JPH0993490A - 赤外線撮像装置 - Google Patents

赤外線撮像装置

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JPH0993490A
JPH0993490A JP7242922A JP24292295A JPH0993490A JP H0993490 A JPH0993490 A JP H0993490A JP 7242922 A JP7242922 A JP 7242922A JP 24292295 A JP24292295 A JP 24292295A JP H0993490 A JPH0993490 A JP H0993490A
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data
array
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JP7242922A
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Inventor
Kazuhiro Hotta
和博 堀田
Kazutoshi Togano
一利 戸叶
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は赤外線撮像装置に関し、少ないメモ
リ、遅延時間及びコストで良質のTDI画像データが得
られる赤外線撮像装置の提供を課題とする。 【解決手段】 スキャナ2の走査方向に対して垂直に素
子配列された複数の光電変換アレイ4を備え、シーン1
の同一部分より得た複数の画素データを積分することに
よりS/Nの改善を図る赤外線撮像装置において、各光
電変換アレイ41〜4m より得た画素データWD1 〜W
m をスキャナに同期した書込画素クロック信号により
複数のデュアルポート型メモリ181 〜18m に夫々記
憶すると共に、該画素データの書込制御に追従して画素
データの読出制御を行い、前記書込画素クロック信号よ
りも低速の読出画素クロック信号により読み出した画素
データRD1 〜RDm に対して積分操作を行う。好まし
くは、デュアルポート型メモリ181 〜18m の各読出
データについて各種の演算を行う信号演算部30を備
え、該信号演算部30は読出画素クロック信号よりも高
速のクロック信号により演算を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は赤外線撮像装置に関
し、更に詳しくはスキャナの走査方向に対して垂直に素
子配列された複数の光電変換アレイを備え、シーンの同
一部分より得た複数の画素データを積分することにより
S/Nの改善を図る赤外線撮像装置に関する。
【0002】この種の赤外線撮像装置では、シーンの同
一部分から放射された赤外線の各検知素子列に結像する
タイミングが、列間隔の走査時間だけずれるため、この
ずれを補正(時間遅延)し、積分するところの所謂TD
I(Time Delay and Integration)処理が行われる。
【0003】
【従来の技術】図9は従来の赤外線撮像装置のブロック
図で、図において1は撮像対象の目標物(シーン)、2
は回転ポリゴンミラー等から成る光学式スキャナ、3は
結像レンズ、100はスキャナの読取部、4は複数のリ
ニア型又は2次元型のCCDアレイ等より成る光電変換
アレイ、51 〜5m はアンプ(AMP)、61 〜6m
A/D変換器(A/D)、200は信号処理部、7はT
DI処理部、7E は偶数フィールド処理用のTDI回路
部、7O は7E と同一構成からなる奇数フィールド処理
用のTDI回路部、81 〜8m は画素データを一時的に
記憶するRAM、9はRAM81 〜8m の読・書制御を
行うメモリ制御部、10はTDI演算部、30はRAM
1 〜8m の読出画素データ又はTDI処理後の画素デ
ータTDISに対して感度バラツキ補正,自動利得制御
(AGC),光学歪み補正、フィルタ、エッジエンハン
ス等の各種画像処理を行う信号演算部、300は撮像し
た映像を表示する表示部である。
【0004】スキャナ2の走査により、ある時点におけ
る目標物1の第1列〜第m列のシーンは光電変換アレイ
4の第1列〜第m列の各受光素子に結像する。その有効
画素期間には、アレイ4の各列より夫々i個の画素信号
を読み出し、これらをA/D変換してRAM81 〜8m
に順次書き込む。次の時点では、スキャナ2の走査によ
り目標物1に対する視野が僅かにずれると共に、その時
の第1列〜第m列のシーンがアレイ4の第1列〜第m列
に結像する。その有効画素期間には、アレイ4の各列よ
り夫々i個の画素信号を読み出し、これらをA/D変換
してRAM81 〜8m に順次書き込む。
