JPH0925167A - 濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結体 - Google Patents

濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結体

Info

Publication number
JPH0925167A
JPH0925167A JP33144795A JP33144795A JPH0925167A JP H0925167 A JPH0925167 A JP H0925167A JP 33144795 A JP33144795 A JP 33144795A JP 33144795 A JP33144795 A JP 33144795A JP H0925167 A JPH0925167 A JP H0925167A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum nitride
metal
metal layer
volume
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP33144795A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2999957B2 (ja
Inventor
Jon A Casey
ジョン・アルフレッド・ケイジー
Carla N Cordero
カルラ・ナタリア・コルデーロ
Benjamin V Fasano
ベンジャミン・ヴィト・ファザーノ
David B Goland
デーヴィット・ブライアン・ゴーランド
Robert Hannon
ロバート・ハノン
Jonathan H Harris
ジョナサン・エイチ・ハリス
Lester W Herron
レスター・ウィン・ヘロン
Gregory M Johnson
グレゴリー・マーヴィン・ジョンソン
Niranjan M Patel
ニランジャン・モハンラール・パテル
Andrew M Reitter
アンドリュー・マイケル・ライター
Subhash L Shinde
スバシュ・ラックスマン・シンデ
Rao V Vallabhaneni
ラーオ・ヴェンカテスワラ・ヴァッラバネニ
Robert A Youngman
ロバート・エイ・ヤングマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Unifrax 1 LLC
Original Assignee
Carborundum Co
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carborundum Co, International Business Machines Corp filed Critical Carborundum Co
Publication of JPH0925167A publication Critical patent/JPH0925167A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2999957B2 publication Critical patent/JP2999957B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/009After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone characterised by the material treated
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22FWORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F3/00Manufacture of workpieces or articles from metallic powder characterised by the manner of compacting or sintering; Apparatus specially adapted therefor ; Presses and furnaces
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22FWORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F7/00Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression
    • B22F7/02Manufacture of composite layers, workpieces, or articles, comprising metallic powder, by sintering the powder, with or without compacting wherein at least one part is obtained by sintering or compression of composite layers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/515Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
    • C04B35/58Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides
    • C04B35/581Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on borides, nitrides, i.e. nitrides, oxynitrides, carbonitrides or oxycarbonitrides or silicides based on aluminium nitride
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/45Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
    • C04B41/50Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements with inorganic materials
    • C04B41/51Metallising, e.g. infiltration of sintered ceramic preforms with molten metal
    • C04B41/5133Metallising, e.g. infiltration of sintered ceramic preforms with molten metal with a composition mainly composed of one or more of the refractory metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/45Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
    • C04B41/52Multiple coating or impregnating multiple coating or impregnating with the same composition or with compositions only differing in the concentration of the constituents, is classified as single coating or impregnation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/80After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
    • C04B41/81Coating or impregnation
    • C04B41/85Coating or impregnation with inorganic materials
    • C04B41/88Metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/80After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone of only ceramics
    • C04B41/81Coating or impregnation
    • C04B41/89Coating or impregnation for obtaining at least two superposed coatings having different compositions
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C29/00Alloys based on carbides, oxides, nitrides, borides, or silicides, e.g. cermets, or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides
    • C22C29/16Alloys based on carbides, oxides, nitrides, borides, or silicides, e.g. cermets, or other metal compounds, e.g. oxynitrides, sulfides based on nitrides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/486Via connections through the substrate with or without pins
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3731Ceramic materials or glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
    • H05K3/4061Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in inorganic insulating substrates
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B22CASTING; POWDER METALLURGY
    • B22FWORKING METALLIC POWDER; MANUFACTURE OF ARTICLES FROM METALLIC POWDER; MAKING METALLIC POWDER; APPARATUS OR DEVICES SPECIALLY ADAPTED FOR METALLIC POWDER
