JPH0926376A - Ｏｔｄｒ測定装置 - Google Patents
Ｏｔｄｒ測定装置Info
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- JPH0926376A JPH0926376A JP19813495A JP19813495A JPH0926376A JP H0926376 A JPH0926376 A JP H0926376A JP 19813495 A JP19813495 A JP 19813495A JP 19813495 A JP19813495 A JP 19813495A JP H0926376 A JPH0926376 A JP H0926376A
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- optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 距離分解能や測定可能距離を向上させたＯＴ
ＤＲ装置を提供する。 【構成】 本発明は、相互相関方式を用いたＯＴＤＲで
あって、ランダムパルス発生器２５からの疑似ランダム
パルスで、連続光波を変調しランダム光パルスを発生す
るランダム光パルス発生器２０と、ランダム光パルスを
光伝送路２４を伝送させ、障害点で反射する反射光パル
スを取り出し光電変換して相互相関検出器２７に送出す
る反射光検出手段３０と、前記の疑似ランダムパルスに
遅延を与えて相互相関検出器２７に送出する可変遅延回
路２６と、双方のパルス信号の相互相関をとり、相互相
関係数値が最大のときの遅延時間を読みとり障害点の距
離を演算する距離演算器２９1 から成る構成とする。
ＤＲ装置を提供する。 【構成】 本発明は、相互相関方式を用いたＯＴＤＲで
あって、ランダムパルス発生器２５からの疑似ランダム
パルスで、連続光波を変調しランダム光パルスを発生す
るランダム光パルス発生器２０と、ランダム光パルスを
光伝送路２４を伝送させ、障害点で反射する反射光パル
スを取り出し光電変換して相互相関検出器２７に送出す
る反射光検出手段３０と、前記の疑似ランダムパルスに
遅延を与えて相互相関検出器２７に送出する可変遅延回
路２６と、双方のパルス信号の相互相関をとり、相互相
関係数値が最大のときの遅延時間を読みとり障害点の距
離を演算する距離演算器２９1 から成る構成とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は光加入者系、光ＬＡ
Ｎ、光ＣＡＴＶなどの中・短距離光ファイバ線路の障害
位置検出や距離測定などを高分解能かつ高確度で行える
光ファイバ・リフレクトメータ（ＯＴＤＲ：Optical Ti
me Domain Reflectometer ）に関する。よって、近接し
て配置した光デバイスの構成上の位置や光加入者系にお
ける親局から全加入者端末までの伝搬遅延時間をも正確
に測定できる。
Ｎ、光ＣＡＴＶなどの中・短距離光ファイバ線路の障害
位置検出や距離測定などを高分解能かつ高確度で行える
光ファイバ・リフレクトメータ（ＯＴＤＲ：Optical Ti
me Domain Reflectometer ）に関する。よって、近接し
て配置した光デバイスの構成上の位置や光加入者系にお
ける親局から全加入者端末までの伝搬遅延時間をも正確
に測定できる。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ファイバ伝送路などの長距離光
デバイスの障害点、破断点をメートル単位の分解能で測
定する手法として、一定周期の光パルスを用いて時間領
域で反射を測定するＯＴＤＲが一般化している。図３に
従来の構成図の一例を示す。パルスジェネレータ（Ｐ
Ｇ）１０からの一定周期のパルス波でレーザダイオード
（ＬＤ）１１を励起し光パルスを発生させる。光パルス
はアイソレータや方向性結合器１２を通り、接続されて
いる光ファイバに与えられ、光ファイバ内を伝搬する。
デバイスの障害点、破断点をメートル単位の分解能で測
定する手法として、一定周期の光パルスを用いて時間領
域で反射を測定するＯＴＤＲが一般化している。図３に
