JPH09215687A - Ｘ線撮影方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線撮影方法および装置並びにｘ線ｃｔ装置Info
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- JPH09215687A JPH09215687A JP8023839A JP2383996A JPH09215687A JP H09215687 A JPH09215687 A JP H09215687A JP 8023839 A JP8023839 A JP 8023839A JP 2383996 A JP2383996 A JP 2383996A JP H09215687 A JPH09215687 A JP H09215687A
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 高精細で品質の良い透視像を撮影するＸ線撮
影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置を実現する。 【解決手段】 広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビームを
その厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過
Ｘ線に基づいて被検体の透視像を形成するＸ線撮影装置
において、Ｘ線検出素子のアレイＤＴｅ１〜ＤＴｅ４を
Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接して透過Ｘ線を検
出するＸ線検出手段ＤＴと、Ｘ線検出手段における複数
のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した
信号に基づいて被検体の透視像を形成する画像形成手段
ＣＯＭとを具備することを特徴とする。
影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置を実現する。 【解決手段】 広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビームを
その厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過
Ｘ線に基づいて被検体の透視像を形成するＸ線撮影装置
において、Ｘ線検出素子のアレイＤＴｅ１〜ＤＴｅ４を
Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接して透過Ｘ線を検
出するＸ線検出手段ＤＴと、Ｘ線検出手段における複数
のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した
信号に基づいて被検体の透視像を形成する画像形成手段
ＣＯＭとを具備することを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば扇状のＸ線
ビームのような、広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビーム
をその厚みの方向に掃引することにより、被検体の透視
像を撮影するＸ線撮影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装
置に関する。さらに詳しくは、Ｘ線検出器としてＸ線検
出素子のアレイ(array) を複数個有するものを用いて品
質の良い透視像を得るＸ線撮影方法および装置並びにＸ
線ＣＴ装置である。
ビームのような、広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビーム
をその厚みの方向に掃引することにより、被検体の透視
像を撮影するＸ線撮影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装
置に関する。さらに詳しくは、Ｘ線検出器としてＸ線検
出素子のアレイ(array) を複数個有するものを用いて品
質の良い透視像を得るＸ線撮影方法および装置並びにＸ
線ＣＴ装置である。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線ＣＴ装置においては、被検体を扇状
のＸ線ビームでスキャンし、その測定データに基づいて
被検体の断層像が再構成される。測定データは、多数の
Ｘ線検出素子を扇状Ｘ線ビームの広がりの方向に配列し
た多チャンネルのＸ線検出器によって測定される。
のＸ線ビームでスキャンし、その測定データに基づいて
被検体の断層像が再構成される。測定データは、多数の
Ｘ線検出素子を扇状Ｘ線ビームの広がりの方向に配列し
た多チャンネルのＸ線検出器によって測定される。
【０００３】図１１に、Ｘ線ＣＴ装置におけるＸ線照射
・検出系の概念図を示す。図１１において、Ｘ線照射器
ＸＳから放射されるＸ線が、アパーチャ(aperture)ＡＰ
を通して厚みｔのＸ線ビームＢＭとなって被検体ＯＢに
照射され、その透過Ｘ線がＸ線検出器ＤＴのＸ線検出素
子ＤＴｅで測定される。
・検出系の概念図を示す。図１１において、Ｘ線照射器
ＸＳから放射されるＸ線が、アパーチャ(aperture)ＡＰ
を通して厚みｔのＸ線ビームＢＭとなって被検体ＯＢに
照射され、その透過Ｘ線がＸ線検出器ＤＴのＸ線検出素
子ＤＴｅで測定される。
【０００４】Ｘ線ビームＢＭは厚みの方向（ｚ方向）と
は垂直な方向（ｘ方向）に広がる扇状のビームとなって
いる。この扇状Ｘ線ビームの広がりの方向にＸ線検出素
子ＤＴｅが複数個配列され、多チャンネルのＸ線検出器
ＤＴを構成している。すなわち、Ｘ線検出器ＤＴはＸ線
検出素子ＤＴｅのアレイによって構成される。
は垂直な方向（ｘ方向）に広がる扇状のビームとなって
いる。この扇状Ｘ線ビームの広がりの方向にＸ線検出素
子ＤＴｅが複数個配列され、多チャンネルのＸ線検出器
ＤＴを構成している。すなわち、Ｘ線検出器ＤＴはＸ線
検出素子ＤＴｅのアレイによって構成される。
【０００５】被検体ＯＢをスキャンするときには、この
Ｘ線照射・検出系を体軸ＯＡを中心として回転させ、被
検体ＯＢのスライス厚ｔの部分について周囲の複数方向
から透過Ｘ線データが測定される。
Ｘ線照射・検出系を体軸ＯＡを中心として回転させ、被
検体ＯＢのスライス厚ｔの部分について周囲の複数方向
から透過Ｘ線データが測定される。
【０００６】一般に、スキャンに先立ってスライス位置
を決めるための透視撮影が行なわれる。透視撮影はＸ線
を照射しながらＸ線照射・検出系を被検体ＯＢに対して
相対的に平行移動（掃引）させることによって行なわれ
る。
を決めるための透視撮影が行なわれる。透視撮影はＸ線
を照射しながらＸ線照射・検出系を被検体ＯＢに対して
相対的に平行移動（掃引）させることによって行なわれ
る。
【０００７】掃引の各位置（ビュー(view)）において測
定されたＸ線透過データに基づいて透視像が形成され
