JPH0658840A - 光ファイバーの検査システム及び検査方法 - Google Patents

光ファイバーの検査システム及び検査方法

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JPH0658840A
JPH0658840A JP30904392A JP30904392A JPH0658840A JP H0658840 A JPH0658840 A JP H0658840A JP 30904392 A JP30904392 A JP 30904392A JP 30904392 A JP30904392 A JP 30904392A JP H0658840 A JPH0658840 A JP H0658840A
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optical
light
light source
detector
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JP30904392A
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Rajesh P Dave
ラジェシュ・プランネル・デイブ
Ernst B Riemann
アーネスト・ブルーノ・リーマン
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Teledyne Inc
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Teradyne Inc
Teledyne Inc
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/071Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]

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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 公衆電話回路網などの通信設備に用いられる
光ファイバーを検査しモニタリングするためのシステム
および方法を提供する。 【構成】 供試光ファイバー14又は12の一端に光を
入射する光源40と、供試光ファイバーの一端からの光
を受けるパワー検知器42,44,46と、供試光ファ
イバーの他端に設けられた反射器58又は54と、光源
と検知器とに作動的に接続されたモニター手段48,6
0とを有する。このモニター手段は、反射器によって反
射された光パワーの基線測定ならびに反射器によって反
射された光パワーの後続測定をおこなって、後続測定の
結果を基線測定の結果と比較することにより前記反射器
によって反射された光パワーに変化が生じているか否か
を決定する。基線測定と後続測定とは、光源からの光パ
ルス一個以内を用いて行われる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、通信、例えば公衆電話
網に使用される光ファイバーの検査及び監視に関する。
電話網とは、加入者電話の電話局への接続(しばしば、
加入者回線といわれるものであり、現在では、典型的な
ものとして対になった銅線で提供されている)及び、1
つの呼に対する2つの加入者が異なる電話局に接続され
る場合に必要となる電話局間の接続を含む。光ファイバ
ーは異なる電話局間での通信を提供するために広く使用
されている。光ファイバーはまた、電話局から遠隔ディ
ジタルターミナル(RDT)への通信を提供するために
もまた使用されており、現在では銅線は近距離間でRD
Tから加入者電話迄の接続を行うために近距離で使用さ
れている。RDTは、例えば、事務所顧客の構内や数軒
の家に電話回線を供給する路辺の場所に置かれることも
ある。将来、帯域幅を増やしたい、とか、銅線への投資
を減らしたいという希望に伴い、加入者線路での光ファ
イバーの使用は増大するものと予想されている。
【0002】
【従来の技術】銅線と光ファイバーとの相違のために、
多数の銅線電話線を検査するために現在使われている電
話自動検査システムを光ファイバー電話線の検査のため
に使用することは不可能である。「自動光ファイバーオ
ペレーションサポートシステムの設計と評価」(H.高
木他、国際電信ケーブルシンポジウム会報1990、p
p.623〜629)には、遠隔制御によって自動的に
光ファイバーケーブル網を検査するシステムが記載され
ている。このシステムには、電話局に設置されていて、
ファイバーセレクタを介して加入者線路中で被試験ファ
イバーに接続されているテストコントローラ、及び、被
試験ファイバー用光カプラーを含む、光学式分枝モジュ
ールを含んでいる。フィルター・エンベデッドコネクタ
ーが、1310nm波長で作動する信号を伝送し、15
50nm波長で検査光を反射するフィルターを供給する
ファイバーの遠隔端に在るファイバーとユニット間で使
用される。検査制御装置は光学式時間領域反射率計(O
TDR)、光学式電力計(OPM)および光源を含んで
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、光ファイバ
ーの一端に(例えば電話局に)光源と検出器、ファイバ
ーの他端に(例えば遠隔地に)反射器を設けることによ
り、通信用に用いられる光ファイバーを検査する特徴を
持つ。光は、ファイバー中を通り反射器まで達して戻っ
てくる。そして、反射光パワーは検出器で測定される。
基線測定が行われ、ファイバーの劣化があったかどうか
決定するために、後続測定値が基線測定値と比較され
る。光パワー測定は、光源からの単一の光パルスしか必
要とせず、単純で迅速な測定が行なわれることを可能に
し、短時間で多数のラインをモニターすることが可能に
なる。反射器はサイズが小さく、低費用で、自由に動
き、そして信頼性があり、低コストで多数の光ファイバ
をモニターする。
【0004】
【問題を解決するための手段】光パワーの測定は,光源
からの光の連続波に基いた平均パワーを使用することも
可能である。あるいは、光パワー測定は、ファイバーを
通って往復する時間よりも短い持続時間の単一のパルス
光を与え、ファイバーに沿って光が往復するのに要する
時間に対応するタイミングで光パワーを測定することに
よって、光パワーの測定を行うことも可能である。ファ
イバーに沿ったフレネルおよびレイリー反射が、反射器
での反射光と比較して小さな場合、平均パワー/連続波
動作モードを使用することが望ましい。パルスモード動
作は、これらの反射に影響されず、これらの反射が相当
なものである場合でさえ、有利に用いることができる。
【0005】試験中のファイバーは、使用していないス
ペアーのファイバーで、一バンドルの稼動ファイバの中
で用いられ、そのバンドル全体を示す指示器として機能
させることができる;この場合、反射器はファイバーの
末端にある終端コネクターに設けられる金属面であって
もよい。あるいは、ファイバーは稼動ファイバーであっ
てもよい;この場合、波長は通信用と試験用とでは異な
り、反射素子は、通信用波長を通過させ、試験用波長阻
止する反射フィルターであり、波長分割多重化装置(マ
ルチプレクサ)を電話局に設け、通信機器へ通信用波長
を、また、検査装置へ試験用波長を指向させることも可
能である。
【0006】好適実施例において、光スイッチは、光源
および検出器を複数の光ファイバの1つに選択的に接続
するために使用される。光分波器(分割器)は、光源お
よび検知器(検出器)を単一ファイバーに接続するため
に使用される。光源はレーザ・ダイオード・ドライバに
よって制御されるレーザ・ダイオードである。検知器
は、光パワー信号を出力する信号処理ステージに順番に
給電するレシーバに給電するフォトダイオードを含んで
いる。
【0007】この発明の他の諸利点および諸特徴は、好
適実施例の下記の説明および請求の範囲から明白であろ
う。
【実施例】
【0008】構造 図1を参照すると、通信、たとえば、公衆電話網におい
て、使用される光ファイバ検査システム10が示されて
いる。検査中ファイバー(FUT)はスペアーのファイ
バー12(遠隔端末において電話装置に接続されない)
あるいは稼動ファイバー14(送信器16とレシーバ1
8との間で接続されている)であってもよい。(あるい
は、送信器は遠隔位置に配置することができ、また、レ
シーバは、検査装置を備えた電話局に配置することがで
きる。)システム10は、メンテナンスセンター22に
ある検査システム制御装置(TSC)20、および、共
に電話局28にある光測定装置(OMU)24とを含
む。 TSC20は、モデムリンク30またはパケット
交換網によって、OMU24とOTAU26から情報を
受信し、OMU24とOTAU26へ制御コマンドを送
信するワークステーションを含んでいる。検査はTSC
20から調整、制御され、検査結果に基いてメンテナン
スセンター22でタスク指令命令が生成される。
【0009】送信器16は、集中、交差接続および電気
−光変換機能として働き、電話局交換機、及び、最終的
に、通信回線の一方の端末にある加入者電話に(双方と
も不図示)に稼動光ファイバの信号を接続するために使
用される。送信器16は、波長分割多重化装置(WD
M)32(たとえば、マサチューセッツ州、ミルフォー
ドの、アスター社、商品指定SWM−57−42−1−
B−1−TRが使用可能)を介して稼動ファイバー14
に接続される。WDM32は、通信用に使用される13
10ナノメータ波長(Λ2)及び検査用に使用される1
550ナノメータ(Λ1)波長を、多重化し、多重分離
する。(他の波長ももちろん使用できる)32のポート
2−1に設けられている稼動ファイバー14上の結合波