【0005】この場合に、TDI回路部7E では(1/
60)Sec周期で発生する走査同期クロック信号に同
期してRAM81 〜8m への画素データWD1 〜WDm
の書込制御とRAM81 〜8m からの画素データRD1
〜RDm の読出制御とを交互に繰り返す。一方、TDI
回路部7O ではRAM81 〜8m に対する読/書制御の
位相がTDI回路部7E とは丁度逆になっている。従っ
て、出力には連続した画素データTDISが得られる。
以下、一例の動作を具体的に説明する。
【0006】図10は従来の赤外線撮像装置の動作を説
明する図(1)である。まずTDI回路部7O の動作に
着目し、説明の簡単のためCCDアレイ4の列数m=3
とする。書込サイクルでは、不図示の書込カウンタの上
位(列)アドレスWAは有効画素期間信号に同期してW
A=C1,C2,…,Clと上昇する。この書込アドレ
スWAはRAM81 〜RAM83 に共通に加えられる。
【0007】WA=C1の時点では、RAM81 は目標
物(シーン)1の第1列のシーンデータWD1 =11〜
I1を受け取り、これらをWA=C1とするその下位
(画素)アドレスR1〜Riに順次書き込む。一方、こ
の時点のRAM82 ,RAM8 3 は、スキャナ2が未だ
シーンの視野外を走査しているため、有効なシーンデー
タWD2 ,WD3 を受け取ることができない。従って、
この時点のRAM82 ,RAM83 はWA=C1とする
その下位アドレスR1〜Riに無効(視野外)データ*
を順次書き込む。
【0008】WA=C2の時点では、RAM81 は目標
物1の第2列のシーンデータWD1=12〜I2をWA
=C2に書き込み、RAM82 は第1列のシーンデータ
WD 2 =11〜I1をWA=C2に書き込む。しかし、
RAM83 はWA=C2に無効データ*を書き込む。W
A=C3の時点では、RAM81 は目標物1の第3列の
シーンデータWD1=13〜I3をWA=C3に書き込
み、RAM82 は第2列のシーンデータWD 2 =12〜
I2をWA=C3に書き込み、そして、RAM83 は第
1列のシーンデータWD3 =11〜I1をWA=C3に
書き込む。以下、同様にして進み、WA=Clで書込サ
イクルを終了する。
【0009】続く読出サイクルでは、RAM81 〜RA
M83 に夫々異なる位相の読出アドレスRA1 〜RA3
を加える。即ち、最初の読出タイミング(即ち、有効画
素期間)では、RAM81 にRA 1 =C1、RAM82
にRA2 =C2、及びRAM83 にRA3 =C3を夫々
加え、RAM81 〜83 から第1列のシーンデータRD
1 ,RD2 ,RD3 =11〜I1を順次読み出す。TD
I演算部10は、書込側と同一の画素クロック信号に同
期して画素毎に(RD1 +RD2 +RD3 )/3のTD
I演算を行い、これによりS/Nが√(3)倍だけ改善
された第1列の画素データTDISを生成する。
【0010】次の有効画素期間には、RAM81 にRA
1 =C2、RAM82 にRA2 =C3、及びRAM83
にRA3 =C4を夫々加え、RAM81 〜83 から第2
列のシーンデータRD1 ,RD2 ,RD3 =12〜I2
を順次読み出し、第2列の画素データTDISを生成す
る。以下、同様にして進み、第j列の画素データTDI
Sを生成すると、読出サイクルを終了する。TDI回路
部7E の動作は上記と逆の位相で進行する。
【0011】上記の如く、従来の赤外線撮像装置では、
2面のTDI回路部7E ,7O を備え、夫々は1フィー
ルドデータの書込サイクルと読出サイクルとを交互に行
うものであった。しかし、上記従来方式によると、1フ
ィールドデータの書込からそのTDIデータの生成まで
に1フィールド分(この例では1/60Sec)の時間
遅延を生じ、このために画像のリアルタイム性が損なわ
れていた。
【0012】また、1フィールド分のメモリが2面分必
要となり、ハードウェア規模が大きくなる等の問題を生
じていた。図11は従来の赤外線撮像装置の動作を説明
する図(2)である。スキャナ側において、走査1周期
(1/60 Sec) の間には一つの有効フレーム区間AFが存
在し、該有効フレーム区間AFの間には多数(例えばJ
個)の有効画素区間AGが繰り返し存在する。更に、こ
の1有効フレーム区間AFの間には多数(例えばi個)
の画素クロック信号が発生する。
【0013】この場合に、スキャナ側の有効フレーム区
間AFは一般にその周期(1/60 Sec) の80%程度に選
ばれ、また有効画素区間AGは一般にその周期TSの9
0%程度に選ばれる。挿入図(a)にはこれらの関係を
空間的に表す。一方、信号処理側において、従来は、R
AM81 〜83 の各記憶データをスキャナ(書込)側と
