JP2575794B2 - 光ファイバ特性評価装置 - Google Patents
光ファイバ特性評価装置Info
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- optical
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/319—Reflectometers using stimulated back-scatter, e.g. Raman or fibre amplifiers
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、光ファイバの破断点、長手方向の損失分
布、屈折率分布に代表される導波パラメータ、光ファイ
バに加わった張力変化、温度変化の影響等を、光ファイ
バを非破壊でその片端から評価する光ファイバ特性評価
装置に関するものである。
布、屈折率分布に代表される導波パラメータ、光ファイ
バに加わった張力変化、温度変化の影響等を、光ファイ
バを非破壊でその片端から評価する光ファイバ特性評価
装置に関するものである。
（従来の技術） 光ファイバの破断点や、長手方向の損失分布等を測定
する従来の装置としては、例えば光ファイバ中で発生す
る後方レーリー散乱光を検出するOTDR（たとえば、M.K.
Barnoski,et al.,“Optical time domain reflectomete
r",Appl.Opt.,Vol.16,pp.2375〜2379,1977）がある。こ
のOTDRが時間領域での解析を行うのに対し、後方レーリ
ー散乱光を周波数領域で解析を行なうOFDR（たとえば、
F.P.Kapron,et al.,“Aspect of optical frequency−d
omain reflectometry",Tech.Digest of IOOC′81,P.10
6,1981）も提案されている。
する従来の装置としては、例えば光ファイバ中で発生す
る後方レーリー散乱光を検出するOTDR（たとえば、M.K.
Barnoski,et al.,“Optical time domain reflectomete
r",Appl.Opt.,Vol.16,pp.2375〜2379,1977）がある。こ
のOTDRが時間領域での解析を行うのに対し、後方レーリ
ー散乱光を周波数領域で解析を行なうOFDR（たとえば、
F.P.Kapron,et al.,“Aspect of optical frequency−d
omain reflectometry",Tech.Digest of IOOC′81,P.10
6,1981）も提案されている。
（発明が解決しようとする課題） 上記のOTDR、OFDRともに、その技術は完成の域に達し
つつあるが、未だ解決されていない問題点が２点存在す
る。それは、コネクタ等の接続点直後の光ファイバ中
で後方に散乱されて戻ってくるレーリー散乱レベルが、
コネクタ接続点からの強大なフレネル反射パルスの裾ひ
きにより正確に測定出来ないこと。即ち、測定不能領域
（デッドゾーン）が存在すること、今後導入が期待さ
れる放送型分配システムのように分岐部を含む光ファイ
バ網においては、複数の分岐ファイバで発生する全ての
レーリー散乱光が混合して光入射端に戻って来るため、
特定の分岐光ファイバの特性を分離して特性出来ないこ
との２点である。
つつあるが、未だ解決されていない問題点が２点存在す
る。それは、コネクタ等の接続点直後の光ファイバ中
で後方に散乱されて戻ってくるレーリー散乱レベルが、
コネクタ接続点からの強大なフレネル反射パルスの裾ひ
きにより正確に測定出来ないこと。即ち、測定不能領域
（デッドゾーン）が存在すること、今後導入が期待さ
れる放送型分配システムのように分岐部を含む光ファイ
バ網においては、複数の分岐ファイバで発生する全ての
レーリー散乱光が混合して光入射端に戻って来るため、
特定の分岐光ファイバの特性を分離して特性出来ないこ
との２点である。
そして、の問題点を解決するために、音響光学型光
変調素子等の光スイッチを使用することにより、強大な
フレネル反射光が光検出器に入射することを防いでデッ
ドゾーンをなくすことが試みられているが、スイッチン
グスビードが10ns以下という高速で、クロストークの少
ない光スイッチは未だ実現されていない。また、の問
題点については、これを解決する手段はない。
変調素子等の光スイッチを使用することにより、強大な
フレネル反射光が光検出器に入射することを防いでデッ
ドゾーンをなくすことが試みられているが、スイッチン
グスビードが10ns以下という高速で、クロストークの少
ない光スイッチは未だ実現されていない。また、の問
題点については、これを解決する手段はない。
本発明は上記事情に基づいてなされたもので、光コネ
クタ等の接続点から強大なフレネル反射光が戻ってくる
ような光ファイバ線路においても、測定不能な領域（デ
ッドゾーン）が存在せず、また、分岐部を含む光ファイ
バ網においても、各分岐光ファイバの特性を分離して測
定可能な、光ファイバ特性評価装置を提供することを目
的とする。
クタ等の接続点から強大なフレネル反射光が戻ってくる
ような光ファイバ線路においても、測定不能な領域（デ
ッドゾーン）が存在せず、また、分岐部を含む光ファイ
バ網においても、各分岐光ファイバの特性を分離して測
定可能な、光ファイバ特性評価装置を提供することを目
的とする。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は上記課題を解決するために、被測定光ファイ
バ中にブリュアン散乱光を生じさせるための探査光を出
射する探査光源と、前記被測定光ファイバ中で後方に散
乱される後方ブリュアン散乱光を選択的に取出す選択取
出し手段と、前記探査光源からの探査光を前記被測定光
ファイバに結合させるとともに当該探査光で被測定光フ
ァイバ中に生じる後方ブリュアン散乱光を前記選択取出
し手段に結合させる光合分波器と、前記選択取出し手段
で取出された後方ブリュアン散乱光を検出するための光
検出器と、該光検出器により光電変換された電気信号を
処理するための信号処理装置とを有することを要旨とす
る。
バ中にブリュアン散乱光を生じさせるための探査光を出
射する探査光源と、前記被測定光ファイバ中で後方に散
乱される後方ブリュアン散乱光を選択的に取出す選択取
出し手段と、前記探査光源からの探査光を前記被測定光
ファイバに結合させるとともに当該探査光で被測定光フ
ァイバ中に生じる後方ブリュアン散乱光を前記選択取出
し手段に結合させる光合分波器と、前記選択取出し手段
で取出された後方ブリュアン散乱光を検出するための光
検出器と、該光検出器により光電変換された電気信号を
処理するための信号処理装置とを有することを要旨とす
る。
（作用） 光合分波器により探査光源からの探査光が被測定光フ
