JPH097934A - 基板処理用流体供給装置 - Google Patents

基板処理用流体供給装置

Info

Publication number
JPH097934A
JPH097934A JP7176720A JP17672095A JPH097934A JP H097934 A JPH097934 A JP H097934A JP 7176720 A JP7176720 A JP 7176720A JP 17672095 A JP17672095 A JP 17672095A JP H097934 A JPH097934 A JP H097934A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
liquid
processing fluid
fluid supply
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7176720A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3425826B2 (ja
Inventor
Masami Otani
正美 大谷
Tadashi Sasaki
忠司 佐々木
Akihiko Morita
彰彦 森田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP17672095A priority Critical patent/JP3425826B2/ja
Priority to KR1019960022081A priority patent/KR100210965B1/ko
Publication of JPH097934A publication Critical patent/JPH097934A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3425826B2 publication Critical patent/JP3425826B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 処理流体の移送中において、気化した処理液
が結露によって液化することを防止する。 【構成】 基板Wの表面を処理する処理液を貯留する液
溜容器12にキャリアガスの導入管13を接続するとと
もに、基板Wに処理流体を供給する整流板10と液溜容
器12とを移送管14を介して接続し、キャリアガスに
処理液を気化混合した処理流体を基板Wに供給するよう
に構成し、液溜容器12内に熱交換コイル21を設け、
その熱交換コイル21に、クリーンルーム内の温度より
も低い所定温度の恒温水を流し、移送管14内を流動す
る処理流体の温度が液溜容器12側よりも高くなるよう
に調節する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウエハ、フォト
マスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス基板、
光ディスク用の基板等の基板に、キャリアガスに処理液
を気化混合した処理流体を供給するとか、あるいは、洗
浄液に炭酸ガスを溶解した処理流体を供給したりするた
めの基板処理用流体供給装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の基板処理用流体供給装置として
は、例えば、フォトレジストの基板への密着性を向上す
るために、有機クロルシラン、あるいは、ヘキサメチル
ジシラザン(以下「HMDS」と記す)などの処理液を
キャリアガスに気化混合させ、この処理流体を、処理室
内に装填されている基板の表面に供給するものがあっ
た。
【0003】また、従来の基板処理用流体供給装置とし
て、洗浄液の比抵抗を下げることにより基板表面での静
電気発生を防止して洗浄性を向上するために、純水など
の洗浄液に炭酸ガスを溶解し、その洗浄液を、処理室内
に装填されている基板の表面に供給するものがあった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
基板処理用流体供給装置の場合、それぞれ、以下に述べ
るような問題がある。前者の場合、処理流体の温度が移
送中に下がると、気化した処理液が結露して液化し、処
理流体が基板の一部箇所に集中して供給されて処理ムラ
を生じるなど、基板表面全体に均一に供給できない欠点
があった。
【0005】後者の場合、処理液の温度が移送中に上が
ると、溶解していた炭酸ガスが洗浄液中で気泡化し、洗
浄液の比抵抗値が所望の値から変わったり、流路中のフ
ィルター中等において炭酸ガスの気泡が洗浄液圧送のた
めの圧力を吸収し、洗浄液を供給しづらくなる欠点があ
った。
【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであって、基板に対して流体を所望の状態で供給
できる基板処理用流体供給装置を供給することを目的と
する。特に、請求項1に係る発明の基板処理用流体供給
装置は、処理流体の移送中において、気化した処理液が
結露によって液化することを防止できるようにすること
を目的とし、また、請求項2に係る発明の基板処理用流
体供給装置は、結露を簡単な構成で防止できるようにす
ることを目的とする。そして、請求項3に係る発明の基
板処理用流体供給装置は、処理流体の移送中において、
炭酸ガスが気泡化することを防止できるようにすること
を目的とし、また、請求項4に係る発明の基板処理用流
体供給装置は、炭酸ガスの気泡化を簡単な構成で防止で
きるようにすることを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明は、