    • B22F2998/00Supplementary information concerning processes or compositions relating to powder metallurgy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2111/00Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
    • C04B2111/00241Physical properties of the materials not provided for elsewhere in C04B2111/00
    • C04B2111/00405Materials with a gradually increasing or decreasing concentration of ingredients or property from one layer to another
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C04CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04BLIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2111/00Mortars, concrete or artificial stone or mixtures to prepare them, characterised by specific function, property or use
    • C04B2111/00474Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00
    • C04B2111/00844Uses not provided for elsewhere in C04B2111/00 for electronic applications
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/035Paste overlayer, i.e. conductive paste or solder paste over conductive layer
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09818Shape or layout details not covered by a single group of H05K2201/09009 - H05K2201/09809
    • H05K2201/09981Metallised walls
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/245Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
    • H05K3/247Finish coating of conductors by using conductive pastes, inks or powders
    • H05K3/248Finish coating of conductors by using conductive pastes, inks or powders fired compositions for inorganic substrates
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4611Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards
    • H05K3/4626Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials
    • H05K3/4629Manufacturing multilayer circuits by laminating two or more circuit boards characterised by the insulating layers or materials laminating inorganic sheets comprising printed circuits, e.g. green ceramic sheets
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/901Printed circuit
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12014All metal or with adjacent metals having metal particles
    • Y10T428/12021All metal or with adjacent metals having metal particles having composition or density gradient or differential porosity
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12014All metal or with adjacent metals having metal particles
    • Y10T428/12028Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, etc.]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12014All metal or with adjacent metals having metal particles
    • Y10T428/12028Composite; i.e., plural, adjacent, spatially distinct metal components [e.g., layers, etc.]
    • Y10T428/12049Nonmetal component
    • Y10T428/12056Entirely inorganic
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/31504Composite [nonstructural laminate]
    • Y10T428/31678Of metal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Ceramic Products (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 濃度勾配を有する金属層を有する窒化アルミ
ニウム焼結体を提供する。 【解決手段】 窒化アルミニウム焼結体は、少なくとも
1個のバイアを有し、窒化アルミニウム焼結体に直接接
触する第1の層と、第1の層に直接接触し、これを完全
に封止する第2の層を有する。第1の層は、30〜60
体積%の窒化アルミニウムと、40〜70体積%のタン
グステンまたはモリブデンあるいはその両方を含み、第
2の層は、90〜100体積%のタングステンまたはモ
リブデンあるいはその両方と、0〜10体積%の窒化ア
ルミニウムを含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、窒化アルミニウム
焼結体、およびその製造方法に関するものであり、さら
に詳細には、濃度勾配のある金属構造体を有するフィー
チャとバイアを有する窒化アルミニウム焼結体、および
そのような窒化アルミニウム焼結体の製造方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】窒化アルミニウムは、熱伝導度が高く、
熱膨張率がシリコンと一致し、誘電率が低く(8.
5)、電気抵抗が高いため、最近電子パッケージング用
途向けに関心が持たれている。
【0003】本発明は特に、共焼成基板とも呼ばれる電
子パッケージに適する。共焼成プロセスの1つでは、窒
化アルミニウムを(窒化アルミニウム粒子と有機バイン
ダからなる)グリーンシートの形に形成し、バイアを打
ち抜き、(金属粒子と有機バインダからなる)金属ペー
ストをグリーンシート上とバイア中にスクリーン印刷し
または押し出し、そのグリーンシートを積み重ね、積層
してグリーン状態の基板を形成した後、グリーン状態の
基板を焼結して窒化アルミニウム層と金属構造体層を緻
密にする。「共焼成」とは、窒化アルミニウムの焼成と
同時に金属ペーストを焼成することを意味する。窒化ア
ルミニウム基板のメタライゼーション(metallizatio
n)、つまり金属構造体は通常タングステンであるが、
モリブデン、またはタングステンとモリブデンの混合物
でもよい。さらに、グリーンシートを使用して窒化アル
ミニウム焼結体を形成する代わりに、乾式圧縮を使用し
て窒化アルミニウム焼結体を形成することもできる。
【0004】タングステン金属構造体層を有する窒化ア
ルミニウムの共焼成には、窒化アルミニウムとタングス
テンの焼結挙動が一致することが必要である。これは、
窒化アルミニウムおよびタングステンの粉末に各種の焼
結助剤を導入することにより達成される。一般に、タン
グステン粉末は、窒化アルミニウムに比べて低温で焼結
が開始するので、タングステンに焼結助剤を添加する
と、タングステンの焼結開始が遅くなる。また、焼結助
剤を添加すると、タングステンの最終的な焼結密度が低
下することがあり、多孔性タングステンが生成する可能
性もある。この種の金属構造体層は、内部メタライゼー
ションには有用ではあるが、多孔質であるため、入出力
(I/O)パッドや表面メタライゼーションには使用す
ることができない。多孔質のメタライゼーションを使用
すると、基板が密封性でなくなり、入出力パッド形成後
の湿式工程で液体が基板に浸透し、基板の製造効率と性
能が低下することがあるため、好ましくない。外部メタ
ライゼーション用に、焼結すると高密度に(したがって
密封性に)なる純粋なタングステン粉末を使用すると、
タングステンの焼結が早期に起こって、窒化アルミニウ
ムが焼結して所期の密度が得られる前に窒化アルミニウ
ムとタングステンとの界面のはく離を生じ、接着強度が
きわめて低くなる。
【0005】このジレンマを解消するには、相互に依存
する2つの問題に対処しなければならない。すなわち、
適切な焼結助剤を選択することにより、共焼成中のタン
グステン金属層と窒化アルミニウムの収縮を一致させる
こと、およびタングステンの焼結を遅らせる焼結助剤が
存在しても、確実に完全に密なタングステンが得られる
ようにすることである。
【0006】現在に至るまで、この問題は解決されてい
ない。
【0007】Okano等の米国特許第4695517
号および第4800137号明細書は、窒化アルミニウ
ム本体と金属層との間の接着強度を増大するために、窒
化アルミニウム本体の上に複合層を設けることを提案し
ている。上記明細書では、窒化アルミニウム本体の上
に、タングステン(またはモリブデン)および窒化アル
ミニウムの層を設け、さらにタングステン(またはモリ
ブデン)の層を重ねたものが提案されている。上記発明
の発明者は、第1層が多孔質で、そのため密封されない
基板とならないように補償することが必要であることを
認めていないようである。第1のタングステン(または
モリブデン)および窒化アルミニウムの層が多孔質でな
くても、後のメッキが第1の層に完全に密着せず、メッ
キされた層全体が損傷を受けるため、タングステン(ま
たはモリブデン)の層を重ねて完全に被覆しなければな
らない。通常はメッキ層をタングステン(またはモリブ
デン)層の上に形成して、入出力ピンや配線の接着を容
易にする。
【0008】Sato等の欧州特許第0574956号
明細書では、タングステンまたはモリブデンと窒化チタ
ンを共焼成した中間層を設けた後、ニッケル・メッキな
どによって金属層を形成することを提案している。この
開示は参照により本明細書に組み込まれる。
【0009】Harada等の米国特許第498023
9号および第5096749号明細書には、窒化アルミ
ニウム基板上に、チタン、タングステンまたはモリブデ
ン、およびニッケルの薄膜層を順次重ねた複合層構造が
開示されている。その後、この複合構造を、チタン層と
窒化アルミニウム本体との間で反応が起こるのに十分な
温度に加熱して、金属層の密着性を改善する窒化アルミ
ニウム・チタンの中間層を得る。
【0010】Iio等の米国特許第4840853号お
よび第4892703号明細書は、アルミニウム、窒素
および酸素を含む中間層と、タングステンまたはモリブ
デンの金属層とを有する窒化アルミニウム構造体が提案
されている。この開示は参照により本明細書に組み込ま
れる。このような中間層は、金属層の接着強度を増大さ
せるために必要である。この明細書には、この構造をど
のように形成するかについては明らかにされていない。
【0011】基板の内部バイアには、別の問題がある。
純粋なタングステンまたはモリブデンが、バイアの内壁
に十分密着しないことである。バイア開口部内で金属バ
イアが浮き上がると、いわゆる「がたついたバイア」が
生じ、バイアの周囲に亀裂が発生することがある。した
がって、内部バイアには濃度勾配を有する金属層が有用
であることが認識された。
【0012】Knickerbocker等の米国特許
第5260519号明細書には、各層のバイアの組成
が、金属からセラミックと金属の混合物までの勾配を持
つ、多層/バイア構造が開示されている。この開示は参
照により本明細書に組み込まれる。しかし、1つのバイ
ア開口部のバイア組成に勾配を持たせることについては
教示されていない。
【0013】Dolhert等の米国特許第52002
49号明細書には、アルミニウム、窒化物およびタング
ステンまたはモリブデンの混合物からなる、窒化アルミ
ニウム基板用の密封性バイア組成が開示されている。こ
の開示は参照により本明細書に組み込まれる。
【0014】Panicker等の米国特許第4942
076号明細書には、アルミナ基板用の複合バイア組成
が開示されており、これは参照により本明細書に組み込
まれる。基板は、多孔質のバイアを形成するタングステ
ン・ペーストとともに焼成される。その後、多孔質のタ
ングステンに銅を含浸させる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上記の複合構造および
濃度勾配構造を得ようとする試みに鑑みて、本発明の1
目的は、入出力ピンの接着およびワイヤ・ボンディング
が十分な接着強度で可能な金属層構造を提供することに
ある。
【0016】本発明の他の目的は、外部環境に対して密
封性を有する金属層構造を提供することにある。
【0017】本発明のさらに他の目的は、特に複合バイ
アの形成に有用な金属層構造を提供することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の態様によ
れば、少なくとも1個のバイアを有する窒化アルミニウ
ム焼結体と、上記焼結体上に設けられ、上記バイアに直
接接触し、上記焼結体に直接接触する第1金属層と、上
記第1金属層に直接接触し、これを完全に封止する第2
金属層とを含む、濃度勾配を有する金属層とを含み、上
記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アルミニウム
と、40〜70体積%のタングステン、モリブデンおよ
びこれらの混合物からなるグループから選択した金属を
含み、上記第2金属層が、90〜100体積%のタング
ステン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグル
ープから選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミ
ニウムとを含むことを特徴とする、濃度勾配金属層を有
する窒化アルミニウム焼結体が提案される。
【0019】本発明の第2の態様によれば、少なくとも
1個のバイアを有する窒化アルミニウム焼結体を含み、
上記バイアが濃度勾配を有する金属層で充填され、上記
バイアの中央部を残して上記バイアの壁面に付着した第
1金属層と、上記バイアの中央部を充填する第2金属層
とを含み、上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化
アルミニウムと、40〜70体積%のタングステン、モ
リブデンおよびこれらの混合物からなるグループから選
択した金属を含み、上記第2金属層が、90〜100体
積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物
からなるグループから選択した金属と、0〜10体積%
の窒化アルミニウムとを含むことを特徴とする、濃度勾
配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体が提案され
る。
【0020】本発明の第3の態様によれば、少なくとも
1個のバイアを有する窒化アルミニウム未焼結体を形成
する工程と、上記バイアに近接し、上記窒化アルミニウ
ム未焼結体に直接接触する、固形分中に、30〜60体
積%の窒化アルミニウムと、40〜70体積%のタング
ステン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグル
ープから選択した金属とを含む第1金属ペースト層を形
成する工程と、上記第1金属ペースト層に直接接触し、
それを完全に封止する、固形分中に、90〜100体積
%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物か
らなるグループから選択した金属と、0〜10体積%の
窒化アルミニウムとを含む第2金属ペースト層を形成す
る工程と、上記窒化アルミニウム未焼結体と、上記第1
および第2の金属ペースト層を所定の温度で所定の時間
焼結して、濃度勾配を有する第1および第2の金属層を
含む高密度の窒化アルミニウム焼結体を、第2の金属層
が第1の金属層を完全に封止し、濃度勾配を有する金属
層が上記バイアに直接接触するように形成する工程とを
含む、濃度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体
の製造方法が提案される。
【0021】本発明の第4の態様によれば、少なくとも
1個のバイアを有する窒化アルミニウム未焼結体を形成
する工程と、上記バイアを、上記バイアの中央部を残し
て上記バイアの壁面に付着した第1金属ペースト層と、
上記少なくとも1個のバイアの中央部を充填する第2金
属ペースト層とを含む濃度勾配を有する金属ペーストで
充填する工程と、前記窒化アルミニウム未焼結体と上記
第1および第2の金属ペースト層を所定の温度で所定の
時間焼結して、少なくとも1個のバイアを有し、濃度勾
配を有する第1および第2の金属層を含む、高密度の窒
化アルミニウム焼結体を形成する工程とを含み、上記第
1金属ペースト層が、30〜60体積%の窒化アルミニ
ウムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデン
およびこれらの混合物からなるグループから選択した金
属とを含み、上記第2金属ペースト層が、90〜100
体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合
物からなるグループから選択した金属と、0〜10体積
%の窒化アルミニウムとを含むことを特徴とする、濃度
勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造方法
が提案される。
【0022】本発明の第5の態様によれば、少なくとも
2層の窒化アルミニウム焼結層と、上記少なくとも2層
の窒化アルミニウム焼結層の間に置かれた少なくとも1
個の金属フィーチャとを含み、上記金属フィーチャが、
30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜70体
積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物
からなるグループから選択した金属とを含むことを特徴
とする、多層窒化アルミニウム焼結体が提案される。
【0023】本発明の第6の態様によれば、窒化アルミ
ニウム焼結体と、上記焼結体上に設けられ、上記焼結体
と直接接触する、濃度勾配を有する金属層とを含み、上
記濃度勾配を有する金属層が、上記焼結体と直接接触す
る第1金属層と、上記第1金属層と直接接触し、これを
完全に封止する第2金属層とを含み、上記第1金属層
が、30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜7
0体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混
合物からなるグループから選択した金属とを含み、上記
第2金属層が、90〜100体積%のタングステン、モ
リブデンおよびこれらの混合物からなるグループから選
択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウムとを
含むことを特徴とする、密着する濃度勾配金属層を有す
る共焼成した窒化アルミニウム焼結体が提案される。
【0024】本発明の第7の態様によれば、窒化アルミ
ニウム未焼結体を形成する工程と、上記窒化アルミニウ
ム未焼結体に直接接触する、固形分中に、30〜60体
積%の窒化アルミニウムと、40〜70体積%のタング
ステン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグル
ープから選択した金属とを含む第1金属ペースト層を形
成する工程と、上記第1金属ペースト層に直接接触し、
これを完全に封止する、上記ペーストの固形分に対し
て、90〜100体積%のタングステン、モリブデンお
よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
と、0〜10体積%の窒化アルミニウムとを含む第2金
属ペースト層を形成する工程と、上記窒化アルミニウム
未焼結体と、上記第1および第2の金属ペースト層を所
定の温度で所定の時間焼結して、濃度勾配を有する第1
および第2の金属層を含み、上記第2金属層が上記第1
金属層を完全に封止し、上記濃度勾配を有する金属層が
上記窒化アルミニウム焼結体に直接接触し、これに密着
する、完全に密な共焼成した窒化アルミニウム焼結体を
形成する工程とを含む、密着する濃度勾配金属層を有す
る共焼成した窒化アルミニウム焼結体の製造方法が提案
される。
【0025】
【発明の実施の形態】図1を参照すると、図1で10に
よって示す、本発明による濃度勾配金属層を有する窒化
アルミニウム焼結体が開示される。この窒化アルミニウ
ム焼結体12は、少なくとも1個のバイア14を有す
る。この特定のバイア14の組成は、本発明のこの態様
には特に重要ではない。しかし、通常バイア14は、タ
ングステン、モリブデンまたはタングステンとモリブデ
ンの混合物を含み、バイアを高密度化するために、カル
シア、アルミナ、イットリアなどの焼結助剤を含有して
もよい。
【0026】窒化アルミニウム焼結体12の上には、濃
度勾配を有する金属層16があり、これはまたバイア1
4に接触する位置にある。図1に示すように、濃度勾配
を有する金属層16は、窒化アルミニウム焼結体12と
バイア14に直接接触する第1の金属層18と、第1の
金属層18に直接接触する第2の金属層20とを含む。
第2の金属層20はまた、第1の金属層18を完全に封
止する。
【0027】第1の金属層は、30〜60体積%の窒化
アルミニウムと、40〜70体積%のタングステン、モ
リブデンまたはタングステンとモリブデンの混合物、好
ましくはタングステンからなる。良好な接着のために
は、最低30体積%の窒化アルミニウムが必要であると
考えられる。これは、断裂する境界面を示す窒化アルミ
ニウム焼結体と第1の金属層18との境界面の金属組織
学的評価に基づくものである。第1の金属層18中の窒
化アルミニウムの量がこれより少ないと、おそらくこの
境界面の完全性が低下するものと考えられる。一方、第
1の金属層18中の窒化アルミニウムの量が60体積%
である境界面を金属組織学的に評価すると、非常に拡散
的な境界面であり、そのため接着が良好であることが示
される。ただし、第1の金属層18中の窒化アルミニウ
ムの量が60体積%を超えることは、導電性と、第2の
金属層20との接着が低下するため、望ましくない。窒
化アルミニウムのもっとも好ましい量は約55体積%
で、この場合、接着と導電性のバランスが最適になる。
さらに、第1の金属層は、必要ならば高密度化を助ける
ために、イットリア、カルシアなどの焼結助剤を含有し
てもよい。
【0028】第2の金属層20は、90〜100体積%
のタングステン、モリブデンまたはタングステンとモリ
ブデンの混合物、好ましくはタングステンと、0〜10
体積%の窒化アルミニウムとを含む。第2の金属層20
と第1の金属層18との密着性を増大するために、少量
の窒化アルミニウムを金属に添加することができる。第
2の金属層20は、100体積%のタングステンである
ことが好ましい。いずれの場合も、第2の金属層20は
焼結により、実質的に密封性を有する空隙のない状態と
なる。
【0029】濃度勾配を有する金属層16は、通常入出
力パッドまたはワイヤ・ボンディング・パッドに用いら
れる。したがって、濃度勾配を有する金属層16に、ニ
ッケルなどの金属をメッキすることにより、ワイヤまた
はピンのボンド・パッドへのはんだ付けまたはろう付け
を容易にすることができる。最も一般的な態様では、本
発明は、シール・バンド、リード・フレーム取り付け用
のランド、および表面メタライゼーションのために、窒
化アルミニウム焼結体上に、密着性の、濃度勾配を有す
る金属層を形成するのに用いることができる。後者の用
途では、バイアがなくても、あるいはバイアが濃度勾配
を有する金属層に電気的に接続されていなくてもよい。
この場合でも、濃度勾配を有する金属層16は、通常メ
ッキされる。
【0030】本発明では、第1の金属層18は、第2の
金属層20により完全に封止されていることが重要であ
る。これには2つの理由がある。第1の理由は、焼結中
に第1の金属層18に焼結助剤を添加しないと、第1の
金属層が多孔質となることがあるためである。窒化アル
ミニウム焼結体を、メッキのための湿式処理を含めて、
さらに加工している間に、第1の金属層が多孔質である
と水分または液体が浸入し、さらにバイアも多孔質であ
ることが多いので、基板の他の部分にも浸入することが
ある。このため、生産性にも信頼性にも問題を生じる。
第2の理由は、(第1の層が多孔質であるかどうかにか
かわらず)濃度勾配を有する金属層は、はんだ付けまた
はろう付けを容易にするために、通常はメッキされるか
らである。メッキは、第1の金属層18に良好に密着し
ないことがある。第1の金属層がたとえ小さい部分でも
メッキされずに露出していると、メッキ層全体の完全性
が悪影響を受けることがある。したがって、第2の金属
層20は、第1の金属層18を完全に封止しなければな
らない。
【0031】次に図2を参照すると、本発明の代替実施
例が示されている。図1と同様に、濃度勾配を有する窒
化アルミニウム焼結体が10'で示されている。濃度勾
配を有する金属層16'は、第1の金属層18'と第2の
金属層20'を含む。第1の金属層18'は、窒化アルミ
ニウム焼結体12と直接接触しているが、本実施例で
は、バイア14とは接触していない。第1の金属層1
8'は、ドーナツ形に、バイア14はドーナツの「穴」
形にすることができる。次に、第2の金属層20'は、
バイア14の上に、直接接触するように置かれる。第2
の金属層20'も、上述したのと同じ理由で第1の金属
層18'を完全に封止する。本発明の本実施例の利点
は、導電性の高い第2の金属層20'が、バイア14と
直接接触し、しかも第2の金属層20'の密着性が、第
1の金属層18'によって得られることである。
【0032】図1および図2の実施例は、下記の手順に
より形成することができる。窒化アルミニウムの未焼結
体を形成するが、これはモノリシックでも多層でもよ
い。次に、第1の金属ペーストの層を、この窒化アルミ
ニウムの未焼結体の上と、未焼結バイアの付近に付着さ
せる(シールボンドなどに使用する場合は、濃度勾配を
有する金属層は、バイアから離して形成してもよい。こ
の場合、必要条件は、濃度勾配を有する金属層を、窒化
アルミニウムの未焼結体の真上に形成することであ
る)。当業者には周知のように、金属ペーストは金属粒
子、バインダ、溶剤、可塑剤、およびその他の有機添加
剤で構成される。金属ペーストを付着させ、焼結する
と、溶剤および有機材料がペーストから除去され、残っ
た金属粒子が金属層の密度を高める。本明細書では、
「付近」の語は、バイアの上および近傍を意味するもの
とする。このように、第1の金属ペースト層を直接バイ
アの上に付着させて、図1に示す構造を得、またバイア
の周囲に(ただしバイアに直接接触しないように)付着
させて、図2に示す構造を得ることができる。第1の金
属ペースト層は、ペーストの固形分、すなわち溶剤、バ
インダ、およびその他の有機添加剤を除いたものに対し
て、30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜7
0体積%のタングステン、モリブデン、またはタングス
テンとモリブデンとの混合物、好ましくはタングステン
とを含む。
【0033】さらに、第1の金属ペースト層は、前述の
ような焼結助剤を含有してもよい。これらの焼結助剤に
は、たとえば当業者に周知のイットリア、カルシアなど
が含まれる。好ましい焼結助剤としては、米国特許出願
第08/173293号明細書に記載されたカルシア、
アルミナ、ボリアの混合物や、米国特許出願第08/1
72032号明細書に記載されたイットリアにカルシ
ア、アルミナ、ボリアの混合物を添加したものなどがあ
る。
【0034】次に、第2の金属ペースト層を、第1の金
属ペースト層の上に、第1の金属ペースト層を完全に封
止するように付着させる。第2の金属ペースト層の組成
は、ペーストの固形分に対して、90〜100体積%の
タングステン、モリブデン、またはタングステンとモリ
ブデンの混合物、好ましくはタングステンと、0〜10
体積%の窒化アルミニウムである。前と同様に、これら
の体積には、溶剤、バインダ、およびその他の有機添加
物は含まない。図1の実施例を形成するか、図2の実施
例を形成するかによって、第2の金属ペースト層がバイ
アに直接接触する場合としない場合がある。
【0035】次に、窒化アルミニウムの未焼結体と、第
1および第2の金属ペーストの層を所定の温度で所定の
時間焼結(共焼成)して、第1および第2の密着した金
属層を有する、完全に緻密な窒化アルミニウム焼結体を
形成する。このようにして形成した濃度勾配を有する金
属層を、窒化アルミニウム焼結体12のバイア14と直
接接触するように配置する。
【0036】焼結手順は、当業者が所期の微細構造およ
び物理的特性が得られるように、適宜選定することがで
きる。一般的には、保護雰囲気中である限り、窒化アル
ミニウムを従来の炉で焼結すればよい。好ましい雰囲気
は、生成ガスで、これは窒素ガスと水素ガスとの混合物
である。温度を約600℃まで徐々に上昇させて、バイ
ンダを熱分解させる。次に、温度を徐々に約1550〜
1650℃の焼結温度まで上昇させ、バインダが燃焼
し、高密度化が行われるまでその温度に保つ。最後に、
温度を徐々に室温まで下げる。
【0037】次に、図3を参照して、本発明の他の実施
例について説明する。窒化アルミニウム焼結体30は、
少なくとも1個の、32で示す濃度勾配を有する金属層
で充填したバイア38を有する。第1の金属層34は、
バイア38の壁面に密着しているが、バイア38の中央
部に開口部を残し、これは第2の金属層36で充填され
る。第1および第2の金属層34および36が、濃度勾
配を有する金属層32を構成する。第1および第2の金
属層34および36の組成は、上述のものと同じであ
る。
【0038】従来の技術では、バイアのメタライゼーシ
ョンはバイアの壁面に良好に密着せず、バイアに「が
た」を生じてバイア内で移動するため、バイアの周囲に
亀裂を生じることがあった。そこで、本発明の発明者
は、いくつかの利点を有する勾配を有する金属層をバイ
アに使用することを提案している。第1の利点は、バイ
アのがたが防止されることである。第2の利点は、第1
の金属層のバイア壁面への密着が良好なことである。第
3の利点は、第2の金属層が第1の金属層に密着して、
電力と信号を伝達するための、高導電性のコアを形成す
ることである。
【0039】図3の実施例は、未焼結の窒化アルミニウ
ムのバイアを、濃度勾配を有する金属ペーストで充填す
ることにより形成される。これは、まず第1の金属ペー
スト層の組成に相当する金属ペーストをバイアに塗布す
ることによって行う。この目的には、粘度の低いペース
トを使用する。次にこのペーストを乾燥させると、金属
ペーストの容積が収縮して、バイアの壁面だけに密着す
る。したがって、バイアの中央部はペーストがない状態
になる。次に、第1の金属ペースト層で充填されていな
いバイアの中央部を充填するように、第2の金属ペース
ト層の組成に相当する第2の金属ペーストをバイアに塗
布する。次に、未焼結の窒化アルミニウムと、濃度勾配
を有する金属ペーストを充填したバイアを、上述のよう
に焼結して、図3に示すような構造を得る。
【0040】次に図4を参照して、本発明の最後の実施
例について説明する。40は、多層窒化アルミニウム焼
結体を示す。見やすくするために、焼結体40の各層を
離して示す。多層窒化アルミニウム焼結体40は、少な
くとも2層の窒化アルミニウム焼結層42および44
と、この2層の窒化アルミニウム焼結層42と44の間
に置かれた少なくとも1層の金属フィーチャ46とを含
む。この金属フィーチャ46の組成は、30〜60体積
%の窒化アルミニウムと、40〜70体積%のタングス
テン、モリブデン、またはタングステンとモリブデンと
の混合物、好ましくはタングステンである。金属フィー
チャ46は、焼結層44中のバイア50を焼結層42中
のバイア48と接続するための配線とすることができ
る。さらに、金属フィーチャ46は、図3に示す濃度勾
配を有する金属層で充填したバイアとともに使用するこ
ともできる。別法として、金属フィーチャ46は、電力
面または接地面を形成するものでもよい。電力面および
接地面は、単一の層にかなりの量のメタライゼーション
を含み、セラミック層との接着が良くないためにはく離
することがある。電力面または接地面あるいはその両方
を、金属フィーチャ46の組成にすることにより、電力
面または接地面あるいはその両方の電気特性を著しく損
なうことなく、接着を良好にすることができる。
【0041】
【実施例】はく離試験結果 6枚の窒化アルミニウム多層基板を作成した。各基板
は、3重量%のイットリア(粒子径1〜5μm)、1重
量%のカルシア・アルミナ・ボリア・ガラス(粒子径4
〜8μm)、残部を窒化アルミニウム(粒径1〜1.5
μm)で構成した。各基板にペーストをスクリーン印刷
して、9個のパッドを形成した。基板のうち、4枚には
第1および第2のタングステン(粒径1〜3μm)金属
ペースト(表にはペーストIおよびIIで示す)をそれ
ぞれスクリーン印刷した。2枚の基板には、第2の金属
ペースト(ペーストII)のみをスクリーン印刷した。
一般に、イットリア、カルシア・アルミナ・ボリア・ガ
ラス、窒化アルミニウム、金属粒子とも、粒径が小さい
ほど高密度化には好ましい。
【0042】バインダを燃焼させた後、基板を1600
℃で10〜28時間焼結した。次に、Cu/Snはんだ
(銅66重量%、すず34重量%)でワイヤをパッドに
はんだ付けし、パッドに対して90°の角度で引っ張り
試験を行った。
【0043】第1および第2の金属層(ペーストIおよ
びII)を含む基板の平均はく離負荷は、1.6〜1.
9kgであった。はく離はすべてはんだとパッドとの間
で生じ、パッドとセラミックの間では、はく離は生じな
かった。
【0044】第2の金属層(ペーストII)のみを有す
る基板のはく離負荷は0.5〜0.6kgであった。は
く離はすべてセラミックとパッドとの境界面で生じ、こ
れはきわめて望ましくない。
【表1】
【0045】入出力ピン引っ張り試験結果 各基板に168個の入出力パッドをスクリーン印刷した
以外は上記と同様の方法で、さらに6枚の基板を作成し
た。上記と同様に、基板のうち、4枚には第1および第
2の金属ペースト(表にはそれぞれペーストIおよびI
Iで示す)をスクリーン印刷し、2枚の基板には、第2
の金属ペースト(ペーストII)のみをスクリーン印刷
した。
【0046】上記と同様に焼結した後、入出力ピンをC
u/Agろうでパッドにろう付けした。次に、ピンをパ
ッドに対して70°の角度で引っ張り試験を行った。
【0047】その結果、第1および第2の金属層を有す
る基板は、パッドのはく離を生じなかった。はく離はす
べてピン・シャンクで生じ、8.2kgではく離した。
第2の金属層のみを有する基板は、2.2〜8.2kg
ではく離し、パッドの1〜2%は、パッドではく離し
た。
【0048】Zyglo浸透試験結果 上記基板数枚をZyglo浸透剤に露出した後切断し
た。第1および第2の金属層を有する基板は、Zygl
oが浸透しなかったが、第2の金属層のみを有する基板
は、セラミックとパッドの境界面でZygloが浸透
し、焼結中に部分的なはく離が生じることが示された。
【0049】これらの結果により、タングステンまたは
モリブデンの単一層を使用するより、濃度勾配を有する
金属層を使用するほうが有利であることがわかった。
【0050】本発明は、これらの実施例以外にも、本発
明の原理から逸脱することなく、他の変更態様を実施す
ることができることは、当業者には明白である。したが
って、このような変更態様は、本発明の範囲内であると
見なされる。
【0051】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
【0052】(1)少なくとも1個のバイアを有する窒
化アルミニウム焼結体と、上記焼結体上に設けられ、上
記バイアに直接接触する濃度勾配を有する金属層とを含
み、上記濃度勾配金属層は、上記焼結体に直接接触する
第1金属層と、上記第1金属層に直接接触し、これを完
全に封止する第2金属層とを含み、上記第1金属層が、
30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜70体
積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物
からなるグループから選択した金属を含み、上記第2金
属層が、90〜100体積%のタングステン、モリブデ
ンおよびこれらの混合物からなるグループから選択した
金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウムとを含むこ
とを特徴とする、濃度勾配金属層を有する窒化アルミニ
ウム焼結体。 (2)上記第1金属層が、上記バイアと直接接触するこ
とを特徴とする、上記(1)1に記載の窒化アルミニウ
ム焼結体。 (3)上記第1金属層が、上記バイアの周囲に位置する
が、接触はせず、上記第2金属層が、上記バイアと直接
接触することを特徴とする、上記(1)に記載の窒化ア
ルミニウム焼結体。 (4)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含むことを
特徴とする、上記(1)に記載の窒化アルミニウム焼結
体。 (5)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(1)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (6)上記第2金属層が、100体積%の金属であるこ
とを特徴とする、上記(1)に記載の窒化アルミニウム
焼結体。 (7)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(6)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (8)少なくとも1個のバイアを有する窒化アルミニウ
ム焼結体を含み、上記バイアが濃度勾配を有する金属層
で充填され、上記濃度勾配を有する金属層が、上記バイ
アの中央部を残して上記バイアの壁面に付着する第1金
属層と、上記バイアの中央部を充填する第2金属層とを
含み、上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アル
ミニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリブ
デンおよびこれらの混合物からなるグループから選択し
た金属を含み、上記第2金属層が、90〜100体積%
のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物から
なるグループから選択した金属と、0〜10体積%の窒
化アルミニウムとを含むことを特徴とする、濃度勾配金
属層を有する窒化アルミニウム焼結体。 (9)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含むことを
特徴とする、上記(8)に記載の窒化アルミニウム焼結
体。 (10)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(8)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (11)上記第2金属層が、100体積%の金属である
ことを特徴とする、上記(8)に記載の窒化アルミニウ
ム焼結体。 (12)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(11)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (13)上記窒化アルミニウム焼結体が、少なくとも2
層の窒化アルミニウム焼結層を含み、さらに上記少なく
とも2層の窒化アルミニウム焼結層の間に置かれ、かつ
上記少なくとも1個のバイアに接触する少なくとも1個
の金属フィーチャを含み、上記金属フィーチャが、30
〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜70体積%
のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物から
なるグループから選択した金属とを含むことを特徴とす
る、上記(8)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (14)少なくとも1個のバイアを有する窒化アルミニ
ウム未焼結体を形成する工程と、上記バイアに近接し、
上記窒化アルミニウム未焼結体に直接接触する、固形分
中に、30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜
70体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの
混合物からなるグループから選択した金属とを含む第1
金属ペースト層を形成する工程と、上記第1金属ペース
ト層に直接接触し、それを完全に封止する、固形分中
に、90〜100体積%のタングステン、モリブデンお
よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
と、0〜10体積%の窒化アルミニウムとを含む、第2
金属ペースト層を形成する工程と、上記窒化アルミニウ
ム未焼結体と、上記第1および第2の金属ペースト層を
所定の温度で所定の時間焼結して、濃度勾配を有する金
属層を含む高密度の窒化アルミニウム焼結体を形成する
工程とを含み、上記濃度勾配金属層は、第1および第2
の金属層を含み、上記第2金属層が上記第1金属層を完
全に封止し、さらに上記濃度勾配金属層が上記バイアに
直接接触するように形成されることを特徴とする、濃度
勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造方
法。 (15)上記第1金属層が、上記バイアと直接接触する
ことを特徴とする、上記(14)に記載の方法。 (16)上記第1金属層が、上記バイアの周囲に位置す
るが、接触はせず、上記第2金属層が、上記バイアと直
接接触することを特徴とする、上記(14)に記載の方
法。 (17)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含むこと
を特徴とする、上記(14)に記載の方法。 (18)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(14)に記載の方法。 (19)上記第2金属層が、100体積%の金属である
ことを特徴とする、上記(14)に記載の方法。 (20)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(19)に記載の方法。 (21)少なくとも1個のバイアを有する窒化アルミニ
ウム未焼結体を形成する工程と、上記バイアを、上記バ
イアの中央部を残して上記バイアの壁面に付着する第1
金属ペースト層と、上記バイアの中央部を充填する第2
金属ペースト層とを含む濃度勾配を有する金属ペースト
で充填する工程と、前記窒化アルミニウム未焼結体と上
記第1および第2の金属ペースト層を所定の温度で所定
の時間焼結して、少なくとも1個のバイアを有し、濃度
勾配を有する第1および第2の金属層を含む、高密度の
窒化アルミニウム焼結体を形成する工程とを含み、上記
第1金属ペースト層が、30〜60体積%の窒化アルミ
ニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデ
ンおよびこれらの混合物からなるグループから選択した
金属とを含み、上記第2金属ペースト層が、90〜10
0体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混
合物からなるグループから選択した金属と、0〜10体
積%の窒化アルミニウムとを含むことを特徴とする、濃
度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造方
法。 (22)上記充填工程が、上記第1金属ペースト層を、
上記バイアを充填するように上記バイアに塗布する工程
と、上記バイア中の上記第1金属ペースト層を乾燥し
て、上記第1金属ペースト層の体積を収縮させ、上記バ
イアの壁面にのみ付着させ、上記バイアの中央部を上記
第1金属ペースト層がないように残す工程と、上記第2
金属ペースト層を、上記バイアを充填するように上記バ
イアと、上記第1金属ペースト層の上に塗布する工程と
を含むことを特徴とする、上記(21)に記載の方法。 (23)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有するこ
とを特徴とする、上記(21)に記載の方法。 (24)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(21)に記載の方法。 (25)上記第2金属層が、100体積%の金属である
ことを特徴とする、上記(21)に記載の方法。 (26)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(25)に記載の方法。 (27)少なくとも2層の窒化アルミニウム焼結層と、
上記少なくとも2層の窒化アルミニウム焼結層の間に置
かれた少なくとも1個の金属フィーチャとを含み、上記
金属フィーチャが、30〜60体積%の窒化アルミニウ
ムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデンお
よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
とを含むことを特徴とする、多層窒化アルミニウム焼結
体。 (28)上記少なくとも2層の窒化アルミニウム焼結層
がそれぞれ少なくとも1個のバイアを有し、上記少なく
とも1個の金属フィーチャが上記バイアを接続すること
を特徴とする、上記(27)に記載の窒化アルミニウム
焼結体。 (29)上記金属フィーチャが、電力面または接地面で
あることを特徴とする、上記(27)に記載の窒化アル
ミニウム焼結体。 (30)窒化アルミニウム焼結体と、上記焼結体上に設
けられ、上記焼結体と直接接触する、濃度勾配を有する
金属層とを含み、上記濃度勾配を有する金属層が、上記
焼結体と直接接触する第1金属層と、上記第1金属層と
直接接触し、これを完全に封止する第2金属層とを含
み、上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アルミ
ニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデ
ンおよびこれらの混合物からなるグループから選択した
金属とを含み、上記第2金属層が、90〜100体積%
のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物から
なるグループから選択した金属と、0〜10体積%の窒
化アルミニウムとを含むことを特徴とする、密着する濃
度勾配金属層を有する共焼成した窒化アルミニウム焼結
体。 (31)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有するこ
とを特徴とする、上記(30)に記載の窒化アルミニウ
ム焼結体。 (32)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(30)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (33)上記第2金属層が、100体積%の金属である
ことを特徴とする、上記(30)に記載の窒化アルミニ
ウム焼結体。 (34)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(33)に記載の窒化アルミニウム焼結体。 (35)窒化アルミニウム未焼結体を形成する工程と、
上記窒化アルミニウム未焼結体に直接接触する、固形分
中に、30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜
70体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの
混合物からなるグループから選択した金属とを含む第1
金属ペースト層を形成する工程と、上記第1金属ペース
ト層に直接接触し、これを完全に封止する、固形分中
に、90〜100体積%のタングステン、モリブデンお
よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
と、0〜10体積%の窒化アルミニウムとを含む第2金
属ペースト層を形成する工程と、上記窒化アルミニウム
未焼結体と、上記第1および第2金属ペースト層を所定
の温度で所定の時間焼結して、濃度勾配を有する金属層
を含む高密度の共焼成した窒化アルミニウム焼結体を形
成する工程とを含み、上記濃度勾配金属層は、第1およ
び第2の金属層を含み、上記第2金属層が上記第1金属
層を完全に封止し、上記濃度勾配を有する金属層が上記
窒化アルミニウム焼結体に直接接触し、これに密着する
ことを特徴とする、密着する濃度勾配金属層を有する共
焼成した窒化アルミニウム焼結体の製造方法。 (36)上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有するこ
とを特徴とする、上記(35)に記載の方法。 (37)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(35)に記載の方法。 (38)上記第2金属層が、100体積%の金属である
ことを特徴とする、上記(35)に記載の方法。 (39)上記金属がタングステンであることを特徴とす
る、上記(38)に記載の方法。
【図面の簡単な説明】
【図1】窒化アルミニウム焼結体が、入出力パッド用の
濃度勾配を有する金属層を有し、下部層がバイアと接触
する、本発明の1実施例を示す断面図である。
【図2】窒化アルミニウム焼結体が、入出力パッド用の
濃度勾配を有する金属層を有し、上部層がバイアと接触
する、本発明の他の実施例を示す断面図である。
【図3】バイアの密着性と導電性を良好にするために、
2層の異なる金属層を単一のバイア中に設けた、本発明
の他の実施例を示す断面図である。
【図4】本発明による組成の金属フィーチャを、2層の
窒化アルミニウム焼結層の間に設けた、本発明の他の実
施例を示す断面図である。
【符号の説明】
10、10' 濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結
体 12 窒化アルミニウム焼結体 14 バイア 16、16' 濃度勾配を有する金属層 18、18' 第1金属層 20、20' 第2金属層 30 窒化アルミニウム焼結体 32 濃度勾配を有する金属層 34 第1金属層 36 第2金属層 38 バイア 42、44 窒化アルミニウム焼結層 46 金属フィーチャ 48、50 バイア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 595178690 カルボランダム・カンパニー アメリカ合衆国14303、ニューヨーク州ナ イアガラ・フォールズ、サード・ストリー ト 345 (72)発明者 ジョン・アルフレッド・ケイジー アメリカ合衆国12603 ニューヨーク州ポ ーキープシー ニュー・ハッケンザック・ ロード 349 (72)発明者 カルラ・ナタリア・コルデーロ アメリカ合衆国12590 ニューヨーク州ワ ッピンガーズ・フォールズ ケント・ロー ド 98 (72)発明者 ベンジャミン・ヴィト・ファザーノ アメリカ合衆国12553 ニューヨーク州ニ ュー・ウィンザー ウィンディー・ヒル・ ロード 30 (72)発明者 デーヴィット・ブライアン・ゴーランド アメリカ合衆国10520 ニューヨーク州ク ロトンシーニック・ドライブ アパートメ ント 22・イー (72)発明者 ロバート・ハノン アメリカ合衆国12590 ニューヨーク州ワ ッピンガーズ・フォールズ ロビン・レー ン 9 (72)発明者 ジョナサン・エイチ・ハリス アメリカ合衆国85259 アリゾナ州スコッ ツデールイースト・ブルームフィールド 13431 (72)発明者 レスター・ウィン・ヘロン アメリカ合衆国12533 ニューヨーク州ホ ープウェル・ジャンクション インスブル ック・ブールバード 12 (72)発明者 グレゴリー・マーヴィン・ジョンソン アメリカ合衆国12603 ニューヨーク州ポ ーキープシー チェリー・ヒル 410 (72)発明者 ニランジャン・モハンラール・パテル アメリカ合衆国12590 ニューヨーク州ワ ッピンガーズ・フォールズ カーナビー・ ストリート 16・エイ (72)発明者 アンドリュー・マイケル・ライター アメリカ合衆国12601 ニューヨーク州ポ ーキープシー デビー・コート 4 (72)発明者 スバシュ・ラックスマン・シンデ アメリカ合衆国10520 ニューヨーク州ク ロトン・オン・ハドソン ハーフ・ムー ン・ベイ・ドライブ 518 (72)発明者 ラーオ・ヴェンカテスワラ・ヴァッラバネ ニ アメリカ合衆国12533 ニューヨーク州ワ ッピンガーズ・フォールズ アルパイン・ ドライブ 25・エイ (72)発明者 ロバート・エイ・ヤングマン アメリカ合衆国10520 アリゾナ州パラダ イス・バレー エコー・キャニオン・レー ン 5804

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】少なくとも1個のバイアを有する窒化アル
    ミニウム焼結体と、 上記焼結体上に設けられ、上記バイアに直接接触する濃
    度勾配を有する金属層とを含み、 上記濃度勾配金属層は、上記焼結体に直接接触する第1
    金属層と、上記第1金属層に直接接触し、これを完全に
    封止する第2金属層とを含み、 上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アルミニウ
    ムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデンお
    よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
    を含み、 上記第2金属層が、90〜100体積%のタングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグループ
    から選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウ
    ムとを含むことを特徴とする、 濃度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体。
  2. 【請求項2】上記第1金属層が、上記バイアと直接接触
    することを特徴とする、請求項1に記載の窒化アルミニ
    ウム焼結体。
  3. 【請求項3】上記第1金属層が、上記バイアの周囲に位
    置するが、接触はせず、上記第2金属層が、上記バイア
    と直接接触することを特徴とする、請求項1に記載の窒
    化アルミニウム焼結体。
  4. 【請求項4】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含む
    ことを特徴とする、請求項1に記載の窒化アルミニウム
    焼結体。
  5. 【請求項5】少なくとも1個のバイアを有する窒化アル
    ミニウム焼結体を含み、 上記バイアが濃度勾配を有する金属層で充填され、上記
    濃度勾配を有する金属層が、上記バイアの中央部を残し
    て上記バイアの壁面に付着する第1金属層と、上記バイ
    アの中央部を充填する第2金属層とを含み、 上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アルミニウ
    ムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデンお
    よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
    を含み、 上記第2金属層が、90〜100体積%のタングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグループ
    から選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウ
    ムとを含むことを特徴とする、 濃度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体。
  6. 【請求項6】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含む
    ことを特徴とする、請求項5に記載の窒化アルミニウム
    焼結体。
  7. 【請求項7】上記窒化アルミニウム焼結体が、少なくと
    も2層の窒化アルミニウム焼結層を含み、さらに上記少
    なくとも2層の窒化アルミニウム焼結層の間に置かれ、
    かつ上記少なくとも1個のバイアに接触する少なくとも
    1個の金属フィーチャを含み、上記金属フィーチャが、
    30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜70体
    積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの混合物
    からなるグループから選択した金属とを含むことを特徴
    とする、請求項5に記載の窒化アルミニウム焼結体。
  8. 【請求項8】少なくとも1個のバイアを有する窒化アル
    ミニウム未焼結体を形成する工程と、 上記バイアに近接し、上記窒化アルミニウム未焼結体に
    直接接触する、固形分中に、30〜60体積%の窒化ア
    ルミニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリ
    ブデンおよびこれらの混合物からなるグループから選択
    した金属とを含む第1金属ペースト層を形成する工程
    と、 上記第1金属ペースト層に直接接触し、それを完全に封
    止する、固形分中に、90〜100体積%のタングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグループ
    から選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウ
    ムとを含む、第2金属ペースト層を形成する工程と、 上記窒化アルミニウム未焼結体と、上記第1および第2
    の金属ペースト層を所定の温度で所定の時間焼結して、
    濃度勾配を有する金属層を含む高密度の窒化アルミニウ
    ム焼結体を形成する工程とを含み、 上記濃度勾配金属層は、第1および第2の金属層を含
    み、上記第2金属層が上記第1金属層を完全に封止し、
    さらに上記濃度勾配金属層が上記バイアに直接接触する
    ように形成されることを特徴とする、 濃度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造
    方法。
  9. 【請求項9】上記第1金属層が、上記バイアと直接接触
    することを特徴とする、請求項8に記載の方法。
  10. 【請求項10】上記第1金属層が、上記バイアの周囲に
    位置するが、接触はせず、上記第2金属層が、上記バイ
    アと直接接触することを特徴とする、請求項8に記載の
    方法。
  11. 【請求項11】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を含
    むことを特徴とする、請求項8に記載の方法。
  12. 【請求項12】少なくとも1個のバイアを有する窒化ア
    ルミニウム未焼結体を形成する工程と、 上記バイアを、上記バイアの中央部を残して上記バイア
    の壁面に付着する第1金属ペースト層と、上記バイアの
    中央部を充填する第2金属ペースト層とを含む濃度勾配
    を有する金属ペーストで充填する工程と、 前記窒化アルミニウム未焼結体と上記第1および第2の
    金属ペースト層を所定の温度で所定の時間焼結して、少
    なくとも1個のバイアを有し、濃度勾配を有する第1お
    よび第2の金属層を含む、高密度の窒化アルミニウム焼
    結体を形成する工程とを含み、 上記第1金属ペースト層が、30〜60体積%の窒化ア
    ルミニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリ
    ブデンおよびこれらの混合物からなるグループから選択
    した金属とを含み、 上記第2金属ペースト層が、90〜100体積%のタン
    グステン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグ
    ループから選択した金属と、0〜10体積%の窒化アル
    ミニウムとを含むことを特徴とする、 濃度勾配金属層を有する窒化アルミニウム焼結体の製造
    方法。
  13. 【請求項13】上記充填工程が、 上記第1金属ペースト層を、上記バイアを充填するよう
    に上記バイアに塗布する工程と、 上記バイア中の上記第1金属ペースト層を乾燥して、上
    記第1金属ペースト層の体積を収縮させ、上記バイアの
    壁面にのみ付着させ、上記バイアの中央部を上記第1金
    属ペースト層がないように残す工程と、 上記第2金属ペースト層を、上記バイアを充填するよう
    に上記バイアと、上記第1金属ペースト層の上に塗布す
    る工程とを含むことを特徴とする、 請求項12に記載の方法。
  14. 【請求項14】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有
    することを特徴とする、請求項12に記載の方法。
  15. 【請求項15】少なくとも2層の窒化アルミニウム焼結
    層と、 上記少なくとも2層の窒化アルミニウム焼結層の間に置
    かれた少なくとも1個の金属フィーチャとを含み、 上記金属フィーチャが、30〜60体積%の窒化アルミ
    ニウムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデ
    ンおよびこれらの混合物からなるグループから選択した
    金属とを含むことを特徴とする、 多層窒化アルミニウム焼結体。
  16. 【請求項16】上記少なくとも2層の窒化アルミニウム
    焼結層がそれぞれ少なくとも1個のバイアを有し、上記
    少なくとも1個の金属フィーチャが上記バイアを接続す
    ることを特徴とする、請求項15に記載の窒化アルミニ
    ウム焼結体。
  17. 【請求項17】窒化アルミニウム焼結体と、 上記焼結体上に設けられ、上記焼結体と直接接触する、
    濃度勾配を有する金属層とを含み、上記濃度勾配を有す
    る金属層が、上記焼結体と直接接触する第1金属層と、
    上記第1金属層と直接接触し、これを完全に封止する第
    2金属層とを含み、 上記第1金属層が、30〜60体積%の窒化アルミニウ
    ムと、40〜70体積%のタングステン、モリブデンお
    よびこれらの混合物からなるグループから選択した金属
    とを含み、 上記第2金属層が、90〜100体積%のタングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグループ
    から選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウ
    ムとを含むことを特徴とする、 密着する濃度勾配金属層を有する共焼成した窒化アルミ
    ニウム焼結体。
  18. 【請求項18】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有
    することを特徴とする、請求項17に記載の窒化アルミ
    ニウム焼結体。
  19. 【請求項19】窒化アルミニウム未焼結体を形成する工
    程と、 上記窒化アルミニウム未焼結体に直接接触する、固形分
    中に、30〜60体積%の窒化アルミニウムと、40〜
    70体積%のタングステン、モリブデンおよびこれらの
    混合物からなるグループから選択した金属とを含む第1
    金属ペースト層を形成する工程と、 上記第1金属ペースト層に直接接触し、これを完全に封
    止する、固形分中に、90〜100体積%のタングステ
    ン、モリブデンおよびこれらの混合物からなるグループ
    から選択した金属と、0〜10体積%の窒化アルミニウ
    ムとを含む第2金属ペースト層を形成する工程と、 上記窒化アルミニウム未焼結体と、上記第1および第2
    金属ペースト層を所定の温度で所定の時間焼結して、濃
    度勾配を有する金属層を含む高密度の共焼成した窒化ア
    ルミニウム焼結体を形成する工程とを含み、 上記濃度勾配金属層は、第1および第2の金属層を含
    み、上記第2金属層が上記第1金属層を完全に封止し、
    上記濃度勾配を有する金属層が上記窒化アルミニウム焼
    結体に直接接触し、これに密着することを特徴とする、 密着する濃度勾配金属層を有する共焼成した窒化アルミ
    ニウム焼結体の製造方法。
  20. 【請求項20】上記第1金属層が、さらに焼結助剤を有
    することを特徴とする、請求項19に記載の方法。
JP33144795A 1994-12-21 1995-12-20 濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結体 Expired - Fee Related JP2999957B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US361351 1994-12-21
US08/361,351 US5552232A (en) 1994-12-21 1994-12-21 Aluminum nitride body having graded metallurgy