同一の画素クロック信号により読み出していた。従っ
て、信号処理側の有効画素区間AGはスキャナ側のそれ
と同一である。挿入図(b)はこれらの関係を空間的に
表している。有効フレーム区間AF及び有効画素区間A
Gは空間的には広がっているが、時間的にはスキャナ側
のそれと同一である。
【0014】しかるに、この種の装置では、この有効画
素区間AGの間に、上記のTDI演算以外にも、RAM
1 〜83 の各読出データ又はTDI処理後の画素デー
タに対して感度バラツキの補正,自動利得制御(AG
C),光学歪みの補正,フィルタ,エッジエンハンス等
の各種画像処理を行う。しかし、従来は、RAM81
3 の各記憶データをスキャナ側と同一の画素クロック
信号により読み出すため、1画素当たりの処理時間が短
く、このために従来の信号演算部30にはかなりの高速
性が要求された。このことは装置の大幅なコスト増につ
ながる。
【0015】近年、赤外線撮像装置の解像度(有効画素
数)が増すに伴い、この問題の解決は不可欠の状況とな
っている。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】上記の如く、従来の赤
外線撮像装置では、画像のリアルタイム性が損なわれ
る、画像メモリの容量が大きくなる、演算回路部に超高
速性が要求される、等の諸問題があった。本発明の目的
は、少ないメモリ、遅延時間及びコストで良質のTDI
画像データが得られる赤外線撮像装置を提供することに
ある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記の課題は例えば図1
の構成により解決される。即ち、本発明(1)の赤外線
撮像装置は、スキャナ2の走査方向に対して垂直に素子
配列された複数の光電変換アレイ4を備え、シーン1の
同一部分より得た複数の画素データを積分することによ
りS/Nの改善を図る赤外線撮像装置において、各光電
変換アレイ41〜4m より得た画素データWD1 〜WD
m をスキャナに同期した書込画素クロック信号により複
数のデュアルポート型メモリ181 〜18m に夫々記憶
すると共に、該画素データの書込制御に追従して画素デ
ータの読出制御を行い、前記書込画素クロック信号より
も低速の読出画素クロック信号により読み出した画素デ
ータRD1 〜RDm に対して積分操作を行うものであ
る。
【0018】なお、図1において、図9と同一符号は同
一又は相当部分を示し、17はTDI処理部、181
18m はデュアルポート型メモリ、19はメモリ制御
部、50はクロック発生器(CG)、51は分周器であ
る。本発明(1)によれば、光電変換アレイ41 〜4m
で得た画素データWD1 〜WDm を複数のデュアルポー
ト型メモリ181 〜18m に夫々記憶するので、該画素
データWD1 〜WDm の書込制御に追従(一部重複)し
て画素データRD1〜RDm の読出制御を開始できる。
従って、出力データTDISの遅延時間を、従来の1フ
ィールド分から、スキャナ2の走査(m+1)列分へと
大幅に短縮でき、画像のリアルタイム性が改善される。
【0019】また、デュアルポート型メモリ181 〜1
m のメモリ容量は最大でも夫々1フィールド分あれば
足り、もってメモリ容量が大幅に削減される。図2に本
発明(1)による赤外線撮像装置の一例の動作タイミン
グチャートを示す。スキャナ側の動作は上記図11で述
べた従来のものと同一で良い。即ち、スキャナ側の有効
フレーム区間AFはその周期(1/60 Sec) の80%程度
に選ばれ、かつ有効画素区間AGはその周期TSの90
%程度に選ばれている。因みに、面積(AF×AG)が
スキャン1画面(時間では1/60 Sec) に占める割合は7
0〜80%程度である。
【0020】信号処理側において、本発明(1)におい
ては、デュアルポート型メモリ18 1 〜18m の各記憶
データを書込画素クロック信号よりも低速の読出画素ク
ロック信号により読み出す。従って、1画素当たりの処
理時間が長くなり、この間に感度バラツキの補正,自動
利得制御(AGC),光学歪みの補正,フィルタ,エッ
ジエンハンス等の各種の複雑な画像演算処理を余裕をも
って行える。
【0021】この場合に、信号処理側の有効画素区間A
Gはスキャナ側のそれよりも矢印a側に延びるが、一画
面全体で考えると、次の有効フレーム区間AFの開始ま
でに演算処理を終えていれば、該演算による遅延の問題
は生じない。その結果、従来はスキャナの周期(1/60 S
ec) の70〜80%程度しか演算に利用していなかった
ものを、本発明(1)によれば、該周期(1/60 Sec) の
95%程度にまで演算に利用できる。
【0022】好ましくは、本発明(2)においては、デ