上述のような目的を達成するために、基板の表面を処理
する処理液を貯留する液溜容器にキャリアガスの導入管
を接続するとともに、基板に処理流体を供給する流体供
給部と液溜容器とを移送管を介して接続し、キャリアガ
スに処理液を気化混合した処理流体を基板に供給する基
板処理用流体供給装置において、移送管内を流動する処
理流体の温度が液溜容器側よりも高くなるように調節す
る温調手段を設けて構成する。
【0008】また、請求項2に係る発明の基板処理用流
体供給装置は、上述のような目的を達成するために、請
求項1に係る発明の基板処理用流体供給装置における温
調手段を液溜容器に設けて構成する。
【0009】また、請求項3に係る発明は、上述のよう
な目的を達成するために、基板に洗浄液を供給する洗浄
液供給部に、洗浄液に炭酸ガスを溶解する溶解手段を移
送管を介して接続した基板処理用流体供給装置におい
て、移送管内を流動する洗浄液の温度が溶解手段側より
も低くなるように調節する温調手段を設けて構成する。
【0010】また、請求項4に係る発明の基板処理用流
体供給装置は、上述のような目的を達成するために、請
求項3に係る発明の基板処理用流体供給装置における温
調手段を溶解手段に設けて構成する。
【0011】
【作用】請求項1に係る発明の基板処理用流体供給装置
の構成によれば、キャリアガスに処理液を気化混合した
処理流体を、液溜容器側よりも温度が高い状態で移送管
を経て流体供給部に供給することができる。そのため、
気化してキャリアガスと混合された処理流体が移送管内
で飽和状態となることはない。
【0012】また、請求項2に係る発明の基板処理用流
体供給装置の構成によれば、液溜容器に温調手段を設
け、移送管での移送途中において液溜容器側よりも温度
が低くならないようにすることができる。
【0013】また、請求項3に係る発明の基板処理用流
体供給装置の構成によれば、洗浄液に炭酸ガスを溶解し
た処理液体を、溶解手段側よりも温度が低い状態で移送
管を経て基板表面に供給することができる。そのため、
処理液体に溶解された炭酸ガスが移送管内で飽和状態と
なることはない。
【0014】請求項4に係る発明の基板処理用流体供給
装置によれば、溶解手段に温調手段が設け、移送管での
移送途中において溶解手段側よりも温度が高くならない
ようにすることができる。
【0015】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。図1は、本発明に係る第1実施例の基板処理
用流体供給装置を用いた基板表面処理装置を示す概略縦
断面図であり、基板処理室1と、基板Wの表面処理用の
HMDS蒸気を供給する基板処理用流体供給装置2とか
ら構成されている。
【0016】基板処理室1には、上面に基板Wを載置し
て吸引孔3aからの真空吸引により真空吸着保持すると
ともに、その保持した基板Wを所定の温度に加熱する熱
処理用の基板載置プレート3が設けられている。
【0017】基板処理室1の横側方に、基板載置プレー
ト3上に基板Wを搬入・搬出するための搬送装置4が設
けられ、一方、基板載置プレート3を貫通して昇降可能
に基板受渡装置5が設けられ、搬送装置4により搬入し
た基板Wを基板受渡装置5が受け取り、基板載置プレー
ト3上に下降載置できるように構成されている。
【0018】基板処理室1の上側は断熱材で形成された
上部ハウジング6で構成され、その上部ハウジング6に
昇降可能に筒状の支持部材7が設けられるととともに、
支持部材7の下端に蓋体8が連接され、更に、蓋体8
に、その外周面との間に隙間を形成する状態でオーバー
フロー用の筒体9が一体的に取り付けられ、かつ、蓋体
8の内部空間を上下に仕切るように水平姿勢で、多数の
細孔を有する流体供給部としての整流板10が設けられ
ている。基板載置プレート3の周囲には、排気ダクト1
1が付設されている。
【0019】基板処理用流体供給装置2は、表面処理用
の処理液(HMDS溶液)を貯留するステンレス製の液
溜容器12に、キャリアガス(N2 ガス)の導入管13
を接続するとともに、前記筒状の支持部材7と液溜容器
12とを移送管14を介して接続して構成されている。
【0020】導入管13には、一定圧力でキャリアガス
を供給するレギュレータ13aが付設されている。ま
た、移送管14には、処理流体の供給量を制御する流量
制御バルブ15が付設されている。
【0021】液溜容器12に、処理液を供給する処理液
供給管16が接続されるとともに、処理液供給管16に
開閉弁17が設けられている。液溜容器12の底側と上
方側とにわたって連通管18が接続され、この連通管1
8の上方と下方それぞれに、一対づつの液面計19a,
19a、19b,19bが設けられ、これらの液面計1
9a,19a、19b,19bがコントローラ20に接
続されるとともにコントローラ20と開閉弁17とが接
続され、液溜容器12内の処理液量が上方の液面計19
a,19a間に維持されるように開閉弁17を自動的に
開閉制御し、一方、処理液の供給源での故障などに起因
して開閉弁17を開いているにもかかわらず、処理液量
が異常に減少した場合には、そのことを下方側の液面計
19b,19bによって感知し、ブザーやランプなどの
警報装置(図示せず)を作動できるように構成されてい
る。
【0022】液溜容器12内の下方に、温調手段として
の熱交換コイル21が設けられるとともに、その熱交換
コイル21に、クリーンルーム内の温度約23℃より低温
の約21℃の恒温水が供給されるように構成されている。
【0023】以上の構成により、移送管14内を流動す
る処理流体の温度を液溜容器22側よりも低くならない
ように維持する。これにより、気化してキャリアガスと
混合された処理液が移送管14内で飽和状態となること
はない。よって、移送管14内で結露を生じて液化する
