JP2003042828A - 不合格容器排斥確認装置及び液面検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不合格容器の排斥状況を正確に把握し、シス
テムの信頼性の向上を図る。 【解決手段】 生産ライン２００上を搬送される容器２
２０の適否を判定し、不合格容器が検出されると、排斥
器１５０を動作させて不合格容器を生産ライン２００か
ら排斥ライン２３０に排斥する不合格容器排斥システム
の不合格容器排斥確認装置において、排斥ライン２３０
の入口に不合格容器が通過したか否かを検出する第１の
センサ１００を配置するとともに、排斥器１５０よりも
下流側の生産ライン２００に不合格容器を含む容器２２
０が通過したか否かを検出する第２のセンサ１１０を配
置する。そして、これらの第１のセンサ１００及び第２
のセンサ１１０の検出結果に基づいて不合格容器が正常
に排斥されたか否かを確認するようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は不合格容器排斥確認
装置及び液面検査装置に係り、特に生産ライン上を搬送
されるビール、ジュース等、液状の物質が密封された容
器製品の内容量が不適切な容器（不合格容器）が排斥ラ
インに排斥されたか否かを確認する不合格容器排斥確認
装置及び不合格容器を検知するための液面検査装置に関
する。

【０００２】

【従来の技術】従来、不合格容器が生産ラインから排斥
ライン（排斥トレイ）に排斥されたか否かを確認する方
法として、まず液面検査装置が充填量が不適合の不合格
容器を検出し、排斥信号を排斥器に出力すると、排斥器
は排斥信号によって動作して不合格容器を生産ラインか
ら排斥する。生産ラインと排斥ラインとの間には１対の
排斥確認センサが設置され、排斥確認センサは不合格容
器が一定時間内に排斥確認センサの光軸を遮光したか検
出することにより、不合格容器が排斥ラインヘ移動した
か否かを確認している。

【０００３】また、従来の液面検査装置は、コンベアに
よりＸ線源とＸ線センサ素子の間に搬送された被検査容
器にＸ線を照射し、Ｘ線センサ素子から出力される透過
Ｘ線量から被検査容器内の液面の検査を検知し、充填量
の適否を判定する。この液面検査装置は、Ｘ線管の出力
が劣化すると、本来の液面よりも高めに判定するように
なり、不合格容器を合格容器と判定する恐れがあった。
そこで、Ｘ線管出力の劣化を検出する方法として、Ｘ線
源とＸ線センサ素子の間に被検査容器の空容器を配置
し、コンベアが停止した状態でＸ線を照射し、透過Ｘ線
の強弱をＬＥＤバーグラフまたは電圧表示器に表示し、
表示値が正常か否かを目視することにより、Ｘ線管出力
の劣化を確認していた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の不合
格容器排斥確認装置では、１対の排斥確認センサによっ
て不合格容器が排斥ラインヘ移動したか否かを確認して
いるため、以下のような場合に正しく確認できないとい
う問題があった。

【０００５】不合格容器がそれぞれ密着し、連続してコ
ンベアに搬送され、排斥器によって排斥されると、排斥
ラインヘ移動中に互いにぶつかったり、排斥ラインの入
口で重なったりする。これにより、１対の排斥確認セン
サでは排斥された不合格容器を１容器毎に正しく検出で
きないという問題があった。

【０００６】具体的には、排斥された被検査容器が、先
に排斥された被検査容器より重量が軽い場合に、先に排
斥された不合格容器を途中で追い抜くことがある。これ
により、排斥センサの検出信号が重なり１つの不合格容
器が排斥ラインヘ移動したと判定されるという問題があ
った。

【０００７】また、排斥器によって排斥された不合格容
器は、排斥ラインヘ回転して飛んで行くことがあり、実
際は２つの不合格容器が排斥ラインヘ移動したとして
も、３つの不合格容器が移動したかのように検出される
ことがある。

【０００８】また、従来の液面検査装置では、日常の装
置運転前に、Ｘ線管出力の劣化を検出するための確認テ
ストを行う必要があり、確認テストを行う作業は時間を
要するという問題があった。

【０００９】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、不合格容器の排斥状況を正確に把握し、システ
ムの信頼性の向上を図ることができる不合格容器排斥確
認装置を提供することを目的とする。

