JPH09318562A - Ｘ線液量検査装置 - Google Patents
Ｘ線液量検査装置Info
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- JPH09318562A JPH09318562A JP15744596A JP15744596A JPH09318562A JP H09318562 A JPH09318562 A JP H09318562A JP 15744596 A JP15744596 A JP 15744596A JP 15744596 A JP15744596 A JP 15744596A JP H09318562 A JPH09318562 A JP H09318562A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】順次送られてくる被検査容器に各々Ｘ線を曝射
し、その透過Ｘ線にて被検査容器内の液量の良否判定を
行う、本体基準レベル高さの調整が可能なＸ線液量検査
装置において、上記本体基準レベル高さの調整を、短時
間で誤りなく行えるようにする。 【解決手段】各々被検査容器透過Ｘ線の強さに応じた値
の電気信号を出力する２つのＸ線センサ５，７を被検査
容器４の上下方向に適宜間隔置いて配置し、またこの２
つのＸ線センサの各出力信号が予め設定された値より大
きいか否かを判定して各判定結果の組合せにより本体基
準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結果を
２値信号で出力する高さ調整正否判別手段１０２を設け
る。
し、その透過Ｘ線にて被検査容器内の液量の良否判定を
行う、本体基準レベル高さの調整が可能なＸ線液量検査
装置において、上記本体基準レベル高さの調整を、短時
間で誤りなく行えるようにする。 【解決手段】各々被検査容器透過Ｘ線の強さに応じた値
の電気信号を出力する２つのＸ線センサ５，７を被検査
容器４の上下方向に適宜間隔置いて配置し、またこの２
つのＸ線センサの各出力信号が予め設定された値より大
きいか否かを判定して各判定結果の組合せにより本体基
準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結果を
２値信号で出力する高さ調整正否判別手段１０２を設け
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検査容器内の液
量の良否判定を行うＸ線液量検査装置に関するものであ
る。
量の良否判定を行うＸ線液量検査装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】この種の装置において、検査対象である
被検査容器、通常、密封容器の液面高さに、当該装置の
Ｘ線検査高さを合わせる調整（以下、本体基準レベル高
さの調整という）は、装置出荷後は装置使用者側で行っ
ている。この本体基準レベル高さの調整は、一般に、始
業時又は型替え時（例えば容器の径、液面高さ、容器の
材質等、容器の種類が変わる時やコンベア速度が変わり
線量、検出部ゲイン等、検査装置の動作設定を変える
時）等において、基準となる液面高さの容器を用いて行
っている。従来装置において、このような本体基準レベ
ル高さの調整は、静止しているコンベア上に基準となる
液面高さの容器を置き、Ｘ線発生部及びＸ線検出部から
なる装置本体の上下動機構部を電動又は手動で上記コン
ベアに対し上下動させ、その間、何回かＸ線を曝射さ
せ、その都度、調整作業者が透過Ｘ線測定結果をみて良
否判断することにより行っている。
被検査容器、通常、密封容器の液面高さに、当該装置の
Ｘ線検査高さを合わせる調整（以下、本体基準レベル高
さの調整という）は、装置出荷後は装置使用者側で行っ
ている。この本体基準レベル高さの調整は、一般に、始
業時又は型替え時（例えば容器の径、液面高さ、容器の
材質等、容器の種類が変わる時やコンベア速度が変わり
線量、検出部ゲイン等、検査装置の動作設定を変える
時）等において、基準となる液面高さの容器を用いて行
っている。従来装置において、このような本体基準レベ
ル高さの調整は、静止しているコンベア上に基準となる
液面高さの容器を置き、Ｘ線発生部及びＸ線検出部から
なる装置本体の上下動機構部を電動又は手動で上記コン
ベアに対し上下動させ、その間、何回かＸ線を曝射さ
せ、その都度、調整作業者が透過Ｘ線測定結果をみて良
否判断することにより行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来装置では、次
のような問題点があった。すなわち、本体基準レベル高
さの調整時におけるＸ線曝射，透過Ｘ線測定は、通常、
被検査容器、ここでは缶容器の上方から下方に向けて行
われる。この場合、缶上蓋の上方空間部分から缶上蓋を
経て缶内の缶上蓋及び液面相互間空間（空部分）、そし
て液面、更には液中へとＸ線曝射位置が移動する。した
がって、その際の透過Ｘ線測定値の変化をみれば、調整
作業者は良否判断できることになる。しかし実際には、