ュアルポート型メモリ181 〜18 m の各読出データに
ついて各種の演算を行う信号演算部30を備え、該信号
演算部30は読出画素クロック信号よりも高速のクロッ
ク信号CK2により演算を行う。この読出画素クロック
信号の周期は比較的に長いので、この間に各種複雑な演
算を余裕をもって行える。
【0023】また好ましくは、本発明(3)において
は、例えば図3に示す如く、書込カウンタ23の出力W
ACに基づき異なる位相の各書込アドレスWA1 〜WA
m を生成する書込アドレス変換部201 〜20m を備
え、該書込アドレス変換部の各書込アドレスWA1 〜W
m により各デュアルポート型メモリの同一のアドレス
に書き込まれたシーンの同一部分の各画素データを共通
の読出アドレスRAにより同時に読み出す。
【0024】また好ましくは、本発明(4)において
は、例えば図5に示す如く、読出カウンタ25の出力に
基づき異なる位相の各読出アドレスRA1 〜RAm を生
成する読出アドレス変換部211 〜21m を備え、各ア
レイ41 〜4m の検出順に各デュアルポート型メモリ1
1 〜18m の異なるアドレスに書き込まれたシーンの
同一部分の各画素データを前記読出アドレス変換部の各
読出アドレスRA1 〜RAm により同時に読み出す。
【0025】また好ましくは、本発明(5)において
は、カウンタ23/25のカウント周期に対して生成ア
ドレスWA1 〜WAm /RA1 〜RAm の繰り返し周期
が短いものである。一般に、デュアルポート型メモリの
記憶領域は巡回的に使用できるので、例えばカウンタ2
3/25のカウント周期を「1,2,…,100」→
「1,2,…,100」とする場合に、これに対する生
成アドレスWA1 〜WAm /RA1 〜RAm の繰り返し
周期は、読/書の追越しが生じない範囲内で、例えば
「1,2,…,50」→「1,2,…,50」と短くで
きる。従って、メモリ容量は更に大幅に削減される。
【0026】また好ましくは、本発明(6)において
は、例えば図7に示す如く、1アレイ分の画素データの
読出アドレスRARを変換するアレイ読出変換部27を
備え、各アレイ41 〜4m のデータ読出順に従いデュア
ルポート型メモリ181 〜18 m に書き込まれた画素デ
ータを前記アレイ読出変換部27の読出アドレスRA
R’に従い所定の順序で読み出す。
【0027】従って、各アレイ41 〜4m のデータ読出
順(即ち、デュアルポート型メモリ181 〜18m への
データ書込順)に係わらず、デュアルポート型メモリ1
1〜18m からは所望の順序で画素データを読み出せ
る。また好ましくは、本発明(7)においては、例えば
図8に示す如く、1アレイ分の画素データの書込アドレ
スWARを変換するアレイ書込変換部28を備え、各ア
レイ41 〜4m のデータ読出順に従い発生した画素デー
タを前記アレイ書込変換部28の書込アドレスWAR’
に従いデュアルポート型メモリ181 〜18 m に所定の
順序で書き込む。
【0028】従って、各アレイ41 〜4m のデータ読出
順に係わらず、デュアルポート型メモリ181 〜18m
には所望の順序で画素データを書き込める。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、添付図面に従って本発明に
よる実施の形態を詳細に説明する。なお、全図を通して
同一符号は同一又は相当部分を示すものとする。図3は
第1の実施の形態によるTDI処理部のブロック図で、
デュアルポートRAM181 〜18m へのデータ書込位
相が異なる場合を示している。
【0030】図において、17はTDI処理部、181
〜18m はデュアルポートRAM(DPRAM)、19
はメモリ制御部、201 〜20m は書込アドレス変換用
のROM、21は読出アドレス変換用のROM、22は
書込画素クロック信号により下位(画素)アドレスWA
Rを生成する書込カウンタ(CTR)、23は有効画素
期間信号により上位(列)アドレスWACを生成する書
込カウンタ(CTR)、24は読出画素クロック信号に
より下位(画素)アドレスRARを生成する読出カウン
タ(CTR)、25は有効画素期間信号により上位
(列)アドレスRACを生成する読出カウンタ(CT
R)、26は走査同期クロック信号を所定時間位相遅延
させるための遅延回路(DL)である。
【0031】メモリ制御部19において、データ書込制
御側のCTR22,23は1/60Secに1回の割合
で発生する走査同期クロック信号により毎回リセットさ
れる。CTR22は、その後の書込画素クロック信号に
同期してカウントアップし、シーン1列分の書込画素数
を計数するとリセットする動作を繰り返す。有効画素期
間信号は有効フレーム区間内におけるシーン1列の所定
