JP3302258B2 - 電子放出素子、電子源、表示素子および画像形成装置の製造方法 - Google Patents

電子放出素子、電子源、表示素子および画像形成装置の製造方法

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JP3302258B2 JP7816296A JP7816296A JP3302258B2 JP 3302258 B2 JP3302258 B2 JP 3302258B2 JP 7816296 A JP7816296 A JP 7816296A JP 7816296 A JP7816296 A JP 7816296A JP 3302258 B2 JP3302258 B2 JP 3302258B2
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/316Cold cathodes having an electric field parallel to the surface thereof, e.g. thin film cathodes
    • H01J2201/3165Surface conduction emission type cathodes

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、表面伝導型電子放
出素子、該電子放出素子を用いた電子源、該電子源を用
いた表示素子および画像形成装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子としては大別し
て熱電子放出素子と冷陰極電子放出素子を用いた2種類
のものが知られている。冷陰極電子放出素子には電界放
出型(以下、「FE型」という)、金属/絶縁層/金属
型(以下、「MIM型」という)や表面伝導型電子放出
素子等がある。FE型の例としてはW. P. Dyke & W.
W. Dolan 、"Field emission"、 Advance in Electron P
hysics 、8 、89(1956)あるいはC. A. Spindt、 "PHYS
ICAL Properties of thin-film field emissioncathode
s with molybdenium cones " J. Appl. Phys., 、47,52
48(1976)等に開示されたものが知られている。MIM
型の例としてはC. A. Mead、" Operationof Tunnel-Emis
sion Devices"、J. Appl. Phys.、32 、646 (1961)等
に開示されたものが知られている。
【0003】表面伝導型電子放出素子型の例としては、
M. I. Elinson、 Radio Eng.Electron Phys.、 10、 1290、
(1965) 等に開示されたものがある。
【0004】表面伝導型電子放出素子は、基板上に形成
された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流すことに
より、電子放出が生ずる現象を利用するものである。こ
の表面伝導型電子放出素子としては、前記エリンソン
等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によるも
の[G. Dittmer : "Thin Solid Films"、 9 、 317(1972)
]、 In23 /SnO2 薄膜によるもの[M. Hartwe
ll and C. G. Fonstad:"IEEE Trans. ED Conf. ”、 519
(1975)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久他,真
空、第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告
されている。
【0005】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として前述のM.ハートウェルの素子構成を図17に
模式的に示す。同図において1は基板である。4は導電
性薄膜で、H型形状のパターンに、スパッタで形成され
た金属酸化物薄膜等からなり、後述の通電フォーミング
と呼ばれる通電処理により電子放出部5が形成される。
なお、図中の素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’
は、0.1mmで設定されている。
【0006】従来、これらの表面伝導型電子放出素子に
おいては、電子放出を行う前に導電性薄膜4を予め通電
フォーミングと呼ばれる通電処理することによって電子
放出部5を形成するのが一般的であった。通電フォーミ
ングとは前記導電性薄膜4両端に直流電圧あるいは非常
にゆっくりとした昇電圧、例えば1V/分程度を印加通
電し、導電性薄膜を局所的に破壊、変形もしくは変質せ
しめ、電気的に高抵抗な状態にした電子放出部5を形成
することである。なお、電子放出部5は導電性薄膜4の
一部に亀裂が発生しその亀裂付近から電子放出を行う。
前記通電フォーミング処理をした表面伝導型電子放出素
子は、上述の導電性薄膜4に電圧を印加し、素子に電流
を流すことにより、上述の電子放出部5より電子を放出
せしめるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
例による表面伝導型電子放出素子は、主に半導体プロセ
スに準じたホトリソグラフィー技術を用いて製造される
ため、大面積基板に電子放出素子を形成することが困難
であるとともに大型製造装置を必要とするなど製造コス
トが高いといった問題があった。
【0008】本発明の目的は、このような従来技術にお
ける欠点を改善するものであり、電子放出部形成用導電
性薄膜の製造工程を簡略化し、大面積に低コストかつ容
易に電子放出素子を形成し、それに有する表示素子、画
像形成装置を提供することにある。さらに本発明は、素
子間の電子放出特性のばらつきを抑制した良好な表示素
子、画像形成装置を提供することを目的とするものであ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するために成されたものであり、以下に示す特徴
を有するものである。
【0010】すなわち本発明は、電子放出材料を含む金
属化合物を加熱焼成する過程を経て電子放出部を形成す
る表面伝導型電子放出素子の製造方法において、電子放
出部形成用導電性薄膜を形成するに際して、例えば主材
料である金属化合物を含む2種類の水溶液の液滴をイン
クジェット方式により基板に部分的に付与する工程と、
前記基板の加熱焼成および水洗浄工程を経ることによ
り、電極の対向する方向に一部膜密度の異なる領域を有
する導電性薄膜を形成することを特徴とするものであ
る。
【0011】以下、本発明をさらに詳細に説明する。導
電性薄膜に一部膜密度の異なる部分を形成するために、
本発明では薄膜を形成するための出発材料として2種類
の水溶液を用いる。2種類の水溶液のうち一方は少なく
とも金属化合物を含み、他方には少なくとも金属化合物
および水溶性の無機化合物を含むことを特徴とする。上
記無機化合物は水溶性であることの他に、加熱焼成温度
下で安定であること、主材料である金属化合物との間に
反応を起こさない物質であることが必要とされる。使用
される無機化合物の種類としては、焼成温度や金属化合
物の種類にもよるが例えばB23 、BaO、CrO
3 、V25 等の酸化物、CoCl2 、CrBr2 、N
iCl2 、ZnBr2 等のハロゲン化物、Ba(NO
32 、Pb(NO32 等の硝酸塩、Al2 (SO
43 、MgSO4 、In(SO43 等の硫酸塩、K2
CO3 等の炭酸塩などが挙げられる。また水溶液中の
無機化合物の濃度範囲は、用いる金属化合物の種類によ
って最適な範囲が多少異なるが、一般には重量で0.1
%以上5%以下の範囲が適当である。
【0012】導電性薄膜を構成する材料の原料となる金
属化合物の中心金属としては電圧印加により電子を放出
し易いもの、すなわち仕事関数の比較的低いものでかつ
安定なもの、例えばPd、Pt、Ru、Ag、Au、T
i、In、Cu、Cr、Fe、Zn、Sn、Ta、W等
が挙げられる。
【0013】上記2種類の水溶液に含まれる金属化合物
は同一物質であることが望ましい。水溶液中の金属濃度
範囲は、用いる金属元素の種類や金属塩の種類によって
最適な範囲が多少異なるが、一般には重量で0.01%
以上5%以下の範囲が適当である。
【0014】上記の金属化合物を基板にインクジェット
方式により付与する手段は、液滴を形成し付与すること
が可能であり、微小な液滴を効率良く適度な精度で発生
付与でき、制御性も良好で便利である。インクジェット
方式にはピエゾ素子等のメカニカルな衝撃により液滴を
発生付与するものや、微小ヒータ等で液を加熱し突沸に
より液滴を発生付与するバブルジェット方式があるが、
いずれの方法でも十ナノグラム程度から数十ナノグラム
程度までの微小液滴を再現性良く発生し基板に付与する
ことができる。
【0015】上記手段で基板に付与された金属化合物を
含む水溶液は乾燥、焼成工程、水洗浄工程を経て導電性
微粒子膜とすることにより、基板上に電子放出のための
微粒子膜を形成する。乾燥工程は通常用いられる自然乾
燥、送風乾燥、熱乾燥等を用いればよい。焼成工程は通
常用いられる加熱手段を用いればよい。
【0016】水溶性無機化合物を含む溶液から作製した
微粒子膜は、焼成後無機化合物を含んだ微粒子膜として
形成されるが、水洗浄により水溶性の無機化合物のみが
溶出し、最終的に金属化合物から形成された導電性微粒
子膜が基板上に形成されることになる。この微粒子膜は
無機化合物を含まない水溶液から形成された薄膜に比べ
膜密度の小さな微粒子膜となる。
【0017】本発明の電子放出素子の製造方法において
は、2種類の水溶液を付与することにより一部膜密度の
異なる領域を有する電子放出部形成用導電性薄膜を形成
することを特徴とするものであるが、その目的および効
果について以下に説明する。
【0018】先述したように、電子放出部の形成は導電
性薄膜に通電フォーミングと呼ばれる処理を行うことに
よって亀裂を形成する工程を経て行われるが、亀裂の位
