JPH09318663A - プローブユニット - Google Patents
プローブユニットInfo
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- JPH09318663A JPH09318663A JP8138979A JP13897996A JPH09318663A JP H09318663 A JPH09318663 A JP H09318663A JP 8138979 A JP8138979 A JP 8138979A JP 13897996 A JP13897996 A JP 13897996A JP H09318663 A JPH09318663 A JP H09318663A
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- insulating film
- lead
- probe unit
- pressure contact
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
ユニットにおいて、上記各リード間におけるメッキによ
る厚み差はそのままにして、全リード端の角部の絶縁フ
ィルムに対する高さを同一レベルにし、相手側端子の表
面に均一に加圧接触せしめ、メッキ厚の差による接触不
良の問題を適切に解決する。 【解決手段】絶縁フィルム1の表面に多数のリード6を
並列してメッキ成長させ、略同一直線上に配された各リ
ード端の上記絶縁フィルム1とは反対側の角部を相手側
端子の表面に加圧接触せしめるようにしたプローブユニ
ットであって、上記角部を除肉して各リード間における
絶縁フィルム1に対する高さが同一レベルとなる加圧接
触面9を形成したプローブユニット。
Description
やプラズマディスプレイ、或いはIC検査等において、
それらの電極端子に加圧接触せしめるプローブユニット
に関する。
ベース板の表面に多数のリードを並列してメッキ成長さ
せ、該リード端のベース板とは反対側の角部を液晶パネ
ルの電極端子の表面に加圧接触せしめるようにしたプロ
ーブユニットを示している。
は、リードを金属板より打抜いてベースに貼り付けるプ
ローブユニットに比べ、リードピッチを容易に縮小で
き、相手側端子の極小ピッチ化に適切に対処できる技術
として注目されている。
記利点を有する反面、適正材質の金属板より打抜いたリ
ードに比べ微細で且つ脆弱であるため加圧接触時に圧力
によりピッチずれを生ずる問題を内在している。
検討し、上記並列リードを絶縁フィルムの表面にメッキ
成長させ、加圧接触に供されるリード端付近までフィル
ムでバップアップする改善案を考えた。この方策は可撓
性を有するフィルムによって、リード群の加圧接触に要
する撓み性を損なわずにピッチずれも防止でき、上記ピ
ッチずれ対策として有効であった。
実施において、ユーザ側からリードの接触不良を生ずる
場合があることを指摘されるに至り、この原因について
種々究明した結果、僅か1μ程度ではあるが、リードの
メッキ成長(厚み)のバラツキが絶縁フィルムに対する
リードの高さの差となり、この高さの差は絶縁フィルム
の可撓性によっても吸収されないことに起因するもので
あることを見出した。即ち各リードは極めて微小なピッ
チで絶縁フィルムに接着され拘束されているため、リー
ド群全体としてはフィルムを撓ませつつ撓むことができ
るが、リード個々の自由な撓みは制限され、この結果上
記リード相互間における厚みの差によって、相手側端子
の表面に接触したり、非接触となったり、或いはリード
間において接触圧の過不足を生ずる、この結果上記接触
不良が生ずることを見出した。
群をメッキ成長にて形成したプローブユニットにおい
て、該プローブユニットが内在する上記リード端角部に
おける接触不良の問題を有効に解決するプローブユニッ
トを提供するものである。
絶縁フィルムの表面に多数のリードをメッキ成長にて並
列させ、絶縁フィルムの可撓性により上記加圧接触に供
される各リード端の撓み性を損なわずに、同フィルムに
よる拘束にて各リード端のピッチずれを防止する構造を
採る。
端の絶縁フィルムとは反対側の角部に除肉加工を施して
各リード間における絶縁フィルムに対する高さが略同一
レベルである加圧接触面を形成し、この面を以って相手
側端子の表面に加圧接触せしめる構造にした。上記除肉
は水平面をなす研磨シートの表面に全リード端の上記角
部を摺擦することにより形成される。
バラツキを生じていても、上記除肉により、絶縁フィル
ムに対する上記角部の加圧接触面の高さが同一レベルと
なり、相手側端子の表面に均一に加圧接触せしめメッキ
層の差による接触不良の問題を適切に解決することがで
きる。同時に絶縁フィルムにより各リード端の撓み性を
損なわずにピッチずれを防止する利点をも有効に享受で
きる。
ドより硬質のメッキ被膜にて覆い、耐用寿命の向上を図
る。
端縁と一緒に研磨により除肉して倣い面とし、接触時の
絶縁フィルムと相手側端子の干渉を防止し且つ接触状態
のカメラ観察等を容易にする。
ム1上に並列リード群をメッキ成長させる方法について
説明する。
ルム1の表面に銅箔等の導電箔2を貼り合わせたものを
用意し、この導電箔2の表面に感光剤層3を層着する。
表面に多数の並列溝を有するマスクを重ねて感光剤層3
を露光し、該露光部を除去して残留感光剤層にて並列隔
壁4を形成する。
間の並列溝5内において、該溝底部に露出する導電箔2
からリード6をメッキ成長させる。
去し、図1Eに示すように、余分な導電箔2、即ちリー
ド6間の導電箔2をエッチング等にて除去し、絶縁フィ
ルム1の表面にメッキ成長にて形成された並列リード群
を有するプローブユニット7を形成する。
に、少なくともその一端が絶縁フィルム1の端縁に達
し、この端縁において通りが直線上に一致せられる。
に配された各リード端の上記絶縁フィルム1とは反対側
の角部8を相手側端子の表面に加圧接触される。
端部の加圧接触に供される角部8を除肉して各リード間
における絶縁フィルム1に対する高さHが略同一レベル
となる加圧接触面9を形成する。図4Aに示すように、
上記リード6の加圧接触に供される角部8はメッキ成長
させたままの状態では比較的直角に近い鋭利な角度であ
ると共に、図3Aに示すように、各リード6間のメッキ
厚み、即ち絶縁フィルム1に対する高さH′にも差が存
する。従って加圧接触に供される各角部8の高さにおい
てもリード相互に差を有している。
のメッキ厚、即ち絶縁フィルム1に対する高さH′のバ
ラツキはそのままにし、各リード6の角部に除肉加工を
与えて均一な高さの前記加圧接触面9を形成するのであ
る。
除肉巾Wはリード6のメッキ厚H′の途中までとする。
上記除肉加工は、適例として図3に示すような研磨加工
による。
面に設置し、上記プローブユニット7の並列されたリー
ド6の角部8をこの研磨シート10の表面に押し付け、
次で図3B,Cに示すように、この角部8をプローブユ
ニット7と一緒に研磨シート10の摩擦面に添って摺動
して上記角部8を除肉し、同角部に新たな加圧接触面9
を形成する。
ド角部8を矢印a1で示すように、略弧形軌跡を以って
摺動して、図4Bに示す傾斜角を有する略弧形面から成
る加圧接触面9を形成している。
ード角部8を矢印a2で示すように、研磨シート10の
磨擦面に添って略平行に摺動させて、図4Cに示す傾斜
角を有する略平面から成る加圧接触面9を形成してい
る。
リードの角部8に鍜圧を与えて生成することができる。
又他例としてリードの角部8を熱盤に押し付ける等して
加熱溶融することにより、除肉して加圧接触面9を形成
することができる。
全長をなす本体部が、メッキ厚に差を有しているが、加
圧接触に供される絶縁フィルム1とは反対側の角部の加
圧接触面9は、図4Dに示すように、個々のリード6に
おいて除肉しろとなるリード長手方向の加圧接触面9の
巾が異なるが、この加圧接触面9上のどの接圧点におい
ても高さHが等しくなる。これによって図5A,Bに示
すように、相手方端子11に対する各リード6の加圧接
触が均一になされる。
れた電極端子11に対する加圧接触状態を示し、上記プ
ローブユニット7は図5Aに示すように、絶縁フィルム
1の大部分を剛体をなす台盤13の表面に接着し、該台
盤13の端縁から上記絶縁フィルム1の端部をリード6
の端部と共に張り出させ、この絶縁フィルム1の張り出
し端をその可撓性により反り曲げながら、上記リード端
部を反り曲げ、その反力にて上記加圧接触面9を相手側
端子11に均一に加圧接触せしめる。
部8を絶縁フィルム1の端縁と一緒に除肉して倣い面と
した例を示している。この除肉は絶縁フィルム1が合成
樹脂製であるので、図5に基いて説明した研磨により行
なう。このプローブユニット7はリード6をメッキ成長
により形成する構造であるが、図6Aに示すように、各
リード6の端部と絶縁フィルム1の端縁との不揃いがメ
ッキ現象として生ずる場合がある。
ド端の角部8と一緒に研磨シート10の摩擦面に摺動さ
せて、両者の除肉を行ない前記加圧接触面9を形成して
いる。この場合、この加圧接触面9はリードの角部8を
含むリード端面の全厚みを除肉する弧形面又は平面であ
る。
1でバックアップした例を示したが、絶縁フィルム1の
端部を上記台盤13の端縁より張り出させ、さらに該絶
縁フィルムの端縁よりリード6端を若干突出させ、その
加圧接触に供される上記角部8を除肉し、新たな等高の
加圧接触面9を形成する場合を含む。
た加圧接触面9の表面をリード材質よりも硬質の金属に
てメッキ被膜する。14はこのメッキ被膜を示してお
り、該メッキ被膜14は図示のように加圧接触面9に限
定して施すか又は加圧接触面9を含むリード全長の全表
面又は途中まで施す。
ルの他、プラズマディスプレイ、IC、配線回路基板の
各電極端子との加圧接触に供される。
キによる厚み差が生じていてもその厚み差はそのままに
して上記除肉により絶縁フィルムに対する上記角部の加
圧接触面の高さが同一レベルとなり、相手側端子の表面
に均一に加圧接触せしめ、メッキ厚の差による接触不良
の問題を適切に解決することができる。同時に絶縁フィ
ルムにより各リード端の撓み性を損なわずにピッチずれ
を防止する利点をも有効に享受でき、メッキ成長によっ
てリード群を形成するプローブユニットの特徴を有効に
活用できる。
ードより硬質のメッキ被膜にて覆うことにより脆弱なメ
ッキによるプローブユニットの耐用寿命を大巾に向上で
きる。
端縁と一緒に研磨により除肉して倣い面とすることによ
り、接触時の絶縁フィルムと相手側端子の干渉を防止し
且つ接触状態の観察等を容易にする。
を並列してメッキ成長させる例を工程順に示す横断面
図。
態例を示す平面図。
角部に研磨を施し、加圧接触面を形成する各例を工程順
に示す縦断面図。
B,Cは夫々除肉形態例を示す縦断面図、Dは同正面
図。
子との加圧接触構造を側面視せる縦断面図、Bは同正面
視せる横断面図。
とリード端に不揃いを生じている状態を示す縦断面図、
Bはこの絶縁フィルムの端縁とリード端に除肉加工を施
した状態を示す縦断面図。本発明の他の実施形態例を示
し、加圧接触面にメッキ被膜を施したプローブユニット
の縦断面図。
とリード端に不揃いを生じている状態を示す縦断面図、
Bはこの絶縁フィルムの端縁とリード端に除肉加工を施
した状態を示す縦断面図。
メッキ被膜を施したプローブユニットの縦断面図。
Claims (4)
- 【請求項1】絶縁フィルムの表面に多数のリードを並列
してメッキ成長させ、略同一直線上に配された各リード
端の上記絶縁フィルムとは反対側の角部を相手側端子の
表面に加圧接触せしめるようにしたプローブユニットで
あって、上記角部を除肉して各リード間における絶縁フ
ィルムに対する高さが同一レベルとなる加圧接触面を形
成したことを特徴とするプローブユニット。 - 【請求項2】上記角部を研磨により除肉して上記加圧接
触面を弧形に形成したことを特徴とする請求項1記載の
プローブユニット。 - 【請求項3】上記除肉して形成された加圧接触面をリー
ドより硬質のメッキ被膜にて覆ったことを特徴とする請
求項1記載のプローブユニット。 - 【請求項4】上記各リード端の角部を絶縁フィルムの端
縁と一緒に研磨により除肉して倣い面としたことを特徴
とする請求項1記載のプローブユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8138979A JP2846851B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | プローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8138979A JP2846851B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | プローブユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09318663A true JPH09318663A (ja) | 1997-12-12 |
JP2846851B2 JP2846851B2 (ja) | 1999-01-13 |
Family
ID=15234650
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8138979A Expired - Fee Related JP2846851B2 (ja) | 1996-05-31 | 1996-05-31 | プローブユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2846851B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008120587A1 (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-09 | Advantest Corporation | コンタクタ、プローブカード及びコンタクタの製造方法 |
JP2014149174A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
-
1996
- 1996-05-31 JP JP8138979A patent/JP2846851B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008120587A1 (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-09 | Advantest Corporation | コンタクタ、プローブカード及びコンタクタの製造方法 |
JP2014149174A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2846851B2 (ja) | 1999-01-13 |
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