のタイミングに同期して発生する。CTR23は、この
有効画素期間信号によりカウントアップし、シーンj列
分の有効画素期間信号を計数すると、走査同期クロック
信号によりリセットされる。
【0032】データ読出制御側のCTR24,25は遅
延回路26の出力の遅延走査同期クロック信号により毎
回リセットされる。CTR24はその後の読出画素クロ
ック信号に同期してカウントアップし、シーン1列分の
読出画素数を計数するとリセットする動作を繰り返す。
CTR25は有効画素期間信号によりカウントアップ
し、シーンj列分の有効画素期間信号を計数すると遅延
走査同期クロック信号によりリセットされる。
【0033】図4は第1の実施の形態によるTDI処理
部の動作を説明する図で、説明の簡単のため、CCDア
レイ4の列数m=3とする。ROM201 は上位CTR
23のカウント出力WAC=1〜j(又は0〜j−1で
考えても良い)をDPRAM181 の上位書込アドレス
WA1 =C1,C2,…,Cjに変換し、またROM2
2 は同WAC=1〜jをDPRAM182の上位書込
アドレスWA2 =Cj,C1,…,Cj-1に変換し、そ
して、ROM203 は同WAC=1〜jをDPRAM1
3 の上位書込アドレスWA3 =Cj -1,Cj,C1,
…,Cj-2に変換する。即ち、これらの書込アドレスW
1 〜WA3 は位相が1有効画素期間信号分づつずれて
いる。下位CTR22のカウント出力WARは下位書込
アドレスを構成し、これらを合成した各上位・下位書込
アドレスはDPRAM181 〜18m に別々に加えられ
る。
【0034】WAC=1の時点では、DPRAM181
は目標物1の第1列のシーンデータWD1 =11〜I1
を受け取り、これらをWA1 =C1とするその下位アド
レスR1〜Riに順次書き込む。一方、この時点のDP
RAM182 ,183 は、スキャナ2が未だシーンの視
野外を走査しているため、有効なシーンデータWD2
WD3 を受け取ることができない。従って、DPRAM
182 はWA2 =Cjとするその下位アドレスR1〜R
iに、またDPRAM183 はWA3 =Cj-1とするそ
の下位アドレスR1〜Riに夫々無効データ*を順次書
き込む。
【0035】WAC=2の時点では、DPRAM181
は目標物1の第2列のシーンデータWD1 =12〜I2
をWA1 =C2に書き込み、DPRAM182 は第1列
のシーンデータWD2 =11〜I1をWA2 =C1に書
き込む。しかし、DPRAM183 はWA3 =Cjに無
効データ*を書き込む。WAC=3の時点では、DPR
AM181 は目標物1の第3列のシーンデータWD1
13〜I3をWA1 =C3に書き込み、DPRAM18
2 は第2列のシーンデータWD2 =12〜I2をWA2
=C2に書き込み、そして、DPRAM183 は第1列
のシーンデータWD3 =11〜I1をWA3 =C1に書
き込む。以下、同様にして進み、WAC=jの時点の処
理を終了するとWAC=1に戻り、上記の書込動作を繰
り返す。
【0036】上記の書込サイクルが最初のWAC=4の
時点になると、DPRAM181 〜183 では第1列の
シーンデータWD1 ,WD2 ,WD3 =11〜I1が出
揃う。そこで、この例ではこの時点より読出サイクルを
開始する。その際には、ROM21は上位CTR25の
カウント出力RAC=1〜jをDPRAM181 〜18
m の上位読出アドレスRA=C1,C2,…,Cjに変
換する。また下位CTR24のカウント出力RARは下
位読出アドレスを構成し、これらを合成した上位・下位
読出アドレスはDPRAM181 〜18m に共通に加え
られる。
【0037】最初の読出タイミングでは、DPRAM1
1 〜183 の各上位RA=C1とするその下位アドレ
スR1〜Riより目標物1の第1列のシーンデータRD
1 〜RD3 =11〜I1を順次読み出す。TDI演算部
10は、読出画素クロック信号に同期して画素毎に(R
1 +RD2 +RD3 )/3のTDI演算を行い、S/
Nが√(3)倍だけ改善された第1列のシーンの画素デ
ータTDISを生成する。
【0038】次の有効画素期間には、DPRAM181
〜183 の各RA=C2より第2列のシーンデータRD
1 〜RD3 =12〜I2を順次読み出し、同様にして第
2列のシーンの画素データTDISを生成する。以下、
同様にして進み、第j列の画素データTDISを生成す
ると、引き続き次の読出サイクルを実行する。なお、こ
の例ではROM21の入出力のアドレス情報は同一で良
いので、ROM21を省略し、又はROM21の代わり
にラッチ回路等を使用しても良い。またデータ書込側で
も、同様の理由で、ROM201 を省略し、又はROM
201の代わりにラッチ回路等を使用しても良い。
【0039】また、この例ではDPRAM181 〜18
3 が1シーンのj列(例えば600列)分の全画素デー
タを記憶可能になっているが、これに限らない。この例
のDPRAM181 〜183 は少なくとも4列分(一般
にはm+1列分)の記憶容量があれば良く、これを巡回
的に使用することで、上記と同様の動作を実現できる。
この場合のROM201 〜20m 及びROM21はCT
R23,25の長いカウント周期(1〜j)をそれより
も短いアドレス周期(例えばC1〜C4,C1〜C4,
…)に変換するために必要である。
【0040】但し、本実施の形態では、読出画素クロッ
ク信号が書込画素クロック信号よりも低速であるので、
1循した書込処理が読出処理を追い越さない範囲内でD
PRAM181 〜183 の記憶容量を決定する必要があ
る。以上は、以下の各実施の形態についても同様であ
る。図5は第2の実施の形態によるTDI処理部のブロ
ック図で、デュアルポートRAM181 〜18m からの
データ読出位相が異なる場合を示している。
【0041】図において、20は書込アドレス変換用の
ROM、211 〜21m は読出アドレス変換用のROM
である。上記同様にして説明の簡単のためCCDアレイ
4の列数m=3とする。ROM20は上位書込CTR2
3のカウント出力WAC=1〜jをDPRAM181
183 の上位書込アドレスWA=C1〜Cjに変換す
る。また下位書込CTR22のカウント出力WAR=1
〜iは下位書込アドレスWARを構成し、これらを合成
した上位・下位の書込アドレスはDPRAM181 〜1
m に共通に加えられる。
【0042】ROM211 は上位読出CTR25のカウ
ント出力RAC=1〜jをDPRAM181 の上位読出
アドレスRA1 =C1,C2,…,Cjに変換し、また
ROM212 は同RAC=1〜jをDPRAM182
上位読出アドレスRA2 =C2,C3,…,Cj,C1
変換し、そして、ROM213 は同RAC=1〜jをD
PRAM183 の上位読出アドレスRA3 =C3,C
4,…,Cj,C1,C2に変換する。また下位読出C
TR24のカウント出力RARは下位読出アドレスを構
成し、これらを合成した上位・下位の各読出アドレスは
DPRAM181〜18m に別々に加えられる。
【0043】図6は第2の実施の形態によるTDI処理
部の動作を説明する図である。WAC=1の時点では、
DPRAM181 は目標物1の第1列のシーンデータW
1 =11〜I1を受け取り、これらをWA=C1とす
るその下位アドレスR1〜Riに順次書き込む。一方、
この時点のDPRAM182 ,183 はWA=C1とす
るその下位アドレスR1〜Riに夫々無効データ*を順
次書き込む。
【0044】WAC=2の時点では、DPRAM181
は第2列のシーンデータWD1 =12〜I2をWA=C
2に書き込み、DPRAM182 は第1列のシーンデー
タWD2 =11〜I1をWA=C2に書き込む。しか
し、DPRAM183 はWA=C2に無効データ*を書
き込む。WAC=3の時点では、DPRAM181 は第
3列のシーンデータWD1 =13〜I3をWA=C3に
書き込み、DPRAM182 は第2列のシーンデータW
2 =12〜I2をWA=C3に書き込み、そして、D
PRAM183 は第1列のシーンデータWD3 =11〜
I1をWA=C3に書き込む。以下、同様にして進み、
WAC=jの書込処理を終了すると、WAC=1に戻
り、上記の書込動作を繰り返す。
【0045】上記の書込サイクルが最初のWAC=4の
時点になると、DPRAM181 〜183 では第1列の
シーンデータWD1 ,WD2 ,WD3 =11〜I1が出
揃う。そこで、この例ではこの時点より読出サイクルを
開始する。その際には、ROM211 は上位読出CTR
25のカウント出力RAC=1〜jをDPRAM181
の上位読出アドレスRA1 =C1,C2,…,Cjに変
換し、またROM212 は同RAC=1〜jをDPRA
M182 の上位読出アドレスRA2 =C2,C3,…,
Cj,C1に変換する。そして、ROM213 は同RA
C=1〜jをDPRAM183 の上位読出アドレスRA
3 =C3,C4,…,Cj,C1,C2に変換する。
【0046】最初の読出タイミングでは、DPRAM1
1 〜183 の各読出アドレスRA 1 =C1,RA2
C2,RA3 =C3より第1列のシーンデータRD1
RD 3 =11〜I1を夫々読み出す。TDI演算部10
は読出画素クロック信号に同期して画素毎に(RD1
RD2 +RD3 )/3のTDI演算を行い、S/Nが√
(3)倍だけ改善された第1列の画素データTDISを
生成する。
【0047】次の有効画素期間には、DPRAM181