【００１０】また、本発明はＸ線等の電磁波発生手段及
び電磁波検出手段の劣化を検知することができ、不合格
容器を精度よく判定することができる液面検査装置を提
供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、生産ライン上を搬送される容器の適否を
判定し、不合格容器が検出されると、排斥器を動作させ
て不合格容器を生産ラインから排斥ラインに排斥する不
合格容器排斥システムの不合格容器排斥確認装置におい
て、前記生産ラインと前記排斥ラインとの間に設置さ
れ、前記不合格容器が通過したか否かを検出する第１の
センサと、前記排斥器よりも下流側の生産ラインに設置
され、前記不合格容器を含む容器が通過したか否かを検
出する第２のセンサと、前記第１のセンサ及び第２のセ
ンサの検出結果に基づいて前記不合格容器が正常に排斥
されたか否かを確認する確認手段と、を備えたことを特
徴としている。

【００１２】本発明によれば、生産ラインと排斥ライン
との間に設置された第１のセンサ及び排斥器よりも下流
側の生産ラインに設置された第２のセンサの検出結果に
基づいて、不合格容器が正常に排斥されたか否かを確認
するようにする。これにより、不合格容器の排斥状況を
正確に把握するようにしている。

【００１３】本願請求項２に係る不合格容器排斥確認装
置は、前記確認手段は、前記不合格容器が前記第２のセ
ンサの検出位置を通過する所定のタイミングで前記第２
のセンサの検出結果を取り込み、この取り込んだ検出結
果が容器の通過を示す場合には不合格容器が正常に排斥
されなかったと判別することを特徴としている。即ち、
不合格容器が市場に流れることを防止することができ
る。

【００１４】本願請求項３に係る不合格容器排斥確認装
置は、前記確認手段は、前記不合格容器を排斥するため
の排斥信号が排斥器に出力されてから所定時間内に前記
第１のセンサによって不合格容器の通過が検出されない
場合には不合格容器が正常に排斥されなかったと判別す
ることを特徴としている。即ち、システムの信頼性の向
上を図ることができる。

【００１５】本願請求項４に係る発明は、生産ライン上
を搬送される被検査容器に対して少なくとも該被検査容
器内の液面の基準高さを含む鉛直方向の所定の範囲にわ
たってＸ線、可視光線等の電磁波を発生する電磁波発生
手段と、前記生産ラインを挟んで前記電磁波発生手段と
対向して配置され、入射する電磁波の強弱に応じた電気
信号を出力する複数の検出素子が鉛直方向の所定の範囲
にわたって配列されてなる電磁波検出手段と、前記電磁
波検出手段から出力される電気信号に基づいて被検査容
器内の液面の高さを検出する液面高さ検出手段と、を有
する液面検査装置において、前記電磁波発生手段及び電
磁波検出手段が正常のときに前記電磁波検出手段の１乃
至複数の検出素子から得られる電気信号を基準にして予
め正常値を設定する設定手段と、前記電磁波検出手段の
１乃至複数の検出素子から得られる電気信号と前記設定
手段によって設定された正常値とを比較し、その比較結
果に基づいて前記電磁波発生手段及び電磁波検出手段が
正常か否かを判別する判別手段と、を備えたことを特徴
としている。即ち、Ｘ線等の電磁波発生手段及び電磁波
検出手段の劣化を検知することができる。

【００１６】本願請求項５に係る液面検査装置は、前記
設定手段は、前記電磁波発生手段及び電磁波検出手段が
正常の状態で、かつ前記電磁波発生手段と電磁波検出手
段との間に電磁波の透過量が既知の物質が存在するとき
に前記電磁波検出手段の１乃至複数の検出素子から得ら
れる電気信号を基準にして予め正常値を設定し、前記判
別手段は、前記電磁波発生手段と電磁波検出手段との間
に前記既知の物質が存在するときに前記電磁波検出手段
の１乃至複数の検出素子から得られる電気信号と前記設
定手段によって設定された正常値とを比較することを特
徴としている。即ち、電磁波発生手段及び電磁波検出手
段の劣化を効率よく確認することができる。

【００１７】本願請求項６に係る液面検査装置は、前記
電磁波検出手段は、前記電磁波発生手段と電磁波検出手
段との間に前記被検査容器が存在するか否かにかかわら
ず前記電磁波発生手段から発生された電磁波が直接入射
する１乃至複数の検出素子を含むことを特徴としてい
る。即ち、常時電磁波発生手段及び電磁波検出手段を監
視することができる。

【００１８】

【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
る不合格容器排斥確認装置及び液面検査装置の好ましい
実施の形態について詳説する。

【００１９】図１は本発明に係る不合格容器排斥確認装
置を含む不合格容器排斥システムの全体構成図であり、
図２は不合格容器排斥システムのブロック図である。

【００２０】これらの図面に示すように不合格容器排斥
システムは、主として液面検査装置（レベルチェッカ
ー）１２０と、排斥器１５０と、透過型検知センサ（第
１のセンサ）１００と、反射型検知センサ（第２のセン
サ）１１０と、制御器１３０と、エラー出力部１４０と
から構成されている。

【００２１】液面検査装置１２０は、ビール、ジュース
等の液状物質が密封された容器２２０が搬送される生産
ライン（コンベア）２００に設置され、容器２２０内の
液面の高さを検出することにより容器２２０の適否を判
定し、その判定結果を制御器１３０に出力する。尚、液
面検査装置１２０の詳細については後述する。

【００２２】制御器１３０は、容器２２０が液面検査装
置１２０に搬送されたことを位置検出センサ２１０が検
出したら、不適切な容器（不合格容器）２２０が排斥器
１５０による排斥位置に達するタイミングで排斥信号を
排斥器１５０に出力し、排斥器１５０は前記排斥信号に
よってピストンを動作させて不合格容器２２０を生産ラ
イン２００から排斥ライン（不合格容器２２０を一時的
に溜めておく排斥トレイを含む）２３０に排斥する。図
３は不合格容器排斥システムを図１の矢印Ａ方向から見
た図であり、不合格容器２２０は排斥器１５０のピスト
ンロッドの先端パッド１６０によって押されて排斥ライ
ン２３０に移動（図３上で右方向に移動）させられる。

【００２３】第１のセンサ１００は、生産ライン２００
と排斥ライン２３０との間（排斥ライン２３０の入口）
に設置され、不合格容器２２０が第１のセンサ１００の
Ｓ１領域を通過したか否か（Ｓ１領域が遮光されたか否
か）を示す信号を制御器１３０に出力する。

【００２４】第２のセンサ１１０は、排斥器１５０より
も下流側の生産ライン２００に設置され、不合格容器を
含む容器２２０が第２のセンサ１１０のＳ２領域を通過
したか否か（Ｓ２領域が遮光されたか否か）を示す信号
を制御器１３０に出力する。

【００２５】制御器１３０は、前述したように液面検査
装置１２０の判定結果に基づいて排斥信号を排斥器１５
０に出力するとともに、前記第１のセンサ１００及び第
２のセンサ１１０の検出信号に基づいて不合格容器２２
０が正常に排斥されたか否かを確認する判断処理を行
う。そして、不合格容器２２０が正常に排斥されなかっ
たと判断すると、例えば警告表示や生産ライン２００を
停止させるため信号をエラー出力部１４０に出力する。

【００２６】次に、排斥器１５０に排斥信号を送信した
ときの不合格容器２２０の移動パターンについて説明す
る。図４は、排斥器１５０により排斥された不合格容器
２２０の移動パターンを示す図である。

【００２７】図４（ａ）は、排斥器１５０により排斥さ
れた不合格容器２２０が排斥ライン２３０に移動する例
を示す。

【００２８】図４（ｂ）は、不合格容器２２０が２以上
密着して搬送された場合に、全ての容器２２０が排斥ラ
イン２３０ヘ移動する例を示す。

【００２９】図４（ｃ）は、排斥信号を排斥器１５０へ
送信したにもかかわらず、排斥器１５０が全く動作しな
いか、あるいは正常に動作しない場合に不合格容器２２
０が合格側の生産ライン２００に搬送される例を示す。

【００３０】制御器１３０は、排斥器１５０を動作させ
る排斥信号、第１のセンサ１００及び第２のセンサ１１
０の検出結果に基づいて表１に示すような排斥確認を行
う。

【００３１】

【表１】 尚、表１において、第１のセンサ１００の検出結果の
「遮光した」又は「遮光せず」とは、排斥信号が出力さ
れてから所定時間（例えば、0.5 秒）以内に不合格容器
２２０がＳ１領域を遮光したか否かをいう。

【００３２】また、第２のセンサ１１０の検出結果の
「遮光した」又は「遮光せず」とは、不合格容器２２０
がＳ２領域を通過してはならない時間に遮光したか否か
をいう。ここで、不合格容器２２０がＳ２領域を通過し
てはならない時間は、コンベア速度と容器２２０の径に
依存するが、予め設定されたコンベア速度と容器２２０
の径のパラメータを入力することにより、下記の数１式
によって算出される。

【００３３】実用的には、容器２２０の中心位置の時間
と排斥器１５０の動作終了時間の要素を数１式に加える
ことで、数２式により、不合格容器２２０がＳ２領域を
通過してはならない時間は求められる。

【００３４】

【数１】 (排斥器〜第２のセンサの距離)(mm) ×６０÷ (コンベア速度) (m /分) … (Ａ)

【００３５】

【数２】 (Ａ) ＋ (被検査容器の径) (mm)×６０÷ (コンベア速度) (m /分) ×１／２ − (排斥器動作終了時間) (msec) 表１に示したように排斥信号が出力されたときに、制御
器１３０は、第１のセンサ１００から「遮光した」、第
２のセンサ１１０から「遮光せず」の検出結果が得られ
たときのみ、不合格容器２２０が正常に排斥されたと判
定し、その他の検出結果の組み合わせの場合には、エラ
ー信号を出力する。

【００３６】尚、不合格容器２２０が連続し且つ密着し
て流れてきた場合には、これらの容器２２０は短時間に
連続して排斥されるが、これらの容器２２０が重なって
第１のセンサ１００のＳ１領域を通過する場合には、第
１のセンサ１００からは１つの「遮光した」の検出結果
しか得られない。この場合にも、前記所定時間以内に第
１のセンサ１００から「遮光した」の検出結果が得ら
れ、かつ第２のセンサ１１０から各不合格容器２２０の
検出タイミングで「遮光せず」の検出結果が得られる場
合にはエラーとはしない。同様に、排斥器１５０によっ
て排斥された不合格容器２２０が回転して排斥ライン２
３０に飛んでいき、１つの排斥信号に対して第１のセン
サ１００から２つの「遮光した」の検出結果が得られる
場合があるが、この場合にも前記所定時間以内に第１の
センサ１００から「遮光した」の検出結果が得られ、か
つ第２のセンサ１１０から不合格容器２２０の検出タイ
ミングで「遮光せず」の検出結果が得られる場合にはエ
ラーとはしない。

【００３７】更に、第１のセンサ１００または第２のセ
ンサ１１０が、例えば５秒以上遮光された状態を検出す
ると、センサ自体の異常あるいは光軸がずれていると判
断し、エラー信号を出力する。

【００３８】以上のように、第１のセンサ１００と第２
のセンサ１１０を監視することで、不合格容器２２０排
斥確認の信頼性を上げることができる。

【００３９】次に、本発明に係る液面検査装置の実施の
形態を説明する。

【００４０】図５は、本発明に係る液面検査装置を上か
ら見た図であり、図６は、図５の矢印Ｂ方向から見た図
である。これらの図面に示すようにＸ線液面検査装置５
００は、主としてＸ線源５１０と、Ｘ線ラインセンサ５
１２と、判定部５１６と、被検査容器５５０がＸ線によ
る液面検査装置に搬送されたか否かを検出する位置検出
センサ５２０Ａと、被検査容器５５０がＸ線液面検査装
置５００の入口に搬送されたか否かを検出する位置検出
センサ５２０Ｂとから構成される。

【００４１】Ｘ線源５１０は、コンベア５４０上を搬送
される被検査容器５５０内の液面の基準高さを含む鉛直
方向の所定の範囲にわたってＸ線を照射する。

【００４２】Ｘ線ラインセンサ５１２は、コンベア５４
０を挟んでＸ線源５１０と対向して配置され、被検査容
器５５０の透過Ｘ線量を検出する。このＸ線ラインセン
サ５１２は、図７に示すように、複数（例えば、６４
個）のセンサ素子５１２ａが液面方向（水平方向）に対
して垂直になる向き、即ち鉛直方向に所定の範囲にわた
ってライン状に密着し、配列されてなる。また、センサ
素子５１２ａは例えば幅Ｗと高さｈが１ｍｍ以下で、入
射するＸ線の強弱に応じた電気信号を出力する。

【００４３】位置検出センサ５２０Ａは発光素子及び受
光素子等から構成され、Ｘ線液面検査装置５００のトン
ネル内に配置されている。この位置検出センサ５２０Ａ
は被検査容器５５０がＸ線液面検査装置５００に搬送さ
れたことを検出すると、検査命令を判定部５１６に出力
し、判定部５１６により被検査容器５５０の内部の液体
の充填量が検査される。

【００４４】位置検出センサ５２０Ｂは発光素子及び受
光素子等から構成され、Ｘ線液面検査装置５００のトン
ネルの入り口付近に配置されている。この位置検出セン
サ５２０Ｂは搬送された被検査容器５５０を検出する
と、Ｘ線制御部５０２を動作させ、Ｘ線源５１０からＸ
線を所定時間出射させる。通常、被検査容器５５０は、
前記所定時間の時間間隔以内で位置検出センサ５２０Ｂ
を通過しているため、Ｘ線源５１０からは連続的にＸ線
が出射されているが、被検査容器５５０の搬送が途切れ
ると、Ｘ線の出射は停止させられる。

【００４５】判定部５１６は、Ｘ線ラインセンサ５１２
から出力される電気信号に基づいて被検査容器５５０内
の液面の高さを検出する。

【００４６】次に、本発明に係る液面検査装置における
Ｘ線管出力の劣化の検出方法について説明する。＜装置
運転停止時にＸ線管出力劣化を検出する場合＞図１０の
フローチャートに示すように、装置運転停止時に、予め
設定された条件で、Ｘ線源５１０からＸ線ラインセンサ
５１２にＸ線を入射される（ステップＳ１０００、以降
Ｓ１０００のように省略して記載する）。

【００４７】予め設定された条件として、図６に示すよ
うに、Ｘ線源５１０とＸ線ラインセンサ５１２の間にＸ
線を吸収する対象を配置せず、空気のみの状態で、ある
いは図８又は図９に示すように、アルミ、鉄などのＸ線
を吸収する材質の空の被検査容器５５０などを配置した
状態でＸ線を出射させることが考えられる。

【００４８】続いて、Ｘ線はＸ線ラインセンサ５１２に
より検出され、増幅回路５１４によって増幅され、判定
部５１６に出力される。判定部５１６には、予め正常値
が記憶されており、判定部５１６はこの正常値とセンサ
素子５１２ａの出力値とを比較し（Ｓ１０１０）、Ｘ線
管出力の適否を判定（Ｘ線管出力の劣化を検出）する。

【００４９】尚、前記正常値は、Ｘ線源５１０及びＸ線
ラインセンサ５１２が正常で、Ｘ線源５１０とＸ線ライ
ンセンサ５１２との間に透過Ｘ線量が既知の物質（空気
のみや空のアルミ缶など）が存在するときに、Ｘ線ライ
ンセンサ５１２の出力値を基準にして設定される。

【００５０】Ｓ１０００にて出力されたセンサ素子５１
２ａの出力値が予め設定した正常値より大きい場合は、
正常を示す信号を出力する（Ｓ１０２０）。反対に正常
値より小さい場合は、異常を示す信号を出力する（Ｓ１
０３０）。 ＜装置運転状態でＸ線管出力劣化を検出する場合の例１
＞図１１のフローチャートに示すように、まずＸ線管出
力の劣化を検出するためには、位置検出センサ５２０Ａ
からの検出信号により、被検査容器５５０が一時的にコ
ンベア５４０上を移動してこない状態を（Ｘ線源５１０
とＸ線ラインセンサ５１２の間にＸ線を吸収する対象が
何もなく空気のみである状態）検出する（Ｓ１１０
０）。続いて、位置検出センサ５２０Ａからの被検査容
器５５０が存在しないことを示す検出信号に基づいて、
Ｘ線ラインセンサ５１２からＸ線の検出出力を得る（Ｓ
１１１０）。