通常の缶容器においては液面と缶上蓋との隙間は４〜８
ｍｍ程度であるため、調整作業者が缶上蓋を液面である
と誤って認識し、誤調整されることがあり、また、誤調
整をなくすためには細かく調整しなければならず、調整
が難しくなって時間がかかる等の問題点があった。Ｘ線
曝射，透過Ｘ線測定が被検査容器（缶容器）の下方から
上方に向けて行われる場合も、液面と缶上蓋との混同，
誤認は生じ得る。したがって上記問題は、Ｘ線曝射，透
過Ｘ線測定が被検査容器（缶容器）の下方から上方に向
けて行われる場合も生じた。
のような問題点があった。すなわち、本体基準レベル高
さの調整時におけるＸ線曝射，透過Ｘ線測定は、通常、
被検査容器、ここでは缶容器の上方から下方に向けて行
われる。この場合、缶上蓋の上方空間部分から缶上蓋を
経て缶内の缶上蓋及び液面相互間空間（空部分）、そし
て液面、更には液中へとＸ線曝射位置が移動する。した
がって、その際の透過Ｘ線測定値の変化をみれば、調整
作業者は良否判断できることになる。しかし実際には、
通常の缶容器においては液面と缶上蓋との隙間は４〜８
ｍｍ程度であるため、調整作業者が缶上蓋を液面である
と誤って認識し、誤調整されることがあり、また、誤調
整をなくすためには細かく調整しなければならず、調整
が難しくなって時間がかかる等の問題点があった。Ｘ線
曝射，透過Ｘ線測定が被検査容器（缶容器）の下方から
上方に向けて行われる場合も、液面と缶上蓋との混同，
誤認は生じ得る。したがって上記問題は、Ｘ線曝射，透
過Ｘ線測定が被検査容器（缶容器）の下方から上方に向
けて行われる場合も生じた。
【０００４】本発明の目的は、本体基準レベル高さの調
整において、誤調整をなくすことができ、また調整時間
の短縮を図ることのできるＸ線液量検査装置を提供する
ことにある。
整において、誤調整をなくすことができ、また調整時間
の短縮を図ることのできるＸ線液量検査装置を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的は、順次送られ
てくる被検査容器に各々Ｘ線を曝射し、その透過Ｘ線に
て前記被検査容器内の液量の良否判定を行う、本体基準
レベル高さの調整が可能なＸ線液量検査装置において、
各々被検査容器透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を
出力するもので前記被検査容器の上下方向に適宜間隔置
いて配置された少なくとも２つのＸ線センサと、この２
つのＸ線センサの各出力信号が予め設定された値より大
きいか否かを判定して各判定結果の組合せにより前記本
体基準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結
果を２値信号で出力する高さ調整正否判別手段とを設け
ることにより達成される。
てくる被検査容器に各々Ｘ線を曝射し、その透過Ｘ線に
て前記被検査容器内の液量の良否判定を行う、本体基準
レベル高さの調整が可能なＸ線液量検査装置において、
各々被検査容器透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を
出力するもので前記被検査容器の上下方向に適宜間隔置
いて配置された少なくとも２つのＸ線センサと、この２
つのＸ線センサの各出力信号が予め設定された値より大
きいか否かを判定して各判定結果の組合せにより前記本
体基準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結
果を２値信号で出力する高さ調整正否判別手段とを設け
ることにより達成される。
【０００６】高さ調整正否判別手段は、各々被検査容器
透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を出力する２つの
Ｘ線センサの各出力信号が予め設定された値より大きい
か否かを判定して各判定結果の組合せにより前記本体基
準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結果を
２値信号で出力する。すなわち調整作業者は、２値信号
で高さ調整の正否が判別できる。したがって、例えば高
さ調整正否判別手段の出力端子に警報器あるいは表示器
を接続すれば、調整作業者は警報あるいは表示の有無だ
けで本体基準レベル高さの調整が正しいか否かが分か
り、誤っているとき、例えば警報が鳴るときのみ本体基
準レベル高さ調整を続行し、警報が鳴らなくなったとき
に調整完了と認識できることになる。これにより、本体
基準レベル高さの調整において、誤調整をなくすことが
でき、また調整時間の短縮が図れる。
透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を出力する２つの
Ｘ線センサの各出力信号が予め設定された値より大きい
か否かを判定して各判定結果の組合せにより前記本体基
準レベル高さの調整が正しいか否かを判別しその結果を
２値信号で出力する。すなわち調整作業者は、２値信号
で高さ調整の正否が判別できる。したがって、例えば高
