JP2002022600A - 光線路試験装置および光線路試験方法 - Google Patents
光線路試験装置および光線路試験方法Info
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- JP2002022600A JP2002022600A JP2000202349A JP2000202349A JP2002022600A JP 2002022600 A JP2002022600 A JP 2002022600A JP 2000202349 A JP2000202349 A JP 2000202349A JP 2000202349 A JP2000202349 A JP 2000202349A JP 2002022600 A JP2002022600 A JP 2002022600A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 揺らぎの発生を抑制することができる光線路
試験装置等を提供する。 【解決手段】 波長可変光源１２０から出力された連続
光は、偏波スクランブラ１２１により偏波状態がランダ
ムとされ、ＡＯスイッチ１２２によりパルス光とされて
試験光として出力される。この試験光は、光サーキュレ
ータ１２３を経て、試験対象である光線路へ向けて出力
される。光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サ
ーキュレータ１２３を経て受光部１２４により受光され
て、解析部１２５により、受光された後方散乱光の強度
の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線
路が試験される。制御部１２６による制御の下に、波長
可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定の波
長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５にお
いては、この波長掃引の期間において後方散乱光が検出
されて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験
される。
試験装置等を提供する。 【解決手段】 波長可変光源１２０から出力された連続
光は、偏波スクランブラ１２１により偏波状態がランダ
ムとされ、ＡＯスイッチ１２２によりパルス光とされて
試験光として出力される。この試験光は、光サーキュレ
ータ１２３を経て、試験対象である光線路へ向けて出力
される。光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サ
ーキュレータ１２３を経て受光部１２４により受光され
て、解析部１２５により、受光された後方散乱光の強度
の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線
路が試験される。制御部１２６による制御の下に、波長
可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定の波
長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５にお
いては、この波長掃引の期間において後方散乱光が検出
されて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験
される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験光を用いてＯ
ＴＤＲにより光線路を試験する光線路試験装置および方
法に関するものである。
ＴＤＲにより光線路を試験する光線路試験装置および方
法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムにおいて通信光を伝搬さ
せる光線路はＯＴＤＲ（Optical TimeDomain Reflectom
eter）により試験することができる。すなわち、通信光
の波長とは異なる波長の試験光を光線路の一方の側から
入射させ、この試験光が光線路を伝搬する際に生じる後
方散乱光の強度を当該一方の側で検出する。そして、こ
の検出された後方散乱光強度の時間変化に基づいて光線
路を試験することができる。
せる光線路はＯＴＤＲ（Optical TimeDomain Reflectom
eter）により試験することができる。すなわち、通信光
の波長とは異なる波長の試験光を光線路の一方の側から
入射させ、この試験光が光線路を伝搬する際に生じる後
方散乱光の強度を当該一方の側で検出する。そして、こ
の検出された後方散乱光強度の時間変化に基づいて光線
路を試験することができる。
【０００３】一方、１つの端局装置（ＳＬＴ: Subscrib
er Line Terminal）から出力された通信光をＮ個の終端
装置（ＯＮＵ: Optical Network Unit）へ同時に送信す
るような光通信システムが知られている。この光通信シ
ステムでは、ＳＬＴから出力された通信光を１本の共通
光線路を介して光分岐結合器まで送信し、その通信光を
光分岐結合器によりＮ分岐して、その分岐された通信光
をＮ個のＯＮＵへ同時に伝搬させる。このような光通信
システムにおいても、光分岐結合器からＮ個のＯＮＵそ
れぞれに到る各分岐光線路をＯＴＤＲにより試験する方
法が提案されている。
er Line Terminal）から出力された通信光をＮ個の終端
装置（ＯＮＵ: Optical Network Unit）へ同時に送信す
るような光通信システムが知られている。この光通信シ
ステムでは、ＳＬＴから出力された通信光を１本の共通
光線路を介して光分岐結合器まで送信し、その通信光を
光分岐結合器によりＮ分岐して、その分岐された通信光
をＮ個のＯＮＵへ同時に伝搬させる。このような光通信
システムにおいても、光分岐結合器からＮ個のＯＮＵそ
れぞれに到る各分岐光線路をＯＴＤＲにより試験する方
法が提案されている。
【０００４】また、光通信システムにおいて用いられる
通信光の波長は例えば波長１．５５μｍ帯または波長
１．５８μｍ帯に属するものであり、この波長帯域に属
する多波長の通信光が波長多重されて光線路を伝搬する
場合がある。これに対して、試験光の波長は、通信光と
異なる波長帯域に属するものであり、例えば１６２５ｎ
ｍ付近または１６５０ｎｍ付近が用いられる。
通信光の波長は例えば波長１．５５μｍ帯または波長
１．５８μｍ帯に属するものであり、この波長帯域に属
する多波長の通信光が波長多重されて光線路を伝搬する
場合がある。これに対して、試験光の波長は、通信光と
異なる波長帯域に属するものであり、例えば１６２５ｎ
ｍ付近または１６５０ｎｍ付近が用いられる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
光線路試験技術は以下のような問題点を有していること
を本願発明者は見出した。すなわち、試験光のスペクト
ル幅が狭い場合（例えば０．５ｎｍである場合）、試験
対象である光線路において試験光が干渉して、これに因
り、検出される後方散乱光強度は、光線路の損失分布と
は関係がない揺らぎを有する。
光線路試験技術は以下のような問題点を有していること
を本願発明者は見出した。すなわち、試験光のスペクト
ル幅が狭い場合（例えば０．５ｎｍである場合）、試験
対象である光線路において試験光が干渉して、これに因
り、検出される後方散乱光強度は、光線路の損失分布と
は関係がない揺らぎを有する。
【０００６】特に、共通光線路から光分岐結合器を介し
て分岐されたＮ本の分岐光線路それぞれをＯＴＤＲ試験
する分岐光線路試験システムでは、分岐光線路毎に異な
る波長の試験光を用いるので、各波長の試験光に対して
割り当てられる波長幅が狭くなる。また、通信光の波長
帯域としてＣバンドだけでなくＬバンドも用いられるよ
うになると、試験光として利用可能な波長帯域が狭くな
るので、これに因っても、各波長の試験光に対して割り
当てられる波長幅が狭くなる。
て分岐されたＮ本の分岐光線路それぞれをＯＴＤＲ試験
する分岐光線路試験システムでは、分岐光線路毎に異な
る波長の試験光を用いるので、各波長の試験光に対して
割り当てられる波長幅が狭くなる。また、通信光の波長
帯域としてＣバンドだけでなくＬバンドも用いられるよ
うになると、試験光として利用可能な波長帯域が狭くな
るので、これに因っても、各波長の試験光に対して割り
当てられる波長幅が狭くなる。
【０００７】さらに、試験光の中心波長から離れたスペ
クトルの裾の部分も含めて、その試験光に対して割り当
てられた波長幅に収める必要があることから、各試験光
に対して割り当てられる実効的な波長幅は更に狭くな
る。そして、このように各試験光の波長幅が狭くなる
と、上記の揺らぎの問題が生じることになる。
クトルの裾の部分も含めて、その試験光に対して割り当
てられた波長幅に収める必要があることから、各試験光
に対して割り当てられる実効的な波長幅は更に狭くな
る。そして、このように各試験光の波長幅が狭くなる
と、上記の揺らぎの問題が生じることになる。
【０００８】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、揺らぎの発生を抑制することができる
光線路試験装置および光線路試験方法を提供することを
目的とする。
れたものであり、揺らぎの発生を抑制することができる
光線路試験装置および光線路試験方法を提供することを
目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光線路試験
装置は、試験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を試験す
る光線路試験装置であって、(1) 波長が可変である試験
光を出力する光源と、(2) 光源から出力された試験光が
光線路を伝搬する際に生じた後方散乱光を検出して積算
し、この積算結果に基づいて光線路を試験する解析部
と、(3) 光源に対して試験光の波長を所定の波長範囲に
亘って掃引することを指示するとともに、解析部に対し
て所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において後方散
乱光を検出して積算することを指示する制御部と、を備
えることを特徴とする。
装置は、試験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を試験す
る光線路試験装置であって、(1) 波長が可変である試験
光を出力する光源と、(2) 光源から出力された試験光が
光線路を伝搬する際に生じた後方散乱光を検出して積算
し、この積算結果に基づいて光線路を試験する解析部
と、(3) 光源に対して試験光の波長を所定の波長範囲に
亘って掃引することを指示するとともに、解析部に対し
て所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において後方散
乱光を検出して積算することを指示する制御部と、を備
えることを特徴とする。
【００１０】また、本発明に係る光線路試験方法は、試
験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を試験する光線路試
験方法であって、(1) 光源から出力される試験光の波長
を所定の波長範囲に亘って掃引して、この光源から出力
された試験光を光線路に導入するとともに、(2) 試験光
が光線路を伝搬する際に生じた後方散乱光を所定の波長
範囲に亘る波長掃引の期間において検出して積算し、こ
の積算結果に基づいて光線路を試験する、ことを特徴と
する。
験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を試験する光線路試
験方法であって、(1) 光源から出力される試験光の波長
を所定の波長範囲に亘って掃引して、この光源から出力
された試験光を光線路に導入するとともに、(2) 試験光
が光線路を伝搬する際に生じた後方散乱光を所定の波長
範囲に亘る波長掃引の期間において検出して積算し、こ
の積算結果に基づいて光線路を試験する、ことを特徴と
する。
【００１１】本発明に係る光線路試験装置または光線路
試験方法によれば、光源より出力された試験光は、試験
対象である光線路に導入される。そして、試験光が光線
路を伝搬する際に生じた後方散乱光が検出されて積算さ
れ、この積算結果に基づいて光線路が試験される。特に
本発明では、光源から出力される試験光の波長が所定の
波長範囲に亘って掃引されるとともに、この所定の波長
範囲に亘る波長掃引の期間において後方散乱光が検出さ
れて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験さ
れる。このようにすることで、その試験光に対して割り
当てられた波長範囲の幅が有効に利用され得るので、本
発明における試験光の実効的なスペクトル幅は、従来の
試験光のスペクトル幅より広い。これにより、試験光の
スペクトル幅が狭い場合に生じる揺らぎの問題が解消さ
れ、試験の精度が向上する。特に、試験光の波長の掃引
の幅が１ｎｍ以上であれば、試験光の実効的なスペクト
ル幅が１ｎｍ以上となり、この揺らぎの問題が充分に解
消される。
試験方法によれば、光源より出力された試験光は、試験
対象である光線路に導入される。そして、試験光が光線
路を伝搬する際に生じた後方散乱光が検出されて積算さ
れ、この積算結果に基づいて光線路が試験される。特に
本発明では、光源から出力される試験光の波長が所定の
波長範囲に亘って掃引されるとともに、この所定の波長
範囲に亘る波長掃引の期間において後方散乱光が検出さ
れて積算され、この積算結果に基づいて光線路が試験さ
れる。このようにすることで、その試験光に対して割り
当てられた波長範囲の幅が有効に利用され得るので、本
発明における試験光の実効的なスペクトル幅は、従来の
試験光のスペクトル幅より広い。これにより、試験光の
スペクトル幅が狭い場合に生じる揺らぎの問題が解消さ
れ、試験の精度が向上する。特に、試験光の波長の掃引
の幅が１ｎｍ以上であれば、試験光の実効的なスペクト
ル幅が１ｎｍ以上となり、この揺らぎの問題が充分に解
消される。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明にお
いて同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を
省略する。また、以下では、分岐数Ｎを８とし、通信光
の波長をλSとし、８波の試験光それぞれの波長をλ1〜
λ8とする。通信光の波長λS（例えば１３１０ｎｍ帯ま
たは１５５０ｎｍ帯）より、試験光の波長λ1〜λ8（例
えば１５８０ｎｍ〜１７００ｎｍの範囲内の波長）の方
が長いものとし、これらの波長の大小関係を λS＜λ 1
＜λ2＜λ3＜λ4＜λ5＜λ6＜λ7＜λ8 として説明す
る。
の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明にお
いて同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を
省略する。また、以下では、分岐数Ｎを８とし、通信光
の波長をλSとし、８波の試験光それぞれの波長をλ1〜
λ8とする。通信光の波長λS（例えば１３１０ｎｍ帯ま
たは１５５０ｎｍ帯）より、試験光の波長λ1〜λ8（例
えば１５８０ｎｍ〜１７００ｎｍの範囲内の波長）の方
が長いものとし、これらの波長の大小関係を λS＜λ 1
＜λ2＜λ3＜λ4＜λ5＜λ6＜λ7＜λ8 として説明す
る。
【００１３】図１は、本実施形態に係る光線路試験装置
１２の構成図である。この光線路試験装置１２は、波長
可変光源１２０、偏波スクランブラ１２１、ＡＯ（Acou
sto-Optic）スイッチ１２２、光サーキュレータ１２
３、受光部１２４、解析部１２５および制御部１２６を
備える。
１２の構成図である。この光線路試験装置１２は、波長
可変光源１２０、偏波スクランブラ１２１、ＡＯ（Acou
sto-Optic）スイッチ１２２、光サーキュレータ１２
３、受光部１２４、解析部１２５および制御部１２６を
備える。
【００１４】波長可変光源１２０は、連続光を出力する
ものであって、その出力する光の中心波長が可変であ
る。偏波スクランブラ１２１は、波長可変光源１２０か
ら出力された連続光の偏波状態をランダムとする。ＡＯ
スイッチ１２２は、偏波スクランブラ１２１から出力さ
れた連続光に対して透過／遮断の制御を行うものであ
り、これによりパルス光を生成して試験光として出力す
る。
ものであって、その出力する光の中心波長が可変であ
る。偏波スクランブラ１２１は、波長可変光源１２０か
ら出力された連続光の偏波状態をランダムとする。ＡＯ
スイッチ１２２は、偏波スクランブラ１２１から出力さ
れた連続光に対して透過／遮断の制御を行うものであ
り、これによりパルス光を生成して試験光として出力す
る。
【００１５】光サーキュレータ１２３は、ＡＯスイッチ
１２２から出力された試験光を、試験対象である光線路
へ向けて出力するとともに、試験対象である光線路で発
生した試験光の後方散乱光を受光部１２４へ出力する。
受光部１２４は、光サーキュレータ１２３から到達した
後方散乱光を受光する。解析部１２５は、受光部１２４
