JPH09245697A - 画像表示装置および該装置の製造方法 - Google Patents
画像表示装置および該装置の製造方法Info
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- JPH09245697A JPH09245697A JP5614196A JP5614196A JPH09245697A JP H09245697 A JPH09245697 A JP H09245697A JP 5614196 A JP5614196 A JP 5614196A JP 5614196 A JP5614196 A JP 5614196A JP H09245697 A JPH09245697 A JP H09245697A
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- Japan
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- electron
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- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
- Vessels, Lead-In Wires, Accessory Apparatuses For Cathode-Ray Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 表面伝導型電子放出素子を用いた画像表示装
置におけるパネル内の真空度向上及びその維持、特に水
素分圧の低減化を図る。 【解決手段】 表面伝導型電子放出素子を用いた画像表
示装置において、ゲッタ材として、非蒸発型ゲッタの微
粉末と蒸発型ゲッタ混合物を使用する。
置におけるパネル内の真空度向上及びその維持、特に水
素分圧の低減化を図る。 【解決手段】 表面伝導型電子放出素子を用いた画像表
示装置において、ゲッタ材として、非蒸発型ゲッタの微
粉末と蒸発型ゲッタ混合物を使用する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面伝導型電子放
出素子を電子源として用いた画像表示装置および該装置
の製造方法に関し、詳しくは、電子源及び蛍光面部材が
配置された真空領域の真空度の向上及び維持に好適な構
成を有する画像表示装置及びその製造方法に関する。
出素子を電子源として用いた画像表示装置および該装置
の製造方法に関し、詳しくは、電子源及び蛍光面部材が
配置された真空領域の真空度の向上及び維持に好適な構
成を有する画像表示装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】電気的に画像等を表示する装置として
は、TVシステムに用いられているようなCRTを用い
た方式を採用したものが極一般的であるが、近年、液晶
を用いた平板型表示装置がこのCRTに替わって普及し
てきた。しかし、液晶による画像表示装置は自発光型で
ないため、バックライトを持たなければならない等の制
限があり、液晶を用いた画像表示装置のようにコンパク
ト化が可能であるなどの利点を有し、かつ自発光型であ
る表示装置の開発が望まれてきた。
は、TVシステムに用いられているようなCRTを用い
た方式を採用したものが極一般的であるが、近年、液晶
を用いた平板型表示装置がこのCRTに替わって普及し
てきた。しかし、液晶による画像表示装置は自発光型で
ないため、バックライトを持たなければならない等の制
限があり、液晶を用いた画像表示装置のようにコンパク
ト化が可能であるなどの利点を有し、かつ自発光型であ
る表示装置の開発が望まれてきた。
【0003】このような自発光型表示装置としては、表
面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源と、電子源
より放出される電子によって可視光を発光させる蛍光体
と、を組み合わせた画像形成装置を挙げることがきる。
(例えば、米国特許第5066883号)。
面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源と、電子源
より放出される電子によって可視光を発光させる蛍光体
と、を組み合わせた画像形成装置を挙げることがきる。
(例えば、米国特許第5066883号)。
【0004】この表面伝導型電子放出素子は、対向する
1対の電極間に電子放出部を挟持させた構成を適当な基
板上に面状に形成したもので、例えば、M. I. Elinson,
Radio Eng. Electron Phys., 10, 1290 (1965) 等に開
示されたものが知られている。表面伝導型電子放出素子
は、基板上に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に
電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用す
るものである。この表面伝導型電子放出素子の材料構成
としては、前記エリンソン等によるSnO2薄膜を用い
たもの、Au薄膜によるもの[G. Dittmer:“Thin Solis
Films, ”9, 317 (1972)]、In2O3/SnO2 薄膜に
よるもの[M. Hartwell and C. G. Fonstad:“ IEEE Tr
ans. ED Conf. ”, 519 (1975)] 、カーボン薄膜による
もの[荒木久 他:真空、第26巻、第1号、22頁
(1983)]等が報告されている。
1対の電極間に電子放出部を挟持させた構成を適当な基
板上に面状に形成したもので、例えば、M. I. Elinson,
Radio Eng. Electron Phys., 10, 1290 (1965) 等に開
示されたものが知られている。表面伝導型電子放出素子
は、基板上に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に
電流を流すことにより、電子放出が生ずる現象を利用す
るものである。この表面伝導型電子放出素子の材料構成
としては、前記エリンソン等によるSnO2薄膜を用い
たもの、Au薄膜によるもの[G. Dittmer:“Thin Solis
Films, ”9, 317 (1972)]、In2O3/SnO2 薄膜に
よるもの[M. Hartwell and C. G. Fonstad:“ IEEE Tr
ans. ED Conf. ”, 519 (1975)] 、カーボン薄膜による
もの[荒木久 他:真空、第26巻、第1号、22頁
(1983)]等が報告されている。
【0005】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な素子構成として前述のM.ハートウェルの素子構成を
図17に平面図として模式的に示す。同図において40
1は基板である。404は導電性薄膜で、H型形状のパ
ターンにスパッタで形成された金属酸化物薄膜等からな
り、通電フォーミングと呼ばれる通電処理により電子放
出部405が形成される。なお、図中の素子電極間隔L
は、0.5〜1mm、W’は、0.1mmで設定されて
いる。従来、これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性薄膜404を予め通電フ
ォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部40
5を形成するのが一般的であった。
な素子構成として前述のM.ハートウェルの素子構成を
図17に平面図として模式的に示す。同図において40
1は基板である。404は導電性薄膜で、H型形状のパ
ターンにスパッタで形成された金属酸化物薄膜等からな
り、通電フォーミングと呼ばれる通電処理により電子放
出部405が形成される。なお、図中の素子電極間隔L
は、0.5〜1mm、W’は、0.1mmで設定されて
いる。従来、これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性薄膜404を予め通電フ
ォーミングと呼ばれる通電処理によって電子放出部40
5を形成するのが一般的であった。
【0006】すなわち、通電フォーミングとは導電性薄
膜404両端に直流電圧あるいは非常にゆっくりとした
昇電圧例えば1V/分程度を印加通電し、導電性薄膜を
局所的に破壊、変形もしくは変質させ、電気的に高抵抗
な状態にした電子放出部405を形成することであり、
電子放出部405では、電圧印加により電流が流される
ことで、導電性薄膜404の一部に発生した亀裂付近か
ら電子放出が行われる。
膜404両端に直流電圧あるいは非常にゆっくりとした
昇電圧例えば1V/分程度を印加通電し、導電性薄膜を
局所的に破壊、変形もしくは変質させ、電気的に高抵抗
な状態にした電子放出部405を形成することであり、
電子放出部405では、電圧印加により電流が流される
ことで、導電性薄膜404の一部に発生した亀裂付近か
ら電子放出が行われる。
【0007】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純で製造も容易であることから、大面積にわたり多数
素子を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を
生かした画像表示装置の電子源としての利用が注目され
ている。
単純で製造も容易であることから、大面積にわたり多数
素子を配列形成できる利点がある。そこで、この特徴を
生かした画像表示装置の電子源としての利用が注目され
ている。
【0008】なお、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、後述するように梯子型配置と呼
ぶ並列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個々の素子
の両端を配線(共通配線とも呼ぶ)でそれぞれ結線した
行を多数行配列した電子源が挙げられる(例えば、特開
昭64−031332、特開平1−283749、特開
平1−257552等)。
列形成した例としては、後述するように梯子型配置と呼
ぶ並列に表面伝導型電子放出素子を配列し、個々の素子
の両端を配線(共通配線とも呼ぶ)でそれぞれ結線した
行を多数行配列した電子源が挙げられる(例えば、特開
昭64−031332、特開平1−283749、特開
平1−257552等)。
【0009】表面伝導型電子放出素子を電子源として用
いた画像表示装置を完成させ、長時間駆動させるために
は、蛍光体に照射される電子が放出される閉鎖領域を高
真空とし、かつ、その状態を維持する必要がある。その
ため通常、製造プロセスの最終段階で、ゲッタ処理がな
される。
いた画像表示装置を完成させ、長時間駆動させるために
は、蛍光体に照射される電子が放出される閉鎖領域を高
真空とし、かつ、その状態を維持する必要がある。その
ため通常、製造プロセスの最終段階で、ゲッタ処理がな
される。
【0010】ゲッタ処理とは一般的には、ゲッタ材コン
テナと呼ばれる一部が開放された金属管の内部に収納さ
れた、Baを主成分とする蒸発型ゲッタ材を、加熱フラ
ッシュ(低圧下での加熱による急激な蒸発)させ、上記
画像表示装置内部の特定の場所へ蒸着させる処理であ
る。この蒸着したゲッタ材がこの閉鎖領域内のガスを吸
着することで画像表示装置内の真空度の向上及び維持が
図られる。なお、上記ゲッタ材コンテナの形状には、直
線、リング状等がある。
テナと呼ばれる一部が開放された金属管の内部に収納さ
れた、Baを主成分とする蒸発型ゲッタ材を、加熱フラ
ッシュ(低圧下での加熱による急激な蒸発)させ、上記
画像表示装置内部の特定の場所へ蒸着させる処理であ
る。この蒸着したゲッタ材がこの閉鎖領域内のガスを吸
着することで画像表示装置内の真空度の向上及び維持が
図られる。なお、上記ゲッタ材コンテナの形状には、直
線、リング状等がある。
【0011】また、ゲッタ材としては上記蒸発型の他
に、真空中高温下で一定時間活性化させた後にガス吸着
能が発現する非蒸発型もあり、その例としてZr−Al
合金やZr−V−Fe合金等が知られている。
に、真空中高温下で一定時間活性化させた後にガス吸着
能が発現する非蒸発型もあり、その例としてZr−Al
合金やZr−V−Fe合金等が知られている。
【0012】
【発明が解決しようとしている課題】上記の表面伝導型
電子放出素子を電子源としてを用いた自発光型表示装置
の表示面の大面積化を達成する場合、電子が放出される
領域の容積も大きくなり、その真空度を十分なレベルに
維持するための特別な方法が必要となってくる。
電子放出素子を電子源としてを用いた自発光型表示装置
の表示面の大面積化を達成する場合、電子が放出される
領域の容積も大きくなり、その真空度を十分なレベルに
維持するための特別な方法が必要となってくる。
【0013】本発明の目的は、かかる画像表示装置にお
ける表示面の大面積化に特有な課題を達成することにあ
る。
ける表示面の大面積化に特有な課題を達成することにあ
る。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、ゲッタの構成
に特徴を有する表面伝導型電子放出素子内蔵型画像表示
装置及びその製造方法に関し、以下の各発明を包含す
る。
に特徴を有する表面伝導型電子放出素子内蔵型画像表示
装置及びその製造方法に関し、以下の各発明を包含す
る。
【0015】本発明の画像表示装置は、真空領域中に、
対向する1対の電極により挟持された電子放出部を有す
る表面伝導型電子放出素子からなる電子源と、該電子源
から放出される電子ビームの照射により発光する蛍光面
部材と、を配置し、更に、該真空領域中にゲッタが内装
された画像表示装置において、前記ゲッタとして、非蒸
発型ゲッタの微粉末と、蒸発型ゲッタにより形成された
蒸着物と、が前記真空領域中に内装されていることを特
徴とする。
対向する1対の電極により挟持された電子放出部を有す
る表面伝導型電子放出素子からなる電子源と、該電子源
から放出される電子ビームの照射により発光する蛍光面
部材と、を配置し、更に、該真空領域中にゲッタが内装
された画像表示装置において、前記ゲッタとして、非蒸
発型ゲッタの微粉末と、蒸発型ゲッタにより形成された
蒸着物と、が前記真空領域中に内装されていることを特
徴とする。
【0016】更に、本発明の画像表示装置の製造方法
は、真空排気可能な閉鎖領域中に、対向する電極間に電
子放出部を有する表面伝導型電子放出素子からなる電子
源と、該電子源から放出される電子ビームの照射により
発光する蛍光面部材と、蒸発型ゲッタと、を配置し、該
閉鎖領域を真空排気した後に、前記蒸発ゲッタをフラッ
シュさせるゲッタ処理を行う過程を有する画像表示装置
の製造方法であって、前記蒸発ゲッタに非蒸発型ゲッタ
の微粉末を混合しておき、該蒸発型ゲッタのフラッシュ
とともに該非蒸発ゲッタの微粉末を該閉鎖領域内に分散
させることを特徴とする。
は、真空排気可能な閉鎖領域中に、対向する電極間に電
子放出部を有する表面伝導型電子放出素子からなる電子
源と、該電子源から放出される電子ビームの照射により
発光する蛍光面部材と、蒸発型ゲッタと、を配置し、該
閉鎖領域を真空排気した後に、前記蒸発ゲッタをフラッ
シュさせるゲッタ処理を行う過程を有する画像表示装置
の製造方法であって、前記蒸発ゲッタに非蒸発型ゲッタ
の微粉末を混合しておき、該蒸発型ゲッタのフラッシュ
とともに該非蒸発ゲッタの微粉末を該閉鎖領域内に分散
させることを特徴とする。
【0017】該製造方法における前記非蒸着型ゲッタの
活性化は、前記蒸発型ゲッタのフラッシュ時の熱を利用
することで効果的に実施可能であり、更に、この活性化
には前記閉鎖領域内に分散した非蒸発型ゲッタへの活性
化用のエネルギー線の照射を併用することもできる。
活性化は、前記蒸発型ゲッタのフラッシュ時の熱を利用
することで効果的に実施可能であり、更に、この活性化
には前記閉鎖領域内に分散した非蒸発型ゲッタへの活性
化用のエネルギー線の照射を併用することもできる。
【0018】前記ゲッタとして非蒸発型ゲッタの微粉末
を蒸発型ゲッタに混合して用いることで、(1)該画像
表示装置内の水素分圧を低下できる、(2)非蒸発型ゲ
ッタ材を広範囲に分散させることができ、蒸発型ゲッタ
に加えて、微粉末状の非蒸発型ゲッタの広範な分散によ
りゲッタ材表面積を大幅に大きくしてガス吸着効率を格
段に向上させることができる等の作用効果を得ることが
可能となる。従って、本発明の構成によれば、画像装置
内の少なくとも電子放出素子及び蛍光面が配置された閉
鎖領域内の真空度を改善及び維持することができ、その
結果、画像表示装置の寿命が向上する。
を蒸発型ゲッタに混合して用いることで、(1)該画像
表示装置内の水素分圧を低下できる、(2)非蒸発型ゲ
ッタ材を広範囲に分散させることができ、蒸発型ゲッタ
に加えて、微粉末状の非蒸発型ゲッタの広範な分散によ
りゲッタ材表面積を大幅に大きくしてガス吸着効率を格
段に向上させることができる等の作用効果を得ることが
可能となる。従って、本発明の構成によれば、画像装置
内の少なくとも電子放出素子及び蛍光面が配置された閉
鎖領域内の真空度を改善及び維持することができ、その
結果、画像表示装置の寿命が向上する。
【0019】また、非蒸発型ゲッタの活性化に、少なく
とも蒸発型ゲッタのフラッシュ時の熱を利用するため、
プロセスを簡略化することができる。
とも蒸発型ゲッタのフラッシュ時の熱を利用するため、
プロセスを簡略化することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明において蒸発型ゲッタに混
合して用いられる非蒸発型ゲッタの微粉末とは、その大
きさ(粒径)が0.1μm〜1mmの範囲にあるもの
で、必ずしも粒径が揃っている必要はない。また、非蒸
発型ゲッタの微粉末と蒸発型ゲッタの混合比も特に限定
されないが、非蒸発型ゲッタ微粉末/蒸発型ゲッタ重量
