JPH0921830A - 小型電子部品用測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来１度で測定することができなかった電子
部品についても１度の動作で測定可能とする。小さな電
子部品についても４端子測定を可能とする。測定に要す
る時間を短縮し、かつ、その測定精度を向上させる。 【構成】 基板１１の下方に配置された各小型電子部品
１５について各プローブ１４を接触させて、その電気特
性等を測定・検査する。測定端子１３を基板１１の表面
側のみならず、裏面側にも配設し、かつ、それらを交互
に配設しているため、プローブ１４の間隔は可能な限り
小さくすることができる（従来の半分）。よって、サイ
ズが小さい各小型電子部品１５も複数個一時に測定・検
査することができる。また、この装置では小型電子部品
１５の４端子測定も可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、例えばチップ型抵抗
器等の小型電子部品の加工時の電気的特性の検査に使用
する小型電子部品用測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えばチップ型抵抗器等のような小型電
子部品の電気的特性の検査を行うための従来の測定装置
は、図４に示すように構成されていた。すなわち、円形
の孔１が中央に形成された基板２（絶縁ボード）表面に
所定の回路・配線等をパターニングし、先端にプローブ
３を有する測定端子４をこの孔１の外周に沿って複数本
並べて構成していた。そして、このプローブ３先端を測
定対象である小型電子部品の端子等に接触させて電気的
な測定を行っていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
従来の測定装置にあっては、各測定端子の間隔には限界
があり、電子部品の小型化に追随することができないと
いう課題があった。例えば、図５に示すように、複数の
小さな電子部品６が１列に並べられて製造されている場
合、測定範囲内のすべての電子部品６について同時に測
定することは困難であった。測定対象である電子部品６
のサイズが小さくなれば小さくなるほど、２測定端子間
の間隔（Ａ）を狭くしなければならないが、これにも限
界があった。この間隔を電子部品６のサイズに合致させ
ようとすると、隣合う測定端子同士が接触してしまうと
いう不具合があった。よって、測定対象範囲にある電子
部品を１ピース飛びや１ピースのみについて測定するこ
とととなり、その測定に多大な時間がかかるという課題
を発生させていた。

【０００４】

【発明の目的】そこで、この発明は、従来１度で測定す
ることができなかった電子部品についても１度の動作で
測定可能とした測定装置を提供することを、その目的と
している。また、この発明は、小さな電子部品について
も４端子測定を可能としたことを、その目的としてい
る。さらに、この発明は、測定に要する時間を短縮し、
かつ、その測定精度を向上させることができる装置を提
供することを、その目的としている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、測定用の回路が配設された基板と、この基板の側縁
から先端部が突出するようにこの基板に実装された複数
の測定端子と、を備えた小型電子部品用測定装置におい
て、上記複数の測定端子を基板の表裏面にそれぞれ配し
た小型電子部品用測定装置である。

【０００６】請求項２に記載の発明は、上記表面の複数
の測定端子と裏面の複数の測定端子とを千鳥足状に配設
した請求項１に記載の小型電子部品用測定装置である。

【０００７】

【作用】この発明に係る測定装置によれば、従来１度で
測定することができなかった小さな電子部品を、１度で
測定することができる。このため、測定時に余分な機械
的な動作を行う必要がなくなり、その生産性を向上させ
ることができる。また、この発明に係る測定装置では、
測定端子の間隔をさらに小さくすることができ、従来不
可能であった小型電子部品についても４端子測定が可能
となる。

【０００８】

【実施例】以下この発明の一実施例に係る小型電子部品
用測定装置を図面を参照して説明する。図１・図２は一
実施例に係る測定装置を示している。これらの図におい
て、１１は装置を構成する基板（絶縁体、例えばセラミ
ックス基板）であり、この基板１１の中央部には大略円
形の孔１２が形成されている。基板１１の表面および裏
面にはそれぞれ測定用の回路・配線等がパターニングさ
れて形成され、これらの回路・配線は例えばスルーホー
ルを介して配線で接続されている。なお、電源は外部に
配設されている。

【０００９】基板１１の表裏面には複数の測定端子１３
がそれぞれ並設されており、これらの測定端子１３は先
端にはプローブ１４が固着されている。各プローブ１４
はその先端が孔１２の中心に向かって一定長さだけ突出
し、さらに、折り曲げられて下方に向かって垂下され、
それらの高さ位置はすべて一定となるように調整されて
いる。各測定端子１３は基板１１の表裏面にそれぞれ固
着されて回路・配線に接続されている。また、上述のよ
うに、各プローブ１４の先端はそれぞれ基板１１の孔１
２周縁から一定長さだけ水平方向に突出し、かつ、一定
高さだけ下方に垂下されている。

【００１０】さらに、これらの各測定端子１３は、図２
に詳示するように、孔１２の周縁に沿って一定間隔で並
んで配設されており、かつ、これらの表面側の測定端子
１３と裏面側の測定端子１３とが互い違いになるように
交互に（千鳥足状に）配設されている。この結果、隣り
合うプローブ１４同士の間隔は、従来の表面のみの場合
に比較して狭く形成されている。

【００１１】そして、この装置にあっては、基板１１の
下方に搬送・配置された各小型電子部品１５について各
プローブ１４を接触させて、その電気特性等を測定・検
査する。この場合、複数の小型電子部品１５は例えば一
列に連続して列設されているが、この装置にあっては隣
り合うプローブ１４の間隔を可能な限り小さくしたため
（従来の半分）、サイズが小さい各小型電子部品１５も
複数個一時に測定・検査することができる。なお、これ
よりサイズの大きい電子部品については表面側の測定端
子１３のみを用いて測定することができる。

【００１２】図３はこの発明の他の実施例に係る測定装
置を示している。この測定装置は上記実施例に係る測定
装置よりも各測定端子１３の間隔を小さくしたものであ
る。このように構成することによって、小型電子部品１
５の４端子測定を可能とした例である。その他の構成は
上記実施例と同様に構成してある。

【００１３】

【効果】この発明では、従来装置では１度で測定するこ
とができなかったサイズに小さな小型電子部品について
も、１度で測定することができる。このため、測定にお
いて余分な動作が減り、その生産性を向上することがで
きる。また、小型電子部品についても４端子測定が可能
となる。さらに、測定時間を短縮することができ、か
つ、測定精度も高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例に係る小型電子部品用測定
装置の概略を示す斜視図である。

【図２】この発明の一実施例に係る小型電子部品用測定
装置の測定端子配設部分を示す斜視図である。

【図３】この発明の他の実施例に係る小型電子部品用測
定装置の測定端子配設部分を示す斜視図である。

【図４】従来の測定装置の概略を示す斜視図である。

【図５】従来の測定装置の測定端子間隔を示すための斜
視図である。

【符号の説明】

１１ 基板、 １２ 孔、 １３ 測定端子、 １４ プローブ、 １５ 小型電子部品。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定用の回路が配設された基板と、 この基板の側縁から先端部が突出するようにこの基板に
   実装された複数の測定端子と、を備えた小型電子部品用
   測定装置において、 上記複数の測定端子を基板の表裏面にそれぞれ配した小
   型電子部品用測定装置。
2. 【請求項２】 上記表面の複数の測定端子と裏面の測定
   端子とは千鳥足状に配設された請求項１に記載の小型電
   子部品用測定装置。