さ調整正否判別手段の出力端子に警報器あるいは表示器
を接続すれば、調整作業者は警報あるいは表示の有無だ
けで本体基準レベル高さの調整が正しいか否かが分か
り、誤っているとき、例えば警報が鳴るときのみ本体基
準レベル高さ調整を続行し、警報が鳴らなくなったとき
に調整完了と認識できることになる。これにより、本体
基準レベル高さの調整において、誤調整をなくすことが
でき、また調整時間の短縮が図れる。
【０００７】また、Ｘ線液量検査装置は、各々被検査容
器透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を出力するもの
で被検査容器の上下方向に適宜間隔置いて配置された２
つ又は３つのＸ線センサと、それらのＸ線センサの出力
信号に対応して設けられ各々Ｘ線センサ出力信号が予め
設定された値より大きいか否かを判定する２つ又は３つ
の信号値比較判定回路と、この２つ又は３つの信号値比
較判定回路に対応して設けられ各々信号値比較判定回路
の判定結果を格納する２つ又は３つのフリップフロップ
等の一時記憶回路を持つ構成が一般的である。Ｘ線液量
検査装置は、一般に、上下方向中央のＸ線センサ位置よ
り液面が上か下かの検出結果と、上下の一対のＸ線セン
サ相互間に液面があるか否かの検出結果とにより液量の
良否を判定しているからである。上記の検査装置構成の
場合には、本発明装置構成の大部分を、そのような一般
的なＸ線液量検査装置に既に備わる構成部分に兼用させ
得る。具体的には、上記２つ又は３つの一時記憶回路の
出力側に、それら一時記憶回路の出力信号値の組合せか
ら本体基準レベル高さの調整の正否判別結果を２値信号
で出力する論理回路を付加するのみで、本発明装置を構
成し得、この場合には構成の簡易化、低コスト化も可能
となる。
器透過Ｘ線の強さに応じた値の電気信号を出力するもの
で被検査容器の上下方向に適宜間隔置いて配置された２
つ又は３つのＸ線センサと、それらのＸ線センサの出力
信号に対応して設けられ各々Ｘ線センサ出力信号が予め
設定された値より大きいか否かを判定する２つ又は３つ
の信号値比較判定回路と、この２つ又は３つの信号値比
較判定回路に対応して設けられ各々信号値比較判定回路
の判定結果を格納する２つ又は３つのフリップフロップ
等の一時記憶回路を持つ構成が一般的である。Ｘ線液量
検査装置は、一般に、上下方向中央のＸ線センサ位置よ
り液面が上か下かの検出結果と、上下の一対のＸ線セン
サ相互間に液面があるか否かの検出結果とにより液量の
良否を判定しているからである。上記の検査装置構成の
場合には、本発明装置構成の大部分を、そのような一般
的なＸ線液量検査装置に既に備わる構成部分に兼用させ
得る。具体的には、上記２つ又は３つの一時記憶回路の
出力側に、それら一時記憶回路の出力信号値の組合せか
ら本体基準レベル高さの調整の正否判別結果を２値信号
で出力する論理回路を付加するのみで、本発明装置を構
成し得、この場合には構成の簡易化、低コスト化も可能
となる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を説明する。図１及び図２は、各々本発明による
Ｘ線液量検査装置の一実施形態を示すブロック図で、図
１は本体基準レベル高さの調整が正しい（合っている）
場合を示し、図２は誤っている（合っていない）場合を
示す。これら図１，図２において、１はＸ線液量検査装
置本体で、Ｘ線発生部２とＸ線検出部３とからなる。１
００はこの本体１を電動又は手動で上下動する上下動機
構部で、この上下動機構部１００を駆動することにより
本体基準レベル高さの調整が行われる。上記Ｘ線検出部
３は、被検査容器４の透過Ｘ線の強さに応じた値の電気
信号を出力する多素子、ここでは３素子のホトダイオー
ドからなるＸ線センサ５〜７とその出力信号を各別に増
幅するＯＰアンプ８〜１０とで構成されている。Ｘ線セ
ンサ５〜７のうち、Ｘ線センサ６は被検査容器４内の液
面高さ１０１を検出する基準用Ｘ線センサとして用いら
れ、Ｘ線センサ５は基準用Ｘ線センサ６の検出高さより
３〜８ｍｍ上を検出する上限用Ｘ線センサとして用いら
れ、Ｘ線センサ７は基準用Ｘ線センサ６の検出高さより
３〜８ｍｍ下を検出する下限用Ｘ線センサとして用いら
れる。
施形態を説明する。図１及び図２は、各々本発明による
Ｘ線液量検査装置の一実施形態を示すブロック図で、図
１は本体基準レベル高さの調整が正しい（合っている）
場合を示し、図２は誤っている（合っていない）場合を
示す。これら図１，図２において、１はＸ線液量検査装
置本体で、Ｘ線発生部２とＸ線検出部３とからなる。１
００はこの本体１を電動又は手動で上下動する上下動機
構部で、この上下動機構部１００を駆動することにより
本体基準レベル高さの調整が行われる。上記Ｘ線検出部
３は、被検査容器４の透過Ｘ線の強さに応じた値の電気
信号を出力する多素子、ここでは３素子のホトダイオー
ドからなるＸ線センサ５〜７とその出力信号を各別に増
幅するＯＰアンプ８〜１０とで構成されている。Ｘ線セ
ンサ５〜７のうち、Ｘ線センサ６は被検査容器４内の液
面高さ１０１を検出する基準用Ｘ線センサとして用いら
れ、Ｘ線センサ５は基準用Ｘ線センサ６の検出高さより
３〜８ｍｍ上を検出する上限用Ｘ線センサとして用いら
れ、Ｘ線センサ７は基準用Ｘ線センサ６の検出高さより
３〜８ｍｍ下を検出する下限用Ｘ線センサとして用いら
れる。
【０００９】１１はケーブル、１２はケーブル１１を介
してＸ線検出部３に接続される制御回路である。制御回
路１２は、上限用比較判定回路１６、基準用比較判定回
路１７、下限用比較判定回路１８、上限用比較判定回路
出力一時記憶用フリップフロップ１９、基準用比較判定
回路出力一時記憶用フリップフロップ２０及び下限用比
較判定回路出力一時記憶用フリップフロップ２１からな
り、その出力信号（フリップフロップ１９〜２１の出力
信号）は被検査容器４を後述コンベア上より排斥する排
斥器（図示せず）等の制御信号として用いられる。２２
は上記比較判定回路１６，１８及びフリップフロップ１
９，２１とで高さ調整正否判別回路１０２を構成するＮ
ＡＮＤ回路である。高さ調整正否判別回路１０２は、上
記Ｘ線センサ５，７の各出力信号が比較判定回路１６，
１８にて予め設定された値より大きいか否かを判定して
各判定結果の組合せ、ここではフリップフロップ１９，
２１の出力信号の組合せにより上記本体基準レベル高さ
の調整が正しいか否かを判別しその結果をＨレベル又は
Ｌレベルの２値信号で出力するものである。なお、１３
はＯＰアンプ８の出力信号波形、１４はＯＰアンプ９の
出力信号波形、１５はＯＰアンプ１０の出力信号波形で
ある。また、１０３はＸ線発生部２とＸ線検出部３との
間に設置された被検査容器搬送用コンベア、１０４は床
面である。
してＸ線検出部３に接続される制御回路である。制御回
路１２は、上限用比較判定回路１６、基準用比較判定回
路１７、下限用比較判定回路１８、上限用比較判定回路
出力一時記憶用フリップフロップ１９、基準用比較判定
回路出力一時記憶用フリップフロップ２０及び下限用比
較判定回路出力一時記憶用フリップフロップ２１からな
り、その出力信号（フリップフロップ１９〜２１の出力
信号）は被検査容器４を後述コンベア上より排斥する排
斥器（図示せず）等の制御信号として用いられる。２２
は上記比較判定回路１６，１８及びフリップフロップ１
９，２１とで高さ調整正否判別回路１０２を構成するＮ
ＡＮＤ回路である。高さ調整正否判別回路１０２は、上
記Ｘ線センサ５，７の各出力信号が比較判定回路１６，
１８にて予め設定された値より大きいか否かを判定して
各判定結果の組合せ、ここではフリップフロップ１９，
２１の出力信号の組合せにより上記本体基準レベル高さ
の調整が正しいか否かを判別しその結果をＨレベル又は
Ｌレベルの２値信号で出力するものである。なお、１３
はＯＰアンプ８の出力信号波形、１４はＯＰアンプ９の
出力信号波形、１５はＯＰアンプ１０の出力信号波形で
ある。また、１０３はＸ線発生部２とＸ線検出部３との
間に設置された被検査容器搬送用コンベア、１０４は床
面である。
【００１０】次に上述本発明装置の動作について説明す
る。ここでは、本体基準レベル高さの調整時における動
作を中心に述べることにする。まず図１を参照して、本
体基準レベル高さの調整が正しい（合っている）場合の
動作について説明をする。本体基準レベル高さの調整
時、被検査容器４は、静止状態にあるコンベア１０３上
に置かれる。この状態で、Ｘ線発生部２からＸ線を曝射
すると、上記被検査容器４を透過したＸ線はＸ線検出部
３に入射される。図１に例示の場合、液面高さ１０１が
基準用Ｘ線センサ６と同じ高さとなっているので、上限
用Ｘ線センサ５は被検査容器４内の空部分を透過したＸ
線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ８の出力
信号は波形１３に示すように大きな信号となる。また、
下限用Ｘ線センサ７は被検査容器４内の液充填部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が多いのでＯＰアンプ１
０の出力信号は波形１５に示すように小さな信号とな
る。基準用Ｘ線センサ６は被検査容器４内の液面部分を
透過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が上記各場合の中間程
度であるのでＯＰアンプ９の出力信号は波形１４に示す
ように波形１３，１５の中間程度の大きさの信号となっ
ている。
る。ここでは、本体基準レベル高さの調整時における動
作を中心に述べることにする。まず図１を参照して、本
体基準レベル高さの調整が正しい（合っている）場合の
動作について説明をする。本体基準レベル高さの調整
時、被検査容器４は、静止状態にあるコンベア１０３上
に置かれる。この状態で、Ｘ線発生部２からＸ線を曝射
すると、上記被検査容器４を透過したＸ線はＸ線検出部
３に入射される。図１に例示の場合、液面高さ１０１が
基準用Ｘ線センサ６と同じ高さとなっているので、上限
用Ｘ線センサ５は被検査容器４内の空部分を透過したＸ
