JPH07162366A - 光反射試験装置 - Google Patents
光反射試験装置Info
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- JPH07162366A JPH07162366A JP5303093A JP30309393A JPH07162366A JP H07162366 A JPH07162366 A JP H07162366A JP 5303093 A JP5303093 A JP 5303093A JP 30309393 A JP30309393 A JP 30309393A JP H07162366 A JPH07162366 A JP H07162366A
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- light
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光通信網の光中継器を含む被測定伝送路にお
いて、高い信号対雑音比を維持しながら散乱光の反射試
験を行う。 【構成】 光中継器の過渡応答時間よりも短い光パルス
信号を用いて反射試験を行う。光パルス信号間には通常
の光通信信号とほぼ等しいレベルの連続光信号を背景と
して送出する。 【効果】 高い信号対雑音比を維持しながら測定できる
ので、測定精度が向上し測定範囲が拡大する。また、光
パルス信号が送信されてからの経過時間に対応して受信
レベルを表示することにより障害点を特定することがで
きる。
いて、高い信号対雑音比を維持しながら散乱光の反射試
験を行う。 【構成】 光中継器の過渡応答時間よりも短い光パルス
信号を用いて反射試験を行う。光パルス信号間には通常
の光通信信号とほぼ等しいレベルの連続光信号を背景と
して送出する。 【効果】 高い信号対雑音比を維持しながら測定できる
ので、測定精度が向上し測定範囲が拡大する。また、光
パルス信号が送信されてからの経過時間に対応して受信
レベルを表示することにより障害点を特定することがで
きる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光通信系の試験に利用す
る。特に、光ファイバ増幅器が挿入された光伝送路の状
態を監視するために利用する。本発明は光伝送路の障害
点探査技術に関する。
る。特に、光ファイバ増幅器が挿入された光伝送路の状
態を監視するために利用する。本発明は光伝送路の障害
点探査技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】光伝送路の光反射試験は探査用の光パル
ス信号を光ファイバ内に送出し、この光パルス信号によ
り光伝送路内で発生する散乱光を受信し、戻ってきた散
乱光の大きさを測定することにより、光ファイバの障害
点を探査するものである。近年光ファイバ増幅器（以
下、光増幅器と略す）の開発が進み光増幅中継システム
が実用に供せられるようになっており、光増幅器を含む
伝送路の障害探査が必要になっている。光増幅器は、中
継後の光信号レベルをあらかじめ定められた規定値に一
致させるため光信号の増幅を行う装置である。
ス信号を光ファイバ内に送出し、この光パルス信号によ
り光伝送路内で発生する散乱光を受信し、戻ってきた散
乱光の大きさを測定することにより、光ファイバの障害
点を探査するものである。近年光ファイバ増幅器（以
下、光増幅器と略す）の開発が進み光増幅中継システム
が実用に供せられるようになっており、光増幅器を含む
伝送路の障害探査が必要になっている。光増幅器は、中
継後の光信号レベルをあらかじめ定められた規定値に一
致させるため光信号の増幅を行う装置である。
【０００３】光増幅器を図６および図７を参照して説明
する。図６は光増幅器の構成図である。図７は光増幅器
の動作特性を示す図である。光増幅器は、光信号と励起
光とを合波してエルビウム添加光ファイバを通過させる
ことにより光信号の増幅をはかるものである。図６
（ａ）には前方向励起方式を示し、図６（ｂ）には後方
向励起方式を示す（電子情報通信学会誌、1991年３月、
７４巻３号、P199〜P235参照）。
する。図６は光増幅器の構成図である。図７は光増幅器
の動作特性を示す図である。光増幅器は、光信号と励起
光とを合波してエルビウム添加光ファイバを通過させる
ことにより光信号の増幅をはかるものである。図６
（ａ）には前方向励起方式を示し、図６（ｂ）には後方
向励起方式を示す（電子情報通信学会誌、1991年３月、
７４巻３号、P199〜P235参照）。
【０００４】動作特性は図７に示すように、光増幅器は
通常状態では中継区間損失に等しい利得を通信信号に与
えるように動作点が設定されている。仮に、通常状態よ
り低い強度の通信信号が光増幅器に入ったとすると、光
増幅器は中継区間損失より大きい利得を信号に与えるの
で、光増幅器を出る光信号は通常状態の強度のものに戻
ることができる。また、通常状態より高い強度の通信信
号が光増幅器に入ったときには、逆の動作が起こり、光
増幅器を出る光信号は通常状態のものに戻ることができ
る。これが光増幅器の行う出力制御動作である。すなわ
ち、無信号時の利得が最も高く、低い強度の光信号につ
いては無信号時の利得とほぼ等しい利得により増幅が行
われ、高い強度の光信号については低い利得により増幅
が行われる。このような動作特性により入力光信号の強
度に大きな差異があっても光増幅器の出力はほぼ一定に
保たれる。また、無信号状態から通常状態以上の強度の
光信号が光増幅器に入力されたときには、光増幅器が動
作点に達するまでの過渡応答時間として数ｍ秒程度の時
間を要する（この現象に関しては、Optics Lettervol.1
4,1989 年,880〜882pp,Giles"Transient Gain and Cros
stalk in Elbium-Doped Fibre Amplifier" 参照）。
通常状態では中継区間損失に等しい利得を通信信号に与
えるように動作点が設定されている。仮に、通常状態よ
り低い強度の通信信号が光増幅器に入ったとすると、光
増幅器は中継区間損失より大きい利得を信号に与えるの
で、光増幅器を出る光信号は通常状態の強度のものに戻
ることができる。また、通常状態より高い強度の通信信
号が光増幅器に入ったときには、逆の動作が起こり、光
増幅器を出る光信号は通常状態のものに戻ることができ
る。これが光増幅器の行う出力制御動作である。すなわ
ち、無信号時の利得が最も高く、低い強度の光信号につ
いては無信号時の利得とほぼ等しい利得により増幅が行
われ、高い強度の光信号については低い利得により増幅
が行われる。このような動作特性により入力光信号の強
度に大きな差異があっても光増幅器の出力はほぼ一定に
保たれる。また、無信号状態から通常状態以上の強度の
光信号が光増幅器に入力されたときには、光増幅器が動
作点に達するまでの過渡応答時間として数ｍ秒程度の時
間を要する（この現象に関しては、Optics Lettervol.1
4,1989 年,880〜882pp,Giles"Transient Gain and Cros
stalk in Elbium-Doped Fibre Amplifier" 参照）。
【０００５】次に、従来例の光反射試験装置を図８を参
照して説明する。図８は従来例装置のブロック構成図で
ある。光送信部１から発生する光パルス信号は、被測定
伝送路４に送出される。被測定伝送路４で反射される散
乱光があれば、分岐器３を介して光受信部２に受信され
る。光受信部２で受信された散乱光と光送信部１から発
生する光パルス信号の一部とを基にし、表示部１５は散
乱光の強度を表示する。
照して説明する。図８は従来例装置のブロック構成図で
ある。光送信部１から発生する光パルス信号は、被測定
伝送路４に送出される。被測定伝送路４で反射される散
乱光があれば、分岐器３を介して光受信部２に受信され
る。光受信部２で受信された散乱光と光送信部１から発
生する光パルス信号の一部とを基にし、表示部１５は散
乱光の強度を表示する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】このように光増幅器４
０が被測定伝送路４に含まれているとき、散乱光を測定