比が0.1〜1となる範囲が好ましい。蒸発型ゲッタと
しては通常、Baが用いられる。
合して用いられる非蒸発型ゲッタの微粉末とは、その大
きさ(粒径)が0.1μm〜1mmの範囲にあるもの
で、必ずしも粒径が揃っている必要はない。また、非蒸
発型ゲッタの微粉末と蒸発型ゲッタの混合比も特に限定
されないが、非蒸発型ゲッタ微粉末/蒸発型ゲッタ重量
比が0.1〜1となる範囲が好ましい。蒸発型ゲッタと
しては通常、Baが用いられる。
【0021】また、上記非蒸発型ゲッタ微粉末の構成材
料としては、融点が1400℃以上の金属元素単体から
なる金属(一種の金属元素から構成される金属)、Zr
−Al合金、Zr−Fe合金、Zr−Ni合金、Zr−
Nb−Fe合金、Zr−Ti−Fe合金及びZr−V−
Fe合金からなる群より選択された1種以上が好適に用
いられる。
料としては、融点が1400℃以上の金属元素単体から
なる金属(一種の金属元素から構成される金属)、Zr
−Al合金、Zr−Fe合金、Zr−Ni合金、Zr−
Nb−Fe合金、Zr−Ti−Fe合金及びZr−V−
Fe合金からなる群より選択された1種以上が好適に用
いられる。
【0022】非蒸発型ゲッタ材として金属元素単体を用
いる場合、該金属が、水素ガスを吸蔵または水素ガスと
反応する性質を有することが望ましく、具体的には、P
d、Ni、Ti、Zr、V等を例示することができる。
この中では、著しく高い水素吸蔵能を有するPdが好ま
しい。前記金属元素は1種に限られるものではなく2種
以上を混合して用いてもよい。
いる場合、該金属が、水素ガスを吸蔵または水素ガスと
反応する性質を有することが望ましく、具体的には、P
d、Ni、Ti、Zr、V等を例示することができる。
この中では、著しく高い水素吸蔵能を有するPdが好ま
しい。前記金属元素は1種に限られるものではなく2種
以上を混合して用いてもよい。
【0023】非蒸発型ゲッタ材として合金を用いる場
合、できる限り低温で活性化できるものが好ましく、上
記の合金の中では、Zr−V−Fe合金が好ましい。な
お、非蒸発型ゲッタ材として上記の金属(単体)と合金
を混合して用いてもよい。
合、できる限り低温で活性化できるものが好ましく、上
記の合金の中では、Zr−V−Fe合金が好ましい。な
お、非蒸発型ゲッタ材として上記の金属(単体)と合金
を混合して用いてもよい。
【0024】以上説明した構成の非蒸発型ゲッタ微粉末
と蒸発型ゲッタとの混合物からなるゲッタ材は、画像表
示装置製造プロセスの最終段階で使用される。非蒸発型
ゲッタの微粉末の活性化は、少なくとも蒸発型ゲッタの
フラッシュ時の熱、すなわち、減圧下での急激な蒸発を
誘導するための加熱を利用することで効率よく行うこと
ができる。
と蒸発型ゲッタとの混合物からなるゲッタ材は、画像表
示装置製造プロセスの最終段階で使用される。非蒸発型
ゲッタの微粉末の活性化は、少なくとも蒸発型ゲッタの
フラッシュ時の熱、すなわち、減圧下での急激な蒸発を
誘導するための加熱を利用することで効率よく行うこと
ができる。
【0025】ただし、上記フラッシュで分散された非蒸
発型ゲッタの微粉末に対し、必要に応じてレーザー光ま
たは赤外線等の活性化用エネルギー線の照射を併用して
活性化させてもよい。
発型ゲッタの微粉末に対し、必要に応じてレーザー光ま
たは赤外線等の活性化用エネルギー線の照射を併用して
活性化させてもよい。
【0026】以下、図面を参照しながら本発明の実施態
様例を具体的に説明する。図1は、本発明の構成の1例
を示す模式図である。図1において、71は電子放出素
子を複数配した電子源基板、81は電子源基板71を固
定したリアプレート、86は、画像表示パネルを形成す
るフェースプレート(蛍光面部材)で、ガラス基板83
の内面に蛍光膜84とメタルバック85等を形成した構
成を有する。82は、支持枠であり該支持枠82には、
リアプレート81、フェースプレート86がフリットガ
ラス等を用いて接続されている。88は、上記の各部材
81、82及び86からなる外囲器であり、例えば大気
中あるいは、窒素中で、400〜500℃の温度範囲で
10分以上焼成することで、封着して構成される。
様例を具体的に説明する。図1は、本発明の構成の1例
を示す模式図である。図1において、71は電子放出素
子を複数配した電子源基板、81は電子源基板71を固
定したリアプレート、86は、画像表示パネルを形成す
るフェースプレート(蛍光面部材)で、ガラス基板83
の内面に蛍光膜84とメタルバック85等を形成した構
成を有する。82は、支持枠であり該支持枠82には、
リアプレート81、フェースプレート86がフリットガ
ラス等を用いて接続されている。88は、上記の各部材
81、82及び86からなる外囲器であり、例えば大気
中あるいは、窒素中で、400〜500℃の温度範囲で
10分以上焼成することで、封着して構成される。
【0027】74は、図17における電子放出部に相当
する。72、73は表面伝導型電子放出素子の一対の素
子電極と接続されたX方向配線およびY方向配線であ
る。なお、これら配線の交差部は不図示の絶縁膜により
絶縁されている。
する。72、73は表面伝導型電子放出素子の一対の素
子電極と接続されたX方向配線およびY方向配線であ
る。なお、これら配線の交差部は不図示の絶縁膜により
絶縁されている。
【0028】301は、非蒸発型ゲッタの微粉末と蒸発
型ゲッタの混合物を内包したゲッタ材コンテナである。
ゲッタ材コンテナ301は、ゲッタ材コンテナ固定治具
302に固定されている。303は、ゲッタ材の飛散防
止板である。
型ゲッタの混合物を内包したゲッタ材コンテナである。
ゲッタ材コンテナ301は、ゲッタ材コンテナ固定治具
302に固定されている。303は、ゲッタ材の飛散防
止板である。
【0029】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度をも
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。すなわち、基板71に直接支持枠82を封着し、
フェースプレート86、支持枠82および基板71で外
囲器88を構成してもよい。一方、フェースプレート8
6、リアプレート81間に、スペーサーと呼ばれる支持
体を必要に応じて設置することにより、大気圧に対して
十分な強度をもつ外囲器88を構成することもできる。
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度をも
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。すなわち、基板71に直接支持枠82を封着し、
フェースプレート86、支持枠82および基板71で外
囲器88を構成してもよい。一方、フェースプレート8
6、リアプレート81間に、スペーサーと呼ばれる支持
体を必要に応じて設置することにより、大気圧に対して
十分な強度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0030】図1に示した画像表示装置は、例えば以下
のようにして製造される。外囲器88内は、適宜加熱し
ながら、イオンポンプ、ソープションポンプ等のオイル
を使用しない排気装置により不図示の排気管を通じて排
気され、10-7Torr程度の真空度の有機物質を十分
少ない雰囲気にした後、封止が成される。
のようにして製造される。外囲器88内は、適宜加熱し
ながら、イオンポンプ、ソープションポンプ等のオイル
を使用しない排気装置により不図示の排気管を通じて排
気され、10-7Torr程度の真空度の有機物質を十分
少ない雰囲気にした後、封止が成される。
【0031】ここで、外囲器88の封止後の真空度を向
上および維持するために、ゲッタ処理が行われる。これ
は、外囲器88の封止を行う直前あるいは封止後に、ゲ
ッタ材コンテナ310を、抵抗加熱あるいは高周波加熱
等により加熱し、蒸着膜を形成する処理である。本発明
においては、非蒸発型ゲッタの微粉末を蒸発型ゲッタに
混合して用いることで、(1)水素排気能のある非蒸発
型ゲッタを併用することにより、特に画像表示装置内の
水素分圧が低下する、(2)非蒸発型ゲッタ材が広範囲
に分散する、(3)非蒸発型ゲッタの微粉末を混在させ
ることで分散したゲッタ材の表面積が大きくなり、ガス
吸着効率が向上する、等の作用により、画像表示装置内
の真空度が改善され、例えば、5×10-6〜5×10-8
Torrの真空度が得られる。
上および維持するために、ゲッタ処理が行われる。これ
は、外囲器88の封止を行う直前あるいは封止後に、ゲ
ッタ材コンテナ310を、抵抗加熱あるいは高周波加熱
等により加熱し、蒸着膜を形成する処理である。本発明
においては、非蒸発型ゲッタの微粉末を蒸発型ゲッタに
混合して用いることで、(1)水素排気能のある非蒸発
型ゲッタを併用することにより、特に画像表示装置内の
水素分圧が低下する、(2)非蒸発型ゲッタ材が広範囲
に分散する、(3)非蒸発型ゲッタの微粉末を混在させ
ることで分散したゲッタ材の表面積が大きくなり、ガス
吸着効率が向上する、等の作用により、画像表示装置内
の真空度が改善され、例えば、5×10-6〜5×10-8
Torrの真空度が得られる。
【0032】なお、表面伝導型電子放出素子のフォーミ
ング処理は、外囲器88内に装着する前に、あるいは装
着した状態でゲッタ処理前に行うことができる。
ング処理は、外囲器88内に装着する前に、あるいは装
着した状態でゲッタ処理前に行うことができる。
【0033】次に、本発明に適用し得る表面伝導型電子
放出素子について述べる。本発明に適用し得る表面伝導
型電子放出素子の基本的構成には大別して、平面型およ
び垂直型の2つがある。
放出素子について述べる。本発明に適用し得る表面伝導
型電子放出素子の基本的構成には大別して、平面型およ
び垂直型の2つがある。
【0034】まず、平面型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。
いて説明する。
【0035】図2は、本発明に適用可能な平面型表面伝
導型電子放出素子の構成を示す模式図であり、図2aは
平面図、図2bは断面図である。図2において1は基
板、2と3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出
部である。
導型電子放出素子の構成を示す模式図であり、図2aは
平面図、図2bは断面図である。図2において1は基
板、2と3は素子電極、4は導電性薄膜、5は電子放出
部である。
【0036】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガラス
にスパッタ法等によりSiO2 を積層させたガラス基板
およびアルミナ等のセラミックスおよびSi基板等を用
いることができる。
純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガラス
にスパッタ法等によりSiO2 を積層させたガラス基板
およびアルミナ等のセラミックスおよびSi基板等を用
いることができる。
【0037】対向する素子電極2、3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができる。これは例えば
Ni、Cr、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、C
u、Pd等の金属あるいは合金およびPd、As、A
g、Au、RuO2 、Pd−Ag等の金属あるいは金属
酸化物とガラス等から構成される印刷導体、In2 O3
−SnO2 等の透明導電体およびポリシリコン等の半導
体材料等から選択することができる。
一般的な導体材料を用いることができる。これは例えば
Ni、Cr、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、C
u、Pd等の金属あるいは合金およびPd、As、A
g、Au、RuO2 、Pd−Ag等の金属あるいは金属
酸化物とガラス等から構成される印刷導体、In2 O3
−SnO2 等の透明導電体およびポリシリコン等の半導
体材料等から選択することができる。
【0038】素子電極間隔L、素子電極長さW、導電性
薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計
される。素子電極間隔Lは、好ましくは数千オングスト
ロームから数百マイクロメートルの範囲とすることがで
き、より好ましくは素子電極間に印加する電圧等を考慮
して数マイクロメートルから数十マイクロメートルの範
囲とすることができる。
薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計
される。素子電極間隔Lは、好ましくは数千オングスト
ロームから数百マイクロメートルの範囲とすることがで
き、より好ましくは素子電極間に印加する電圧等を考慮
して数マイクロメートルから数十マイクロメートルの範
囲とすることができる。
【0039】素子電極長さWは、電極の抵抗値、電子放
出特性を考慮して、数マイクロメートルから数百マイク
ロメートルの範囲とすることができる。素子電極2、3
の膜厚dは、数百オングストロームから数マイクロメー
トルの範囲とすることができる。
出特性を考慮して、数マイクロメートルから数百マイク
ロメートルの範囲とすることができる。素子電極2、3
の膜厚dは、数百オングストロームから数マイクロメー
トルの範囲とすることができる。
【0040】なお、図2に示した構成だけでなく、基板
1上に導電性薄膜4、対向する素子電極2、3の順に積
層した構成とすることもできる。
1上に導電性薄膜4、対向する素子電極2、3の順に積
層した構成とすることもできる。
【0041】導電性薄膜4には良好な電子放出特性を得
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。その膜厚は素子電極2、3へのステップカバレ
ージ、素子電極2、3間の抵抗値および後述するフォー
ミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は数オ
ングストロームから数千オングストロームの範囲とする
のが好ましく、より好ましくは10オングストロームよ
り500オングストロームの範囲とするのがよい。その
抵抗値は、Rsが102 から107 Ω/□の値である。
なおRsは、厚さがt、幅がwで長さがlの薄膜の抵抗
Rを、R=Rs(l/w)とおいたときに現れる。本願
明細書において、フォーミング処理については、通電処
理を例に挙げて説明するが、フォーミング処理はこれに
限られるものではなく、膜に亀裂を生じさせて高抵抗状
態を形成する処理を包含するものである。
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。その膜厚は素子電極2、3へのステップカバレ
ージ、素子電極2、3間の抵抗値および後述するフォー
ミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は数オ
ングストロームから数千オングストロームの範囲とする
のが好ましく、より好ましくは10オングストロームよ
り500オングストロームの範囲とするのがよい。その
抵抗値は、Rsが102 から107 Ω/□の値である。
なおRsは、厚さがt、幅がwで長さがlの薄膜の抵抗
Rを、R=Rs(l/w)とおいたときに現れる。本願
明細書において、フォーミング処理については、通電処
理を例に挙げて説明するが、フォーミング処理はこれに
限られるものではなく、膜に亀裂を生じさせて高抵抗状
態を形成する処理を包含するものである。
【0042】導電性薄膜4を構成する材料は、Pd、P
t、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、Cr、F
e、Zn、Sn、Ta、W、Pd等の金属、PdO、S
nO2、In2 O3 、PbO、Sb2 O3 等の酸化物、
HfB2 、ZrB2 、LaB6、CeB6 、YB4 、G
dB4 等の硼化物、TiC、ZrC、HfC、TaC、
SiC、WC等の炭化物、TiN、ZrN、HfN等の
窒化物、Si、Ge等の半導体、カーボン等の中から適
宜選択される。
t、Ru、Ag、Au、Ti、In、Cu、Cr、F
e、Zn、Sn、Ta、W、Pd等の金属、PdO、S
nO2、In2 O3 、PbO、Sb2 O3 等の酸化物、
HfB2 、ZrB2 、LaB6、CeB6 、YB4 、G
dB4 等の硼化物、TiC、ZrC、HfC、TaC、
SiC、WC等の炭化物、TiN、ZrN、HfN等の
窒化物、Si、Ge等の半導体、カーボン等の中から適
宜選択される。
【0043】ここで述べる微粒子膜とは多数の微粒子が
集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に分
散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるいは
重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体と
して島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数オングストロームから数千オン
グストロームの範囲、好ましくは10オングストローム
から200オングストロームの範囲である。
集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に分
散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるいは
重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体と
して島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数オングストロームから数千オン
