用いたワイヤボンディング
により容易に接続することができるようになり、ワイヤ
ボンディングの際の接続不良やショートを防止すること
ができる。
【0029】
【実施例】以下、本発明に係るワイヤボンディング用パ
ッドの形成方法の実施例を図面に基づいて説明する。
【0030】(1)エッチング処理 エッチング処理液の温度:40℃ エッチング処理液中の薬品の濃度 実施例1 フェリシアン化カリウム:50g/リットル 水酸化カリウム:50g/リットル 実施例2 フェリシアン化カリウム:100g/リットル 水酸化カリウム:100g/リットル (2) エッチング処理の結果 エッチング処理時間とワイヤボンディング用導体層26
の厚さとの関係を図2にグラフとして示している。
【0031】図2のグラフより明らかなように、セラミ
ック基板11をエッチング処理液に30〜120秒程度
浸漬することにより、ワイヤボンディング用導体層26
の厚さが初めの15μmから5μm程度まで減少してお
り、フェリシアン化カリウム及び水酸化カリウムの濃度
及び処理時間を調節することにより、ワイヤボンディン
グ用導体層26の厚さを一定の範囲内で自由に調節する
ことができることがわかる。すなわち、実施例に係るワ
イヤボンディング用パッドの形成方法によれば、要求に
応じて、一定範囲内でセラミック基板11表面からの突
出高さ(平坦性)が調節されたワイヤボンディング用パ
ッド16を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)〜(d)は本発明の実施の形態に係るワ
イヤボンディング用パッドの形成方法における工程の一
部を模式的に示した断面図である。
【図2】エッチング処理時間とワイヤボンディング用導
体層の厚さとの関係を示したグラフである。
【図3】(a)は従来のセラミック配線基板を模式的に
示した断面図であり、(b)はその平面図である。
【図4】従来のセラミック配線基板におけるワイヤボン
ディング用パッドの一部の近傍を模式的に示した部分拡
大斜視図である。
【符号の説明】
11 セラミック基板 16 ワイヤボンディング用パッド 21 グリーンシート 26 ワイヤボンディング用導体層

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面にワイヤボンディング用パッドを形
    成するために導体ペーストを印刷、乾燥させた後、プレ
    ス処理を施し、導体ペースト層が形成されたグリーンシ
    ートを含むグリーンシート積層体を焼成し、セラミック
    基板上にワイヤボンディング用導体層を形成した後、該
    ワイヤボンディング用導体層にエッチング処理を施して
    平坦化することを特徴とするワイヤボンディング用パッ
    ドの形成方法。
JP8297386A 1996-10-18 1996-10-18 ワイヤボンディング用パッドの形成方法 Pending JPH10125719A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8297386A JPH10125719A (ja) 1996-10-18 1996-10-18 ワイヤボンディング用パッドの形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8297386A JPH10125719A (ja) 1996-10-18 1996-10-18 ワイヤボンディング用パッドの形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10125719A true JPH10125719A (ja) 1998-05-15

Family

ID=17845825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8297386A Pending JPH10125719A (ja) 1996-10-18 1996-10-18 ワイヤボンディング用パッドの形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10125719A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110094469A (ko) * 2010-02-16 2011-08-24 페어차일드코리아반도체 주식회사 파워 모듈 패키지 및 그의 형성방법
WO2011138949A1 (ja) * 2010-05-07 2011-11-10 旭硝子株式会社 素子搭載用基板およびその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110094469A (ko) * 2010-02-16 2011-08-24 페어차일드코리아반도체 주식회사 파워 모듈 패키지 및 그의 형성방법
WO2011138949A1 (ja) * 2010-05-07 2011-11-10 旭硝子株式会社 素子搭載用基板およびその製造方法
JP5857956B2 (ja) * 2010-05-07 2016-02-10 旭硝子株式会社 素子搭載用基板およびその製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4703061B2 (ja) 薄膜回路基板の製造方法およびビア形成基板の形成方法
KR100907508B1 (ko) 패키지 기판 및 그 제조방법
JP2009522767A (ja) 3次元パッケージモジュール、その製造方法及び3次元パッケージモジュールに適用される受動素子の製造方法
JPH06103704B2 (ja) 集積回路パッケージの製造方法、集積回路アセンブリおよびバイアの形成方法
JP4981696B2 (ja) パッケージ
JPH11163207A (ja) 半導体チップ搭載用基板の製造法および半導体装置
KR100620212B1 (ko) 반도체 장치의 전기 전도체 시스템 및 그 제조 방법
JPH10233463A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2003007917A (ja) 回路装置の製造方法
JP3879135B2 (ja) 転写配線支持部材及びそれを使用した半導体パッケージの製造法
JPH10125719A (ja) ワイヤボンディング用パッドの形成方法
JP3529915B2 (ja) リードフレーム部材及びその製造方法
JP2004363351A (ja) 積層型の半導体装置
KR100894247B1 (ko) 양극산화막을 이용한 반도체 패키지 모듈 및 그 제조방법
JP3535102B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPH0439231B2 (ja)
JP3015504B2 (ja) 半導体装置
JP2006294825A (ja) 半導体集積回路装置
JP3503229B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
KR100401143B1 (ko) 반도체 패키지 제조용 히트블럭
JPH08153827A (ja) 半導体用パッケージおよびそれを用いた半導体部品
JPS6293961A (ja) 多層配線回路板
JPS6025910Y2 (ja) 半導体装置
KR100370479B1 (ko) 반도체 패키지의 리드 프레임
JP4521790B2 (ja) 配線板の製造法