従来の構成図の一例を示す。パルスジェネレータ（Ｐ
Ｇ）１０からの一定周期のパルス波でレーザダイオード
（ＬＤ）１１を励起し光パルスを発生させる。光パルス
はアイソレータや方向性結合器１２を通り、接続されて
いる光ファイバに与えられ、光ファイバ内を伝搬する。
【０００３】図４に示すように、光ファイバに障害点や
破断点があると、光パルスは一般的には全反射される。
たまには、インピーダンス・マッチングが取れて光パル
スは消滅することもある。反射された光パルスはＯＴＤ
Ｒに戻り図３に示すように、方向性結合器１２で分岐さ
れ、光電変換器でアバランシェ・フォトダイオード（Ａ
ＰＤ）１３などにより電気信号に変換され、増幅器１４
で増幅された後、必要により平均化回路１５でアベレー
ジングされて表示器１６に、例えば図４のように表示さ
れる。
破断点があると、光パルスは一般的には全反射される。
たまには、インピーダンス・マッチングが取れて光パル
スは消滅することもある。反射された光パルスはＯＴＤ
Ｒに戻り図３に示すように、方向性結合器１２で分岐さ
れ、光電変換器でアバランシェ・フォトダイオード（Ａ
ＰＤ）１３などにより電気信号に変換され、増幅器１４
で増幅された後、必要により平均化回路１５でアベレー
ジングされて表示器１６に、例えば図４のように表示さ
れる。
【０００４】図４の表示画面は、ＯＴＤＲの受信感度を
上げて、バック・スキャッタ・モードで表示しているも
のであり、先ず光ファイバの接続端子からのフネレル反
射光が強く現れ、続いてレーリー散乱と呼ばれる散乱光
の戻りである後方散乱光が観測され、最後に破断点の信
号が観測されている。このようにＯＴＤＲは、レーリー
散乱も測定できるため、障害点のみならず、光ファイバ
各部の不規則性をもチェックでき、またレベル差によっ
て単位長の損失も求めることもできる。
上げて、バック・スキャッタ・モードで表示しているも
のであり、先ず光ファイバの接続端子からのフネレル反
射光が強く現れ、続いてレーリー散乱と呼ばれる散乱光
の戻りである後方散乱光が観測され、最後に破断点の信
号が観測されている。このようにＯＴＤＲは、レーリー
散乱も測定できるため、障害点のみならず、光ファイバ
各部の不規則性をもチェックでき、またレベル差によっ
て単位長の損失も求めることもできる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、ＯＴＤ
Ｒは光ファイバの障害点、破断点の位置を容易に発見す
ることが出来るが、現在のＯＴＤＲでの空間分解能、つ
まり障害点の位置分解能は数メータ（数ｍ）と未だ１メ
ータ以下のものは無い。また、測定可能距離も雑音の関
係から数１００ｋｍ程度である。この発明は、この位置
決めの分解能を１ｍ以下と精度の向上を図り、更に測定
可能距離を雑音領域にまで延ばすものである。
Ｒは光ファイバの障害点、破断点の位置を容易に発見す
ることが出来るが、現在のＯＴＤＲでの空間分解能、つ
まり障害点の位置分解能は数メータ（数ｍ）と未だ１メ
ータ以下のものは無い。また、測定可能距離も雑音の関
係から数１００ｋｍ程度である。この発明は、この位置
決めの分解能を１ｍ以下と精度の向上を図り、更に測定
可能距離を雑音領域にまで延ばすものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は光パルスとして、例えばＰＮ系列（Pseu
doNoise Sequence：疑似雑音系列）信号のような不規則
な疑似ランダムパルス信号で光波を変調させてランダム
光パルスを発生させ、光伝送路を伝送させ、障害点から
の反射光パルスを、ＯＴＤＲでは可変遅延させた疑似ラ
ンダムパルス信号と反射光パルスを光電変換したパルス
との相互相関をとって、雑音レベルの内からでも反射光
パルスを見いだし、その障害点の位置、距離を精密に測
定するものである。以下詳細に説明する。
に、この発明は光パルスとして、例えばＰＮ系列（Pseu
doNoise Sequence：疑似雑音系列）信号のような不規則
な疑似ランダムパルス信号で光波を変調させてランダム
光パルスを発生させ、光伝送路を伝送させ、障害点から
の反射光パルスを、ＯＴＤＲでは可変遅延させた疑似ラ
