JPH0943637A - 表示装置 - Google Patents

表示装置

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JPH0943637A
JPH0943637A JP21271895A JP21271895A JPH0943637A JP H0943637 A JPH0943637 A JP H0943637A JP 21271895 A JP21271895 A JP 21271895A JP 21271895 A JP21271895 A JP 21271895A JP H0943637 A JPH0943637 A JP H0943637A
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JP
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thin film
gate
wiring
insulating film
film transistor
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JP21271895A
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Hiroyuki Ikeda
裕幸 池田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ボトムゲート型の薄膜トランジスタを画素電
極のスイッチング素子として用いた表示装置の画素開口
率を改善する。 【解決手段】 表示装置は互いに接合した一対の透明基
板と、この間隙に保持された電気光学物質とを備えたパ
ネル構造を有する。一方の透明基板にはゲート配線1が
行状にパタニング形成されている。ゲート配線1を被覆
する様にゲート絶縁膜が成膜されている。ゲート配線1
の一部に含まれるゲート電極Gの上に半導体薄膜2がパ
タニング形成されており、ボトムゲート型の薄膜トラン
ジスタ3の活性層となる。薄膜トランジスタ3の上には
信号配線4が列状にパタニング形成されており、薄膜ト
ランジスタ3のソース部Sに接続すると共に、行状のゲ
ート配線1と交差して格子状の遮光帯を構成する。信号
配線4は平坦化膜により被覆されている。この平坦化膜
の上に画素電極5がパタニング形成されており、その外
周端部が遮光帯の内周端部と重なっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はボトムゲート構造
(逆スタガ構造)の薄膜トランジスタを画素電極のスイ
ッチング素子とするアクティブマトリクス型の表示装置
に関する。より詳しくは、開口率を向上させる為の配線
及び画素電極構造に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶を電気光学物質として用いた表示装
置はフラットパネル型であり且つカラー化も容易である
為、ノート型のパーソナルコンピュータのディスプレイ
やテレビ受像機等に応用でき、近年益々その需要及び供
給が拡大の一途を辿っている。これらの応用製品群に利
用される液晶表示装置は、コントラストの高さや応答速
度の速さ等の観点から、薄膜トランジスタを各画素のス
イッチング素子として用いたアクティブマトリクス型が
主流となっている。図4に、ボトムゲート型の薄膜トラ
ンジスタを集積形成した従来のアクティブマトリクス型
表示装置の一例を示す。この表示装置は所定の間隙を介
して互いに接合した一対の透明基板101,102と、
この間隙に保持された液晶103とを備えたパネル構造
を有する。上側の透明基板(対向基板)102には対向
電極104が形成されている。下側の透明基板(駆動基
板)101には、行状にパタニング形成されたゲート配
線105と、このゲート配線105を被覆する様に成膜
されたゲート絶縁膜106と、ゲート配線105の一部
に含まれるゲート電極の上にゲート絶縁膜106を介し
て形成された半導体薄膜107を活性層とするボトムゲ
ート型の薄膜トランジスタ108と、半導体薄膜107
の上に列状にパタニング形成された信号配線109と、
透明導電膜からなり薄膜トランジスタ108のドレイン