〜183 のRA1 =C2,RA2 =C3,RA3 =C4
より第2列のシーンデータRD1 〜RD3 =12〜I2
を夫々読み出し、上記と同様にして第2列の画素データ
TDISを生成する。以下、同様にして進み、第j列の
画素データTDISを生成すると、引き続き次の読出サ
イクルを実行する。
【0048】図7は第3の実施の形態によるTDI処理
部のブロック図で、図3の第1の実施の形態と異なる点
は読出側の下位アドレスにアドレス変換用のROM27
を備えたことにある。この例のCCDアレイ4は1列当
たり例えば496個の素子を有しており、まず上半分の
248個の撮像信号はアレイの上方向にシフトアウトさ
れ、しかる後、下半分の248個の撮像信号はアレイの
下方向にシフトアウトされる。
【0049】しかし、出力のシーン信号TDISについ
ては、例えば標準のTVフォーマットに従うような、走
査方向が1方向に統一されたシーン信号TDISとした
い。そこで、この場合のROM27は下位読出CTR2
4のカウント信号RAR=1〜248についてはこれら
を下位アドレスRAR’=R1〜R248に変換する。
また、カウント信号RAR=249〜496については
これらを下位アドレスRAR’=R496〜R249に
変換する。従って、DPRAM181 〜18 m からはT
Vフォーマットに従う順序でシーンデータが読み出され
る。
【0050】なお、CCDアレイ4の上半分と下半分と
を同時に読み出しても良い。この場合はスイッチSW1
を高速に切替え、上半分の画素データと下半分の画素デ
ータとを交互に取り込む。この場合の書込アドレスは飛
び飛びになるが、ROM27でその逆変換を行えば、D
PRAM181 〜18m からはTVフォーマットに従う
順序でシーンデータが読み出される。
【0051】また、ROM27に代えて、同様の機能を
実現する複数のROMを書込側のROM201 〜20m
に並列に設けても良い。この場合は、アレイ4の列毎に
書込アドレスを変換できる。従って、この場合のアレイ
4の各列は、受光領域の分割方法及び画素信号の読出方
向が列毎にまちまちであっても良い。以上の考え方は、
以下の実施の形態についても同様である。
【0052】図8は第4の実施の形態によるTDI処理
部のブロック図で、図5の第2の実施の形態と異なる点
は書込側の下位アドレスにアドレス変換用のROM28
を備えたことにある。ROM28は下位書込CTR22
のカウント信号WAR=1〜248についてはこれらを
下位アドレスWAR’=R1〜R248に変換する。ま
た、カウント信号WAR=249〜496についてはこ
れらを下位アドレスWAR’=R496〜R249に変
換する。従って、DPRAM181 〜18m にはTVフ
ォーマットに従う順序でシーンデータが書き込まれる。
【0053】なお、上記各実施の形態ではDPRAM1
8の書込アドレスWA又は読出アドレスRAが複数のD
PRAM181 〜18m について共通になる場合を述べ
たがこれに限らない。複数のDPRAM181 〜18m
に対する書込アドレスWA1〜WAm 及び読出アドレス
RA1 〜RAm が夫々独立に制御されるように構成して
も良い。
【0054】また、上記各実施の形態では画像メモリに
DPRAM18を使用したが、メモリをオーバラップし
てアクセスできるものであればどのような画像メモリ
(例えばFIFO型バッファ)でも良い。また、本発明
は所謂インタレース方式の画像処理にも適用できること
言うまでもない。
【0055】また、上記本発明に好適なる複数の実施の
形態を述べたが、本発明思想を逸脱しない範囲内で、構
成、制御及び組合せの様々な変更が行えることは言うま
でも無い。
【0056】
【発明の効果】以上述べた如く本発明の赤外線撮像装置
は、上記構成であるので、少ないメモリ、遅延時間及び
コストで良質のTDI画像データが得られる。従って、
画像データのリアルタイム性が向上し、回路の小型化、
ローコスト化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の原理を説明する図(1)であ
る。
【図2】図2は本発明の原理を説明する図(2)であ
る。
【図3】図3は第1の実施の形態によるTDI処理部の
ブロック図である。
【図4】図4は第1の実施の形態によるTDI処理部の
動作を説明する図である。
【図5】図5は第2の実施の形態によるTDI処理部の
ブロック図である。
【図6】図6は第2の実施の形態によるTDI処理部の
動作を説明する図である。
【図7】図7は第3の実施の形態によるTDI処理部の
ブロック図である。
【図8】図8は第4の実施の形態によるTDI処理部の
ブロック図である。
【図9】図9は従来の赤外線撮像装置のブロック図であ
る。
【図10】図10は従来の赤外線撮像装置の動作を説明