ンダムパルス信号と反射光パルスを光電変換したパルス
との相互相関をとって、雑音レベルの内からでも反射光
パルスを見いだし、その障害点の位置、距離を精密に測
定するものである。以下詳細に説明する。
【０００７】通信分野では雑音の中から正しく信号を検
出する手段として、多くの場合に相関検出方式（Correl
ation Detection ）が最適検出手段であることが知られ
ている。この相関検出方式をＯＴＤＲに応用する。その
ために、疑似ランダムパルス信号として、前述のＰＮ系
列信号のｍ系列（maximal length linear recurringseq
uence）、Ｌｅｇｅｎｄｒｅ系列、Ｈａｌｌ系列やｔｗ
ｉｎ−ｐｒｉｍｅ系列を用いればよい。例えば、符号長
がｑ＝２k −１のｍ系列信号、ここでｋ＝４とした符号
長１５のｍ系列は４段のシフトレジスタとＥｘｃ．ＯＲ
回路の帰還回路で容易に構成できる。
出する手段として、多くの場合に相関検出方式（Correl
ation Detection ）が最適検出手段であることが知られ
ている。この相関検出方式をＯＴＤＲに応用する。その
ために、疑似ランダムパルス信号として、前述のＰＮ系
列信号のｍ系列（maximal length linear recurringseq
uence）、Ｌｅｇｅｎｄｒｅ系列、Ｈａｌｌ系列やｔｗ
ｉｎ−ｐｒｉｍｅ系列を用いればよい。例えば、符号長
がｑ＝２k −１のｍ系列信号、ここでｋ＝４とした符号
長１５のｍ系列は４段のシフトレジスタとＥｘｃ．ＯＲ
回路の帰還回路で容易に構成できる。
【０００８】この疑似ランダムパルス信号を２分岐し、
一方の信号で光波に変調をかけてランダム光パルス波を
生成し、光伝送路に送出する。光伝送路に障害点がある
と光パルスは反射しＯＴＤＲ側に戻ってくる。この反射
光パルス波を方向性結合器などの反射光分岐器で取り出
し、光検出器で電気信号に変換して相互相関検出器に与
える。
一方の信号で光波に変調をかけてランダム光パルス波を
生成し、光伝送路に送出する。光伝送路に障害点がある
と光パルスは反射しＯＴＤＲ側に戻ってくる。この反射
光パルス波を方向性結合器などの反射光分岐器で取り出
し、光検出器で電気信号に変換して相互相関検出器に与
える。
【０００９】他方の疑似ランダムパルス信号は可変遅延
回路を通して上記の相互相関検出器に与えて反射光パル
スと相互相関をとる。遅延時間をわずかづつ変化させて
いくと、反射光パルスがあるときには、大きな相互相関
係数値ρを得る。この相互相関係数値ρが最大になると
きの遅延時間がランダム光パルス波の光伝送路での往復
時間である。つまり、遅延時間の１／２が光パルス信号
の障害点までの到達時間となる。
回路を通して上記の相互相関検出器に与えて反射光パル
スと相互相関をとる。遅延時間をわずかづつ変化させて
いくと、反射光パルスがあるときには、大きな相互相関
係数値ρを得る。この相互相関係数値ρが最大になると
きの遅延時間がランダム光パルス波の光伝送路での往復
時間である。つまり、遅延時間の１／２が光パルス信号
の障害点までの到達時間となる。
【００１０】また、光ファイバなどの光伝送路の誘電率
等は既知であり、従って、光パルスの単位時間の進行速
度も既知である。そこで、障害点までの距離は進行速度
と遅延時間の１／２の時間との積で求めることができ
る。相互相関検出法は、鋭いピーク値と高いＳＮ比改善
度を持っているので、空間分解能、つまり位置分解能が
高く取れ、しかも雑音レベルの反射光パルスを読みとれ
るので、その測定範囲も格段に広がる。
等は既知であり、従って、光パルスの単位時間の進行速
度も既知である。そこで、障害点までの距離は進行速度
と遅延時間の１／２の時間との積で求めることができ
る。相互相関検出法は、鋭いピーク値と高いＳＮ比改善
度を持っているので、空間分解能、つまり位置分解能が
高く取れ、しかも雑音レベルの反射光パルスを読みとれ
るので、その測定範囲も格段に広がる。
【００１１】更に、高感度にするために反射光パルス波
の受信をヘテロダイン検波方式を用いることができる。
つまり、送信する光周波数を光周波数シフタで若干シフ
トして参照光とし、この参照光と反射光パルスとをビー
ムスプリッタで合波し、この合波光周波数を光検出器で
光電変換する。この電気信号はシフトした周波数のビー
トを有しているので、バンドパスフィルタで取り出し、
増幅検波して相互相関検出器に与えると良い。
の受信をヘテロダイン検波方式を用いることができる。
つまり、送信する光周波数を光周波数シフタで若干シフ
トして参照光とし、この参照光と反射光パルスとをビー
ムスプリッタで合波し、この合波光周波数を光検出器で
光電変換する。この電気信号はシフトした周波数のビー
トを有しているので、バンドパスフィルタで取り出し、
増幅検波して相互相関検出器に与えると良い。
【００１２】参照光は、ランダム光パルス波の基となる
連続光波が望ましいが、変調されたランダム光パルス波
の場合には、他の実施例の図２のように、前記の可変遅
延回路と同期して同一時間遅延させる光遅延回路で光遅
延させる必要がある。反射光パルスが戻ってきたとき
に、参照光が必要だからである。以下実施例について説
明する。
連続光波が望ましいが、変調されたランダム光パルス波
の場合には、他の実施例の図２のように、前記の可変遅
延回路と同期して同一時間遅延させる光遅延回路で光遅
延させる必要がある。反射光パルスが戻ってきたとき
に、参照光が必要だからである。以下実施例について説
明する。
【００１３】
【実施例】図１に本発明の一実施例の構成図を、図２に
他の実施例の構成図を示す。それぞれ対応する部分には
同一付号を付す。先ず図１について説明する。ランダム
パルス発生器２５は、ＰＮ系列信号等の疑似ランダムパ
ルス電気信号を生成する。ランダム光パルス発生器２０
は、この疑似ランダムパルス電気信号を受け、疑似ラン
ダム光パルス（以下「ランダム光パルス」という）を生
成する。例えばレーザダイオード（ＬＤ）あるいはＬＥ
Ｄなどの光源２１からの連続光波を、アイソレータ２２
を通して、光強度変調器２３でランダム光パルスに変換
する。ランダム光パルス発生器２０は光源２１を電気信
号ランダムパルス波で直接制御し、ランダム光パルスの
光源２１として用いてもよい。
他の実施例の構成図を示す。それぞれ対応する部分には
同一付号を付す。先ず図１について説明する。ランダム
パルス発生器２５は、ＰＮ系列信号等の疑似ランダムパ
ルス電気信号を生成する。ランダム光パルス発生器２０
は、この疑似ランダムパルス電気信号を受け、疑似ラン
ダム光パルス（以下「ランダム光パルス」という）を生
成する。例えばレーザダイオード（ＬＤ）あるいはＬＥ
Ｄなどの光源２１からの連続光波を、アイソレータ２２
を通して、光強度変調器２３でランダム光パルスに変換
する。ランダム光パルス発生器２０は光源２１を電気信
号ランダムパルス波で直接制御し、ランダム光パルスの
光源２１として用いてもよい。
【００１４】ランダム光パルス発生器２０で発生させた
ランダム光パルス波を、ハーフミラーあるいは方向性結
合器などの反射光分岐器３２を通して光ファイバなどの
光伝送路２４に接続する。ランダム光パルスは光伝送路
２４を伝送するが、光伝送路２４が例えば障害点や端末
に達すると反射が起こる。反射光パルスは光伝送路２４
を逆進し、ＯＴＤＲに達すると、反射光検出手段３０で
電気信号に変換され、相互相関検出器２７に送られる。
反射光検出手段３０は、例えば反射光分岐器３２と光検
出器３１とから成り、反射光パルスは反射光分岐器３２
で分離され光検出器３１に達する。光検出器３１は光電
変換器であり、例えばＡＤＰ等のフォトダイオードなど
で電気信号に変換される。
ランダム光パルス波を、ハーフミラーあるいは方向性結
合器などの反射光分岐器３２を通して光ファイバなどの
光伝送路２４に接続する。ランダム光パルスは光伝送路
２４を伝送するが、光伝送路２４が例えば障害点や端末
に達すると反射が起こる。反射光パルスは光伝送路２４
を逆進し、ＯＴＤＲに達すると、反射光検出手段３０で
電気信号に変換され、相互相関検出器２７に送られる。
反射光検出手段３０は、例えば反射光分岐器３２と光検
出器３１とから成り、反射光パルスは反射光分岐器３２
で分離され光検出器３１に達する。光検出器３１は光電
変換器であり、例えばＡＤＰ等のフォトダイオードなど
で電気信号に変換される。
【００１５】一方、ランダムパルス発生器２５で発生さ
れた電気信号のランダムパルス波は、ランダム光パルス
発生器２０に送られると同時に高精度の可変遅延回路２
６にも送られる。可変遅延回路２６は遅延時間を少しづ
つ変化させてランダムパルス波を相互相関検出器２７に
与えると共にその正確な遅延時間を距離演算器２９1に
も伝える。
れた電気信号のランダムパルス波は、ランダム光パルス
発生器２０に送られると同時に高精度の可変遅延回路２
６にも送られる。可変遅延回路２６は遅延時間を少しづ
つ変化させてランダムパルス波を相互相関検出器２７に
与えると共にその正確な遅延時間を距離演算器２９1に
も伝える。
【００１６】相互相関検出器２７では、反射光検出手段
３０からの反射光パルスの電気信号と可変遅延回路２６
からのランダムパルス波との相互相関をとる。可変遅延
回路２６の遅延時間をわずかに変えつつ相互相関係数ρ
を求めていくと、ある遅延時間の相互相関係数ρがピー
クに達する。このρがピーク値に達したとき、距離演算
器２９1 は可変遅延回路から遅延時間Ｔを読みとる。こ
の遅延時間Ｔ＝２△ｔの１／２、つまり２△ｔ／２＝△
ｔが測定端子から被測定対象までの光信号の到達時間で
ある。
３０からの反射光パルスの電気信号と可変遅延回路２６
からのランダムパルス波との相互相関をとる。可変遅延
回路２６の遅延時間をわずかに変えつつ相互相関係数ρ
を求めていくと、ある遅延時間の相互相関係数ρがピー
クに達する。このρがピーク値に達したとき、距離演算
器２９1 は可変遅延回路から遅延時間Ｔを読みとる。こ
の遅延時間Ｔ＝２△ｔの１／２、つまり２△ｔ／２＝△
ｔが測定端子から被測定対象までの光信号の到達時間で
ある。
【００１７】光ファイバなどの誘電体の誘電率は知られ
ており、単位時間当たりに進む距離も知られているの
で、光信号の到達時間が判れば到達距離Ｒは、Ｒ＝Ｃ×
△ｔ、の計算により求めることができる。ここでＣは、
光信号の伝搬速度である。距離演算器２９1 で求めた到
達距離Ｒは、距離表示器２９2 に表示する。精度は相関
信号の長さ、構成により決まる。
ており、単位時間当たりに進む距離も知られているの
で、光信号の到達時間が判れば到達距離Ｒは、Ｒ＝Ｃ×
△ｔ、の計算により求めることができる。ここでＣは、
光信号の伝搬速度である。距離演算器２９1 で求めた到
達距離Ｒは、距離表示器２９2 に表示する。精度は相関
信号の長さ、構成により決まる。
【００１８】（他の実施例）図２に他の実施例の構成図
を示す。これは反射光検出手段３０をヘテロダイン検波
で反射光パルスを検出し、受信感度を高めたものであ
る。図１と異なる部分についてのみ説明する。ヘテロダ
イン検波であるから、受信光周波数と周波数がわずかに
異なる参照光が必要であり、受信光と参照光を合波して
光検出し、その電気信号であるビート信号を取り出し
て、増幅等の処理をして感度を高める。
を示す。これは反射光検出手段３０をヘテロダイン検波
で反射光パルスを検出し、受信感度を高めたものであ
る。図１と異なる部分についてのみ説明する。ヘテロダ
イン検波であるから、受信光周波数と周波数がわずかに
異なる参照光が必要であり、受信光と参照光を合波して
光検出し、その電気信号であるビート信号を取り出し
て、増幅等の処理をして感度を高める。
【００１９】図２に示す構成は、参照光としてランダム
光パルス発生器２０の出力光波であるランダム光パルス
波を用いているので、可変遅延回路２６と同期して同一
遅延時間を与える光遅延回路３４を必要としている。つ
まり、ランダム光パルス波はビームスプリッタ３３1 で
分岐されて光遅延回路３４で可変遅延回路２６と同一時
間遅延され、光周波数シフタ３６で光周波数が若干シフ
トされる。光周波数シフタ３６は、例えば音響光学効果
素子を用いるとよい。光パルスを遅延させるのは、合波
するとき双方の光パルス波を同時に入射させるタイミン
グをとるためである。
光パルス発生器２０の出力光波であるランダム光パルス
波を用いているので、可変遅延回路２６と同期して同一
遅延時間を与える光遅延回路３４を必要としている。つ
まり、ランダム光パルス波はビームスプリッタ３３1 で
分岐されて光遅延回路３４で可変遅延回路２６と同一時
間遅延され、光周波数シフタ３６で光周波数が若干シフ
トされる。光周波数シフタ３６は、例えば音響光学効果
素子を用いるとよい。光パルスを遅延させるのは、合波
するとき双方の光パルス波を同時に入射させるタイミン
グをとるためである。
【００２０】そこで参照光として、図示してないが、光
源２１からの連続光波を取り出し、光遅延回路３４無し
で、直接光周波数シフタ３６で光周波数シフトし、ビー
ムスプリッタ３３2 で反射光パルスと合波するのがよ
い。すると、反射光パルスが存在するときのみビート信
号が生じるので、後段でこのビート信号を処理するよう
にするとよい。
源２１からの連続光波を取り出し、光遅延回路３４無し
で、直接光周波数シフタ３６で光周波数シフトし、ビー
ムスプリッタ３３2 で反射光パルスと合波するのがよ
い。すると、反射光パルスが存在するときのみビート信
号が生じるので、後段でこのビート信号を処理するよう
にするとよい。
【００２１】合波光を光検出器３１で光電変換すると、
シフトされた周波数のビート信号が生じている。このビ
ート信号をバンドパスフィルタ３８で取り出し、増幅検
波器３９などで信号処理し、反射光パルスのみを高感度
で取り出す。この反射光パルスを相互相関検出器２７に
与え、可変遅延回路２６からの疑似ランダムパルス信号
との相互相関を求めることとする。
シフトされた周波数のビート信号が生じている。このビ
ート信号をバンドパスフィルタ３８で取り出し、増幅検
波器３９などで信号処理し、反射光パルスのみを高感度
で取り出す。この反射光パルスを相互相関検出器２７に
与え、可変遅延回路２６からの疑似ランダムパルス信号
との相互相関を求めることとする。
【００２２】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、この発明は
ＯＴＤＲ測定装置において、疑似ランダムパルス信号で
あるＰＮ系列信号を発生させて相関検出方式を用いてい
るので次のような効果がある。 距離分解能は、digit の長さ（ｔO ）、つまりパルス
幅で決まり、測定距離は疑似ランダムパルス信号の信号
の長さ（ｑｔO ）、つまり繰り返し周期で決まるので、
近距離から超遠距離まで高精度で測定できる。
ＯＴＤＲ測定装置において、疑似ランダムパルス信号で
あるＰＮ系列信号を発生させて相関検出方式を用いてい
るので次のような効果がある。 距離分解能は、digit の長さ（ｔO ）、つまりパルス
幅で決まり、測定距離は疑似ランダムパルス信号の信号
の長さ（ｑｔO ）、つまり繰り返し周期で決まるので、
近距離から超遠距離まで高精度で測定できる。
【００２３】相関検出方式を用いているので、１０lo
g10ｑ だけ信号対雑音比が改善でき、雑音に埋もれた微
弱信号をも検出できる。 相関検出のための疑似ランダムパルスの発生が容易に
できる。このように、距離分解能や測定可能距離が飛躍
的に向上するので、その効果は大である。
g10ｑ だけ信号対雑音比が改善でき、雑音に埋もれた微
弱信号をも検出できる。 相関検出のための疑似ランダムパルスの発生が容易に
できる。このように、距離分解能や測定可能距離が飛躍
的に向上するので、その効果は大である。
【図１】本発明の一実施例の構成図である。
【図２】本発明の他の実施例の構成図である。
【図３】従来例の構成図である。
【図４】従来例の表示画面の図である。
１０ パルスジェネレータ（ＰＧ） １１ レーザダイオード（ＬＤ） １２ 方向性結合器 １３ アバランシェ・フォトダイオード（ＡＰＤ） １４ 平均化回路（ＡＶＲＧ） １５ 表示器（ＣＲＴ） ２０ ランダム光パルス発生器 ２１ 光源 ２２ アイソレータ ２３ 光強度変調器 ２４ 光伝送路 ２５ ランダムパルス発生器 ２６ 可変遅延回路 ２７ 相互相関検出器 ２８ 相関係数表示器 ２９1 距離演算器 ２９2 距離表示器 ３０ 反射光検出手段 ３１ 光検出器 ３２ 反射光分岐器 ３３1、３３2 ビームスプリッタ ３４ ミラー ３５ 光遅延回路 ３６ 周波数シフタ ３７ 周波数発振器 ３８ バンドパスフィルタ（ＢＰＦ） ３９ 増幅検波器
Claims (5)
- 【請求項１】 疑似ランダムパルス信号を発生するラン
ダムパルス発生器（２５）と、 上記ランダムパルス発生器（２５）からの疑似ランダム