部に電気接続する画素電極110とを備えている。この
画素電極110と薄膜トランジスタ108とで1画素を
構成する。
【0003】1画素当たりの大きさは一辺当たり100
μm弱というのが典型的である。そして、1画素の占め
る面積に対する光の透過する領域の面積の割合(即ち、
開口率)は50%前後であるのが一般的である。この様
なアクティブマトリクス型表示装置に形成される画素の
典型的な構成例を図5に示す。駆動基板の上にはゲート
配線201と補助容量配線202が同一レイヤーに形成
されている。ゲート絶縁膜を介してゲート配線201の
上に、非晶質シリコン又は多結晶シリコンからなる半導
体薄膜203がアイランド状にパタニング形成され、ボ
トムゲート型薄膜トランジスタ204の活性層となる。
活性層のチャネル部には保護用のエッチングストッパ2
05がパタニング形成されている。さらには、低抵抗半
導体の積層ないしはイオンドーピングによる低抵抗化に
より、ソース部S及びドレイン部Dが形成される。その
上には、信号配線206と画素電極207とが同一レイ
ヤーに形成される。さらに必要に応じて、画素電極20
7の上に絶縁保護膜208が成膜される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図6を参照して、画素
の周囲を遮閉する配線及び画素電極の従来構造を簡潔に
説明する。液晶表示装置として体をなすには、下側の透
明基板(駆動基板)301に加えて液晶302を挟持す
る上側の透明基板(対向基板)303が必要である。対
向基板303には対向電極304に加えてブラックマト
リクス305が形成されている。このブラックマトリク
ス305は表示コントラストを高める為画素電極305
のアクティブな部分(開口部)以外から漏れて透過する
光を遮閉する。さらにはカラーパネルの場合、画素に対
して整合配置された赤、緑、青のカラーフィルタや保護
膜が設けられる。両基板301,303の表面を配向処
理した後互いに接合して液晶302を注入しその封止を
行なう事で液晶表示装置ができ上がる。さて、この様な
構造においては、画素の開口率は主としてブラックマト
リクス305により規定される。即ち、開口率は対向基
板303に形成されたブラックマトリクス305が制限
要素となっている。1画素当たりのサイズが100μm
前後で、信号配線306の幅も10μm程度のうちは、
上下一対の透明基板301,303の重ね合わせ精度も
含めた幅でブラックマトリクス305がパタニング形成
されたとしても、開口率に与える影響は許容範囲内であ
る。しかしながら、画素サイズが半分となり50μm前
後に微細化されると、このブラックマトリクス305に
よる開口率のロスは無視できなくなってくる。
【0005】改善策として、有機材料の遮光帯307を
駆動基板301側に形成して、2枚の透明基板301,
303の重ね合わせマージン分、遮光帯307の幅を細
くする方法がある。しかしながら、互いに隣り合う画素
電極310の間に信号配線306がパタニング形成され
ている。対向基板303側に形成されるブラックマトリ
クス305に代えて、駆動基板301側に遮光帯307
を形成した場合、これは信号配線306に重なる様なパ
タンとなる。従って、駆動基板301側に遮光帯307
を設けたとしても、隣接する画素電極310の間の距離
が縮まらない限り、抜本的な開口率の改善とはならな
い。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した従来の技術の課
題に鑑み、本発明は画素サイズが微細化された場合にお
いても高い開口率が得られる表示装置を提供する事を目
的とする。かかる目的を達成する為に以下の手段を講じ
た。即ち、本発明にかかる表示装置は所定の間隙を介し
て互いに接合した一対の透明基板と、該間隙に保持され
た電気光学物質とを備えたパネル構造を有する。透明基
板には遮光性のゲート配線が行状にパタニング形成され
ている。このゲート配線を被覆する様に第1絶縁膜が成
膜されている。ゲート配線の一部に含まれるゲート電極
の上に該第1絶縁膜を介して半導体薄膜が形成されてお
り、ボトムゲート型の薄膜トランジスタの活性層とな
る。該半導体薄膜の上に遮光性の信号配線が列状にパタ
ニング形成されている。この信号配線は薄膜トランジス