グストロームの範囲、好ましくは10オングストローム
から200オングストロームの範囲である。
【0044】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
【0045】小さな粒子を「微粒子」と呼び、これより
も小さなもの「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」よりも
小さく原子の数が数百個程度以下のものを「クラスタ
ー」と呼ぶことは広く行われている。
も小さなもの「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」よりも
小さく原子の数が数百個程度以下のものを「クラスタ
ー」と呼ぶことは広く行われている。
【0046】しかしながら、それぞれの境は厳密なもの
ではなく、どのような性質に注目して分類するかにより
変化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して
「微粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこ
れに沿ったものである。
ではなく、どのような性質に注目して分類するかにより
変化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して
「微粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこ
れに沿ったものである。
【0047】「実験物理学講座14 表面・微粒子」
(木下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発行)
では次のように記述されている。
(木下是雄 編、共立出版 1986年9月1日発行)
では次のように記述されている。
【0048】「本稿で微粒子と言うときにはその直径が
大体2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に超
微粒子と言うときは粒径が10nm程度から2〜3nm
程度までを意味することにする。両者を一括して単に微
粒子と書くこともあって決して厳密なものではなく、大
体の目安である。粒子を構成する原子の数が2個から数
十〜数百個程度の場合はクラスターと呼ぶ。」(195
頁22〜26行目) 付言すると、新技術開発事業団の“林・超微粒子プロジ
ェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径の下限はさら
に小さく、次のようなものであった。
大体2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に超
微粒子と言うときは粒径が10nm程度から2〜3nm
程度までを意味することにする。両者を一括して単に微
粒子と書くこともあって決して厳密なものではなく、大
体の目安である。粒子を構成する原子の数が2個から数
十〜数百個程度の場合はクラスターと呼ぶ。」(195
頁22〜26行目) 付言すると、新技術開発事業団の“林・超微粒子プロジ
ェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径の下限はさら
に小さく、次のようなものであった。
【0049】「創造科学技術推進制度の“超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle) と呼ぶことにした。すると
1個の超微粒子はおよそ100〜108 個ぐらいの原子
の集合体ということになる。原子の尺度でみれば超微粒
子は大〜巨大粒子である。」(「超微粒子−創造科学技
術−」林主税、上田良二、田崎明 編;三田出版198
8年2頁1〜4行)「超微粒子よりさらに小さいもの、
すなわち原子が数個〜数百個で構成される1個の粒子は
普通クラスターと呼ばれる」(同書2頁12〜13行
目) 上記のような一般的な呼び方をふまえて、本明細書にお
いて「微粒子」とは多数の原子・分子の集合体で、粒径
の下限は数オングストローム〜10オングストローム程
度、上限は数μm程度のものを指すこととする。
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle) と呼ぶことにした。すると
1個の超微粒子はおよそ100〜108 個ぐらいの原子
の集合体ということになる。原子の尺度でみれば超微粒
子は大〜巨大粒子である。」(「超微粒子−創造科学技
術−」林主税、上田良二、田崎明 編;三田出版198
8年2頁1〜4行)「超微粒子よりさらに小さいもの、
すなわち原子が数個〜数百個で構成される1個の粒子は
普通クラスターと呼ばれる」(同書2頁12〜13行
目) 上記のような一般的な呼び方をふまえて、本明細書にお
いて「微粒子」とは多数の原子・分子の集合体で、粒径
の下限は数オングストローム〜10オングストローム程
度、上限は数μm程度のものを指すこととする。
【0050】電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に形
成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜4の
膜厚、膜質、材料および後述する通電フォーミング等の
手法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部に
は、数オングストロームから数百オングストロームの範
囲の粒径の導電性微粒子を含む場合もある。この導電性
微粒子は導電性薄膜4を構成する材料の元素の一部、あ
るいは全ての元素を含有するものとなる。電子放出部5
およびその近傍の導電性薄膜4には、炭素あるいは炭素
化合物を有することもできる。
成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜4の
膜厚、膜質、材料および後述する通電フォーミング等の
手法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部に
は、数オングストロームから数百オングストロームの範
囲の粒径の導電性微粒子を含む場合もある。この導電性
微粒子は導電性薄膜4を構成する材料の元素の一部、あ
るいは全ての元素を含有するものとなる。電子放出部5
およびその近傍の導電性薄膜4には、炭素あるいは炭素
化合物を有することもできる。
【0051】次に、垂直型表面伝導型電子放出素子につ
いて説明する。
いて説明する。
【0052】図3は、本発明の表面伝導型電子放出素子
を適用できる垂直型表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
を適用できる垂直型表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
【0053】図3においては、図2に示した部位と同じ
部位には図2に付した符号と同一符号を付している。2
1は段差形成部である。基板1、素子電極2および3、
導電性薄膜4、電子放出部5は前述した平面型表面伝導
型電子放出素子の場合と同様の材料で構成することがで
きる。段差形成部21は、真空蒸着法、印刷法、スパッ
タ法等で形成されたSiO2 等の絶縁性材料で構成する
ことができる。段差形成部21の膜厚は、先に述べた平
面型表面伝導型電子放出素子の素子電極間隔Lに対応
し、数千オングストロームから数十マイクロメートルの
範囲とすることができる。この膜厚は、段差形成部の製
法および素子電極間に印加する電圧を考慮して設定され
るが、数百オングストロームから数マイクロメートルの
範囲が好ましい。
部位には図2に付した符号と同一符号を付している。2
1は段差形成部である。基板1、素子電極2および3、
導電性薄膜4、電子放出部5は前述した平面型表面伝導
型電子放出素子の場合と同様の材料で構成することがで
きる。段差形成部21は、真空蒸着法、印刷法、スパッ
タ法等で形成されたSiO2 等の絶縁性材料で構成する
ことができる。段差形成部21の膜厚は、先に述べた平
面型表面伝導型電子放出素子の素子電極間隔Lに対応
し、数千オングストロームから数十マイクロメートルの
範囲とすることができる。この膜厚は、段差形成部の製
法および素子電極間に印加する電圧を考慮して設定され
るが、数百オングストロームから数マイクロメートルの
範囲が好ましい。
【0054】導電性薄膜4は、素子電極2および3と段
差形成部21作成後に、該素子電極2、3の上に積層さ
れる。図3においては、電子放出部5は段差形成部21
に形成されているが、電子放出部5が垂直方向に配置さ
れるものであれば図3に示される構成に限定されない。
なお、電子放出部5の電気的特性等は、図2で説明した
場合と同様に、作成条件、フォーミング条件等に依存す
る。
差形成部21作成後に、該素子電極2、3の上に積層さ
れる。図3においては、電子放出部5は段差形成部21
に形成されているが、電子放出部5が垂直方向に配置さ
れるものであれば図3に示される構成に限定されない。
なお、電子放出部5の電気的特性等は、図2で説明した
場合と同様に、作成条件、フォーミング条件等に依存す
る。
【0055】上述の表面伝導型電子放出素子の製造方法
としては様々な方法があるが、その一例を図4に模式的
に示す。以下、図2および図4を参照しながら製造方法
の一例について説明する。図4においても、図2に示し
た部位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号を
付している。
としては様々な方法があるが、その一例を図4に模式的
に示す。以下、図2および図4を参照しながら製造方法
の一例について説明する。図4においても、図2に示し
た部位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号を
付している。
【0056】1)基板1を洗剤、純水および有機溶剤等
を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等によ
り素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー
技術を用いて基板1上に素子電極2、3を形成する(図
4(a))。
を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等によ
り素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー
技術を用いて基板1上に素子電極2、3を形成する(図
4(a))。
【0057】2)素子電極2、3を設けた基板1に、有
機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成する。有機
金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元素
とする有機金属化合物の溶液を用いることができる。有
機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング
等によりパターニングし、導電性薄膜4を形成する(図
4(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を挙げて
説明したが、導電性薄膜4の形成法はこれに限られるも
のでなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積
法、分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法等を用
いることもできる。
機金属溶液を塗布して、有機金属薄膜を形成する。有機
金属溶液には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元素
とする有機金属化合物の溶液を用いることができる。有
機金属薄膜を加熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング
等によりパターニングし、導電性薄膜4を形成する(図
4(b))。ここでは、有機金属溶液の塗布法を挙げて
説明したが、導電性薄膜4の形成法はこれに限られるも
のでなく、真空蒸着法、スパッタ法、化学的気相堆積
法、分散塗布法、ディッピング法、スピンナー法等を用
いることもできる。
【0058】3)続いて、フォーミング工程を施す。こ
のフォーミング工程方法の一例として通電処理による方
法を説明する。素子電極2、3間に、不図示の電源を用
いて、通電を行うと、導電性薄膜4の部位に、構造の変
化した電子放出部5が形成される(図4(c))。通電
フォーミングによれば導電性薄膜4に局所的に破壊、変
形もしくは変質等の構造変化した部位が形成される。該
部位が電子放出部5となる。通電フォーミングの電圧波
形の例を図5に示す。
のフォーミング工程方法の一例として通電処理による方
法を説明する。素子電極2、3間に、不図示の電源を用
いて、通電を行うと、導電性薄膜4の部位に、構造の変
化した電子放出部5が形成される(図4(c))。通電
フォーミングによれば導電性薄膜4に局所的に破壊、変
形もしくは変質等の構造変化した部位が形成される。該
部位が電子放出部5となる。通電フォーミングの電圧波
形の例を図5に示す。
【0059】電圧波形は、パルス波形が好ましい。これ
にはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加
する図5(a)に示した手法と、パルス波高値を増加さ
せながら電圧パルスを印加する図5(b)に示した手法
がある。
にはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加
する図5(a)に示した手法と、パルス波高値を増加さ
せながら電圧パルスを印加する図5(b)に示した手法
がある。
【0060】図5(a)におけるT1およびT2は電圧波
形のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイク
ロ秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100ミリ
秒の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォーミ
ング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子に応
じて適宜選択される。このような条件のもと、例えば、
数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は三角波
に限定されるものではなく、矩形波等所望の波形を採用
することができる。
形のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイク
ロ秒〜10ミリ秒、T2は10マイクロ秒〜100ミリ
秒の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォーミ
ング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子に応
じて適宜選択される。このような条件のもと、例えば、
数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形は三角波
に限定されるものではなく、矩形波等所望の波形を採用
することができる。
【0061】図5(b)におけるT1およびT2は、図5
(a)に示したのと同様とすることができる。三角波の
波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度ずつ増加させることができる。
(a)に示したのと同様とすることができる。三角波の
波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例えば
0.1Vステップ程度ずつ増加させることができる。
【0062】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子
電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示
したとき、通電フォーミングを終了させる。
隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子
電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示
したとき、通電フォーミングを終了させる。
【0063】4)フォーミングを終えた素子には活性化
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電圧Vfに対して、素子電流
If及び放出電流Ieが著しく変化する電気特性を得る
ことができる。
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程と
は、この工程により、素子電圧Vfに対して、素子電流
If及び放出電流Ieが著しく変化する電気特性を得る
ことができる。
【0064】この活性化工程は、例えば有機物質のガス
を含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パ
ルスの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰
囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプ等を用
いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有
機ガスを利用して形成することができる他、イオンポン
プ等により一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類等により異なるため場合
