JP3770409B2 - Hmds供給装置 - Google Patents
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Description
本発明は、HMDS供給装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
例えば半導体デバイスの製造プロセスにおいては、処理液をキャリアガス中に例えばバブリングするなどして気相化させ、キャリアガスと共に、被処理体である半導体ウエハの処理装置に供給する処理液供給装置が用いられている。例えば半導体ウエハの表面処理を行うために使用されるHMDS(ヘキサメチルジシラザン)も、かかる処理液供給装置によって、半導体ウエハの表面に吹き付けられている。
【0003】
ところで前記した吹き付けは均一に行う必要があり、そのためキャリアガス、例えば窒素ガス中に気相化させるHMDSの量も所定の量に維持する必要がある。そのため処理液中に前記キャリアガスを吹き込んでバブリングさせる際に、当該吹き込み量を制御したり、あるいは処理液を所定温度に維持してその蒸発量を制御する方法が従来から提案されている。
例えば特開平4−164325号公報、特開平4−222601号公報、特開平5−283340号公報等において開示されている処理液供給装置においては、タンク内の処理液の温度を調節するため、処理液を貯留するタンクの外側に、電力の供給によってタンクを加熱する加熱手段が設けられている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、そのようにタンクの外側に加熱手段を設けたのでは、周囲にも熱を放熱するため効率がよくない。また周囲の機器、装置に熱による悪影響を及ぼすおそれがあったり、処理液供給装置自体も肥大化して好ましくない。さらにはHMDSは可燃性であるため、万が一に外に漏れた際には不測の事態を招くおそれがあり、改善の余地があった。
【0005】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、効率よくタンク内のHMDSの温度調節が行え、しかも安全でかつ周囲に影響を与えず装置自体もコンパクトにできるHMDS供給装置を提供して前記問題の解決を図ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するため、請求項1によれば、HMDSを貯留するタンクに、不活性ガスを導入して当該ガスに前記HMDSを気相化させ、前記HMDSが気相化したガスをHMDS供給系に供給する如く構成されたHMDS供給装置において、
前記タンク内に管状の熱交換器を設け、
かつ前記熱交換器は、その上部が前記タンク内に貯留される前記HMDSの上限レベルより下方に、その下部が下限レベルより上方に位置するように設けられ、
この熱交換器は、管路内を流体が流通して前記流体と前記HMDSとの間で熱交換し、前記タンク内のHMDSの温度を所定の温度に維持する如く構成され、さらに前記流体が、熱交換器の下部から上部へと流通する如く構成されると共に、前記流体は他の処理装置における温度調節に用いられるものであることを特徴とする、HMDS供給装置が提供される。
【0007】
この場合、他の処理装置としては、例えば請求項2に記載したように、フォトレジスト塗布処理装置や洗浄装置をその例として挙げることかできる。
【0008】
前記各HMDS供給装置でいうところの化学的に安定なガスとしては、例えばN2ガス(窒素ガス)が挙げられ、その他各種の不活性ガス、例えばHe(ヘリウム)ガス、Ar(アルゴン)ガスも用いることが可能である。また前記各HMDS供給装置の熱交換器の管路内を流れる流体は、液体であっても気体であってもよく、また好ましくは化学的に安定でかつタンク内のHMDSと接触しても化学反応を起こさない物質が好ましい。
【0009】
【作用】
請求項1に記載のHMDS供給装置においては、HMDSを貯留するタンク内に管状の熱交換器が設けられているので、当該管路を流れる流体との「液−液」熱交換、又は「気−液」熱交換が行われ、極めて効率よくHMDSの温度調節が行える。また熱交換器自体はタンク内に設けられているので、外部の装置機器に直接輻射の熱が伝わることはない。そして給電によって発熱する方式ではないので、HMDSが発火することはなく、安全である。
【0010】
さらに前記管路内を流れる流体は、熱交換器の下部から上部へと流通するので、HMDSの量が減少してその液面が低下しても、常に未だ熱交換器で熱交換されていない流体による熱交換が行われるので、温度制御が容易で効率がよい。
しかも熱交換器の管路に流れる流体が、他の処理装置の温度調節に用いられるものを使用しているので、別途専用の流体を確保する必要がなく、流体の有効利用が図れる。
そして熱交換器を螺旋状に形成すれば、たとえば後述の実施例でも示したように、タンク内に装備されるフロートセンサの上下動に支障をきたさない。
【0012】
【実施例】