る。操作者は透視像によって注目部位（病変部等）の正
確な位置を確認し、その部位が含まれるようにスライス
位置決めしてスキャンを実行する。このようなスキャン
位置決めのための透視撮影はスカウトビュー(scout vie
w)撮影と呼ばれる。
定されたＸ線透過データに基づいて透視像が形成され
る。操作者は透視像によって注目部位（病変部等）の正
確な位置を確認し、その部位が含まれるようにスライス
位置決めしてスキャンを実行する。このようなスキャン
位置決めのための透視撮影はスカウトビュー(scout vie
w)撮影と呼ばれる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】近年、Ｘ線検出素子の
アレイを複数個有するＸ線検出器が開発されつつある。
これをＸ線ＣＴ装置のＸ線検出器として用いれば１スキ
ャンで複数スライスの測定データが得られるので、スル
ープット(through put) の向上や複数スライスの測定デ
ータを用いて多様な画像再構成を行なう等の先進的なデ
ータ処理が期待できる。
アレイを複数個有するＸ線検出器が開発されつつある。
これをＸ線ＣＴ装置のＸ線検出器として用いれば１スキ
ャンで複数スライスの測定データが得られるので、スル
ープット(through put) の向上や複数スライスの測定デ
ータを用いて多様な画像再構成を行なう等の先進的なデ
ータ処理が期待できる。
【０００９】この種のＸ線検出器においては、従来のＸ
線検出器と同程度のｚ方向（幅）の寸法内に複数のアレ
イを形成することができる。その場合、アレイ１つ当た
りのスライス厚が薄くなるので、スカウトビュー撮影に
より高精細（高分解能）の透視像を得ることが期待され
る。しかし、スライス厚の減少に伴って測定データのＳ
／Ｎ(signal-to-noise ratio) が劣化するので画像の品
質が低下し高精細の特徴は減殺される。
線検出器と同程度のｚ方向（幅）の寸法内に複数のアレ
イを形成することができる。その場合、アレイ１つ当た
りのスライス厚が薄くなるので、スカウトビュー撮影に
より高精細（高分解能）の透視像を得ることが期待され
る。しかし、スライス厚の減少に伴って測定データのＳ
／Ｎ(signal-to-noise ratio) が劣化するので画像の品
質が低下し高精細の特徴は減殺される。
【００１０】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、高精細で品質の良い透視像
を撮影するＸ線撮影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置
を実現することである。
されたもので、その目的は、高精細で品質の良い透視像
を撮影するＸ線撮影方法および装置並びにＸ線ＣＴ装置
を実現することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】 〔１〕課題を解決するための第１の発明は、広がりに比
べて厚みの薄いＸ線ビームをその厚みの方向に被検体に
関して相対的に掃引し、透過Ｘ線に基づいて被検体の透
視像を形成するＸ線撮影方法において、Ｘ線検出素子の
アレイを前記Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接させ
たＸ線検出器によって前記透過Ｘ線を検出し、前記複数
のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した
信号に基づいて被検体の透視像を形成することを特徴と
するＸ線撮影方法である。
べて厚みの薄いＸ線ビームをその厚みの方向に被検体に
関して相対的に掃引し、透過Ｘ線に基づいて被検体の透
視像を形成するＸ線撮影方法において、Ｘ線検出素子の
アレイを前記Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接させ
たＸ線検出器によって前記透過Ｘ線を検出し、前記複数
のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算した
信号に基づいて被検体の透視像を形成することを特徴と
するＸ線撮影方法である。
【００１２】課題を解決するための第１の発明によれ
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線撮影方法を実現す
ることができる。
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線撮影方法を実現す
ることができる。
【００１３】また、重み付き加算の重み係数を調節する
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第１の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第１の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
【００１４】なお、課題を解決するための第１の発明に
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態としては下記のものがある。 （１）Ｘ線ビームを固定して被検体を移動させるもの （２）被検体を固定してＸ線ビームを移動させるもの （３）Ｘ線ビームと被検体を共に移動させるもの 〔２〕課題を解決するための第２の発明は、広がりに比
べて厚みの薄いＸ線ビームをその厚みの方向に被検体に
関して相対的に掃引し、透過Ｘ線に基づいて被検体の透
視像を形成するＸ線撮影装置において、前記Ｘ線ビーム
の厚みの方向にＸ線検出素子のアレイが複数個隣接して
透過Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段
における前記複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を
重み付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成
する画像形成手段とを具備することを特徴とするＸ線撮
影装置である。
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態としては下記のものがある。 （１）Ｘ線ビームを固定して被検体を移動させるもの （２）被検体を固定してＸ線ビームを移動させるもの （３）Ｘ線ビームと被検体を共に移動させるもの 〔２〕課題を解決するための第２の発明は、広がりに比
べて厚みの薄いＸ線ビームをその厚みの方向に被検体に
関して相対的に掃引し、透過Ｘ線に基づいて被検体の透
視像を形成するＸ線撮影装置において、前記Ｘ線ビーム
の厚みの方向にＸ線検出素子のアレイが複数個隣接して
透過Ｘ線を検出するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段
における前記複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を
