JPH09281050A - 欠陥検査装置 - Google Patents

欠陥検査装置

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JPH09281050A
JPH09281050A JP8114214A JP11421496A JPH09281050A JP H09281050 A JPH09281050 A JP H09281050A JP 8114214 A JP8114214 A JP 8114214A JP 11421496 A JP11421496 A JP 11421496A JP H09281050 A JPH09281050 A JP H09281050A
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light
pellicle
frame
light flux
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JP8114214A
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Fumitomo Hayano
史倫 早野
Kenji Yamamoto
兼士 山本
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Nikon Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、欠陥検査装置において、ペリクルフ
レームに塗布された接着剤の均一性等を検査し得るよう
にする。 【解決手段】フオトマスクを防塵するペリクル付フレー
ムの該ペリクルと対向した端面にフオトマスクを接着す
るために付着され、透明な粘着剤保護シートが被着され
た透明な接着剤を検査する欠陥検査装置において、接着
剤のフオトマスクに対する接着面と略平行な方向から光
束を照射する光束照射手段と、光束照射手段によつて光
束を照射された接着剤を、接着面に対して略垂直方向か
ら粘着剤保護シートを介して撮像する撮像手段とを設け
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は欠陥検査装置に関
し、特に半導体露光工程に用いられるフオトマスクに装
着されるペリクルの検査のうち、ペリクルフレームに塗
布された接着剤の検査に適用して好適である。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体露光工程でウエハに回路パ
ターンを露光転写する際の原版に相当するフオトマスク
は、異物が付着するとウエハに転写されてしまうので、
異物から保護するためにペリクルが用いられる。一般に
ペリクルと呼ばれるものは、ペリクルフレームとペリク
ル(薄膜)からなる。図9(A)はフオトマスク1にペ
リクル2がペリクルフレーム3を介して接着剤4に張設
されている図である。ペリクル2は厚さ数〔μm〕の光
透過性を有する薄膜でフレーム3に張設されている。フ
レーム3とフオトマスク1とは接着剤4により接着固定
されるが、接着固定される前はフレーム3の方に接着剤
4がついている。このペリクルは単品で市販されてお
り、この場合、図9(B)に示すように接着剤を保護す
るバツクシート5がついた状態のものがケース(図示せ
ず)に密閉されている。
【0003】このためペリクルをフオトマスクに装着す
る際は、ケースからペリクルフレーム3を把持して取り
出し、バツクシート5の端部に設けられたつまみ5Aを
用いて、接着剤4が塗布されたペリクルフレーム3から
バツクシート5を剥がし、接着剤4を露出させた後にフ
オトマスクに接着するようになされている。このバツク
シート5の外形はペリクルフレーム3の形状に対応して
おり、全面シート状のものと、ペリクルフレーム3に沿
つたもの(例えばペリクルフレームが2〔mm〕の幅の長
方形ならバツクシートも約2〔mm〕幅の長方形枠になつ
ているもの)とがあり、いずれも透明部材でなつてい
る。
【0004】接着剤4には2種類あり、両面テープタイ
プと透明接着剤タイプが用いられている。両面テープタ
イプは一般の両面テープと類似しており、厚さは 0.1〜
1〔mm〕の範囲内である。また両面テープタイプは発泡
剤を含み弾力性があるため、フオトマスクに接着した場
合、密閉性に優れており、エアパス(完全に接着せずに
発生するすき間)は発生し難い。この半面、発泡剤によ
つて発生している小孔から発塵の可能性があるため、近
年ではこの両面テープタイプの接着剤は使われなくなつ
てきた。
【0005】これに対し、透明接着剤タイプは樹脂系接
着剤をペリクルフレームに沿つて隠逸に塗布することに
より得られ、厚さは 0.3〜1〔mm〕の範囲内である。そ
れなりの弾性は有しているが両面テープほどではないた
め密閉性を維持するためには、両面テープタイプのペリ
クルをフオトマスクに接着するときよりも高い圧力で接
着しなくてはならない。しかし小孔がないため接着剤か
らの発塵の可能性は両面テープタイプに比して著しく低
いことから、現在でも大半のペリクルがこのタイプの接
着剤を用いている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、透明接着剤
タイプでは樹脂系接着剤をフレームに沿つて塗布するた
め、その均一性が重要なチエツク項目となる。例えば接
着剤の塗り始めとフレームを1周したときの塗り終わり
が途切れていた場合、エアパスが生じてしまう欠点があ
る。また、接着剤がフレームに完全に沿わずに蛇行して
いる部分は接着剤厚も均一でない場合が多く、エアパス
を生じやすい欠点がある。
【0007】従つてフレームに塗布された接着剤の均一
性を検査することが必要とされるが、従来の検査方法と
しては目視検査が行われている。この目視検査では検査
時間が長くかかることや、作業者の熟練度に依存する等
の問題があるほか、ペリクル等のクリーン製品において
は人間からの発塵によりペリクルが汚染されてしまうと
いう問題もある。
【0008】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、ペリクルフレームに塗布された接着剤の均一性等を
検査し得る欠陥検査装置を提案しようとするものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、フオトマスクを防塵するペリクル
付フレームの該ペリクルと対向した端面にフオトマスク
を接着するために付着され、透明な粘着剤保護シートが
被着された透明な接着剤を検査する欠陥検査装置におい
て、接着剤のフオトマスクに対する接着面と略平行な方
向から光束を照射する光束照射手段と、光束照射手段に
よつて光束を照射された接着剤を、接着面に対して略垂
直方向から粘着剤保護シートを介して撮像する撮像手段
とを備えるようにする。
【0010】光束照射手段によつて接着剤のフオトマス
クに対する接着面と略平行な方向から光束を照射し、該
光束を照射された接着剤を、撮像手段によつて接着面に
対して略垂直方向から粘着剤保護シートを介して撮像す
ることにより、ペリクルフレームに塗布された接着剤の
均一性等を粘着剤保護シートが被着された状態のままで
検査し得る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
【0012】図1においては、本発明の第1実施例の欠
陥検査装置10の全体構成を示す。欠陥検査装置10
は、ペリクルフレーム3の各四辺に対してそれぞれ平行
な位置に光照射手段としての光源11a、11b、11
c、11dと集光用のシリンドリカルレンズ12a、1
2b、12c、12dが配設されている。例えば光源1
1aの場合は光源11aから発散する光束La1はシリン
ドルカルレンズ12aにより一方向に集光された光束L
a2となつて接着剤4の側方から照射されるようになされ
ている。ペリクルフレーム3はXY平面と平行な透明板
(図示せず)上に載置しておけばよく、Z軸とほぼ平行
な軸を光軸Lとする受光レンズ13及び2次元CCD等
の撮像素子14によつて接着剤4を透明板とバツクシー
ト(図示せず)を通して接着剤4の塗布状態を観測する
ようになされている。
【0013】ここで図2にペリクルの断面を示す。ペリ
クル2とペリクルフレーム3の一端とは薄い接着層15
を介して接着されている。ペリクルフレーム3の他端に
は接着剤4が塗布されバツクシート5によつて保護され
ている。ペリクルフレーム3から接着剤が露出すると、
発塵の可能性があるため、接着剤4の幅d4はペリクル
フレーム3の幅d3に比して小さくする。また、接着剤
4をバツクシート5が被覆していないと、ペリクルケー
スの中にペリクルを収納する際にバツクシート5の下面
(外面)がケースに接着載置され、接着剤4がケースに
付着してしまう。このためバツクシート5の幅d5が幅
d4より大きくなるようにする。さらには幅d5は幅d
3より大きく余裕をもたせてある。一般にd3=2〔m
m〕に対し、d4= 1.5〜 1.8〔mm〕、d5=約3〔m
m〕である。なおバツクシート5の厚さは0.05〜0.15〔m
m〕である。
【0014】ここで光束の照射方向及び観測位置につい
て述べる。接着剤4に光束を図中の矢印A、B、C、
D、Eの各方向から照射し、バツクシート5の表面5B
に対しほぼ垂直な方向から観測する場合を考える。A及
びB方向ではバツクシート表面5Bでの反射が強く、接
着剤4の状態がよくわからない。表面5Bに対し低い角
度であるC方向ではバツクシート表面5Bで光が全反射
してしまいさらに悪くなる。E方向は接着剤4の内側の
エツジ4Bに光が照射されないため内側のエツジ4Bの
情報が得られない。よつてD方向のみが有効である。す
なわち接着剤の外側エツジ4Aが散乱すると同時に光が
接着剤4の内部に侵入し(なぜなら接着剤4が透明であ
るため)、内側エツジ4Bに達し、ここでも散乱するの
で透明なバツクシート5を通してエツジ4A、4Bのみ
が光つて見えるのである。もちろん光束がフレーム内側
のD′方向から照射しても良い。ペリクルフレーム3の
外側エツジ3A、内側エツジ3Bも光束が散乱するが、
接着剤4が最も幅が狭い(幅d4が最も小さい)ため観
測に障害となることはない。
【0015】次に、図1との対応部分に同一符号を付し
て図3においては、本発明の第2実施例の欠陥検査装置
20の光照射部分を示す。ペリクル3は、接着剤4が塗
布されバツクシートで保護された面が下側となり透明板
21上に載置され、さらに接着剤4の外側エツジに向け
て傾斜された透明板22a、22cが配設されている。
透明板22a、22c及び透明板22b、22d(図示
せず)はペリクルフレーム3を囲むように各辺に配置さ
れ、光源11a、11c及び光源11b、11d(図示
せず)から射出された光束を矢印a、cで示すように透
明板(22a〜22d及び21)間を全反射させながら
接着剤4へと導くようになされている。この欠陥検査装
置20の透明板21は、透明板22a〜22dと組合せ
ることで光束の導入とペリクルフレーム3の載置を兼用
している。よつて、透明板22a〜22dは効率よく接
着剤4に導くために透明板ではなく反射ミラーにしても
良い。
【0016】また、図1との対応部分に同一符号を付し
た図4においては、本発明の第3実施例の欠陥検査装置
30の光照射部分の構成を示す。ペリクルフレーム3は
透明板31上に載置されている。さらに透明板31上で
かつペリクルフレーム3の内側には、上面の全面又は一
部がすりガラス状になつた光散乱部32aと下面がクロ
ム等の遮光膜32bが蒸着された透明板32が載置され
ている。光源(図示せず)は透明板32及びペリクル2
の上方に配設され、光源からの光束Lは、光散乱部32
aによつて散乱し、透明板32の下面と上面の間で全反
射を繰り返しながら外周に向かつて進行し、透明板32
の外周端面32cから外部に出射されるようになされて
いる。このときの出射光L′はペリクルフレーム3の内
側下部を接着剤4の側方から照射することになる。ちな
みに、光束Lと光散乱部32aで散乱した光束とは、遮
光膜32bによつて破線矢印Aで示す方向に設けられる
受光系(図示せず)には進行しないため、これらの光束
が撮像素子(図示せず)に入射して観測の障害となるこ
とはない。
【0017】なおここでの光束Lは、図4のようにペリ
クル2を通して照射しなくとも受光系側から照射するよ
うにしても良い。この例を第4実施例として図5に示
す。欠陥検査装置40において、透明板30上には、ペ
リクルフレーム3が載置され、さらにペリクルフレーム
3の内側に透明板41が載置されている。透明板41は
下面に光散乱部41aが設けられている。光源42から
の光束は集合レンズ43、ミラー44を介して光散乱部
41aに照射される。撮像素子45は受光レンズ46を
介して接着剤4のみを観測するために透明板41から発
生する散乱光が入らないように遮光板47が配設されて
いる。
【0018】以上の構成において、まず第1実施例の欠
陥検査装置10の光照射部分においては、各光源11a
〜11dから射出された光束La1〜Ld1は各シリンドリ
カルレンズ12a〜12dを介して光束La2〜Ld2とな
り、ペリクルフレーム3に塗布されている接着剤4の側
方を照射する。このときペリクルフレーム3に対して垂
直方向(Z軸とほぼ平行な軸を光軸Lとする受光レンズ
13及び2次元CCD等の撮像素子14によつて接着剤
4を透明板とバツクシート(図示せず)を通して接着剤
4の塗布状態を観測する。撮像素子14による観測につ
いては後述する。
【0019】次に、第2実施例の欠陥検査装置20の光
照射部分においては、光源11a〜11dから射出され
た光束は、傾斜して配設された透明板22a〜22dと
透明板21との間を矢印a、cで示すように全反射させ
ながら接着剤4へと導びかれ、接着剤4の側面を照射す
る。
【0020】なお、第3実施例の欠陥検査装置30の光
照射部分においては、透明板32及びペリクル2の上方
に配設された光源から光束Lを照射する。光束Lは、ペ
リクル2を介して光散乱部32に入射して散乱する。こ
のうち透明板32の内部に散乱した光束は、透明板32
の遮光膜32bが蒸着された下面と上面31aの間で全
反射を繰り返しながら外周へと導かれ、透明板32の外
周端面32cから外部に出射される。このときの出射光
L′はペリクルフレーム3の内側下部すなわち接着剤4
を側方から照射する。
【0021】ここで第3実施例及び第4実施例は任意の
形状のペリクルフレームに対応できる利点がある。すな
わち第1実施例や第2実施例はペリクルフレームの外形
形状、大きさにある程度合わせて光照射部(光源11a
〜11dやシリンドリカルレンズ12a〜12d、反射
板22a〜22d等)の構成や配置を決めなければなら
ないが、第3実施例や第4実施例ではペリクルフレーム
3の内側から光束を照射するのでペリクルフレームの形
状や大きさが変わつても観測精度はほぼ変わらない。特
に円形形状のペリクルフレームにも対応できることは大
きな利点である。透明板32を外形サイズで形状(正方
形、円形等)を変えて何種類か用意しておいて、ペリク
ルフレームの形状サイズに合わせて選択交換できるよう
にするとさらに良い。
【0022】さらに第4実施例の欠陥検査装置40の光
照射部分においては、光源42から発せられた光束が集
合レンズ43を介してミラー44に入射される。この光
束はミラー44によつて透明板31へと導かれ、光散乱
部41aに入射する。この後、欠陥検査装置30と同様
に入射光は散乱し、透明板41の下面と上面との間で全
反射を繰り返しながら外周へと導かれ、外部に(接着剤
4の側方に)出射される。
【0023】ここで、受光系の撮像素子14、45から
得られる信号に基づいて行われる接着剤4の検査につい
て説明する。図6は撮像素子14、45(2次元CC
D)の撮像信号出力をTVモニタ50上に出力した様子
を示す。接着剤4に対し側方から光束を照射し、接着面
に対して垂直方向から撮像素子で観測する。このため光
束が散乱するのは接着剤4のエツジ4A、4Bとペリク
ルフレーム3のエツジ3A、3Bあるいはバツクシート
5のエツジである。従つて、各エツジは明るく光つてT
Vモニタ50上にライン51として表示されるが、それ
以外、すなわちペリクルフレーム3の内側や外側は暗く
表示される。ここで図6の領域52においては、接着剤
4を表すライン51にエアパスが生じていることを示
す。この部分の拡大図を図7に示す。
【0024】図7において、ライン51aはペリクルフ
レーム3の外側エツジ3Aの散乱光であり、ライン51
bはペリクルフレーム3の内側エツジ3bの散乱光であ
る。また、ライン51cが接着剤4のエツジ散乱光であ
り、この図は接着剤4のつぎめでエアパスになつてい
る。重要なのはライン51cの内側の線51cx であ
り、これがペリクルフレーム3に沿つて直線的に一周し
ているかどうかを判定しなくてはならない。そのために
はTVモニタ50に表示される画面を画像処理して検出
してもよい。
【0025】図8(A)は、図7に示した断面P−Q上
の撮像信号(光量信号)を示す。縦軸は光量に対応す
る。信号54a、54bはそれぞれ図7のライン51
a、51bに対応する。信号54cA 、54cB は接着
剤4の外側エツジ4A、内側エツジ4Bの散乱光であ
る。従つて信号54cA の内側(左側)XA と信号54
Bの内側(右側)XB ではさまれた範囲XA 〜XB
接着剤の幅に対応するためXA 、XB の位置やXA 〜X
B 間距離に変化がみられることは、接着剤4がフレーム
に沿つていない。或いは幅が均一でなつといつた不良と
して判定することができる。
【0026】例えば図7でエアパス点53を含む断面
P′−Q′上の信号は図8(B)のようになり、XA
B の位置を計測する以前に、信号54a′、54b′
の間に信号が1つ(信号54c)しか出ていないので、
明らかに不良と判定できる。この判定はペリクルフレー
ム3の断面方向の光量分布をペリクルフレーム全周にわ
たつて行なえばよい。このため撮像素子として1次元C
CDを用いて1次元CCDの1次元方向(CCDの画素
の並んだ方向)がペリクルフレームの断面方向と一致し
てペリクルフレームを一周するように駆動部(図示せ
ず)でペリクルフレームと1次元CCDとを相対移動さ
せると良い。
【0027】以上の構成によれば、光照射部分と受光系
とを有する欠陥検査装置10、20、30、40におい
て、光源11a〜11d、42から射出される光束を光
学系12a〜12d、43、44や透明板22a〜22
d、32、41等によつて接着剤4の側方(内外いずれ
か)へと導きかつ照射させ、照射された光が散乱する各
エツジ部の光量を撮像素子14、45で検出することに
より、容易に接着剤4の塗布状態を検査することができ
る。また、ペリクルフレーム3に塗布された接着剤4を
保護するバツクシート5は透明部材であるため、ついた
ままの状態で検査ができる。
【0028】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、フオトマ
スクを防塵するペリクル付フレームの該ペリクルと対向
した端面にフオトマスクを接着するために付着され、透
明な粘着剤保護シートが被着された透明な接着剤を検査
する欠陥検査装置において、接着剤のフオトマスクに対
する接着面と略平行な方向から光束を照射する光束照射
手段と、光束照射手段によつて光束を照射された接着剤
を、接着面に対して略垂直方向から粘着剤保護シートを
介して撮像する撮像手段とを備えることにより、ペリク
ルフレームに塗布された接着剤の均一性等を検出し得る
欠陥検査装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の欠陥検査装置の全体構成
を示す斜視図である。
【図2】ペリクルとバツクシートの説明に供する断面図
である。
【図3】本発明の第2実施例の欠陥検査装置の構成を示
す断面図である。
【図4】本発明の第3実施例の欠陥検査装置の構成を示
す断面図である。
【図5】本発明の第4実施例の欠陥検査装置の構成を示
す断面図である。
【図6】モニタ上に表示される接着剤の状態を示す略線
図である。
【図7】図6におけるエアパス部分を表す略線図であ
る。
【図8】図7における所定部分の光量を表した光量分布
図である。
【図9】ペリクルの説明に供する略線的斜視図である。
【符号の説明】
1……フオトマスク、2……ペリクル、3……ペリクル
フレーム、4……接着剤、11a、11b、11c、1
1d、42……光源、14、45……撮像素子。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フオトマスクを防塵するペリクル付フレー
    ムの該ペリクルと対向した端面に前記フオトマスクを接
    着するために付着され、透明な粘着剤保護シートが被着
    された透明な接着剤を検査する欠陥検査装置において、 前記接着剤の前記フオトマスクに対する接着面と略平行
    な方向から光束を照射する光束照射手段と、 前記光束照射手段によつて前記光束を照射された前記接
    着剤を、前記接着面に対して略垂直方向から前記粘着剤
    保護シートを介して撮像する撮像手段とを具えることを
    特徴とする欠陥検査装置。
  2. 【請求項2】前記撮像手段は、 前記接着面に付着された前記接着剤の幅の均一性及び直
    線性を判定する判定手段を有することを特徴とする請求
    項1に記載の欠陥検査装置。
  3. 【請求項3】前記光束照射手段は、 光学系を有し、該光学系によつて導かれた前記光束を前
    記ペリクル付フレームの外側又は内側から照射すること
    を特徴とする請求項1に記載の欠陥検査装置。
JP8114214A 1996-04-11 1996-04-11 欠陥検査装置 Pending JPH09281050A (ja)

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Cited By (5)

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