ことを防止し、液溜容器12内で処理液を気化混合した
処理流体を筒状の支持部材7を通じて整流板10上に供
給し、整流板10を通じて基板Wの表面全面に均一に良
好に供給することができる。上記処理流体としては、H
MDS溶液を気化混合するものに限らず、例えば、有機
クロルシラン溶液を気化混合するなど、各種のものが適
用できる
【0024】図2は、本発明に係る第2実施例の基板処
理用流体供給装置を用いた回転式基板洗浄装置を示す概
略縦断面図、図3は、図2の要部の平面図であり、第1
の電動モータ22の回転軸23の上端に基板Wを真空吸
着保持する回転台24を設けて基板保持手段25が構成
され、その基板保持手段25によって鉛直方向の軸芯周
りで回転可能に保持される基板Wの上方の所定箇所に、
第2の電動モータ26によって回転変位可能に支持ブラ
ケット27が設けられるとともに、その支持ブラケット
27に、炭酸ガスを溶解した洗浄液を高圧で供給する洗
浄液供給部としてのノズル28が設けられ、このノズル
28に基板処理用流体供給装置29が接続されている。
【0025】上記基板保持手段25としては、基板Wを
真空吸着保持するものに限らず、例えば、回転台24上
に基板Wの外周縁を支持する基板支持部材を複数設ける
とともに、この基板支持部材の上端に基板Wの水平方向
の位置を規制する位置決めピンを設け、基板Wを回転台
24の上面から離間した状態で回転可能に保持させるよ
うに構成するものでもよい。
【0026】基板保持手段25およびそれによって保持
された基板Wの周囲は、昇降駆動機構(図示せず)によ
って昇降可能なカップ30で覆われ、基板Wの洗浄時
に、基板Wの上に供給される洗浄液の飛散を防止できる
ように構成されている。図中31は、基板Wの表面上ま
で変位可能な基板表面を洗浄する洗浄ブラシを示し、ま
た、32は、基板Wの上方から外れた非洗浄時の待機位
置にあるときに、洗浄ブラシ31に付着した塵埃を除去
する待機ポットを示している。
【0027】基板処理用流体供給装置29は、洗浄液と
しての純水を貯留するステンレス製または樹脂製の純水
タンク33に、炭酸ガスの導入管34を接続するととも
に、前記ノズル28と純水タンク33とを移送管35を
介して接続して構成されている。洗浄液としての純水に
炭酸ガスを溶解するために純水タンク33に炭酸ガスの
導入管34を接続する構成を溶解手段と称する。
【0028】導入管34には、一定圧力で炭酸ガスを供
給するレギュレータ34aが付設されている。また、移
送管35には、洗浄液の供給量を制御する流量制御バル
ブ36とフィルター37とが付設されている。
【0029】純水タンク33に純水を供給する純水供給
管38が接続されるとともに、純水供給管38に開閉弁
39が設けられている。純水タンク33の底側と上方側
とにわたって連通管40が接続され、この連通管40の
上方と下方それぞれに、第1実施例と同様に、一対づつ
の液面計19a,19a、19b,19bが設けられ、
これらの液面計19a,19a、19b,19bがコン
トローラ20に接続されるとともにコントローラ20と
開閉弁39とが接続され、純水タンク33内の処理液量
が上方の液面計19a,19a間に維持されるように開
閉弁39を自動的に開閉制御し、一方、処理液の供給源
での故障などに起因して開閉弁39を開いているにもか
かわらず、処理液量が異常に減少した場合には、そのこ
とを下方側の液面計19b,19bによって感知し、ブ
ザーやランプなどの警報装置(図示せず)を作動できる
ように構成されている。
【0030】純水タンク33内の下方に、温調手段とし
ての熱交換コイル41が設けられるとともに、その熱交
換コイル41に、クリーンルーム内の温度約23℃より高
温の約25℃の恒温水が供給されるように構成されてい
る。
【0031】以上の構成により、移送管35内を流動す
る洗浄液の温度を純水タンク33側よりも高くならない
ように維持する。これにより、洗浄液に溶解された炭酸
ガスが移送管35内で飽和状態となることはない。よっ
て、移送管35内で、洗浄液中に溶解した炭酸ガスが気
泡化して分離することを防止し、純水タンク33内で炭
酸ガスを溶解して比抵抗を下げた洗浄液をノズル28か
ら基板Wの表面に供給し、静電気を発生させずに良好に
基板Wの表面を洗浄処理することができる。
【0032】図4は、本発明に係る第3実施例の基板処
理用流体供給装置を用いた回転式基板洗浄装置を示す概
略縦断面図であり、第2実施例と異なるところは次の通
りである。すなわち、炭酸ガス透過性の膜42によって
上室43と下室44とに仕切られて溶解手段としての溶
解装置45が構成されている。上室43に、開閉弁46
を備えた炭酸ガスを供給する導入管47と排気管48と
が接続されている。一方、下室44に純水供給管49が
接続されるとともに、下室44とノズル50とが移送管
51を介して接続されている。
【0033】下室44内に温調手段としての熱交換コイ
ル52が設けられ、その熱交換コイル52に、クリーン
ルーム内の温度約23℃より高温の約25℃の恒温水が供給
されるように構成されている。他の構成は、第2実施例
と同じであり、同一図番を付してその説明は省略する。
【0034】この第3実施例によれば、炭酸ガスを膜4
2を通じて純水中に供給するため、炭酸ガス中のゴミや
不純物をより効果的に除去できる利点を有している
【0035】上記実施例では、温調手段として、恒温水
を流す熱交換コイル21,41,52を設けているが、
ヒータあるいは冷却装置などを設けるものでも良い。ま
た、上記実施例では、温調手段として、液溜容器12、
純水タンク33、溶解装置45に熱交換コイル21,4
1,52を設けているが、これに限らず、例えば、液溜
容器12などを恒温水ジャケットで覆う構成としても良