重み付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成
する画像形成手段とを具備することを特徴とするＸ線撮
影装置である。
【００１５】課題を解決するための第２の発明によれ
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線撮影装置を実現す
ることができる。
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線撮影装置を実現す
ることができる。
【００１６】また、重み付き加算の重み係数を調節する
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第２の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第２の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
【００１７】なお、課題を解決するための第２の発明に
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態は前述の通りである。 〔３〕課題を解決するための第３の発明は、Ｘ線検出素
子のアレイを有するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段
に前記Ｘ線検出素子の配列方向に広がりを有しそれとは
垂直な方向に厚みを有するＸ線ビームを照射するＸ線照
射手段と、前記Ｘ線検出手段の検出信号に基づいて画像
再構成を行う画像再構成手段と、前記Ｘ線照射手段のＸ
線ビームをその厚みの方向に被検体に関して相対的に掃
引する掃引手段と、前記掃引手段によるＸ線ビームの掃
引時の前記Ｘ線検出手段の検出信号に基づいて被検体の
透視像を形成する画像形成手段とを有するＸ線ＣＴ装置
において、前記Ｘ線検出手段はＸ線検出素子のアレイを
前記Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接させて構成
し、前記画像形成手段は前記Ｘ線検出手段における前記
複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算
した信号に基づいて被検体の透視像を形成するように構
成したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態は前述の通りである。 〔３〕課題を解決するための第３の発明は、Ｘ線検出素
子のアレイを有するＸ線検出手段と、前記Ｘ線検出手段
に前記Ｘ線検出素子の配列方向に広がりを有しそれとは
垂直な方向に厚みを有するＸ線ビームを照射するＸ線照
射手段と、前記Ｘ線検出手段の検出信号に基づいて画像
再構成を行う画像再構成手段と、前記Ｘ線照射手段のＸ
線ビームをその厚みの方向に被検体に関して相対的に掃
引する掃引手段と、前記掃引手段によるＸ線ビームの掃
引時の前記Ｘ線検出手段の検出信号に基づいて被検体の
透視像を形成する画像形成手段とを有するＸ線ＣＴ装置
において、前記Ｘ線検出手段はＸ線検出素子のアレイを
前記Ｘ線ビームの厚みの方向に複数個隣接させて構成
し、前記画像形成手段は前記Ｘ線検出手段における前記
複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き加算
した信号に基づいて被検体の透視像を形成するように構
成したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【００１８】課題を解決するための第３の発明によれ
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を実現す
ることができる。
ば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み付き
加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成するよう
にしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の透視
像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて品質
の良い透視像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を実現す
ることができる。
【００１９】また、重み付き加算の重み係数を調節する
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第３の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
ことにより任意の精細度の透視像を得ることができる。
課題を解決するための第３の発明において、前記重み付
き加算のための重み係数を前記Ｘ線ビームの厚み方向の
強度分布に対応したボケ回復関数に基づいて定めること
がより高精細な透視像を得る点で好ましい。
【００２０】なお、課題を解決するための第３の発明に
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態は前述の通りである。
おいてＸ線ビームを被検体に関して相対的に掃引する形
態は前述の通りである。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図１にＸ線撮影装置のブロ
ック図を示す。本装置は本発明の実施の形態の一例であ
る。なお、本装置の構成によって本発明の装置に関する
実施の形態の一例が示される。また、本装置の動作によ
って本発明の方法に関する実施の形態の一例が示され
る。
施の形態を詳細に説明する。図１にＸ線撮影装置のブロ
ック図を示す。本装置は本発明の実施の形態の一例であ
る。なお、本装置の構成によって本発明の装置に関する
実施の形態の一例が示される。また、本装置の動作によ
って本発明の方法に関する実施の形態の一例が示され
る。
【００２２】図１において、Ｘ線照射器ＸＳから放射さ
れるＸ線がアパーチャＡＰを通して厚みｔのＸ線ビーム
ＢＭとして被検体ＯＢに照射される。Ｘ線照射器ＸＳは
本発明におけるＸ線照射手段の実施の形態の一例であ
る。Ｘ線照射器ＸＳは例えばＸ線管等をＸ線源とするも
のである。Ｘ線ビームＢＭは厚みの方向（ｚ方向）とは
垂直な方向（ｘ方向）に広がる例えば扇状のビームとな
っている。
れるＸ線がアパーチャＡＰを通して厚みｔのＸ線ビーム
ＢＭとして被検体ＯＢに照射される。Ｘ線照射器ＸＳは
本発明におけるＸ線照射手段の実施の形態の一例であ
る。Ｘ線照射器ＸＳは例えばＸ線管等をＸ線源とするも
のである。Ｘ線ビームＢＭは厚みの方向（ｚ方向）とは
垂直な方向（ｘ方向）に広がる例えば扇状のビームとな
っている。
【００２３】被検体ＯＢは支持板ＴＢ上に載置される。
支持板ＴＢはＸ線吸収量の極めて小さい物質例えばカー