に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、アル
カン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族
炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、
アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機
酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン、エタ
ン、プロパン等Cn H2n+2で表される飽和炭化水素、エ
チレン、プロピレン等Cn H2n等の組成式で表される不
飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタ
ノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用で
きる。この処理により雰囲気中に存在する有機物質から
炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積し、素子電圧に
対して素子電流If及び放出電流Ieが著しく変化する
電気特性が得られる。活性化工程の終了判定は、素子電
流Ifと放出電流Ieを測定しながら、所望の電気特性
が得られるように適宜行う。なおパルス幅、パルス間
隔、パルス波高値等は適宜設定される。
を含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パ
ルスの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰
囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプ等を用
いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有
機ガスを利用して形成することができる他、イオンポン
プ等により一旦十分に排気した真空中に適当な有機物質
のガスを導入することによっても得られる。このときの
好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真空
容器の形状や、有機物質の種類等により異なるため場合
に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、アル
カン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族
炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、
アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機
酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン、エタ
ン、プロパン等Cn H2n+2で表される飽和炭化水素、エ
チレン、プロピレン等Cn H2n等の組成式で表される不
飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタ
ノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用で
きる。この処理により雰囲気中に存在する有機物質から
炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積し、素子電圧に
対して素子電流If及び放出電流Ieが著しく変化する
電気特性が得られる。活性化工程の終了判定は、素子電
流Ifと放出電流Ieを測定しながら、所望の電気特性
が得られるように適宜行う。なおパルス幅、パルス間
隔、パルス波高値等は適宜設定される。
【0065】炭素および炭素化合物とは、例えばグラフ
ァイト(いわゆるHOPG、PG、GCを包含する、H
OPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、PGは結晶
粒が200オングストローム程度で結晶構造がやや乱れ
たもの、GCは結晶粒が20オングストローム程度にな
り結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを指
す。)、非晶質カーボン(アモルファスカーボンおよび
アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶の混
合物を指す)であり、その膜厚は500オングストロー
ム以下の範囲とするのが好ましく、300オングストロ
ーム以下の範囲とすることがより好ましい。
ァイト(いわゆるHOPG、PG、GCを包含する、H
OPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、PGは結晶
粒が200オングストローム程度で結晶構造がやや乱れ
たもの、GCは結晶粒が20オングストローム程度にな
り結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを指
す。)、非晶質カーボン(アモルファスカーボンおよび
アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶の混
合物を指す)であり、その膜厚は500オングストロー
ム以下の範囲とするのが好ましく、300オングストロ
ーム以下の範囲とすることがより好ましい。
【0066】5)このような化工程を経て得られた電子
放出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工
程は真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的にはソープシ
ョンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げるこ
とができる。
放出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工
程は真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的にはソープシ
ョンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げるこ
とができる。
【0067】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリポンプを用い、これから発生するオ
イル成分に由来する有機ガスを用いた場合は、この成分
の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の有機
成分の分圧は、上記の炭素および炭素化合物がほぼ新た
に堆積しない分圧で1×10-8Torr以下が好まし
く、さらには1×10-10 Torr以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や電子放出素子に吸着した
有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。このと
きの加熱条件は、80〜200℃で5時間以上が望まし
いが、特にこの条件に限るものではなく、真空容器の大
きさや形状、電子放出素子の構成等の諸条件により適宜
選ばれる条件により行う。真空容器内の圧力は極力低く
することが必要で、1〜3×10-7Torr以下が好ま
しく、さらに1×10-8Torr以下が特に好ましい。
散ポンプやロータリポンプを用い、これから発生するオ
イル成分に由来する有機ガスを用いた場合は、この成分
の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の有機
成分の分圧は、上記の炭素および炭素化合物がほぼ新た
に堆積しない分圧で1×10-8Torr以下が好まし
く、さらには1×10-10 Torr以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や電子放出素子に吸着した
有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。このと
きの加熱条件は、80〜200℃で5時間以上が望まし
いが、特にこの条件に限るものではなく、真空容器の大
きさや形状、電子放出素子の構成等の諸条件により適宜
選ばれる条件により行う。真空容器内の圧力は極力低く
することが必要で、1〜3×10-7Torr以下が好ま
しく、さらに1×10-8Torr以下が特に好ましい。
【0068】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することができる。このような真空雰囲気を
採用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の
堆積を抑制でき、結果として素子電流If、放出電流I
eが安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することができる。このような真空雰囲気を
採用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の
堆積を抑制でき、結果として素子電流If、放出電流I
eが安定する。
【0069】上述した工程を経て得られた本発明に適用
可能な電子放出素子の基本特性について図6、図7を参
照しながら説明する。
可能な電子放出素子の基本特性について図6、図7を参
照しながら説明する。
【0070】図6は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図6においても、図2に示した部
位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号を付し
ている。図6において、55は真空容器であり、56は
排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素子が
配されている。すなわち、1は電子放出素子を構成する
基体であり、2および3は素子電極、4は導電性薄膜、
5は電子放出部である。51は、電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2・3間
の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための
電流計、54は素子の電子放出部より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極である。53はア
ノード電極54に電圧を印加するための高圧電源、52
は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを測
定するための電流計である。一例として、アノード電極
の電圧を1kV〜10kVの範囲とし、アノード電極と
電子放出素子との距離Hを2mm〜8mmの範囲として
測定を行うことができる。
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図6においても、図2に示した部
位と同じ部位には図2に付した符号と同一の符号を付し
ている。図6において、55は真空容器であり、56は
排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素子が
配されている。すなわち、1は電子放出素子を構成する
基体であり、2および3は素子電極、4は導電性薄膜、
5は電子放出部である。51は、電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2・3間
の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するための
電流計、54は素子の電子放出部より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極である。53はア
ノード電極54に電圧を印加するための高圧電源、52
は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを測
定するための電流計である。一例として、アノード電極
の電圧を1kV〜10kVの範囲とし、アノード電極と
電子放出素子との距離Hを2mm〜8mmの範囲として
測定を行うことができる。
【0071】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系とさらに、イオンポン
プ等からなる超高真空装置系とにより構成されている。
ここに示した電子源基板を配した真空処理装置の全体
は、不図示のヒーターにより200℃まで加熱できる。
したがって、この真空処理装置を用いると、前述の通電
フォーミング以降の工程も行うことができる。
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系とさらに、イオンポン
プ等からなる超高真空装置系とにより構成されている。
ここに示した電子源基板を配した真空処理装置の全体
は、不図示のヒーターにより200℃まで加熱できる。
したがって、この真空処理装置を用いると、前述の通電
フォーミング以降の工程も行うことができる。
【0072】図7は、図6に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧V
fの関係を模式的に示した図である。図7においては、
放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、任意単位で示している。なお、縦・横軸ともリニア
スケールである。
て測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧V
fの関係を模式的に示した図である。図7においては、
放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、任意単位で示している。なお、縦・横軸ともリニア
スケールである。
【0073】図7からも明らかなように、本発明に適用
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て対する三つの特徴的性質を有する。
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て対する三つの特徴的性質を有する。
【0074】すなわち、(i)本素子はある電圧(しき
い値電圧と呼ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印
加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電
圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されな
い。つまり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧
Vthをもった非線形素子である。
い値電圧と呼ぶ、図7中のVth)以上の素子電圧を印
加すると急激に放出電流Ieが増加し、一方しきい値電
圧Vth以下では放出電流Ieがほとんど検出されな
い。つまり、放出電流Ieに対する明確なしきい値電圧
Vthをもった非線形素子である。
【0075】(ii)放出電流Ieが素子電圧Vfに単調
増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御
できる。
増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制御
できる。
【0076】(iii)アノード電極54に捕捉される放出
電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。つま
り、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子電圧
Vfを印加する時間により制御できる。
電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。つま
り、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子電圧
Vfを印加する時間により制御できる。
【0077】以上の説明により理解されるように、本発
明に適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に
応じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。
この性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成
した電子源、画像表示装置等、多方面への応用が可能と
なる。
明に適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に
応じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。
この性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成
した電子源、画像表示装置等、多方面への応用が可能と
なる。
【0078】図7においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。これら特
性は、前述の工程を制御することで制御できる。
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。これら特
性は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0079】本発明に適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明に適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列し、例えば電子源
あるいは、画像表示装置が構成できる。
について以下に述べる。本発明に適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列し、例えば電子源
あるいは、画像表示装置が構成できる。
【0080】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。
のが採用できる。
【0081】一例として、並列に配置した多数の電子放
出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数
個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列
方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制御電
極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子からの電
子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これとは
別に、電子放出素子をX方向およびY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
いわゆる単純マトリクス配置である。まず単純マトリク
ス配置について以下に詳述する。
出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を多数
個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向(列
方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制御電
極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子からの電
子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これとは
別に、電子放出素子をX方向およびY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
いわゆる単純マトリクス配置である。まず単純マトリク
ス配置について以下に詳述する。
【0082】本発明に適用可能な表面伝導型電子放出素
子については前述したとおり(i)ないし(iii)の特性
がある。すなわち、表面伝導型電子放出素子からの放出
電子は、しきい値電圧以上では、対向する素子電極間に
印加するパルス状電圧の波高値と幅で制御できる。一
方、しきい値電圧以下では、ほとんど放出されない。こ
の特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合に
おいても、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれ
ば、入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択
して電子放出量を制御できる。
子については前述したとおり(i)ないし(iii)の特性
がある。すなわち、表面伝導型電子放出素子からの放出
電子は、しきい値電圧以上では、対向する素子電極間に
印加するパルス状電圧の波高値と幅で制御できる。一
方、しきい値電圧以下では、ほとんど放出されない。こ
の特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合に
おいても、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれ
ば、入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択
して電子放出量を制御できる。
【0083】以下この原理に基づき、本発明に適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図8を用いて説明する。図8において、71は電子
源基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。
74は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。な
お、表面伝導型電子放出素子74は、前述した平面型あ
るいは垂直型のどちらであってもよい。
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図8を用いて説明する。図8において、71は電子
源基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。
74は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。な
お、表面伝導型電子放出素子74は、前述した平面型あ
るいは垂直型のどちらであってもよい。
【0084】m本のX方向配線72は、Dx1、Dx
2、・・・・、Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、
スパッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成す
ることができる。配線の材料、膜厚、幅は、適宜設計さ
れる。Y方向配線73は、Dy1、Dy2、・・・、D
ynのn本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形
成される。これらm本のX方向配線72とn本のY方向
配線73との間には、不図示の層間絶縁層が設けられて
おり、両者を電気的に分離している(m、nは共に正の
整数)。
2、・・・・、Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、
スパッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成す
ることができる。配線の材料、膜厚、幅は、適宜設計さ
れる。Y方向配線73は、Dy1、Dy2、・・・、D
ynのn本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形
成される。これらm本のX方向配線72とn本のY方向
配線73との間には、不図示の層間絶縁層が設けられて
おり、両者を電気的に分離している(m、nは共に正の
整数)。
【0085】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面あるいは一部に所望の形状で形成され、特にX方向
配線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得る
ように膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面あるいは一部に所望の形状で形成され、特にX方向
配線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得る
ように膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0086】表面伝導型放出素子74を構成する一対の
電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本のY方
向配線73と導電性金属等からなる結線75によって電
気的に接続されている。
電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn本のY方
向配線73と導電性金属等からなる結線75によって電
気的に接続されている。
【0087】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよい。これら材料は、例え
ば前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極
を構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子
電極に接続した配線は素子電極ということもできる。
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよい。これら材料は、例え
ば前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極
を構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子
電極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0088】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型放出素子74の行を、選択するための走査信号
を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73にはY方向に配列した表面伝導型放
出素子74の各列を入力信号に応じて、変調するための
不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放出素
子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査
信号と変調信号の差電圧として供給される。
面伝導型放出素子74の行を、選択するための走査信号
を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73にはY方向に配列した表面伝導型放
出素子74の各列を入力信号に応じて、変調するための
不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放出素
子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走査
信号と変調信号の差電圧として供給される。
【0089】上記構成において、単純なマトリクス配線
を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とする
ことができる。
を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とする
ことができる。
【0090】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像表示装置について、図1、図9及び
図10を用いて説明する。図1は先に説明したとおり、
画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式図であり、
図9は、図1の画像表示装置に使用し得る蛍光膜の模式
図である。図10はNTSC方式のテレビ信号に応じて
表示を行うための駆動回路の一例を示すブロック図であ
る。
用いて構成した画像表示装置について、図1、図9及び
図10を用いて説明する。図1は先に説明したとおり、
画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式図であり、
図9は、図1の画像表示装置に使用し得る蛍光膜の模式
図である。図10はNTSC方式のテレビ信号に応じて
表示を行うための駆動回路の一例を示すブロック図であ
る。
【0091】図1における蛍光膜84は、モノクローム
の場合は蛍光体のみから構成することができ、また、カ
ラーの蛍光膜の場合は蛍光体の配列により図9(a)及
び(b)に示すようなブラックストライプあるいはブラ
ックマトリクス等と呼ばれる黒色導電材91と蛍光体9
2とから構成することができる。ブラックストライプ、
ブラックマトリクスを設ける目的は、カラー表示の場
合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分
け部を黒くすることで混色等を目立たなくすることと、
蛍光膜における外光反射によるコントラストの低下を抑
制することにある。ブラックストライプの材料として
は、通常用いられている黒鉛を主成分とする材料の他、
導電性があり、光の透過および反射が少ない材料を用い
ることができる。
の場合は蛍光体のみから構成することができ、また、カ
ラーの蛍光膜の場合は蛍光体の配列により図9(a)及
び(b)に示すようなブラックストライプあるいはブラ
ックマトリクス等と呼ばれる黒色導電材91と蛍光体9
2とから構成することができる。ブラックストライプ、
ブラックマトリクスを設ける目的は、カラー表示の場
合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体92間の塗り分
け部を黒くすることで混色等を目立たなくすることと、
蛍光膜における外光反射によるコントラストの低下を抑
制することにある。ブラックストライプの材料として
は、通常用いられている黒鉛を主成分とする材料の他、
導電性があり、光の透過および反射が少ない材料を用い
ることができる。
【0092】図1に示すように、ガラス基板83上に蛍
光体を塗布する方法としては、モノクローム、カラーに
よらず、沈澱法、印刷法等が採用できる。蛍光膜84の
内面側には、通常メタルバック85が設けられる。メタ
ルバックを設ける目的は、蛍光体の発光のうち内面側へ
の光をフェースプレート86側へ鏡面反射させることに
より輝度を向上させること、電子ビーム加速電圧を印加
するための電極として作用させること、外囲器内で発生
した負イオンの衝突によるダメージから蛍光体を保護す
ること等である。メタルバックは、蛍光膜作製後、蛍光
膜の内面側表面の平滑化処理(通常、「フィルミング」
と呼ばれる。)を行い、その後Alを真空蒸着等を用い
て堆積させることで作製できる。
光体を塗布する方法としては、モノクローム、カラーに
よらず、沈澱法、印刷法等が採用できる。蛍光膜84の
内面側には、通常メタルバック85が設けられる。メタ
ルバックを設ける目的は、蛍光体の発光のうち内面側へ
の光をフェースプレート86側へ鏡面反射させることに
より輝度を向上させること、電子ビーム加速電圧を印加
するための電極として作用させること、外囲器内で発生
した負イオンの衝突によるダメージから蛍光体を保護す
ること等である。メタルバックは、蛍光膜作製後、蛍光
膜の内面側表面の平滑化処理(通常、「フィルミング」
と呼ばれる。)を行い、その後Alを真空蒸着等を用い
て堆積させることで作製できる。
【0093】フェースプレート86には、さらに蛍光膜
84の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明
電極(不図示)を設けてもよい。
84の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明
電極(不図示)を設けてもよい。
【0094】前述の封着を行う際は、カラーの場合は各
色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十
分な位置合わせが不可欠となる。
色蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十
分な位置合わせが不可欠となる。
【0095】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行うための駆動回路の構成
例について、図10を用いて説明する。図10におい
て、101は画像表示パネル、102は走査回路、10
3は制御回路、104はシフトレジスタである。105
はラインメモリ、106は同期信号分離回路、107は
変調信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行うための駆動回路の構成
例について、図10を用いて説明する。図10におい
て、101は画像表示パネル、102は走査回路、10
3は制御回路、104はシフトレジスタである。105
はラインメモリ、106は同期信号分離回路、107は
変調信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0096】表示パネル101は、端子Dox1ないし
Doxm、端子Doy1ないしDoyn、および高圧端
子Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子D
ox1ないしDoxmには、表示パネル内に設けられて
いる電子源、すなわち、M行N列の行列状にマトリクス
配線された表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)
ずつ順次駆動するための走査信号が印加される。
Doxm、端子Doy1ないしDoyn、および高圧端
子Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子D
ox1ないしDoxmには、表示パネル内に設けられて
いる電子源、すなわち、M行N列の行列状にマトリクス
配線された表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)
ずつ順次駆動するための走査信号が印加される。
【0097】端子Doy1ないしDoynには、前記走
査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出素子
の各素子の出力電子ビームを制御するための変調信号が
印加される。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、
例えば10k[V]の直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍
光体を励起するのに十分なエネルギーを付与するための
加速電圧である。
査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出素子
の各素子の出力電子ビームを制御するための変調信号が
印加される。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、
例えば10k[V]の直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍
光体を励起するのに十分なエネルギーを付与するための
加速電圧である。
【0098】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気的に
接続される。S1ないしSmの各スイッチング素子は、
制御回路103が出力する制御信号Tscanに基づい
て動作するものであり、例えばFETのようなスイッチ
ング素子を組み合わせることにより構成することができ
る。
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1ないしDxmと電気的に
接続される。S1ないしSmの各スイッチング素子は、
制御回路103が出力する制御信号Tscanに基づい
て動作するものであり、例えばFETのようなスイッチ
ング素子を組み合わせることにより構成することができ
る。
【0099】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力する
よう設定されている。
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力する
よう設定されている。
【0100】制御回路103は、外部より入力する画像
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscanおよびTsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscanおよびTsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
【0101】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路106により分離された同期信号は、垂直同
期信号と水平同期信号よりなるが、ここでは説明の便宜
上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から
分離された画像の輝度信号成分は便宜上DATA信号と
表した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入力
される。
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路106により分離された同期信号は、垂直同
期信号と水平同期信号よりなるが、ここでは説明の便宜
上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から
分離された画像の輝度信号成分は便宜上DATA信号と
表した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入力
される。
【0102】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する。(すなわち、制御信号Tsftは、シフトレ
ジスタ104のシフトクロックであるということもでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当)のデータ
は、IdlないしIdnのN個の並列信号として前記シ
フトレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する。(すなわち、制御信号Tsftは、シフトレ
ジスタ104のシフトクロックであるということもでき
る)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
(電子放出素子N素子分の駆動データに相当)のデータ
は、IdlないしIdnのN個の並列信号として前記シ
フトレジスタ104より出力される。
【0103】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryにし
たがって適宜IdlないしIdnの内容を記憶する。記
憶された内容は、I’dlないしI’dnとして出力さ
れ、変調信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryにし
たがって適宜IdlないしIdnの内容を記憶する。記
憶された内容は、I’dlないしI’dnとして出力さ
れ、変調信号発生器107に入力される。
【0104】変調信号発生器107は、画像データI’
dlないしI’dnの各々に応じて表面伝導型電子放出
素子の各々を適切に駆動変調するための信号源であり、
その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通じて
表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。
dlないしI’dnの各々に応じて表面伝導型電子放出
素子の各々を適切に駆動変調するための信号源であり、
その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通じて
表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。
【0105】前述したように、本発明に適用可能なの電
子放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有
している。すなわち、電子放出には明確なしきい値電圧
Vthがあり、Vth以上の電圧を印加されたときのみ
電子放出が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対し
ては、素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化
する。このことから、本素子にパルス状の電圧を印加す
る場合、例えば電子放出しきい値以下の電圧を印加して
も電子放出は生じないが、電子放出しきい値以上の電圧
を印加する場合には電子ビームが出力される。その際、
パルスの波高値Vmを変化させることにより出力電子ビ
ームの強度を制御することが可能である。また、パルス
の幅Pwを変化させることにより出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御することが可能である。
子放出素子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有
している。すなわち、電子放出には明確なしきい値電圧
Vthがあり、Vth以上の電圧を印加されたときのみ
電子放出が生じる。電子放出しきい値以上の電圧に対し
ては、素子への印加電圧の変化に応じて放出電流も変化
する。このことから、本素子にパルス状の電圧を印加す
る場合、例えば電子放出しきい値以下の電圧を印加して
も電子放出は生じないが、電子放出しきい値以上の電圧
を印加する場合には電子ビームが出力される。その際、
パルスの波高値Vmを変化させることにより出力電子ビ
ームの強度を制御することが可能である。また、パルス
の幅Pwを変化させることにより出力される電子ビーム
の電荷の総量を制御することが可能である。
【0106】したがって、入力信号に応じて、電子放出
素子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅
変調方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際
しては、変調信号発生器107として、一定長さの電圧
パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルス
の波高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる
ことができる。
素子を変調する方式としては、電圧変調方式、パルス幅
変調方式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際
しては、変調信号発生器107として、一定長さの電圧
パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜パルス
の波高値を変調するような電圧変調方式の回路を用いる
ことができる。
【0107】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
【0108】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものをもアナログ信号式のもの
をも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行われればよいからである。
5は、デジタル信号式のものをもアナログ信号式のもの
をも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行われればよいからである。
【0109】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには106の出力部にA/D変
換器を設ければよい。これに関連してラインメモリ10
5の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、
変調信号発生器107に用いられる回路が若干異なった
ものとなる。すなわち、デジタル信号を用いた電圧変調
方式の場合、変調信号発生器107には、例えばD/A
変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等を付加する。
パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えば高速の発振器および発振器の出力する波数を計数
する計数器(カウンタ)および計数器の出力値と前記メ
モリの出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み
合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力す
るパルス幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには106の出力部にA/D変
換器を設ければよい。これに関連してラインメモリ10
5の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、
変調信号発生器107に用いられる回路が若干異なった
ものとなる。すなわち、デジタル信号を用いた電圧変調
方式の場合、変調信号発生器107には、例えばD/A
変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等を付加する。
パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えば高速の発振器および発振器の出力する波数を計数
する計数器(カウンタ)および計数器の出力値と前記メ
モリの出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み
合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力す
るパルス幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
【0110】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を採用
でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を採用
でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
【0111】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介してメタルバック85、あるいは
透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速
する。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が
生じて画像が形成される。
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介してメタルバック85、あるいは
透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速
する。加速された電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が
生じて画像が形成される。
【0112】ここで述べた画像表示装置の構成は、本発
明を適用可能な画像表示装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
明を適用可能な画像表示装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
【0113】次に、はしご型配置の電子源および画像表
示装置について図11および図12を用いて説明する。
示装置について図11および図12を用いて説明する。
【0114】図11は、はしご型配置の電子源の一例を
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112、Dx1〜D
x10は、電子放出素子111に接続するための共通配
線である。電子放出素子111は、基板110上に、X
方向に並列に複数個配される(これを素子行と呼ぶ)。
この素子行が複数個配されて、電子源を構成している。
各素子行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各
素子行を独立に駆動させることができる。すなわち、電
子ビームを放出させたい素子行には、電子放出しきい値
以上の電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、電
子放出しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の共
通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同一
配線とすることもできる。
示す模式図である。図11において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112、Dx1〜D
x10は、電子放出素子111に接続するための共通配
線である。電子放出素子111は、基板110上に、X
方向に並列に複数個配される(これを素子行と呼ぶ)。
この素子行が複数個配されて、電子源を構成している。
各素子行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各
素子行を独立に駆動させることができる。すなわち、電
子ビームを放出させたい素子行には、電子放出しきい値
以上の電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、電
子放出しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の共
通配線Dx2〜Dx9を、例えばDx2、Dx3を同一
配線とすることもできる。
【0115】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像表示装置におけるパネルの構造の一例を示す模式図
である。120はグリッド電極、121は電子が通過す
るための空孔、122はDox1、Dox2、・・・D
oxmよりなる容器外端子である。123は、グリッド
電極120と接続されたG1、G2、・・・・、Gnか
らなる容器外端子、124は各素子行間の共通配線を同
一配線とした電子源基板である。
画像表示装置におけるパネルの構造の一例を示す模式図
である。120はグリッド電極、121は電子が通過す
るための空孔、122はDox1、Dox2、・・・D
oxmよりなる容器外端子である。123は、グリッド
電極120と接続されたG1、G2、・・・・、Gnか
らなる容器外端子、124は各素子行間の共通配線を同
一配線とした電子源基板である。
【0116】301は、非蒸発型ゲッタの微粉末と蒸発
型ゲッタの混合物を内包したゲッタ材コンテナである。
ゲッタ材コンテナ301は、ゲッタ材コンテナ固定治具
302に固定されている。303は、ゲッタ材の飛散防
止板である。
型ゲッタの混合物を内包したゲッタ材コンテナである。
ゲッタ材コンテナ301は、ゲッタ材コンテナ固定治具
302に固定されている。303は、ゲッタ材の飛散防
止板である。
【0117】図12においては、図1、図11に示した
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像表示装置と、図1に
示した単純マトリクス配置の画像表示装置の大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
部位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符
号を付している。ここに示した画像表示装置と、図1に