タのソース部に接続すると共に該行状のゲート配線と交
差して格子状の遮光帯を構成する。該信号配線を被覆す
る様に第2絶縁膜が成膜されている。この第2絶縁膜の
上に透明導電膜がパタニング形成され画素電極となる。
画素電極は該薄膜トランジスタのドレイン部に電気接続
されている。本発明の特徴事項としてパタニングされた
透明導電膜の外周端部が遮光帯の内周端部と重なってい
る。
【0007】好ましくは、前記第2絶縁膜は透明基板に
形成された薄膜トランジスタ、ゲート配線及び信号配線
の凹凸を埋める為に十分な厚みを有する平坦化膜からな
る。又好ましくは、前記ボトムゲート型の薄膜トランジ
スタは、該ゲート電極に整合して該半導体薄膜の上にパ
タニング形成された絶縁膜からなるチャネルストッパ
と、該チャネルストッパをマスクとして該半導体薄膜に
不純物イオンを注入して設けたソース部及びドレイン部
とを有する。
【0008】本発明によれば、透明基板上に少なくとも
ゲート配線、第1絶縁膜(ゲート絶縁膜)、半導体薄膜
(活性層)、信号配線がこの順で形成されており、ボト
ムゲート構造(逆スタガ構造)の薄膜トランジスタを構
成する。この薄膜トランジスタを画素電極のスイッチン
グ素子に用いている。行状のゲート配線及び列状の信号
配線は遮光帯として機能する。画素電極は第2絶縁膜を
介してこの格子状の遮光帯と重なる事で、画素開口率を
高める事が可能である。互いに隣接する画素電極間の距
離が開口率を律していた従来技術に対し、本発明では遮
光帯を構成する配線の幅が開口率を律する事になり、画
素サイズが微細化された高精細の表示装置でも、高い画
素開口率を達成できる。なお、信号配線上にはカラーフ
ィルタの有無、第2絶縁膜の材質(有機/無機)に関わ
りなく、電気的な絶縁体(第2絶縁膜)が活性層と画素
電極とのコンタクトを妨げない形で存在する事が肝要で
ある。
【0009】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。図1は本発明にかかる表示装
置の一実施形態を示す模式的な平面図である。本表示装
置は所定の間隙を介して互いに接合した一対の透明基板
と、この間隙に保持された液晶等の電気光学物質とを備
えたパネル構造を有する。なお、図1は理解を容易にす
る為一方の透明基板のみを表わしている。この透明基板
にはゲート配線1が行状にパタニング形成されている。
このゲート配線を被覆する様に第1絶縁膜(ゲート絶縁
膜)が成膜されている。さらに、ゲート配線1の一部に
含まれるゲート電極Gの上に、ゲート絶縁膜を介して半
導体薄膜2が島状にパタニング形成されている。この半
導体薄膜2はボトムゲート型の薄膜トランジスタ3の活
性層となる。さらにその上には遮光性の信号配線4が列
状にパタニング形成されている。この信号配線4は薄膜
トランジスタ3のソース部Sに接続すると共に、行状の
ゲート配線1と交差して格子状の遮光帯を構成する。こ
の信号配線4は第2絶縁膜により被覆されている。第2
絶縁膜の上には透明導電膜がパタニング形成されており
画素電極5を構成する。この画素電極5は薄膜トランジ
スタ3のドレイン部Dに電気接続されている。画素電極
5の外周端部は遮光帯の内周端部と重なっている。換言
すると、画素電極5はその外周端部が格子状に交差した
ゲート配線1及び信号配線4の内周端部により遮光され
ており、これにより画素開口率が規定される。なお、透
明基板の上にはゲート配線1と平行に同一レイヤーで補
助容量配線6もパタニング形成されている。又、本例の
ボトムゲート型薄膜トランジスタは、ゲート電極Gに整
合して半導体薄膜2の上にパタニング形成された不純物
阻止性の絶縁膜からなるチャネルストッパ7を備えてい
る。このチャネルストッパ7をマスクとして半導体薄膜
2に不純物イオンを注入してソース部S及びドレイン部
Dを設けている。
【0010】本例では、画素電極5と遮光帯は1.5μ
mの重なりを有している。又、画素電極5の配列ピッチ
(画素ピッチ)は水平方向に50μmで、垂直方向に1
50μmである。信号配線4の幅は7μmに設定され、
ゲート配線1及び補助容量配線6の幅は8μmに設定さ
れている。かかるレイアウトにおいて薄膜トランジスタ
3の占有面積は160μm2 程度である。この場合、画
素開口率は75%に達し、従来に比べ約1.5倍高くな
っている。従来の場合、配線と画素電極との間のスペー
スは2.5μmであり、対向基板との重ね合わせ精度は
4μm程度を見込んでいる。対向基板側に形成されたブ
ラックマトリクスの幅を駆動基板側の配線の内周端より
6.5μm太らせた場合、画素開口率は46%にしかす
ぎない。
【0011】図2は、図1に示したA−B線に沿って切
断した本表示装置の断面構造を表わしている。下側の透
明基板(駆動基板)8の上には第1絶縁膜(ゲート絶縁
膜)9を介してゲート配線(図示せず)及び信号配線4
が形成されている。信号配線4の上には第2絶縁膜(平
坦化膜)10を介して画素電極5がパタニング形成され
ている。平坦化膜10は透明基板8に形成された薄膜ト
ランジスタ、ゲート配線及び信号配線の凹凸を埋める為
に十分な厚みを有する。前述した様に、ゲート配線及び
信号配線4は遮光帯として機能し、画素電極5は第2絶
縁膜10を介してこれらゲート配線及び信号配線4と重
なる事で開口率を高めている。なお、下側の透明基板8
には所定の間隙を介して上側の透明基板11が形成され
ており、その内表面には対向電極12が全面的に成膜さ
れている。両基板8,11の間隙には液晶13等の電気
光学物質が保持されている。隣接する画素電極5の間の
距離が開口率を律していた従来技術に対し、本発明では
配線幅が開口率を律する事になり、画素サイズが微細化
された高精細な表示装置でも、高い開口率を達成する事
ができる。なお、信号配線4の上にはカラーフィルタの
有無に関わりなく電気的な絶縁体である第2絶縁膜10
が存在する事が肝要である。この第2絶縁膜10は有機
材料又は無機材料から選択でき、薄膜トランジスタと画
素電極5とのコンタクトを妨げない事が肝要である。本
発明によれば、ゲート配線及び信号配線4を遮光帯とし
て活用できる上、各配線と画素電極5が重なりを有する
事で、開口率を律する因子が従来の隣接する画素電極間
距離から配線幅になる為開口率が大幅に向上する。さら
に、事実上ゲート配線及び信号配線がブラックマトリク
スになる為一対の基板間の重ね合わせマージンも不要と
なる。又、画素電極5が最も上層となる為中間にカラー
フィルタ等を介在しても製造工程に大きな影響を与える
事はない。
【0012】最後に、図3を参照して図1に示したボト
ムゲート型薄膜トランジスタの具体的な構成を製造工程
に沿って詳細に説明する。先ず、ガラス等からなる透明
基板8の上にスパッタリングでタンタル等の金属膜を3
00nmの厚みで成膜し、所定の形状にパタニングしてゲ
ート電極Gを含むゲート配線及び補助容量配線(図示せ
ず)を形成する。ゲート配線及び補助容量配線のパタニ
ングはドライエッチングにより行なった。次に、プラズ
マCVD法でSiNx を350nmの厚みで成膜しゲート
絶縁膜9とした。なお、本例ではゲート絶縁膜はSiN
x の単層構造であるが、これに代えて多層構造を採用し
ても良い。さらに、ゲート絶縁膜9の上に非晶質シリコ
ンからなる半導体薄膜2を50nmの厚みで成膜した。な
お、前述したSiNx 及び非晶質シリコンはプラズマC
VD法により連続成膜される。成膜された非晶質シリコ
ンに対しエキシマレーザ等を照射して一旦溶融化し冷却
過程で多結晶シリコンに転換する。次にドライエッチン
グにより多結晶シリコンからなる半導体薄膜2をアイラ
ンド状にパタニングし、薄膜トランジスタ3の活性層と
する。さらに、プラズマCVD法によりSiOx を20
0nmの厚みで成膜し、ウエットエッチングによりチャネ
ルストッパ7に加工した。チャネルストッパ7のパタニ
ングは例えばゲート電極Gをマスクとする裏面露光を採
用できる。次に、チャネルストッパ7をマスクとしてイ
オンドーピングにより燐等の不純物イオンを半導体薄膜
2に注入し、ソース部S及びドレイン部Dを形成する。
イオンドーピングに代えてイオンインプランテーション
を用いても良い。この後レーザアニールにより半導体薄
膜2に注入された不純物を活性化する。この様にして形
成された薄膜トランジスタ3を被覆する様にPSG等か
らなる層間絶縁膜14を成膜する。この層間絶縁膜14
にエッチングでコンタクトホールを開口した後、その上
にアルミニウムを600nmの厚みでスパッタリングによ
り成膜する。このアルミニウムをパタニングして信号配
線4に加工する。信号配線4を被覆する様に感光性の有
