JPH09244048A - 液晶パネル基板及び液晶パネルの製造方法 - Google Patents
液晶パネル基板及び液晶パネルの製造方法Info
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- JPH09244048A JPH09244048A JP8053054A JP5305496A JPH09244048A JP H09244048 A JPH09244048 A JP H09244048A JP 8053054 A JP8053054 A JP 8053054A JP 5305496 A JP5305496 A JP 5305496A JP H09244048 A JPH09244048 A JP H09244048A
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- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
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- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136259—Repairing; Defects
- G02F1/136263—Line defects
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
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- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
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- G02F1/136272—Auxiliary lines
Landscapes
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 リペア配線に関し，補修後のデータ線両端の
抵抗値を所定値にする。 【解決手段】 保護配線５に接続されるデータ線３，及
びデータ線３と交叉し保護配線５に接続されるリペア配
線１ａ，１ｂを有する液晶パネル基板において，データ
線３を切離し可能に接続する切断部７を介在させて保護
配線５に接続し，かつリペア配線１ａ，１ｂをダミーデ
ータ線６を介在させて保護配線５に接続する。
抵抗値を所定値にする。 【解決手段】 保護配線５に接続されるデータ線３，及
びデータ線３と交叉し保護配線５に接続されるリペア配
線１ａ，１ｂを有する液晶パネル基板において，データ
線３を切離し可能に接続する切断部７を介在させて保護
配線５に接続し，かつリペア配線１ａ，１ｂをダミーデ
ータ線６を介在させて保護配線５に接続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は，液晶パネルの半製
品として用いられる補修容易な液晶パネル基板の構造，
及びその液晶パネル基板を用いた補修の検査が容易な液
晶パネルの製造方法に関し，特にデータ線のリペア線に
よる修復の良否判別が容易な液晶パネル基板の構造に関
する。
品として用いられる補修容易な液晶パネル基板の構造，
及びその液晶パネル基板を用いた補修の検査が容易な液
晶パネルの製造方法に関し，特にデータ線のリペア線に
よる修復の良否判別が容易な液晶パネル基板の構造に関
する。
【０００２】データ線と走査線とをマトリックス状に交
叉させ，その交叉点に画素を形成する液晶パネル，例え
ば交点に薄膜トランジスタスイッチを配したアクテブマ
トリックス液晶パネルでは，データ線の断線の検査とそ
の補修が必須である。
叉させ，その交叉点に画素を形成する液晶パネル，例え
ば交点に薄膜トランジスタスイッチを配したアクテブマ
トリックス液晶パネルでは，データ線の断線の検査とそ
の補修が必須である。
【０００３】かかるデータ線の断線の検査はデータ線の
抵抗値の測定によりなされ，また補修はリペア配線をデ
ータ線に接続することでなされている。このため，断線
したデータ線をリペア配線により補修した後，その補修
の良否を容易に判別できる液晶パネル基板が要望されて
いる。
抵抗値の測定によりなされ，また補修はリペア配線をデ
ータ線に接続することでなされている。このため，断線
したデータ線をリペア配線により補修した後，その補修
の良否を容易に判別できる液晶パネル基板が要望されて
いる。
【０００４】
【従来の技術】図６は従来例液晶パネル基板平面図であ
り，データ線の修復に使用されるリペア配線を備えたパ
ネル基板を表している。
り，データ線の修復に使用されるリペア配線を備えたパ
ネル基板を表している。
【０００５】従来の液晶パネル基板の構造を，図６を参
照して説明する。絶縁性のパネル基板１０上に，平行な
複数のデータ線３及びデータ線３と直交する平行な複数
の走査線２１とが形成されている。これらデータ線３と
走査線２１の交叉部分には薄膜トランジスタスイッチが
配置され，データ線３と走査線２１とにより駆動される
画素が形成されている。
照して説明する。絶縁性のパネル基板１０上に，平行な
複数のデータ線３及びデータ線３と直交する平行な複数
の走査線２１とが形成されている。これらデータ線３と
走査線２１の交叉部分には薄膜トランジスタスイッチが
配置され，データ線３と走査線２１とにより駆動される
画素が形成されている。
【０００６】画素が形成された表示領域の外側周囲を囲
み配設された保護配線５は，液晶パネルの製造工程中は
接地され，保護配線５に接続される配線の帯電を防止す
る。データ線３は，その両端に設けられた抵抗測定用の
端子４の一方が保護配線５に接続され，製造工程中の帯
電が防止される。なお，走査線２１も帯電防止のために
保護配線５に接続されている。
み配設された保護配線５は，液晶パネルの製造工程中は
接地され，保護配線５に接続される配線の帯電を防止す
る。データ線３は，その両端に設けられた抵抗測定用の
端子４の一方が保護配線５に接続され，製造工程中の帯