い。これらの実施例では、温調手段を、液溜容器12や
純水タンク33や溶解装置45の側にのみ設け、その構
成を簡単にできるようにしているが、本発明としては、
例えば、移送管14,35,51を、恒温水を通す熱交
換用のパイプ内に挿通するとか、移送管14,35,5
1の外周に伝熱可能に恒温水を通す熱交換用のパイプを
接触させるなど、温調手段を移送管14,35,51側
に設けるようにしても良い。あるいは、それらの両方の
側に温調手段を設けても良い。
【0036】本発明としては、上述実施例のような円形
基板に限らず、角型基板に対する回転式基板洗浄装置に
も適用できる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に係る発
明の基板処理用流体供給装置によれば、キャリアガスに
処理液を気化混合した処理流体の温度を、移送管を経て
流体供給部に供給するまで液溜容器側よりも高くするか
ら、キャリアガスに処理液を気化混合した後に飽和状態
を越えることを回避でき、処理流体の移送中において、
気化した処理液が結露によって液化することを防止で
き、処理ムラを生じずに処理流体を基板表面全体に均一
に供給できるようになった。
【0038】また、請求項2に係る発明の基板処理用流
体供給装置によれば、結露を防止するのに、液溜容器に
温調手段を設けるから、移送管全体に温調手段を設ける
場合に比べ、構成を簡単にできて経済的である。
【0039】また、請求項3に係る発明の基板処理用流
体供給装置の構成によれば、洗浄液に炭酸ガスを溶解し
た処理液体の温度を、移送管を経て基板表面に供給する
まで溶解手段側よりも低くするから、処理流体の移送中
において、炭酸ガスの溶解濃度が飽和点を越えることを
回避でき、炭酸ガスの気泡化を防止でき、洗浄液の圧送
不良を招くこと無く静電気除去作用を良好に発揮させる
ことができるようになった。
【0040】請求項4に係る発明の基板処理用流体供給
装置によれば、炭酸ガスの気泡化を防止するのに、溶解
手段に温調手段が設けるから、移送管全体に温調手段を
設ける場合に比べ、構成を簡単にできて経済的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る第1実施例の基板処理用流体供給
装置を用いた基板表面処理装置を示す概略縦断面図であ
る。
【図2】本発明に係る第2実施例の基板処理用流体供給
装置を用いた基板洗浄装置を示す概略縦断面図である。
【図3】図2の要部の平面図である。
【図4】本発明に係る第3実施例の基板処理用流体供給
装置を用いた基板洗浄装置を示す概略縦断面図である。
【符号の説明】
2…基板処理用流体供給装置 10…流体供給部としての整流板 12…液溜容器 13…キャリアガスの導入管 14,35,51…移送管 21,41,52…温調手段としての熱交換コイル 33…溶解手段を構成する純水タンク 34…溶解手段を構成する導入管 45…溶解装置 W…基板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の表面を処理する処理液を貯留する
    液溜容器にキャリアガスの導入管を接続するとともに、
    基板に処理流体を供給する流体供給部と前記液溜容器と
    を移送管を介して接続し、キャリアガスに処理液を気化
    混合した処理流体を基板に供給する基板処理用流体供給
    装置において、 前記移送管内を流動する処理流体の温度が前記液溜容器
    側よりも高くなるように調節する温調手段を設けてある
    ことを特徴とする基板処理用流体供給装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の温調手段を液溜容器に
    設けてある基板処理用流体供給装置。
  3. 【請求項3】 基板に洗浄液を供給する洗浄液供給部
    に、洗浄液に炭酸ガスを溶解する溶解手段を移送管を介
    して接続した基板処理用流体供給装置において、 前記移送管内を流動する洗浄液の温度が前記溶解手段側
    よりも低くなるように調節する温調手段を設けてあるこ
    とを特徴とする基板処理用流体供給装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の温調手段を溶解手段に
    設けてある基板処理用流体供給装置。
JP17672095A 1995-06-19 1995-06-19 基板処理用流体供給装置 Expired - Fee Related JP3425826B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17672095A JP3425826B2 (ja) 1995-06-19 1995-06-19 基板処理用流体供給装置
KR1019960022081A KR100210965B1 (ko) 1995-06-19 1996-06-18 기판처리용 유체공급방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17672095A JP3425826B2 (ja) 1995-06-19 1995-06-19 基板処理用流体供給装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002334790A Division JP4056365B2 (ja) 2002-11-19 2002-11-19 基板処理用流体供給装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH097934A true JPH097934A (ja) 1997-01-10
JP3425826B2 JP3425826B2 (ja) 2003-07-14