ボンファイバー等によって構成される。支持板ＴＢはｚ
方向すなわち被検体ＯＢの体軸ＯＡの方向に移動可能な
ようになっている。
支持板ＴＢはＸ線吸収量の極めて小さい物質例えばカー
ボンファイバー等によって構成される。支持板ＴＢはｚ
方向すなわち被検体ＯＢの体軸ＯＡの方向に移動可能な
ようになっている。
【００２４】被検体ＯＢ（および支持板ＴＢ）を透過し
たＸ線はＸ線検出器ＤＴで測定される。Ｘ線検出器ＤＴ
は本発明におけるＸ線検出手段の実施の形態の一例であ
る。Ｘ線検出器ＤＴはｚ方向すなわちＸ線ビームＢＭの
厚みの方向に隣接して配置された４つのＸ線検出素子Ｄ
Ｔｅ１〜ＤＴｅ４を有する。
たＸ線はＸ線検出器ＤＴで測定される。Ｘ線検出器ＤＴ
は本発明におけるＸ線検出手段の実施の形態の一例であ
る。Ｘ線検出器ＤＴはｚ方向すなわちＸ線ビームＢＭの
厚みの方向に隣接して配置された４つのＸ線検出素子Ｄ
Ｔｅ１〜ＤＴｅ４を有する。
【００２５】４つのＸ線検出素子ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４は
Ｘ線ビームＢＭの広がりの方向（ｘ方向）に複数個配列
され、４系統の多チャンネルＸ線検出アレイを構成して
いる。
Ｘ線ビームＢＭの広がりの方向（ｘ方向）に複数個配列
され、４系統の多チャンネルＸ線検出アレイを構成して
いる。
【００２６】なお、アレイの数は４に限定されるもので
はなく、これ以上または以下の任意の複数として良い。
Ｘ線制御部ＸＣはＸ線照射器ＸＳを制御するものであ
る。これによってＸ線の強度、照射タイミング等が制御
される。支持板制御部ＴＣは支持板ＴＢを制御するもの
である。これによって支持板ＴＢのｚ方向の移動が制御
される。支持板制御部ＴＣと支持板ＴＢは本発明におけ
る掃引手段の実施の形態の一例である。なお、支持板Ｔ
Ｂを動かす代わりにＸ線照射・検出系を動かすようにし
ても良い。あるいは両方をそれぞれ動かすようにしても
良い。要するに掃引は相対的に行なわれれば良い。
はなく、これ以上または以下の任意の複数として良い。
Ｘ線制御部ＸＣはＸ線照射器ＸＳを制御するものであ
る。これによってＸ線の強度、照射タイミング等が制御
される。支持板制御部ＴＣは支持板ＴＢを制御するもの
である。これによって支持板ＴＢのｚ方向の移動が制御
される。支持板制御部ＴＣと支持板ＴＢは本発明におけ
る掃引手段の実施の形態の一例である。なお、支持板Ｔ
Ｂを動かす代わりにＸ線照射・検出系を動かすようにし
ても良い。あるいは両方をそれぞれ動かすようにしても
良い。要するに掃引は相対的に行なわれれば良い。
【００２７】データ収集部ＤＡＳはＸ線検出器ＤＴから
出力される４系統の多チャンネルＸ線検出信号を収集す
るものである。データ収集部ＤＡＳの１チャンネル分の
構成を図２に示す。図２に示すように、Ｘ線検出素子Ｄ
Ｔｅｋ（ｋ：１〜４）の出力信号が積分器ＩＮＴによっ
て積分され、積分器ＩＮＴの出力信号がマルチプレクサ
ＭＸを通じてＡ／Ｄ(analog-to-digital) 変換器ＡＤＣ
に与えられ、ディジタル信号に変換されてメモリＭＥＭ
に記憶される。
出力される４系統の多チャンネルＸ線検出信号を収集す
るものである。データ収集部ＤＡＳの１チャンネル分の
構成を図２に示す。図２に示すように、Ｘ線検出素子Ｄ
Ｔｅｋ（ｋ：１〜４）の出力信号が積分器ＩＮＴによっ
て積分され、積分器ＩＮＴの出力信号がマルチプレクサ
ＭＸを通じてＡ／Ｄ(analog-to-digital) 変換器ＡＤＣ
に与えられ、ディジタル信号に変換されてメモリＭＥＭ
に記憶される。
【００２８】マルチプレクサＭＸの入力側には他のチャ
ンネルの積分器が複数個接続されており、それらが順次
切り換えられてＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続される。制御
装置ＣＮＴは積分器ＩＮＴの動作を制御し、所定の周期
で積分とリセットを行なわせる。すなわち、例えば図３
に示すように、周期ＴｓのうちＴｉ時間で積分を行なわ
せＴｒ時間でリセットを行なわせる。
ンネルの積分器が複数個接続されており、それらが順次
切り換えられてＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続される。制御
装置ＣＮＴは積分器ＩＮＴの動作を制御し、所定の周期
で積分とリセットを行なわせる。すなわち、例えば図３
に示すように、周期ＴｓのうちＴｉ時間で積分を行なわ
せＴｒ時間でリセットを行なわせる。
【００２９】制御装置ＣＮＴはマルチプレクサＭＸを制
御し、積分器ＩＮＴがＴｉ時間の積分を完了したタイミ
ングでそれをＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続する。制御装置
ＣＮＴは、また、メモリＭＥＭの書込アドレスを制御し
てＡ／Ｄ変換器ＡＤＣの出力信号をＸ線検出素子ＤＴｅ
ｋのアレイ番号、チャンネル番号およびビュー番号に対
応したアドレスに記憶する。
御し、積分器ＩＮＴがＴｉ時間の積分を完了したタイミ
ングでそれをＡ／Ｄ変換器ＡＤＣに接続する。制御装置
ＣＮＴは、また、メモリＭＥＭの書込アドレスを制御し
てＡ／Ｄ変換器ＡＤＣの出力信号をＸ線検出素子ＤＴｅ
ｋのアレイ番号、チャンネル番号およびビュー番号に対
応したアドレスに記憶する。
【００３０】図１に戻って、コンピュータＣＯＭはＸ線
制御部ＸＣおよび支持板制御部ＴＣを管制し、所定のシ
ーケンスに基づく透視撮影を遂行するものである。コン
ピュータＣＯＭは、また、データ収集部ＤＡＳが収集し
た４系統の検出アレイの測定データに基づいて被検体Ｏ
Ｂの透視像を形成する。コンピュータＣＯＭは本発明に
おける画像形成手段の実施の形態の一例である。
制御部ＸＣおよび支持板制御部ＴＣを管制し、所定のシ
ーケンスに基づく透視撮影を遂行するものである。コン
ピュータＣＯＭは、また、データ収集部ＤＡＳが収集し
た４系統の検出アレイの測定データに基づいて被検体Ｏ
Ｂの透視像を形成する。コンピュータＣＯＭは本発明に
おける画像形成手段の実施の形態の一例である。
【００３１】透視像は画像出力部ＩＭを通じて出力され
る。画像出力部ＩＭは例えばＣＲＴ(cathod-ray tube)
等を用いた画像表示装置やフィルム等に画像を撮影する
写真撮影装置によって構成される。
る。画像出力部ＩＭは例えばＣＲＴ(cathod-ray tube)
等を用いた画像表示装置やフィルム等に画像を撮影する
写真撮影装置によって構成される。
【００３２】コンピュータＣＯＭには表示部ＤＩＳおよ
び操作部ＯＰが接続される。これらは操作者のためのマ
ンマシン・インタフェイス(man-machine interface) を
構成する。
び操作部ＯＰが接続される。これらは操作者のためのマ
ンマシン・インタフェイス(man-machine interface) を
構成する。
【００３３】次に、本装置の動作について説明する。図
４に本装置の動作のフロー図を示す。図４において、先
ずステージＳＴ１１で透視撮影のためのパラメータが設
定される。パラメータの設定は操作者により操作部ＯＰ
を通じて行なわれる。これによって、Ｘ線照射条件（管
電圧、管電流）、被検体ＯＢの撮影範囲、支持板ＴＢの
送り速度およびボケ回復用の重み係数等がコンピュータ
ＣＯＭに設定される。なお、ボケ回復用の重み係数につ
いては後に改めて説明する。
４に本装置の動作のフロー図を示す。図４において、先
ずステージＳＴ１１で透視撮影のためのパラメータが設
定される。パラメータの設定は操作者により操作部ＯＰ
を通じて行なわれる。これによって、Ｘ線照射条件（管
電圧、管電流）、被検体ＯＢの撮影範囲、支持板ＴＢの
送り速度およびボケ回復用の重み係数等がコンピュータ
ＣＯＭに設定される。なお、ボケ回復用の重み係数につ
いては後に改めて説明する。
【００３４】パラメータ設定後、操作者は操作部ＯＰを
通じて撮影開始を指令する。これにより、ステージＳＴ
１２において、被検体ＯＢを載せた支持板ＴＢの移送が
開始される。
通じて撮影開始を指令する。これにより、ステージＳＴ
１２において、被検体ＯＢを載せた支持板ＴＢの移送が
開始される。
【００３５】次に、ステージＳＴ１３において、被検体
ＯＢの撮影範囲の始端がＸ線照射域に入った時点でＸ線
照射が開始される。次に、ステージＳＴ１４において、
透過Ｘ線の測定データが収集される。このとき、支持板
ＴＢは定速で移送され、測定データは所定のビューレー
ト(view rate) で収集される。ビューレートは単位時間
当たりのビュー数で与えられる。データ収集は被検体Ｏ
Ｂの撮影範囲の終端がＸ線照射域を抜けるまで継続され
る。
ＯＢの撮影範囲の始端がＸ線照射域に入った時点でＸ線
照射が開始される。次に、ステージＳＴ１４において、
透過Ｘ線の測定データが収集される。このとき、支持板
ＴＢは定速で移送され、測定データは所定のビューレー
ト(view rate) で収集される。ビューレートは単位時間
当たりのビュー数で与えられる。データ収集は被検体Ｏ
Ｂの撮影範囲の終端がＸ線照射域を抜けるまで継続され
る。
【００３６】被検体ＯＢの撮影範囲の終端がＸ線照射域
を通過した時点でＸ線照射が停止され（ステージＳＴ１
５）、次いで、支持板ＴＢの移送が停止される（ステー
ジＳＴ１６）。
を通過した時点でＸ線照射が停止され（ステージＳＴ１
５）、次いで、支持板ＴＢの移送が停止される（ステー
ジＳＴ１６）。
【００３７】図５に、透視像形成のフロー図を示す。透
視像の形成はステージＳＴ１４で収集された測定データ
に基づいてコンピュータＣＯＭにより行なわれる。先
ず、ステージＳＴ２１において、測定データについての
感度補正が行なわれる。感度補正は次式によって行なわ
れる。
視像の形成はステージＳＴ１４で収集された測定データ
に基づいてコンピュータＣＯＭにより行なわれる。先
ず、ステージＳＴ２１において、測定データについての
感度補正が行なわれる。感度補正は次式によって行なわ
れる。
【００３８】
【数１】
【００３９】ここで、 ｄａｔａ：透過Ｘ線データ ｋ：アレイ番号 ｉ：チャンネル番号 ｊ：ビュー番号 ａｉｒ：予め被検体ＯＢが無い状態で測定したＸ線デー
タ （１）式は、被検体ＯＢが無い状態で測定したＸ線デー
タで透過Ｘ線データを除算することにより、個々のＸ線
検出素子ＤＴｅｋの感度のバラツキによる測定データの
誤差を補正することを示す。この感度補正はエアキャリ
ブレーション(air calibration) とも呼ばれる。
タ （１）式は、被検体ＯＢが無い状態で測定したＸ線デー
タで透過Ｘ線データを除算することにより、個々のＸ線
検出素子ＤＴｅｋの感度のバラツキによる測定データの
誤差を補正することを示す。この感度補正はエアキャリ
ブレーション(air calibration) とも呼ばれる。
【００４０】次に、ステージＳＴ２２において、−ｌｏ
ｇ化処理が行なわれる。この処理は次式によって行なわ
れる。
ｇ化処理が行なわれる。この処理は次式によって行なわ
れる。
【００４１】
【数２】
【００４２】（２）式によって透過Ｘ線の強度を表す測
定データがＸ線の減衰率を表すデータに変換される。透
視像はＸ線の減衰率を表すデータによって形成される。
以下これを投影データと呼ぶ。
定データがＸ線の減衰率を表すデータに変換される。透
視像はＸ線の減衰率を表すデータによって形成される。
以下これを投影データと呼ぶ。
【００４３】次に、ステージＳＴ２３において、ボケ回
復処理が行なわれる。ボケ回復処理の詳細は次の通りで
ある。アパーチャＡＰを通して厚みｔのＸ線ビームＢＭ
をＸ線検出器ＤＴに照射したとき、厚み方向におけるＸ
線の強度分布（プロファイル(profile) ）は一般に理想
とされる矩形のプロファイルとはならずに鈍ったものと
なる。
復処理が行なわれる。ボケ回復処理の詳細は次の通りで
ある。アパーチャＡＰを通して厚みｔのＸ線ビームＢＭ
をＸ線検出器ＤＴに照射したとき、厚み方向におけるＸ
線の強度分布（プロファイル(profile) ）は一般に理想
とされる矩形のプロファイルとはならずに鈍ったものと
なる。
【００４４】この様子を図６に示す。図６において、曲
線ＰＦでＸ線ビームＢＭのプロファイルを示す。Ｘ線ビ
ームＢＭがこのようなプロファイルＰＦを持つとき、そ
れによって得られる透視像にはボケが生じる。
線ＰＦでＸ線ビームＢＭのプロファイルを示す。Ｘ線ビ
ームＢＭがこのようなプロファイルＰＦを持つとき、そ
れによって得られる透視像にはボケが生じる。
【００４５】ところで、Ｘ線ＣＴ装置によって断層像を
再構成する際に、コンボリューション(convolution) に
よるボケ回復の手法が用いられる。この手法は、図７に
示すように、プロファイル（ボケ関数）ＰＦをボケ回復
関数（コンボリューションカーネル(kernel)）ＫＲとコ
ンボリューションするものである。ここで、コンボリュ
ーションカーネルＫＲをボケ関数ＰＦに合わせて適切に
定めることにより矩形プロファイルＰＲを回復すること
ができる。
再構成する際に、コンボリューション(convolution) に
よるボケ回復の手法が用いられる。この手法は、図７に
示すように、プロファイル（ボケ関数）ＰＦをボケ回復
関数（コンボリューションカーネル(kernel)）ＫＲとコ
ンボリューションするものである。ここで、コンボリュ
ーションカーネルＫＲをボケ関数ＰＦに合わせて適切に
定めることにより矩形プロファイルＰＲを回復すること
ができる。
【００４６】矩形プロファイルＰＲの幅および急峻度は
コンボリューションカーネルＫＲの選び方によって調節
することができる。すなわち、例えばコンボリューショ
ンカーネルをＫＲ’のようにすることによりコンボリュ
ーション後のプロファイルをＰＲ’のようにすることが
できる。これによって、ボケ回復の強度すなわち画像の
精細度を任意に調節することができる。
コンボリューションカーネルＫＲの選び方によって調節
することができる。すなわち、例えばコンボリューショ
ンカーネルをＫＲ’のようにすることによりコンボリュ
ーション後のプロファイルをＰＲ’のようにすることが
できる。これによって、ボケ回復の強度すなわち画像の