ァイバに結合され、また、この探査光でその被測定光フ
ァイバ中に生じた後方ブリュアン散乱光が選択取出し手
段に結合される。選択取出し手段では、被測定光ファイ
バからの後方ブリュアン散乱光が、後方レーリー散乱光
やフレネル反射光と分離されて選択的に取出される。そ
して、選択的に取出された後方ブリュアン散乱光が光検
出器で電気信号に変換され、その信号波形が信号処理装
置で解析されて、被測定光ファイバの破断点、長手方向
の損失分布、屈折率分布に代表される導波パラメータ等
の特性が、縦続接続された光ファイバ線路のみでなく、
分岐光ファイバ線路における各光ファイバ線路を含めて
正確に測定される。
ァイバに結合され、また、この探査光でその被測定光フ
ァイバ中に生じた後方ブリュアン散乱光が選択取出し手
段に結合される。選択取出し手段では、被測定光ファイ
バからの後方ブリュアン散乱光が、後方レーリー散乱光
やフレネル反射光と分離されて選択的に取出される。そ
して、選択的に取出された後方ブリュアン散乱光が光検
出器で電気信号に変換され、その信号波形が信号処理装
置で解析されて、被測定光ファイバの破断点、長手方向
の損失分布、屈折率分布に代表される導波パラメータ等
の特性が、縦続接続された光ファイバ線路のみでなく、
分岐光ファイバ線路における各光ファイバ線路を含めて
正確に測定される。
（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図ないし第４図は、第１実施例を示す図である。
まず、光ファイバ特性評価装置の構成を説明すると、
第１図中、１は被測定光ファイバ中に後方ブリュアン散
乱光を生じさせるための探査光を出射する探査光源であ
り、同図には図示省略されているが、例えば、CW発振の
YAGレーザ又はCW発振のDFBレーザ等の単一縦モード発振
レーザ、音響光学型光変調器、或いは電界効果型光変調
器等により構成されている。そして、探査光としては、
スペクトル線幅の狭い光パルスが出射されるようになっ
ている。
第１図中、１は被測定光ファイバ中に後方ブリュアン散
乱光を生じさせるための探査光を出射する探査光源であ
り、同図には図示省略されているが、例えば、CW発振の
YAGレーザ又はCW発振のDFBレーザ等の単一縦モード発振
レーザ、音響光学型光変調器、或いは電界効果型光変調
器等により構成されている。そして、探査光としては、
スペクトル線幅の狭い光パルスが出射されるようになっ
ている。
２は光合分波器であり、この光合分波器は、探査光源
１からの探査光を被測定光ファイバに結合させるととも
に、その探査光で被測定光ファイバ中に生じた後方ブリ
ュアン散乱光を後述する選択取出し手段に結合させる機
能を有している。３は光合分波器２と被測定光ファイバ
とを結合するための光コネクタ結合部、４及び５−１、
５−２、…、５−Ｎは被測定光ファイバであり、４は分
岐部を含む光ファイバ線路網における共通光ファイバ線
路である。また、５は分岐部であり、５−１、５−２、
…、５−Ｎは分岐部を構成するＮ本の分岐光ファイバ線
路である。６は選択取出し手段としての光周波数フィル
タであり、ファブリペロー型干渉計（エタロン）、マッ
ハツェンダ型干渉計、又はマイケルソン型干渉計等で実
現されている。７は光検出器、８は信号処理装置であ
る。
１からの探査光を被測定光ファイバに結合させるととも
に、その探査光で被測定光ファイバ中に生じた後方ブリ
ュアン散乱光を後述する選択取出し手段に結合させる機
能を有している。３は光合分波器２と被測定光ファイバ
とを結合するための光コネクタ結合部、４及び５−１、
５−２、…、５−Ｎは被測定光ファイバであり、４は分
岐部を含む光ファイバ線路網における共通光ファイバ線
路である。また、５は分岐部であり、５−１、５−２、
…、５−Ｎは分岐部を構成するＮ本の分岐光ファイバ線
路である。６は選択取出し手段としての光周波数フィル
タであり、ファブリペロー型干渉計（エタロン）、マッ
ハツェンダ型干渉計、又はマイケルソン型干渉計等で実
現されている。７は光検出器、８は信号処理装置であ
る。
次に、上述のように構成された光ファイバ特性評価装
置の作用を説明する。
置の作用を説明する。
探査光源１から出射したパルス状の検査光は、光合分
波器２を介して共通光ファイバ線路４及び分岐部５に入
射する。このとき、次に述べるような３種類の反射光信
号が、その共通光ファイバ線路４及び分岐部５において
発生する。
波器２を介して共通光ファイバ線路４及び分岐部５に入
射する。このとき、次に述べるような３種類の反射光信
号が、その共通光ファイバ線路４及び分岐部５において
発生する。
まず、その第１の反射光信号は、光コネクタ結合部３
及び各分岐光ファイバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎ
の終端からのフレネル反射パルスである。この様子を第
２図に示す。同図中、F0は光コネクタ結合部３からのフ
レネル反射パルス、F1、F2、…、FNは各分岐光ファイバ
線路５−１、５−２、…、５−Ｎの長さが順に長くなっ
ているとした場合において、それぞれの光ファイバ線路
の終端からのフレネル反射パルスを示す。
及び各分岐光ファイバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎ
の終端からのフレネル反射パルスである。この様子を第
２図に示す。同図中、F0は光コネクタ結合部３からのフ
レネル反射パルス、F1、F2、…、FNは各分岐光ファイバ
線路５−１、５−２、…、５−Ｎの長さが順に長くなっ
ているとした場合において、それぞれの光ファイバ線路
の終端からのフレネル反射パルスを示す。
次に、反射光信号の第２のものは、共通光ファイバ線
路４及び分岐部５の中で発生する後方レーリー散乱光で
あり、それぞれの波形を第２図のR4及びR5で示す。各分
岐光ファイバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎからの後
方レーリー散乱光はお互いに重なり合うため、R5の波形
からそれぞれの後方レーリー散乱光を識別することはで
きない。以上の説明から分るように、第２図に示した波
形は、従来のOTDRにより観測される波形と同一である。
路４及び分岐部５の中で発生する後方レーリー散乱光で
あり、それぞれの波形を第２図のR4及びR5で示す。各分
岐光ファイバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎからの後
方レーリー散乱光はお互いに重なり合うため、R5の波形
からそれぞれの後方レーリー散乱光を識別することはで
きない。以上の説明から分るように、第２図に示した波
形は、従来のOTDRにより観測される波形と同一である。
反射光信号の第３のものは、本実施例で注目する後方
ブリュアン散乱光である。後方ブリュアン散乱光の特徴
は、その周波数は探査光の周波数fPに対し、光ファイバ
の材料等により決まるブリュアンシフト周波数fbだけず
れた周波数、即ち、（fP−fb）であることである。ま
た、その散乱レベルは、石英系の光ファイバでは前記後
方レーリー散乱光の1/20〜1/30である。ブリュアンシフ
ト周波数fbは波長1.3μｍ帯においておよそ12GKzである
が、その値は光ファイバの材料、構造等により異なり、
またコアとクラッドとの比屈折率差Δ（％）にほぼ比例
する。例えばGeO2をコアに添加した石英系光ファイバで
は、fbはおよそ125MHz〜0.1％の割合で変化する。従っ
て製造条件の違い等により、共通光ファイバ線路４及び
各分岐光ファイバ線路はそれぞれ異なるブリュアンシフ
ト周波数fbk（ｋ＝０、１、２、…、Ｎ）を持ってい
る。このとき、光周波数フィルタ６の通過周波数を、あ
る１つの光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の周波
数（fP−fbk）に合わせ、他の周波数の光は遮断する
と、光検出器７により検出される信号波形は第３図の
（ａ）〜（ｄ）に示すようになる。第３図の縦軸は、後
方ブリュアン散乱光レベルを示している。同図において
示す各波形は、光周波数フィルタ６の通過周波数を、共
通光ファイバ線路４からの後方ブリュアン散乱光の周波
数に一致させたときの波形（同図（ａ））、分岐光ファ
イバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎからの後方ブリュ
アン散乱光の周波数に一致させたときの波形（同図
（ｂ）、（ｃ）、（ｄ））である。この図から分かるよ
うに、光周波数フィルタ６を、後方ブリュアン散乱光の
周波数（fP−fbk）にチューニングすることにより、各
光ファイバからの後方ブリュアン散乱光を個別に識別し
て測定することが可能である。また、そのレベルは後方
レーリー散乱光のレベルの1/20〜1/30であるが、その波
形は個々の光ファイバからの後方レーリー散乱光の波形
と同一である。
ブリュアン散乱光である。後方ブリュアン散乱光の特徴
は、その周波数は探査光の周波数fPに対し、光ファイバ
の材料等により決まるブリュアンシフト周波数fbだけず
れた周波数、即ち、（fP−fb）であることである。ま
た、その散乱レベルは、石英系の光ファイバでは前記後
方レーリー散乱光の1/20〜1/30である。ブリュアンシフ
ト周波数fbは波長1.3μｍ帯においておよそ12GKzである
が、その値は光ファイバの材料、構造等により異なり、
またコアとクラッドとの比屈折率差Δ（％）にほぼ比例
する。例えばGeO2をコアに添加した石英系光ファイバで
は、fbはおよそ125MHz〜0.1％の割合で変化する。従っ
て製造条件の違い等により、共通光ファイバ線路４及び
各分岐光ファイバ線路はそれぞれ異なるブリュアンシフ
ト周波数fbk（ｋ＝０、１、２、…、Ｎ）を持ってい
る。このとき、光周波数フィルタ６の通過周波数を、あ
る１つの光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の周波
数（fP−fbk）に合わせ、他の周波数の光は遮断する
と、光検出器７により検出される信号波形は第３図の
（ａ）〜（ｄ）に示すようになる。第３図の縦軸は、後
方ブリュアン散乱光レベルを示している。同図において
示す各波形は、光周波数フィルタ６の通過周波数を、共
通光ファイバ線路４からの後方ブリュアン散乱光の周波
数に一致させたときの波形（同図（ａ））、分岐光ファ
イバ線路５−１、５−２、…、５−Ｎからの後方ブリュ
アン散乱光の周波数に一致させたときの波形（同図
（ｂ）、（ｃ）、（ｄ））である。この図から分かるよ
うに、光周波数フィルタ６を、後方ブリュアン散乱光の
周波数（fP−fbk）にチューニングすることにより、各
光ファイバからの後方ブリュアン散乱光を個別に識別し
て測定することが可能である。また、そのレベルは後方
レーリー散乱光のレベルの1/20〜1/30であるが、その波
形は個々の光ファイバからの後方レーリー散乱光の波形
と同一である。
従って、第３図に示す後方ブリュアン散乱光の時間に
対する減衰率より、従来不可能であった、個々の分岐光
線路の損失を評価することが可能である。また、後方ブ
リュアン散乱光の消滅位置より、個々の光ファイバの端
末あるいは破断点を測定することが可能である。
対する減衰率より、従来不可能であった、個々の分岐光
線路の損失を評価することが可能である。また、後方ブ
リュアン散乱光の消滅位置より、個々の光ファイバの端
末あるいは破断点を測定することが可能である。
以上、共通光ファイバ線路４及び各分岐光ファイバ線
路５−１、５−２、…、５−Ｎは、それぞれ接続点のな
い１本の光ファイバとして説明したが、通常は第４図
（ａ）示すように、各々は、ｋ本の異なる光ファイバ
（＃１〜＃ｋ）が縦続接続されて構成されている。この
ような場合、ｋ本の各光ファイバからの後方ブリュアン
散乱光の周波数は、それぞれ異なるため、光周波数フィ
ルタ６の通過周波数を各々の後方ブリュアン散乱光の周
波数に一致させる（チューニング）ことにより、第４図
の（ｂ）〜（ｄ）に示すように、ｋ本の各光ファイバか
らの後方ブリュアン散乱光を分離して測定することが可
能である。即ち、これは、従来、接続損失が非常に小さ
い接続箇所は、標定が困難であるという問題点を解決す
るものである。
路５−１、５−２、…、５−Ｎは、それぞれ接続点のな
い１本の光ファイバとして説明したが、通常は第４図
（ａ）示すように、各々は、ｋ本の異なる光ファイバ
（＃１〜＃ｋ）が縦続接続されて構成されている。この
ような場合、ｋ本の各光ファイバからの後方ブリュアン
散乱光の周波数は、それぞれ異なるため、光周波数フィ
ルタ６の通過周波数を各々の後方ブリュアン散乱光の周
波数に一致させる（チューニング）ことにより、第４図
の（ｂ）〜（ｄ）に示すように、ｋ本の各光ファイバか
らの後方ブリュアン散乱光を分離して測定することが可
能である。即ち、これは、従来、接続損失が非常に小さ
い接続箇所は、標定が困難であるという問題点を解決す
るものである。
なお、当然のことながら、上記チューニングは、光周
波数フィルタ６の通過周波数を変える代りに、探査光源
１の発振周波数を変化させることにより、後方ブリュア
ン散乱光の周波数と光周波数フィルタ６の通過周波数を
一致させて、実現することもできる。
波数フィルタ６の通過周波数を変える代りに、探査光源
１の発振周波数を変化させることにより、後方ブリュア
ン散乱光の周波数と光周波数フィルタ６の通過周波数を
一致させて、実現することもできる。
以上説明した信号処理、及びSN比改善のための平均化
処理、測定結果の表示等は、信号処理装置８により実行
する。そして、第３図において注目すべき点は、これら
の波形にはフレネル反射光パルスは含まれていないこと
である。その理由は、フレネル反射光の周波数は探査光
と同一の周波数fPであり、フレネル反射光は光周波数フ
ィルタ６により遮断されて、光検出器７には入射しない
からである。従って、従来のOTDRで問題となっていた、
強大なフレネル反射光パルスが生じるコネクタ接続点直
後の測定不能領域（デッドゾーン）は存在せず、コネク
タ接続点直後からの測定が可能である。
処理、測定結果の表示等は、信号処理装置８により実行
する。そして、第３図において注目すべき点は、これら
の波形にはフレネル反射光パルスは含まれていないこと
である。その理由は、フレネル反射光の周波数は探査光
と同一の周波数fPであり、フレネル反射光は光周波数フ
ィルタ６により遮断されて、光検出器７には入射しない
からである。従って、従来のOTDRで問題となっていた、
強大なフレネル反射光パルスが生じるコネクタ接続点直
後の測定不能領域（デッドゾーン）は存在せず、コネク
タ接続点直後からの測定が可能である。
また、上述の説明では、各光ファイバからの後方ブリ
ュアン散乱光を分離して測定することを強調したが、全
光ファイバからの後方ブリュアン散乱光を測定したい場
合には、探査光の周波数fPを遮断し、他の光周波数、即
ち、各光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の周波数
fbk（ｋ＝０、１、…、Ｎ）を通過させる特性を有する
光周波数フィルタ６を使用すればよい。このような特性
は、通過域が平坦なリング共振器等で容易に実現するこ
とができる。このとき測定される波形は、第２図から強
大なフレネル反射Fk（ｋ＝０、１、…、Ｎ）を取除いた
ものとなる。この場合、後述するように、OFDR或いは相
関法による微弱信号検出技術を有効に活用することが可
能となる。
ュアン散乱光を分離して測定することを強調したが、全
光ファイバからの後方ブリュアン散乱光を測定したい場
合には、探査光の周波数fPを遮断し、他の光周波数、即
ち、各光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の周波数
fbk（ｋ＝０、１、…、Ｎ）を通過させる特性を有する
光周波数フィルタ６を使用すればよい。このような特性
は、通過域が平坦なリング共振器等で容易に実現するこ
とができる。このとき測定される波形は、第２図から強
大なフレネル反射Fk（ｋ＝０、１、…、Ｎ）を取除いた
ものとなる。この場合、後述するように、OFDR或いは相
関法による微弱信号検出技術を有効に活用することが可
能となる。
次いで、第５図には、第２実施例を示す。
なお、第５図及び後述の各実施例を示す図において、
前記第１図における機器等と同一ないし均等のものは、
前記と同一符号を以って示し、重複した説明を省略す
る。
前記第１図における機器等と同一ないし均等のものは、
前記と同一符号を以って示し、重複した説明を省略す
る。
第５図中、９はヘテロダイン検波を行うための局発光
源であり、探査光源１と同様に、CW発振のYAGレーザ或
いはDFBレーザ等の単一縦モード発振レーザで構成され
ている。11は光ヘテロダイン検波用受信器であり、光検
出器、中間周波数フィルタ及び包絡線ないしは自乗検波
器からなっている。本実施例では、前記第１図に示した
第１実施例における光周波数フィルタによる受信の代り
に、光ヘテロダイン検波により、所望の周波数の光信号
を選択的に受信するようにしている。
源であり、探査光源１と同様に、CW発振のYAGレーザ或
いはDFBレーザ等の単一縦モード発振レーザで構成され
ている。11は光ヘテロダイン検波用受信器であり、光検
出器、中間周波数フィルタ及び包絡線ないしは自乗検波
器からなっている。本実施例では、前記第１図に示した
第１実施例における光周波数フィルタによる受信の代り
に、光ヘテロダイン検波により、所望の周波数の光信号
を選択的に受信するようにしている。
いま、局発光源９の周波数をfL、光ヘテロダイン検波
用受信器11における中間周波数をfIとすると、 |fP−fbk−fL|＝fI …（１） のとき、共通光ファイバ線路４あるいは分岐光ファイバ
線路５−ｋからの後方ブリュアン散乱光を検出すること
ができ、その信号波形は、前記第３図に示した通りであ
る。（１）式の条件を満足させるためには、探査光源１
の周波数fP、局発光源９の周波数fL、あるいは中間周波
数fIを調節制御すればよい。探査光源１の出力の一部を
分岐し、それを局発光源９として使用する場合は、
（１）式はfbk＝fIとなり、中間周波数fIを調節制御す
ることになる。
用受信器11における中間周波数をfIとすると、 |fP−fbk−fL|＝fI …（１） のとき、共通光ファイバ線路４あるいは分岐光ファイバ
線路５−ｋからの後方ブリュアン散乱光を検出すること
ができ、その信号波形は、前記第３図に示した通りであ
る。（１）式の条件を満足させるためには、探査光源１
の周波数fP、局発光源９の周波数fL、あるいは中間周波
数fIを調節制御すればよい。探査光源１の出力の一部を
分岐し、それを局発光源９として使用する場合は、
（１）式はfbk＝fIとなり、中間周波数fIを調節制御す
ることになる。
第６図ないし第８図には、第３実施例を示す。
第６図中、14は被測定光ファイバからの反射光信号を
光増幅するための増幅用光ファイバ、12は増幅用光ファ
イバ14をブリュアン光増幅状態とするための励起用光源
であり、探査光源１等と同様に、CW発振のYAGレーザ或
いはDFBレーザ等の単一縦モード発振レーザで構成する
ことができる。13は励起用光源12からの出射光を増幅用
光ファイバ14に導き、また増幅用光ファイバ14中で光増
幅された被測定光ファイバからの反射光信号を、光検出
器７に導くための光合分波器である。本実施例では、前
記第１図に示した第１実施例における光周波数フィルタ
による受信の代りに、ブリュアン光増幅により、所望の
周波数の光信号を選択的に受信するようにしている。
光増幅するための増幅用光ファイバ、12は増幅用光ファ
イバ14をブリュアン光増幅状態とするための励起用光源
であり、探査光源１等と同様に、CW発振のYAGレーザ或
いはDFBレーザ等の単一縦モード発振レーザで構成する
ことができる。13は励起用光源12からの出射光を増幅用
光ファイバ14に導き、また増幅用光ファイバ14中で光増
幅された被測定光ファイバからの反射光信号を、光検出
器７に導くための光合分波器である。本実施例では、前
記第１図に示した第１実施例における光周波数フィルタ
による受信の代りに、ブリュアン光増幅により、所望の
周波数の光信号を選択的に受信するようにしている。
被測定光ファイバからの後方ブリュアン散乱光を、増
幅用光ファイバ14中でブリュアン光増幅するためには、
次式の条件を満足させる必要がある。
幅用光ファイバ14中でブリュアン光増幅するためには、
次式の条件を満足させる必要がある。
fPUMP−fbAMP＝fP−fbk （＝後方ブリュアン散乱光周波数fBSk） …（２） ここで、fPUMPは励起用光源12からの出射光の周波
数、fbAMPは増幅用光ファイバ14におけるブリュアンシ
フト周波数である。このときの周波数、fPUMP、fbAMP、
fP、fbkの関係を第７図に示す。
数、fbAMPは増幅用光ファイバ14におけるブリュアンシ
フト周波数である。このときの周波数、fPUMP、fbAMP、
fP、fbkの関係を第７図に示す。
fbAMPとfbkは比較的近い周波数なので、fPUMPとfPの
差周波数は小さな値となり、通常500MHz以下である。従
って、探査光源１の出力の一部を分岐し、その周波数を
音響光学型光変調器などによってシフトさせたものを、
励起用光源12の代りとして使用することも可能である。
この場合は、音響光学型変調器の変調周波数を変化させ
ることにより、容易に上記条件の（２）式を満足させる
ことが出来る。また、探査光源１に要求される周波数の
安定性に関する条件も緩和される。
差周波数は小さな値となり、通常500MHz以下である。従
って、探査光源１の出力の一部を分岐し、その周波数を
音響光学型光変調器などによってシフトさせたものを、
励起用光源12の代りとして使用することも可能である。
この場合は、音響光学型変調器の変調周波数を変化させ
ることにより、容易に上記条件の（２）式を満足させる
ことが出来る。また、探査光源１に要求される周波数の
安定性に関する条件も緩和される。
そして、上記（２）式が満足されたとき、共通光ファ
イバ線路４ないし分岐光ファイバ線路５−ｋからの後方
ブリュアン散乱光のみが大きな増幅（励起用光源の出力
パワーにもよるが、40dB以上の増幅が可能である）を受
けるため、他の周波数の光信号成分は実質上無視でき
る。従って、光検出器７で検出される信号波形は、前記
第３図に示した通りとなる。ただし、励起用光源12から
の出射光が増幅用光ファイバ14を伝搬することにより、
この増幅用光ファイバ14中で発生する後方レーリー散乱
光のレベル（これをＡとする）が高いときには、前記第
３図に示した波形は、第８図に示すように、振幅Ａの直
流成分が重畳したものとなる。これにより、後方ブリュ
アン散乱光の信号波形自身は変化しないため、波形解析
上の問題は生じないが、大きなレベルの後方レーリー散
乱光が光検出器７に入射することは、光信号検出におけ
る雑音を増加させる。従って、できれば、増幅用光ファ
イバ14と光検出器７の間に、前記第１図に示した後方ブ
リュアン散乱光のみを通過させる光周波数フィルタを挿
入することが望ましい。
イバ線路４ないし分岐光ファイバ線路５−ｋからの後方
ブリュアン散乱光のみが大きな増幅（励起用光源の出力
パワーにもよるが、40dB以上の増幅が可能である）を受
けるため、他の周波数の光信号成分は実質上無視でき
る。従って、光検出器７で検出される信号波形は、前記
第３図に示した通りとなる。ただし、励起用光源12から
の出射光が増幅用光ファイバ14を伝搬することにより、
この増幅用光ファイバ14中で発生する後方レーリー散乱
光のレベル（これをＡとする）が高いときには、前記第
３図に示した波形は、第８図に示すように、振幅Ａの直
流成分が重畳したものとなる。これにより、後方ブリュ
アン散乱光の信号波形自身は変化しないため、波形解析
上の問題は生じないが、大きなレベルの後方レーリー散
乱光が光検出器７に入射することは、光信号検出におけ
る雑音を増加させる。従って、できれば、増幅用光ファ
イバ14と光検出器７の間に、前記第１図に示した後方ブ
リュアン散乱光のみを通過させる光周波数フィルタを挿
入することが望ましい。
以上、第１ないし第３の実施例について、光ファイバ
の障害点探索、損失測定の機能に限って説明してきた。
しかし、ブリュアンシフト周波数fbは、すでに説明した
ように光ファイバの屈折率差に依存するため、光ファイ
バの屈折率分布にも大きく依存する。また、ブリュアン
シフト周波数fbは、光ファイバに加わった張力変化や、
温度変化に依存することが知られている。従って、前記
第３図に示した後方ブリュアン散乱光レベルが最大とな
るブリュアンシフト周波数fbの変化量を測定することに
より、光ファイバの長手方向の屈折率分布や光ファイバ
に加わった張力変化、温度変化の諸量を測定することが
可能である。ブリュアンシフト周波数fbの変化量は、こ
れまでの説明から明らかなように、受信ブリュアン散乱
光レベルを最大とするために変化させた光周波数フィル
タの透過中心周波数の変化量、探査光源、局発光源、励
起用光源の各周波数の変化量から測定できる。
の障害点探索、損失測定の機能に限って説明してきた。
しかし、ブリュアンシフト周波数fbは、すでに説明した
ように光ファイバの屈折率差に依存するため、光ファイ
バの屈折率分布にも大きく依存する。また、ブリュアン
シフト周波数fbは、光ファイバに加わった張力変化や、
温度変化に依存することが知られている。従って、前記
第３図に示した後方ブリュアン散乱光レベルが最大とな
るブリュアンシフト周波数fbの変化量を測定することに
より、光ファイバの長手方向の屈折率分布や光ファイバ
に加わった張力変化、温度変化の諸量を測定することが
可能である。ブリュアンシフト周波数fbの変化量は、こ
れまでの説明から明らかなように、受信ブリュアン散乱
光レベルを最大とするために変化させた光周波数フィル
タの透過中心周波数の変化量、探査光源、局発光源、励
起用光源の各周波数の変化量から測定できる。
その他本発明は上記記載に限定されずにその要旨を逸
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
脱しない範囲で種々変形して実施できる。
例えば、前記第１図に示した第１実施例では、3dB分
岐型の光合分波器２を使用しているが、これは以下に述
べるように第９図に示したマッハツェンダ型の干渉計15
に置き換えることができる。例えば、マッハツェンダ型
の干渉計15のポートを探査光源１に、ポートを光検
出器７の側に、ポートを被測定光ファイバへ続く端子
につなぐとする。このとき、干渉計15の通過特性は第10
図（ａ）に示したようになるため、探査光源１からの光
（周波数fP）は干渉計15の通過損失を受けずに被測定光
ファイバに入射し、また被測定光ファイバからの後方ブ
リュアン散乱光（周波数fP−fbk）を干渉計15の通過損
失を受けずに光検出器７に入射する。
岐型の光合分波器２を使用しているが、これは以下に述
べるように第９図に示したマッハツェンダ型の干渉計15
に置き換えることができる。例えば、マッハツェンダ型
の干渉計15のポートを探査光源１に、ポートを光検
出器７の側に、ポートを被測定光ファイバへ続く端子
につなぐとする。このとき、干渉計15の通過特性は第10
図（ａ）に示したようになるため、探査光源１からの光
（周波数fP）は干渉計15の通過損失を受けずに被測定光
ファイバに入射し、また被測定光ファイバからの後方ブ
リュアン散乱光（周波数fP−fbk）を干渉計15の通過損
失を受けずに光検出器７に入射する。
これは第１図に示した3dB分岐型の光合分波器２を使
用した場合に比べて6dBの挿入損失の低減になる。ま
た、このとき、光周波数フィルタ６がなくとも、周波数
がfPであるフレネル反射光及び後方レーリー散乱光は、
光検出器７に入射せず、周波数（fP−fbk）の後方ブリ
ュアン散乱光のみが検出される。さらに、干渉計15の光
路、Ｉ、IIの光路差を、一方の光路に熱歪を与えるなど
して変化させることにより、干渉計15の特性を、第10図
（ａ）から第10図（ｂ）に切替えることができる。この
とき干渉計15は、周波数fP及び（fP−fbk）の光信号に
対し、3dB分岐型の光合分波器と等価的に同一とみなせ
る。即ち、第１実施例による後方ブリュアン散乱光の測
定を特徴とした光ファイバ特性評価装置を、後方レーリ
ー散乱光を測定する通常のOTDRに切り替えることが可能
である。
用した場合に比べて6dBの挿入損失の低減になる。ま
た、このとき、光周波数フィルタ６がなくとも、周波数
がfPであるフレネル反射光及び後方レーリー散乱光は、
光検出器７に入射せず、周波数（fP−fbk）の後方ブリ
ュアン散乱光のみが検出される。さらに、干渉計15の光
路、Ｉ、IIの光路差を、一方の光路に熱歪を与えるなど
して変化させることにより、干渉計15の特性を、第10図
（ａ）から第10図（ｂ）に切替えることができる。この
とき干渉計15は、周波数fP及び（fP−fbk）の光信号に
対し、3dB分岐型の光合分波器と等価的に同一とみなせ
る。即ち、第１実施例による後方ブリュアン散乱光の測
定を特徴とした光ファイバ特性評価装置を、後方レーリ
ー散乱光を測定する通常のOTDRに切り替えることが可能
である。
また、上記の干渉計15を前記第５図に示した第２実施
例に適用することも非常に効果的である。そのときの構
成を第11図に示す。同図中、16は局発光源９からの出射
光と被測定光ファイバからの反射光信号を合波するため
の光合分波器である。第10図（ａ）に示した特性の干渉
計15を第11図に示した如く使用することにより、上述と
同様な効果、即ち、挿入損失の低減及びフレネル反射
光、後方レーリー散乱光の遮断が期待できる。さらに干
渉計15の特性を第10図（ｂ）に切替えることにより、第
２実施例の評価装置を通常のヘテロダインOTDRとして動
作させることも可能である。
例に適用することも非常に効果的である。そのときの構
成を第11図に示す。同図中、16は局発光源９からの出射
光と被測定光ファイバからの反射光信号を合波するため
の光合分波器である。第10図（ａ）に示した特性の干渉
計15を第11図に示した如く使用することにより、上述と
同様な効果、即ち、挿入損失の低減及びフレネル反射
光、後方レーリー散乱光の遮断が期待できる。さらに干
渉計15の特性を第10図（ｂ）に切替えることにより、第
２実施例の評価装置を通常のヘテロダインOTDRとして動
作させることも可能である。
さらに、干渉計15を前記第６図に示した第３実施例に
適用することも勿論できる。先ず、第６図における光合
分波器２を、第10図（ａ）に示す特性の干渉計15に置換
える。これは、前述した、第１図において光合分波器２
を、第10図（ａ）に示す特性の干渉計15に置換えた場合
と同じである。次に、光合分波器13も干渉計15に置換え
る。ただし、このときの干渉計15の特性は、第12図に示
す通りであり、干渉計15のポートは励起用光源12へ、
ポートは増幅用光ファイバ14へ、ポートは光検出器
７につなぐものとする。これらの置換えの効果は、全て
前述の置換えの例の場合と同様であり、挿入損失の低減
及びフレネル反射光、後方レーリー散乱光の遮断であ
る。
適用することも勿論できる。先ず、第６図における光合
分波器２を、第10図（ａ）に示す特性の干渉計15に置換
える。これは、前述した、第１図において光合分波器２
を、第10図（ａ）に示す特性の干渉計15に置換えた場合
と同じである。次に、光合分波器13も干渉計15に置換え
る。ただし、このときの干渉計15の特性は、第12図に示
す通りであり、干渉計15のポートは励起用光源12へ、
ポートは増幅用光ファイバ14へ、ポートは光検出器
７につなぐものとする。これらの置換えの効果は、全て
前述の置換えの例の場合と同様であり、挿入損失の低減
及びフレネル反射光、後方レーリー散乱光の遮断であ
る。
以上、各実施例の説明では、探査光源１からの出射光
はパルス状に成形されたものであるとしてきた。しか
し、従来のOTDRに対しOFDRがあるように、各実施例にお
ける評価装置も時間領域の測定だけに限られるものでは
ない。つまり、探査光源１からの出射光は、周波数Ｆで
強度変調された光とし、その変調光を被測定光ファイバ
に入射し、それによって後方に散乱された後方ブリュア
ン散乱光を光検出器により検出する。そして、信号処理
装置８では周波数Ｆの信号の振幅と位相を測定すること
により、即ち周波数領域の測定を行なうことにより、こ
れまで説明してきたものと同様の光ファイバの評価が可
能である。探査光源１からの出射光の変調は、音響光学
型光変調器、LiNbO3に代表される電界効果型の光変調器
等により行なうことができる。従来のOFDRは、距離分解
能が高く、ダイナミックレンジが大きいという特長があ
ったが、フレネル反射光のような大きな信号光と後方レ
ーリー散乱光のように微弱な光信号が同時に存在するよ
うな場合には、検出系のリニアリティが問題となり、後
者を精度良く測定することは困難であった。
はパルス状に成形されたものであるとしてきた。しか
し、従来のOTDRに対しOFDRがあるように、各実施例にお
ける評価装置も時間領域の測定だけに限られるものでは
ない。つまり、探査光源１からの出射光は、周波数Ｆで
強度変調された光とし、その変調光を被測定光ファイバ
に入射し、それによって後方に散乱された後方ブリュア
ン散乱光を光検出器により検出する。そして、信号処理
装置８では周波数Ｆの信号の振幅と位相を測定すること
により、即ち周波数領域の測定を行なうことにより、こ
れまで説明してきたものと同様の光ファイバの評価が可
能である。探査光源１からの出射光の変調は、音響光学
型光変調器、LiNbO3に代表される電界効果型の光変調器
等により行なうことができる。従来のOFDRは、距離分解
能が高く、ダイナミックレンジが大きいという特長があ
ったが、フレネル反射光のような大きな信号光と後方レ
ーリー散乱光のように微弱な光信号が同時に存在するよ
うな場合には、検出系のリニアリティが問題となり、後
者を精度良く測定することは困難であった。
しかしながら、後方ブリュアン散乱光を測定する本発
明の各実施例においては、前記第３図に示したように、
フレネル反射光のような強大な信号は混在しないため、
上記検出系のリニアリティの問題は生じない。よって、
フレネル反射が多数発生するコネクタ接続された光線路
網においても、本発明の各実施例に、OFDRの手法を適用
することにより、距離分解能が高く、ダイナミックレン
ジの大きな測定が実現できる。
明の各実施例においては、前記第３図に示したように、
フレネル反射光のような強大な信号は混在しないため、
上記検出系のリニアリティの問題は生じない。よって、
フレネル反射が多数発生するコネクタ接続された光線路
網においても、本発明の各実施例に、OFDRの手法を適用
することにより、距離分解能が高く、ダイナミックレン
ジの大きな測定が実現できる。
また、従来のOTDRにも適用されつつある相関法を、本
発明の各実施例に適用することにより、各実施例の性能
は飛躍的に向上する。相関法とは、擬似ランダム符号
（Ｍ系列符号、EXOR形符号、OR符号等）で変調（ASK、F
SK、PSK）した光信号を送信し、その反射信号を受信点
で相関処理するものである（例えば、K.Okada.et al.,
“Optical cable fault location useing correlator t
echnique",Electron,Lett.,Vol.16,p629,1980）。
発明の各実施例に適用することにより、各実施例の性能
は飛躍的に向上する。相関法とは、擬似ランダム符号
（Ｍ系列符号、EXOR形符号、OR符号等）で変調（ASK、F
SK、PSK）した光信号を送信し、その反射信号を受信点
で相関処理するものである（例えば、K.Okada.et al.,
“Optical cable fault location useing correlator t
echnique",Electron,Lett.,Vol.16,p629,1980）。
相関法は、これまで説明してきた孤立パルス法に比
べ、符号の長さに比例してSN比が改善される。しかしな
がら、先に示したOFDRと同様に微弱な後方散乱光と強大
なフレネル反射光が混在した場合には、検出系のリニア
リティの問題が生じるため、従来は、符号長を十分長く
することができなかった。本発明の各実施例において
は、前記第３図に示したように、フレネル反射光のよう
な強大な信号は混在せず微弱な後方ブリュアン散乱光の
み受信するため、相関法の特長を最大限にひき出すこと
が可能である。
べ、符号の長さに比例してSN比が改善される。しかしな
がら、先に示したOFDRと同様に微弱な後方散乱光と強大
なフレネル反射光が混在した場合には、検出系のリニア
リティの問題が生じるため、従来は、符号長を十分長く
することができなかった。本発明の各実施例において
は、前記第３図に示したように、フレネル反射光のよう
な強大な信号は混在せず微弱な後方ブリュアン散乱光の
み受信するため、相関法の特長を最大限にひき出すこと
が可能である。
また、これまで、被測定光ファイバをツリー型の光線
路網に限って説明したきたが、本発明は、スター型光線
路網、及びそれらが組合わされた複雑な光線路網に対し
ても適用することができる。
路網に限って説明したきたが、本発明は、スター型光線
路網、及びそれらが組合わされた複雑な光線路網に対し
ても適用することができる。
［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、探査光源か
らの探査光を被測定光ファイバに入射させることにより
発生する後方ブリュアン散乱光を選択取出し手段で選択
的に取出し、これを光検出器で検出することにより、測
定光ファイバの特性評価が行なわれる。この後方ブリュ
アン散乱光の周波数は、探査光のそれとは大きく異な
り、光ファイバの材料や屈折率分布、張力変化、温度等
に依存して変化する。従って、本発明により、以下に述
べるような効果が得られる。
らの探査光を被測定光ファイバに入射させることにより
発生する後方ブリュアン散乱光を選択取出し手段で選択
的に取出し、これを光検出器で検出することにより、測
定光ファイバの特性評価が行なわれる。この後方ブリュ
アン散乱光の周波数は、探査光のそれとは大きく異な
り、光ファイバの材料や屈折率分布、張力変化、温度等
に依存して変化する。従って、本発明により、以下に述
べるような効果が得られる。
光ファイバが単純に縦続接続された光ファイバ線路だ
けでなく、分岐光ファイバ線路を含むツリー型の光ファ
イバ線路網、或いはループ型の光ファイバ線路網等にお
ける個々の光ファイバの損失あるいは傷害位置を、分離
して測定することができる。
けでなく、分岐光ファイバ線路を含むツリー型の光ファ
イバ線路網、或いはループ型の光ファイバ線路網等にお
ける個々の光ファイバの損失あるいは傷害位置を、分離
して測定することができる。
複数本の光ファイバを縦続接続した光ファイバ線路で
は、その光ファイバの接続位置を正確に測定することが
できる。
は、その光ファイバの接続位置を正確に測定することが
できる。
強大なフレネル反射光パルスが生じるコネクタ接続点
直後の測定不能領域（デッドゾーン）は存在せず、コネ
クタ接続点直後からの測定が可能である。
直後の測定不能領域（デッドゾーン）は存在せず、コネ
クタ接続点直後からの測定が可能である。
強大なフレネル反射光は遮断し、微弱な後方ブリュア
ン散乱光のみを取出して測定するため、OFDRの手法或い
は相関法を本発明に適用することにより、距離分解能が
高く、ダイナミックレンジの大きな光ファイバ特性評価
装置を提供することが可能である。
ン散乱光のみを取出して測定するため、OFDRの手法或い
は相関法を本発明に適用することにより、距離分解能が
高く、ダイナミックレンジの大きな光ファイバ特性評価
装置を提供することが可能である。
光ファイバの長手方向の屈折率分布や、光ファイバに
加わった張力変化及び温度変化等の諸量を正確に測定す
ることができる。
加わった張力変化及び温度変化等の諸量を正確に測定す
ることができる。
第１図ないし第４図は本発明に係る光ファイバ特性評価
装置の第１実施例を示すもので、第１図はブロック図、
第２図はフレネル反射光及び後方レーリー散乱光の波形
を示す波形図、第３図は後方ブリュアン散乱光の波形を
示す波形図、第４図は縦続接続された複数本の光ファイ
バ及びその各光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の
波形を示す波形図、第５図は本発明の第２実施例の構成
を示すブロック図、第６図ないし第８図は本発明の第３
実施例を示すもので、第６図は構成を示すブロック図、
第７図は探査光源、励起用光源、後方ブリュアン散乱光
の周波数の関係を示す図、第８図は本実施例で測定され
る後方ブリュアン散乱光波形を示す波形図、第９図はマ
ッハツェンダ型干渉計の構成を示す構成図、第10図はマ
ッハツェンダ型干渉計の透過特性を示す特性図、第11図
は同上のマッハツェンダ型干渉計を前記第５図の第２実
施例に適用した例を示すブロック図、第12図はマッハツ
ェンダ型干渉計を前記第６図に示す第３実施例に適用し
たときのその透過特性を示す特性図である。 1:探査光源、2:光合分波器、 4:共通光ファイバ線路（被測定光ファイバ）、 ５−１、５−２、…、５−N:分岐光ファイバ線路（被測
定光ファイバ）、 6:光周波数フィルタ（選択取出し手段）、 7:光検出器、8:信号処理装置、 9:局発光源、 11:光ヘテロダイン検波用受信機（選択取出し手段）、 12:励起用光源、 14:励起用光源とともにブリュアン増幅器（選択取出し
手段）を構成する増幅用光ファイバ。
装置の第１実施例を示すもので、第１図はブロック図、
第２図はフレネル反射光及び後方レーリー散乱光の波形
を示す波形図、第３図は後方ブリュアン散乱光の波形を
示す波形図、第４図は縦続接続された複数本の光ファイ
バ及びその各光ファイバからの後方ブリュアン散乱光の
波形を示す波形図、第５図は本発明の第２実施例の構成
を示すブロック図、第６図ないし第８図は本発明の第３
実施例を示すもので、第６図は構成を示すブロック図、
第７図は探査光源、励起用光源、後方ブリュアン散乱光
の周波数の関係を示す図、第８図は本実施例で測定され
る後方ブリュアン散乱光波形を示す波形図、第９図はマ
ッハツェンダ型干渉計の構成を示す構成図、第10図はマ
ッハツェンダ型干渉計の透過特性を示す特性図、第11図
は同上のマッハツェンダ型干渉計を前記第５図の第２実
施例に適用した例を示すブロック図、第12図はマッハツ
ェンダ型干渉計を前記第６図に示す第３実施例に適用し
たときのその透過特性を示す特性図である。 1:探査光源、2:光合分波器、 4:共通光ファイバ線路（被測定光ファイバ）、 ５−１、５−２、…、５−N:分岐光ファイバ線路（被測
定光ファイバ）、 6:光周波数フィルタ（選択取出し手段）、 7:光検出器、8:信号処理装置、 9:局発光源、 11:光ヘテロダイン検波用受信機（選択取出し手段）、 12:励起用光源、 14:励起用光源とともにブリュアン増幅器（選択取出し
手段）を構成する増幅用光ファイバ。
Claims (4)
- 【請求項１】被測定光ファイバ中にブリュアン散乱光を
生じさせるための探査光を出射する探査光源と、 前記被測定光ファイバ中で後方に散乱される後方ブリュ
アン散乱光を選択的に取出す選択取出し手段と、 前記探査光源からの探査光を前記被測定光ファイバに結
合させるとともに当該探査光で被測定光ファイバ中に生
じる後方ブリュアン散乱光を前記選択取出し手段に結合
させる光合分波器と、 前記選択取出し手段で取出された後方ブリュアン散乱光
を検出するための光検出器と、 該光検出器により光電変換された電気信号を処理するた
めの信号処理装置と を有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。 - 【請求項２】前記選択取出し手段は、光周波数フィルタ
であることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ特性
評価装置。 - 【請求項３】前記選択取出し手段は、光ヘテロダイン受
信機であることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ
特性評価装置。 - 【請求項４】前記選択取出し手段は、ブリュアン光増幅
器であることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ特
性評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10560588A JP2575794B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光ファイバ特性評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10560588A JP2575794B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光ファイバ特性評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01276039A JPH01276039A (ja) | 1989-11-06 |
| JP2575794B2 true JP2575794B2 (ja) | 1997-01-29 |
Family
ID=14412137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10560588A Expired - Lifetime JP2575794B2 (ja) | 1988-04-28 | 1988-04-28 | 光ファイバ特性評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2575794B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102007059551A1 (de) | 2006-12-13 | 2008-07-24 | Yahei Koyamada | Einrichtung zur Messung der Eigenschaften einer Lichtleitfaser |
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-
1988
- 1988-04-28 JP JP10560588A patent/JP2575794B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102007059551A1 (de) | 2006-12-13 | 2008-07-24 | Yahei Koyamada | Einrichtung zur Messung der Eigenschaften einer Lichtleitfaser |
| DE102007059551B4 (de) * | 2006-12-13 | 2016-08-11 | Yahei Koyamada | Einrichtung und Verfahren zur Messung der Eigenschaften einer Lichtleitfaser |
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|---|---|
| JPH01276039A (ja) | 1989-11-06 |
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