パルス信号を受けてランダム光パルスを発生するランダ
ム光パルス発生器（２０）と、 上記ランダム光パルスを伝送する光伝送路（２４）から
の反射光パルスを検出する反射光検出手段（３０）と、 上記ランダムパルス発生器（２５）からの疑似ランダム
パルス信号を受けて任意の時間遅延させる可変遅延回路
（２６）と、 上記光検出手段（３０）からのパルス信号と上記可変遅
延回路（２６）からのパルス信号との相互相関を求める
相互相関検出器（２７）と、 上記相互相関検出器（２７）で求めた相関係数値が最大
のときの上記可変遅延回路（２６）の遅延時間Ｔを入力
し光伝送路（２４）の障害点を求める距離演算器（２９
1）と、 を具備することを特徴とするＯＴＤＲ測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の反射光検出手段（３０）
は、光伝送路（２４）からの反射光パルスを分岐する反
射光分岐器（３２）と、上記反射光分岐器（３２）から
の反射光パルスを電気信号に変換する光検出器（３１）
とから成ることを特徴とするＯＴＤＲ測定装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の反射光検出手段（３０）
は、ヘテロダイン検波により光検出器（３１）で電気信
号に変換する構成から成ることを特徴とするＯＴＤＲ測
定装置。 - 【請求項４】 請求項３記載のヘテロダイン検波による
反射光検出手段（３０）は、 ランダム光パルス発生器（２０）からのランダム光パル
スを可変遅延回路（２６）に同期して同一時間遅延させ
る光遅延回路（３４）と、 上記光遅延回路（３４）からの光パルスの光周波数をシ
フトする光周波数シフタ（３６）と、 上記光周波数シフタ（３６）でシフトされたシフト光周
波数と反射光分岐器（３２）からの反射光パルスとを合
波するビームスプリッタ（３３2 ）と、 上記ビームスプリッタ（３３2 ）からの合波光パルスを
電気信号に変換する光検出器（３１）と、 上記光検出器（３１）の電気信号から反射光パルス成分
のみ取り出すバンドパスフィルタ（３８）と、 から成ることを特徴とするＯＴＤＲ測定装置。 - 【請求項５】 請求項３記載のヘテロダイン検波による
反射光検出手段（３０）は、 光源（２１）からの連続光周波数をシフトする光周波数
シフタ（３６）と、 上記光周波数シフタ（３６）でシフトされたシフト光周
波数と反射光分岐器（３２）からの反射光パルスとを合
波するビームスプリッタ（３３2 ）と、 上記ビームスプリッタ（３３2 ）からの合波光パルスを
電気信号に変換する光検出器（３１）と、 上記光検出器（３１）の電気信号から反射光パルス成分
のみ取り出すバンドパスフィルタ（３８）と、 から成ることを特徴とするＯＴＤＲ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19813495A JPH0926376A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19813495A JPH0926376A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0926376A true JPH0926376A (ja) | 1997-01-28 |
Family
ID=16386021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19813495A Withdrawn JPH0926376A (ja) | 1995-07-11 | 1995-07-11 | Ｏｔｄｒ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0926376A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1995
- 1995-07-11 JP JP19813495A patent/JPH0926376A/ja not_active Withdrawn
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