電が防止される。なお，走査線２１も帯電防止のために
保護配線５に接続されている。
【０００７】一対のリペア配線１ａ，１ｂが，走査線２
１と平行に，かつそれぞれデータ線３の両端近傍でデー
タ線３と交叉するように設けられる。リペア配線１ａ，
１ｂとデータ線３とは絶縁されているが，その交叉部に
は交叉するリペア配線１ａ，１ｂとデータ線３との接続
を可能とする接続部９が設けられ，例えば接続部９にレ
ーザ照射をすることでデータ線３とリペア配線１ａ，１
ｂとをその接続部９で接続することができる。このリペ
ア配線１ａ，１ｂも帯電防止のために保護配線５に接続
される。
１と平行に，かつそれぞれデータ線３の両端近傍でデー
タ線３と交叉するように設けられる。リペア配線１ａ，
１ｂとデータ線３とは絶縁されているが，その交叉部に
は交叉するリペア配線１ａ，１ｂとデータ線３との接続
を可能とする接続部９が設けられ，例えば接続部９にレ
ーザ照射をすることでデータ線３とリペア配線１ａ，１
ｂとをその接続部９で接続することができる。このリペ
ア配線１ａ，１ｂも帯電防止のために保護配線５に接続
される。
【０００８】このパネル基板の検査，補修は，以下のよ
うになされる。先ず，検査装置のプロープをデータ線３
両端に設けられた端子４に接触させ，端子４間の抵抗を
測定する。データ線３が正常な場合は設計された抵抗値
が測定される。ｉ番目のデータ線３−ｉの断線は，デー
タ線３−ｉの抵抗値の増大として検出される。次いで，
断線が検出されたデータ線３−ｉがリペア配線１ａ，１
ｂと交叉する接続部９にレーザ照射して，このデータ線
３−ｉの両端をそれぞれリペア配線１ａ，１ｂに接続す
ることによりデータ線３−ｉの補修がなされる。
うになされる。先ず，検査装置のプロープをデータ線３
両端に設けられた端子４に接触させ，端子４間の抵抗を
測定する。データ線３が正常な場合は設計された抵抗値
が測定される。ｉ番目のデータ線３−ｉの断線は，デー
タ線３−ｉの抵抗値の増大として検出される。次いで，
断線が検出されたデータ線３−ｉがリペア配線１ａ，１
ｂと交叉する接続部９にレーザ照射して，このデータ線
３−ｉの両端をそれぞれリペア配線１ａ，１ｂに接続す
ることによりデータ線３−ｉの補修がなされる。
【０００９】しかし，上述した従来のパネル基板では，
対をなすリペア配線１ａ，１ｂの両方が保護配線５に直
接接続されているため，補修されたデータ線３─ｉの両
端に設けられた端子４間の抵抗は殆ど零となり，他の不
良，例えば短絡不良との区別がつかない。また，端子４
の一方は常に保護配線５に接続されており，この端子４
とリペア配線１ｂとは保護配線５を通して短絡状態にあ
るため，リペア配線１ｂとデータ線３−ｉとの接続が不
良であってもこの不良を検出することができない。この
ため，補修が完全になされているか否かの検査をするこ
とができない。また，通常のリペア装置では，端子間に
表れるデータ線の抵抗値が一定の範囲にあるか否かによ
りデータ線の良否を判断するため，補修後の端子間の抵
抗が著しく変化する従来のパネル基板の補修では，補修
後の検査のために別に検査装置を用意しなければならな
い。
対をなすリペア配線１ａ，１ｂの両方が保護配線５に直
接接続されているため，補修されたデータ線３─ｉの両
端に設けられた端子４間の抵抗は殆ど零となり，他の不
良，例えば短絡不良との区別がつかない。また，端子４
の一方は常に保護配線５に接続されており，この端子４
とリペア配線１ｂとは保護配線５を通して短絡状態にあ
るため，リペア配線１ｂとデータ線３−ｉとの接続が不
良であってもこの不良を検出することができない。この
ため，補修が完全になされているか否かの検査をするこ
とができない。また，通常のリペア装置では，端子間に
表れるデータ線の抵抗値が一定の範囲にあるか否かによ
りデータ線の良否を判断するため，補修後の端子間の抵
抗が著しく変化する従来のパネル基板の補修では，補修
後の検査のために別に検査装置を用意しなければならな
い。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
パネル基板では，抵抗測定用の端子が保護配線に接続さ
れているためリペア配線とデータ線との接続を確認する
ことができない。また，リペア配線が保護配線に接続さ
れているため，補修が正常になされたか否かを判別する
ことができないという問題がある。さらに補修後の検査
のために別のリペア装置を必要とするという問題があ
る。
パネル基板では，抵抗測定用の端子が保護配線に接続さ
れているためリペア配線とデータ線との接続を確認する
ことができない。また，リペア配線が保護配線に接続さ
れているため，補修が正常になされたか否かを判別する
ことができないという問題がある。さらに補修後の検査
のために別のリペア装置を必要とするという問題があ
る。
【００１１】本発明は，データ線の抵抗測定用端子を補
修後に保護配線から切り離すと共に，リペア配線と保護
配線間にダミーデータ線を挿入することで，補修後の端
子間にダミーデータ線抵抗が現れるようにして，補修後
の検査を補修前の検査と同一リペア検査装置により確実
になすことができる液晶パネル基板を提供し，及びその
液晶パネル基板を用いて補修後の検査を確実にできる液
晶パネルを提供することを目的とする。
修後に保護配線から切り離すと共に，リペア配線と保護
配線間にダミーデータ線を挿入することで，補修後の端
子間にダミーデータ線抵抗が現れるようにして，補修後
の検査を補修前の検査と同一リペア検査装置により確実
になすことができる液晶パネル基板を提供し，及びその
液晶パネル基板を用いて補修後の検査を確実にできる液
晶パネルを提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】図１及び図４はそれぞれ
本発明の第一実施形態例平面図及び本発明の第二実施形
態例平面図であり，液晶パネル基板上のデータ線及びリ
ペア配線を表している。
本発明の第一実施形態例平面図及び本発明の第二実施形
態例平面図であり，液晶パネル基板上のデータ線及びリ
ペア配線を表している。
【００１３】図１を参照して，上記課題を解決するため