機樹脂を1μmの厚みでコーティングし平坦化膜10と
する。この平坦化膜10にコンタクトホールを開口した
後、ITO等の透明導電膜をスパッタリングにより成膜
する。この透明導電膜をパタニングして画素電極5に加
工する。このパタニングは信号配線4及びゲート配線と
例えば1.5μmの重なりを有する様に行なう。
【0013】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、互
いに交差するゲート配線及び信号配線を遮光帯として利
用している。換言すると、画素電極の外周端部が信号配
線及びゲート配線の内周端部と重なる様にパタニングし
ている。かかる構成では、ゲート配線及び信号配線を遮
光帯として活用できる上、これらの配線と画素電極とが
重なりを有する事で開口率を律する因子が配線幅になる
為画素開口率が大幅に向上する。さらに、ゲート配線及
び信号配線が遮光帯になる為上下一対の基板間の重ね合
わせマージンも不要になる。又、画素電極が最も上層と
なる為中間にカラーフィルタ等の構造が介在しても製造
工程に大きな影響を与える事はない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる表示装置の実施形態を示す模式
的な平面図である。
【図2】図1に示した表示装置の断面図である。
【図3】図1に示した表示装置に形成される薄膜トラン
ジスタの具体的な構成を示す模式的な断面図である。
【図4】従来の表示装置の一例を示す断面図である。
【図5】従来の表示装置の他の例を示す平面図である。
【図6】従来の表示装置の別の例を示す模式的な部分断
面図である。
【符号の説明】
1 ゲート配線 2 半導体薄膜 3 薄膜トランジスタ 4 信号配線 5 画素電極 7 チャネルストッパ 8 透明基板 9 第1絶縁膜 10 第2絶縁膜 11 透明基板 12 対向電極 13 電気光学物質

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定の間隙を介して互いに接合した一対
    の透明基板と、該間隙に保持された電気光学物質とを備
    えたパネル構造を有し、 該透明基板に行状にパタニング形成された遮光性のゲー
    ト配線と、 該ゲート配線を被覆する様に成膜された第1絶縁膜と、 該ゲート配線の一部に含まれるゲート電極の上に該第1
    絶縁膜を介して形成された半導体薄膜を活性層とするボ
    トムゲート型の薄膜トランジスタと、 該半導体薄膜の上に列状にパタニング形成された遮光性
    の配線であって該薄膜トランジスタのソース部に接続す
    ると共に該行状のゲート配線と交差して格子状の遮光帯
    を構成する信号配線と、 該信号配線を被覆する第2絶縁膜と、 該第2絶縁膜の上にパタニング形成された透明導電膜か
    らなり該薄膜トランジスタのドレイン部に電気接続され
    ていると共に、該透明導電膜の外周端部が該遮光帯の内
    周端部と重なっている画素電極とを有する表示装置。
  2. 【請求項2】 前記第2絶縁膜は、透明基板に形成され
    た薄膜トランジスタ、ゲート配線及び信号配線の凹凸を
    埋める為に十分な厚みを有する平坦化膜である請求項1
    記載の表示装置。
  3. 【請求項3】 前記ボトムゲート型の薄膜トランジスタ
    は、該ゲート電極に整合して該半導体薄膜の上にパタニ
    ング形成された絶縁膜からなるチャネルストッパと、該
    チャネルストッパをマスクとして該半導体薄膜に不純物
    イオンを注入して設けたソース部及びドレイン部とを有
    する請求項1記載の表示装置。
JP21271895A 1995-07-28 1995-07-28 表示装置 Pending JPH0943637A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008171006A (ja) * 1999-07-29 2008-07-24 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 液晶表示装置
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