により受光された後方散乱光の強度の時間変化を取得し
て積算し、この積算結果に基づいて、試験対象である光
線路を試験する。
１２２から出力された試験光を、試験対象である光線路
へ向けて出力するとともに、試験対象である光線路で発
生した試験光の後方散乱光を受光部１２４へ出力する。
受光部１２４は、光サーキュレータ１２３から到達した
後方散乱光を受光する。解析部１２５は、受光部１２４
により受光された後方散乱光の強度の時間変化を取得し
て積算し、この積算結果に基づいて、試験対象である光
線路を試験する。
【００１６】制御部１２６は、波長可変光源１２０の出
力中心波長を制御する。また、制御部１２６は、ＡＯス
イッチ１２２における光の透過／遮断のタイミング、お
よび、解析部１２５における後方散乱光強度の時間変化
の取得・積算のタイミングを制御する。特に本実施形態
では、制御部１２６は、波長可変光源１２０に対して試
験光の波長を所定の波長範囲に亘って掃引することを指
示するとともに、解析部１２５に対して所定の波長範囲
に亘る波長掃引の期間において後方散乱光を検出して積
算することを指示する。
力中心波長を制御する。また、制御部１２６は、ＡＯス
イッチ１２２における光の透過／遮断のタイミング、お
よび、解析部１２５における後方散乱光強度の時間変化
の取得・積算のタイミングを制御する。特に本実施形態
では、制御部１２６は、波長可変光源１２０に対して試
験光の波長を所定の波長範囲に亘って掃引することを指
示するとともに、解析部１２５に対して所定の波長範囲
に亘る波長掃引の期間において後方散乱光を検出して積
算することを指示する。
【００１７】図２は、本実施形態に係る光線路試験装置
１２から出力される試験光の説明図である。同図（ａ）
は、光線路試験装置１２から出力される試験光の中心波
長の掃引の様子を示し、同図（ｂ）は、光線路試験装置
１２から或る時点で出力される試験光のスペクトルを示
し、同図（ｃ）は、比較例の試験光のスペクトルを示
す。
１２から出力される試験光の説明図である。同図（ａ）
は、光線路試験装置１２から出力される試験光の中心波
長の掃引の様子を示し、同図（ｂ）は、光線路試験装置
１２から或る時点で出力される試験光のスペクトルを示
し、同図（ｃ）は、比較例の試験光のスペクトルを示
す。
【００１８】同図（ｂ）に示すように、光線路試験装置
１２から或る時点で出力される試験光は、その試験光に
割り当てられた波長範囲Λ内に中心波長を有し、この波
長範囲Λの幅より狭いスペクトル幅Λ2を有する。そし
て、同図（ａ）に示すように、制御部１２６により制御
されて、光線路試験装置１２から出力される試験光の中
心波長は波長範囲Λに亘って掃引され、これにより、試
験光は実効的なスペクトル幅Λ1を有することになる。
なお、この掃引に際して、試験光の中心波長から離れた
スペクトルの裾の部分も含めて波長範囲Λ内に収める。
一方、試験光の中心波長を掃引しない従来の場合には、
同図（ｃ）に示すように、試験光の中心波長から離れた
スペクトルの裾の部分も含めて波長範囲Λ内に収めるよ
うにすると、試験光は、波長範囲Λの幅の数分の１程度
の狭いスペクトル幅Λ3までしか有することができな
い。
１２から或る時点で出力される試験光は、その試験光に
割り当てられた波長範囲Λ内に中心波長を有し、この波
長範囲Λの幅より狭いスペクトル幅Λ2を有する。そし
て、同図（ａ）に示すように、制御部１２６により制御
されて、光線路試験装置１２から出力される試験光の中
心波長は波長範囲Λに亘って掃引され、これにより、試
験光は実効的なスペクトル幅Λ1を有することになる。
なお、この掃引に際して、試験光の中心波長から離れた
スペクトルの裾の部分も含めて波長範囲Λ内に収める。
一方、試験光の中心波長を掃引しない従来の場合には、
同図（ｃ）に示すように、試験光の中心波長から離れた
スペクトルの裾の部分も含めて波長範囲Λ内に収めるよ
うにすると、試験光は、波長範囲Λの幅の数分の１程度
の狭いスペクトル幅Λ3までしか有することができな
い。
【００１９】例えば、試験光に割り当てられた波長範囲
Λを５ｎｍとすると、従来の場合における試験光の最大
スペクトル幅Λ3は１．５ｎｍ程度である。これに対し
て、本実施形態では、或る時点での試験光のスペクトル
幅Λ2を０．０１ｎｍとすると、掃引された試験光の実
効的なスペクトル幅Λ1は４．９ｎｍ程度である。この
ように、本実施形態では、狭いスペクトル幅Λ2を有す
る試験光の中心波長が波長範囲Λに亘って掃引されるこ
とで、光線路試験装置１２から出力される試験光の実効
的なスペクトル幅Λ1は、上記スペクトル幅Λ2や従来の
場合の最大スペクトル幅Λ3より広くなる。また、或る
時点での試験光のスペクトル幅Λ2が狭いほど、試験光
の実効的なスペクトル幅Λ1は、波長範囲Λの幅に近い
値まで大きくすることができ、波長範囲Λを有効に利用
することができる。
Λを５ｎｍとすると、従来の場合における試験光の最大
スペクトル幅Λ3は１．５ｎｍ程度である。これに対し
て、本実施形態では、或る時点での試験光のスペクトル
幅Λ2を０．０１ｎｍとすると、掃引された試験光の実
効的なスペクトル幅Λ1は４．９ｎｍ程度である。この
ように、本実施形態では、狭いスペクトル幅Λ2を有す
る試験光の中心波長が波長範囲Λに亘って掃引されるこ
とで、光線路試験装置１２から出力される試験光の実効
的なスペクトル幅Λ1は、上記スペクトル幅Λ2や従来の
場合の最大スペクトル幅Λ3より広くなる。また、或る
時点での試験光のスペクトル幅Λ2が狭いほど、試験光
の実効的なスペクトル幅Λ1は、波長範囲Λの幅に近い
値まで大きくすることができ、波長範囲Λを有効に利用
することができる。
【００２０】次に、本実施形態に係る光線路試験装置１
２の動作について説明するとともに、併せて本実施形態
に係る光線路試験方法について説明する。波長可変光源
１２０から出力された連続光は、偏波スクランブラ１２
１により偏波状態がランダムとされ、ＡＯスイッチ１２
２における透過／遮断の制御によりパルス光とされて試
験光として出力される。ＡＯスイッチ１２２から出力さ
れた試験光は、光サーキュレータ１２３を経て、試験対
象である光線路へ向けて出力される。そして、試験対象
である光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サー
キュレータ１２３を経て、受光部１２４により受光され
る。解析部１２５により、受光部１２４により受光され
た後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算
結果に基づいて、試験対象である光線路が試験される。
特に本実施形態では、制御部１２６による制御の下に、
波長可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定
の波長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５
においては、この所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間
において後方散乱光が検出されて積算され、この積算結
果に基づいて光線路が試験される。
２の動作について説明するとともに、併せて本実施形態
に係る光線路試験方法について説明する。波長可変光源
１２０から出力された連続光は、偏波スクランブラ１２
１により偏波状態がランダムとされ、ＡＯスイッチ１２
２における透過／遮断の制御によりパルス光とされて試
験光として出力される。ＡＯスイッチ１２２から出力さ
れた試験光は、光サーキュレータ１２３を経て、試験対
象である光線路へ向けて出力される。そして、試験対象
である光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サー
キュレータ１２３を経て、受光部１２４により受光され
る。解析部１２５により、受光部１２４により受光され
た後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算
結果に基づいて、試験対象である光線路が試験される。
特に本実施形態では、制御部１２６による制御の下に、
波長可変光源１２０から出力される試験光の波長が所定
の波長範囲に亘って掃引されるとともに、解析部１２５
においては、この所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間
において後方散乱光が検出されて積算され、この積算結
果に基づいて光線路が試験される。
【００２１】次に、本実施形態に係る光線路試験装置１
２を含む分岐光線路試験システムの構成例について説明
する。図３は、本実施形態に係る光線路試験装置１２を
含む分岐光線路試験システム１の構成を示す図である。
この図に示す分岐光線路試験システム１は、１つの端局
装置（ＳＬＴ）１１から出力された通信光λSを共通線
路２０、光分岐結合器３０および分岐光線路４０1〜４
０8を経て８個の終端装置（ＯＮＵ）５２1〜５２8へ同
時に送信する光通信システムにおいて、各分岐光線路４
０nに応じた波長λnの試験光を用いてＯＴＤＲにより各
分岐光線路４０nを試験するものである。分岐光線路試
験システム１は、光線路試験装置１２、合分波器１３、
光分岐結合器３０、光フィルタ５１1〜５１8および光フ
ィルタ５３ 1〜５３8を含んで構成される。
２を含む分岐光線路試験システムの構成例について説明
する。図３は、本実施形態に係る光線路試験装置１２を
含む分岐光線路試験システム１の構成を示す図である。
この図に示す分岐光線路試験システム１は、１つの端局
装置（ＳＬＴ）１１から出力された通信光λSを共通線
路２０、光分岐結合器３０および分岐光線路４０1〜４
０8を経て８個の終端装置（ＯＮＵ）５２1〜５２8へ同
時に送信する光通信システムにおいて、各分岐光線路４
０nに応じた波長λnの試験光を用いてＯＴＤＲにより各
分岐光線路４０nを試験するものである。分岐光線路試
験システム１は、光線路試験装置１２、合分波器１３、
光分岐結合器３０、光フィルタ５１1〜５１8および光フ
ィルタ５３ 1〜５３8を含んで構成される。
【００２２】光線路試験装置１２は、既に説明した図１
に示す構成を有するものであり、各分岐光線路４０nに
応じて設定された波長λnの試験光を出力する。図４
は、試験光の波長λ1〜λ8それぞれの値の１例を示す図
表である。ただし、各試験光の波長λnは、この図表に
示した波長を中心とする所定の波長範囲に亘って掃引さ
れる。また、光線路試験装置１２は、試験光λnの後方
散乱光を受光して、この後方散乱光強度の時間変化を積
算し、これに基づいて分岐光線路４０nを試験する。合
分波器１３は、ＳＬＴ１１から出力された通信光λSを
共通光線路２０へ出力し、光線路試験装置１２から出力
された試験光λnをも共通光線路２０へ出力し、また、
共通光線路２０から到達した各波の試験光の後方散乱光
を光線路試験装置１２へ出力する。
に示す構成を有するものであり、各分岐光線路４０nに
応じて設定された波長λnの試験光を出力する。図４
は、試験光の波長λ1〜λ8それぞれの値の１例を示す図
表である。ただし、各試験光の波長λnは、この図表に
示した波長を中心とする所定の波長範囲に亘って掃引さ
れる。また、光線路試験装置１２は、試験光λnの後方
散乱光を受光して、この後方散乱光強度の時間変化を積
算し、これに基づいて分岐光線路４０nを試験する。合
分波器１３は、ＳＬＴ１１から出力された通信光λSを
共通光線路２０へ出力し、光線路試験装置１２から出力
された試験光λnをも共通光線路２０へ出力し、また、
共通光線路２０から到達した各波の試験光の後方散乱光
を光線路試験装置１２へ出力する。
【００２３】共通光線路２０は、ＳＬＴ１１から出力さ
れた通信光λSを光分岐結合器３０へ伝送し、光線路試
験装置１２から出力された試験光λnをも光分岐結合器
３０へ伝送し、また、試験光λnの後方散乱光を光分岐
結合器３０から合分波器１３へ伝送する。光分岐結合器
３０は、共通光線路２０を伝搬してきて到達した通信光
λSおよび試験光λnを８分岐して８本の分岐光線路４０
1〜４０8の全てへ出力し、分岐光線路４０1〜４０8から
到達した後方散乱光を共通光線路２０へ出力する。
れた通信光λSを光分岐結合器３０へ伝送し、光線路試
験装置１２から出力された試験光λnをも光分岐結合器
３０へ伝送し、また、試験光λnの後方散乱光を光分岐
結合器３０から合分波器１３へ伝送する。光分岐結合器
３０は、共通光線路２０を伝搬してきて到達した通信光
λSおよび試験光λnを８分岐して８本の分岐光線路４０
1〜４０8の全てへ出力し、分岐光線路４０1〜４０8から
到達した後方散乱光を共通光線路２０へ出力する。
【００２４】分岐光線路４０nは、光分岐結合器３０よ
り出力された通信光λSおよび試験光λnをＯＮＵ５２n
へ向けて伝送するとともに、その途中で発生した試験光
λnの後方散乱光を光分岐結合器３０へ向けて伝送す
る。光フィルタ５３nは、分岐光線路４０nの始端すなわ
ち光分岐結合器３０の直後に設けられており、通信光λ
Sおよび試験光λnを透過させ、他の波長の試験光を遮断
する。光フィルタ５１nは、分岐光線路４０nの終端すな
わちＯＮＵ５２nの受光部の直前に設けられており、通
信光λSをＯＮＵ５２nへ透過させ、試験光λnを反射さ
せる。ＯＮＵ５２nは、光フィルタ５１nおよび５３nを
透過した通信光λSを受信する。
り出力された通信光λSおよび試験光λnをＯＮＵ５２n
へ向けて伝送するとともに、その途中で発生した試験光
λnの後方散乱光を光分岐結合器３０へ向けて伝送す
る。光フィルタ５３nは、分岐光線路４０nの始端すなわ
ち光分岐結合器３０の直後に設けられており、通信光λ
Sおよび試験光λnを透過させ、他の波長の試験光を遮断
する。光フィルタ５１nは、分岐光線路４０nの終端すな
わちＯＮＵ５２nの受光部の直前に設けられており、通
信光λSをＯＮＵ５２nへ透過させ、試験光λnを反射さ
せる。ＯＮＵ５２nは、光フィルタ５１nおよび５３nを
透過した通信光λSを受信する。
【００２５】この分岐光線路試験システム１では、ＳＬ
Ｔ１１から出力された通信光λSは、合分波器１３を経
て共通光線路２０を伝搬して光分岐結合器３０に到達す
る。光分岐結合器３０に到達した通信光λSは、光分岐
結合器３０により８分岐され、８本の分岐光線路４０1
〜４０8それぞれへ出力される。そして、分岐された通
信光λSは、分岐光線路４０nを伝搬し、光フィルタ５３
nおよび５１nを透過してＯＮＵ５２nに到達し、ＯＮＵ
５２nで受信される。
Ｔ１１から出力された通信光λSは、合分波器１３を経
て共通光線路２０を伝搬して光分岐結合器３０に到達す
る。光分岐結合器３０に到達した通信光λSは、光分岐
結合器３０により８分岐され、８本の分岐光線路４０1
〜４０8それぞれへ出力される。そして、分岐された通
信光λSは、分岐光線路４０nを伝搬し、光フィルタ５３
nおよび５１nを透過してＯＮＵ５２nに到達し、ＯＮＵ
５２nで受信される。
【００２６】一方、光線路試験装置１２から出力された
波長λ1〜λ8の何れかの波長λnの試験光は、合分波器
１３を経て共通光線路２０を伝搬して光分岐結合器３０
に到達する。光分岐結合器３０に到達した試験光λ
nは、光分岐結合器３０により８分岐され、光フィルタ
５３nが設けられた分岐光線路４０nのみをＯＮＵ５２n
に向かって伝搬していく。そして、この試験光λnが分
岐光線路４０nを伝搬する際に生じた後方散乱光は、該
試験光λnの伝搬経路とは逆の経路を経て光線路試験装
置１２へ戻る。そして、光線路試験装置１２により、後
方散乱光強度の時間変化が求められ、これに基づいて分
岐光線路４０nが試験される。
波長λ1〜λ8の何れかの波長λnの試験光は、合分波器
１３を経て共通光線路２０を伝搬して光分岐結合器３０
に到達する。光分岐結合器３０に到達した試験光λ
nは、光分岐結合器３０により８分岐され、光フィルタ
５３nが設けられた分岐光線路４０nのみをＯＮＵ５２n
に向かって伝搬していく。そして、この試験光λnが分
岐光線路４０nを伝搬する際に生じた後方散乱光は、該
試験光λnの伝搬経路とは逆の経路を経て光線路試験装
置１２へ戻る。そして、光線路試験装置１２により、後
方散乱光強度の時間変化が求められ、これに基づいて分
岐光線路４０nが試験される。
【００２７】この分岐光線路試験システム１は、図１で
説明した構成の光線路試験装置１２を用いるものであ
り、光線路試験装置１２から出力される試験光の波長λ
nが所定の波長範囲に亘って掃引されるとともに、この
所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において後方散乱
光が検出されて積算され、この積算結果に基づいて光線
路が試験される。そして、狭いスペクトル幅Λ2を有す
る試験光の中心波長λnが波長範囲Λに亘って掃引され
ることで、光線路試験装置１２から出力される試験光の
実効的なスペクトル幅Λ1は、上記スペクトル幅Λ2や従
来の場合の最大スペクトル幅Λ3より広くなる。
説明した構成の光線路試験装置１２を用いるものであ
り、光線路試験装置１２から出力される試験光の波長λ
nが所定の波長範囲に亘って掃引されるとともに、この
所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において後方散乱
光が検出されて積算され、この積算結果に基づいて光線
路が試験される。そして、狭いスペクトル幅Λ2を有す
る試験光の中心波長λnが波長範囲Λに亘って掃引され
ることで、光線路試験装置１２から出力される試験光の
実効的なスペクトル幅Λ1は、上記スペクトル幅Λ2や従
来の場合の最大スペクトル幅Λ3より広くなる。
【００２８】したがって、図３に示したような８本の分
岐光線路４０1〜４０8それぞれをＯＴＤＲ試験する分岐
光線路試験システムの場合のように、各試験光に対して
割り当てられる波長幅が狭いときであっても、本実施形
態に係る光線路試験装置１２を用いることにより、試験
光の実効的なスペクトル幅Λ1は、その試験光に対して
割り当てられた波長範囲Λの幅を有効に利用することが
できるので、従来の試験光のスペクトル幅Λ3より広
い。これにより、試験光のスペクトル幅が狭い場合に生
じる揺らぎの問題が解消され、試験の精度が向上する。
特に、試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以上であれば、
試験光の実効的なスペクトル幅Λ1が１ｎｍ以上とな
り、この揺らぎの問題が充分に解消される。試験光の波
長の掃引の幅の上限値は、その試験光に対して割り当て
られた波長範囲Λおよびその試験光の実際のスペクトル
幅Λ2に応じて決定される。
岐光線路４０1〜４０8それぞれをＯＴＤＲ試験する分岐
光線路試験システムの場合のように、各試験光に対して
割り当てられる波長幅が狭いときであっても、本実施形
態に係る光線路試験装置１２を用いることにより、試験
光の実効的なスペクトル幅Λ1は、その試験光に対して
割り当てられた波長範囲Λの幅を有効に利用することが
できるので、従来の試験光のスペクトル幅Λ3より広
い。これにより、試験光のスペクトル幅が狭い場合に生
じる揺らぎの問題が解消され、試験の精度が向上する。
特に、試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以上であれば、
試験光の実効的なスペクトル幅Λ1が１ｎｍ以上とな
り、この揺らぎの問題が充分に解消される。試験光の波
長の掃引の幅の上限値は、その試験光に対して割り当て
られた波長範囲Λおよびその試験光の実際のスペクトル
幅Λ2に応じて決定される。
【００２９】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり、本発明に
よれば、光源より出力された試験光は、試験対象である
光線路に導入され、試験光が光線路を伝搬する際に生じ
た後方散乱光が検出されて積算され、この積算結果に基
づいて光線路が試験される。特に本発明では、光源から
出力される試験光の波長が所定の波長範囲に亘って掃引
されるとともに、この所定の波長範囲に亘る波長掃引の
期間において後方散乱光が検出されて積算され、この積
算結果に基づいて光線路が試験される。このようにする
ことで、その試験光に対して割り当てられた波長範囲の
幅が有効に利用され得るので、本発明における試験光の
実効的なスペクトル幅は、従来の試験光のスペクトル幅
より広い。これにより、試験光のスペクトル幅が狭い場
合に生じる揺らぎの問題が解消され、試験の精度が向上
する。特に、試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以上であ
れば、試験光の実効的なスペクトル幅が１ｎｍ以上とな
り、この揺らぎの問題が充分に解消される。
よれば、光源より出力された試験光は、試験対象である
光線路に導入され、試験光が光線路を伝搬する際に生じ
た後方散乱光が検出されて積算され、この積算結果に基
づいて光線路が試験される。特に本発明では、光源から
出力される試験光の波長が所定の波長範囲に亘って掃引
されるとともに、この所定の波長範囲に亘る波長掃引の
期間において後方散乱光が検出されて積算され、この積
算結果に基づいて光線路が試験される。このようにする
ことで、その試験光に対して割り当てられた波長範囲の
幅が有効に利用され得るので、本発明における試験光の
実効的なスペクトル幅は、従来の試験光のスペクトル幅
より広い。これにより、試験光のスペクトル幅が狭い場
合に生じる揺らぎの問題が解消され、試験の精度が向上
する。特に、試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以上であ
れば、試験光の実効的なスペクトル幅が１ｎｍ以上とな
り、この揺らぎの問題が充分に解消される。
【図１】本実施形態に係る光線路試験装置１２の構成図
である。
である。
【図２】本実施形態に係る光線路試験装置１２から出力
される試験光の説明図である。
される試験光の説明図である。
【図３】本実施形態に係る光線路試験装置１２を含む分
岐光線路試験システム１の構成を示す図である。
岐光線路試験システム１の構成を示す図である。
【図４】試験光の波長λ1〜λ8それぞれの値の１例を示
す図表である。
す図表である。
１…分岐光線路試験システム、１１…ＳＬＴ、１２…光
線路試験装置、１３…合分波器、２０…共通光線路、３
０…光分岐結合器、４０1〜４０8…分岐光線路、５１1
〜５１8…光フィルタ、５２1〜５２8…ＯＮＵ、５３1〜
５３8…光フィルタ、１２０…波長可変光源、１２１…
偏波スクランブラ、１２２…ＡＯスイッチ、１２３…光
サーキュレータ、１２４…受光部、１２５…解析部、１
２６…制御部。
線路試験装置、１３…合分波器、２０…共通光線路、３
０…光分岐結合器、４０1〜４０8…分岐光線路、５１1
〜５１8…光フィルタ、５２1〜５２8…ＯＮＵ、５３1〜
５３8…光フィルタ、１２０…波長可変光源、１２１…
偏波スクランブラ、１２２…ＡＯスイッチ、１２３…光
サーキュレータ、１２４…受光部、１２５…解析部、１
２６…制御部。
Claims (4)
- 【請求項１】 試験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を
試験する光線路試験装置であって、 波長が可変である試験光を出力する光源と、 前記光源から出力された試験光が前記光線路を伝搬する
際に生じた後方散乱光を検出して積算し、この積算結果
に基づいて前記光線路を試験する解析部と、 前記光源に対して試験光の波長を所定の波長範囲に亘っ
て掃引することを指示するとともに、前記解析部に対し
て前記所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において前
記後方散乱光を検出して積算することを指示する制御部
と、 を備えることを特徴とする光線路試験装置。 - 【請求項２】 前記試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以
上であることを特徴とする請求項１記載の光線路試験装
置。 - 【請求項３】 試験光を用いてＯＴＤＲにより光線路を
試験する光線路試験方法であって、 光源から出力される試験光の波長を所定の波長範囲に亘
って掃引して、この光源から出力された試験光を前記光
線路に導入するとともに、 前記試験光が前記光線路を伝搬する際に生じた後方散乱
光を前記所定の波長範囲に亘る波長掃引の期間において
検出して積算し、この積算結果に基づいて前記光線路を
試験する、 ことを特徴とする光線路試験方法。 - 【請求項４】 前記試験光の波長の掃引の幅が１ｎｍ以
上であることを特徴とする請求項３記載の光線路試験方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000202349A JP2002022600A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | 光線路試験装置および光線路試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000202349A JP2002022600A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | 光線路試験装置および光線路試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002022600A true JP2002022600A (ja) | 2002-01-23 |
Family
ID=18699883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000202349A Pending JP2002022600A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | 光線路試験装置および光線路試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002022600A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017041224A1 (zh) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 华为技术有限公司 | 一种可调激光器的波长对准方法、装置、相关器件及系统 |
| CN110375960A (zh) * | 2019-06-03 | 2019-10-25 | 太原理工大学 | 一种基于超连续谱光源otdr的装置及方法 |
| ES2827373A1 (es) * | 2019-11-20 | 2021-05-20 | Telefonica Sa | Dispositivo óptico, método y sistema para la detección remota de terminales de red óptica |
-
2000
- 2000-07-04 JP JP2000202349A patent/JP2002022600A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017041224A1 (zh) * | 2015-09-08 | 2017-03-16 | 华为技术有限公司 | 一种可调激光器的波长对准方法、装置、相关器件及系统 |
| CN107925474A (zh) * | 2015-09-08 | 2018-04-17 | 华为技术有限公司 | 一种可调激光器的波长对准方法、装置、相关器件及系统 |
| CN107925474B (zh) * | 2015-09-08 | 2020-05-08 | 华为技术有限公司 | 一种可调激光器的波长对准方法、装置、相关器件及系统 |
| CN110375960A (zh) * | 2019-06-03 | 2019-10-25 | 太原理工大学 | 一种基于超连续谱光源otdr的装置及方法 |
| ES2827373A1 (es) * | 2019-11-20 | 2021-05-20 | Telefonica Sa | Dispositivo óptico, método y sistema para la detección remota de terminales de red óptica |
| WO2021099666A1 (es) * | 2019-11-20 | 2021-05-27 | Telefonica, S.A. | Dispositivo óptico, método y sistema para la detección remota de terminales de red óptica |
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