Family

ID=16018603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17672095A Expired - Fee Related JP3425826B2 (ja) 1995-06-19 1995-06-19 基板処理用流体供給装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3425826B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001313252A (ja) * 2000-02-22 2001-11-09 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JP2007005660A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
KR100743017B1 (ko) * 2006-10-27 2007-07-26 삼성전기주식회사 습식처리장치
KR100815966B1 (ko) * 2007-04-13 2008-03-24 세메스 주식회사 기판 처리액의 온도를 조절하기 위한 장치
KR101342147B1 (ko) * 2012-09-06 2013-12-13 주식회사 디엠에스 세정액 공급장치

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001313252A (ja) * 2000-02-22 2001-11-09 Tokyo Electron Ltd 処理装置
JP2007005660A (ja) * 2005-06-24 2007-01-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置
JP4514657B2 (ja) * 2005-06-24 2010-07-28 株式会社Sokudo 基板処理装置
KR100743017B1 (ko) * 2006-10-27 2007-07-26 삼성전기주식회사 습식처리장치
KR100815966B1 (ko) * 2007-04-13 2008-03-24 세메스 주식회사 기판 처리액의 온도를 조절하기 위한 장치
KR101342147B1 (ko) * 2012-09-06 2013-12-13 주식회사 디엠에스 세정액 공급장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP3425826B2 (ja) 2003-07-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100230693B1 (ko) 처리장치및처리방법
US5288333A (en) Wafer cleaning method and apparatus therefore
JP5712101B2 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
KR20010039769A (ko) 기판처리방법 및 기판처리장치
TWI293407B (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR930005946B1 (ko) 기판의 세정 처리방법 및 장치
US20090020068A1 (en) Method of manufacturing of substrate
TW448499B (en) Surface treatment method and surface treatment apparatus
WO2005004217A1 (ja) 基板処理法及び基板処理装置
KR20170026821A (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JPH097934A (ja) 基板処理用流体供給装置
JP3145080B2 (ja) 薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ用ガラスの自動エッチング装置
WO2006041028A1 (ja) 処理液供給装置
JP4056365B2 (ja) 基板処理用流体供給装置
KR100210965B1 (ko) 기판처리용 유체공급방법 및 장치
JP4278407B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
JP2007142262A (ja) 基板処理装置
JP2004172261A (ja) レジスト現像処理装置とその方法及び表面処理装置とその方法
KR20010083206A (ko) 처리장치
JP3770409B2 (ja) Hmds供給装置
JP2002275694A (ja) 電解メッキ装置
KR100516345B1 (ko) 습식 식각 장치
US20230187232A1 (en) Apparatus and method of treating substrate
JP2580468B2 (ja) 高温処理液循環システム
WO2021210597A1 (ja) ガス供給装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090509

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090509

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100509

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100509

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100509

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110509

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120509

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130509

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130509

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140509

Year of fee payment: 11

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees