JPH0969942A - 画像処理方法及び装置 - Google Patents

画像処理方法及び装置

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JPH0969942A
JPH0969942A JP7225180A JP22518095A JPH0969942A JP H0969942 A JPH0969942 A JP H0969942A JP 7225180 A JP7225180 A JP 7225180A JP 22518095 A JP22518095 A JP 22518095A JP H0969942 A JPH0969942 A JP H0969942A
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Shigeo Yamagata
茂雄 山形
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 掃き寄せ現象の発生を抑えると共にハーフト
ーン細線の再現性を向上させる。 【解決手段】 ラインメモリ1,2及びエッジ検出部3
にて入力画像データfの主走査、副走査方向のエッジ量
を検出し、その差分が所定量よりも大きい場合に、注目
画素の画素データ値の差分に応じて、2値化判定部5で
発生した誤差Eを分配する誤差分配部6の分配比率を変
更する。即ち、エッジ量の大きい方向には、その方向に
対応する注目画素の前後の画素データの差分が大きいほ
ど分配する誤差の比率を小さくする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、所定のしきい値に
基づいて多値画像を2値化し、該2値化の誤差を周辺領
域に分配し、入力画像の濃度を保存しながら多値画像を
2値化処理する画像処理方法及び装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来より、ファクシミリ装置やデジタル
複写機等の画像処理装置における擬似中間調処理方式と
して、誤差拡散法や平均濃度保存法が提案されている。
【0003】前者の誤差拡散法は、文献R.FLOYD & L.ST
EINBERG,"AN ADAPTIVE ALGORITHM FOR SPETIAL GRAY SC
ALE",SID 75DIGEST,PP36〜37に開示されている如く、注
目画素の多値画像データを2値化(最濃レベル又は最淡
レベルに変換)し、その2値化レベルと2値化前の多値
画像データとの誤差に所定の重み付けをして注目画素近
傍の画素のデータに加算することにより多値画像データ
の濃度を保存しながら2値化処理を行なうものである。
【0004】また、後者の平均濃度保存法は、特開平2
−210959号に記載されている如く、注目画素近傍
の既に2値化された2値データを用いて注目画素近傍の
重み付け平均値を求め、この平均値を閾値として注目画
素の画像データを2値化し、注目画素の値と閾値との差
を2値化誤差として所定の重み付けをして、注目画素近
傍の画素のデータに加算することにより多値画像データ
の濃度を保存しながら2値化処理を行なうものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述の誤差拡散法、平
均濃度保存法は、入力画像データと出力画像データとの
誤差を補正する方式のため、入力画像の濃度を出力画像
に保存することができ、解像度及び階調性共に優れた画
像を提供することが可能である。
【0006】しかしながら、両方式とも、入力画像デー
タと出力画像データの濃度の保存は所定画素数以上の領
域を参照した場合になされるように制御されるため、高
濃度領域からハイライト領域に変化する境界領域におい
ては、マイナス方向の大きな誤差が発生し、図12に示
すように、ハイライト領域の平均濃度が下がりすぎる現
象、いわゆる掃き寄せ現象が発生するという欠点があっ
た。この掃き寄せ現象は、上述した2値化方式における
2値化誤差を分配する方向に基づいて発生し、方向性を
有するものであり、出力画像の品質を非常に低下させる
ものである。
【0007】更に、ハーフトーンの細線のような入力画
像を処理した場合には、同様の理由により、出力画像に
おいては、細線が切れ切れになったり、場合によっては
細線が再現されないという欠点もあった。
【0008】本発明は、上記課題を解決するために成さ
れたもので、掃き寄せ現象の発生を抑えると共に、ハー
フトーン細線の再現性を向上させた画像処理方法及び装
置を提供することを目的とする。。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の画像処理方法は以下の工程を有する。
【0010】即ち、所定のしきい値に基づいて多値画像
を2値化し、該2値化の誤差を周辺領域に分配し、入力
画像の濃度を保存しながら多値画像を2値化処理する画
像処理方法において、入力された多値画像のエッジ成分
を検出し、検出されたエッジ成分に基づいて周辺画素へ
分配する誤差の比率を変更する各工程を有する。
【0011】また、上記目的を達成するために、本発明
による画像処理装置は以下の構成を備える。
【0012】即ち、所定のしきい値に基づいて多値画像
を2値化し、該2値化の誤差を周辺領域に分配し、入力
画像の濃度を保存しながら多値画像を2値化処理する画
像処理装置において、入力された多値画像のエッジ成分
を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された
エッジ成分に基づいて周辺画素へ分配する誤差の比率を
変更する変更手段とを備える。
【0013】かかる構成において、入力された多値画像
のエッジ成分を検出し、検出されたエッジ成分に基づい
て周辺画素へ分配する誤差の比率を変更するように動作
する。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
に係る実施の形態を詳細に説明する。
【0015】(第1の実施形態)図1は、第1の実施形
態による画像処理装置の構成を示すブロック図である。
図において、1は画像データ(多値濃度データ)fが入
力されるラインメモリであり、後述する副走査方向
(v)に1画素づつずれた画素位置の画像データ信号i
-1,i,i+1、を出力する。ここで、iは2値化処理を
行なう注目画素位置の画像データを示す。2はラインメ
モリ1の出力信号iが入力されるラインメモリであり、
ラインメモリ1と同様に画像データ信号jを出力する。
3は画像データf、ラインメモリ1,2の出力信号
-1,i,i+1,jを入力するエッジ検出部であり、後
述するエッジ方向検出出力信号oと2値化誤差の分配率
信号pを後述する誤差分配部に出力する。4は加算回路
であり、上述の信号iと後述する誤差分配部から出力さ
れる2値化誤差の補正信号qとを加算する。
【0016】5は2値化判定部であり、加算回路4の出
力信号aと後述する周辺濃度演算部の出力信号mを入力
し、2値化信号bと2値化誤差Eを出力する。6は誤差
分配部であり、2値化判定部5の出力信号Eと上述のエ
ッジ検出部3の出力信号o、pとを入力し、誤差補正信
号qを加算回路4に出力する。7は誤差分配部6より出
力される信号e2を記憶し、読み出すためのメモリであ
る。8は2値データメモリであり、2値化判定部5より
出力された2値化信号出力信号bを記憶する。9は周辺
濃度演算部であり、2値データメモリ8から出力信号を
読み出し、平均濃度信号mを2値化判定部5に出力す
る。
【0017】ここで、以上の構成からなる本実施形態の
動作について詳細に説明する。
【0018】まず、本実施形態による2値化方式は、注
目画素周辺領域の2値化済みデータを用いて算出した注
目画素周辺領域の平均濃度を閾値として注目画素の2値
化を行ない、閾値と注目画素データ値の差分を2値化誤
差として、これを、隣接する画素位置の多値濃度データ
に分配するものである。
【0019】図2に、入力画像データの2次元的な配置
と、平均濃度の算出時に用いられる2値化済み画素の参
照領域及び重み係数を示す。この例では、入力画像デー
タが「0〜32」の値を取る場合を示している。図中、
hを主走査方向、vを副走査方向と定義し、画像データ
の走査はv方向に1ライン分走査が終了するとh方向に
1画素分走査し、再度v方向に1ライン分走査を行な
う。これを順次繰り返すことにより、図2に示した2次
元画像が、順次処理されるわけである。
【0020】このように走査されて得られた画像信号の
濃度データが、図1に示す信号fとして入力される。図
1に示すラインメモリ1,2は、図2に示すv方向の画
素数に対応したラインメモリであり、それぞれ1ライン
分の遅延を与えるものである。エッジ検出部3には、入
力画像データfと1ライン遅延データi-1,i,i+1
2ライン遅延データjが入力される。また、1ライン遅
延データiは加算回路4に入力され、誤差分配部6より
出力された誤差補正値qと加算され、信号aとして2値
化判定部5に入力される。また、2値化判定部5には、
周辺濃度演算部9より出力された平均濃度mが入力され
る。この周辺濃度演算部9で算出される平均濃度mは、
2値化判定部5より出力された2値化データbを記憶し
たメモリ8より注目画素周辺領域の2値化済みデータを
読み出し、これらに基づいて算出される。図2に示した
重み係数と、対応する画素位置の2値化済みデータを乗
算した結果の総和(32)を重み係数の総和で除算した
ものが平均濃度mとなる。次に、2値化判定部5で行な
う2値化の処理と誤差の発生について図3を参照しなが
ら説明する。図3に示す(A)は、加算回路4の出力信
号aが平均濃度mより大きい場合を示し、この場合、2
値化出力bは“1”と判定され、発生する誤差EはE=
a−mとして算出され、プラスの誤差となる。また図3
に示す(B)は、2値化出力bが“0”と判定される場
合を示し、この場合の誤差Eはマイナスの誤差となる。
そして、算出された誤差Eは誤差分配部6に入力され、
また2値化信号bは出力信号になると共に、2値データ
メモリ8に入力され、ここに記憶される。
【0021】次に、エッジ検出部3の詳細な構成につい
て説明する。図4は、エッジ検出部3の内部構成を示す
ブロック図である。図において、41は図1に示した信
号f,i,jを入力するh方向エッジ量検出部、42は
図1に示した信号i-1,i,i+1を入力するv方向エッ
ジ量算出部で、ここで注目画素位置に関するエッジ量の
演算が行なわれる。このエッジ量の演算は図5に示す
(A)の3×3の領域を用いて行なわれ、中央の画素が
注目画素位置に対応する。h方向エッジ量算出部41
は、注目画素を中心とするh方向のエッジ量を算出し、
これをEDhとすると、これは図5に示す(B)の重み
係数を使用して EDh=2×i−f−j として算出し、この絶対値|EDh|を演算部43に出
力する。
【0022】ここで、iは注目画素位置の画像データを
示し、f,jは、図5に示す(A)のように注目画素位
置の画像データに対してV方向に同位置の画素位置デー
タを示すものである。
【0023】更に、 Dh=j−f …(1) を算出し、 Dh≧t1 の時、ph=2 t1>Dh>t2 の時、ph=1 Dh≦t2 の時、ph=0 としてphをセレクタ45のA端子に出力する。尚、t
1,t2はt1>t2である所定の値を示す。
【0024】また同様に、v方向エッジ量算出部42で
は、注目画素を中心とするv方向のエッジ量EDvを算
出する。これは、図5に示す(C)の重み係数を使用し
て、 EDv=2×i−i+1−i-1 として算出し、この絶対値を|EDv|を演算部43に
出力する。
【0025】ここで、i-1は注目画素位置に対してV方
向に−1画素ずれた画素位置の画像データを示し、i+1
は注目画素位置に対してV方向に+1ずれた画素位置の
画像データを示している。
【0026】更に、 Dv=i-1−i+1 …(2) を算出し、 Dv≧t1 の時、pv=2 t1>Dv>t2 の時、pv=1 Dv≦t2 の時、pv=0 としてpvをセレクタ45のB端子に出力する。
【0027】次に、図4に示す演算部43では、h方向
エッジ量算出部41より出力された信号|EDh|とv
方向エッジ量算出部42より出力された信号|EDv|
とを比較し、 |EDh| > |EDv| の時、出力信号oを
“1” |EDh| ≦ |EDv| の時、出力信号oを
“0” として図1に示す誤差分配部6に出力する。また、図4
に示すように、この信号oはセレクタ45の選択制御信
号としても接続され、出力信号oが“1”の場合にはセ
レクタ45によりA入力端子に接続されているphが選
択出力され、出力信号oが“0”の場合にはB入力端子
に接続されているpvが選択出力される。また、演算部
43では、|EDh|と|EDv|の差分EDvhを EDvh=|EDh|−|EDv| より算出し、その絶対値|EDvh|を比較器44に出
力する。比較器44では、|EDvh|を設定値kと比
較し、 |EDvh| ≧ K の時、“1” |EDvh| < K の時、“0” をアンドゲート46に出力する。このアンドゲート46
からは比較器44の出力信号に応じて“0”、又はセレ
クタ45の出力信号が出力信号pとして、図1に示す誤
差分配部6に入力される。
【0028】このように、エッジ検出部3からは注目画
素に対するh方向とv方向のエッジ量の大きさの比較結
果がエッジ方向検出出力として出力信号Oとして出力さ
れ、また、v方向とh方向のエッジ量の差分が設定値K
より大きい場合には、エッジ量の大きい方向に対応する
注目画素前後の画素データ値の差分値の設定値t1,t
2に対する大小関係を示す信号が出力信号pとして得ら
れ、これは誤差分配部6において、誤差の分配率を決定
する分配率信号として使用される。
【0029】次に、誤差分配部6について詳細に説明す
る。図6に、誤差分配部6の詳細なブロック図を示す。
2値化判定部5より出力された2値化誤差信号Eは、1
/8,1/4,1/2とされて3入力セレクタ61の
A,B,Cに入力される。このセレクタ61には、選択
制御信号としてエッジ検出部3より出力される信号Pが
接続され、この信号Pの値により、 p=2の時、A入力 p=1の時、B入力 p=0の時、C入力 が選択出力される。セレクタ61の出力信号はセレクタ
63のA端子、セレクタ64のB端子及び減算器62に
入力される。減算器62では、2値化誤差信号Eよりセ
レクタ61の出力信号を減算した結果をセレクタ63の
B端子とセレクタ64のA端子に入力する。セレクタ6
3,64の選択制御は、エッジ検出部3のエッジ方向検
出出力Oにより行なわれ、選択制御信号が“1”の場合
にはA入力が選択出力され、また選択制御信号が“0”
の場合にはB入力が選択出力され、セレクタ63により
出力される信号がe1、セレクタ64より出力される信
号がe2となる。
【0030】ここで、e1,e2は、図2に示した注目
画素位置に対してそれぞれv方向、h方向に隣接する画
素位置に分配される誤差補正値を示すものである。また
誤差分配部6では、セレクタ63より出力するh方向に
対する分配誤差e2をメモリ7に記憶させる。更に、v
方向の次の画素(i+1の位置)に対してメモリ7より1
ライン前の画素が発生したh方向の画素に対する誤差補
正値を読み出し、これと算出されたe1とを加算した値
をv方向の次の画素に対する誤差補正値として加算回路
4に出力する。これが出力信号qに相当するものであ
る。
【0031】このようにして、次の入力画像データに対
する誤差補正を行ないながら2値化処理が行なわれるこ
とになる。
【0032】次に、本実施形態による制御手順を図7に
示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。
【0033】まず、多値画像データを入力し(ステップ
S101)、2値化処理の際に発生する誤差e1,e2
が分配される方向である主走査(h)、副走査(v)方
向のエッジ量を算出する(ステップS102)。次に、
h方向とv方向のエッジ量を比較し、その差分が所定量
よりも大きい場合(ステップS103のYes)には,
注目画素の前後の画素データ値の差分に応じて分配する
誤差の比率を変更する(ステップS104)。即ち、エ
ッジ量の大きい方向には、その方向に対応する注目画素
の前後の画素データの差分が大きいほど分配する誤差の
比率が少なくなるように制御する。
【0034】このような制御により、図8に示すよう
に、高濃度部からハイライト部に変化するエッジのハイ
ライト側の画素では、算出される平均濃度mに対して入
力画像データ値が小さいため、マイナスの大きな誤差が
発生するが、この誤差はエッジ方向、即ち、h方向には
小さい比率で分配され、エッジが連続する方向(v方
向)の画素には、大きな比率で分配されることになる。
これにより、エッジ方向(h方向)に大きなマイナスの
誤差が分配されることにより発生していた掃き寄せ現象
は抑制され、ハイライト領域における2値化出力“1”
の画素がエッジ部の近傍に出現することになる。
【0035】(第2の実施形態)次に、本発明に係る第
2の実施形態を詳細に説明する。第2の実施形態では、
第1の実施形態に対して、図1に示したエッジ検出部3
のh方向エッジ量検出部41、及びv方向エッジ量検出
部42の構成を変更したものであり、他の構成は第1の
実施形態に示したものと同様なものである。
【0036】本実施形態では、上記(1)式、(2)式
で示した、Dh、Dvの算出方法を以下のように変更し
ている。
【0037】Dh=i−f …(3) Dv=i−i+1 …(4) 即ち、Dh,Dvを注目画素の画像データ値と、h,v
それぞれの方向に関する次の画素の画像データの差分と
して定義する。
【0038】このようにすることにより、図9に示すよ
うに、ハーフトーンの細線の画像を2値化処理する場合
に、注目画素がエッジ領域で、かつ、濃度の高い側のエ
ッジ部にあれば、この画素において、プラスの画素が発
生し、この発生誤差は細線が連続する方向(v方向)に
大きな誤差が分配され、h方向には小さな誤差が分配さ
れることになる。よって、細線を形成する隣接画素に関
しては、大きなプラスの誤差が加算されて誤差補正が行
なわれることになるため、2値化判定部に入力される値
が大きくなり2値化出力として“1”の値を取り易くな
る。その結果として、図12に示すようなハーフトーン
細線が切れ切れに再現されるという現象を抑制できると
いう効果がある。
【0039】尚、Dh,Dvの算出を上記(1),
(2)式によるか、(3),(4)式によるかを、以下
のように選択制御してもよい。
【0040】j(n)−f(n)>α の時、Dh=j
(n)−f(n) j(n)−f(n)≦α の時、Dh=i(n)−f
(n) i(n−1)−i(n+1)>α の時、Dv=i(n
−1)−i(n+1) i(n−1)−i(n+1)≦α の時、Dv=i
(n)−i(n+1) (第3の実施形態)次に、本発明に係る第3の実施形態
を詳細に説明する。第3の実施形態では、2値化誤差の
分配を図10に示すように、注目画素の周辺4画素に分
配するものである。
【0041】このような場合、v方向、h方向のエッジ
量に加えて図11に示す係数により算出される斜め方向
のエッジ量を算出し、これらを比較してもっと大きなエ
ッジ量を示す方向に対して、誤差の分配率が小さくなる
ように制御すれば良い。
【0042】(第4の実施形態)次に、第4の実施形態
として、2値化方式に誤差拡散法を用いた場合に関して
述べる。誤差拡散法では、固定閾値で2値化を行ない、
2値化レベルと注目画素データの差分を2値化誤差とし
て、注目画素周辺の画素データに分配することにより誤
差補正を行なっている。この場合にも、画像データのエ
ッジ方向及び量に応じて誤差の分配率を変え、大きいエ
ッジ方向には誤差の分配率を減少させることにより同様
の効果が得られることは明白である。
【0043】また、本発明は、入力画像を擬似中間調処
理して得られた出力画像と入力画像との誤差を注目画素
の周辺領域に分配し、入力画像を誤差補正しながら処理
する擬似中間調処理に適用可能なものである。
【0044】尚、本発明は、ホストコンピュータ、イン
ターフェース、プリンタ等の複数の機器から構成される
システムに適用しても、複写機等の1つの機器から成る
装置に適用しても良い。また、本発明は記憶媒体に格納
されたプログラムをシステム或いは装置に供給すること
によって達成される場合にも適用できることは言うまで
もない。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
入力画像データのエッジ量とその方向を検出し、大きな
エッジ成分を有する方向に対しては2値化時に発生した
2値化誤差の分配比率を小さくすることにより、高濃度
部からハイライト部に変化する画像において発生してい
た目障りな掃き寄せ現象を抑制する効果があり、高濃度
部とハイライト部の境界近傍においてハイライト部で発
生する2値化出力“1”の画素が出現しやすくなり、画
像信号の濃度再現の応答性が向上するという効果があ
る。
【0046】また、従来切れ切れの線として2値化され
ていた、ハーフトーンの細線を連続する細線として再現
することが可能となり、ハーフトーンの細線の再現性を
向上できるという効果がある。
【0047】
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態による画像処理装置の構成を示
すブロック図である。
【図2】入力画像データの2次元的な配置、平均濃度の
算出時に用いられる2値化済み画素の参照領域及び重み
係数を示す図である。
【図3】2値化判定部5の処理と発生する誤差を説明す
るための図である。
【図4】エッジ検出部3の内部構成を示すブロック図で
ある。
【図5】エッジ量の演算領域と重み係数を示す図であ
る。
【図6】誤差分配部6の詳細なブロック図を示す図であ
る。
【図7】第1の実施形態における制御手順を示すフロー
チャートである。
【図8】第1の実施形態における誤差分配を説明するた
めの図である。
【図9】第2の実施形態における誤差分配を説明するた
めの図である。
【図10】第3の実施形態における2値化誤差の配分を
示す図である。
【図11】第3の実施形態における誤差の分配率を示す
図である。
【図12】従来の課題を説明するための図である。
【符号の説明】
1 ラインメモリ 2 ラインメモリ 3 エッジ検出部 4 加算回路 5 2値化判定部 6 誤差分配部 7 メモリ 8 2値データメモリ 9 周辺濃度演算部

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定のしきい値に基づいて多値画像を2
    値化し、該2値化の誤差を周辺領域に分配し、入力画像
    の濃度を保存しながら多値画像を2値化処理する画像処
    理方法において、 入力された多値画像のエッジ成分を検出し、 検出されたエッジ成分に基づいて周辺画素へ分配する誤
    差の比率を変更する各工程を有することを特徴とする画
    像処理方法。
  2. 【請求項2】 前記変更工程は、検出されたエッジ成分
    の方向と大きさとに応じて周辺画素へ分配する誤差の比
    率を変更することを特徴とする請求項1記載の画像処理
    方法。
  3. 【請求項3】 前記変更工程は、エッジ成分の大きな方
    向には、分配する誤差の比率を小さくすることを特徴と
    する請求項1記載の画像処理方法。
  4. 【請求項4】 所定のしきい値に基づいて多値画像を2
    値化し、該2値化の誤差を周辺領域に分配し、入力画像
    の濃度を保存しながら多値画像を2値化処理する画像処
    理装置において、 入力された多値画像のエッジ成分を検出する検出手段
    と、 前記検出手段により検出されたエッジ成分に基づいて周
    辺画素へ分配する誤差の比率を変更する変更手段とを備
    えることを特徴とする画像処理装置。
  5. 【請求項5】 前記変更手段は、検出されたエッジ成分
    の方向と大きさとに応じて周辺画素へ分配する誤差の比
    率を変更することを特徴とする請求項4記載の画像処理
    装置。
  6. 【請求項6】 前記変更手段は、エッジ成分の大きな方
    向には、分配する誤差の比率を小さくすることを特徴と
    する請求項4記載の画像処理装置。
JP7225180A 1995-09-01 1995-09-01 画像処理方法及び装置 Withdrawn JPH0969942A (ja)

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JP7225180A Withdrawn JPH0969942A (ja) 1995-09-01 1995-09-01 画像処理方法及び装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6999201B1 (en) * 1999-05-18 2006-02-14 International Business Machines Corp. Diffusion method using adaptation of diffusion ratio and an apparatus therefor
JP2008219291A (ja) * 2007-03-01 2008-09-18 Canon Inc 画像処理装置およびその方法

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