する図(1)である。
【図11】図11は従来の赤外線撮像装置の動作を説明
する図(2)である。
【符号の説明】
1 目標物 2 光学式スキャナ 3 結像レンズ 4 光電変換アレイ 51 〜5m アンプ 61 〜6m A/D変換器 10 TDI演算部 17 TDI処理部 181 〜18m デュアルポートRAM 19 メモリ制御部 30 信号演算部 40,50 クロック発生器 51 分周器 100 読取部 200 信号処理部 300 表示部

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スキャナの走査方向に対して垂直に素子
    配列された複数の光電変換アレイを備え、シーンの同一
    部分より得た複数の画素データを積分することによりS
    /Nの改善を図る赤外線撮像装置において、 各光電変換アレイより得た画素データをスキャナに同期
    した書込画素クロック信号により複数のデュアルポート
    型メモリに夫々記憶すると共に、該画素データの書込制
    御に追従して画素データの読出制御を行い、前記書込画
    素クロック信号よりも低速の読出画素クロック信号によ
    り読み出した画素データに対して積分操作を行うことを
    特徴とする赤外線撮像装置。
  2. 【請求項2】 デュアルポート型メモリの各読出データ
    について各種の演算を行う信号演算部を備え、該信号演
    算部は読出画素クロック信号よりも高速のクロック信号
    により演算を行うことを特徴とする請求項1の赤外線撮
    像装置。
  3. 【請求項3】 書込カウンタの出力に基づき異なる位相
    の各書込アドレスを生成する書込アドレス変換部を備
    え、該書込アドレス変換部の各書込アドレスにより各デ
    ュアルポート型メモリの同一のアドレスに書き込まれた
    シーンの同一部分の各画素データを共通の読出アドレス
    により同時に読み出すことを特徴とする請求項1の赤外
    線撮像装置。
  4. 【請求項4】 読出カウンタの出力に基づき異なる位相
    の各読出アドレスを生成する読出アドレス変換部を備
    え、各アレイの検出順に各デュアルポート型メモリの異
    なるアドレスに書き込まれたシーンの同一部分の各画素
    データを前記読出アドレス変換部の各読出アドレスによ
    り同時に読み出すことを特徴とする請求項1の赤外線撮
    像装置。
  5. 【請求項5】 カウンタのカウント周期に対して生成ア
    ドレスの繰り返し周期が短いことを特徴とする請求項3
    又は4の赤外線撮像装置。
  6. 【請求項6】 1アレイ分の画素データの読出アドレス
    を変換するアレイ読出変換部を備え、アレイのデータ読
    出順に従いデュアルポート型メモリに書き込まれた画素
    データを前記アレイ読出変換部の読出アドレスに従い所
    定の順序で読み出すことを特徴とする請求項3又は4の
    赤外線撮像装置。
  7. 【請求項7】 1アレイ分の画素データの書込アドレス
    を変換するアレイ書込変換部を備え、アレイのデータ読
    出順に従い発生した画素データを前記アレイ書込変換部
    の書込アドレスに従いデュアルポート型メモリに所定の
    順序で書き込むことを特徴とする請求項3又は4の赤外
    線撮像装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0986247A1 (en) * 1998-09-02 2000-03-15 Tokyo Seimitsu Co.,Ltd. Image sensor
WO2015174761A1 (ko) * 2014-05-15 2015-11-19 주식회사 뷰웍스 Tdi 라인 이미지 센서
WO2015174762A1 (ko) * 2014-05-15 2015-11-19 주식회사 뷰웍스 양방향 tdi 라인 이미지 센서

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US10015418B2 (en) 2014-05-15 2018-07-03 Vieworks Co., Ltd. TDI line image sensor including source follower amplifiers
US11212474B2 (en) 2014-05-15 2021-12-28 Vieworks Co., Ltd. Bidirectional TDI line image sensor

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