するための光パルス信号の信号幅がこの光増幅器４０の
過渡応答時間よりも長いと、光パルス信号の強度を高め
て送出しても、光増幅器４０は図７に示した高い強度の
光信号に対する低い利得によりこの光パルス信号を増幅
するため、光パルス信号が当初の希望レベルよりも減衰
されてしまう。すなわち、信号対雑音比（ＳＮＲ）を高
くすることにより確実に反射試験を行う目的で強度を高
めた光パルス信号が、初期の目的を果たせなくなってし
まうという問題がある。
０が被測定伝送路４に含まれているとき、散乱光を測定
するための光パルス信号の信号幅がこの光増幅器４０の
過渡応答時間よりも長いと、光パルス信号の強度を高め
て送出しても、光増幅器４０は図７に示した高い強度の
光信号に対する低い利得によりこの光パルス信号を増幅
するため、光パルス信号が当初の希望レベルよりも減衰
されてしまう。すなわち、信号対雑音比（ＳＮＲ）を高
くすることにより確実に反射試験を行う目的で強度を高
めた光パルス信号が、初期の目的を果たせなくなってし
まうという問題がある。
【０００７】本発明は、このような背景に行われたもの
であり、光増幅器を含む被測定伝送路においても高い信
号対雑音比を確保し散乱光の反射試験を行うことができ
る光反射試験装置を提供することを目的とする。
であり、光増幅器を含む被測定伝送路においても高い信
号対雑音比を確保し散乱光の反射試験を行うことができ
る光反射試験装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、光増幅器が挿
入された光伝送路に光パルス信号を送信する光送信部
と、この光伝送路で発生する反射光を受信する光受信部
とを備え、前記光パルス信号は光増幅器の過渡応答時間
より短いことを特徴とする光反射試験装置である。
入された光伝送路に光パルス信号を送信する光送信部
と、この光伝送路で発生する反射光を受信する光受信部
とを備え、前記光パルス信号は光増幅器の過渡応答時間
より短いことを特徴とする光反射試験装置である。
【０００９】前記光受信部は光伝送路で発生する後方散
乱光を受信できる感度を有することが望ましい。
乱光を受信できる感度を有することが望ましい。
【００１０】前記光送信部は背景に低レベルの連続光を
送信する手段を含むことが望ましい。
送信する手段を含むことが望ましい。
【００１１】前記光受信部には、光パルス信号が送信さ
れてからの経過時間に対応して受信レベルを表示する手
段を含むことが望ましい。
れてからの経過時間に対応して受信レベルを表示する手
段を含むことが望ましい。
【００１２】
【作用】光増幅器の過渡応答時間よりも短い光パルス信
号を光送信部から送出すると、この光パルス信号は光増
幅器の無信号時の利得とほぼ等しい高い利得により増幅
されて光増幅器を通過する。この光パルス信号を用いて
散乱光の反射を測定することにより、高い信号対雑音比
を維持しながら散乱光の反射試験を行うことができる。
号を光送信部から送出すると、この光パルス信号は光増
幅器の無信号時の利得とほぼ等しい高い利得により増幅
されて光増幅器を通過する。この光パルス信号を用いて
散乱光の反射を測定することにより、高い信号対雑音比
を維持しながら散乱光の反射試験を行うことができる。
【００１３】この光パルス信号が断となっている間は、
通常の通信に用いるのとほぼ等しいレベルの連続光信号
を被測定伝送路に送出しておいてもよい。光増幅器によ
っては、光信号が断となっているときは増幅動作を休止
しており、一切の光信号が通過できず、少なくとも過渡
応答時間よりも長い光信号が到来すると増幅動作を行う
構成のものもある。このようなときには、通常の通信に
用いるのとほぼ等しいレベルの連続光信号を被測定伝送
路に試験中は常に送出しておいて、測定のための光パル
ス信号を随時この連続光信号中に挿入すればよい。
通常の通信に用いるのとほぼ等しいレベルの連続光信号
を被測定伝送路に送出しておいてもよい。光増幅器によ
っては、光信号が断となっているときは増幅動作を休止
しており、一切の光信号が通過できず、少なくとも過渡
応答時間よりも長い光信号が到来すると増幅動作を行う
構成のものもある。このようなときには、通常の通信に