の本発明の第一の構成に係る液晶パネル基板は，パネル
基板１０上の表示領域内に相互に平行な複数のデータ線
３及び該データ線３と交叉する相互に平行な複数の走査
線を備え，該データ線３と該走査線の交叉部に画素が形
成された液晶パネル基板において，該表示領域の外側の
該パネル基板１０上に設けられた帯電防止用の保護配線
５と，該データ線３に並設されたダミーデータ線６と，
該データ線３の一端に接続された第一の端子４ａと，該
データ線３の他端に接続された第二の端子４ｂと，該第
一の端子４ａと該保護配線５との間の電気的接続を，切
断可能に接続する切断部７と，該第一の端子４ａ近傍で
該データ線３と交叉し，かつ該保護配線５に電気的に接
続された第一のリペア配線１ａと，該第二の端子４ｂ近
傍で該データ線３と交叉し，かつ該ダミーデータ線６を
介して該保護配線５に電気的に接続された第二のリペア
配線１ｂと，該第一及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂ
と該データ線３との交叉位置に，該データ線３と該第一
及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂとの電気的接続を可
能とする接続部９とを有することを特徴として構成し，
及び，第二の構成は，図４を参照して，パネル基板１０
上の表示領域内に相互に平行な複数のデータ線３及び該
データ線３と交叉する相互に平行な複数の走査線を備
え，該データ線３と該走査線の交叉部に画素が形成され
た液晶パネル基板において，該表示領域の外側の該パネ
ル基板１０上に設けられた帯電防止用の保護配線５と，
該データ線３に並設されたダミーデータ線６と，該デー
タ線３の一端に接続された第一の端子４ａと，該データ
線３の他端に接続された第二の端子４ｂと，該第一の端
子４ａと該保護配線５との間の電気的接続を，切断可能
に接続する切断部７と，該データ線３の該一端の近傍で
該データ線３と交叉し，かつ該ダミーデータ線６を介し
て該保護配線５に電気的に接続された第一のリペア配線
１ａと，該データ線３の該他端の近傍で該データ線３と
交叉し，かつ該ダミーデータ線６を介して該保護配線５
に電気的に接続された第二のリペア配線１ｂと，該第一
及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂと該データ線３との
交叉位置に，該データ線３と該第一及び該第二のリペア
配線１ａ，１ｂとの電気的接続を可能とする接続部９と
を有することを特徴として構成し，及び，第三の構成
は，図１及び図４を参照して，第一又は第二の構成の液
晶パネル基板において，該第一及び該第二のリペア配線
１ａ，１ｂ間に接続された該ダミーデータ線６の合成抵
抗が，該データ線３の抵抗に等しいことを特徴として構
成し，及び，第四の構成は，第一，第二又は第三の構成
の液晶パネル基板において，該データ線６に代えて走査
線とし，該走査線に代えてデータ線としたことを特徴と
して構成し，及び，第五の構成に係る液晶パネルの製造
方法は，第一，第二又は第三の構成の液晶パネル基板を
用いた液晶パネルの製造方法において，該第一及び該第
二の端子４ａ，４ｂ間の抵抗値を測定し，該データ線３
の断線を検出する工程と，断線が検出された該データ線
３−ｉに接続された該切断部７を切断状態とする切離し
工程と，該第一及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂと断
線が検出された該データ線３−ｉとを該接続部９で電気
的に接続する接続工程と，該切離し工程及び該接続工程
の後，該リペア配線１ａ，１ｂが接続された該データ線
３−ｉの両端に設けられた該第一及び該第二の端子４
ａ，４ｂ間の抵抗値を測定し，該リペア配線１ａ，１ｂ
の接続の良否を検査する工程とを有することを特徴とし
て構成する。
の本発明の第一の構成に係る液晶パネル基板は，パネル
基板１０上の表示領域内に相互に平行な複数のデータ線
３及び該データ線３と交叉する相互に平行な複数の走査
線を備え，該データ線３と該走査線の交叉部に画素が形
成された液晶パネル基板において，該表示領域の外側の
該パネル基板１０上に設けられた帯電防止用の保護配線
５と，該データ線３に並設されたダミーデータ線６と，
該データ線３の一端に接続された第一の端子４ａと，該
データ線３の他端に接続された第二の端子４ｂと，該第
一の端子４ａと該保護配線５との間の電気的接続を，切
断可能に接続する切断部７と，該第一の端子４ａ近傍で
該データ線３と交叉し，かつ該保護配線５に電気的に接
続された第一のリペア配線１ａと，該第二の端子４ｂ近
傍で該データ線３と交叉し，かつ該ダミーデータ線６を
介して該保護配線５に電気的に接続された第二のリペア
配線１ｂと，該第一及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂ
と該データ線３との交叉位置に，該データ線３と該第一
及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂとの電気的接続を可
能とする接続部９とを有することを特徴として構成し，
及び，第二の構成は，図４を参照して，パネル基板１０
上の表示領域内に相互に平行な複数のデータ線３及び該
データ線３と交叉する相互に平行な複数の走査線を備
え，該データ線３と該走査線の交叉部に画素が形成され
た液晶パネル基板において，該表示領域の外側の該パネ
ル基板１０上に設けられた帯電防止用の保護配線５と，
該データ線３に並設されたダミーデータ線６と，該デー
タ線３の一端に接続された第一の端子４ａと，該データ
線３の他端に接続された第二の端子４ｂと，該第一の端
子４ａと該保護配線５との間の電気的接続を，切断可能
に接続する切断部７と，該データ線３の該一端の近傍で
該データ線３と交叉し，かつ該ダミーデータ線６を介し
て該保護配線５に電気的に接続された第一のリペア配線
１ａと，該データ線３の該他端の近傍で該データ線３と
交叉し，かつ該ダミーデータ線６を介して該保護配線５
に電気的に接続された第二のリペア配線１ｂと，該第一
及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂと該データ線３との
交叉位置に，該データ線３と該第一及び該第二のリペア
配線１ａ，１ｂとの電気的接続を可能とする接続部９と
を有することを特徴として構成し，及び，第三の構成
は，図１及び図４を参照して，第一又は第二の構成の液
晶パネル基板において，該第一及び該第二のリペア配線
１ａ，１ｂ間に接続された該ダミーデータ線６の合成抵
抗が，該データ線３の抵抗に等しいことを特徴として構
成し，及び，第四の構成は，第一，第二又は第三の構成
の液晶パネル基板において，該データ線６に代えて走査
線とし，該走査線に代えてデータ線としたことを特徴と
して構成し，及び，第五の構成に係る液晶パネルの製造
方法は，第一，第二又は第三の構成の液晶パネル基板を
用いた液晶パネルの製造方法において，該第一及び該第
二の端子４ａ，４ｂ間の抵抗値を測定し，該データ線３
の断線を検出する工程と，断線が検出された該データ線
３−ｉに接続された該切断部７を切断状態とする切離し
工程と，該第一及び該第二のリペア配線１ａ，１ｂと断
線が検出された該データ線３−ｉとを該接続部９で電気
的に接続する接続工程と，該切離し工程及び該接続工程
の後，該リペア配線１ａ，１ｂが接続された該データ線
３−ｉの両端に設けられた該第一及び該第二の端子４
ａ，４ｂ間の抵抗値を測定し，該リペア配線１ａ，１ｂ
の接続の良否を検査する工程とを有することを特徴とし
て構成する。
【００１４】本発明の第一の構成では，図１を参照し
て，データ線３の両端に第一の端子４ａ及び第二の端子
４ｂが設けられ，この端子４ａ，４ｂ間の抵抗が測定さ
れ，その測定された抵抗値からデータ線３の断線の有無
が検出される。データ線３は第一の端子４ａから切断部
７を通して保護配線５に電気的に接続される。切断部７
は，当初は端子４ａと保護配線５とを電気的に接続する
が，断線を生じたデータ線３−ｉと接続する切断部７
は，断線を生じたデータ線３−ｉと保護配線５との電気
的接続を切離すため開放状態にされる。なお，図１には
データ線３と交叉する走査線は省略されている。
て，データ線３の両端に第一の端子４ａ及び第二の端子
４ｂが設けられ，この端子４ａ，４ｂ間の抵抗が測定さ
れ，その測定された抵抗値からデータ線３の断線の有無
が検出される。データ線３は第一の端子４ａから切断部
７を通して保護配線５に電気的に接続される。切断部７
は，当初は端子４ａと保護配線５とを電気的に接続する
が，断線を生じたデータ線３−ｉと接続する切断部７
は，断線を生じたデータ線３−ｉと保護配線５との電気
的接続を切離すため開放状態にされる。なお，図１には
データ線３と交叉する走査線は省略されている。
【００１５】リペア配線１ａ，１ｂは，通常のリペア配
線と同様にデータ線３と交叉して設けられ，各交叉位置
には必要に応じてデータ線３とリペア配線１ａ，１ｂと
を電気的に接続することができる接続部９が設けられ，
断線が検出されたデータ線３−ｉは接続部９を用いてリ
ペア配線１ａ，１ｂに接続される。
線と同様にデータ線３と交叉して設けられ，各交叉位置
には必要に応じてデータ線３とリペア配線１ａ，１ｂと
を電気的に接続することができる接続部９が設けられ，
断線が検出されたデータ線３−ｉは接続部９を用いてリ
ペア配線１ａ，１ｂに接続される。
【００１６】保護配線５に接続される側の第一の端子４
ａに近い第一のリペア配線１ａは，直接保護配線に接続
される。他方，第二の端子４ｂに近い第二のリペア配線
１ｂは，一端が保護配線５に接続されたダミーデータ線
６の他端に接続され，このダミーデータ線６を通して保
護配線に接続される。このダミーデータ線は，データ線
と近似する抵抗を発生するために設けられたもので，デ
ータ線３と同時に製造され，データ線と同一の材料から
同一の工程を経て形成される。そのパターンは，データ
線のパターンと同一形状又は所要の抵抗値とするために
必要があれば異なる形状とすることもできる。
ａに近い第一のリペア配線１ａは，直接保護配線に接続
される。他方，第二の端子４ｂに近い第二のリペア配線
１ｂは，一端が保護配線５に接続されたダミーデータ線
６の他端に接続され，このダミーデータ線６を通して保
護配線に接続される。このダミーデータ線は，データ線
と近似する抵抗を発生するために設けられたもので，デ
ータ線３と同時に製造され，データ線と同一の材料から
同一の工程を経て形成される。そのパターンは，データ
線のパターンと同一形状又は所要の抵抗値とするために
必要があれば異なる形状とすることもできる。
【００１７】図２は本発明の第一実施形態例等価回路図
であり，データ線の補修後の端子間抵抗の等価回路を表
している。上述した本第一の構成では，図１及び図２を
参照して，破断８を生じて断線した抵抗値Ｒのデータ線
３−ｉは，第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間の抵抗値の
上昇として検出され，接続部９を用いて第一及び第二の
リペア配線１ａ，１ｂに電気的に接続される。
であり，データ線の補修後の端子間抵抗の等価回路を表
している。上述した本第一の構成では，図１及び図２を
参照して，破断８を生じて断線した抵抗値Ｒのデータ線
３−ｉは，第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間の抵抗値の
上昇として検出され，接続部９を用いて第一及び第二の
リペア配線１ａ，１ｂに電気的に接続される。
【００１８】本構成では，保護配線５に直接接続する第
一のリペア配線１ａが接続されたデータ線３−ｉ及び第
一の端子４ａは，切断部７により保護配線５から切り離
される。このため，第一の端子４ａは，データ線３ｉか
ら接続部９を介し第一のリペア配線１ａを通して保護配
線５に接続する。従って，この間の接続不良，即ち補修
が不良なために抵抗値の上昇がある場合は，第一及び第
二の端子４ａ，４ｂ間抵抗を測定することでこの接続不
良を用意に検出することができる。
一のリペア配線１ａが接続されたデータ線３−ｉ及び第
一の端子４ａは，切断部７により保護配線５から切り離
される。このため，第一の端子４ａは，データ線３ｉか
ら接続部９を介し第一のリペア配線１ａを通して保護配
線５に接続する。従って，この間の接続不良，即ち補修
が不良なために抵抗値の上昇がある場合は，第一及び第
二の端子４ａ，４ｂ間抵抗を測定することでこの接続不
良を用意に検出することができる。
【００１９】他方，ダミーデータ線６を通して保護配線
５と接続する第二のリペア配線１ｂが接続されたデータ
線３−ｉ及び第二の端子４ｂは，直接には保護配線５と
接続することはない。即ち，断線したデータ線３−ｉが
接続する第二の端子４ｂと保護配線５との間には，ダミ
ーデータ線６の抵抗が接続される。言い換えれば，正常
に補修がされた場合，第一の端子４ａと第二の端子４ｂ
との間には，ダミーデータ線６の抵抗が観察される。ダ
ミーデータ線６の抵抗値は予め知ることができるから，
端子４ａ，４ｂ間の抵抗の測定により補修の良否，即ち
データ線３−ｉと第二のリペア配線１ｂとの接続不良，
又は短絡の有無を検査することができる。
５と接続する第二のリペア配線１ｂが接続されたデータ
線３−ｉ及び第二の端子４ｂは，直接には保護配線５と
接続することはない。即ち，断線したデータ線３−ｉが
接続する第二の端子４ｂと保護配線５との間には，ダミ
ーデータ線６の抵抗が接続される。言い換えれば，正常
に補修がされた場合，第一の端子４ａと第二の端子４ｂ
との間には，ダミーデータ線６の抵抗が観察される。ダ
ミーデータ線６の抵抗値は予め知ることができるから，
端子４ａ，４ｂ間の抵抗の測定により補修の良否，即ち
データ線３−ｉと第二のリペア配線１ｂとの接続不良，
又は短絡の有無を検査することができる。
【００２０】かかるダミーデータ線６は，データ線と同
時に同一材料から形成される。従って，ダミーデータ線
６の抵抗値は，同一線幅，同一パターン形状であれば同
一となる。このため，端子４ａ，４ｂ間抵抗がデータ線
３抵抗から掛け離れたものとなることはなく，一般的な
リペア検査装置を用いて抵抗値を測定することができる
から容易に補修の良否を判別することができる。
時に同一材料から形成される。従って，ダミーデータ線
６の抵抗値は，同一線幅，同一パターン形状であれば同
一となる。このため，端子４ａ，４ｂ間抵抗がデータ線
３抵抗から掛け離れたものとなることはなく，一般的な
リペア検査装置を用いて抵抗値を測定することができる
から容易に補修の良否を判別することができる。
【００２１】ダミーデータ線６は，端子４ａ，４ｂ間に
１個又は複数個を直列又は並列に配することができる。
また，ダミーデータ線６の線幅又はパターン形状をデー
タ線と異なるものとすることもできる。このため，端子
４ａ，４ｂ間の合成抵抗をリペア検査装置に適した値と
することができる。とくに，合成抵抗をデータ線３の抵
抗値と等しくすることで，リペア検査装置の設定を変え
ることなく補修前後のリペア検査を行うことができる。
１個又は複数個を直列又は並列に配することができる。
また，ダミーデータ線６の線幅又はパターン形状をデー
タ線と異なるものとすることもできる。このため，端子
４ａ，４ｂ間の合成抵抗をリペア検査装置に適した値と
することができる。とくに，合成抵抗をデータ線３の抵
抗値と等しくすることで，リペア検査装置の設定を変え
ることなく補修前後のリペア検査を行うことができる。
【００２２】本発明の第二の構成では，図１を参照し
て，第一の構成では直接に保護配線５に接続していた第
一のリペア配線１ａを，図４を参照して，ダミーデータ
線６を介して保護配線５に接続する。従って，補修後の
第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間には，第一の端子４ａ
と保護配線５間に挿入されたダミーデータ線６の抵抗
と，第二の端子４ａと保護配線５間に挿入されたダミー
データ線６の抵抗との直列抵抗が観測される。本構成で
は，第一のリペア配線１ａと保護配線との短絡をも検出
できる利点がある。また，２本のリペア配線１ａ，１ｂ
の特性が同一になるから，データ線３の保護配線５への
接続方向を一本おきに反対向きとする，いわゆる千鳥の
配線に適用しても，端子間特性の変動を少なくすること
ができる。
て，第一の構成では直接に保護配線５に接続していた第
一のリペア配線１ａを，図４を参照して，ダミーデータ
線６を介して保護配線５に接続する。従って，補修後の
第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間には，第一の端子４ａ
と保護配線５間に挿入されたダミーデータ線６の抵抗
と，第二の端子４ａと保護配線５間に挿入されたダミー
データ線６の抵抗との直列抵抗が観測される。本構成で
は，第一のリペア配線１ａと保護配線との短絡をも検出
できる利点がある。また，２本のリペア配線１ａ，１ｂ
の特性が同一になるから，データ線３の保護配線５への
接続方向を一本おきに反対向きとする，いわゆる千鳥の
配線に適用しても，端子間特性の変動を少なくすること
ができる。
【００２３】本発明の第四の構成では，上述した第一〜
第三の構成におけるデータ線と走査線とを入れ換える。
即ち，リペア配線は走査線に対して接続され，走査線の
断線を救済する。本構成では，走査線とデータ線とが交
換される他はその作用，効果は第一〜第三の構成と同様
である。
第三の構成におけるデータ線と走査線とを入れ換える。
即ち，リペア配線は走査線に対して接続され，走査線の
断線を救済する。本構成では，走査線とデータ線とが交
換される他はその作用，効果は第一〜第三の構成と同様
である。
【００２４】
【発明の実施の形態】本発明の第一実施形態例は，第一
の構成にかかる液晶パネル基板に関する。第一実施形態
例では，図１を参照して，絶縁性のパネル基板１０の主
面に，ｎ本のデータ線３−１〜３−ｎと複数本の走査線
（図１中では省略している。）とを，直交するようにマ
トリック状に形成する。これらのデータ線３−１〜３−
ｎと走査線との交叉点には，図外の薄膜トランジスタス
イッチを介して図外の画素電極が接続された画素が形成
されている。
の構成にかかる液晶パネル基板に関する。第一実施形態
例では，図１を参照して，絶縁性のパネル基板１０の主
面に，ｎ本のデータ線３−１〜３−ｎと複数本の走査線
（図１中では省略している。）とを，直交するようにマ
トリック状に形成する。これらのデータ線３−１〜３−
ｎと走査線との交叉点には，図外の薄膜トランジスタス
イッチを介して図外の画素電極が接続された画素が形成
されている。
【００２５】かかる画素が形成される表示領域の外側
に，リペア配線１ａ，１ｂ，データ線３の抵抗を測定す
るための端子４ａ，４ｂ，及び接続部９が内側から外側
にこの順序で配置され，さらにその外側を取り囲む保護
配線５が設けられる。データ線３の図１中の下端は，第
一の端子４ａ及び切断部７を通り保護配線５に接続され
る。データ線の図１中の上端は，第二の端子に接続され
る。
に，リペア配線１ａ，１ｂ，データ線３の抵抗を測定す
るための端子４ａ，４ｂ，及び接続部９が内側から外側
にこの順序で配置され，さらにその外側を取り囲む保護
配線５が設けられる。データ線３の図１中の下端は，第
一の端子４ａ及び切断部７を通り保護配線５に接続され
る。データ線の図１中の上端は，第二の端子に接続され
る。
【００２６】データ線は，例えばスパッタ法により堆積
されたＴｉ／Ａｌ／Ｔｉの３層構造の薄膜をパターニン
グして形成される。この時，同時にデータ線３と平行な
２本のダミーデータ線６を表示領域の両側に形成する。
このダミーデータ線６の線幅はデータ線の１／２とす
る，従って，その抵抗はデータ線３の２倍となる。
されたＴｉ／Ａｌ／Ｔｉの３層構造の薄膜をパターニン
グして形成される。この時，同時にデータ線３と平行な
２本のダミーデータ線６を表示領域の両側に形成する。
このダミーデータ線６の線幅はデータ線の１／２とす
る，従って，その抵抗はデータ線３の２倍となる。
【００２７】第一のリペア配線１ａは第一の端子４ａ近
くでデータ線３と交叉するように，また，第二のリペア
配線１ｂは第二の端子４ｂ近くでデータ線３と交叉する
ように，第一及び第二のリペア配線１ａ，１ｂを一対と
して設ける。第一のリペア配線１ａは，その両端で保護
配線５に接続される。また，第二のリペア配線１ｂは，
その両端においてダミーデータ線６の一端に接続され
る。このダミーデータ線６の他端は保護配線５に接続さ
れる。
くでデータ線３と交叉するように，また，第二のリペア
配線１ｂは第二の端子４ｂ近くでデータ線３と交叉する
ように，第一及び第二のリペア配線１ａ，１ｂを一対と
して設ける。第一のリペア配線１ａは，その両端で保護
配線５に接続される。また，第二のリペア配線１ｂは，
その両端においてダミーデータ線６の一端に接続され
る。このダミーデータ線６の他端は保護配線５に接続さ
れる。
【００２８】図３は本発明の第一実施形態例部分平面図
であり，図１の配線の一部を拡大したものである。図３
を参照して，データ線３とリペア配線１ａ，１ｂとは，
薄い絶縁膜を介在させて交叉させ，この交叉部分を接続
部９とする。この接続部９をレーザ照射することにより
絶縁膜を破壊し，データ線３とリペア配線１ａ，１ｂと
の電気的接続がなされる。第一のリペア配線１ａと保護
配線５との接続及び第二のリペア配線２ｂとダミーデー
タ線６との接続は，接続部９と同様に薄い絶縁膜を介在
させた構造のコンタクト部１２ａ，１２ｂを形成し，こ
れをレーザ照射して電気的接続をとることによりなされ
る。もちろん，絶縁膜を介在させず直接に接続すること
もできる。
であり，図１の配線の一部を拡大したものである。図３
を参照して，データ線３とリペア配線１ａ，１ｂとは，
薄い絶縁膜を介在させて交叉させ，この交叉部分を接続
部９とする。この接続部９をレーザ照射することにより
絶縁膜を破壊し，データ線３とリペア配線１ａ，１ｂと
の電気的接続がなされる。第一のリペア配線１ａと保護
配線５との接続及び第二のリペア配線２ｂとダミーデー
タ線６との接続は，接続部９と同様に薄い絶縁膜を介在
させた構造のコンタクト部１２ａ，１２ｂを形成し，こ
れをレーザ照射して電気的接続をとることによりなされ
る。もちろん，絶縁膜を介在させず直接に接続すること
もできる。
【００２９】切断部７は，例えばレーザ照射により熔断
されるヒューズから構成される。また，外部接続用パッ
ド１１が，端子４ａと切断部７の間に設けられる。ダミ
ーデータ線６は，線幅がデータ線３の１／２である他は
同一形状とする。これにより，ダミーデータ線６のイン
ピーダンスをデータ線３のインピーダンスに近くするこ
とができる。また第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間の合
成抵抗は，データ線３の抵抗と同じになる。このため，
検査装置の設定値を補修の前後で同一とすることができ
る他，液晶装置の駆動回路の負荷変動を最少に抑制する
ことができる。
されるヒューズから構成される。また，外部接続用パッ
ド１１が，端子４ａと切断部７の間に設けられる。ダミ
ーデータ線６は，線幅がデータ線３の１／２である他は
同一形状とする。これにより，ダミーデータ線６のイン
ピーダンスをデータ線３のインピーダンスに近くするこ
とができる。また第一及び第二の端子４ａ，４ｂ間の合
成抵抗は，データ線３の抵抗と同じになる。このため，
検査装置の設定値を補修の前後で同一とすることができ
る他，液晶装置の駆動回路の負荷変動を最少に抑制する
ことができる。
【００３０】本発明の第二実施形態例では，図４を参照
して，全てのリペア配線１ａ，１ｂをダミーデータ線６
を通して保護配線５に接続する。即ち，それぞれデータ
線３の両端近傍で交叉するように配設された第一及び第
二のリペア配線１ａ，１ｂの両端に，保護配線５に接続
されたダミーデータ線６を接続する。
して，全てのリペア配線１ａ，１ｂをダミーデータ線６
を通して保護配線５に接続する。即ち，それぞれデータ
線３の両端近傍で交叉するように配設された第一及び第
二のリペア配線１ａ，１ｂの両端に，保護配線５に接続
されたダミーデータ線６を接続する。
【００３１】ダミーデータ線６及びデータ線３は，それ
ぞれ直接に及び端子４ａを通して，一本おきに反対側の
保護配線５に千鳥に接続される。ダミーデータ線６はデ
ータ線３と同一パターン形状することで，端子４ａ，４
ｂ間の合成抵抗をデータ線３の抵抗と同一にすることが
できる。本構成では，保護配線５と各端子４ａ，４ｂ間
との抵抗を測定して補修の良否を判断することもでき
る。
ぞれ直接に及び端子４ａを通して，一本おきに反対側の
保護配線５に千鳥に接続される。ダミーデータ線６はデ
ータ線３と同一パターン形状することで，端子４ａ，４
ｂ間の合成抵抗をデータ線３の抵抗と同一にすることが
できる。本構成では，保護配線５と各端子４ａ，４ｂ間
との抵抗を測定して補修の良否を判断することもでき
る。
【００３２】図５は本発明の第三実施形態例平面図であ
り，データ配線及びリペア配線の構成を表している。第
三実施形態例では，第一実施形態例においてリペア配線
の両側に接続するダミーデータ線を，図５を参照して，
リペア配線１ｂの片側にのみ設けたものである。この構
成では，ダミーデータ線６をデータ線３と同一形状に形
成することにより，端子４ａ，４ｂ間の合成抵抗をデー
タ線３の抵抗と等しくすることができる。なお，第二の
実施形態例においても，リペア配線１ａ，１ｂの片側に
のみダミーデータ線を接続してもよい。さらに，第三の
実施形態例において，データ配線を千鳥に設けることも
できる。また，本発明の実施形態例において，外部接続
用パッドと抵抗測定用の端子とを一個の端子で兼用する
こともできる。
り，データ配線及びリペア配線の構成を表している。第
三実施形態例では，第一実施形態例においてリペア配線
の両側に接続するダミーデータ線を，図５を参照して，
リペア配線１ｂの片側にのみ設けたものである。この構
成では，ダミーデータ線６をデータ線３と同一形状に形
成することにより，端子４ａ，４ｂ間の合成抵抗をデー
タ線３の抵抗と等しくすることができる。なお，第二の
実施形態例においても，リペア配線１ａ，１ｂの片側に
のみダミーデータ線を接続してもよい。さらに，第三の
実施形態例において，データ配線を千鳥に設けることも
できる。また，本発明の実施形態例において，外部接続
用パッドと抵抗測定用の端子とを一個の端子で兼用する
こともできる。
【００３３】
【発明の効果】上述したように，本発明によれば，デー
タ線抵抗測定用の端子間の抵抗値を補修前後で同程度に
することができるので，補修前後の端子間抵抗を同一の
リペア検査装置で測定することができる。また，リペア
配線の短絡及び接続不良を検出することができる。この
ため，信頼性に優れた液晶パネルを容易に製造すること
ができ，液晶表示装置の性能向上に寄与するところが大
きい。
タ線抵抗測定用の端子間の抵抗値を補修前後で同程度に
することができるので，補修前後の端子間抵抗を同一の
リペア検査装置で測定することができる。また，リペア
配線の短絡及び接続不良を検出することができる。この
ため，信頼性に優れた液晶パネルを容易に製造すること
ができ，液晶表示装置の性能向上に寄与するところが大
きい。
【図１】 本発明の第一実施形態例平面図
【図２】 本発明の第一実施形態例等価回路図
【図３】 本発明の第一実施形態例部分平面図
【図４】 本発明の第二実施形態例平面図
【図５】 本発明の第三実施形態例平面図
【図６】 従来例液晶パネル基板平面図
１ａ，１ｂ リペア配線 ３，３−１〜３−ｎ データ線 ４ａ，４ｂ 端子 ５ 保護配線 ６ ダミーデータ線 ７ 切断部 ９ 接続部 １０ パネル基板 １１ 外部接続用パッド １２ａ，１２ｂ コンタクト部 ２１ 走査線
Claims (5)
- 【請求項１】 パネル基板上の表示領域内に相互に平行
な複数のデータ線及び該データ線と交叉する相互に平行
な複数の走査線を備え，該データ線と該走査線の交叉部
に画素が形成された液晶パネル基板において，該表示領
域の外側の該パネル基板上に設けられた帯電防止用の保
護配線と，該データ線に並設されたダミーデータ線と，
該データ線の一端に接続された第一の端子と，該データ
線の他端に接続された第二の端子と，該第一の端子と該
保護配線との間の電気的接続を，切断可能に接続する切
断部と，該第一の端子近傍で該データ線と交叉し，かつ
該保護配線に電気的に接続された第一のリペア配線と，
該第二の端子近傍で該データ線と交叉し，かつ該ダミー
データ線を介して該保護配線に電気的に接続された第二
のリペア配線と，該第一及び該第二のリペア配線と該デ
ータ線との交叉位置に，該データ線と該第一及び該第二
のリペア配線との電気的接続を可能とする接続部とを有
することを特徴とする液晶パネル基板。 - 【請求項２】 パネル基板上の表示領域内に相互に平行
な複数のデータ線及び該データ線と交叉する相互に平行
な複数の走査線を備え，該データ線と該走査線の交叉部
に画素が形成された液晶パネル基板において，該表示領
域の外側の該パネル基板上に設けられた帯電防止用の保
護配線と，該データ線に並設されたダミーデータ線と，
該データ線の一端に接続された第一の端子と，該データ
線の他端に接続された第二の端子と，該第一の端子と該
保護配線との間の電気的接続を，切断可能に接続する切
断部と，該データ線の該一端の近傍で該データ線と交叉
し，かつ該ダミーデータ線を介して該保護配線に電気的
に接続された第一のリペア配線と，該データ線の該他端
の近傍で該データ線と交叉し，かつ該ダミーデータ線を
介して該保護配線に電気的に接続された第二のリペア配
線と，該第一及び該第二のリペア配線と該データ線との
交叉位置に，該データ線と該第一及び該第二のリペア配
線との電気的接続を可能とする接続部とを有することを
特徴とする液晶パネル基板。 - 【請求項３】 請求項１又は２記載の液晶パネル基板に
おいて，該第一及び該第二のリペア配線間に接続された
該ダミーデータ線の合成抵抗が，該データ線の抵抗に等
しいことを特徴とする液晶パネル基板。 - 【請求項４】 請求項１，２又は３記載の液晶パネル基
板において，該データ線に代えて走査線とし，該走査線
に代えてデータ線としたことを特徴とする液晶パネル基
板。 - 【請求項５】 請求項１，２又は３記載の液晶パネル基
板を用いた液晶パネルの製造方法において，該第一及び
該第二の端子間の抵抗値を測定し，該データ線の断線を
検出する工程と，断線が検出された該データ線に接続さ
れた該切断部を切断状態とする切離し工程と，該第一及
び該第二のリペア配線と断線が検出された該データ線と
を該接続部で電気的に接続する接続工程と，該切離し工
程及び該接続工程の後，該リペア配線が接続された該デ
ータ線の両端に設けられた該第一及び該第二の端子間の
抵抗値を測定し，該リペア配線の接続の良否を検査する
工程とを有することを特徴とする液晶パネルの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8053054A JPH09244048A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 液晶パネル基板及び液晶パネルの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8053054A JPH09244048A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 液晶パネル基板及び液晶パネルの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09244048A true JPH09244048A (ja) | 1997-09-19 |
Family
ID=12932153
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8053054A Withdrawn JPH09244048A (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 液晶パネル基板及び液晶パネルの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09244048A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000004398A (ko) * | 1998-06-30 | 2000-01-25 | 김영환 | 액정 표시 패널의 리페어 방법 |
| JP2006171672A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-29 | Samsung Electronics Co Ltd | アレイ基板、アレイ基板を有する表示装置、及びアレイ基板のリペアー方法 |
| US7439589B2 (en) | 2005-08-08 | 2008-10-21 | Au Optronics Corporation | Active matrix substrate and repairing method thereof |
| CN102608799A (zh) * | 2011-11-30 | 2012-07-25 | 友达光电股份有限公司 | 裸眼式立体显示器 |
| US8354989B2 (en) * | 2004-02-19 | 2013-01-15 | Samsung Display Co., Ltd. | Liquid crystal display panel and display apparatus having the same |
| TWI401492B (zh) * | 2010-05-17 | 2013-07-11 | Au Optronics Corp | 主動元件陣列基板及其修補方法 |
| CN104216149A (zh) * | 2014-09-30 | 2014-12-17 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种具有修补线结构的液晶显示面板 |
| US10211366B2 (en) | 2016-02-05 | 2019-02-19 | Au Optronics Corporation | Self-emission type display and repairing method thereof |
| CN109683413A (zh) * | 2019-02-13 | 2019-04-26 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种阵列基板及其断线修复方法 |
-
1996
- 1996-03-11 JP JP8053054A patent/JPH09244048A/ja not_active Withdrawn
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000004398A (ko) * | 1998-06-30 | 2000-01-25 | 김영환 | 액정 표시 패널의 리페어 방법 |
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| US8582039B2 (en) | 2011-11-30 | 2013-11-12 | Au Optronics Corporation | Naked-eye type stereoscopic display |
| CN104216149A (zh) * | 2014-09-30 | 2014-12-17 | 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 | 一种具有修补线结构的液晶显示面板 |
| US10211366B2 (en) | 2016-02-05 | 2019-02-19 | Au Optronics Corporation | Self-emission type display and repairing method thereof |
| CN109683413A (zh) * | 2019-02-13 | 2019-04-26 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种阵列基板及其断线修复方法 |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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