長は、WDM32で分割される;検査波長光は、ポート
1−1を通って、1XN光スイッチ34に達し、通信に
使用される波長は1−2を通って送信器16に達する。
WDM32の2−2のポートは屈折率整合ゲル52中に
あり、ポート2−2において光を吸収し、反射しないこ
とを目的とするものである。
【0010】1XN光スイッチ34は、OMU24の3
デシベル分波器36(たとえば、アスター社の商品指定
SWB 3502 B1Sが使用可能)の2−1のポー
トに接続される単一入力及びN出力(その1つは、図1
のWDM32に接続され、他の一つは、第1図のスペア
ーのファイバーに接続されて、示されている)を有して
いる。一方のNマイナス2出力を、検査中の他の追加ス
ペアーのファイバー類12、もしくは、稼動ファイバー
類に接続している追加WDM32に接続することもでき
よう。スペアーのファイバー12は典型的には一束(バ
ンドル)の光ファイバから出た単一ファイバーである。
束中の残りのファイバーは稼動ファイバー類であっても
よく、スペアーのファイバーは、束中のファイバー類す
べてに影響する条件の表示として使用されるであろう。
【0011】OMU24は、1−1のポート経由で分波
器36に検査光源を供給するために接続されたレーザ・
ダイオードドライバ38およびレーザ・ダイオード40
を含んでいる。レーザ・ダイオード40は、たとえば、
単一モードの、ファイバーピッグテイル・ファブリ−ペ
ロ(Fabry−Perot)空洞レーザ・ダイオード
モジュール(たとえば、通信が1310nmで行なわれ
ると仮定して、1550nmで作動するようなもの)で
あってもよい。分波器36の1−2のポートは、受信光
をフォトダイオード42に供給するために接続されてお
り、このフォトダイオード42は、レシーバ44に出力
を付与するために接続され、このレシーバ44は、今度
は、その出力を付与するために信号処理装置46に接続
される。フォトダイオード42は、たとえば、商品指示
ETX75FJが使用可能なEpitaxx社製の、合
成III−Vファイバーピッグテイル・フォトダイオー
ドであってもよい。レシーバ44はトランスインピーダ
ンス(transimpedance)を含んでおり、
これには、1つもしくは数個のポスト増幅器が後続し、
この増幅器には低域電気フィルターが後続し、このフィ
ルターにはアナログ・ディジタル変換器が後続してい
る。信号処理装置46はマイクロプロセッサに基き、測
定パワーを示すディジタル信号を出力する。レーザ・ダ
イオードドライバ38および信号処理装置46は、コン
ピュータ60によって検査手順を制御するために、コン
ピュータバスインタフェース48に接続されている。分
波器36の2−2ポートは、ポート2−2ですべての光
を吸収する目的で、屈折率整合ゲル50に接続されてい
て、これは、ポート2−2で光を反射するためのもので
はない。
【0012】検査中のスペアーのファイバー12の遠隔
端末に、反射素子54(例えば光ファイバ・プラグの端
に被着された金を有する後端ミラー)がある。
【0013】レシーバ18は、稼動ファイバー14の遠
隔端末において、電話局もしくは場所56の遠隔端末の
いずれかに置かれている。レシーバ18は反射フィルタ
ー58によって稼動ファイバー14に接続されており、
このフィルターはA1において検査波長を反射し、A2
において通信波長を通過させる。反射フィルター58
は、たとえば、Amphenol社製の商品指示945
99999−10085が使用可能であろう。OMU2
4およびOTAU26が、第1図の普通電話局28に示
されているが、それらは互いに隔たっていてもよい。
【0014】動作 作動中、OMU24は、光スイッチ34に一度に接続さ
れているN本のファイバーの1本に接続される。最初
に、反射されたパワーの基線測定値がすべてのファイバ
ーに対して得られ、格納され、その後、所望の間隔を置
いて、パワーは、ファイバーの中の任意の1本でも劣化
の可能性を示す変化があったかどうかを決定するため
に、各々のファイバーに対して順に測定され、基線測定
と比較される。比較は自動的にでもあるいは手動でも実
施することができる。このようなテストとモニタ時に、
システム10は、連続波作動モードで、あるいは単一パ
ルス作動モードで作動させることができる。
【0015】連続波作動モードにおいて、レーザ・ダイ
オード40は、波長Λ1で、ホスト・コンピュータ60
の制御の下で連続的に光を与える。検査光は、ポート1
−1で分波器36に入射し、その検査光の50%がポー
ト2−1を通って出射し、残りの50%が2−2を通っ
て出射する。ポート2−1を通った光は、光スイッチ3
4と供試(被試験)ファイバー12あるいは14の接続
されたファイバーに与えられる。スペアーのファイバー
12が接続されている場合には、光は供試ファイバー1
2を通り、反射素子54まで達し、ここで、光はファイ
バー12に沿ってスイッチ34を通り、光分波器36の
ポート2−1まで達する。反射光の50%は1−1まで
行き、残り50%はポート1−2へ行き、フォトダイオ
ード42まで伝送される。図2は、連続作動モード時に
フォトダイオード42で検出された光パワーを示す。
【0016】フォトダイオード42は、それによって検
出された光パワーPDに比例する大きさを持つ電流信号
を与える。電流信号は、レシーバ44のトランスインピ
ーダンス増幅器によって電圧信号に変換され、これは、
順に増幅されて、レシーバ44のA/D変換器を介して
ディジタル2進数に変換され、信号処理装置46に与え
られる。信号処理装置46は、コンピュータ60からの
連続する2つの命令(一つは、信号処理装置46に平均
値計算を開始せよという命令であり、もう一方は信号処
理装置46に平均値計算を終了せよと言う命令)間で、
それが受信したデジタル入力値の平均である出力値を与
える。信号処理装置46の出力はコンピュータ60によ
って読み取られる。
【0017】図3を参照する。この図は、測定時の光パ
ワーの伝送損失を示す。 光パワーPsは、レーザ・ダ
イオード40からの、ポート1−1の光分波器36に与
えられるパワーである。PLは、供試ファイバーに沿っ
て一度通った光パワー伝送損失の合計である。PL
は、分波器の欠陥、反射器の欠陥、スプライス、コネク
ターおよび他の任意の時間に関係しない原因による伝送
損失を含んでいる。フォトダイオード42に与えられる
ような、基線光パワー(例えは、減衰事象変化に先立つ
もの)PD1は、式(1)によって表わされる。 PD1=Ps−2PL−6dB (1) 減衰事象変化後に連続測定した、フォトダイオード42
により検出される光パワーPD2は、式2によって表わさ
れる。 PD2=Ps−2PL―2PPー6dB (2) ここで、Ppは劣化による減衰値である。(1)及び
(2)より、 Pp=(PD1―PD2)/2 (3)
【0018】連続作動モードは、反射されたパワーに比
較して、小さなフレネルおよびレイリ反射雑音がある場
合でもまったく正確である。たとえば、PD未満の13
デシベルは5%未満の誤差を与える。
【0019】パルス作動モードにおいては、10マイク
ロセカンドのパルスがレーザ・ダイオード40によって
出力され、信号処理装置46が、ファイバーの沿って光
パルスが往復するのに要する時間に応じたタイミングで
光パワーPDを測定する。その光は、再び、分波器36
中を通り、ファイバーを通って反射素子まで達し、フォ
トダイオード42まで戻り、ここで、フォトダイオード
電流信号出力は、電圧に変換され、レシーバ44によっ
て増幅されディジタル化される。図4を参照すると、信
号処理装置46は3τのゲーティング時にサンプルをと
る。ここで、τは10マイクロセカンドのパルス幅であ
る。PDのサンプルから、信号処理装置46はピーク反
射パワーを得る。パルス振幅が上記の時間中測定される
ので、供試ファイバーから出るレイリおよびフレネル反
射雑音はPDの一因とはならない。したがって、大きな
フレネルおよびレイリ反射がある場合、パルス作動モー
ドを使用することができる。
【0020】稼動ファイバー14を検査する場合、光
が、ファイバー14まで通過する際、光スイッチ34か
ら、WDM32中を通ることを除いて、動作はファイバ
ー12に対する場合と同じである。この処理において、
WDM32中の通過と関連した小さな減衰がある。
【0021】
【発明の効果】反射素子54あるいは反射フィルタ58
の遠隔端末での使用は、それによって、シングルエンド
形アクセスと測定が可能であり、遠隔端末で電力が不要
であり、遠隔端末で、制御された環境が不要であり、使
用にメンテナンスが要らず、較正部品のサイズが小さく
て住むという点で、遠隔端末の光源の使用より有利であ
る。また、パワー測定を行なうためにレーザ・ダイオー
ド40から出る単一パルスしか使用しないことによっ
て、測定システムはコストの削減となり、OTDR測定
と比較する時、測定時間は非常に減少する。また、OT
DR測定と関連して時々起る飽和の影響も蒙らない。遠
隔端末で光源を使用することと比較する時、このシステ
ムはコスト上の利点およびより高い信頼性を有する利点
がある。
【0022】本発明の他の実施例は、請求の範囲の範囲
内で可能である。たとえば、光分波器36は、大容積光
学装置、光電子ICスイッチ(たとえばTi:LiNb
O3)あるいは音響−光スイッチによって代替すること
もできよう。また、単一の検査システム制御装置20
は、異なる電話局28に在る複数の光測定装置24を制
御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光ファイバ検査システムのブロッ
ク・ダイヤグラムである。
【図2】図1のシステムの連続波操作モード時の対時間
検出光パワーのグラフである。
【図3】光ファイバ検査時でのパワーレベルと伝送損失
を示す図ダイアグラムである。
【図4】図1の単一パルス作動モードに対する対時間検
出光パワーのグラフである。
【符号の説明】
22 メンテナンスセンター 24 電話局 34 光スイッチ 42 フォトダイオード 44 レシーバー 46 シグナル処理装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04B 10/08

Claims (30)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 通信に用いられる光ファイバーを検査す
    るためのシステムにおいて、 供試光ファイバーの一端に光を入射するように当該一端
    に接続可能な光源と、 供試光ファイバーの前記一端からの光を受けるように当
    該一端に接続可能な光パワー検知器と、 前記供試光ファイバーの他端に設けられた反射器と、 前記光源と前記検知器とに作動的に接続されたモニター
    手段であって、前記反射器によって反射された光パワー
    の基線測定ならびに前記反射器によって反射された光パ
    ワーの後続測定をおこなって、後続測定結果を基線測定
    結果と比較することにより前記反射器によって反射され
    た光パワーに変化が生じているか否かを決定するモニタ
    ー手段とを有し、 前記基線測定と前記後続測定とは、前記光源からの光パ
    ルス一個以内を用いて行われるシステム。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のシステムにおいて、前
    記基線測定と前記後続測定とは、前記光源からの連続波
    光に基づく反射光パワーの平均値を計測するものである
    システム。
  3. 【請求項3】 請求項1に記載のシステムにおいて、前
    記基線測定と前記後続測定とは、持続時間が前記光ファ
    イバーを往復するに要する時間より実質的に短い単一の
    光パルスを与え、前記検知器で、光が前記光ファイバー
    を往復する時間に対応するタイミングで前記光の振幅を
    計ることによって行われるシステム。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載のシステムにおいて、前
    記供試光ファイバーは、使用されていないが、稼働中の
    複数の光ファイバーの束に含まれこれら等の稼働中の光
    ファイバーの状態を示す指示器として機能するスペアー
    のファイバーであるシステム。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載のシステムにおいて、前
    記反射器は前記供試光ファイバーの端部にもうけた終端
    コネクターに設けられた反射金属面であるシステム。
  6. 【請求項6】 請求項1に記載のシステムにおいて、前
    記供試光ファイバーは稼働中の光ファイバーであり、前
    記光源および前記検知器は、通信に用いられる波長とは
    異なる検査用波長で作動するシステム。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載のシステムにおいて、前
    記反射要素は通信に用いられる波長を通過させ検査用波
    長をブロックする反射フィルターであるシステム。
  8. 【請求項8】 請求項7に記載のシステムにおいて、更
    に前記光ファイバーの一端に設けられた波長分割多重化
    装置を有しており、前記波長分割多重化装置は、通信に
    用いられる発信器との間で通信波長の送受を行うととも
    に、前記光源および前記検知器に検査用波長を送るとと
    もに前記光源および前記検知器から検査用波長を受ける
    システム。
  9. 【請求項9】 請求項1に記載のシステムにおいて、更
    に、複数の光ファイバーのうちの一つを選択的に前記光
    源および前記検知器に接続する光スイッチを有するシス
    テム。
  10. 【請求項10】 請求項1に記載のシステムにおいて、
    前記光源および前記検知器を単一の光ファイバーに接続
    するために光スプリッターが用いられているシステム。
  11. 【請求項11】 請求項1に記載のシステムにおいて、
    前記光源が、レーザーダイオードドライバーによって制
    御されるレーザーダイオードであるシステム。
  12. 【請求項12】 請求項11に記載のシステムにおい
    て、前記検知器が、電流信号出力を生じる光ダイオード
    と、前記電流信号出力を、前記モニター手段に送られる
    べきデイジタル信号に変換するレシーバーとを含むシス
    テム。
  13. 【請求項13】 請求項1に記載のシステムにおいて、
    前記光源、前記光パワー検知器および前記モニター手段
    が電話局に設けられているシステム。
  14. 【請求項14】 請求項13に記載のシステムにおい
    て、更に、前記光源、前記光パワー検知器および前記モ
    ニター手段を制御する検査システム遠隔制御装置を有す
    るシステム。
  15. 【請求項15】 請求項13に記載のシステムにおい
    て、更に、前記光源および前記光パワー検知器を前記供
    試光ファイバーに接続するための光検査システムアクセ
    スユニットを有するシステム。
  16. 【請求項16】 通信に用いられる光ファイバーを検査
    するための方法において、 供試光ファイバーの一端に光を入射させ、 前記供試光ファイバーの他端において前記光を反射さ
    せ、 前記供試光ファイバーの前記一端から反射光を検出し、
    それにより光パワーの基線測定ならびに光パワーの後続
    測定をおこない、 後続測定結果を基線測定結果と比較することにより前記
    反射器によって反射された光パワーに変化が生じている
    か否かを決定するステップを含み、 前記基線測定と前記後続測定とが、前記光源からの光パ
    ルス一個以内を用いて行われる方法。
  17. 【請求項17】 請求項16に記載の方法において、前
    記基線測定と前記後続測定とは、前記光源からの連続光
    を用いて得られる反射光パワーの平均値を計測するもの
    である方法。
  18. 【請求項18】 請求項16に記載の方法において、前
    記基線測定と前記後続測定とは、持続時間が前記光ファ
    イバーを往復するに要する時間より実質的に短い単一の
    光パルスを与え、前記検知器で、光が前記光ファイバー
    を往復する時間に対応するタイミングで前記光の振幅を
    計ることによって行われる方法。
  19. 【請求項19】 請求項16に記載の方法において、前
    記供試光ファイバーは、稼働中の複数の光ファイバーの
    束に含まれこれら等の稼働中の光ファイバーの状態を示
    す指示器として機能するスペアーのファイバーである方
    法。
  20. 【請求項20】 請求項19に記載の方法において、前
    記反射は前記供試光ファイバーの端部にもうけた終端コ
    ネクターに設けられた反射金属面によって行われる方
    法。
  21. 【請求項21】 請求項16に記載の方法において、前
    記供試光ファイバーは稼働中の光ファイバーであり、前
    記光ファイバーに入射せしめられまたこの光ファイバー
    から検知される前記光は、通信に用いられる波長とは異
    なる検査用波長のものである方法。
  22. 【請求項22】 請求項21に記載の方法において、前
    記反射は通信に用いられる波長を通過させ検査用波長を
    ブロックする反射フィルターによっておこなわれる方
    法。
  23. 【請求項23】 請求項22に記載の方法において、前
    記光ファイバーの一端に波長分割多重化装置が設けられ
    ており、前記波長分割多重化装置は、通信に用いられる
    発信器との間で通信波長の送受を行うとともに、前記光
    源および前記検知器に検査用波長をおくるとともに前記
    光源および前記検知器から検査用波長を受ける方法。
  24. 【請求項24】 請求項16に記載のシステムにおい
    て、複数の光ファイバーのうちの一つを選択的に前記光
    源および前記検知器に接続するために光スイッチを用い
    る方法。
  25. 【請求項25】 請求項16に記載の方法において、前
    記光源および前記検知器を単一の光ファイバーに接続す
    るために光スプリッターを用いるシステム。
  26. 【請求項26】 請求項16に記載の方法において、前
    記光が、レーザーダイオードドライバーによって制御さ
    れるレーザーダイオードによって与えられる方法。
  27. 【請求項27】 請求項26に記載の方法において、前
    記検知が、電流信号出力を生じる光ダイオードと、前記
    電流信号出力を、前記モニター手段に送られるべきデイ
    ジタル信号に変換するレシーバーとによって行われる方
    法。
  28. 【請求項28】 請求項16に記載の方法において、前
    記光が光源によって与えられ、前記反射光が光パワー検
    知器によって行われ、前記および前記光パワー検知器の
    双方が中央管理室に設けられている方法。
  29. 【請求項29】 請求項28に記載の方法において、前
    記光源および前記光パワー検知器を制御するために検査
    システム遠隔制御装置を用いる方法。
  30. 【請求項30】 請求項28に記載の方法において、前
    記光源および前記光パワー検知器を前記供試光ファイバ
    ーに接続するための光検査システムアクセスユニットを
    用いる方法。
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