以下、添付図面に基づき本発明の一実施例について説明すると、本実施例は、図1に示したように、被処理体である半導体ウエハ(以下、「ウエハ」という)Wに対してAD処理(アドヒジョン処理;フォトレジストとウエハとの密着性・固着性を向上させるフォトレジスト塗布工程の前処理)を行う処理装置1に、HMDS(ヘキサメチルジシラザン)を供給するHMDS供給装置2に適用した例である。
【0013】
このHMDS供給装置2は、図2、図3にも示したように、HMDSを貯留するタンク3を有しており、このタンク3は耐HMDSに優れたPFA(ペルフルオロアルコキシフッ素樹脂)からなっている。前記タンク3の底部には、例えば多孔質の部材からなるバブラー(気泡発生装置)4が設けられており、タンク3底部外側に設けられた継手5からN2ガスがこのバブラー4に供給されると、細かいN2ガスの気泡が、貯留しているHMDS内に発生し、HMDSはこの気泡内にベーパー状態で溶融する。
前記気泡の量は、図1に示したように、前記継手5に接続されるN2ガス供給管6に介装されたMFC(マスフローコントローラ;流量制御装置)7によって制御可能である。
なおこのN2ガス自体を直接温度制御して、HMDSの蒸発量を制御するようにしてもよい。
【0014】
そして前記タンク3内には、螺旋状に形成された管11からなる熱交換器12が収容されている。この管11も、タンク3と同一の材質であるPFAからなっている。そして熱交換器12の下部には、タンク3外に通ずる流体導入管13が設けられ、熱交換器12の上部には、タンク3外に通ずる流体排出管14が設けられている。また螺旋状に形成された熱交換器12自体は、図3に示したように、その上部がタンク3内に貯留されるHMDSの上限レベルHLより下方に、下部が下限レベルLLより上方に位置するように設定されている。
【0015】
本実施例においては、熱交換器12がそのように螺旋状に形成されているので、例えば貯留するHMDSの量を検出するためにタンク3内に装備されるフロートセンサ15の上下動に支障をきたさない。
【0016】
前記タンク3の頂部の開口部には、蓋部材21が、気密材22、ロック部材23によって気密に取り付けられている。さらにこの蓋部材21には、HMDS注入用の注入口24と、気相化したHMDSを前出処理装置1に供給するための供給孔25と、大気導入用の大気孔26と、通常は盲栓が嵌められている予備の孔27が形成されている。
【0017】
図1に示したように、前記注入口24には、バルブ31が介装されたHMDS供給管32が接続され、また前記供給孔25には、給気系に切換接続するための切換バルブ33が介装された供給管34が接続され、さらに前記大気孔26には、大気導入用の導入管35が夫々接続されている。
【0018】
前記供給管34は前出処理装置1のチャンバ41内の頂部に通じており、このチャンバ41内の底部には、被処理体であるウエハWを載置する載置台42が設けられている。そして前記供給管34から供給された気相化したHMDSは、前記ウエハWに対して均一に吹き付けられるようになっている。また前記載置台42には、ウエハWを所定温度に設定するための加熱装置(図示せず)が内蔵されており、これによってウエハWが所定温度に維持されつつ、HMDSが吹き付けられることにより、ウエハWに対してAD処理がなされる。
【0019】
前記処理装置1のチャンバ41の底部には、処理後のガスを排気するための排気管43が接続されており、またこの排気管43には、チャンバ41内を負圧にするためのエゼクタ(空気圧式真空装置)44が開閉バルブ45を介して設けられており、さらにこのエゼクタ44には駆動用の圧力空気を供給する駆動空気供給管46が、開閉バルブ47を介して設けられている。
【0020】
前出流体導入管13及び流体排出管14は、図4に示したように、夫々その継手51、52に接続される流体供給管53、排出管54の継手部分にて、ステイ55、56及び支持部材57によって、前出蓋部材21によって支持されており、振動等があっても、流体導入管13及び流体排出管14、さらには熱交換器12の管11がタンク3や他物に接触したり、あるいはタンク3の貫通部分に過大な荷重がかかったりしてダメージを受けることが防止されている。
【0021】
そして前出流体供給管53へは、ウエハWに対して他の処理を実施する処理装置の温度調節用、冷却用の水が、流量制御装置61や温度調節装置62を介して供給される構成となっている。
即ちウエハWに対して前記したAD処理を行う処理装置1の周辺には、通常、その後処理であるフォトレジスト塗布処理の処理装置や洗浄装置等の各種処理装置が配置されている。図1に示したように、本実施例ではそのような他の処理装置に用いる温度調節用、冷却用の水を、熱交換器12用の流体として用いているのである。即ちノズル71から処理液をウエハWに滴下する処理装置72、73ではノズル71の温度調節用に、ウエハWをサセプタ74上で熱処理する処理装置75、76ではサセプタ74の冷却用に、夫々ポンプ77によって送水される水を使用し、前記処理装置76のサセプタ74を経た水を流体供給管53、流体導入管13を通じて、熱交換器12に流通させる構成となっているのである。
なおその逆に熱交換器12を通った水を、各処理装置72、73、75、76に流通させるように構成することもできる。
【0022】
本実施例にかかるHMDS供給装置2及びその周辺処理装置、機器は以上のように構成されており、ウエハWに対してAD処理を実施する処理装置1にHMDSを供給する場合には、まず開閉バルブ45、47を開放してエゼクタ44に駆動空気供給管46からの駆動用の圧力空気を送って、処理装置1のチャンバ41の雰囲気を吸引排気して減圧する。その後開閉バルブ7を開放してN2ガスをバブラー4からタンク3内に導入すると、導入されたN2ガスがHMDS中に細かな気泡となって流入し、このN2ガスの泡内にHMDSが気化して混入する。そしてHMDSが混入したN2ガスは、供給管34から前記処理装置1のチャンバ41内へと供給され、所定温度に設定されたサセプタ42上のウエハWに吹き付けられることにより、ウエハWに対してAD処理が行われるのである。
【0023】
かかる場合、供給するHMDSの量は所定量に維持する必要があり、そのためN2ガスの流量制御の他に、HMDSの蒸発量を制御するためにタンク3内のHMDSの温度を所定の温度、例えば室温の23゜Cに維持する必要があるが、本実施例では、タンク3内に熱交換器12が収容され、この熱交換器12の管11内を流れる例えば23゜Cの水によって、水とHMDSが常に熱交換され、極めて安定した温度維持が可能となっている。そして熱交換器12の管11内を流れる水は、下部から上部に向かって流通しているので、HMDSの液面が下がっても、タンク3内で未だ放熱(熱交換)していない温度調節された水との熱交換を実施することができるので、HMDSの温度制御が容易である。
【0024】
熱交換器12自体は、タンク3中のHMDS内に位置しているので、他の部位への放熱(熱交換)はなく、極めて効率よく、HMDSの温度調節、温度維持が行え、そのうえ周囲機器への直接の熱の輻射はない。しかも熱交換器12内を流通するのは水であるから、HMDSのように可燃性であっても、極めて安全であり、また取り扱いも容易である。HMDS供給装置2全体をみてもコンパクト化されており、外部に従来のような加熱手段を持たないため、周辺機器のレイアウトの自由度も向上している。
【0025】
また本実施例では、熱交換器12を構成する管11が螺旋状に配されているので、HMDSとの接触面積が広く、この点でも熱交換効率が良好である。またフロートセンサ15の上下動にも支障をきたさない。もちろん熱交換器12の構成は、そのように螺旋状である必要はなく、管を用いた適宜の形態を選択することができる。
【0026】
さらに本実施例で用いた熱交換器12の水は、他の処理装置72、73、75、76に用いられる温度調節用の水や、冷却用の水を流用しているので、別途専用の熱交換用の流体を確保する必要がなく、システム全体して無駄のない構成となっている。
【0027】
前記実施例では、流体導入管13及び流体排出管14は、タンク3の側壁を貫通する構成であったが、かかる構成に代えて、例えば図5に示したように、蓋部材21に、夫々流体導入管81及び流体排出管82を貫設した構成としてもよい。かかる構成によれば、タンク3自体の構成が簡素化され、その強度、形状等にとって好ましくなり、しかもメンテナンスが容易になる利点がある。
【0029】
【発明の効果】
請求項1に記載のHMDS供給装置によれば、極めて効率よく流体の熱をHMDSに伝達することができるので、効率のよいHMDSの温度調節が容易に行える。またタンク周囲の装置機器に熱による悪影響を及ぼすおそれはない。HMDSが可燃性であっても、発火することはなく安全である。熱交換器自体がタンク内に位置しているので、装置としてもコンパクトにできる。
【0030】
さらに別途専用の流体を確保する必要がなく、流体の有効利用が図れ、ランニングコストの低廉化が図れる。
そして熱交換器を螺旋状に形成すれば、フロートセンサの上下動に支障をきたさない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかるHMDS供給装置が採用されたAD処理の処理装置等の系統を示す説明図である。
【図2】本発明の実施例にかかるHMDS供給装置の平面説明図である。
【図3】本発明の実施例にかかるHMDS供給装置の断面説明図である。
【図4】本発明の実施例にかかるHMDS供給装置の正面説明図である。
【図5】他の実施例にかかるHMDS供給装置の断面説明図である。
【符号の説明】
1 処理装置
2 HMDS供給装置
3 タンク
4 バブラー
6 N2ガス供給管
11 管
12 熱交換器
13 流体導入管
14 流体排出管
34 供給管
Claims (4)
- HMDSを貯留するタンクに、不活性ガスを導入して当該ガスに前記HMDSを気相化させ、前記HMDSが気相化したガスをHMDS供給系に供給する如く構成されたHMDS供給装置において、
前記タンク内に管状の熱交換器を設け、
かつ前記熱交換器は、その上部が前記タンク内に貯留される前記HMDSの上限レベルより下方に、その下部が下限レベルより上方に位置するように設けられ、
この熱交換器は、管路内を流体が流通して前記流体と前記HMDSとの間で熱交換し、前記タンク内のHMDSの温度を所定の温度に維持する如く構成され、さらに前記流体が、熱交換器の下部から上部へと流通する如く構成されると共に、前記流体は他の処理装置における温度調節に用いられるものであることを特徴とする、HMDS供給装置。 - 前記他の処理装置は、フォトレジスト塗布処理装置又は洗浄装置であることを特徴とする、請求項1に記載のHMDS供給装置。
- 前記流体は水であることを特徴とする、請求項1又は2に記載のHMDS供給装置。
- 前記熱交換器は、螺旋状に形成されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載のHMDS供給装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP01646995A JP3770409B2 (ja) | 1995-01-06 | 1995-01-06 | Hmds供給装置 |
TW085112472A TW338174B (en) | 1995-01-06 | 1995-12-28 | Apparatus for supplying a treatment material |
US08/580,620 US5733375A (en) | 1995-01-06 | 1995-12-29 | Apparatus for supplying a treatment material |
KR1019960000126A KR100199681B1 (ko) | 1995-01-06 | 1996-01-05 | 처리제 공급장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP01646995A JP3770409B2 (ja) | 1995-01-06 | 1995-01-06 | Hmds供給装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08187427A JPH08187427A (ja) | 1996-07-23 |
JP3770409B2 true JP3770409B2 (ja) | 2006-04-26 |
Family
ID=11917129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP01646995A Expired - Lifetime JP3770409B2 (ja) | 1995-01-06 | 1995-01-06 | Hmds供給装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3770409B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6135433A (en) * | 1998-02-27 | 2000-10-24 | Air Liquide America Corporation | Continuous gas saturation system and method |
JP5473421B2 (ja) * | 2009-06-15 | 2014-04-16 | ヘンミ計算尺株式会社 | 液体原料のバブリング気化供給方法及び装置 |
KR102378335B1 (ko) * | 2015-11-26 | 2022-03-24 | 세메스 주식회사 | 약액 공급 장치 및 기판 처리 장치 |
JP6637520B2 (ja) * | 2015-11-30 | 2020-01-29 | 株式会社アルバック | 蒸気放出装置及び成膜装置 |
JP7127792B1 (ja) * | 2022-05-09 | 2022-08-30 | 東横化学株式会社 | ガス供給装置 |
-
1995
- 1995-01-06 JP JP01646995A patent/JP3770409B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08187427A (ja) | 1996-07-23 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020910 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051227 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060202 |
|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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