置および形状は、薄膜の作製条件やフォーミングの微妙
な条件などによって素子毎にばらつきが生じ、正確に制
御することは困難である。その結果素子毎の電子放出特
性にばらつきが生じ、画像形成装置においては輝度にば
らつきが生じることがあった。
【0019】本発明の導電性薄膜はこれらの点を改善す
ることを目的として作製されるものであり、導電膜の所
望の位置に精度良く電子放出部を形成し、素子間のばら
つきを抑制することが可能となる。すなわち、他の薄膜
部に比べて膜密度の小さな部分を形成すれば、その部分
は導電率が低くなるためフォーミングによる亀裂ができ
易い部分となる。基板に2種類の水溶液を付与する際、
各々の液滴を適当な位置に付与することによって電極間
の任意の位置に膜密度の異なる部分を形成することが可
能である。さらにこの膜密度が小さな部分のフォーミン
グは、導電率が低いことから要する電圧(フォーミング
電圧)が少なくて済むという利点もある。
【0020】上記のような方法に従い導電性薄膜を形成
して電子放出素子を作製するならば、従来のホトリソグ
ラフィー技術を用いることなく簡略で低コストな工程
で、大面積に電子放出素子を作製することができる。さ
らに電子放出部の位置を制御することができるため、素
子毎の電子放出特性のばらつきを抑制し、良好な表示素
子および画像形成装置を提供することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】本発明の表面伝導型電子放出素子
の製造方法は、特に表面伝導型である電子放出素子に好
ましく用いられる。次に本発明を適用可能な平面型表面
伝導型電子放出素子の基本的な構成について図面を用い
て説明する。
【0022】図1は、本発明を適用可能な平面型表面伝
導型電子放出素子の構成を示す模式図であり、図1
(a)は平面図、図1(b)は断面図である。図1にお
いて1は基板、2と3は素子電極、4は導電性薄膜、5
は電子放出部である。
【0023】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少したガラス、青板ガラス、青板ガラス
にスパッタ法等により形成したSiO2 を積層したガラ
ス基板、アルミナ等のセラミックスおよびSi基板等を
用いることができる。対向する素子電極2,3の材料と
しては、一般的な導電材料を用いることができる。これ
は例えばNi、Cr、Au、Mo、W、Pt、Ti、A
l、Cu、Pd等の金属あるいは合金およびPd、A
g、Au、RuO2 、Pd−Ag等の金属あるいは金属
酸化物とガラス等から構成される印刷導体、In23
−SnO2 等の透明導電体およびポリシリコン等の半導
体導体材料等から適宜選択することができる。
【0024】素子電極間隔L1、素子電極長さW1、導
電性薄膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、
設計される。素子電極間隔L1は、好ましくは、数千オ
ングストロームから数百マイクロメートルの範囲とする
ことができ、より好ましくは、素子電極間に印加する電
圧等を考慮して数マイクロメートルから数百マイクロメ
ートルの範囲とすることができる。素子電極2,3の膜
厚dは、数百オングストロームから数マイクロメートル
の範囲とすることができる。なお、図1に示した構成だ
けでなく、基板1上に、導電性薄膜4、対向する素子電
極2,3の順に積層した構成とすることもできる。
【0025】導電性薄膜4には、良好な電子放出特性を
得るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが
好ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカ
バレージ、素子電極2,3間の抵抗値および後述するフ
ォーミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常
は、数オングストロームから数千オングストロームの範
囲とするのが好ましく、より好ましくは10オングスト
ロームから500オングストロームの範囲とするのが良
い。その抵抗値は、Rsが102 から107 Ω/□の値
である。なおRsは、厚さがt、幅がwで長さがlの薄
膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)とおいたときに現れ
る。ここで、フォーミング処理については、通電処理を
例に挙げて説明するが、フォーミング処理はこれに限ら
れるものではなく、膜に亀裂を生じさせて高抵抗状態を
形成する処理を包含するものである。
【0026】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態あるいは微粒子が互いに隣接、あるい
は重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、全体
として島状構造を形成している場合も含む)をとってい
る。微粒子の粒径は、数オングストロームから数千オン
グストロームの範囲、好ましくは、10オングストロー
ムから200オングストロームの範囲である。なお、本
明細書では頻繁に「微粒子」という言葉を用いるので、
その意味について説明する。
【0027】小さな粒子を「微粒子」と呼び、これより
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく原子の数が数百個程度以下のものを「ク
ラスター」と呼ぶことは広く行われている。しかしなが
ら、それぞれの境は厳密なものではなく、どの様な性質
に注目して分類するかにより変化する。また、「微粒
子」と「超微粒子」を一括して「微粒子」と呼ぶ場合も
あり、本明細書中での記述はこれに沿ったものである。
「実験物理学講座14 表面・微粒子」(木下是雄編、
共立出版1986年9月1日発行)では次のように記述
されている。「本稿で微粒子と言うときにはその直径が
だいたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特
に超微粒子というときは粒径10nm程度から2〜3n
m程度までを意味することにする。両者を一括して単に
微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ22〜26行目)。
【0028】付言すると、新技術開発事業団の「林・超
微粒子プロジェクト」での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。「創
造科学技術推進制度の“超微粒子プロジェクト”(19
81〜1986)では、粒子の大きさ(径)がおよそ1
〜100nmの範囲のものを“超微粒子”(ultra fine
particle )と呼ぶことにした。すると1個の超微粒子
はおよそ100〜108個くらいの原子の集合体という
ことになる。原子の尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒
子である。」(「超微粒子−創造科学技術−」林主税、
上田良二、田崎明編;三田出版1988年2ページ1〜
4行目)、「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち
原子が数個〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつう
クラスターと呼ばれる」(同書2ページ12〜13行
目)。
【0029】上記のような一般的な呼び方をふまえて、
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数オングストローム〜10オング
ストローム程度、上限は数μm程度のものを指すことと
する。
【0030】電子放出部5は、導電性薄膜4の一部に形
成された高抵抗の亀裂により構成され、導電性薄膜4の
膜厚、膜質、材料および後述する通電フォーミング等の
手法等に依存したものとなる。電子放出部5の内部に
は、数オングストロームから数百オングストロームの範
囲の粒径の導電性微粒子が存在する場合もある。この導
電性微粒子は、導電性薄膜4を構成する材料の元素の一
部、あるいは全ての元素を含有するものとなる。電子放
出部5およびその近傍の導電性薄膜4には、炭素および
炭素化合物を有することもできる。
【0031】上述の表面伝導型電子放出素子の製造方法
としては様々な方法があるが、その一例を図1、2、3
に基づいて説明する。図1、2は本発明を適用可能な平
面型表面伝導型電子放出素子の構成を示す模式図であ
り、図3は本発明の製造方法を示す模式図である。図
2、3においても、図1に示した部位と同じ部位には図
1に付した符号と同一の符号を付している。また図3に
おいて6は液滴付与手段、7は液滴、8は液滴を基板に
付与した後に形成されるドット(溶媒揮発前あるいは揮
発後の膜)を示す。電子放出素子は次のようにして製造
される。
【0032】(1)基板1を洗剤、純水および有機溶剤
等を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等に
より素子電極材料を堆積後、例えばホトリソグラフィー
技術を用いて基板1上に素子電極2,3を形成する(図
3(a))。
【0033】(2)素子電極2,3を設けた基板1に、
BJ方式など液滴付与手段6により、金属化合物を含む
水溶液(以下水溶液とする)の液滴および金属化合物
と水溶性無機化合物を含む水溶液(以下水溶液とす
る)の液滴を基板上に付与する。付与する位置は例えば
図1、2に示したような位置である。図1、2では斜線
の円を水溶液、白ヌキの円を水溶液から形成したド
ットとして図示した。およびから形成した液滴が基
板上で混合しないようにするため、、の一方を付与
後溶媒を蒸発させ充分乾燥してからもう一方の液滴を付
与する。あるいは一方の液滴を付与し、乾燥さらには焼
成まで行った後もう一方の液滴を付与することも可能で
ある。
【0034】このようにして形成した薄膜を加熱焼成す
る。その後水洗浄することにより水溶液から形成され
た膜中に含まれる水溶性無機化合物が溶出し、この部分
の薄膜は水溶液から形成された部分に比べ、密度の小
さい膜となる。このようにして一部密度の異なる部分を
有する金属もしくは金属化合物からなる電子放出部形成
用導電膜4が形成される。
【0035】(3)つづいて、フォーミング工程を施