【００５１】次に、判定部５１６はセンサ素子５１２ａ
の出力値と予め設定した正常値とを比較することで、Ｘ
線管出力の適否を判定する（Ｓ１１２０）。Ｓ１１１０
にて出力された値が予め設定した正常値より小さい場合
は、異常を示す信号を出力する（Ｓ１１３０）。 ＜装置運転状態でＸ線管出力劣化を検出する場合の例２
＞図１３に示すＸ線ラインセンサ５１２の上部のセンサ
素子５１２ａ（例えば、ｋ番目のセンサ素子）には、被
検査容器５５０の有無にかかわらず、Ｘ線源５１０から
出射されたＸ線が直接入射する。従って、装置運転状態
でもＸ線管出力の劣化をＸ線ラインセンサ５１２のｋ番
目のセンサ素子５１２ａの出力値から検知することがで
きる。

【００５２】また、Ｘ線ラインセンサ５１２の上部にＸ
線が常時直接入射するセンサ素子５１２ａがない場合に
は、図１４に示すようにＸ線が常時直接入射する位置
に、別のＸ線センサ素子５１２ｂを設置する。

【００５３】図１２のフローチャートに示すように、位
置検出センサ５２０Ａがコンベア５４０により搬送され
た被検査容器５５０を検出すると（Ｓ１２００）、液面
検査のためにＸ線ラインセンサ５１２の出力値が判定部
５１６に取り込まれるが、同時にＸ線管出力の劣化を検
出するために前記ｋ番目のセンサ素子５１２ａの出力又
は別のＸ線センサ素子５１２ｂの出力が取り込まれる
（Ｓ１２１０）。ｋ番目のセンサ素子５１２ａの出力値
又はＸ線センサ素子５１２ｂの出力値と予め設定した正
常値とを比較することで、Ｘ線管出力の適否を判定する
（Ｓ１２２０）。Ｓ１２１０にて出力された値が予め設
定した正常値より小さい場合は、異常を示す信号を出力
する（Ｓ１２３０）。

【００５４】尚、この実施の形態では、Ｘ線源及びＸ線
ラインセンサを使用する液面検査装置について説明した
が、本発明は可視光等の電磁波を発生する電磁波発生手
段及び可視光等の電磁波を検出する電磁波検出手段を使
用する液面検査装置にも適用でき、これらの電磁波発生
手段及び電磁波検出手段の劣化を検出することができ
る。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように本発明に係る不合格
容器排斥確認装置によれば、不合格容器の排斥状況を確
実に把握することができ、不合格容器が市場へ流れるこ
と防止し、システムの信頼性向上を図ることができ、本
発明に係る液面検査装置を用いて、電磁波発生手段及び
電磁波検出手段の劣化を検知することができ、不合格容
器を精度よく判定することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る不合格容器排斥確認装置を含む不
合格容器排斥システムの全体構成図

【図２】不合格容器排斥システムのブロック図

【図３】不合格容器排斥システムを図１の矢印Ａ方向か
ら見た図

【図４】排斥器１５０により排斥された不合格容器２２
０の移動パターンを示す図

【図５】本発明に係る液面検査装置を上から見た図

【図６】Ｘ線源とＸ線ラインセンサの間にＸ線を吸収す
る対象を配置せず、空気のみの状態でＸ線管出力の劣化
を検出する例を示す図

【図７】Ｘ線ラインセンサを示した図

【図８】Ｘ線源とＸ線ラインセンサの間にアルミ、鉄な
どのＸ線を吸収する材質の空の被検査容器などを配置し
た状態でＸ線管出力の劣化を検出する例を示す図

【図９】図７の矢印Ｃ方向から見た図

【図１０】装置運転停止時にＸ線管出力劣化を検出する
例を示すフローチャート

【図１１】装置運転状態でＸ線管出力劣化を検出する例
を示すフローチャート

【図１２】装置運転状態でＸ線管出力劣化を検出する他
の例を示すフローチャート

【図１３】Ｘ線ラインセンサの上部のｋ番目のセンサ素
子に、出射されたＸ線が直接入射する例を示す図

【図１４】Ｘ線が常時直接入射する位置に、別のＸ線セ
ンサ素子を設置する例を示す図

【符号の説明】

１００…第１のセンサ、１１０…第２のセンサ、１２０
…液面検査装置、１３０…制御器、１４０…エラー出力
部、１５０…排斥器、１６０…先端パッド、２００…生
産ライン（コンベア）、２２０…容器、２３０…排斥ラ
イン、５００…Ｘ線液面検査装置、５０２…Ｘ線制御
部、５１０…Ｘ線源、５１２…Ｘ線ラインセンサ、５１
４…増幅回路、５１６…判定部、５２０…位置検出セン
サ、５４０…コンベア、５５０…被検査容器

フロントページの続き (72)発明者 荒蒔 創介 東京都千代田区内神田１丁目１番14号 株 式会社日立メディコ内 Ｆターム(参考） 2F014 FA03 FD10

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 生産ライン上を搬送される容器の適否を
   判定し、不合格容器が検出されると、排斥器を動作させ
   て不合格容器を生産ラインから排斥ラインに排斥する不
   合格容器排斥システムの不合格容器排斥確認装置におい
   て、 前記生産ラインと前記排斥ラインとの間に設置され、前
   記不合格容器が通過したか否かを検出する第１のセンサ
   と、 前記排斥器よりも下流側の生産ラインに設置され、前記
   不合格容器を含む容器が通過したか否かを検出する第２
   のセンサと、 前記第１のセンサ及び第２のセンサの検出結果に基づい
   て前記不合格容器が正常に排斥されたか否かを確認する
   確認手段と、 を備えたことを特徴とする不合格容器排斥確認装置。
2. 【請求項２】 前記確認手段は、前記不合格容器が前記
   第２のセンサの検出位置を通過する所定のタイミングで
   前記第２のセンサの検出結果を取り込み、この取り込ん
   だ検出結果が容器の通過を示す場合には不合格容器が正
   常に排斥されなかったと判別することを特徴とする請求
   項１の不合格容器排斥システムの排斥確認装置。
3. 【請求項３】 前記確認手段は、前記不合格容器を排斥
   するための排斥信号が排斥器に出力されてから所定時間
   内に前記第１のセンサによって不合格容器の通過が検出
   されない場合には不合格容器が正常に排斥されなかった
   と判別することを特徴とする請求項１の不合格容器排斥
   システムの排斥確認装置。
4. 【請求項４】 生産ライン上を搬送される被検査容器に
   対して少なくとも該被検査容器内の液面の基準高さを含
   む鉛直方向の所定の範囲にわたってＸ線、可視光線等の
   電磁波を発生する電磁波発生手段と、前記生産ラインを
   挟んで前記電磁波発生手段と対向して配置され、入射す
   る電磁波の強弱に応じた電気信号を出力する複数の検出
   素子が鉛直方向の所定の範囲にわたって配列されてなる
   電磁波検出手段と、前記電磁波検出手段から出力される
   電気信号に基づいて被検査容器内の液面の高さを検出す
   る液面高さ検出手段と、を有する液面検査装置におい
   て、 前記電磁波発生手段及び電磁波検出手段が正常のときに
   前記電磁波検出手段の１乃至複数の検出素子から得られ
   る電気信号を基準にして予め正常値を設定する設定手段
   と、 前記電磁波検出手段の１乃至複数の検出素子から得られ
   る電気信号と前記設定手段によって設定された正常値と
   を比較し、その比較結果に基づいて前記電磁波発生手段
   及び電磁波検出手段が正常か否かを判別する判別手段
   と、 を備えたことを特徴とする液面検査装置。
5. 【請求項５】 前記設定手段は、前記電磁波発生手段及
   び電磁波検出手段が正常の状態で、かつ前記電磁波発生
   手段と電磁波検出手段との間に電磁波の透過量が既知の
   物質が存在するときに前記電磁波検出手段の１乃至複数
   の検出素子から得られる電気信号を基準にして予め正常
   値を設定し、 前記判別手段は、前記電磁波発生手段と電磁波検出手段
   との間に前記既知の物質が存在するときに前記電磁波検
   出手段の１乃至複数の検出素子から得られる電気信号と
   前記設定手段によって設定された正常値とを比較するこ
   とを特徴とする請求項４の液面検査装置。
6. 【請求項６】 前記電磁波検出手段は、前記電磁波発生
   手段と電磁波検出手段との間に前記被検査容器が存在す
   るか否かにかかわらず前記電磁波発生手段から発生され
   た電磁波が直接入射する１乃至複数の検出素子を含むこ
   とを特徴とする請求項４の液面検査装置。