精細度を任意に調節することができる。
【００４７】ステージＳＴ２３におけるボケ回復処理も
この手法に則って行なわれる。ボケ回復処理は次式によ
って行なわれる。
この手法に則って行なわれる。ボケ回復処理は次式によ
って行なわれる。
【００４８】
【数３】
【００４９】ここで、 Ｗｋ：重み係数 （３）式は、各ビューの投影データを４つの投影データ
の重み付き加算によって合成することを示す。４つの投
影データは４系統の検出アレイの測定データからそれぞ
れ求められたものである。重み係数Ｗｋ（ｋ：１〜４）
はボケ回復関数ＫＲに基づいて与えられる。
の重み付き加算によって合成することを示す。４つの投
影データは４系統の検出アレイの測定データからそれぞ
れ求められたものである。重み係数Ｗｋ（ｋ：１〜４）
はボケ回復関数ＫＲに基づいて与えられる。
【００５０】その際、重み係数Ｗ１は、例えば図８に示
すように、Ｘ線検出素子ＤＴｅ１の位置に相当するｚ方
向の位置でのボケ回復関数ＫＲの値で与えられる。同様
に、重み係数Ｗ２〜Ｗ４はそれぞれＸ線検出素子ＤＴｅ
２〜ＤＴｅ４の位置に相当するｚ方向の位置でのボケ回
復関数ＫＲの値で与えられる。
すように、Ｘ線検出素子ＤＴｅ１の位置に相当するｚ方
向の位置でのボケ回復関数ＫＲの値で与えられる。同様
に、重み係数Ｗ２〜Ｗ４はそれぞれＸ線検出素子ＤＴｅ
２〜ＤＴｅ４の位置に相当するｚ方向の位置でのボケ回
復関数ＫＲの値で与えられる。
【００５１】これら重み係数が掛けられる投影データ
は、検出アレイの系統に応じて異なるビュー番号のもの
が用いられる。ビュー番号はΔの整数倍ずつ異ならせ
る。Δは次式で与えられる。
は、検出アレイの系統に応じて異なるビュー番号のもの
が用いられる。ビュー番号はΔの整数倍ずつ異ならせ
る。Δは次式で与えられる。
【００５２】
【数４】
【００５３】ここで、 ｔ：Ｘ線ビームの厚み ｖ：支持板移送速度 ｖｉｅｗ−ｒａｔｅ：単位時間当たりのビュー数（ビュ
ーレート） （４）式において、ｔ／４は検出アレイ１つ当たりのス
ライス厚を表す。それを支持板移送速度ｖで除したもの
は被検体ＯＢが距離ｔ／４だけ移動する時間となる。し
たがって、それにビューレートを乗じて得られるもの
は、被検体ＯＢが距離ｔ／４だけ移動する時間内に発生
するビュー数となる。これがΔである。
ーレート） （４）式において、ｔ／４は検出アレイ１つ当たりのス
ライス厚を表す。それを支持板移送速度ｖで除したもの
は被検体ＯＢが距離ｔ／４だけ移動する時間となる。し
たがって、それにビューレートを乗じて得られるもの
は、被検体ＯＢが距離ｔ／４だけ移動する時間内に発生
するビュー数となる。これがΔである。
【００５４】図６に示すように、４系統の検出アレイを
持つＸ線検出器ＤＴに厚みｔのＸ線ビームＢＭが入射す
るとき、Ｘ線検出素子ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４には四分割さ
れたＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ４がそれぞれ入射する。こ
れらＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ４の強度はそれぞれＸ線ビ
ームＢＭのプロファイルＰＦの対応部分の強度となる。
持つＸ線検出器ＤＴに厚みｔのＸ線ビームＢＭが入射す
るとき、Ｘ線検出素子ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４には四分割さ
れたＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ４がそれぞれ入射する。こ
れらＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ４の強度はそれぞれＸ線ビ
ームＢＭのプロファイルＰＦの対応部分の強度となる。
【００５５】被検体ＯＢはこのようなＸ線ビームｂｍ１
〜ｂｍ４の照射域をｚ方向に移送される。ここで、被検
体ＯＢにおける厚みがｔ／４の特定のスライスＳＬに着
目すると、このスライスＳＬはＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ
４の照射域を順番に通過し、その投影データがＸ線検出
素子ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４によってそれぞれ測定される。
その様子を図９に示す。
〜ｂｍ４の照射域をｚ方向に移送される。ここで、被検
体ＯＢにおける厚みがｔ／４の特定のスライスＳＬに着
目すると、このスライスＳＬはＸ線ビームｂｍ１〜ｂｍ
４の照射域を順番に通過し、その投影データがＸ線検出
素子ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４によってそれぞれ測定される。
その様子を図９に示す。
【００５６】すなわち、スライスＳＬの投影データは先
ずＸ線ビームｂｍ１とＸ線検出素子ＤＴｅ１で測定され
（図９（Ａ））、以下順次、Ｘ線ビームｂｍ２とＸ線検
出素子ＤＴｅ２（同図（Ｂ））、Ｘ線ビームｂｍ３とＸ
線検出素子ＤＴｅ３（同図（Ｃ））、Ｘ線ビームｂｍ４
とＸ線検出素子ＤＴｅ４（同図（Ｄ））でそれぞれ測定
される。
ずＸ線ビームｂｍ１とＸ線検出素子ＤＴｅ１で測定され
（図９（Ａ））、以下順次、Ｘ線ビームｂｍ２とＸ線検
出素子ＤＴｅ２（同図（Ｂ））、Ｘ線ビームｂｍ３とＸ
線検出素子ＤＴｅ３（同図（Ｃ））、Ｘ線ビームｂｍ４
とＸ線検出素子ＤＴｅ４（同図（Ｄ））でそれぞれ測定
される。
【００５７】これら各測定の間に被検体ＯＢはｔ／４ず
つ移動するから、各測定間のビュー数の差はΔとなる。
したがって、（３）式は同一のスライスＳＬに関し、Ｘ
線ビームｂｍ１とＸ線検出素子ＤＴｅ１、Ｘ線ビームｂ
ｍ２とＸ線検出素子ＤＴｅ２、Ｘ線ビームｂｍ３とＸ線
検出素子ＤＴｅ３、およびＸ線ビームｂｍ４とＸ線検出
素子ＤＴｅ４でそれぞれ測定した投影データをボケ回復
関数に基づく重みを付けて加算するものとなる。
つ移動するから、各測定間のビュー数の差はΔとなる。
したがって、（３）式は同一のスライスＳＬに関し、Ｘ
線ビームｂｍ１とＸ線検出素子ＤＴｅ１、Ｘ線ビームｂ
ｍ２とＸ線検出素子ＤＴｅ２、Ｘ線ビームｂｍ３とＸ線
検出素子ＤＴｅ３、およびＸ線ビームｂｍ４とＸ線検出
素子ＤＴｅ４でそれぞれ測定した投影データをボケ回復
関数に基づく重みを付けて加算するものとなる。
【００５８】これは、データ点数は少ないが、コンボリ
ューションに他ならない。したがって、（３）の演算に
よって投影データについてボケ回復処理がなされること
になる。なお、このとき、複数の検出アレイの投影デー
タの重み付き加算が行なわれるのでノイズが平均化さ
れ、Ｓ／Ｎの良い投影データを得ることができる。
ューションに他ならない。したがって、（３）の演算に
よって投影データについてボケ回復処理がなされること
になる。なお、このとき、複数の検出アレイの投影デー