す。このフォーミング工程の方法の一例として通電処理
による方法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の
電源を用いて、通電を行うと、導電性薄膜4における導
電率の小さい部位すなわち密度の小さい部位に、構造の
変化した電子放出部5が形成される(図3(d))。通
電フォーミングによれば導電性薄膜4に局所的に破壊、
変形もしくは変質等の構造の変化した部位が形成され
る。該部位が電子放出部5を構成する。通電フォーミン
グの電圧波形の例を図4に示す。
【0036】電圧波形は、パルス波形が好ましい。これ
にはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に印加
する図4(a)に示した手法と、パルス波高値を増加さ
せながら電圧パルスを印加する図4(b)に示した手法
がある。
【0037】図4(a)におけるT1およびT2は電圧
波形のパルス幅とパルス間隔である。通常T1は1マイ
クロ秒〜10ミリ秒、T2は、10マイクロ秒〜100
ミリ秒の範囲で設定される。三角波の波高値(通電フォ
ーミング時のピーク電圧)は、表面伝導型電子放出素子
形態に応じて適宜選択される。このような条件のもと、
例えば、数秒から数十分間電圧を印加する。パルス波形
は三角波に限定されるものではなく、矩形波など所望の
波形を採用することができる。
【0038】図4(b)におけるT1およびT2は、図
4(a)に示したのと同様とすることができる。三角波
の波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、例え
ば0.1Vステップ程度づつ、増加させることができ
る。
【0039】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性薄膜4を局所的に破壊、変形しない
程度の電圧を印加し、電流を測定して検知することがで
きる。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる素子
電流を測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示
した時、通電フォーミングを終了させる。
【0040】(4)フォーミングを終えた素子には活性
化工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。活性化工程
とは、この工程により、素子電流If、放出電流Ie
が、著しく変化する工程である。
【0041】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、パル
スの印加を繰り返すことで行うことができる。この雰囲
気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプなどを用
いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残留する有
機ガスを利用して形成することができる他、イオンポン
プなどにより一旦十分に排気した真空中に適当な有機物
質のガスを導入することによっても得られる。このとき
の好ましい有機物質のガス圧は、前述の応用の形態、真
空容器の形状や、有機物質の種類などにより異なるため
場合に応じ適宜設定される。適当な有機物質としては、
アルカン、アルケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳
香族炭化水素類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン
類、アミン類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の
有機酸類等を挙げることができ、具体的には、メタン、
エタン、プロパンなどCn2n+2で表される飽和炭化水
素、エチレン、プロピレンなどCn2n等の組成式で表
される不飽和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノー
ル、エタノール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒ
ド、アセトン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エ
チルアミン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等
が使用できる。この処理により、雰囲気中に存在する有
機物質から、炭素あるいは炭素化合物が素子上に堆積
し、素子電流If、放出電流Ieが、著しく変化するよ
うになる。
【0042】活性化工程の終了判定は、素子電流Ifと
放出電流Ieを測定しながら、適宜行う。なおパルス
幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜設定される。
【0043】炭素および炭素化合物とは、例えばグラフ
ァイト(いわゆるHOPG、PG、GCを包含する。H
OPGはほぼ完全なグラファイトの結晶構造、PGは結
晶粒が200オングストローム程度で結晶構造がやや乱
れたもの、GCは結晶粒が20オングストローム程度に
なり結晶構造の乱れがさらに大きくなったものを指
す。)や非晶質カーボン(アモルファスカーボンおよ
び、アモルファスカーボンと前記グラファイトの微結晶
の混合物を指す)であり、その膜厚は、500オングス
トローム以下の範囲とするのが好ましく、300オング
ストローム以下の範囲とすることがより好ましい。
【0044】(5)このような工程を経て得られた電子
放出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工
程は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真
空容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオ
イルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使
用しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソー
プションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げ
ることができる。
【0045】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合は、この成
分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の有
機成分の分圧は、上記の炭素および炭素化合物がほぼ新
たに堆積しない分圧で1×10-8Torr以下が好まし
く、さらには1×10-10 Torr以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
ときの加熱条件は、80〜200℃で5時間以上が望ま
しいが、特にこの条件に限るものではなく、真空容器の
大きさや形状、電子放出素子の構成などの諸条件により
適宜選ばれる条件により行う。真空容器内の圧力は極力
低くすることが必要で、1〜3×10-7Torr以下が
好ましく、さらに1×10-8Torr以下が特に好まし
い。
【0046】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、真空度自体は多少低下しても十分安定な
特性を維持することができる。
【0047】このような真空雰囲気を採用することによ
り、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆積を抑制でき、
結果として素子電流If、放出電流Ieが、安定する。
【0048】上述した工程を経て得られた本発明を適用
可能な電子放出素子の基本特性について図5、図6を参
照しながら説明する。図5は、真空処理装置の一例を示
す模式図であり、この真空処理装置は測定評価装置とし
ての機能をも兼ね備えている。図5においても、図1に
示した部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符
号を付している。図5において、55は真空容器であ
り、56は排気ポンプである。真空容器55内には電子
放出素子が配されている。即ち、1は電子放出素子を構
成する基体であり、2および3は素子電極、4は導電性
薄膜、5は電子放出部である。51は電子放出素子に素
子電圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,
3間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定するた
めの電流計、54は素子の電子放出部より放出される放
出電流Ieを捕捉するためのアノード電極である。53
はアノード電極54に電圧を印加するための高圧電源、
52は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ie
を測定するための電流計である。一例として、アノード
電極の電圧を1kV〜10kVの範囲とし、アノード電
極と電子放出素子との距離Hを2mm〜8mmの範囲と
して測定を行うことができる。
【0049】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータリーポ
ンプからなる通常の高真空装置系と更に、イオンポンプ
等からなる超高真空装置系とにより構成されている。こ
こに示した電子源基板を配した真空処理装置の全体は、
不図示のヒーターにより200℃まで加熱できる。従っ
て、この真空処理装置を用いると、前述の通電フォーミ
ング以降の工程も行うことができる。
【0050】図6は、図5に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧V
fの関係を模式的に示した図である。図6においては、
放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さいの
で、任意単位で示している。なお、縦・横軸ともリニア
スケールである。図6からも明らかなように、本発明を
適用可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに
関して対する3つの特徴的性質を有する。
【0051】即ち、(i)本素子はある電圧(閾値電圧
と呼ぶ、図6中のVth)以上の素子電圧を印加すると
急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以下
では放出電流Ieがほとんど検出されない。つまり、放
出電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線
形素子である。
【0052】(ii)放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0053】(iii)アノード電極54に捕捉される
放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に依存する。
つまり、アノード電極54に捕捉される電荷量は、素子
電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0054】以上の説明より理解されるように、本発明
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
【0055】図6においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を実線に示した。素子電流Ifが素子電圧Vf
に対して電圧制御型負性抵抗特性(以下、「VCNR特
性」という。)を示す場合もある(不図示)。これらの
特性は、前述の工程を制御することで制御できる。
【0056】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子の複数個を基板上に配列し、例えば電子源
あるいは、画像形成装置が構成できる。
【0057】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動するはしご状配置のものがある。これ
とは別に、電子放出素子をX方向およびY方向に行列状
に複数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の
電極の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に
配された複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の
配線に共通に接続するものが挙げられる。このようなも
のは所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリク
ス配置について以下に詳述する。
【0058】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素
子については、前述したとおり(i)ないし(iii)
の特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素子からの放
出電子は、閾値電圧以上では、対向する素子電極間に印
加するパルス状電圧の波高値と巾で制御できる。一方、
しきい値電圧以下では、殆ど放出されない。この特性に
よれば、多数の電子放出素子を配置した場合において
も、個々の素子に、パルス状電圧を適宜印加すれば、入
力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して電
子放出量を制御できる。
【0059】以下この原理に基づき、本発明を適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図7を用いて説明する。図7において、71は電子
源基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。
74は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。表
面伝導型電子放出素子74は、前述した平面型が好まし
い。
【0060】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx
2,・・・ ,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、巾は、適宜設計され
る。Y方向配線73は、Dy1,Dy2,・・・ ,Dyn
のn本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成さ
れる。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線
73との間には、不図示の層間絶縁層が設けられてお
り、両者を電気的に分離している(m、nは、共に正の
整数)。
【0061】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面あるいは一部に所望の形状で形成され、特に、X方
向配線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得
るように、膜厚、材料、製法が、適宜設定される。X方
向配線72とY方向配線73は、それぞれ外部端子とし
て引き出されている。表面伝導型放出素子74を構成す
る一対の電極(不図示)は、m本のX方向配線72とn
本のY方向配線73と導電性金属等からなる結線75に
よって電気的に接続されている。
【0062】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料および一対の素子電極を構成する材
料は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、またそれぞれ異なってもよい。これら材料は、例え
ば前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極
を構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子
電極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0063】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型放出素子74の行を選択するための走査信号を
印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。一
方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導型
放出素子74の各列を入力信号に応じて、変調するため
の不図示の変調信号発生手段が接続される。各電子放出
素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加される走
査信号と変調信号の差電圧として供給される。
【0064】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0065】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図8と図9およ
び図10を用いて説明する。図8は、画像形成装置の表
示パネルの一例を示す模式図であり、図9は、図8の画
像形成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図10
は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示を行なうた
めの駆動回路の一例を示すブロック図である。
【0066】図8において、81は電子放出素子を複数
配した電子源基板、91は電子源基板81を固定したリ
アプレート、96はガラス基板93の内面に蛍光膜94
とメタルバック95等が形成されたフェースプレートで
ある。92は支持枠であり該支持枠92には、リアプレ
ート91、フェースプレート96がフリットガラス等を
用いて接続されている。98は外囲器であり、例えば大
気中あるいは、窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分以上焼成することで、封着して構成される。
【0067】84は、図1における電子放出部に相当す
る。72、73は、表面伝導型電子放出素子の一対の素
子電極と接続されたX方向配線およびY方向配線であ
る。
【0068】外囲器98は、上述の如く、フェースプレ
ート96、支持枠92、リアプレート91で構成され
る。リアプレート91は主に基板81の強度を補強する
目的で設けられるため、基板81自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート91は不要とすることがで
きる。即ち、基板81に直接支持枠92を封着し、フェ
ースプレート96、支持枠92および基板81で外囲器
98を構成しても良い。一方、フェースプレート96、
リアプレート91間に、スペーサーとよばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器98を構成することもできる。
【0069】図9は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜94は、モノクロームの場合は蛍光体のみから構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列によりブラックストライプあるいはブラックマトリク
スなどと呼ばれる黒色導電材61と蛍光体62とから構
成することができる。ブラックストライプ、ブラックマ
トリクスを設ける目的は、カラー表示の場合、必要とな
る三原色蛍光体の各蛍光体62間の塗り分け部を黒くす
ることで混色等を目立たなくすることと、蛍光膜94に
おける外光反射によるコントラストの低下を抑制するこ
とにある。ブラックストライプの材料としては、通常用
いられている黒鉛を主成分とする材料の他、導電性があ
り、光の透過および反射が少ない材料を用いることがで
きる。
【0070】ガラス基板93に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法、印刷法等
が採用できる。蛍光膜94の内面側には、通常メタルバ
ック95が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート9
6側へ鏡面反射させることにより輝度を向上させるこ
と、電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作
用させること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によ
るダメージから蛍光体を保護すること等である。メタル
バックは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化
処理(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、
その後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製
できる。
【0071】フェースプレート96には、更に蛍光膜9
4の導電性を高めるため、蛍光膜94の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。前述の封着を行う際に
は、カラーの場合は各色蛍光体と電子放出素子とを対応
させる必要があり、十分な位置合わせが不可欠となる。
【0072】図8に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。外囲器98は、前述の安定化
工程と同様に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソー
プションポンプなどのオイルを使用しない排気装置によ
り不図示の排気管を通じて排気し、10-7Torr程度
の真空度の有機物質の十分少ない雰囲気にした後、封止
が成される。外囲器98の封止後の真空度を維持するた
めに、ゲッター処理を行うこともできる。これは、外囲
器98の封止を行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あ
るいは高周波加熱等を用いた加熱により、外囲器98内
の所定の位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱
し、蒸着膜を形成する処理である。ゲッターは通常Ba
等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作用により、例えば
1×10-5ないしは1×10-7Torrの真空度を維持
するものである。ここで、表面伝導型電子放出素子のフ
ォーミング処理以降の工程は、適宜設定できる。
【0073】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行うための駆動回路の構成
例について、図10を用いて説明する。図10におい
て、101は画像表示パネル、102は走査回路、10
3は制御回路、104はシフトレジスタである。105
はラインメモリ、106は同期信号分離回路、107は
変調信号発生器、VxおよびVaは直流電圧源である。
【0074】表示パネル101は、端子Dox1ないし
Doxm、端子Doy1ないしDoyn、および高圧端
子Hvを介して外部の電気回路と接続している。端子D
ox1ないしDoxmには、表示パネル内に設けられて
いる電子源、即ち、M行N列の行列状にマトリクス配線
された表面伝導型電子放出素子群を一行(N素子)ずつ
順次駆動するための走査信号が印加される。
【0075】端子Doy1ないしDoynには、前記走
査信号により選択された一行の表面伝導型電子放出素子
の各素子の出力電子ビームを制御するための変調信号が
印加される。高圧端子Hvには、直流電圧源Vaより、
例えば10k[V]の直流電圧が供給されるが、これは
表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビームに蛍
光体を励起するのに十分なエネルギーを付与するための
加速電圧である。
【0076】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にM個のスイッチング素子を備えたもので(図
中、S1ないしSmで模式的に示している)ある。各ス
イッチング素子は、直流電圧源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dox1ないしDoxmと電気
的に接続される。S1ないしSmの各スイッチング素子
は、制御回路103が出力する制御信号Tscanに基
づいて動作するものであり、例えばFETのようなスイ
ッチング素子を組み合わせることにより構成することが
できる。
【0077】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出しきい値電圧)に基
づき走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出しきい値電圧以下となるような一定電圧を出力する
よう設定されている。
【0078】制御回路103は、外部より入力する画像
信号に基づいて適切な表示が行われるように各部の動作
を整合させる機能を有する。制御回路103は、同期信
号分離回路106より送られる同期信号Tsyncに基
づいて、各部に対してTscanおよびTsftおよび
Tmryの各制御信号を発生する。
【0079】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から同期信号成分と輝
度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波数
分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期信
号分離回路106により分離された同期信号は、垂直同
期信号と水平同期信号よりなるが、ここでは説明の便宜
上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号から
分離された画像の輝度信号成分は便宜上DATA信号と
表した。該DATA信号はシフトレジスタ104に入力
される。
【0080】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであるということもできる)。
シリアル/パラレル変換された画像1ライン分(電子放
出素子N素子分の駆動データに相当)のデータは、Id
1ないしIdnのN個の並列信号として前記シフトレジ
スタ104より出力される。
【0081】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶するための記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1ないしIdnの内容を記憶する。記憶さ
れた内容は、I’d1ないしI’dnとして出力され、
変調信号発生器107に入力される。
【0082】変調信号発生器107は、画像データI’
d1ないしI’dnの各々に応じて表面伝導型電子放出
素子の各々を適切に駆動変調するための信号源であり、
その出力信号は、端子Doy1ないしDoynを通じて
表示パネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加さ
れる。前述したように、本発明を適用可能な電子放出素
子は放出電流Ieに対して以下の基本特性を有してい
る。即ち、電子放出には明確なしきい値電圧Vthがあ
り、Vth以上の電圧を印加された時のみ電子放出が生
じる。電子放出しきい値以上の電圧に対しては、素子へ
の印加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このこ
とから、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例え
ば電子放出しきい値以下の電圧を印加しても電子放出は
生じないが、電子放出しきい値以上の電圧を印加する場
合には電子ビームが出力される。その際、パルスの波高
値Vmを変化させることにより出力電子ビームの強度を
制御することが可能である。また、パルスの幅Pwを変
化させることにより出力される電子ビームの電荷の総量
を制御することが可能である。従って、入力信号に応じ
て、電子放出素子を変調する方式としては、電圧変調方
式、パルス幅変調方式等が採用できる。電圧変調方式を
実施するに際しては、変調信号発生器107として、一
定長さの電圧パルスを発生し、入力されるデータに応じ
て適宜パルスの波高値を変調するような電圧変調方式の
回路を用いることができる。
【0083】パルス幅変調方式を実施するに際しては、
変調信号発生器107として、一定の波高値の電圧パル
スを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パルス
の幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を用いる
ことができる。
【0084】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものをもアナログ信号式のもの
をも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0085】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには106の出力部にA/D変
換器を設ければ良い。これに関連してラインメモリ10
5の出力信号がデジタル信号かアナログ信号かにより、
変調信号発生器107に用いられる回路が若干異なった
ものとなる。即ち、デジタル信号を用いた電圧変調方式
の場合、変調信号発生器107には、例えばD/A変換
回路を用い、必要に応じて増幅回路などを付加する。パ
ルス幅変調方式の場合、変調信号発生器107には、例
えば高速の発振器および発振器の出力する波数を計数す
る計数器(カウンタ)および計数器の出力値と前記メモ
リの出力値を比較する比較器(コンパレータ)を組み合
せた回路を用いる。必要に応じて、比較器の出力するパ
ルス幅変調された変調信号を表面伝導型電子放出素子の
駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加するこ
ともできる。
【0086】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプなど
を用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフ
ト回路などを付加することもできる。パルス幅変調方式
の場合には、例えば、電圧制御型発振回路(VCO)を
採用でき、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動
電圧まで電圧増幅するための増幅器を付加することもで
きる。
【0087】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像表示装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dox1ないしDoxm、Doy1ないしDoy
nを介して電圧を印加することにより、電子放出が生ず
る。高圧端子Hvを介してメタルバック95、あるいは
透明電極(不図示)に高圧を印加し、電子ビームを加速
する。加速された電子は、蛍光膜94に衝突し、発光が
生じて画像が形成される。
【0088】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついては、NTSC方式を挙げたが入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式など他、
これよりも、多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
【0089】次に、はしご型配置の電子源および画像形
成装置について図11および図12を用いて説明する。
図11は、はしご型配置の電子源の一例を示す模式図で
ある。図11において、110は電子源基板、111は
電子放出素子である。112(Dx1ないしDx10)
は、電子放出素子111を接続するための共通配線であ
る。電子放出素子111は、基板110上に、X方向に
並列に複数個配されている(これを素子行と呼ぶ)。こ
の素子行が複数個配されて、電子源を構成している。各
素子行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素
子行を独立に駆動させることができる。即ち、電子ビー
ムを放出させたい素子行には、電子放出しきい値以上の
電圧を、電子ビームを放出しない素子行には、電子放出
しきい値以下の電圧を印加する。各素子行間の共通配線
Dx2ないしDx9は、例えばDx2、Dx3を同一配
線とすることもできる。
【0090】図12は、はしご型配置の電子源を備えた
画像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図で
ある。120はグリッド電極、121は電子が通過する
ための空孔、122はDox1,Dox2,・・・ ,Do
xmよりなる容器外端子である。123は、グリッド電
極120と接続されたG1,G2,・・・ ,Gnからなる
容器外端子、124は各素子行間の共通配線を同一配線
とした電子源基板である。図12においては、図8、図
11に示した部位と同じ部位には、これらの図に付した
のと同一の符号を付している。ここに示した画像形成装
置と、図8に示した単純マトリクス配置の画像形成装置
との大きな違いは、電子源基板110とフェースプレー
ト96の間にグリッド電極120を備えているか否かで
ある。
【0091】図12においては、基板110とフェース
プレート96の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型放出素子か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
はしご型配置の素子行と直交して設けられたストライプ
状の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応
して1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリ
ッドの形状や設置位置は図12に示したものに限定され
るものではない。例えば、開口としてメッシュ状に多数
の通過口を設けることもでき、グリッドを表面伝導型放
出素子の周囲や近傍に設けることもできる。容器外端子
122およびグリッド容器外端子123は、不図示の制
御回路と電気的に接続されている。
【0092】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)していくのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0093】本発明の画像形成装置は、テレビジョン放
送の表示装置、テレビ会議システムやコンピューター等
の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて構成された光
プリンターとしての画像形成装置等としても用いること
ができる。
【0094】
【実施例】以下に本発明の実施例について説明するが、
本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
【0095】[実施例1]本実施例では図1(a)、
(b)に示すタイプの電子放出素子を作製した。図1
(a)は本素子の平面図を、(b)は断面図を示してい
る。また同図(a)、(b)中の1は絶縁性基板、2,
3は素子に電圧を印加するための素子電極、4は電子放
出部を含む薄膜、5は電子放出部を示す。なお図1
(a)中のL1は素子電極2と素子電極3の素子電極間
隔、W1は素子電極の幅、dは素子電極の厚さ、W2は
素子の幅を表している。図1、3を用いて本実施例の電
子放出素子の作製方法を述べる。
【0096】絶縁性基板1として石英基板を用い、これ
を有機溶剤、純水により充分に洗浄し、更に100℃の
熱風で乾燥した。該基板1面上に、Auからなる素子電
極2,3を形成した(図1(a))。この時、素子電極
間隔L1は20μmとし、素子電極の幅W1を500μ
m、その厚さdを1000オングストロームとした。
【0097】本実施例では電子放出膜材料である金属化
合物として酢酸パラジウムモノエタノールアミン(以
下、PA−MEという)を用いた。また水溶性無機化合
物として酸化ホウ素B23を用いた。そして、まず、
0.84gのPA−MEを12gの水に溶解したものを
水溶液とした(金属濃度2.0wt%)。また水溶液
に酸化ホウ素B23を0.12g(1wt%)加えた
ものを水溶液とした。
【0098】液滴の付与手段としてBJ方式のインクジ
ェット装置(Canon製BJ−10V)を用い、まず
溶液の液滴を素子電極2,3間に一方の電極3だけに
かかるように付与し、これを充分乾燥した。付与した液
滴の模式図を図1(a)において斜線の円で示した。次
に溶液の液滴を電極2にかかるように付与した(図1
(a)白ヌキの円として図示)。
【0099】これに対し、350℃で10分間の加熱焼
成処理をした後、水洗浄を行い、溶液から形成された
膜中に含まれている酸化ホウ素を溶出し、酸化パラジウ
ム(PdO)微粒子からなる導電性薄膜4を形成した。
電子顕微鏡で観察したところ、溶液のみから形成され
た膜の部分はから形成された部分および、が重な
った部分に比べ、膜密度が1/2以下の膜となってい
た。またこの膜密度が小さな領域は、電極エッジにほぼ
平行に、電極エッジから約5μmの幅で形成されてい
た。
【0100】次に、素子電極2,3間に電圧を印加し電
子放出部形成用薄膜4を通電処理(フォーミング処理)
することにより電子放出部5を形成した。フォーミング
処理の電圧波形を図4に示す。図4中、T1およびT2
は電圧波形のパルス幅とパルス間隔であり、本実施例で
はT1を1m秒、T2を10m秒とし、三角波の波高値
(フォーミング時のピーク電圧)は4V、フォーミング
処理は約1×10-6Torrの真空雰囲気下で60秒間
行った。
【0101】このようにして作製された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は28オングス
トロームであった。また電子放出部5は溶液から形成
された膜密度の小さな部分に形成されていた。
【0102】以上のようにして作製された素子につい
て、その電子放出特性の測定を行った。図5に測定評価
装置の概略構成図を示す。
【0103】図5において、1は絶縁性基板、2および
3は素子電極、4は電子放出部を含む薄膜、5は電子放
出部、51は素子に電圧を印加するための電源、50は
素子電流Ifを測定するための電流計、54は素子より
発生する放出電流Ieを測定するためのアノード電極、
53はアノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源、52は放出電流を測定するための電流計である。電
子放出素子の上記素子電流If、放出電流Ieの測定に
あたっては、素子電極2,3間に電源51および電流計
50を接続し、該電子放出素子の上方に電源53および
電流計52を接続したアノード電極54を配置してい
る。また、本電子放出素子およびアノード電極54は真
空装置内に設置されており、その真空装置には不図示の
排気ポンプおよび真空計等の真空装置に必要な機器が具
備されており、所望の真空下で本素子の測定評価を行え
るようになっている。なお本実施例では、アノード電極
と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極の電位
を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真空度を
1×10-6Torrとした。
【0104】以上のような測定評価装置を用いて、本電
子放出素子の電極2、3間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電流Ifおよび放出電流Ieを測定したと
ころ、図6に示したような電流−電圧特性が得られた。
本素子では、素子電圧8V程度から急激に放出電流Ie
が増加し、素子電圧16Vでは素子電流Ifが2.3m
A、放出電流Ieが1.2μAとなり、電子放出効率η
=Ie/If(%)は0.05%であった。なお同様の
方法で複数の素子を作製し、IfおよびIeの測定を行
ったところ、素子間でのばらつきはいずれも6〜7%で
あり、安定な電子放出が得られることがわかった。
【0105】以上説明した実施例中、電子放出部を形成
する際に、素子の電極間に三角波パルスを印加してフォ
ーミング処理を行っているが、素子の電極間に印加する
波形は三角波に限定することはなく、矩形波など所望の
波形を用いても良く、その波高値およびパルス幅、パル
ス間隔等についても上述の値に限ることなく、電子放出
部が良好に形成されれば所望の値を選択することができ
る。
【0106】[実施例2]本実施例の電子放出素子とし
て図2(a)、(b)に示すタイプの電子放出素子を作
製した。図2(a)は本素子の平面図を、(b)は断面
図を示している。また同図(a)、(b)中の1は絶縁
性基板、2、3は素子に電圧を印加するための素子電
極、4は電子放出部を含む薄膜、5は電子放出部を示
す。なお図2(a)中のL1は素子電極2と素子電極3
の素子電極間隔、W1は素子電極の幅、dは素子電極の
厚さ、W2は素子の幅を表している。図2、3を用いて
本実施例の電子放出素子の作製方法を述べる。
【0107】実施例1と同様の方法で石英基板1上にA
u素子電極2,3を形成した。次に、電子放出膜材料で
ある金属化合物として酢酸パラジウムモノエタノールア
ミン(以下、PA−MEとする)を用意した。また水溶
性無機化合物として酸化バリウムBaOを用意した。そ
してまず0.84gのPA−MEを12gの水に溶解し
たものを水溶液とした(金属濃度2.0wt%)。ま
た水溶液に酸化バリウムBaOを0.06g(0.5
wt%)加えたものを水溶液とした。
【0108】液滴の付与手段としてBJ方式のインクジ
ェット装置(Canon製BJ−10V)を用い、まず
溶液の液滴を素子電極2,3間に図2(a)の斜線で
示すように、電極間で重ならないように付与し、これを
充分乾燥した。
【0109】次に溶液の液滴を電極間の中央部に付与
した(図2(b)において白ヌキの円として図示)。こ
れに対し、350℃で10分間の加熱焼成処理をした後
水洗浄を行い、溶液から形成された膜中に含まれてい
る酸化バリウムを溶出し、酸化パラジウム(PdO)微
粒子からなる導電性薄膜4を形成した。電子顕微鏡で観
察したところ、溶液のみから形成された膜の部分は
から形成された部分および、が重なった部分に比
べ、膜密度が1/2以下の膜となっていた。またこの膜
密度が小さな領域は、電極エッジにほぼ平行に、電極間
の中央部に約5μmに幅で形成されていた。
【0110】次に実施例1と同様の方法でフォーミング
処理を行った結果、電子放出部5は電極間中央部の膜密
度が小さい部分に形成されていた。
【0111】[実施例3]本実施例は、多数の表面伝導
型電子放出素子を単純マトリクス配置した画像形成装置
の例である。その電子源の一部の平面図を図13に、図
13中のA−A’断面図を図14に、さらに電子源の作
製方法を図15および図16に示す。ただし、図13、
図14、図15および図16において同じ記号を示した
ものは同じものを表す。ここで1は絶縁性基板、72は
図8のDxmに対応するX方向配線(下配線とも呼
ぶ)、73は図8のDynに対応するY方向配線(上配
線とも呼ぶ)、4は電子放出部を含む薄膜、2、3は素
子電極、131は層間絶縁層、132は素子電極2と下
配線72との電気的接続のためのコンタクトホールであ
る。まず、次の各工程に従って電子源を作製した。
【0112】(工程−a) 清浄化した青板ガラス上に
厚さ0.5μmのシリコン酸化膜をスパッタ法で形成し
た基板1上に、真空蒸着により厚さ50オングストロー
ムのCr、厚さ6000オングストロームのAuを順次
積層した後、ホトレジスト(AZ1370ヘキスト社
製)をスピンナーにより回転塗布、ベークした後、ホト
マスク像を露光、現像して、下配線72のレジストパタ
ーンを形成し、Au/Cr堆積膜をウェットエッチング
して所望の形状の下配線72を形成した(図15
(a))。
【0113】(工程−b) 次に厚さ1.0μmのシリ
コン酸化膜からなる層間絶縁層131をRFスパッタ法
により堆積した(図15(b))。
【0114】(工程−c) 工程bで堆積したシリコン
酸化膜にコンタクトホール132を形成するためのホト
レジストパターンを作り、これをマスクとして層間絶縁
層131をエッチングしてコンタクトホール132を形
成した(図15(c))。エッチングはCF4 とH2
スを用いたRIE(Reactive Ion Etching)法によっ
た。
【0115】(工程−d) その後、素子電極2と素子
電極間ギャップGとなるべきパターンをホトレジスト
(RD−2000N−41日立化成社製)で形成し、真
空蒸着法により、厚さ50オングストロームのTi、厚
さ1000オングストロームのNiを順次堆積した。ホ
トレジストパターンを有機溶剤で溶解し、Ni/Ti堆
積膜をリフトオフし、素子電極間隔L1は10μmと
し、素子電極の幅W1を300μmを有する素子電極
2,3を形成した(図15(d))。
【0116】(工程−e) 素子電極2,3の上に上配
線73のホトレジストパターンを形成した後、厚さ50
オングストロームのTi、厚さ5000オングストロー
ムのAuを順次真空蒸着により堆積し、リフトオフによ
り不要の部分を除去して、所望の形状の上配線73を形
成した(図16(e))。
【0117】(工程−f) 実施例1で用いた水溶液
、をBJ方式のインクジェット装置(Canon製
BJ−10V)を用いて素子電極2,3間に実施例1と
同様の位置に付与し、350℃で10分間の加熱焼成処
理をした後水洗浄を行った(図16(f))。また、こ
うして形成された主元素としてPdよりなる微粒子から
なる電子放出部形成用薄膜4の膜厚は100オングスト
ローム、シート抵抗値は5×10の4乗Ω/□であっ
た。なおここで述べる微粒子膜とは、上述したように、
複数の微粒子が集合した膜であり、その微細構造とし
て、微粒子が個々に分散配置した状態のみならず、微粒
子が互いに隣接、あるいは、重なり合った状態(島状も
含む)の膜を指し、その粒径とは、前記状態で粒子形状
が認識可能な微粒子についての径をいう。
【0118】(工程−g) コンタクトホール132部
分以外にレジストを塗布するようなパターンを形成し、
真空蒸着により厚さ50オングストロームのTi、厚さ
5000オングストロームのAuを順次堆積した。リフ
トオフにより不要の部分を除去することにより、コンタ
クトホール132を埋め込んだ(図16(g))。以上
の工程により絶縁性基板1上に下配線72、層間絶縁層
131、上配線73、素子電極2,3、電子放出部形成
用薄膜4等を形成した。
【0119】次に、以上のようにして作製した電子源を
用いて表示装置を構成した例を、図8と図9を用いて説
明する。
【0120】上述のようにして多数の平面型表面伝導電
子放出素子を作製した基板1(81)をリアプレート9
1上に固定した後、基板1の5mm上方に、フェースプ
レート96(ガラス基板93の内面に蛍光膜94とメタ
ルバック95が形成されて構成される)を支持枠92を
介して配置し、フェースプレート96、支持枠92、リ
アプレート91の接合部にフリットガラスを塗布し、大
気中あるいは窒素雰囲気中で400℃〜500℃で10
分以上焼成することで封着した(図8)。またリアプレ
ート91への基板1の固定もフリットガラスで行った。
【0121】図8において、84は電子放出素子、8
2、83はそれぞれX方向およびY方向の配線である。
蛍光膜94は、モノクロームの場合は蛍光体のみから成
るが、本実施例では蛍光体はストライプ形状のものを採
用し、先にブラックストライプを形成し、その間隙部に
各色蛍光体を塗布し、蛍光膜94を作製した。ブラック
ストライプの材料として通常良く用いられている黒鉛を
主成分とする材料を用いたガラス基板93に蛍光体を塗
布する方法はスラリー法を用いた。
【0122】また、蛍光膜94の内面側には通常メタル
バック95が設けられる。メタルバックは、蛍光膜作製
後、蛍光膜94の内面側表面の平滑化処理(通常フィル
ミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸着す
ることで作製した。フェースプレート96には、更に蛍
光膜94の導伝性を高めるため、蛍光膜94の外面側に
透明電極(不図示)が設けられる場合もあるが、本実施
例では、メタルバックのみで十分な導伝性が得られたの
で省略した。前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させなくてはいけないた
め、十分な位置合わせを行った。
【0123】以上のようにして完成したガラス容器内の
雰囲気を排気管(不図示)を通じ真空ポンプ56にて排
気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dox1〜
DoxmとDoy1〜Doynを通じ電子放出素子74
の電極2、3間に電圧を印加し、電子放出部5を、電子
放出部形成用薄膜4を通電処理(フォーミング処理)す
ることにより作成した。フォーミング処理の電圧波形を
図4に示す。図4中、T1およびT2は電圧波形のパル
ス幅とパルス間隔であり、本実施例ではT1を1m秒、
T2を10m秒とし、三角波の波高値(フォーミング時
のピーク電圧)は4Vであり、フォーミング処理は約1
×10-6Torrの真空雰囲気下で60秒間行った。こ
のように作製された電子放出部5は、パラジウム元素を
主成分とする微粒子が分散配置された状態となり、その
微粒子の平均粒径は30オングストロームであった。
【0124】次に10-6Torr程度の真空度で、不図
示の排気管をガスバーナーで熱することで溶着し外囲器
の封止を行った。
【0125】最後に封止後の真空度を維持するために、
ゲッター処理を行った。すなわち、封止を行う直前に、
高周波加熱等の加熱法により、画像形成装置内の所定の
位置(不図示)に配置されたゲッターを加熱し、蒸着膜
を形成処理した。ゲッターはBa等を主成分とした。
【0126】以上のようにして完成した画像表示装置に
おいて、各電子放出素子には、容器外端子Dox1〜D
oxm、Doy1〜Doynを通じ、走査信号および変
調信号を不図示の信号発生手段よりそれぞれ、印加する
ことにより、電子放出させ、高圧端子Hvを通じ、メタ
ルバック95に数kV以上の高圧を印加し、電子ビーム
を加速し、蛍光膜94に衝突させ、励起・発光させるこ
とで画像を表示した。
【0127】また、上述の工程で作製した平面型表面伝
導電子放出素子の特性を把握するために、同時に、図1
に示した平面型表面伝導電子放出素子のL1、W1およ
びW2等を同様にした標準的な比較サンプルを作製し、
その電子放出特性の測定を上述の図5の測定評価装置を
用いて行った。なお比較サンプルの測定条件は、アノー
ド電極と電子放出素子間の距離を4mm、アノード電極
の電位を1kV、電子放出特性測定時の真空装置内の真
空度を1×10-6Torrとした。電極2、3間に素子
電圧を印加し、その時に流れる素子電流Ifおよび放出
電流Ieを測定したところ、図6に示したような電流−
電圧特性が得られた。本素子では、素子電圧8V程度か
ら急激に放出電流Ieが増加し、素子電圧16Vでは素
子電流Ifが2.2mA、放出電流Ieが1.1μAと
なり、電子放出効率η=Ie/If(%)は0.05%
であった。
【0128】なお同様の方法で複数の素子を作製し、I
fおよびIeの測定を行ったところ、素子間でのばらつ
きはいずれも6〜7%であり、安定な電子放出が得られ
ることがわかった。
【0129】
【比較例】実施例1の同様の方法で絶縁基板上に素子電
極を作製した。次に電子放出膜材料である金属化合物と
して酢酸パラジウムモノエタノールアミン(以下、PA
−MEという)を用い、0.84gのPA−MEを12
gの水に溶解したものを付与液とした。液滴の付与手段
としてBJ方式のインクジェット装置(Canon製B
J−10V)を用い、素子電極2,3間に液滴を付与し
た。これを350℃で10分間の加熱焼成処理し、酸化
パラジウム(PdO)微粒子からなる導電性薄膜4を形
成した。続いて上記と同様の方法でフォーミングを行っ
たところ、フォーミング電圧は5Vであった。複数の素
子を作製して調べた結果、フォーミングによって形成さ
れた電子放出部5の位置は素子毎にばらついていた。さ
らに各素子について電子放出特性IfおよびIeの測定
を行ったところ、素子間でのばらつきはいずれも8〜9
%であった。
【0130】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
コスト、製造工程の簡略化および大面積化の面で改善が
なされる。また本発明の製造方法を用いることにより電
子放出部が形成される位置の制御、フォーミング電圧の
低下、および電子放出特性の素子間でのばらつきを低減
させることが可能となる。さらには本発明の方法を用い
て表示素子、画像形成装置を製造することにより、輝度
むらや電子放出部の欠陥による不良品を少なくすること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の一例を示す模式的平面図および断面図である。
【図2】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の別の一例を示す模式的平面図および断面図である。
【図3】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の製造方法の一例を示す模式的図である。
【図4】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
の製造に際して採用できる通電フォーミング処理におけ
る電圧波形の一例を示す模式図である。
【図5】 測定評価機能を備えた真空処理装置の一例を
示す模式図である。
【図6】 本発明の適用可能な表面伝導型電子放出素子
についての放出電流Ie、素子電流Ifと素子電圧Vf
の関係の一例を示すグラフである。
【図7】 本発明の適用可能な単純マトリクス配置した
電子源の一例を示す模式図である。
【図8】 本発明の適用可能な画像形成装置の表示パネ
ルの一例を示す模式図である。
【図9】 図8のパネルに使用できる蛍光膜の一例を示
す模式図である。
【図10】 本発明の画像形成装置に適用できるNTS
C方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動回路
の一例を示すブロック図である。
【図11】 本発明の適用可能な梯子配置の電子源の一
例を示す模式図である。
【図12】 本発明の適用可能な画像形成装置の表示パ
ネルの他の例を示す模式図である。
【図13】 本発明の適用可能な画像形成装置の電子源
部の一例を示す模式図である。
【図14】 図13中のA−A’断面図を表す模式図で
ある。
【図15】 本発明の適用可能な画像形成装置の電子源
部の製造方法を示す模式図である。
【図16】 本発明の適用可能な画像形成装置の電子源
部の製造方法を示す模式図である。
【図17】 従来の表面伝導型電子放出素子の一例を示
す模式図である。
【符号の説明】
1:基板、2,3:素子電極、4:導電性薄膜、5:電
子放出部、6:液滴付与手段、7:液滴、8:液滴を基
板に付与した後に形成されるドット、50:素子電極
2,3間の導電性薄膜4を流れる素子電流Ifを測定す
るための電流計、51:電子放出素子に素子電圧を印加
するための電源、52:素子の電子放出部より放出され
る放出電流Ieを測定するための電流計、53:アノー
ド電極に電圧を印加するための高圧電源、54:素子の
電子放出部より放出される放出電流Ieを捕捉するため
のアノード電極、55:真空容器、56:排気ポンプ、
61:黒色導電材、62:蛍光体、71:電子源基板、
72:X方向配線、73:Y方向配線、74:表面伝導
型電子放出素子、75:結線、81:電子源基板、8
2:X方向配線、83:Y方向配線、84:電子放出
部、91:リアプレート、92:支持枠、93:ガラス
基板、94:蛍光膜、95:メタルバック、96:フェ
ースプレート、98:外囲器、101:表示パネル、1
02:走査回路、103:制御回路、104:シフトレ
ジスタ、105:ラインメモリ、106:同期信号分離
回路、107:変調信号発生器、VxおよびVa:直流
電圧源、110:電子源基板、111:電子放出素子、
112(Dx1〜Dx10):前記電子放出素子を配線
するための共通配線、120:グリッド電極、121:
電子が通過するための空孔、122:Dox1,Dox
2,・・・,Doxmよりなる容器外端子、123(G
1〜Gn):グリッド電極120と接続された容器外端
子、131:層間絶縁層、132:コンタクトホール。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平7−65702(JP,A) 特開 平1−112633(JP,A) 特開 平2−60025(JP,A) 特開 平1−296532(JP,A) 特開 平8−55560(JP,A) 特開 平10−69850(JP,A) 特開 平9−69334(JP,A) 特開 昭64−5095(JP,A) 特開 平4−121702(JP,A) 特開 昭62−181490(JP,A) 特開 昭63−200041(JP,A) 特開 昭64−64290(JP,A) 特許2923841(JP,B2) 米国特許3611077(US,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 9/02 H01J 1/316 H05K 3/10 - 3/12 H01B 13/00

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上の対向する電極間に金属化合物を
    含む水溶液の液滴をインクジェット方式により付与し、
    加熱焼成して電子放出部形成用の導電性薄膜を形成する
    電子放出素子の製造方法において、前記電極の対向する
    方向に一部膜密度の異なる領域を有する前記導電性薄膜
    を形成することを特徴とする電子放出素子の製造方法。
  2. 【請求項2】 前記膜密度の異なる領域を形成するため
    に、前記水溶液として2種類の水溶液を用い、その一方
    には少なくとも金属化合物を含み、他方には少なくとも
    金属化合物および水溶性の無機化合物を含むことを特徴
    とする請求項1に記載の電子放出素子の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記水溶性無機化合物は、前記加熱焼成
    温度において安定に存在することを特徴とする請求項
    2に記載の電子放出素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記液滴の付与は、バブルジェット方式
    によって行うことを特徴とする請求項1〜に記載の電
    子放出素子の製造方法。
  5. 【請求項5】 前記液滴を連続的に付与し、前記電子放
    出部形成用薄膜を形成する部分を面状に形成することを
    特徴とする請求項1〜に記載の電子放出素子の製造方
    法。
  6. 【請求項6】 前記電子放出素子が表面伝導型であるこ
    とを特徴とする請求項1〜に記載の電子放出素子の製
    造方法。
  7. 【請求項7】 電子放出素子と該素子への電圧印加手段
    を具備する電子源の製造方法であって、該電子放出素子
    を請求項1〜のいずれかに記載の方法で製造すること
    を特徴とする電子源の製造方法。
  8. 【請求項8】 電子放出素子と該素子への電圧印加手段
    を具備する電子源と、該素子から放出される電子を受け
    て発光する発光体とを具備する表示素子の製造方法であ
    って、該電子放出素子を請求項1〜のいずれかに記載
    の方法で製造することを特徴とする表示素子の製造方
    法。
  9. 【請求項9】 電子放出素子と該素子への電圧印加手段
    を具備する電子源と、該素子から放出される電子を受け
    て発光する発光体と、外部信号に基づいて該素子へ印加
    する電圧を制御する駆動回路とを具備する画像形成装置
    の製造方法であって、該電子放出素子を請求項1〜
    いずれかに記載の方法で製造することを特徴とする画像
    形成装置の製造方法。
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