用いるのとほぼ等しいレベルの連続光信号を被測定伝送
路に試験中は常に送出しておいて、測定のための光パル
ス信号を随時この連続光信号中に挿入すればよい。
【００１４】この動作を実現させるためには、光パルス
信号用の光源と連続光信号用の光源とをそれぞれ設けて
発光させ、光スイッチの切替により任意の光源からの光
信号を被測定伝送路に送出するようにしてもよいし、直
接周波数変調が行える光源を設けて、周波数の異なる二
種類の光信号を発生させ、さらに光フィルタを設けて異
なる二種類の周波数の光信号にレベル差を与えるように
する。これにより、一方の周波数の光信号を光パルス信
号として用い、他方の周波数の光信号を連続光信号とし
て用いるようにしてもよい。
信号用の光源と連続光信号用の光源とをそれぞれ設けて
発光させ、光スイッチの切替により任意の光源からの光
信号を被測定伝送路に送出するようにしてもよいし、直
接周波数変調が行える光源を設けて、周波数の異なる二
種類の光信号を発生させ、さらに光フィルタを設けて異
なる二種類の周波数の光信号にレベル差を与えるように
する。これにより、一方の周波数の光信号を光パルス信
号として用い、他方の周波数の光信号を連続光信号とし
て用いるようにしてもよい。
【００１５】さらに、光パルス信号が送信されてからの
経過時間に対応して受信レベルを表示することにより、
障害箇所の特定までも可能にすることができる。
経過時間に対応して受信レベルを表示することにより、
障害箇所の特定までも可能にすることができる。
【００１６】
【実施例】本発明第一実施例の構成を図１を参照して説
明する。図１は本発明第一実施例装置のブロック構成図
である。
明する。図１は本発明第一実施例装置のブロック構成図
である。
【００１７】本発明は、光増幅器４０が挿入された光伝
送路である被測定伝送路４に光パルス信号を送信する光
送信部１と、この被測定伝送路４で発生する反射光を受
信する光受信部２とを備え、この光パルス信号は光増幅
器４０の過渡応答時間より短いことを特徴とする光反射
試験装置である。
送路である被測定伝送路４に光パルス信号を送信する光
送信部１と、この被測定伝送路４で発生する反射光を受
信する光受信部２とを備え、この光パルス信号は光増幅
器４０の過渡応答時間より短いことを特徴とする光反射
試験装置である。
【００１８】光受信部２は被測定伝送路４で発生する後
方散乱光を受信できる感度を有している。光送信部１は
背景に低レベルの連続光を送信する手段としての光源５
および６、光スイッチ７を含む構成である。
方散乱光を受信できる感度を有している。光送信部１は
背景に低レベルの連続光を送信する手段としての光源５
および６、光スイッチ７を含む構成である。
【００１９】次に、本発明第一実施例の動作を図２を参
照して説明する。図２は本発明第一実施例装置のより詳
細なブロック構成図である。光送信部１から送出された
光は分岐器３および光入出力端子１６を介して被測定伝
送路４に入り、被測定伝送路４を伝播してゆく。このと
き発生する散乱光は被測定伝送路４を逆方向に伝播した
後に、分岐器３で分岐され光受信部２に入力され散乱光
の強度に応じた電気信号に変換される。測定結果は表示
部１５に表示される。
照して説明する。図２は本発明第一実施例装置のより詳
細なブロック構成図である。光送信部１から送出された
光は分岐器３および光入出力端子１６を介して被測定伝
送路４に入り、被測定伝送路４を伝播してゆく。このと
き発生する散乱光は被測定伝送路４を逆方向に伝播した
後に、分岐器３で分岐され光受信部２に入力され散乱光
の強度に応じた電気信号に変換される。測定結果は表示
部１５に表示される。
【００２０】光送信部１は二個の光源５および６を用い
ている。光源５および６はそれぞれ発光強度および信号
種類が異なっている。光源５により発生する光信号は、
散乱光による反射を測定するための光信号であり、前述
したように光増幅器４０の過渡応答時間よりも短い光パ
ルス信号を発生する。具体的には数十μ秒以下の光パル
ス信号を発生する。光源６により発生する光信号は、光
パルス信号の間に送出する連続光信号である。光源５の
光パルス信号は、光源６の連続光信号よりも発光強度は
大きい。連続光信号の発光強度は、通常の光通信に用い
られる強度とほぼ等しい。これらの光源５または６の光
信号を光スイッチ７により切替えて分岐器３に送り被測
定伝送路４に送出する。
ている。光源５および６はそれぞれ発光強度および信号
種類が異なっている。光源５により発生する光信号は、
散乱光による反射を測定するための光信号であり、前述
したように光増幅器４０の過渡応答時間よりも短い光パ
ルス信号を発生する。具体的には数十μ秒以下の光パル
ス信号を発生する。光源６により発生する光信号は、光
パルス信号の間に送出する連続光信号である。光源５の
光パルス信号は、光源６の連続光信号よりも発光強度は
大きい。連続光信号の発光強度は、通常の光通信に用い
られる強度とほぼ等しい。これらの光源５または６の光
信号を光スイッチ７により切替えて分岐器３に送り被測
定伝送路４に送出する。
【００２１】光源５から送出された光信号は、光スイッ
チ７に入力される前に分岐器１４により二波に分けら
れ、一方は光スイッチ７に入力され、他方はＡＯ(Analo
g Output) 変調器１０に入力されΔｆの周波数偏移を受
ける。周波数偏移を受けた光信号は合波器１１により、
被測定伝送路４で発生した散乱光と合波される。合波器
１１で合波された光信号を受光器１２で自乗検波する
と、光源５から送出された光による散乱光はΔｆの周波
数で変化する電気信号に変換される。したがって、透過
中心周波数がΔｆの帯域フィルタ１３を用いると、光源
５による散乱光を光源６による散乱光から弁別すること
ができる。光源５からの光パルス信号により被測定伝送
路４で発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１３の出
力から測定することができる。表示部１５はこの測定結
果を表示する。
チ７に入力される前に分岐器１４により二波に分けら
れ、一方は光スイッチ７に入力され、他方はＡＯ(Analo
g Output) 変調器１０に入力されΔｆの周波数偏移を受
ける。周波数偏移を受けた光信号は合波器１１により、
被測定伝送路４で発生した散乱光と合波される。合波器
１１で合波された光信号を受光器１２で自乗検波する
と、光源５から送出された光による散乱光はΔｆの周波
数で変化する電気信号に変換される。したがって、透過
中心周波数がΔｆの帯域フィルタ１３を用いると、光源
５による散乱光を光源６による散乱光から弁別すること
ができる。光源５からの光パルス信号により被測定伝送
路４で発生した散乱光の大きさを帯域フィルタ１３の出
力から測定することができる。表示部１５はこの測定結
果を表示する。
【００２２】過渡応答時間と光パルス信号との関係を図
３を参照して説明する。図３は過渡応答時間と光パルス
信号との関係を示す図である。光反射試験器が送出する
光の強度が一定である従来技術の場合には、雑音対信号
比を高くするため通信信号光より高い強度の探査光を送
出しても、前述の光増幅器４０の強度制御動作のため光
増幅器４０を通過すると通常の通信信号光の強度に減少
してしまい高い雑音対信号比を維持できない。しかし、
強度の異なる光信号が交互に光増幅器４０に入射する本
発明第一実施例では、入力光強度が変化したとき、光増
幅器４０は変化後の入力光強度に対応した利得に即座に
推移するのでなく、ある長さの過渡応答時間の後に推移
するので、光増幅器４０を通過した光信号の強度変化は
図３のような過渡現象を示す。なお、過渡応答時間とし
ては、例えば３ｄＢ低下点をとる。一般に光増幅器４０
が持つこの過渡応答時間は数ミリ秒である。そこで、光
パルス信号の持続時間が過渡応答時間の１％以下である
数十μ秒以下の場合には、光増幅器４０を通過する光信
号が連続光信号から光パルス信号に変わっても、光増幅
器４０の利得は光パルス信号の持続時間内ではほとんど
変化せず連続光信号に対応する利得のままである。本発
明第一実施例では、連続光信号の強度を試験対象の被測
定伝送路４を通常伝播している通信信号の強度とほぼ等
しくなるように設定しているので、光増幅器４０は光パ
ルス信号と連続光信号との両光信号に対して中継区間損
失に等しい利得を与え、両信号共に減衰した強度が補償
され元の強度に復元される。したがって、光パルス信号
の強度が連続光信号のものより高くても、光パルス信号
の持続時間を数十μ秒以下にしておけば、光増幅器４０
の出力強度制御動作は行われず、光パルス信号の強度が
減少することがないので、全ての中継区間で最初の中継
区間と同じ高い雑音対信号比を維持することができる。
３を参照して説明する。図３は過渡応答時間と光パルス
信号との関係を示す図である。光反射試験器が送出する
光の強度が一定である従来技術の場合には、雑音対信号
比を高くするため通信信号光より高い強度の探査光を送
出しても、前述の光増幅器４０の強度制御動作のため光
増幅器４０を通過すると通常の通信信号光の強度に減少
してしまい高い雑音対信号比を維持できない。しかし、
強度の異なる光信号が交互に光増幅器４０に入射する本
発明第一実施例では、入力光強度が変化したとき、光増
幅器４０は変化後の入力光強度に対応した利得に即座に
推移するのでなく、ある長さの過渡応答時間の後に推移
するので、光増幅器４０を通過した光信号の強度変化は
図３のような過渡現象を示す。なお、過渡応答時間とし
ては、例えば３ｄＢ低下点をとる。一般に光増幅器４０
が持つこの過渡応答時間は数ミリ秒である。そこで、光
パルス信号の持続時間が過渡応答時間の１％以下である
数十μ秒以下の場合には、光増幅器４０を通過する光信
号が連続光信号から光パルス信号に変わっても、光増幅
器４０の利得は光パルス信号の持続時間内ではほとんど
変化せず連続光信号に対応する利得のままである。本発
明第一実施例では、連続光信号の強度を試験対象の被測
定伝送路４を通常伝播している通信信号の強度とほぼ等
しくなるように設定しているので、光増幅器４０は光パ
ルス信号と連続光信号との両光信号に対して中継区間損
失に等しい利得を与え、両信号共に減衰した強度が補償
され元の強度に復元される。したがって、光パルス信号
の強度が連続光信号のものより高くても、光パルス信号
の持続時間を数十μ秒以下にしておけば、光増幅器４０
の出力強度制御動作は行われず、光パルス信号の強度が
減少することがないので、全ての中継区間で最初の中継
区間と同じ高い雑音対信号比を維持することができる。
【００２３】次に、本発明第二実施例を図４および図５
を参照して説明する。図４は本発明第二実施例装置のブ
ロック構成図である。図５は本発明第二実施例装置のよ
り詳細なブロック構成図である。光源８は測定制御部１
８により直接周波数変調され、周波数の異なる光信号を
交互に送出している。光フィルタ９は周波数の異なる光
信号に対する透過率が異なっているので、光源８から送
出された周波数の異なる光信号は、光フィルタ９を通過
すると強度に差ができる。一方の周波数の信号種類を光
パルス信号とし、他方の周波数の信号種類を連続光信号
とすれば、強度の異なる二種類の光信号が得られる。
を参照して説明する。図４は本発明第二実施例装置のブ
ロック構成図である。図５は本発明第二実施例装置のよ
り詳細なブロック構成図である。光源８は測定制御部１
８により直接周波数変調され、周波数の異なる光信号を
交互に送出している。光フィルタ９は周波数の異なる光
信号に対する透過率が異なっているので、光源８から送
出された周波数の異なる光信号は、光フィルタ９を通過
すると強度に差ができる。一方の周波数の信号種類を光
パルス信号とし、他方の周波数の信号種類を連続光信号
とすれば、強度の異なる二種類の光信号が得られる。
【００２４】図４に示すように、光パルス信号による散
乱光を連続光信号による散乱光から弁別するためにコヒ
ーレント検波を採用している。光源８から送出された光
は光フィルタ９に入力される前に分岐器１４により二波
に分けられ、一方は光フィルタ９に入力され、他方は合
波器１１に入力され被測定伝送路４で発生した散乱光と
合波される。光源８から送出された周波数変調された光
信号は、光パルス信号の持続時間が数十μ秒、連続光信
号に相当する部分の持続時間が数十ミリ秒とほとんどの
時間を連続光信号が占めている。したがって、合波器１
１で合波された光信号を受光器１２で自乗検波すると、
光パルス信号による散乱光は光パルス信号と連続光信号
の周波数の差周波数Δｆで振動する電気信号に変換され
る。透過中心周波数がΔｆの帯域フィルタ１３を用いる
と、光パルス信号による散乱光を連続光信号による散乱
光から弁別することが可能であり、光パルス信号により
被測定伝送路４で発生した散乱光の大きさを帯域フィル
タ１３の出力から測定することができる。表示部１５は
測定結果を表示する。
乱光を連続光信号による散乱光から弁別するためにコヒ
ーレント検波を採用している。光源８から送出された光
は光フィルタ９に入力される前に分岐器１４により二波
に分けられ、一方は光フィルタ９に入力され、他方は合
波器１１に入力され被測定伝送路４で発生した散乱光と
合波される。光源８から送出された周波数変調された光
信号は、光パルス信号の持続時間が数十μ秒、連続光信
号に相当する部分の持続時間が数十ミリ秒とほとんどの
時間を連続光信号が占めている。したがって、合波器１
１で合波された光信号を受光器１２で自乗検波すると、
光パルス信号による散乱光は光パルス信号と連続光信号
の周波数の差周波数Δｆで振動する電気信号に変換され
る。透過中心周波数がΔｆの帯域フィルタ１３を用いる
と、光パルス信号による散乱光を連続光信号による散乱
光から弁別することが可能であり、光パルス信号により
被測定伝送路４で発生した散乱光の大きさを帯域フィル
タ１３の出力から測定することができる。表示部１５は
測定結果を表示する。
【００２５】本発明第一および第二実施例において、光
パルス信号が送信されてから散乱光が受信されるまでの
経過時間に対応して受信レベルを表示することにより、
被測定伝送路４における障害点を特定することもでき
る。
パルス信号が送信されてから散乱光が受信されるまでの
経過時間に対応して受信レベルを表示することにより、
被測定伝送路４における障害点を特定することもでき
る。
【００２６】また、本発明第一および第二実施例では、
微弱な散乱光を受信するために高感度な光検波手法であ
るヘテロダイン検波を用いたが、もし散乱光の強度が充
分であれば光フィルタで所定の光周波数の光のみを抜き
出した後直接検波してもよい。また、ヘテロダイン検波
の局発光として光送信部の光を分岐して用いているが、
これは散乱光強度が微弱なため独立した局発光源ではＡ
ＦＣ（自動周波数制御装置）による発振周波数安定化が
できないためである。したがってＡＦＣを作動させるの
に充分な光強度があれば独立した局発光源を用いてもよ
い。
微弱な散乱光を受信するために高感度な光検波手法であ
るヘテロダイン検波を用いたが、もし散乱光の強度が充
分であれば光フィルタで所定の光周波数の光のみを抜き
出した後直接検波してもよい。また、ヘテロダイン検波
の局発光として光送信部の光を分岐して用いているが、
これは散乱光強度が微弱なため独立した局発光源ではＡ
ＦＣ（自動周波数制御装置）による発振周波数安定化が
できないためである。したがってＡＦＣを作動させるの
に充分な光強度があれば独立した局発光源を用いてもよ
い。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光増幅器を含む被測定伝送路においても高い信号対雑音
比を確保し散乱光の反射試験を行うことができる。ま
た、複数の光増幅器を含む被測定伝送路において障害点
を特定することができる。
光増幅器を含む被測定伝送路においても高い信号対雑音
比を確保し散乱光の反射試験を行うことができる。ま
た、複数の光増幅器を含む被測定伝送路において障害点
を特定することができる。
【図１】本発明第一実施例装置のブロック構成図。
【図２】本発明第一実施例装置のより詳細なブロック構
成図。
成図。
【図３】過渡応答時間と光パルス信号との関係を示す
図。
図。
【図４】本発明第二実施例装置のブロック構成図。
【図５】本発明第二実施例装置のより詳細なブロック構
成図。
成図。
【図６】光増幅器の構成図。
【図７】光増幅器の動作を示す図。
【図８】従来例装置のブロック構成図。
１ 光送信部 ２ 光受信部 ３、１４ 分岐器 ４ 被測定伝送路 ５、６、８ 光源 ７ 光スイッチ ９ 光フィルタ １０ ＡＯ変調器 １１ 合波器 １２ 受光器 １３ 帯域フィルタ １５ 表示部 １６ 光入出力端子 １８ 測定制御部 ２０ 光反射試験器 ４０ 光増幅器
Claims (4)
- 【請求項１】 光ファイバ増幅器が挿入された光伝送路
に光パルス信号を送信する光送信部と、この光伝送路で
発生する反射光を受信する光受信部とを備え、 前記光パルス信号は光ファイバ増幅器の過渡応答時間よ
り短いことを特徴とする光反射試験装置。 - 【請求項２】 前記光受信部は光伝送路で発生する後方
散乱光を受信できる感度を有する請求項１記載の光反射
試験装置。 - 【請求項３】 前記光送信部は背景に低レベルの連続光
を送信する手段を含む請求項１記載の光反射試験装置。 - 【請求項４】 前記光受信部には、光パルス信号が送信
されてからの経過時間に対応して受信レベルを表示する
手段を含む請求項１ないし３のいずれかに記載の光反射
試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30309393A JP3231921B2 (ja) | 1993-12-02 | 1993-12-02 | 光反射試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30309393A JP3231921B2 (ja) | 1993-12-02 | 1993-12-02 | 光反射試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07162366A true JPH07162366A (ja) | 1995-06-23 |
| JP3231921B2 JP3231921B2 (ja) | 2001-11-26 |
Family
ID=17916813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30309393A Expired - Fee Related JP3231921B2 (ja) | 1993-12-02 | 1993-12-02 | 光反射試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3231921B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017536750A (ja) * | 2014-10-14 | 2017-12-07 | ザ アリゾナ ボード オブ リージェンツ オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティー オブ アリゾナＴｈｅ Ａｒｉｚｏｎａ Ｂｏａｒｄ ｏｆ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｎ ｂｅｈａｌｆ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ａｒｉｚｏｎａ | 多波長平衡光送信ネットワーク |
-
1993
- 1993-12-02 JP JP30309393A patent/JP3231921B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017536750A (ja) * | 2014-10-14 | 2017-12-07 | ザ アリゾナ ボード オブ リージェンツ オン ビハーフ オブ ザ ユニバーシティー オブ アリゾナＴｈｅ Ａｒｉｚｏｎａ Ｂｏａｒｄ ｏｆ Ｒｅｇｅｎｔｓ ｏｎ ｂｅｈａｌｆ ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ ｏｆ Ａｒｉｚｏｎａ | 多波長平衡光送信ネットワーク |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3231921B2 (ja) | 2001-11-26 |
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