線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ８の出力
信号は波形１３に示すように大きな信号となる。また、
下限用Ｘ線センサ７は被検査容器４内の液充填部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が多いのでＯＰアンプ１
０の出力信号は波形１５に示すように小さな信号とな
る。基準用Ｘ線センサ６は被検査容器４内の液面部分を
透過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が上記各場合の中間程
度であるのでＯＰアンプ９の出力信号は波形１４に示す
ように波形１３，１５の中間程度の大きさの信号となっ
ている。
【００１１】各ＯＰアンプ８〜１０（Ｘ線検出部３）の
出力信号はケーブル１１を介して制御回路１２へ送られ
る。すなわち、ＯＰアンプ８からの波形１３の出力信号
は上限用比較判定回路１６に、ＯＰアンプ９からの波形
１４の出力信号は基準用比較判定回路１７に、ＯＰアン
プ１０からの波形１５の出力信号は下限用比較判定回路
１８に、各々入力される。比較判定回路１６〜１８で
は、ＯＰアンプ８〜１０からの出力信号の値と予め設定
された値とを各々比較して液の有／無を判定し、判定結
果をフリップフロップ１９〜２１に格納する。その結
果、図１の例では、フリップフロップ１９はセット状
態、フリップフロップ２０はセット状態又は非セット状
態、フリップフロップ２１は非セット状態となる。高さ
調整正否判別回路１０２の最終段をなすＮＡＮＤ回路２
２はフリップフロップ１９，２１の出力のＮＡＮＤをと
るもので、ここではフリップフロップ１９の出力端子が
Ｈレベル、フリップフロップ２１の出力端子がＬレベル
となり、ＮＡＮＤ回路２２からはＨレベル信号が出力さ
れ（基準高さエラー信号は出力されず）、本体基準レベ
ル高さの調整が正しい（合っている）ことが分かる。し
たがって、上下動機構部１００を駆動させる必要がな
く、本体基準レベル高さの調整は完了となる。
出力信号はケーブル１１を介して制御回路１２へ送られ
る。すなわち、ＯＰアンプ８からの波形１３の出力信号
は上限用比較判定回路１６に、ＯＰアンプ９からの波形
１４の出力信号は基準用比較判定回路１７に、ＯＰアン
プ１０からの波形１５の出力信号は下限用比較判定回路
１８に、各々入力される。比較判定回路１６〜１８で
は、ＯＰアンプ８〜１０からの出力信号の値と予め設定
された値とを各々比較して液の有／無を判定し、判定結
果をフリップフロップ１９〜２１に格納する。その結
果、図１の例では、フリップフロップ１９はセット状
態、フリップフロップ２０はセット状態又は非セット状
態、フリップフロップ２１は非セット状態となる。高さ
調整正否判別回路１０２の最終段をなすＮＡＮＤ回路２
２はフリップフロップ１９，２１の出力のＮＡＮＤをと
るもので、ここではフリップフロップ１９の出力端子が
Ｈレベル、フリップフロップ２１の出力端子がＬレベル
となり、ＮＡＮＤ回路２２からはＨレベル信号が出力さ
れ（基準高さエラー信号は出力されず）、本体基準レベ
ル高さの調整が正しい（合っている）ことが分かる。し
たがって、上下動機構部１００を駆動させる必要がな
く、本体基準レベル高さの調整は完了となる。
【００１２】次に図２を参照して、本体基準レベル高さ
の調整が誤っている（合っていない）場合の動作につい
て説明をする。本体基準レベル高さの調整時、被検査容
器４は、静止状態にあるコンベア１０３上に置かれる。
この状態で、Ｘ線発生部２からＸ線を曝射すると、上記
被検査容器４を透過したＸ線はＸ線検出部３に入射され
る。図２に例示の場合、被検査容器４の上蓋高さが基準
用Ｘ線センサ６と同じ高さとなっているので、上限用Ｘ
線センサ５は被検査容器４上蓋の上方空間部分を透過し
たＸ線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ８の
出力信号は波形１３に示すように大きな信号となる。ま
た、下限用Ｘ線センサ７は被検査容器４内の空部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ
１０の出力信号は波形１５に示すように大きな信号とな
る。基準用Ｘ線センサ６は被検査容器４の上蓋部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が多いのでＯＰアンプ９
の出力信号は波形１４に示すように小さな信号となる。
の調整が誤っている（合っていない）場合の動作につい
て説明をする。本体基準レベル高さの調整時、被検査容
器４は、静止状態にあるコンベア１０３上に置かれる。
この状態で、Ｘ線発生部２からＸ線を曝射すると、上記
被検査容器４を透過したＸ線はＸ線検出部３に入射され
る。図２に例示の場合、被検査容器４の上蓋高さが基準
用Ｘ線センサ６と同じ高さとなっているので、上限用Ｘ
線センサ５は被検査容器４上蓋の上方空間部分を透過し
たＸ線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ８の
出力信号は波形１３に示すように大きな信号となる。ま
た、下限用Ｘ線センサ７は被検査容器４内の空部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が少ないのでＯＰアンプ
１０の出力信号は波形１５に示すように大きな信号とな
る。基準用Ｘ線センサ６は被検査容器４の上蓋部分を透
過したＸ線を受け、Ｘ線の吸収が多いのでＯＰアンプ９
の出力信号は波形１４に示すように小さな信号となる。
【００１３】そしてＯＰアンプ８〜１０の出力信号がケ
ーブル１１を介して入力される比較判定回路１６〜１８
では、図１の場合と同様に、ＯＰアンプ８〜１０からの
出力信号の値と予め設定された値とを各々比較して液の
有／無を判定し、判定結果をフリップフロップ１９〜２
１に格納するが、図２の例では、フリップフロップ１９
はセット状態、フリップフロップ２０は非セット状態、
フリップフロップ２１はセット状態となる。すなわち、
フリップフロップ１９の出力端子がＨレベル、フリップ
フロップ２１の出力端子もＨレベルとなり、高さ調整正
否判別回路１０２の最終段をなすＮＡＮＤ回路２２から
はＬレベル信号が出力され（基準高さエラー信号が出力
され）、本体基準レベル高さの調整が誤っている（合っ
ていない）ことが分かる。したがって、上下動機構部１
００を駆動させる必要があり、本体基準レベル高さ調整
が続行されることになる。
ーブル１１を介して入力される比較判定回路１６〜１８
では、図１の場合と同様に、ＯＰアンプ８〜１０からの
出力信号の値と予め設定された値とを各々比較して液の
有／無を判定し、判定結果をフリップフロップ１９〜２
１に格納するが、図２の例では、フリップフロップ１９
はセット状態、フリップフロップ２０は非セット状態、
フリップフロップ２１はセット状態となる。すなわち、
フリップフロップ１９の出力端子がＨレベル、フリップ
フロップ２１の出力端子もＨレベルとなり、高さ調整正
否判別回路１０２の最終段をなすＮＡＮＤ回路２２から
はＬレベル信号が出力され（基準高さエラー信号が出力
され）、本体基準レベル高さの調整が誤っている（合っ
ていない）ことが分かる。したがって、上下動機構部１
００を駆動させる必要があり、本体基準レベル高さ調整
が続行されることになる。
【００１４】すなわち上述本発明装置では、高さ調整正
否判別回路１０２（ＮＡＮＤ回路２２）からの信号がＨ
レベルかＬレベルか（基準高さエラー信号の有無）で、
換言すれば２値信号で本体基準レベル高さの調整が正し
い（合っている）か否かが判別できる。したがって、例
えば高さ調整正否判別回路１０２（ＮＡＮＤ回路２２）
の出力端子に警報器あるいは表示器を接続すれば、調整
作業者は警報あるいは表示の有無だけで本体基準レベル
高さの調整が正しいか否かが分かり、誤っているとき、
例えば警報が鳴るときのみ本体基準レベル高さ調整を続
行し、警報が鳴らなくなったときに調整完了と認識でき
ることになる。
否判別回路１０２（ＮＡＮＤ回路２２）からの信号がＨ
レベルかＬレベルか（基準高さエラー信号の有無）で、
換言すれば２値信号で本体基準レベル高さの調整が正し
い（合っている）か否かが判別できる。したがって、例
えば高さ調整正否判別回路１０２（ＮＡＮＤ回路２２）
の出力端子に警報器あるいは表示器を接続すれば、調整
作業者は警報あるいは表示の有無だけで本体基準レベル
高さの調整が正しいか否かが分かり、誤っているとき、
例えば警報が鳴るときのみ本体基準レベル高さ調整を続
行し、警報が鳴らなくなったときに調整完了と認識でき
ることになる。
【００１５】上述本発明装置において、本体基準レベル
高さの調整が完了した（本体基準レベル高さの調整が正
しいと判別された）後は、通常のＸ線液量検査が行われ
る。通常のＸ線液量検査は、例えば、Ｘ線検出部３の出
力波形が図１に示すように波形１３，１４，１５の順で
小さくなっているか否か、換言すれば制御回路１２（フ
リップフロップ１９〜２１）の出力信号が、フリップフ
ロップ１９につきＨレベル（セット状態）、フリップフ
ロップ２０につきＨ又はＬレベル（セット状態又は非セ
ット状態）、フリップフロップ２１につきＬレベル（非
セット状態）となっているか否かにより行われる。フリ
ップフロップ１９〜２１の出力信号（状態）が上記のよ
うになっていれば「良」と、なっていなければ「否」と
各々判別される。上述本発明装置が、例えば不良の被検
査容器４の排斥装置（図示せず）に適用される場合に
は、上記液量検査結果が「否」と判別された被検査容器
４について排斥器（図示せず）によりコンベア１０３上
から排斥する。
高さの調整が完了した（本体基準レベル高さの調整が正
しいと判別された）後は、通常のＸ線液量検査が行われ
る。通常のＸ線液量検査は、例えば、Ｘ線検出部３の出
力波形が図１に示すように波形１３，１４，１５の順で
小さくなっているか否か、換言すれば制御回路１２（フ
リップフロップ１９〜２１）の出力信号が、フリップフ
ロップ１９につきＨレベル（セット状態）、フリップフ
ロップ２０につきＨ又はＬレベル（セット状態又は非セ
ット状態）、フリップフロップ２１につきＬレベル（非
セット状態）となっているか否かにより行われる。フリ
ップフロップ１９〜２１の出力信号（状態）が上記のよ
うになっていれば「良」と、なっていなければ「否」と
各々判別される。上述本発明装置が、例えば不良の被検
査容器４の排斥装置（図示せず）に適用される場合に
は、上記液量検査結果が「否」と判別された被検査容器
４について排斥器（図示せず）によりコンベア１０３上
から排斥する。
【００１６】なお、上記制御回路１２や高さ調整正否判
別回路１０２の機能をコンピュータプログラムに持たせ
てもよい。また、高さ調整正否判別回路１０２の出力信
号で電動の上下動機構部１００を自動制御して本体基準
レベル高さの調整を完了させるようにしてもよく、これ
によれば調整作業が自動化され、迅速，簡単に調整を完
了させ得る。
別回路１０２の機能をコンピュータプログラムに持たせ
てもよい。また、高さ調整正否判別回路１０２の出力信
号で電動の上下動機構部１００を自動制御して本体基準
レベル高さの調整を完了させるようにしてもよく、これ
によれば調整作業が自動化され、迅速，簡単に調整を完
了させ得る。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、本
体基準レベル高さの調整の正否判別結果を２値信号で出
力するようにしたので、本体基準レベル高さの調整を簡
単に行うことができ、調整時間の短縮、誤調整の防止が
図れるという効果がある。このことは、本発明装置を不
良被検査容器の排斥装置に適用した場合に、不良の被検
査容器が排斥されずに通過したり、逆に良の被検査容器
が排斥されてしまう不具合いを有効に防止できることを
意味する。また本発明によれば、その多くの構成部分
を、一般的なＸ線液量検査装置に既に備わる構成部分に
兼用させ得るので、構成の簡易化、低コスト化も図れる
という効果もある。
体基準レベル高さの調整の正否判別結果を２値信号で出
力するようにしたので、本体基準レベル高さの調整を簡
単に行うことができ、調整時間の短縮、誤調整の防止が
図れるという効果がある。このことは、本発明装置を不
良被検査容器の排斥装置に適用した場合に、不良の被検
査容器が排斥されずに通過したり、逆に良の被検査容器
が排斥されてしまう不具合いを有効に防止できることを
意味する。また本発明によれば、その多くの構成部分
を、一般的なＸ線液量検査装置に既に備わる構成部分に
兼用させ得るので、構成の簡易化、低コスト化も図れる
という効果もある。
【図１】本発明装置の一実施形態を示すブロック図で、
本体基準レベル高さの調整が正しい場合を示す。
本体基準レベル高さの調整が正しい場合を示す。
【図２】本発明装置の一実施形態を示すブロック図で、
本体基準レベル高さの調整が誤っている場合を示す。
本体基準レベル高さの調整が誤っている場合を示す。
１ Ｘ線液量検査装置本体 ２ Ｘ線発生部 ３ Ｘ線検出部 ４ 被検査容器 ５ ホトダイオード（上限用Ｘ線センサ） ６ ホトダイオード（基準用Ｘ線センサ） ７ ホトダイオード（下限用Ｘ線センサ） ８ 上限用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプ ９ 基準用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプ １０ 下限用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプ １１ ケーブル １２ 制御回路 １３ 上限用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプの出
力信号波形 １４ 基準用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプの出
力信号波形 １５ 下限用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプの出
力信号波形 １６ 上限用比較判定回路 １７ 基準用比較判定回路 １８ 下限用比較判定回路 １９ 上限用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２０ 基準用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２１ 下限用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２２ ＮＡＮＤ回路 １００ 上下動機構部 １０１ 液面高さ １０２ 高さ調整正否判別回路（高さ調整正否判別手
段） １０３ 被検査容器搬送用コンベア １０４ 床面。
力信号波形 １４ 基準用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプの出
力信号波形 １５ 下限用Ｘ線センサ出力信号増幅用ＯＰアンプの出
力信号波形 １６ 上限用比較判定回路 １７ 基準用比較判定回路 １８ 下限用比較判定回路 １９ 上限用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２０ 基準用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２１ 下限用比較判定回路の出力一時記憶用フリップフ
ロップ ２２ ＮＡＮＤ回路 １００ 上下動機構部 １０１ 液面高さ １０２ 高さ調整正否判別回路（高さ調整正否判別手
段） １０３ 被検査容器搬送用コンベア １０４ 床面。
Claims (3)
- 【請求項１】順次送られてくる被検査容器に各々Ｘ線を
曝射し、その透過Ｘ線にて前記被検査容器内の液量の良
否判定を行う、本体基準レベル高さの調整が可能なＸ線
液量検査装置において、各々被検査容器透過Ｘ線の強さ
に応じた値の電気信号を出力するもので前記被検査容器
の上下方向に適宜間隔置いて配置された少なくとも２つ
のＸ線センサと、この２つのＸ線センサの各出力信号が
予め設定された値より大きいか否かを判定して各判定結
果の組合せにより前記本体基準レベル高さの調整が正し
いか否かを判別しその結果を２値信号で出力する高さ調
整正否判別手段とを具備することを特徴とするＸ線液量
検査装置。 - 【請求項２】高さ調整正否判別手段は、２つのＸ線セン
サの出力信号に対応して設けられ各々Ｘ線センサ出力信
号が予め設定された値より大きいか否かを判定する一対
の信号値比較判定回路と、この一対の信号値比較判定回
路に対応して設けられ各々信号値比較判定回路の判定結
果を格納する一対の一時記憶回路と、この一対の一時記
憶回路の出力信号値の組合せから本体基準レベル高さの
調整の正否判別結果を２値信号で出力する論理回路とを
具備することを特徴とする請求項１に記載のＸ線液量検
査装置。 - 【請求項３】本体基準レベル高さの調整を電動で行う電
動上下機構を具備し、高さ調整正否判別手段から本体基
準レベル高さの調整が正しいとの判別結果が出力される
までその電動上下機構が駆動制御されることを特徴とす
る請求項１又は２に記載のＸ線液量検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15744596A JP3615870B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｘ線液量検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15744596A JP3615870B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｘ線液量検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09318562A true JPH09318562A (ja) | 1997-12-12 |
| JP3615870B2 JP3615870B2 (ja) | 2005-02-02 |
Family
ID=15649820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15744596A Expired - Fee Related JP3615870B2 (ja) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | Ｘ線液量検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3615870B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019200048A (ja) * | 2018-05-14 | 2019-11-21 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置 |
| JP2020041938A (ja) * | 2018-09-12 | 2020-03-19 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置及びｘ線発生器高さ調整方法 |
-
1996
- 1996-05-30 JP JP15744596A patent/JP3615870B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019200048A (ja) * | 2018-05-14 | 2019-11-21 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置 |
| JP2020041938A (ja) * | 2018-09-12 | 2020-03-19 | アンリツインフィビス株式会社 | Ｘ線検査装置及びｘ線発生器高さ調整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3615870B2 (ja) | 2005-02-02 |
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