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0925167A true JPH0925167A (ja) 1997-01-28
JP2999957B2 JP2999957B2 (ja) 2000-01-17

Family

ID=23421694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33144795A Expired - Fee Related JP2999957B2 (ja) 1994-12-21 1995-12-20 濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結体

Country Status (6)

Country Link
US (4) US5552232A (ja)
JP (1) JP2999957B2 (ja)
KR (1) KR0170564B1 (ja)
CN (1) CN1043462C (ja)
MY (2) MY139408A (ja)
SG (1) SG34299A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4567179B2 (ja) * 2000-12-05 2010-10-20 日本特殊陶業株式会社 セラミック基板及びセラミック基板の製造方法
WO2019065464A1 (ja) * 2017-09-28 2019-04-04 京セラ株式会社 構造体

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08139315A (ja) * 1994-11-09 1996-05-31 Mitsubishi Electric Corp Mosトランジスタ、半導体装置及びそれらの製造方法
US5552232A (en) * 1994-12-21 1996-09-03 International Business Machines Corporation Aluminum nitride body having graded metallurgy
CA2232517C (en) * 1997-03-21 2004-02-17 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha .) Functionally gradient material and method for producing the same
US6124635A (en) * 1997-03-21 2000-09-26 Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha Functionally gradient integrated metal-ceramic member and semiconductor circuit substrate application thereof
US6004624A (en) 1997-07-02 1999-12-21 International Business Machines Corporation Method for the controlling of certain second phases in aluminum nitride
US6013876A (en) * 1998-01-23 2000-01-11 General Instrument Corporation Method and device for electrically connecting circuits to opposite surfaces of a printed circuit board
US6114048A (en) * 1998-09-04 2000-09-05 Brush Wellman, Inc. Functionally graded metal substrates and process for making same
US6270601B1 (en) 1998-11-02 2001-08-07 Coorstek, Inc. Method for producing filled vias in electronic components
US6136419A (en) * 1999-05-26 2000-10-24 International Business Machines Corporation Ceramic substrate having a sealed layer
US6187418B1 (en) 1999-07-19 2001-02-13 International Business Machines Corporation Multilayer ceramic substrate with anchored pad
AU7169100A (en) * 1999-11-19 2001-05-24 Gorokhovsky, Vladimir Temperature regulator for a substrate in vapour deposition processes
US6684759B1 (en) 1999-11-19 2004-02-03 Vladimir Gorokhovsky Temperature regulator for a substrate in vapor deposition processes
US6871700B2 (en) * 2000-11-17 2005-03-29 G & H Technologies Llc Thermal flux regulator
US6900395B2 (en) * 2002-11-26 2005-05-31 International Business Machines Corporation Enhanced high-frequency via interconnection for improved reliability
EP1811820B1 (en) * 2004-11-12 2012-08-15 Tokuyama Corporation Process for producing metallized aluminum nitride substrate and substrate obtained thereby
JPWO2008081758A1 (ja) * 2006-12-28 2010-04-30 株式会社トクヤマ 窒化アルミニウムメタライズド基板の製造方法
DE102014112365A1 (de) * 2014-08-28 2016-03-03 Epcos Ag Verfahren zur Herstellung eines Mehrschichtsubstrats und Mehrschichtsubstrat

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55133597A (en) * 1979-04-06 1980-10-17 Hitachi Ltd Multilayer circuit board
US4695517A (en) * 1985-05-31 1987-09-22 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Composite layer aluminum nitride base sintered body
US4770953A (en) * 1986-02-20 1988-09-13 Kabushiki Kaisha Toshiba Aluminum nitride sintered body having conductive metallized layer
JPS62207789A (ja) * 1986-03-08 1987-09-12 日本特殊陶業株式会社 窒化アルミニウム製基材の表面構造及びその製造法
US4883704A (en) * 1987-03-30 1989-11-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Circuit substrate comprising nitride type ceramics, method for preparing it, and metallizing composition for use in it
US4861641A (en) * 1987-05-22 1989-08-29 Ceramics Process Systems Corporation Substrates with dense metal vias
JP2544398B2 (ja) * 1987-08-27 1996-10-16 富士通株式会社 A1nセラミックスのメタライズ方法
EP0331500B1 (en) * 1988-03-04 1993-01-07 Kabushiki Kaisha Toshiba Brazing paste for bonding metal and ceramic
JPH0679995B2 (ja) * 1988-08-18 1994-10-12 株式会社村田製作所 AlN基板のWメタライズ構造
US5089881A (en) * 1988-11-03 1992-02-18 Micro Substrates, Inc. Fine-pitch chip carrier
US4942076A (en) * 1988-11-03 1990-07-17 Micro Substrates, Inc. Ceramic substrate with metal filled via holes for hybrid microcircuits and method of making the same
JP2765885B2 (ja) * 1988-11-14 1998-06-18 新光電気工業株式会社 窒化アルミニウム回路基板及びその製造方法
US5290375A (en) * 1989-08-05 1994-03-01 Nippondenso Co., Ltd. Process for manufacturing ceramic multilayer substrate
US5200249A (en) * 1990-08-15 1993-04-06 W. R. Grace & Co.-Conn. Via metallization for AlN ceramic electronic package
US5340947A (en) * 1992-06-22 1994-08-23 Cirqon Technologies Corporation Ceramic substrates with highly conductive metal vias
US5336928A (en) * 1992-09-18 1994-08-09 General Electric Company Hermetically sealed packaged electronic system
US5260519A (en) * 1992-09-23 1993-11-09 International Business Machines Corporation Multilayer ceramic substrate with graded vias
US5424261A (en) * 1993-12-22 1995-06-13 The Carborundum Company Low temperature sintering route for aluminum nitride ceramics
US5482903A (en) * 1993-12-22 1996-01-09 International Business Machines Corporation Aluminum nitride body utilizing a vitreous sintering additive
US5552232A (en) * 1994-12-21 1996-09-03 International Business Machines Corporation Aluminum nitride body having graded metallurgy

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4567179B2 (ja) * 2000-12-05 2010-10-20 日本特殊陶業株式会社 セラミック基板及びセラミック基板の製造方法
WO2019065464A1 (ja) * 2017-09-28 2019-04-04 京セラ株式会社 構造体
JPWO2019065464A1 (ja) * 2017-09-28 2020-09-17 京セラ株式会社 構造体

Also Published As

Publication number Publication date
MY134821A (en) 2007-12-31
SG34299A1 (en) 1996-12-06
US5682589A (en) 1997-10-28
CN1043462C (zh) 1999-05-26
MY139408A (en) 2009-09-30
US5552107A (en) 1996-09-03
CN1134397A (zh) 1996-10-30
JP2999957B2 (ja) 2000-01-17
US5763093A (en) 1998-06-09
KR960021301A (ko) 1996-07-18
KR0170564B1 (ko) 1999-02-18
US5552232A (en) 1996-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2999957B2 (ja) 濃度勾配を有する窒化アルミニウム焼結体
KR100295695B1 (ko) 세라믹회로판지지기판용전기피드스루
JPH11504159A (ja) セラミック回路板支持基板用ガラスボンディング層
US11804383B2 (en) Method for producing a metal-ceramic substrate with electrically conductive vias
JPH09293956A (ja) 配線基板
JP3167796B2 (ja) セラミックス回路基板
JP3493310B2 (ja) 多層配線基板
JP2000077805A (ja) 配線基板およびその製造方法
JP2000286353A (ja) 半導体素子収納用パッケージ
US5167913A (en) Method of forming an adherent layer of metallurgy on a ceramic substrate
JP3420424B2 (ja) 配線基板
JPH07231049A (ja) セラミックス多層基板の製造方法及びセラミックス多層基板
JPH09191059A (ja) パワー半導体モジュール基板
JPS58130590A (ja) セラミツク配線基板および該セラミツク配線基板を用いた厚膜ハイブリツドic
CA2211542C (en) Electrical feedthroughs for ceramic circuit board support substrates
JPH11335184A (ja) セラミックス−金属接合構造
JP2000022294A (ja) 電子部品回路基板
JPH04349690A (ja) 回路基板
JPS5911554B2 (ja) 絶縁物基板の金属被膜形成法
JPH11103169A (ja) ガラスセラミック配線基板
JPH06334306A (ja) セラミック回路基板の製造方法
JPH06128722A (ja) 窒化アルミニウム基板のメタライズ層形成方法
JPH0473994A (ja) セラミック配線基板
JP2001210923A (ja) セラミック回路基板
JPH01260711A (ja) ペースト組成物および導体

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees