JPH01276039A - 光ファイバ特性評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的１ （産業上の利用分野） 本発明は、光ファイバの破断点、長手方向の損失分布、
屈折率分布に代表゛される導波パラメータ、光ファイバ
に加わった張力変化、温度変化の影響等を、光ファイバ
を非破壊でその片端から評価する光ファイバ特性評価装
置に関するものである。

（従来の技術） 光ファイバの破断点や、長手方向の損失分布等を測定す
る従来の装置としては、例えば光ファイバ中で発生する
後方レーリー散乱光を検出する０ＴＤＲ（たとえば、Ｍ
、に、Ｂａｒｎｏｓｋｉ　、　ｅｔａｌ、　、　　　０
ｐｔｉｃａｌ　　ｔｉｍｅ　　ｄｏｍａｉｎ　　ｒｅｆ
ｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ″　。

ＡＩ）ｌ）ｌ　　、　　０ｐｔ０．　　Ｖｏｌ、　　１
６．　　ｐｐ、２３７５〜２３７９゜１９７７）がある
。この０ＴＤＲが時間領域での解析を行うのに対し、後
方レーリー散乱光を周波数領域で解析を行なう０ＦＤＲ
（たとえば、Ｆ、Ｐ。

）（ａｐｒｏｎ　、　ｅｔ　ａｌ　、　、　　“ＡＳＥ
）ｅＣｔ　ｏｆ　０＋）ｔｉｃａｌ　ｆｒｅＱｕｅｎＣ
Ｖ−ｄｏｍａｉｎ　ｒｅｆｌｅｃｔ０１＋３ｔｒＶ”、
　Ｔｅｃｈ　、　Ｄｉ。

ｅｓｔ　ｏｆ　　Ｉ　ＯＯＣ”　８１．　Ｐ、　　１０
６．１９８１）　モ１１案されている。

（発明が解決しようとする課題） 上記の０ＴＤＲ，０ＦＯＲともに、その技術は完成の域
に達しつつあるが、未だ解決されていない問題点が２点
存在する。それは、■コネクタ等の接続点直後の光ファ
イバ中で後方に散乱されて戻ってくるレーリー散乱レベ
ルが、コネクタ接続点からの強大なフレネル反射パルス
の裾ひきにより正確に測定出来ないこと。即ち、測定不
能領域（デッドゾーン）が存在すること、■今後導入が
期待される放送型分配システムのように分岐部を含む光
ファイバ網においては、複数の分岐ファイバで発生する
全てのレーリー散乱光が混合して光入射端に戻って来る
ため、特定の分岐光ファイバの特性を分離して測定出来
ないことの２点である。

そして、■の問題点を解決するために、音響光学型米麦
ＩＩ索子等の光スィッチを使用することにより、強大な
フレネル反射光が光検出器に入射することを防いでデッ
ドゾーンをなくすことが試みられているが、スイッチン
グスピードがｉ　０ｎｓ以下という高速で、り０ストー
クの少ない光スィッチは未だ実現されていない。また、
■の問題点については、これを解決する手段はない。

本発明は上記事情に基づいてなされたもので、光コネク
タ等の接続点から強大なフレネル反射光が戻ってくるよ
うな光ファイバ線路においても、測定不能な領域（デッ
ドゾーン）が存在せず、また、分岐部を含む光ファイバ
網においても、各分岐光ファイバの特性を分離して測定
可能な、光ファイバ特性評価装置を提供することを目的
とする。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は上記課題を解決するために、被測定光ファイバ
中にブリユアン散乱光を生じさせるための探査光を出射
する探査光源と、前記被測定光ファイバ中で後方に散乱
される後方ブリユアン散乱光を選択的に取出す選択取出
し手段と、前記探査光源からの探査光を前記被測定光フ
ァイバに結合させるとともに当該探査光で被測定光ファ
イ５バ中に生じる後方ブリユアン散乱光を前記選択取出
し手段に結合させる光合分波器と、前記選択取出し手段
で取出された後方ブリユアン散乱光を検出するための光
検出器と、該光検出器により光電変換された電気信号を
処理するための信号処理装置とを有することを要旨とす
る。

（作用） 光合分波器により探査光源からの探査光が被測定光ファ
イバに結合され、また、この探査光でその被測定光ファ
イバ中に生じた後方ブリユアン散乱光が選択取出し手段
に結合される。選択取出し手段では、被測定光ファイバ
からの後方ブリユアン散乱光が、後方レーリー散乱光や
フレネル反射光と分離されて選択的に取出される。そし
て、選択的に取出された後方ブリユアン散乱光が光検出
器で電気信号に変換され、その信号波形が信号処理装置
で解析されて、被測定光ファイバの破断点、長手方向の
損失分布、屈折率分布に代表される導波パラメータ等の
特性が、縦続接続された光ファイバ線路のみでなく、分
岐光ファイバ線路における各光ファイバ線路も含めて正
確に測定される。

（実施例） 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図ないし第４図は、第１実施例を示す図である。

まず、光ファイバ特性評価装社の構成を説明すると、第
１図中、１は被測定光ファイバ中に後方ブリユアン散乱
光を生じさせるための探査光を出射する探査光源であり
、同図には図示省略されているが、例えば、ＣＷ光発振
ＹＡＧレーザ又はＣＷ光発振ＤＦＢレーザ等の単一縦モ
ード発振し−ザ、音響光学型光変調器、或いは電界効果
型光変調器等により構成されている。そして、探査光と
しては、スペクトル線幅の狭い光パルスが出射されるよ
うになっている。

２は光合分波器であり、この光合分波器は、探査光ｌｌ
１１からの探査光を被測定光ファイバに結合させるとと
もに、その探査光で被測定光ファイバ中に生じた後方ブ
リユアン散乱光を後述する選択取出し手段に結合させる
機能を有している。３は光合分波器２と被測定光ファイ
バとを結合するための光コネクタ結合部、４及び５−１
．５−２、・・・、５−Ｎは被測定光ファイバであり、
４は分岐部を含む光ファイバ線路網における共通光ファ
イバ線路である。また、５は分岐部であり、５−１．５
−２、・・・、５−Ｎは分岐部を構成するＮ本の分岐光
ファイバ線路である。６は選択取出し手段としての光周
波数フィルタであり、ファブリベロー型干渉計（エタロ
ン）、マツハツエンダ型干渉計、又はマイケルソン型干
渉計等で実現されている。

７は光検出器、８は信号処理装置である。

次に、上述のように構成された光ファイバ特性評価装置
の作用を説明する。

探査光源１から出射したパルス状の探査光は、光合分波
器２を介して共通光ファイバ線路４及び分岐部５に入射
する。このとき、次に述べるような３種類の反射光信号
が、その共通光ファイバ線路４及び分岐部５において発
生する。

まず、その第１の反射光信号は、光コネクタ結合部３及
び各分岐光ファイバ線路５−１．５−２、・・・、５−
Ｎの終端からのフレネル反射パルスである。この様子を
第２図に示す。同図中、ＦＯは光コネクタ結合部３から
のフレネル反射パルス、Ｆｌ　、　Ｆ２　、・・・、Ｆ
Ｎは各分岐光ファイバ線路５−１．５−２、・・・、５
−Ｎの長さが順に長くなっているとした場合において、
それぞれの光ファイバ線路の終端からのフレネル反射パ
ネルを示す。

次に、反射光信号の第２のものは、共通光ファイバ線路
４及び分岐部５の中で発生する後方レーリー散乱光であ
り、それぞれの波形を第２図のＲ４及びＲ５で示す。各
分岐光ファイバ線路５−１．５−２、・・・、５−Ｎか
らの後方レーリー散乱光はお互いに重なり合うため、Ｒ
５の波形からそれぞれの後方、レーリー散乱光を識別す
ることはできない。以上の説明から分るように、第２図
に示した波形は、従来の０ＴＤＲにより観測される波形
と同一である。

反射光信号の第３のものは、本実施例で注目する後方ブ
リユアン散乱光である。後方ブリユアン散乱光の特徴は
、その周波数は探査光の周波数ｆＰに対し、光ファイバ
の材料等により決まるブリユアンシフト周波数ｆｂだけ
ずれた周波数、即ち、（ｆＰ−ｆｂ）であることである
。また、その散乱レベルは、石英系の光ファイバでは前
記接方レーリー散乱光の１／２０〜１／３０である。

ブリユアンシフト周波数ｆ、は波長１．３μｍ帯におい
ておよそ１２ＧＫＺであるが、その値は光ファイバの材
料、構造等により異なり、またコアとクラッドとの比屈
折率差Δ（％）にほぼ比例する。例えばＧ　ｅ　０２を
コアに添加した石英系光ファイバでは、ｆｂはおよそ１
２５ＭＨｚ〜０．１％の割合で変化する。従って製造条
件の違い等により、共通光ファイバ線路４及び各分岐光
ファイバ線路はそれぞれ異なるブリユアンシフト周波数
ｆｌｋ（ｋ−Ｑ、１．２、・・・、Ｎ）を持っている。

このとき、光周波数フィルタ６の通過周波数を、ある１
つの光ファイバからの後方ブリユアン散乱光の周波数（
ｆｐ−ｆｂに）に合わせ、他の周波数の光は遮断すると
、光検出器７により検出される信号波形は第３図の（司
〜（ｄ）に示すようになる。第３図の縦軸は、後方ブリ
ユアン散乱光レベルを示している。同図において示す各
波形は、光周波数フィルタ６の通過周波数を、共通光フ
ァイバ線路４からの後方ブリユアン散乱光の周波数に一
致させたときの波形（同図１ａｄ）、分岐光ファイバ線
路５−１．５−２、・・・、５−Ｎからの後方ブリユア
ン散乱光の周波数に一致させたときの波形（同図（ｂｌ
、ｔｃ＋、（ｄ））である。この図から分かるように、
光周波数フィルタ６を、後方ブリユアン散乱光の周波数
（ｆｐ−ｆｂｋ）にチューニングすることにより、各光
ファイバからの後方ブリユアン散乱光を個別に識別して
測定することが可能である。また、そのレベルは後方レ
ーリー散乱光のレベルの１７２０〜１／３０であるが、
その波形は個々の光ファイバからの後方レーリー散乱光
の波形と同一である。

従って、第３図に示す後方ブリユアン散乱光の時間に対
する減衰率より、従来不可能であった、個々の分岐光線
路の損失を評価することが可能である。また、後方ブリ
ユアン散乱光の消滅位置より、個々の光ファイバの端末
あるいは破断点を測定することが可能である。

以上、共通光ファイバ線路４及び各分岐光ファイバ線路
５−１．５−２、・・・、５−Ｎは、それぞれ接続点の
ない１本の光ファイバとして説明したが、通常は第４図
（ａ）示すように、各々は、ｋ本の異なる光ファイバ（
＃１〜＃ｋ）が縦続接続されて構成されている。このよ
うな場合、ｋ本の各光ファイバからの後方ブリユアン散
乱光の周波数は、それぞれ異なるため、光周波数フィル
タ６の通過周波数を各々の後方ブリユアン散乱光の周波
数に一致させる（チューニング）ことにより、第４図の
（ｂ）〜■に示すように、ｋ本の各光ファイバからの後
方ブリユアン散乱光を分離して測定することが可能であ
る。即ち、これは、従来、接続損失が非常に小さい接続
箇所は、標定が困難であるという問題点を解決するもの
である。

なお、当然のことながら、上記チューニングは、光周波
数フィルタ６の通過周波数を変える代りに、探査光源１
の発振周波数を変化させることにより、後方ブリユアン
散乱光の周波数と光周波数フィルタ６の通過周波数を一
致させて、実現することもできる。

以上説明した信号処理、°及びＳＮ比改善のための平均
化処理、測定結果の表示等は、信号処理装置８により実
行する。そして、第３図において注目すべき点は、これ
らの波形にはフレネル反射光パルスは含まれていないこ
とである。その理由は、フレネル反射光の周波数は探査
光と同一の周波数ｆｐであり、フレネル反射光は光周波
数フィルタ６により遮断されて、光検出器７には入射し
ないからである。従って、従来の０ＴＤＲで問題となっ
ていた、強大なフレネル反射光パルスが生じるコネクタ
接続点直後の測定不能領域（デッドゾーン）は存在せず
、コネクタ接続点直後からの測定が可能である。

また、上述の説明では、各光ファイバからの後方ブリユ
アン散乱光を分離して測定することを強調したが、全光
ファイバからの後方ブリユアン散乱光を測定したい場合
には、探査光の周波数ｆＰを遮断し、他、の光周波数、
即ち、各光ファイバからの後方ブリユアン散乱光の周波
数ｆトに（ｋ−０，１、・・・、Ｎ）を通過させる特性
を有する光周波数フィルタ６を使用すればよい。このよ
うな特性は、通過域が平坦なリング共振器等で容易に実
現することができる。このとき測定される波形は、第２
図から強大なフレネル反射Ｆ、（ｋ−０，１、・・・、
Ｎ）を取除いたものとなる。この場合、後述するように
、０ＦＤＲ或いは相関法による微弱信号検出技術を有効
に活用することが可能となる。

次いで、第５図には、第２実施例を示す。

なお、第５図及び後述の各実施例を示す図において、前
記第１図における機器等と同一ないし均等のものは、前
記と同一符号を以って示し、重複した説明を省略する。

第５図中、９はヘテロダイン検波を行うための局発光源
であり、探査光源１と同様に、ＣＷ発振のＹＡＧレーザ
或いはＤＦＢレーザ等の単一縦モード発振レーザで構成
されている。１１は光ヘテロダイン検波用受信器であり
、光検出器、中間周波数フィルタ及び包絡線ないしは自
乗検波器からなっている。本実施例では、前記第１図に
示した第１実施例における光周波数フィルタによる受信
の代りに、光ヘテロダイン検波により、所望の周波数の
光信号を選択的に受信するようにしている。

いま、局発光源９の周波数をｆＬ、光ヘテロダイン検波
用受信器１１における中間周波数をｆ。

とすると、 ｌ　ｆ　ｐ−ｆｂｋ−ｆ　Ｌ　ｌ−ｆ　！　　　　　　
・・・（１）のとき、共通光ファイバ線路４あるいは分
岐光ファイバ線路５−ｋからの後方ブリユアン散乱光を
検出することができ、その信号波形は、前記第３図に示
した通りである。（１）式の条件を満足させるためには
、探査光源１の周波数ｆｐ、局発光源９の周波数ｆＬ、
あるいは中間周波数ｆ！を調節制御すればよい。探査光
源１の出力の一部を分岐し、それを局発光＋１！９とし
て使用する場合は、（１）式はｆｂｋ＝ｆｌとなり、中
間周波数ｆ、を調節制御することになる。

第６図ないし第８図には、第３実施例を示す。

第６図中、１４は被測定光ファイバからの反射光信号を
光増幅するための増幅用光ファイバ、１２は増幅用光フ
ァイバ１４をブリユアン光増幅状態とするための励起用
光源であり、探査光源１等と同様に、ＣＷ発振のＹＡＧ
レーザ或いはＤＦＢレーザ等の単一縦モード発振レーザ
で構成することができる。１３は励起用光源１２からの
出射光を増幅用光ファイバ１４に導き、また増幅用光フ
ァイバ１４中で光増幅された被測定光ファイバからの反
射光信号を、光検出器７に導くための光合分波器である
。本実施例では、前記第１図に示した第１実施例におけ
る光周波数フィルタによる受信の代りに、ブリユアン光
増幅により、所望の周波数の光信号を選択的に受信する
ようにしている。

被測定光ファイバからの後方ブリユアン散乱光を、増幅
用光ファイバ１４中でブリユアン光増幅するためには、
次式の条件を満足させる必要がある。

ｆｐｕＭｐ−ｆ６ＡＭｐ−ｆｐ−ｆｂｋ（＝接方ブリユ
アン散乱光周波数ｆ＋＋ｓｓ）・・・（２） ここで、ｆＰｕＭＰは励起用光源１２からの出射光の周
波数、ｆｂＡＭｐは増幅用光ファイバ１４におけるブリ
ユアンシフト周波数である。このときの周波数、ｆｐｕ
Ｍｐ、ｆｂＡＭｐ、ｆＰｑｆｂｉｃの関係を第７図に示
す。

ｆｂＡＭｐとｆ、には比較的近い周波数なので、ｆＰす
ＭｐとｆＰの差周波数は小さな値となり、通常５００Ｍ
Ｈｚ以下である。従って、探査光源１の出力の一部を分
岐し、その周波数を音響光学型光変調器などによってシ
フトさせたものを、励起用光源１２の代りとして使用す
ることも可能である。この場合は、音響光学型光変調器
の変調周波数を変化させることにより、容易に上記条件
の（２）式を満足させることが出来る。また、探査光源
１に要求される周波数の安定性に関する条件も緩和され
る。

そして、上記（２）式が満足されたとき、共通光ファイ
バ線路４ないし分岐光ファイバ線路５−ｋからの後方ブ
リユアン散乱光のみが大きな増幅（励起用光源の出力パ
ワーにもよるが、４０ｄＢ以上の増幅が可能である）を
受けるため、他の周波数の光信号成分は実質上無視でき
る。従って、光検出器７で検出される信号波形は、前記
第３図に示した通りとなる。ただし、励起用光源１２か
らの出（ト）光が増幅用光ファイバ１４を伝搬すること
により、この増幅用光ファイバ１４中で発生する後方レ
ーリー散乱光のレベル（これをＡとする）が高いときに
は、前記第３図に示した波形は、第８図に示すように、
Ｓ幅Ａの直流成分が重督したものとなる。これにより、
後方ブリユアン散乱光の信号波形自身は変化しないため
、波形解析上の問題は生じないが、大きなレベルの後方
レーリー散乱光が光検出器７に入射することは、光信号
検出における雑音を増加させる。従って、できれば、増
幅用光ファイバ１４と光検出器７の間に、前記第１図に
示した後方ブリユアン散乱光のみを通過させる光周波数
フィルタを挿入することが望ましい。

以上、第１ないし第３の実施例について、光ファイバの
障害点探索、損失測定の機能に限って説明してきた。し
かし、ブリユアンシフト周波数ｆトは、すでに説明した
ように光ファイバの屈折率差に依存するため、光ファイ
バの屈折率分布にも大きく依存する。また、ブリユアン
シフト周波数ｆｌ、は、光ファイバに加わった張力変化
や、温度変化に依存することが知られている。従って、
前記第３図に示した後方ブリユアン散乱光レベルが最大
となるブリユアンシフト周波数ｔ’ｂの変化量を測定す
ることにより、光ファイバの長手方向の屈折率分布や光
ファイバに加わった張力変化、温度変化の諸量を測定す
ることが可能である。ブリユアンシフト周波数ｆｂの変
化量は、これまでの説明から明らかなように、受信ブリ
ユアン散乱光レベルを最大とするために変化させた光周
波数フィルタの透過中心周波数の変化量、探査光源、局
発光源、励起用光源の各周波数の変化量から測定できる
。

その池水発明は上記記載に限定されずにその要旨を逸脱
しない範囲で種々変形して実施できる。

例えば、前記第１図に示した第１実施例では、３ｄＢ分
岐型の光合分波器２を使用しているが、これは以下に述
べるように第９図に示したマツハツエンダ型の干渉計１
５に置き換えることができる。例えば、マツハツエンダ
型の干渉計１５のボート■を探査光源１に、ボート■を
光検出器７の側に、ボート■を被測定光ファイバへ続く
端子につなぐとする。このとき、干渉計１５の通過特性
は第１０図（由に示したようになるため、探査光源１か
らの光（周波数ｆ’ｐ）は干渉計１５の通過損失を受け
ずに被測定光ファイバに入射し、また被測定光ファイバ
からの後方ブリユアン散乱光（周波数ｆｐ−ｆｂｗ）も
干渉計１５の通過損失を受けずに光検出器７に入射する
。

これは第１図に示した３ｄＢ分岐型の光合分波器２を使
用した場合に比べて６ｄＢの挿入損失の低減になる。ま
た、このとき、光周波数フィルタ６がなくとも、周波数
がｔ’ｐであるフレネル反射光及び後方レーリー散乱光
は、光検出器７に入射せず、周波数（ｆｐ−ｆｂｋ）の
後方ブリユアン散乱光のみが検出される。さらに、干渉
計１５の光路、１１１１の光路差を、一方の光路に熱歪
を与えるなどして変化させることにより、干渉計１５の
特性を、第１０図（ａｌから第１０図（ｂｌに切替える
ことができる。このとき干渉計１５は、周波数ｔ’ｐ及
び（ｆｐ−ｆｂｈ）の光信号に対し、３ｄＢ分岐型の光
合分波器と等価的に同一とみなせる。即ち、第１実施例
による後方ブリユアン散乱光の測定を特徴とした光ファ
イバ特性評価装置を、後方レーリー散乱光を測定する通
常の０ＴＤＲに切り替えることが可能である。

また、上記の干渉計１５を前記第５図に示した第２実施
例に適用することも非常に効果的である。

そのときの構成を第１１図に示す。同図中、１６は局発
光源９からの出射光と被測定光ファイバからの反射光信
号を合波するための光合分波器である。第１０図＜ａ＞
に示した特性の干渉計１５を第１１図に示した如く使用
することにより、上述と同様な効果、即ち、挿入損失の
低減及びフレネル反射光、後方レーリー散乱光の遮断が
期待できる。

さらに干渉計１５の特性を第１０図（ｂ）に切替えるこ
とにより、第２実施例の評価装置を通常のヘテロダイン
０ＴＤＲとして動作させることも可能である。

さらに、干渉計１５を前記第６図に示した第３実施例に
適用することも勿論できる。先ず、第６図における光合
分波器２を、第１０図（ａ）に示す特性の干渉計１５に
置換える。これは、前述した、第１図において光合分波
器２を、第１０図（ａ）に示す特性の干渉計１５に置換
えた場合と同じである。

次に、光合分波器１３も干渉計１５に置換える。

ただし、このときの干渉計１５の特性は、第１２図に示
す通りであり、干渉計１５のボート■は励起用光源１２
へ、ボート■は増幅用光ファイバ１４へ、ボート■は光
検出器７につなぐものとする。これらの置換えの効果は
、全て前述の置換えの例の場合と同様であり、挿入損失
の低減及びフレネル反射光、後方レーリー散乱光の遮断
である。

以上、各実施例の説明では、探査光源１がらの出射光は
パルス状に成形されたものであるとしてきた。しかし、
従来の０ＴＤＲに対し０ＦＤＲがあるように、各実施例
における評価装置も時間領域の測定だけに限られるも゛
のではない。つまり、探査光源１からの出射光は、周波
数Ｆで強度変調された光とし、その変調光を被測定光フ
ァイバに入射し、それによって後方に散乱された後方ブ
リユアン散乱光を光検出器により検出する。そして、信
号処理装置８では周波数Ｆの信号の振幅と位相を測定す
ることにより、即ち周波数領域の測定を行なうことによ
り、これまで説明したぎたものと同様の光″ファイバの
評価が可能である。探査光源１からの出射光の変調は、
音響光学型光変調器、ＬｉＮｂＯ３に代表される電界効
果型の光変調器等により行なうことができる。従来の０
ＦＤＲは、距離分解能が高く、ダイナミックレンジが大
きいという特長があったが、フレネル反射光のような大
きな信号光と後方レーリー散乱光のように微弱な光信号
が同時に存在するような場合には、検出系のリニアリテ
ィが問題となり、後者を精度良く測定することは困難で
あった。

しかしながら、後方ブリユアン散乱光を測定する本発明
の各実施例においては、前記第３図に示したように、フ
レネル反射光のような強大な信号は混在しないため、上
記検出系のリニアリティの問題は生じない。よって、フ
レネル反射が多数発生するコネクタ接続された光線路網
においても、本発明の各実施例に、０ＦＤＲの手法を適
用することにより、距ｆｔｉ分解能が高く、ダイナミッ
クレンジの大きな測定が実現できる。

また、従来の０ＴＤＲにも適用されつつある相関法を、
本発明の各実施例に適用することにより、各実施例の性
能は飛躍的に向上する。相関法とは、擬似ランダム符Ｑ
（Ｍ系列符号、ＥＸＯＲ形符号、ＯＲ符号等）テ変調（
ＡＳＫ、ＦＳＫ、ＰＳＫ＞した光信号を送信し、その反
射信号を受信点で相関処理するものである（例えば、Ｋ
、　０ｋａｄａ、　ｅｔａｔ　、、　　”Ｑｐｔｉｃａ
ｌ　ｃａｂｌｅ　ｆａｕｌｔ　１ｏｃａｔｉｏｎ　ｕｓ
ｅｉｎｇ　ｃｏｒｒｅｌａｔｏｒ　ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ
″、　Ｅ　Ｉｅｃｔｒｏｎ　、　ｌ　ｅｔｔ　、　、　
Ｖｏｌ、　１６．　ｐ６２９．１９８０）。

相関法は、これまで説明してきた孤立パルス法に比べ、
符号の長さに比例してＳＮ比が改善される。しかしなが
ら、先に示した０ＦＤＲと同様に微弱な後方散乱光と強
大なフレネル反射光が混在した場合には、検出系のリニ
アリティの問題が生じるため、従来は、符号長を十分長
くすることができなかった。本発明の各実施例において
は、前記第３図に示したように、フレネル反射光のよう
な強大な信号は混在せず微弱な後方ブリユアン散乱光の
み受信するため、相関法の特長を最大限にひき出すこと
が可能である。

また、これまで、被測定光ファイバをツリー型の光線路
網に限って説明してきたが、本発明は、スター型光線路
網、及びそれらが組合わされた複雑な光線路網に対して
も適用することができる。

［発明の効果］ 以上説明したように、この発明によれば、探査光源から
の探査光を被測定光ファイバに入射させることに′より
発生する後方ブリユアン散乱光を選択取出し手段で選択
的に取出し、これを光検出器で検出することにより、測
定光ファイバの特性評価が行なわれる。この後方ブリユ
アン散乱光の周波数は、探査光のそれとは大きく異なり
、光ファイバの材料や屈折率分布、張力変化、温度等に
依存して変化する。従って、本発明により、以下に述べ
るような効果が得られる。

■光ファイバが単純に縦続接続された光ファイバ線路だ
けでなく、分岐光ファイバ線路を含むツリー型の光ファ
イバ線路網、或いはループ型の光ファイバ線路網等にお
ける個々の光ファイバの損失あるいは傷害位置を、９殖
して測定することができる。

■複数本の光ファイバを縦続接続した光ファイバ線路で
は、その光ファイバの接続位置を正確に測定することが
できる。

■強大なフレネル反射光パルスが生じるコネクタ接続点
直後の測定不能領１ｉ！（デッドゾーン）は存在せず、
コネクタ接続点直後からの測定が可能である。

■強大なフレネル反射光は遮断し、微弱な後方ブリユア
ン散乱光のみを取出して測定するため、０ＦＤＲの手法
或いは相関法を本発明に適用することにより、距離分解
能が高く、ダイナミックレンジの大きな光ファイバ特性
評価装置を提供することが可能である。

■光ファイバの長手方向の屈折率分布や、光ファイバに
加わった張力変化及び温度変化等の諸Ｍを正確に測定す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第４図は本発明に係る光ファイバ特性評価
装置の第１実施例を示すもので、第１図はブロック図、
第２図はフレネル反射光及び後方レーリー散乱光の波形
を示す波形図、第３図は後方ブリユアン散乱光の波形を
示す波形図、第４図は縦続接続された複数本の光ファイ
バ及びその各光ファイバからの後方ブリユアン散乱光の
波形を示す波形図、第５図は本発明の第２実施例の構成
を示すブロック図、第６図ないし第８図は本発明の第３
実施例を示すもので、第６図は構成を示すブロック図、
第７図は探査光源、励起用光源、後方ブリユアン散乱光
の周波数の関係を示す図、第８図は本実施例で測定され
る後方ブリユアン散乱光波形を示す波形図、第９図はマ
ツハツエンダ型干渉計の構成を示す構成図、第１０図は
マツハツエンダ型干渉計の透過特性を示す特性図、第１
１図は同上のマツハツエンダ型干渉計を前記第５図の第
２実施例に適用した例を示すブロック図、第１２図はマ
ツハツエンダ型干渉計を前記第６図に示す第３実施例に
適用したときのその透過特性を示す特性図である。 １：探査光源、　　　２：光合分波器、４：共通光ファ
イバ線路（被測定光ファイバ）、５−１．５−２、・・
・、５−Ｎ：分岐光ファイバ線路（被測定光 ファイバ）、 ６：光周波数フィルタ（選択取出し手段）、７：光検出
器、　　　８：信号処理装置、９：局発光源、 １１：光ヘテロダイン検波用受信ＩＮ（選択取出し手段
）、 １２：励起用光源、 １４：励起用光源とともにブリユアン増幅器（選択取出
し手段）を構成する増幅用光ファイバ。 代理人　　弁理士　　三　好　　保　男第３図 第４図 第７図 第８図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）被測定光ファイバ中にブリュアン散乱光を生じさ
   せるための探査光を出射する探査光源と、前記被測定光
   ファイバ中で後方に散乱される後方ブリュアン散乱光を
   選択的に取出す選択取出し手段と、 前記探査光源からの探査光を前記被測定光ファイバに結
   合させるとともに当該探査光で被測定光ファイバ中に生
   じる後方ブリュアン散乱光を前記選択取出し手段に結合
   させる光合分波器と、前記選択取出し手段で取出された
   後方ブリュアン散乱光を検出するための光検出器と、 該光検出器により光電変換された電気信号を処理するた
   めの信号処理装置と を有することを特徴とする光ファイバ特性評価装置。
2. （２）前記選択取出し手段は、光周波数フィルタである
   ことを特徴とする請求項１記載の光ファイバ特性評価装
   置。
3. （３）前記選択取出し手段は、光ヘテロダイン受信機で
   あることを特徴とする請求項１記載の光ファイバ特性評
   価装置。
4. （４）前記選択取出し手段は、ブリュアン光増幅器であ
   ることを特徴、とする請求項１記載の光ファイバ特性評
   価装置。