タの重み付き加算が行なわれるのでノイズが平均化さ
れ、Ｓ／Ｎの良い投影データを得ることができる。
【００５９】次に、ステージＳＴ２４において、透視像
形成が行なわれる。透視像の形成はボケ回復処理された
投影データをチャンネル番号ｉおよびビュー番号ｊに応
じて２次元空間に配置することによって行なわれる。こ
のとき扇状Ｘ線ビームに由来する像の歪みの補正や投影
データの補間等、適宜の補正が加味される。
形成が行なわれる。透視像の形成はボケ回復処理された
投影データをチャンネル番号ｉおよびビュー番号ｊに応
じて２次元空間に配置することによって行なわれる。こ
のとき扇状Ｘ線ビームに由来する像の歪みの補正や投影
データの補間等、適宜の補正が加味される。
【００６０】次に、ステージＳＴ２５において、透視像
の表示が行なわれる。これによって、画像出力部ＩＭに
よる透視像の表示またはフィルム撮影等が行なわれる。
透視像は投影データのボケ回復処理により高精細（高分
解能）なものとなる。ボケ回復の強度は重み係数（ボケ
回復関数）によって調節することができ、それによって
任意の精細度（分解能）の透視像を得ることができる。
また、投影データのＳ／Ｎが良いので品質の良い透視像
を得ることができる。
の表示が行なわれる。これによって、画像出力部ＩＭに
よる透視像の表示またはフィルム撮影等が行なわれる。
透視像は投影データのボケ回復処理により高精細（高分
解能）なものとなる。ボケ回復の強度は重み係数（ボケ
回復関数）によって調節することができ、それによって
任意の精細度（分解能）の透視像を得ることができる。
また、投影データのＳ／Ｎが良いので品質の良い透視像
を得ることができる。
【００６１】上記のようなＸ線透視装置は、Ｘ線ＣＴ装
置に組み込むこともできる。図１０に、Ｘ線透視装置を
組み込んだＸ線ＣＴ装置のブロック図を示す。図１０に
おいて、Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器ＤＴが支持枠ＦＭ
によって支持され図１に示したものと同様なＸ線照射・
検出系を構成している。Ｘ線検出器ＤＴは複数の検出ア
レイを有するものである。Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器
ＤＴが取り付けられた支持枠ＦＭはＸ線ＣＴ装置のガン
トリを構成する。
置に組み込むこともできる。図１０に、Ｘ線透視装置を
組み込んだＸ線ＣＴ装置のブロック図を示す。図１０に
おいて、Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器ＤＴが支持枠ＦＭ
によって支持され図１に示したものと同様なＸ線照射・
検出系を構成している。Ｘ線検出器ＤＴは複数の検出ア
レイを有するものである。Ｘ線照射器ＸＳとＸ線検出器
ＤＴが取り付けられた支持枠ＦＭはＸ線ＣＴ装置のガン
トリを構成する。
【００６２】扇状のＸ線ビームＢＭの開き角の範囲内に
被検体ＯＢが配置される。被検体ＯＢは支持板ＴＢ上に
載置される。支持板ＴＢは上下方向に移動できるように
なっており、これによって被検体ＯＢの上下方向の位置
が調節できるようになっている。支持板ＴＢは、また、
紙面に垂直な方向（ｚ方向）に進退できるようになって
おり、それによって被検体ＯＢをＸ線照射領域に搬入お
よび搬出できるようになっている。
被検体ＯＢが配置される。被検体ＯＢは支持板ＴＢ上に
載置される。支持板ＴＢは上下方向に移動できるように
なっており、これによって被検体ＯＢの上下方向の位置
が調節できるようになっている。支持板ＴＢは、また、
紙面に垂直な方向（ｚ方向）に進退できるようになって
おり、それによって被検体ＯＢをＸ線照射領域に搬入お
よび搬出できるようになっている。
【００６３】Ｘ線制御部ＸＣ、支持板制御部ＴＣおよび
データ収集部ＤＡＳは図１に示したものと同様なもので
ある。ただし、支持板制御部ＴＣは支持板ＴＢの上下移
動をも制御する。回転制御部ＲＣは支持枠ＦＭの回転を
制御するものである。これによって支持枠ＦＭの回転速
度、起動および停止等が制御される。
データ収集部ＤＡＳは図１に示したものと同様なもので
ある。ただし、支持板制御部ＴＣは支持板ＴＢの上下移
動をも制御する。回転制御部ＲＣは支持枠ＦＭの回転を
制御するものである。これによって支持枠ＦＭの回転速
度、起動および停止等が制御される。
【００６４】コンピュータＣＯＭはＸ線制御部ＸＣ、回
転制御部ＲＣおよび支持板制御部ＴＣを管制して所定の
シーケンスに基づくスキャンを遂行し、データ収集部Ｄ
ＡＳが収集したデータに基づいて被検体ＯＢの断層像を
再構成する。コンピュータＣＯＭは本発明における画像
再構成手段の実施の形態の一例である。
転制御部ＲＣおよび支持板制御部ＴＣを管制して所定の
シーケンスに基づくスキャンを遂行し、データ収集部Ｄ
ＡＳが収集したデータに基づいて被検体ＯＢの断層像を
再構成する。コンピュータＣＯＭは本発明における画像
再構成手段の実施の形態の一例である。
【００６５】再構成画像は画像出力部ＩＭを通じて出力
される。画像出力部ＩＭは図１に示したものと同様なも
のである。コンピュータＣＯＭには図１と同様な表示部
ＤＩＳと操作部ＯＰと接続され、操作者からの各種の指
令等をコンピュータＣＯＭに与えることができるように
なっている。
される。画像出力部ＩＭは図１に示したものと同様なも
のである。コンピュータＣＯＭには図１と同様な表示部
ＤＩＳと操作部ＯＰと接続され、操作者からの各種の指
令等をコンピュータＣＯＭに与えることができるように
なっている。
【００６６】コンピュータＣＯＭは、また、Ｘ線制御部
ＸＣおよび支持板制御部ＴＣを管制し、前述と同様な動
作により被検体ＯＢの透視像を撮影（スカウトビュー撮
影）するようになっている。
ＸＣおよび支持板制御部ＴＣを管制し、前述と同様な動
作により被検体ＯＢの透視像を撮影（スカウトビュー撮
影）するようになっている。
【００６７】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、課題を解決
するための第１の発明によれば、複数のＸ線検出素子の
アレイの検出信号を重み付き加算した信号に基づいて被
検体の透視像を形成するようにしたので、Ｘ線ビームの
ボケを回復して高精細の透視像を得ることができるとと
もにＳ／Ｎを向上させて品質の良い透視像を得ることが
できるＸ線撮影方法を実現することができる。また、重
み付き加算の重み係数を調節することにより任意の精細
度の透視像を得ることができる。
するための第１の発明によれば、複数のＸ線検出素子の
アレイの検出信号を重み付き加算した信号に基づいて被
検体の透視像を形成するようにしたので、Ｘ線ビームの
ボケを回復して高精細の透視像を得ることができるとと
もにＳ／Ｎを向上させて品質の良い透視像を得ることが
できるＸ線撮影方法を実現することができる。また、重
み付き加算の重み係数を調節することにより任意の精細
度の透視像を得ることができる。
【００６８】また、課題を解決するための第２の発明に
よれば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み
付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成する
ようにしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の
透視像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて
品質の良い透視像を得ることができるＸ線撮影装置を実
現することができる。また、重み付き加算の重み係数を
調節することにより任意の精細度の透視像を得ることが
できる。
よれば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み
付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成する
ようにしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の
透視像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて
品質の良い透視像を得ることができるＸ線撮影装置を実
現することができる。また、重み付き加算の重み係数を
調節することにより任意の精細度の透視像を得ることが
できる。
【００６９】また、課題を解決するための第３の発明に
よれば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み
付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成する
ようにしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の
透視像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて
品質の良い透視像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を実
現することができる。また、重み付き加算の重み係数を
調節することにより任意の精細度の透視像を得ることが
できる。
よれば、複数のＸ線検出素子のアレイの検出信号を重み
付き加算した信号に基づいて被検体の透視像を形成する
ようにしたので、Ｘ線ビームのボケを回復して高精細の
透視像を得ることができるとともにＳ／Ｎを向上させて
品質の良い透視像を得ることができるＸ線ＣＴ装置を実
現することができる。また、重み付き加算の重み係数を
調節することにより任意の精細度の透視像を得ることが
できる。
【図１】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
である。
【図２】本発明の実施の形態の一例の装置におけるデー
タ収集部のブロック図である。
タ収集部のブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態の一例の装置におけるデー
タ収集部の動作のタイムチャートである。
タ収集部の動作のタイムチャートである。
【図４】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロ
ー図である。
ー図である。
【図５】本発明の実施の形態の一例の装置の動作のフロ
ー図である。
ー図である。
【図６】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ線
検出器におけるＸ線の入射状態を示す図である。
検出器におけるＸ線の入射状態を示す図である。
【図７】ボケ回復の原理を説明する図である。
【図８】ボケ回復処理のための重み係数を示す図であ
る。
る。
【図９】本発明の実施の形態の一例の装置におけるＸ線
ビームの掃引を説明する図である。
ビームの掃引を説明する図である。
【図１０】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック
図である。
図である。
【図１１】従来のＸ線照射・検出系の模式図である。
ＸＳ Ｘ線照射器 ＡＰ アパーチャ ＢＭ Ｘ線ビーム ＯＢ 被検体 ＴＢ 支持板 ＤＴ Ｘ線検出器 ＤＴｅ１〜ＤＴｅ４，ＤＴｅｋ Ｘ線検出素子 ＸＣ Ｘ線制御部 ＴＣ 支持板制御部 ＤＡＳ データ収集部 ＣＯＭ コンピュータ ＩＭ 画像出力部 ＤＩＳ 表示部 ＯＰ 操作部 ＩＮＴ 積分器 ＭＸ マルチプレクサ ＡＤＣ アナログ・ディジタル変換器 ＭＥＭ メモリ ＣＮＴ 制御装置 ＦＭ 支持枠 ＲＣ 回転制御部
Claims (3)
- 【請求項１】 広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビームを
その厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過
Ｘ線に基づいて被検体の透視像を形成するＸ線撮影方法
において、Ｘ線検出素子のアレイを前記Ｘ線ビームの厚
みの方向に複数個隣接させたＸ線検出器によって前記透
過Ｘ線を検出し、前記複数のＸ線検出素子のアレイの検
出信号を重み付き加算した信号に基づいて被検体の透視
像を形成することを特徴とするＸ線撮影方法。 - 【請求項２】 広がりに比べて厚みの薄いＸ線ビームを
その厚みの方向に被検体に関して相対的に掃引し、透過
Ｘ線に基づいて被検体の透視像を形成するＸ線撮影装置
において、前記Ｘ線ビームの厚みの方向にＸ線検出素子
のアレイが複数個隣接して透過Ｘ線を検出するＸ線検出
手段と、前記Ｘ線検出手段における前記複数のＸ線検出
素子のアレイの検出信号を重み付き加算した信号に基づ
いて被検体の透視像を形成する画像形成手段とを具備す
ることを特徴とするＸ線撮影装置。 - 【請求項３】 Ｘ線検出素子のアレイを有するＸ線検出
手段と、前記Ｘ線検出手段に前記Ｘ線検出素子の配列方
向に広がりを有しそれとは垂直な方向に厚みを有するＸ
線ビームを照射するＸ線照射手段と、前記Ｘ線検出手段
の検出信号に基づいて画像再構成を行う画像再構成手段
と、前記Ｘ線照射手段のＸ線ビームをその厚みの方向に
被検体に関して相対的に掃引する掃引手段と、前記掃引
手段によるＸ線ビームの掃引時の前記Ｘ線検出手段の検
出信号に基づいて被検体の透視像を形成する画像形成手
段とを有するＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線検出手段
はＸ線検出素子のアレイを前記Ｘ線ビームの厚みの方向
に複数個隣接させて構成し、前記画像形成手段は前記Ｘ
線検出手段における前記複数のＸ線検出素子のアレイの
検出信号を重み付き加算した信号に基づいて被検体の透
視像を形成するように構成したことを特徴とするＸ線Ｃ
Ｔ装置。
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-
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