示した単純マトリクス配置の画像表示装置の大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
【0118】図12においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子から放出された電子ビームを変調するものであり、は
しご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ドの形状や設置位置は図12に示したものに限定される
ものではない。例えば、開口としてメッシュ状に多数の
通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝導型電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子から放出された電子ビームを変調するものであり、は
しご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ドの形状や設置位置は図12に示したものに限定される
ものではない。例えば、開口としてメッシュ状に多数の
通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝導型電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
【0119】容器外端子122およびグリッド容器外端
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
子123は、不図示の制御回路と電気的に接続されてい
る。
【0120】本例の画像表示装置では素子行を1列ずつ
順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列
に画像の1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。本発明の画像表
示装置は、テレビジョンン放送の表示装置、テレビ会議
システムやコンピュータ等の表示装置の他、感光性ドラ
ム等を用いて構成された光プリンターとしての画像表示
装置としても用いることもできる。
順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極列
に画像の1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。本発明の画像表
示装置は、テレビジョンン放送の表示装置、テレビ会議
システムやコンピュータ等の表示装置の他、感光性ドラ
ム等を用いて構成された光プリンターとしての画像表示
装置としても用いることもできる。
【0121】
【実施例】以下に具体的な実施例を挙げて本発明を詳し
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。 実施例1 本発明の第1実施例として、図2に示す構造の電子放出
素子を用いた図1に構成の画像表示装置について説明す
る。
く説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるもの
ではなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素
の置換や設計変更がなされたものをも包含する。 実施例1 本発明の第1実施例として、図2に示す構造の電子放出
素子を用いた図1に構成の画像表示装置について説明す
る。
【0122】まず、図2、図13〜16を参照して表面
伝導型電子放出素子の製造方法につき説明する。なお、
以下の説明は1個の電子放出素子について説明するもの
であるが、図1に示すマトリックス配置を得るための露
光マスクを用いて多数の電子放出素子の形成が同一基板
上で同時に行われた。
伝導型電子放出素子の製造方法につき説明する。なお、
以下の説明は1個の電子放出素子について説明するもの
であるが、図1に示すマトリックス配置を得るための露
光マスクを用いて多数の電子放出素子の形成が同一基板
上で同時に行われた。
【0123】絶縁性基板201として石英基板を用い、
これを洗剤、純水および有機溶剤により十分に洗浄(図
13(a))後、レジスト材RD−2000N(日立化
成社製)を、2500rpm、40秒スピンナー塗布し
80℃、25分加熱してプリベークした(図13
(b))。次に、電極間隔Lは2μm、電極長さWは3
00μmの電極形状に対応するマスクを用いて密着露光
し、RD−2000N用現像液で現像した(図2、図1
3(c))。その後、120℃20分加熱してポストベ
ークした。
これを洗剤、純水および有機溶剤により十分に洗浄(図
13(a))後、レジスト材RD−2000N(日立化
成社製)を、2500rpm、40秒スピンナー塗布し
80℃、25分加熱してプリベークした(図13
(b))。次に、電極間隔Lは2μm、電極長さWは3
00μmの電極形状に対応するマスクを用いて密着露光
し、RD−2000N用現像液で現像した(図2、図1
3(c))。その後、120℃20分加熱してポストベ
ークした。
【0124】電極の材料としては導電性を有するもので
あればどのようなものであっても構わないが、本実施例
ではニッケル金属を用いた。抵抗加熱蒸着機を用いてニ
ッケルを毎秒3オングストロームで膜厚が1000オン
グストロームになるまで蒸着した(図13(d))。ア
セトンでリフトオフし、アセトン、イソプロピルアルコ
ール、続いて酢酸ブチルで洗浄後、乾燥した(図13
(e))。
あればどのようなものであっても構わないが、本実施例
ではニッケル金属を用いた。抵抗加熱蒸着機を用いてニ
ッケルを毎秒3オングストロームで膜厚が1000オン
グストロームになるまで蒸着した(図13(d))。ア
セトンでリフトオフし、アセトン、イソプロピルアルコ
ール、続いて酢酸ブチルで洗浄後、乾燥した(図13
(e))。
【0125】次に、クロムを基板全面に500オングス
トローム蒸着した(図14(f))。その後、レジスト
材AZ1370(ヘキスト社製)を2500rpm、3
0秒スピンナー塗布し、90℃、30分加熱しプリベー
クした(図14(g))。
トローム蒸着した(図14(f))。その後、レジスト
材AZ1370(ヘキスト社製)を2500rpm、3
0秒スピンナー塗布し、90℃、30分加熱しプリベー
クした(図14(g))。
【0126】次に電子源材料を塗布するパターンを有す
るマスクを用いて露光し(図14(h))、現像液31
2MIF(ヘキスト社製)で現像した(図15
(i))。その後、120℃、30分加熱しポストベー
クした。
るマスクを用いて露光し(図14(h))、現像液31
2MIF(ヘキスト社製)で現像した(図15
(i))。その後、120℃、30分加熱しポストベー
クした。
【0127】次に(NH4 )Ce(NO3 )6 /HCl
O4 /H2 O=17g/5cc/100ccの組成の溶
液に30秒浸漬し、クロムをエッチングした(図15
(j))。その後、アセトン中、10分間超音波攪拌し
てレジストを剥離した(図15(k))。
O4 /H2 O=17g/5cc/100ccの組成の溶
液に30秒浸漬し、クロムをエッチングした(図15
(j))。その後、アセトン中、10分間超音波攪拌し
てレジストを剥離した(図15(k))。
【0128】続いて、120℃。10分加熱した。次
に、有機パラジウム(奥野製薬(株)性、ccp−42
30)含有溶液を800rpm、30秒スピンナー塗布
した。その後、300℃、20分焼成して、酸化パラジ
ウム(PdO)微粒子(粒径:10オングストローム〜
150オングストローム)を主体とする微粒子状の導電
性薄膜202を形成した(図15(1))。
に、有機パラジウム(奥野製薬(株)性、ccp−42
30)含有溶液を800rpm、30秒スピンナー塗布
した。その後、300℃、20分焼成して、酸化パラジ
ウム(PdO)微粒子(粒径:10オングストローム〜
150オングストローム)を主体とする微粒子状の導電
性薄膜202を形成した(図15(1))。
【0129】続いて、クロムをリフトオフすることで、
素子電極205、206および導電性薄膜202を得た
(図16(m))。
素子電極205、206および導電性薄膜202を得た
(図16(m))。
【0130】このようにして得られた基板上の各素子
に、図1のようにX方向配線72、Y方向配線73をそ
れぞれ接続し、電子源基板71とした。この電子源基板
を用いて、図1の構成の画像表示素子を作製した。ま
ず、非蒸発型ゲッタの微粉末として、機械的に粉砕し微
粉末としたZr−V−Fe合金を用意した。該微粉末の
大きさ(粒径)は、光学顕微鏡および走査電子顕微鏡を
用いて調べた結果、0.1μm〜1mmの範囲にあっ
た。これを蒸発型ゲッタとしてのBaと、Zr−V−F
e合金粉末を、Zr−V−Fe合金粉末/Ba=0.5
(重量比)で混合して、コンテナ301内に配置した。
次に、リアプレート81上の所定位置に電子源基板7
1、ゲッタ材コンテナ301等を配置し、フェースプレ
ート86を支持枠82を介して接着させた。この接着
(封着)には、主として低融点ガラス(日本電子硝子
(株)製、LS−3081)を用い、上方からおもりに
より加圧し、大気中で封着熱処理温度410℃、封着熱
処理時間60分の条件下で焼成し、画像表示装置を形成
した。なお、フェースプレート86としてはガラス基板
83内面に、蛍光膜84とメタルバック85が形成され
たものを用いた。
に、図1のようにX方向配線72、Y方向配線73をそ
れぞれ接続し、電子源基板71とした。この電子源基板
を用いて、図1の構成の画像表示素子を作製した。ま
ず、非蒸発型ゲッタの微粉末として、機械的に粉砕し微
粉末としたZr−V−Fe合金を用意した。該微粉末の
大きさ(粒径)は、光学顕微鏡および走査電子顕微鏡を
用いて調べた結果、0.1μm〜1mmの範囲にあっ
た。これを蒸発型ゲッタとしてのBaと、Zr−V−F
e合金粉末を、Zr−V−Fe合金粉末/Ba=0.5
(重量比)で混合して、コンテナ301内に配置した。
次に、リアプレート81上の所定位置に電子源基板7
1、ゲッタ材コンテナ301等を配置し、フェースプレ
ート86を支持枠82を介して接着させた。この接着
(封着)には、主として低融点ガラス(日本電子硝子
(株)製、LS−3081)を用い、上方からおもりに
より加圧し、大気中で封着熱処理温度410℃、封着熱
処理時間60分の条件下で焼成し、画像表示装置を形成
した。なお、フェースプレート86としてはガラス基板
83内面に、蛍光膜84とメタルバック85が形成され
たものを用いた。
【0131】次に、イオンポンプとソープションポンプ
を主排気ポンプとした真空排気装置(不図示)により排
気管(不図示)から上記装置内を真空排気した。続い
て、真空排気下、上記装置内の部材の脱ガスを目的とし
たプリベークを、ベーキング温度200℃、ベーキング
時間20分の条件下で行った。なお、このプリべーク
は、150℃〜300℃の温度範囲で行うことが好まし
い。
を主排気ポンプとした真空排気装置(不図示)により排
気管(不図示)から上記装置内を真空排気した。続い
て、真空排気下、上記装置内の部材の脱ガスを目的とし
たプリベークを、ベーキング温度200℃、ベーキング
時間20分の条件下で行った。なお、このプリべーク
は、150℃〜300℃の温度範囲で行うことが好まし
い。
【0132】次に、真空排気下、素子電極205、20
6の間に電圧を印加し、導電性薄膜202を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部20
3を形成させた(図16(n)参照)。なお、本実施例
では、パネル封着後にフォーミング処理を行ったが、こ
れは該パネル封着前に行うことも可能である。
6の間に電圧を印加し、導電性薄膜202を通電処理
(フォーミング処理)することにより、電子放出部20
3を形成させた(図16(n)参照)。なお、本実施例
では、パネル封着後にフォーミング処理を行ったが、こ
れは該パネル封着前に行うことも可能である。
【0133】続いて、上記の真空排気装置を油拡散ポン
プ系に切り換え、該油拡散ポンプからの有機ガスを利用
した活性化処理を行った。
プ系に切り換え、該油拡散ポンプからの有機ガスを利用
した活性化処理を行った。
【0134】次に再度、真空排気装置をイオンポンプと
ソープションポンプを主排気ポンプとした真空排気装置
に切り換え、不図示の排気管を通じて排気し、10-7T
orr程度の真空度の有機物質の十分少ない雰囲気にし
た。
ソープションポンプを主排気ポンプとした真空排気装置
に切り換え、不図示の排気管を通じて排気し、10-7T
orr程度の真空度の有機物質の十分少ない雰囲気にし
た。
【0135】次に、真空排気下、上記画像表示装置の表
示部に10kVを印加し、該装置を全面表示の状態にな
るようにTVレートで駆動電圧を印加し、駆動、動作時
間4時間の条件で表示部に電子線を照射し、画像表示さ
せることにより表示部の脱ガス(エージング)を行っ
た。
示部に10kVを印加し、該装置を全面表示の状態にな
るようにTVレートで駆動電圧を印加し、駆動、動作時
間4時間の条件で表示部に電子線を照射し、画像表示さ
せることにより表示部の脱ガス(エージング)を行っ
た。
【0136】続いて、真空排気下、上記画像表示装置を
熱処理温度120℃、熱処理時間10時間の条件下で加
熱し、該装置内のベーキングを行った。
熱処理温度120℃、熱処理時間10時間の条件下で加
熱し、該装置内のベーキングを行った。
【0137】次に、1×10-6Torr程度の真空度
で、不図示の排気管をガスバーナで熱することで溶着し
外囲器88の封止を行った。
で、不図示の排気管をガスバーナで熱することで溶着し
外囲器88の封止を行った。
【0138】最後に、外囲器88の封止後の真空度を向
上および維持するために、ゲッタ材コンテナ310を、
抵抗加熱により加熱し、非蒸発型ゲッタの微粉末を含む
蒸着膜を形成させた。なお、上記非蒸発型ゲッタの微粉
末は、単独で存在することはなく、Baからなる蒸着膜
の内部に、または、該蒸着膜の一部と接触した状態で存
在していることを走査電子顕微鏡により確認した。
上および維持するために、ゲッタ材コンテナ310を、
抵抗加熱により加熱し、非蒸発型ゲッタの微粉末を含む
蒸着膜を形成させた。なお、上記非蒸発型ゲッタの微粉
末は、単独で存在することはなく、Baからなる蒸着膜
の内部に、または、該蒸着膜の一部と接触した状態で存
在していることを走査電子顕微鏡により確認した。
【0139】本発明の非蒸発型ゲッタの微粉末を蒸発型
ゲッタの混合物をゲッタ材として用いることで、(1)
水素排気能のある非蒸発型ゲッタを併用することによ
り、特に、画像表示装置内の水素分圧が低下する(Ba
蒸発型ゲッタを単独使用する場合と比べると半減す
る)、(2)非蒸発型ゲッタ材が広範囲に分散する、
(3)非蒸発型ゲッタの微粉末を混在させることで分散
したゲッタ剤の表面積が大きくなり、ガス吸着効率が向
上する、等の作用により、画像表示装置内の真空度が改
善され、1×10-7Torr程度の真空度が得られた。
その結果、画像表示装置の寿命が向上した。
ゲッタの混合物をゲッタ材として用いることで、(1)
水素排気能のある非蒸発型ゲッタを併用することによ
り、特に、画像表示装置内の水素分圧が低下する(Ba
蒸発型ゲッタを単独使用する場合と比べると半減す
る)、(2)非蒸発型ゲッタ材が広範囲に分散する、
(3)非蒸発型ゲッタの微粉末を混在させることで分散
したゲッタ剤の表面積が大きくなり、ガス吸着効率が向
上する、等の作用により、画像表示装置内の真空度が改
善され、1×10-7Torr程度の真空度が得られた。
その結果、画像表示装置の寿命が向上した。
【0140】なお、以上述べた構成は、画像表示装置を
作製する上で必要な概略構成であり、例えば各部材の材
料等、詳細な部分は上述内容に限られるものではなく、
画像表示装置の用途に適するよう適宜選択すればよい。 実施例2 本発明の第2実施例として、ゲッタフラッシュにより分
散した非蒸発型ゲッタの微粉末に対し、レーザー光を照
射することで再活性化させた例について説明する。
作製する上で必要な概略構成であり、例えば各部材の材
料等、詳細な部分は上述内容に限られるものではなく、
画像表示装置の用途に適するよう適宜選択すればよい。 実施例2 本発明の第2実施例として、ゲッタフラッシュにより分
散した非蒸発型ゲッタの微粉末に対し、レーザー光を照
射することで再活性化させた例について説明する。
【0141】表面伝導型電子放出素子および、単純マト
リクス配置の電子源を用いて構成した画像表示装置の製
造は、実施例1における前記画像表示装置のベーキング
を行うまでは実施例1と同様に行った。したがって、以
下は図1を用いて説明する。
リクス配置の電子源を用いて構成した画像表示装置の製
造は、実施例1における前記画像表示装置のベーキング
を行うまでは実施例1と同様に行った。したがって、以
下は図1を用いて説明する。
【0142】上記ベーキングを行った後、ゲッタ材コン
テナ310を、抵抗加熱により加熱し、非蒸発型ゲッタ
の微粉末を含む蒸着膜を形成させた。その後、フェース
プレート86、支持枠82、リアプレート81の透明部
分を介して外部から、上記蒸着膜に対し、不図示のレー
ザー光を照射することで、分散した非蒸着型ゲッタの微
粉末を再活性化させた。
テナ310を、抵抗加熱により加熱し、非蒸発型ゲッタ
の微粉末を含む蒸着膜を形成させた。その後、フェース
プレート86、支持枠82、リアプレート81の透明部
分を介して外部から、上記蒸着膜に対し、不図示のレー
ザー光を照射することで、分散した非蒸着型ゲッタの微
粉末を再活性化させた。
【0143】最後に、不図示の排気管をガスバーナーで
熱することで溶着し、外囲器88の封止を行った。
熱することで溶着し、外囲器88の封止を行った。
【0144】本実施例においては、実施例1とほぼ同様
の効果が得られた。 実施例3 本発明の第3実施例として、非蒸発型ゲッタ材の微粉末
として実施例1で用いたZr−V−Fe合金の代わりに
金属Pdを用い、これ以外は実施例1と同様にして、単
純マトリクス配置の電子源を用いて構成した画像表示装
置を製造した例について説明する。
の効果が得られた。 実施例3 本発明の第3実施例として、非蒸発型ゲッタ材の微粉末
として実施例1で用いたZr−V−Fe合金の代わりに
金属Pdを用い、これ以外は実施例1と同様にして、単
純マトリクス配置の電子源を用いて構成した画像表示装
置を製造した例について説明する。
【0145】本実施例では上記画像表示装置の製造手順
も、実施例1と同様にした。
も、実施例1と同様にした。
【0146】本実施例では、ゲッタ材のフラッシュ直後
の真空度が実施例1ほど十分ではない傾向にあったが、
画像表示装置を長時間駆動させた後の真空度で比較すれ
ば、実施例1とほぼ同様の効果が得られた。 実施例4 本発明の第4実施例として、非蒸発型ゲッタ材の微粉末
として実施例1で用いたZr−V−Fe合金の代わりに
金属PdとZr−Al合金の混合物(それぞれの微粉末
を混合したもの)を用い、実施例1で用いた単純マトリ
クス配置の電子源を用いる代わりに、はしご型配置の電
子源を用いて画像表示装置(図12)を製造した例につ
いて説明する。
の真空度が実施例1ほど十分ではない傾向にあったが、
画像表示装置を長時間駆動させた後の真空度で比較すれ
ば、実施例1とほぼ同様の効果が得られた。 実施例4 本発明の第4実施例として、非蒸発型ゲッタ材の微粉末
として実施例1で用いたZr−V−Fe合金の代わりに
金属PdとZr−Al合金の混合物(それぞれの微粉末
を混合したもの)を用い、実施例1で用いた単純マトリ
クス配置の電子源を用いる代わりに、はしご型配置の電
子源を用いて画像表示装置(図12)を製造した例につ
いて説明する。
【0147】本実施例における電子源および画像表示装
置の製造手順は、先に述べたとおり、基本的には実施例
1と同様である。該画像表示装置が、単純マトリクス配
置の電子源を用いて構成した画像表示装置と大きく違う
のは、グリッド電極を備えているか否かである。したが
って、該画像表示装置の製造プロセスの最終段階である
該装置の封止、ゲッタ材のフラッシュも、実施例1と同
様にして行った。
置の製造手順は、先に述べたとおり、基本的には実施例
1と同様である。該画像表示装置が、単純マトリクス配
置の電子源を用いて構成した画像表示装置と大きく違う
のは、グリッド電極を備えているか否かである。したが
って、該画像表示装置の製造プロセスの最終段階である
該装置の封止、ゲッタ材のフラッシュも、実施例1と同
様にして行った。
【0148】本実施例においては、実施例1とほぼ同様
の効果が得られた。 比較例 非蒸発型ゲッタ材Zr−V−Fe合金の微粉末を用いず
に、蒸発型ゲッタ材のみを使用する以外は実施例1と同
様にして、単純マトリクス配置の電子源を用いて構成し
た画像表示装置を製造した。
の効果が得られた。 比較例 非蒸発型ゲッタ材Zr−V−Fe合金の微粉末を用いず
に、蒸発型ゲッタ材のみを使用する以外は実施例1と同
様にして、単純マトリクス配置の電子源を用いて構成し
た画像表示装置を製造した。
【0149】この場合、特に上記画像表示装置を長時間
駆動させた際に該装置内の真空度が悪化し画質が乱れる
ことがあった。
駆動させた際に該装置内の真空度が悪化し画質が乱れる
ことがあった。
【0150】
【発明の効果】対向する電極間に電子放出部を有する表
面伝導型電子放出素子からなる電子源と、該電子源から
放出される電子ビームの照射により発光する蛍光面部材
と、内部真空を維持するためのゲッタを少なくとも内装
する画像表示装置において、前記ゲッタとして非蒸発型
ゲッタの微粉末と蒸発型ゲッタの混合物を用いること
で、(1)該画像表示装置内の水素分圧を低下でき、
(2)非蒸発型ゲッタ材を広範囲に分散でき、(3)分
散したゲッタ材の表面積が大きくなりガス吸着効率が向
上する、等により、該装置内の真空度を改善させること
ができる。その結果、画像表示装置の寿命が向上する。
面伝導型電子放出素子からなる電子源と、該電子源から
放出される電子ビームの照射により発光する蛍光面部材
と、内部真空を維持するためのゲッタを少なくとも内装
する画像表示装置において、前記ゲッタとして非蒸発型
ゲッタの微粉末と蒸発型ゲッタの混合物を用いること
で、(1)該画像表示装置内の水素分圧を低下でき、
(2)非蒸発型ゲッタ材を広範囲に分散でき、(3)分
散したゲッタ材の表面積が大きくなりガス吸着効率が向
上する、等により、該装置内の真空度を改善させること
ができる。その結果、画像表示装置の寿命が向上する。
【0151】また、非蒸発型ゲッタの活性化に、蒸発型
ゲッタのフラッシュ時の熱を利用するため、プロセスを
簡略さすることができる。
ゲッタのフラッシュ時の熱を利用するため、プロセスを
簡略さすることができる。
【図1】本発明の、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式
図。
て構成した画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式
図。
【図2】本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子の
構成を示す模式的平面図および断面図である。
構成を示す模式的平面図および断面図である。
【図3】本発明を適用可能な垂直型表面伝導型電子放出
素子の構成を示す模式図である。
素子の構成を示す模式図である。
【図4】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素子の
製造方法の一例を示す模式図である。
製造方法の一例を示す模式図である。
【図5】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素子の
製造に際して採用できる通電フォーミング処理における
電圧波形の一例を示す模式図である。
製造に際して採用できる通電フォーミング処理における
電圧波形の一例を示す模式図である。
【図6】測定評価機能を備えた真空処理装置の一例を示
す模式図である。
す模式図である。
【図7】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素子に
ついての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vfの
関係の一例を示すグラフである。
ついての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vfの
関係の一例を示すグラフである。
【図8】本発明を適用可能な単純マトリクス配置した電
子源の一例を示す模式図である。
子源の一例を示す模式図である。
【図9】蛍光膜の一例を示す模式図である。
【図10】画像表示装置にNTSC方式のテレビ信号に
応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブロック
図である。
応じて表示を行うための駆動回路の一例を示すブロック
図である。
【図11】本発明を適用可能なはしご型配置の電子源の
一例を示す模式図である。
一例を示す模式図である。
【図12】本発明の、はしご型配置の電子源を用いて構
成した画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式図で
ある。
成した画像表示装置の表示パネルの一例を示す模式図で
ある。
【図13】(a)〜(e)のそれぞれは電子放出素子の
製造方法の第一の部分の工程を示す工程図である。
製造方法の第一の部分の工程を示す工程図である。
【図14】(f)〜(h)のそれぞれは電子放出素子の
製造方法の第二の部分の工程を示す工程図である。
製造方法の第二の部分の工程を示す工程図である。
【図15】(i)〜(l)のそれぞれは電子放出素子の
製造方法の第三の部分の工程を示す工程図である。
製造方法の第三の部分の工程を示す工程図である。
【図16】(m)、(n)のそれぞれは電子放出素子の
製造方法の第四の部分の工程を示す工程図である。
製造方法の第四の部分の工程を示す工程図である。
【図17】従来の表面伝導型電子放出素子の一例を示す
模式図である。
模式図である。
【符号の説明】 1、201、401 基板 2、3、205、206 素子電極 4、202、404 導電性薄膜 5、203、405 電子放出部 21 段差形成部 50 素子電極2・3間の導電性薄膜4を流れる素子
電流Ifを測定するための電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための
電源 52 素子の電子放出部5より放出される放出電流I
eを測定するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧
電源 54 素子の電子放出部5より放出される放出電流I
eを捕捉するためのアノード電極 55 真空装置 56 排気ポンプ 71、110 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 電子源基板71等を固定したリアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 VxおよびVa 直流電圧源 111 電子放出素子 112 Dx1〜Dx10は、前記電子放出素子を配
線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための空孔 122 Dox1、Dox2、・・・Doxmよりな
る容器外端子 123 グリッド電極120と接続されたG1、G
2、・・・Gnからなる容器外端子 124 各素子間の共通配線を同一配線とした電子源
基板 200 マスク 224 クロム 225 レジスト 301 ゲッタ材コンテナ 302 ゲッタ材コンタナ固定治具 303 ゲッタ材の飛散防止板 401 マスク
電流Ifを測定するための電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための
電源 52 素子の電子放出部5より放出される放出電流I
eを測定するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧
電源 54 素子の電子放出部5より放出される放出電流I
eを捕捉するためのアノード電極 55 真空装置 56 排気ポンプ 71、110 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 電子源基板71等を固定したリアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 VxおよびVa 直流電圧源 111 電子放出素子 112 Dx1〜Dx10は、前記電子放出素子を配
線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための空孔 122 Dox1、Dox2、・・・Doxmよりな
る容器外端子 123 グリッド電極120と接続されたG1、G
2、・・・Gnからなる容器外端子 124 各素子間の共通配線を同一配線とした電子源
基板 200 マスク 224 クロム 225 レジスト 301 ゲッタ材コンテナ 302 ゲッタ材コンタナ固定治具 303 ゲッタ材の飛散防止板 401 マスク
Claims (8)
- 【請求項1】 真空領域中に、対向する1対の電極によ
り挟持された電子放出部を有する表面伝導型電子放出素
子からなる電子源と、該電子源から放出される電子ビー
ムの照射により発光する蛍光面部材と、を配置し、更
に、該真空領域中にゲッタが内装された画像表示装置に
おいて、 前記ゲッタとして、非蒸発型ゲッタの微粉末と、蒸発型
ゲッタにより形成された蒸着物と、が前記真空領域中に
内装されていることを特徴とする画像表示装置。 - 【請求項2】 前記非蒸発型ゲッタが、融点が1400
℃以上の金属元素単体からなる金属、Zr−Al合金、
Zr−Fe合金、Zr−Ni合金、Zr−Nb−Fe合
金、Zr−Ti−Fe合金及びZr−V−Fe合金から
なる群より選択された1種以上の材料からなる請求項1
に記載の画像表示装置。 - 【請求項3】 前記金属がPd、Ni、Ti、Zr及び
Vからなる群より選ばれる1種以上である請求項2に記
載の画像表示装置。 - 【請求項4】 真空排気可能な閉鎖領域中に、対向する
電極間に電子放出部を有する表面伝導型電子放出素子か
らなる電子源と、該電子源から放出される電子ビームの
照射により発光する蛍光面部材と、蒸発型ゲッタと、を
配置し、該閉鎖領域を真空排気した後に、前記蒸発ゲッ
タをフラッシュさせるゲッタ処理を行う過程を有する画
像表示装置の製造方法であって、 前記蒸発ゲッタに非蒸発型ゲッタの微粉末を混合してお
き、該蒸発型ゲッタのフラッシュとともに該非蒸発ゲッ
タの微粉末を該閉鎖領域内に分散させることを特徴とす
る画像表示装置の製造方法。 - 【請求項5】 前記非蒸発型ゲッタが、融点が1400
℃以上の金属元素単体からなる金属、Zr−Al合金、
Zr−Fe合金、Zr−Ni合金、Zr−Nb−Fe合
金、Zr−Ti−Fe合金及びZr−V−Fe合金から
なる群より選択された1種以上の材料からなる請求項4
に記載の画像表示装置の製造方法。 - 【請求項6】 前記金属がPd、Ni、Ti、Zr及び
Vからなる群より選ばれる1種以上である請求項5に記
載の画像表示装置の製造方法。 - 【請求項7】 前記非蒸着型ゲッタの活性化が、前記蒸
発型ゲッタのフラッシュ時の熱によって行われる請求項
4〜6に記載の画像表示装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記非蒸着型ゲッタの活性化が、前記蒸
発型ゲッタのフラッシュ時の熱と、前記閉鎖領域内に分
散した非蒸発型ゲッタへの活性化用のエネルギー線の照
射により行う請求項4〜6に記載の画像表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5614196A JPH09245697A (ja) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | 画像表示装置および該装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5614196A JPH09245697A (ja) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | 画像表示装置および該装置の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09245697A true JPH09245697A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=13018807
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5614196A Pending JPH09245697A (ja) | 1996-03-13 | 1996-03-13 | 画像表示装置および該装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09245697A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005124813A1 (ja) * | 2004-06-18 | 2005-12-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 画像表示装置および画像表示装置の製造方法 |
WO2009060591A1 (ja) * | 2007-11-05 | 2009-05-14 | Panasonic Corporation | プラズマディスプレイパネル |
JP2010049817A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル |
JP2010097789A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル |
-
1996
- 1996-03-13 JP JP5614196A patent/JPH09245697A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005124813A1 (ja) * | 2004-06-18 | 2005-12-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | 画像表示装置および画像表示装置の製造方法 |
WO2009060591A1 (ja) * | 2007-11-05 | 2009-05-14 | Panasonic Corporation | プラズマディスプレイパネル |
JP2009117093A (ja) * | 2007-11-05 | 2009-05-28 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル |
US8022628B2 (en) | 2007-11-05 | 2011-09-20 | Panasonic Corporation | Plasma display panel incorporating a hydrogen-absorbing material |
JP2010049817A (ja) * | 2008-08-19 | 2010-03-04 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル |
JP2010097789A (ja) * | 2008-10-16 | 2010-04-30 | Panasonic Corp | プラズマディスプレイパネル |
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