JPH11253432A

JPH11253432A - Ｘ線ｃｔ装置

Info

Publication number: JPH11253432A
Application number: JP10063598A
Authority: JP
Inventors: Katsuyuki Taguchi; 克行田口
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1998-03-13
Filing date: 1998-03-13
Publication date: 1999-09-21
Anticipated expiration: 2018-03-13
Also published as: JP4194128B2

Abstract

(57)【要約】【課題】パーシャルリングを解消し、且つスライスプ
ロファイルの劣化を防止することのできるＸ線ＣＴ装置
を提供する。【解決手段】検出器２３は、多チャンネルの検出素子
を有し且つ各チャンネル毎に被検体のスライス方向に複
数の検出素子列が配列され、被検体を透過した透過Ｘ線
を検出し、データ収集部２７は、検出器２３で検出され
た検出出力に基づく被検体の複数スライスの投影データ
を収集し、クロストーク補正部３１は、収集された複数
スライスの投影データに対してスライス方向の複数の検
出素子列の各検出素子間における検出出力の流出入によ
るクロストークを補正し、画像再構成部４５は、補正さ
れた複数スライスの投影データに基づき被検体の複数ス
ライスの画像を再構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に係
り、特に、２次元状に配列された検出器を有し、被検体
の複数スライスの画像を再構成するＸ線ＣＴ装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】（１）シングルスライスＣＴ近年、Ｘ線ＣＴ装置は、図１３（ａ）に示すように、扇
状のＸ線ビーム（ファンビーム）を発生するＸ線焦点１
０１と、ファン状あるいは直線状に多数のチャンネル、
例えば１０００チャンネルの検出素子を１列に並べた検
出器１０３とを有するシングルスライスＣＴが主流であ
る。

【０００３】このＸ線焦点１０１と検出器１０３とを被
検体の周囲に回転させ、被検体を通過したＸ線強度のデ
ータ（投影データと称する）を収集する。１回転で例え
ば１０００回投影データを収集し、このデータに基づい
て画像再構成する。

【０００４】（２）マルチスライスＣＴ一方、高精細に広範囲を高速に撮影したいという要求か
ら、図１３（ｂ）に示すように、検出器が１列ではな
く、被検体の体軸方向にも複数列、例えば、２列、４
列、あるいは１００列配列された２次元検出器アレイ１
０５を有するマルチスライスＣＴも提案されている。

【０００５】この２次元検出器アレイ１０５を用いて、
１スキャン動作で複数スライス分の投影データをデータ
収集し、複数の断層画像（ボリュームデータ）を得るこ
とができる。

【０００６】（３）検出器（検出素子）の構成また、データ収集系は、検出器（以下、検出素子と称す
る。）とデータ収集装置（ＤＡＳ）で構成されており、
図１４に示すように、各検出素子１１０は、Ｘ線を光に
変換するシンチレータ１１１と、このシンチレータ１１
１で得られた光を電荷に変換するフォトダイオード１１
３とで構成される。そして、ＤＡＳ１１５は、フォトダ
イオード１１３で得られた電荷を蓄積し、Ａ／Ｄ変換に
よりディジタルデータに変換する。

【０００７】また、シングルスライスＣＴにおいては、
チャンネル方向に素子間でＸ線、または光、または、電
荷の流出入によるクロストークが発生する。このクロス
トークの割合を示すためのクロストーク率は、素子のア
ライメントなど、さまざまな変動要因の影響で素子毎に
ばらつく。しかし、Ｘ線焦点の移動時にコリメータの陰
の影響を除去するため、不感領域があるので、変動要因
の影響が弱められる。このため、実際にはチャンネル方
向のクロストーク率のバラツキは小さい。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、マルチ
スライスＣＴにおいては、スライス方向（体軸方向、列
方向）にも素子間でクロストークが発生する。例えば、
図１５に示すように、ｎチャンネルの検出素子がスライ
ス方向に６列配列された２次元検出器アレイにおいて、
例えば、１列の検出素子から２列の検出素子に矢印で示
すようにクロストークが発生する。同様に、他の列の検
出素子もスライス方向においてクロストークが発生す
る。このため、スライスプロファイルが劣化してしま
う。

【０００９】また、マルチスライスＣＴでは、スライス
方向に対しては、不感領域が小さいので、変動要因の影
響が強く出て、スライス方向の素子間のクロストーク率
のバラツキが大きい。例えば、１列目のｊチャンネルか
ら２列目のｊチャンネルへのクロストーク率が１０％と
なり、１列目の（ｊ＋１）チャンネルから２列目の（ｊ
＋１）チャンネルへのクロストーク率が０％となること
がある。すなわち、クロストーク率がチャンネルによっ
て異なるので、パーシャルボリューム効果によるリング
が発生する。

【００１０】本発明は、パーシャルリングを解消し、且
つスライスプロファイルの劣化を防止することのできる
Ｘ線ＣＴ装置を提供することを課題とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は前記課題を解決
するために以下の構成とした。本発明は、被検体に向け
て多方向からＸ線を曝射するＸ線源と、多チャンネルの
検出素子を有し且つ各チャンネル毎に被検体のスライス
方向に複数の検出素子列が配列され、被検体を透過した
透過Ｘ線を検出する検出手段と、この検出手段で検出さ
れた検出出力に基づく被検体の複数スライスの投影デー
タを収集する収集手段と、この収集手段で収集された複
数スライスの投影データに基づき被検体の複数スライス
の画像を再構成する再構成手段とを備えたＸ線ＣＴ装置
において、前記収集手段で収集された複数スライスの投
影データに対して前記スライス方向の前記複数の検出素
子列の各検出素子間における検出出力の流出入によるク
ロストークを補正する補正手段を備えることを特徴とす
る。

【００１２】この発明によれば、補正手段が収集手段で
収集された複数スライスの投影データに対してスライス
方向の複数の検出素子列の各検出素子間における検出出
力の流出入によるクロストークを補正するので、パーシ
ャルリングを解消することができるとともに、スライス
プロファイルの劣化を防止することができる。

【００１３】また、前記補正手段は、前記Ｘ線源がスラ
イス方向に対して細く絞ったＸ線を前記複数の検出素子
列の各列に順番に照射していくときに前記収集手段で収
集されたデータに基づきスライス方向のクロストークプ
ロファイルを測定する測定手段と、この測定手段で測定
されたクロストークプロファイルに基づきクロストーク
行列を算出する算出手段と、この算出手段で算出された
クロストーク行列を用いて前記収集手段で収集された実
際の複数スライスの投影データに対して前記クロストー
クを補正する補正実行手段とを備えることを特徴とす
る。

【００１４】この発明によれば、測定手段は、Ｘ線源が
スライス方向に対して細く絞ったＸ線を複数の検出素子
列の各列に順番に照射していくときに収集手段で収集さ
れたデータに基づきスライス方向のクロストークプロフ
ァイルを測定し、算出手段は、測定手段で測定されたク
ロストークプロファイルに基づきクロストーク行列を算
出し、補正実行手段は、算出手段で算出されたクロスト
ーク行列を用いて収集手段で収集された実際の複数スラ
イスの投影データに対してクロストークを補正する。

【００１５】

【発明の実施の形態】以下、本発明のＸ線ＣＴ装置の実
施の形態を図面を参照して詳細に説明する。

【００１６】＜第１の実施の形態＞図１は、本発明の第
１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の概略構成を示すシステ
ム構成図である。図１において、第１の実施の形態のＸ
線ＣＴ装置１０は、システム制御部１１、操作部１２、
架台・寝台制御部１３、寝台移動部１５、Ｘ線制御装置
１７、高電圧発生装置１９、Ｘ線ビーム発生源２１、検
出器２３、回転架台２５、データ収集部２７、収集デー
タ記憶装置２９、クロストーク補正部３１、画像再構成
部４５、表示部４７を有している。

【００１７】このＸ線ＣＴ装置１０は、Ｘ線ビーム発生
源２１を被検体の回りに回転させながらＸ線ビームを曝
射させるとともに、被検体を体軸方向に移動させて、被
検体を螺旋状にスキャンする（ヘリカルスキャン）もの
である。

【００１８】システム制御部１１は、図示しない入力装
置を用いて入力されたスライス厚、回転速度等のヘリカ
ルスキャン条件の内、回転速度とスライス厚とファン角
等を架台・寝台制御信号として架台・寝台制御部１３に
対して出力する。システム制御部１１は、Ｘ線ビーム発
生を制御するＸ線ビーム発生制御信号をＸ線制御装置１
７に対して出力する。

【００１９】システム制御部１１は、Ｘ線ビームの検出
のタイミングを示す検出制御信号をデータ収集部２７に
対して出力する。システム制御部１１は、データ収集の
ためのデータ収集制御信号をデータ収集部２７に対して
出力する。さらに、システム制御部１１は、検出器２３
のスライス方向のクロストークを補正するためのタイミ
ングを示す補正制御信号をクロストーク補正部３１に対
して出力する。操作部１２は、各種のデータを入力す
る。

【００２０】架台・寝台制御部１３は、システム制御部
１１により出力された架台、寝台制御信号に基づき回転
架台２５を回転させると共に、寝台移動信号を寝台移動
部１５に対して出力する。

【００２１】寝台移動部１５は、架台・寝台制御部１３
により出力された寝台移動信号に基づき、回転架台２５
の１回転当たりの寝台１５ａの移動量を求め、この移動
量で寝台１５ａを移動させる。この寝台１５ａはスライ
ス方向に移動するようになっている。

【００２２】Ｘ線制御装置１７は、システム制御部１１
により出力されたＸ線ビーム発生制御信号に基づき、高
電圧発生装置１９による高電圧発生のタイミングを制御
する。高電圧発生装置１９は、Ｘ線ビームを曝射させる
ための高電圧をＸ線制御部１７からの制御信号に従って
Ｘ線ビーム発生源２１に供給する。

【００２３】Ｘ線ビーム発生源２１は、高電圧発生装置
１９から供給された高電圧によってスライス方向に厚み
を持った扇状のＸ線ビームを被検体に向けて多方向から
曝射する。検出器２３は、Ｘ線ビーム発生源２１から曝
射され、被検体を透過したＸ線ビームを検出する。

【００２４】検出器２３は、図１３（ｂ）に示すよう
に、多チャンネルの検出素子を有し且つスライス方向に
複数配列された２次元検出器アレイからなる。また、各
列については、従来のシングルスライスＣＴ用検出器と
同様に１，０００チャンネル程度の検出器がＸ線ビーム
発生源２１の焦点を中心として円弧状に配置される。

【００２５】回転架台２５は、Ｘ線ビーム発生源２１と
検出器２３とを保持する。また、回転架台２５は、図示
しない架台回転機構により、Ｘ線ビーム発生源２１と検
出器２３との中間点を通る回転軸を中心にして回転され
る。

【００２６】これにより、Ｘ線ビーム発生源２１と検出
器２３との対向配置を保ちながら、Ｘ線ビーム発生源２
１及び検出器２３が被検体の周囲を回転するので、被検
体の複数スライス分の画像の再構成に要する被検体に関
する多方向の投影データを収集できる。

【００２７】このタイプのＣＴは、いわゆる第３世代
（Ｒ／Ｒ方式）と称される。なお、回転架台２５として
は、このタイプに限定されず、３６０°にわたって検出
器が被検体の周囲に配列され、Ｘ線ビーム発生源２１の
みが回転するいわゆる第４世代（Ｒ／Ｓ方式）であって
もよい。また、検出器に加えてＸ線ビーム発生源２１も
３６０°にわたって被検体の周囲に配置されるいわゆる
第５世代（Ｓ／Ｓ方式）であってもよい。

【００２８】データ収集部２７は、システム制御部１１
により出力されたデータ収集制御信号に基づき、検出器
２３の各検出器からの出力電流を増幅した後、デジタル
データに変換することによりＸ線パス毎のＸ線透過率に
反映した投影データを収集し出力する。収集データ記憶
装置２９は、データ収集部２７によって収集された複数
スライス分の投影データを記憶する。

【００２９】クロストーク補正部３１は、収集データ記
憶装置２９に記憶された複数スライス分の投影データに
よる２次元データ基づき、検出器２３のスライス方向
（列方向）のクロストークに対してクロストーク補正処
理を施す。なお、チャンネル方向のクロストークはリン
グにならないので無視する。

【００３０】画像再構成部４５は、クロストーク補正部
３１で補正された複数スライス分の投影データに基づい
て被検体の複数の断層画像（複数スライス像）を再構成
する。表示部４７は、画像再構成部４５により再構成さ
れた被検体の複数の断層画像を図示しないモニタ上に表
示する。

【００３１】次に、クロストーク補正部３１の詳細な構
成を説明する。第１の実施の形態のクロストーク補正部
３１は、６×６行列とこの行列の逆行列とによりスライ
ス方向のクロストークを補正することを特徴とする。ク
ロストーク補正部３１は、プロファイル測定部３５、補
正行列算出部３７、補正実行部３９を有する。

【００３２】プロファイル測定部３５は、同一チャンネ
ルにおいて、複数列の検出器２３のｍ列の検出素子のデ
ータがｍ列以外の検出素子に入射することにより発生す
るクロストーク量／クロストークの割合を測定する。

【００３３】プロファイル測定部３５は、被検体を寝台
１５ａに乗せていない状態で、Ｘ線ビーム発生源２１が
検出器２３のスライス方向に対して細く絞ったＸ線ビー
ムを各列に順番に照射していくときにデータ収集部２７
で収集されたデータを収集データ記憶装置２９を介して
入力し、収集されたデータに基づきスライス方向のクロ
ストークプロファイルを測定する。

【００３４】補正行列算出部３７は、プロファイル測定
部３５で測定されたクロストークプロファイルに基づき
６×６行列をクロストーク行列として算出し、算出され
たクロストーク行列の逆行列をクロストーク補正行列と
して算出する。

【００３５】補正実行部３９は、検出器２３のスライス
方向に対して６列に対応するＸ線ビームを照射したとき
にデータ収集部２７で収集された６列の実際のデータを
収集データ記憶装置２９を介して入力し、補正行列算出
部３７で算出されたクロストーク補正行列を用いて６列
の実際のデータに対してクロストーク補正を施し、真の
データを求める。すなわち、逆行列を作成して、検出素
子のフォトダイオード出力から真の入射量を推定する。

【００３６】次に、このように構成された第１の実施の
形態のＸ線ＣＴ装置の動作を図面を参照して説明する。
図２は、検出器のスライス方向に対して細く絞ったＸ線
ビームを各列毎に順番に照射していく様子を示す図であ
る。図３は、スライス方向のクロストークプロファイル
を示す図である。図４は、第１の実施の形態のクロスト
ーク補正処理を示すフローチャートである。

【００３７】まず、検出器２３のスライス方向のクロス
トーク補正に先立って、事前処理としてクロストーク補
正行列の算出を説明する。最初に、Ｘ線ビーム発生源２
１は、細く絞ったＸ線ビームを発生し、被検体を寝台１
５ａに乗せていない状態で、検出器２３のスライス方向
に対して細く絞ったＸ線ビームを各列毎に順番に照射し
ていく（ステップＳ１１）。

【００３８】図２に示すように、検出素子がチャンネル
方向にｎチャンネルあり、且つスライス方向に６列配列
されている２次元検出器２３に対して、細く絞ったＸ線
ビーム（図２では、Ｘ線ビームが照射されたＸ線照射領
域を斜線部分で示した。）を第１列から第６列まで順番
に照射していく。

【００３９】そして、データ収集部２７は、そのときの
クロストークデータを収集して収集データ記憶装置２９
を介してプロファイル測定部３５に出力する。プロファ
イル測定部３５は、検出器２３のスライス方向に対して
細く絞ったＸ線ビームを各列毎に順番に照射していった
ときに、データ収集部２７で収集されたクロストークデ
ータに基づくスライス方向のクロストークプロファイル
を測定する（ステップＳ１３）。

【００４０】図３に示すクロストークプロファイルで
は、縦軸が検出器２３の第１列から第６列までの各列に
おけるＸ線照射位置を示し、横軸が出力を示している。
例えば、図２に示すように検出器２３の第２列に細く絞
ったＸ線ビーム（斜線部分）が照射された場合には、第
２列の検出素子から出力Ｄ₂₂が得られるとともに、第１
列の検出素子から出力Ｄ₂₁が得られ、且つ第３列の検出
素子から出力Ｄ₂₃が得られる。

【００４１】この場合、第１列の検出素子からの出力Ｄ
₂₁、及び第３列の検出素子からの出力Ｄ₂₃は、第２列か
らのクロストーク量であり、このクロストーク量が測定
される。

【００４２】また、第２列と同様に他の列においても、
他の列の検出素子の出力が他の列以外の検出素子に入射
することにより発生するクロストーク量／クロストーク
の割合が測定される。

【００４３】次に、補正行列算出部３７は、プロファイ
ル測定部３５で測定されたクロストークプロファイルに
基づき６×６行列をクロストーク行列として算出する
（ステップＳ１５）。

【００４４】ここで、クロストークが無い場合の出力を
表す行列を行列［ａ］とし、クロストークが有る場合の
実際の出力を表す行列を行列［ｂ］とすると、以下に示
す式（１）が成立する。

【００４５】

【数１】なお、式（１）における行列［ＸＴ］をクロストーク行
列と呼ぶ。クロストーク行列［ＸＴ］は次のようにして
求める。例えば、２列目の検出素子にＸ線ビームが照射
された場合には、真の出力ａ₂を“１”とし、ａ₁，ａ₃
〜ａ₆を“０”とする。この場合、第２列の出力Ｄ₂₂、
第２列から第１列への出力Ｄ₂₁、第２列から第３列への
出力Ｄ₂₃に基づき、例えば、ＸＴ₂₁が“０．１”とな
り、ＸＴ₂₂が“０．８”となり、ＸＴ₂₃が“０．１”と
なる。なお、ＸＴ₂₄からＸＴ₂₆までのそれぞれの値は、
“０”となる。

【００４６】すなわち、ＸＴ₂₁，ＸＴ₂₂，ＸＴ₂₃，ＸＴ
₂₄，ＸＴ₂₅，ＸＴ₂₆のそれぞれの値は、２列目の検出素
子にＸ線ビームが照射された場合における各列の出力値
を表す係数であり、ＸＴ₂₁，ＸＴ₂₂，ＸＴ₂₃，ＸＴ₂₄，
ＸＴ₂₅，ＸＴ₂₆の係数の総和は、例えば、“１”に正規
化することができる。

【００４７】なお、第２列以外の他の列のＸＴの値も、
前述した第２列におけるＸＴの算出方法と同様な算出方
法で求めることができる。

【００４８】次に、補正行列算出部３７は、算出された
クロストーク行列の逆行列をクロストーク補正行列とし
て算出する（ステップＳ１７）。ここで、クロストーク
行列の逆行列［ＸＴＣ］をクロストーク補正行列として
求めると、以下の式（２）が成立する。

【００４９】

【数２】ここで、逆行列［ＸＴＣ］は、クロストーク補正行列で
ある。以上の処理により、予めクロストーク補正行列を
求めておく。なお、このクロストーク補正行列は、Ｘ線
ＣＴ装置が設置されたときに、一度算出しておけばよ
い。あるいは他の方法で算出したクロストーク補正行列
の係数を外部から与えても良い。

【００５０】次に、実際にスキャンして６列の検出器２
３からデータを収集する（ステップＳ１９）。この場合
には、Ｘ線ビーム発生源２１と検出器２３とが、被検体
の周囲を回転すると、データ収集部２７は、被検体の投
影データを６列の検出器２３から収集し、収集された被
検体の６列（６スライス分）の実際のデータは、収集デ
ータ記憶装置２９を介してクロストーク補正部３１内の
補正実行部３９に入力される。

【００５１】次に、補正実行部３９は、データ収集部２
７で収集された６列の実際のデータを入力し、補正行列
算出部３７で算出されたクロストーク補正行列を用いて
６列の実際のデータに対してクロストーク補正を施し、
真のデータを求める（ステップＳ２１）。

【００５２】ここでは、６列の実際のデータを式（２）
の行列［ｂ］に代入する。そして、クロストークが有る
場合における実際の出力（データ）ｂからクロストーク
が無い場合における真の出力ａが求められる。

【００５３】従って、検出器２３のスライス方向のクロ
ストークを補正することができるので、パーシャルリン
グを解消することができ、且つスライスプロファイルの
劣化を防止することができる。

【００５４】なお、クロストーク補正処理はチャンネル
毎に独立に行う。すなわち、検出器２３がｎチャンネル
×６列検出器からなる場合には、ｎチャンネル個のクロ
ストーク補正行列［ＸＴＣ］を算出して、チャンネル毎
に別々のクロストーク補正行列を用いてクロストークを
補正すればよい。

【００５５】また、６列の検出器２３の内の内側の２列
目から５列目の４列の検出器のデータを画像の再構成に
用いて、外側の１列目及び６列目の１列ずつの検出器の
データは、クロストーク補正のみに用いるデータであ
り、画像の再構成には使用しない。

【００５６】さらに、クロストーク補正行列は、クロス
トーク行列の近似的逆行列であっても良い。また、クロ
ストークを完全に除去しないようにクロストーク行列
［ＸＴ］の代わりに、以下の式（３）を用いてクロスト
ーク行列［ＸＴ′］を求め、そのクロストーク行列［Ｘ
Ｔ′］の逆行列を用いても良い。

【００５７】

【数３】［ｂ］＝［ＸＴ］×［ａ］≒［ＸＴ′］×［ａ］ ∴［ａ］≒［ＸＴ′］^-1×［ｂ］ …（３）ここで、［ＸＴ′］は、次式で表される。

【００５８】［ＸＴ′］＝［Ｗｔ］×［ＸＴ］なお、［Ｗｔ］は重み行列である。

【００５９】＜第２の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第２の実施の形態を説明する。図５は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第２の実施の形態の概略構成を示す
システム構成図である。第２の実施の形態のＸ線ＣＴ装
置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対してクロス
トーク補正部３１ｂの構成が異なるのみでその他の構成
は同一構成であるので、同一部分には同一符号を付す
る。第２の実施の形態は、６×６行列と４列の検出器の
収集データとを用いてスライス方向のクロストークを補
正することを特徴とする。

【００６０】クロストーク補正部３１ｂは、プロファイ
ル測定部３５、補正行列算出部３７、補正実行部３９ｂ
を有する。補正実行部３９ｂは、未測定推定部４１ｂを
有する。プロファイル測定部３５、及び補正行列算出部
３７の処理は、第１の実施の形態のそれらと同一処理で
あるので、その説明を省略する。

【００６１】未測定推定部４１ｂは、実際のスキャンで
６列の検出器２３の内の内側の４列の検出器しかデータ
を収集しない場合に、収集された４列のデータと、補正
行列算出部３７で算出されたクロストーク行列とに基づ
き、測定されていない未測定データを測定された４つの
データから推定する。

【００６２】補正実行部３９ｂは、補正行列算出部３７
で算出されたクロストーク補正行列を用いて、収集され
た４列のデータと未測定推定部４１ｂで推定されたデー
タとからなる６列のデータに対してクロストーク補正を
施し真のデータを求める。

【００６３】このように構成された第２の実施の形態の
Ｘ線ＣＴ装置によれば、予め事前処理としてプロファイ
ル測定部３５が６列の検出器２３のクロストークプロフ
ァイルを測定し、補正行列算出部３７が６列の検出器２
３のクロストークプロファイルに基づき、６×６行列の
クロストーク行列とこのクロストーク行列の逆行列であ
るクロストーク補正行列を算出しておく。

【００６４】次に、図６に示すように、６列の検出器２
３の内の内側の２列目から５列目までの４列の検出器か
らのデータをデータ収集部２７で収集し、収集された４
列のデータは、収集データ記憶装置２９を介して未測定
推定部４１ｂに入力される。

【００６５】そして、未測定推定部４１ｂが、６×６行
列の行列で、測定したデータ（収集された４列のデー
タ）から測定していないデータ（１列目及び６列目のデ
ータ）を式（４）を用いて推定する。

【００６６】

【数４】ｂ₁＝wt１×ｂ₂，ｂ₆＝wt６×ｂ₅ …（４） wt１，wt６は、重み係数である。重み係数wt１を用いて
２列目のデータから１列目のデータを推定し、重み係数
wt６を用いて５列目のデータから６列目のデータを推定
する。なお、未測定データの推定法は式（４）に限定さ
れず、その他の推定法を用いても良い。

【００６７】次に、補正実行部３９ｂは、補正行列算出
部３７で算出されたクロストーク補正行列を用いて、収
集された４列のデータと未測定推定部４１ｂで推定され
た２列のデータとからなる６列のデータに対して、前述
した式（２）を用いて、クロストーク補正を施し、真の
データを求める。

【００６８】このように、実際のスキャンで６列の検出
器２３の内の４列の検出器のデータしか収集できない場
合であっても、未測定データを測定されたデータから推
定して、スライス方向のクロストーク補正を行なうこと
ができる。

【００６９】＜第３の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第３の実施の形態を説明する。図７は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第３の実施の形態の概略構成を示す
システム構成図である。第３の実施の形態のＸ線ＣＴ装
置は、第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置に対してクロス
トーク補正部３１ｃの構成が異なるのみでその他の構成
は同一構成であるので、同一部分には同一符号を付す
る。第３の実施の形態は、６×６行列を４×４行列で近
似することにより、スライス方向のクロストークを補正
することを特徴とする。

【００７０】クロストーク補正部３１ｃは、プロファイ
ル測定部３５、近似補正行列算出部３７ｃ、補正実行部
３９ｃを有する。プロファイル測定部３５の処理は、第
１の実施の形態のそれと同一処理であるので、その説明
を省略する。

【００７１】近似補正行列算出部３７ｃは、プロファイ
ル測定部３５で測定されたクロストークプロファイルに
基づき６×６行列をクロストーク行列として算出し、算
出されたクロストーク行列の逆行列をクロストーク補正
行列として算出し、算出された６×６のクロストーク補
正行列を、収集すべき４列のデータ位置に合わせて４×
４のクロストーク近似補正行列に近似する近似処理を行
う。

【００７２】補正実行部３９ｃは、実際のスキャンで６
列の検出器２３の内の内側の４列の検出器しかデータを
収集しない場合に、近似補正行列算出部３７ｃで算出さ
れたクロストーク近似補正行列を用いて、収集された４
列のデータに対してクロストーク補正を施し、真のデー
タを求める。

【００７３】このように構成された第３の実施の形態の
Ｘ線ＣＴ装置によれば、予め事前処理としてプロファイ
ル測定部３５が６列の検出器２３のクロストークプロフ
ァイルを測定する。

【００７４】次に、近似補正行列算出部３７ｃは、プロ
ファイル測定部３５で測定されたクロストークプロファ
イルに基づき６×６行列をクロストーク行列として算出
し、算出されたクロストーク行列の逆行列をクロストー
ク補正行列として算出し、算出された６×６のクロスト
ーク補正行列［ＸＴＣ］を収集すべき４列のデータ位置
に合わせて４×４のクロストーク近似補正行列［ＸＴ
Ｃ′］に近似する。あるいは他の方法で算出したクロス
トーク補正行列の係数を外部から与えても良い。

【００７５】次に、６列の検出器２３の内の内側の２列
目から５列目までの４列の検出器からのデータをデータ
収集部２７で収集し、収集された４列のデータは、収集
データ記憶装置２９を介して補正実行部３９ｃに入力さ
れる。

【００７６】そして、補正実行部３９ｃは、収集された
４列のデータと近似補正行列算出部３７ｃからの４×４
のクロストーク近似補正行列［ＸＴＣ′］とを用いて、
式（５）のように４列のデータに対してクロストーク補
正を施し、真のデータを求める。

【００７７】

【数５】ここで、式（５）において、ｂ₂，ｂ₃，ｂ₄，ｂ₅は、２
列目から５列目の検出器から収集された４列のデータで
あり、wt１，wt６は、重み係数である。また、ＸＴＣ′
_2jの値は、６×６の行列［ＸＴＣ］の１列目のＸＴＣ_1j
と重み係数wt１とに関連付けされ、ＸＴＣ′_5jの値は、
６×６の行列［ＸＴＣ］の６列目のＸＴＣ_6jと重み係数
wt６とに関連付けされている。

【００７８】また、ＸＴＣ₃₂，ＸＴＣ₃₃，ＸＴＣ₃₄，Ｘ
ＴＣ₃₅，ＸＴＣ₄₂，ＸＴＣ₄₃，ＸＴＣ₄₄，ＸＴＣ₄₅のそ
れぞれの値は、第１の実施の形態で説明した式（２）に
おける対応するものと同じである。

【００７９】このように、実際のスキャンで６列の検出
器２３の内の４列の検出器のデータしか収集できない場
合であっても、６×６のクロストーク補正行列を収集す
べき４列のデータ位置に合わせて、４×４のクロストー
ク近似補正行列に近似し、４×４のクロストーク近似補
正行列を用いて、４列のデータに対してクロストーク補
正を施し、真のデータを求めることができる。

【００８０】＜第４の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第４の実施の形態を説明する。図８は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第４の実施の形態の主要部の構成図
である。第４の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、第１の実
施の形態のＸ線ＣＴ装置に対してコリメータ５１、及び
コリメータ制御部５３を追加した点が異なる。

【００８１】図８において、スライス方向に複数列配列
された検出器２３が設けられている（図８では、１チャ
ンネル分を示している。）。コリメータ５１は、検出器
２３のＸ線ビーム入射側に設けられ、スライス方向に沿
って移動可能な２枚のＸ線遮蔽板を有し、移動可能な２
枚のＸ線遮蔽板によりデータを収集すべき４列の検出器
にＸ線ビームを入射させる。

【００８２】コリメータ制御部５３は、システム制御部
１１からのコリメータ制御信号により、収集すべき４列
の検出器に応じて２枚のＸ線遮蔽板相互間のコリメータ
幅ｗｄを制御する。

【００８３】このように構成されたＸ線ＣＴ装置によれ
ば、コリメータ５１の２枚のＸ線遮蔽板を移動させて、
データを収集すべき４列の検出器、例えばｍ列，（ｍ＋
１）列，（ｍ＋２）列，（ｍ＋３）列の検出器にＸ線ビ
ームを入射するように、コリメータ幅ｗｄが調整される
ので、（ｍ−１）列，（ｍ＋４）列等の外側の検出器に
入射されるＸ線ビームは、非常に少なくなる。

【００８４】すなわち、外側の検出器に入射される余分
なＸ線ビームを遮蔽するので、外側の検出器から内側の
検出器へのクロストークを大幅に低減することができ
る。また、４列マルチスライスＣＴで４列のデータを収
集する第２の実施の形態や第３の実施の形態に第４の実
施の形態を適用すれば、その効果は大である。

【００８５】＜第５の実施の形態＞次に、本発明のＸ線
ＣＴ装置の第５の実施の形態を説明する。図９は、本発
明のＸ線ＣＴ装置の第５の実施の形態の主要部の構成図
である。第５の実施の形態では、束ねモードに応じて検
出器２３へのＸ線入射をコリメートすることを特徴とす
る。第５の実施の形態のＸ線ＣＴ装置は、第１の実施の
形態のＸ線ＣＴ装置に対してコリメータ５１、コリメー
タ制御部５３、検出器２３の代わりに２次元検出器２
４、スイッチ群２６、データ収集部２７の代わりにＤＡ
Ｓ２８を追加した点が異なる。コリメータ５１、コリメ
ータ制御部５３の構成は、第４の実施の形態で説明した
ので、ここでは、その説明は省略する。

【００８６】２次元検出器２４は、検出素子がアレイ状
に並べられており、ｓｅｇ方向（スライス方向）のスラ
イス厚は、中央の素子から端部の素子に向けてピッチが
広がるように不均等に形成されている。

【００８７】ここで、２次元検出器２４の各チャンネル
の素子列の構成を図１０に示す。図１０では、第１チャ
ンネルの素子列１１ａ１について示している。各チャン
ネルの素子列は、中央に基本セグメント（１ｍｍスライ
ス厚のセグメント）を８セグメント（ｓｅｇ１ａ１〜ｓ
ｅｇ１ａ８）、２ｍｍセグメント（２ｍｍスライス厚の
セグメント）を４セグメント（ｓｅｇ２ａ１〜ｓｅｇ２
ａ４）、４ｍｍセグメント（４ｍｍスライス厚のセグメ
ント）を４セグメント（ｓｅｇ４ａ１〜ｓｅｇ４ａ
４）、８ｍｍセグメント（８ｍｍスライス厚のセグメン
ト）を４セグメント（ｓｅｇ８ａ１〜ｓｅｇ８ａ４）を
配列し、合計で２０ｓｅｇである。

【００８８】そして、２次元検出器２４の各検出素子か
らのデータは、スイッチ群２６を介して例えば各チャン
ネルの検出素子列１１ａ１〜１１ａ１６のそれぞれ（２
０ｓｅｇ）に対して、２０ｓｅｇより少ない８列分（８
スライス分）のデータ収集素子（ＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡ
Ｓ−８ａ１・・・ＤＡＳ−１ａ１６〜ＤＡＳ−８ａ１
６）を有するＤＡＳ２８に送られる。

【００８９】スイッチ群２６は、スイッチ基板上にＦＥ
Ｔ等のスイッチング素子を実装して構成されている。ま
た、ＤＡＳ２８のデータ収集素子は、２次元検出器２４
の各検出素子と同様にアレイ状に配列されている。ＤＡ
Ｓ２８の各データ収集素子（ＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−
８ａ１・・・ＤＡＳ−１ａ１６〜ＤＡＳ−８ａ１６）
は、送られたデータに対して増幅処理やＡ／Ｄ変換処理
等を施して被検体の８スライス分の投影データを収集す
る。

【００９０】ここで、２次元検出器２４の例えば第１チ
ャンネルにおける２０ｓｅｇの検出素子列１１ａ１（ｓ
ｅｇ１ａ１〜ｓｅｇ１ａ８、ｓｅｇ２ａ１〜ｓｅｇ２ａ
４、ｓｅｇ４ａ１〜ｓｅｇ４ａ４、ｓｅｇ８ａ１〜ｓｅ
ｇ８ａ４）と、第１チャンネルの検出素子列１１ａ１に
対応するＤＡＳ２８の８列分のデータ収集素子ＤＡＳ−
１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１とのスイッチ群２６による接続
関係が図１０に示されている。

【００９１】図１０において、ｓｅｇ８ａ１は、スイッ
チＳ１１を介してＤＡＳ−１ａ１に接続され、スイッチ
Ｓ１２〜Ｓ１８を介してＤＡＳ−２ａ１〜ＤＡＳ−８ａ
１に接続されている。スイッチＳ１Ｇを介してＧＮＤに
接続されている。同様に、ｓｅｇ８ａ２は、スイッチＳ
２１〜Ｓ２Ｇを介してＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１
及びＧＮＤに接続されている。同様にして、ｓｅｇ４ａ
１からｓｅｇ８ａ４までのそれぞれが、８つのスイッチ
を介してＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１に接続されて
いる。

【００９２】各スイッチＳ１１〜Ｓ２０Ｇには、それぞ
れシステム制御部１１から図示しない制御信号線が接続
され、制御信号線を介してシステム制御部１１から送ら
れる制御信号に応じてスイッチＳ１１〜Ｓ２０Ｇは、個
別にオン／オフし、各セグメントｓｅｇ１ａ１〜ｓｅｇ
１ａ８、ｓｅｇ２ａ１〜ｓｅｇ２ａ４、ｓｅｇ４ａ１〜
ｓｅｇ４ａ４、ｓｅｇ８ａ１〜ｓｅｇ８ａ４とＤＡＳ−
１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１及びＧＮＤとの接続または非接
続を個別に切り換え制御する。また、他のチャンネルも
同様に動作するようになっている。

【００９３】また、システム制御部１１は、スキャン条
件に基づいてスイッチ群２６の各スイッチの切り換え制
御を行って２次元検出器２４の各検出素子とＤＡＳ２８
との接続を切り換えることにより、その検出素子で検出
されたデータを束ねて、スキャン条件に対応した複数ス
ライスのデータとしてＤＡＳ２８に送るようになってい
る。

【００９４】次に、このように構成されたＸ線ＣＴ装置
により、スイッチ群２６を介してＸ線透過データを束ね
る束ねモード（収集モード）について説明する。ここで
は、２次元検出器２４の例えば、第１チャンネル検出素
子列１１ａ１で検出されたデータを束ねて、ＤＡＳ−１
ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１に送る束ねモードのみについて説
明する。

【００９５】同一のスライス厚で８スライスを収集する
場合のＸ線通過データのスイッチ群２６による束ね方を
図１１及び図１２に示す。図１１及び図１２中、網掛け
部分が検出されたＸ線透過データを使用する検出素子の
範囲を示し、太線が束ねたＸ線透過データの切れ目を示
す。

【００９６】図１１（Ａ）では、スライス厚として最小
のスライス厚（１ｍｍ）で８スライスを収集する場合に
おけるスイッチ群２６によるＸ線透過データの束ね方を
示す。この場合には、システム制御部１１は、入力され
たスライス厚条件（１ｍｍ）を含むスキャン条件に基づ
いてスイッチ群２６のスイッチＳ１１〜Ｓ２０Ｇをオン
／オフ制御して、各検出素子列で検出されたＸ線透過デ
ータを束ねる。すなわち、ｓｅｇ１ａ１〜ｓｅｇ１ａ８
とＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１とを接続するスイッ
チＳ７１，Ｓ８２，Ｓ９３，Ｓ１０４，Ｓ１１５，Ｓ１
２６，Ｓ１３７，Ｓ１４８がオンされ、それ以外のスイ
ッチはそれぞれオフされる。

【００９７】従って、第１チャンネルの検出素子列１１
ａ１のデータとして、１ｍｍ厚の８スライス（１ｍｍ−
ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃｅ、１ｍｍスライス厚モー
ド）のＸ線透過データを各ＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８
ａ１に送ることができる。

【００９８】また、システム制御部１１は、入力された
スライス厚条件（１ｍｍ）に応じたコリメータ制御信号
をコリメータ制御部５３に出力し、コリメータ制御部５
３は、システム制御部１１からのコリメータ制御信号に
より、８スライス（１ｍｍ−ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃ
ｅ）、すなわち、８ｍｍ幅に応じて２枚のＸ線遮蔽板相
互間のコリメータ幅ｗｄを制御する。

【００９９】次に、図１１（Ｂ）では、スライス厚とし
て２ｍｍスライス厚で８スライスを収集する場合におけ
るスイッチ群２６によるＸ線透過データの束ね方を示
す。この場合には、システム制御部１１は、入力された
スライス厚条件（２ｍｍ）を含むスキャン条件に基づい
てスイッチ群２６のスイッチＳ１１〜Ｓ２０Ｇをオン／
オフ制御して、ｓｅｇ２ａ１をＤＡＳ−１ａ１、ｓｅｇ
２ａ２をＤＡＳ−２ａ１に接続し、ｓｅｇ１ａ１〜ｓｅ
ｇ１ａ２を束ねてＤＡＳ−３ａ１、ｓｅｇ１ａ３〜ｓｅ
ｇ１ａ４を束ねてＤＡＳ−４ａ１、ｓｅｇ１ａ５〜ｓｅ
ｇ１ａ６を束ねてＤＡＳ−５ａ１、ｓｅｇ１ａ７〜ｓｅ
ｇ１ａ８を束ねてＤＡＳ−６ａ１にそれぞれ接続する。
さらに、ｓｅｇ２ａ３をＤＡＳ−７ａ１、ｓｅｇ２ａ４
をＤＡＳ−８ａ１に接続する。

【０１００】従って、第１チャンネルの検出素子列１１
ａ１のデータとして、２ｍｍ厚の８スライス（２ｍｍ−
ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃｅ、２ｍｍスライス厚モー
ド）のＸ線透過データを各ＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８
ａ１に送ることができる。

【０１０１】また、システム制御部１１は、入力された
スライス厚条件（２ｍｍ）に応じたコリメータ制御信号
をコリメータ制御部５３に出力し、コリメータ制御部５
３は、システム制御部１１からのコリメータ制御信号に
より、８スライス（２ｍｍ−ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃ
ｅ）、すなわち、１６ｍｍ幅に応じて２枚のＸ線遮蔽板
相互間のコリメータ幅ｗｄを制御する。

【０１０２】以下、同様なやり方で図１２（Ａ）に示す
ように、第１チャンネルの検出素子列１１ａ１のデータ
として、４ｍｍ厚の８スライス（４ｍｍ−ｓｌｉｃｅ×
８−ｓｌｉｃｅ、４ｍｍスライス厚モード）のＸ線透過
データを各ＤＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１に送ること
ができる。このとき、コリメータ制御部５３は、システ
ム制御部１１からのコリメータ制御信号により、８スラ
イス（４ｍｍ−ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃｅ）、すなわ
ち、３２ｍｍ幅に応じて２枚のＸ線遮蔽板相互間のコリ
メータ幅ｗｄを制御する。

【０１０３】また、図１２（Ｂ）に示すように、第１チ
ャンネルの検出素子列１１ａ１のデータとして、８ｍｍ
厚の８スライス（８ｍｍ−ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃ
ｅ、８ｍｍスライス厚モード）のＸ線透過データを各Ｄ
ＡＳ−１ａ１〜ＤＡＳ−８ａ１に送ることができる。こ
のとき、コリメータ制御部５３は、システム制御部１１
からのコリメータ制御信号により、８スライス（８ｍｍ
−ｓｌｉｃｅ×８−ｓｌｉｃｅ）、すなわち、６４ｍｍ
幅に応じて２枚のＸ線遮蔽板相互間のコリメータ幅ｗｄ
を制御する。

【０１０４】このように、設定されたスライス厚条件に
合わせて、例えば１ｍｍスライス厚の８スライス分のデ
ータを収集すれば、体軸方向に高い分解能を有する画像
を生成することができる。また、設定されたスライス厚
条件に合わせて、例えば８ｍｍスライス厚の８スライス
分のデータを収集すれば、体軸方向に沿ったワイドな撮
影領域を実現することができる。

【０１０５】また、束ねモード（例えば、１ｍｍスライ
ス厚モード、２ｍｍスライス厚モード、４ｍｍスライス
厚モード、８ｍｍスライス厚モード等である。）に応じ
て、コリメータ５１の幅やコリメート率などを調節する
ので、データ収集する列の外側に対するＸ線の入射を少
なくすることができる。

【０１０６】さらに、図１に示す第１の実施の形態のプ
ロファイル測定部３５が、クロストークプロファイルを
測定する際に、コリメータ５３によりＸ線入射をコリメ
ートすれば、データ収集する列の外側に対するＸ線の入
射を少なくすることができるので、より正確なクロスト
ークプロファイルを測定することができる。

【０１０７】また、各束ねモード毎に、プロファイル測
定部３５が、クロストークプロファイルを測定し、且つ
補正行列算出部３７がクロストーク行列［ＸＴ］あるい
は［ＸＴ′］′，クロストーク補正行列［ＸＴＣ］を算
出すれば、各束ねモード毎に対応したクロストーク補正
を行うことができる。

【０１０８】なお、本発明は前述した実施の形態に限定
されるものではない。第１の実施の形態乃至第４の実施
の形態では、クロストーク補正部を収集データ記憶装置
２９の後に設けたが、例えば、クロストーク補正部を収
集データ記憶装置２９の後に設ける代わりに、クロスト
ーク補正部を、データ収集部２７と収集データ記憶装置
２９との間に設けてもよい。

【０１０９】また、第１の実施の形態乃至第３の実施の
形態では、プロファイル測定部３５、及び補正行列算出
部３７をクロストーク補正部３１に設けたが、例えば、
プロファイル測定部３５、及び補正行列算出部３７をク
ロストーク補正部３１に設ける代わりに、プロファイル
測定部３５、及び補正行列算出部３７をシステム制御部
１１内に設けても良い。

【０１１０】また、第１の実施の形態乃至第４の実施の
形態では、ヘリカルスキャンに本発明を適用したが、例
えば、本発明はコンベンショナルスキャンに適用するこ
とも可能である。

【０１１１】

【発明の効果】本発明によれば、補正手段が収集手段で
収集された複数スライスの投影データに対してスライス
方向の複数の検出素子列の各検出素子間における検出出
力の流出入によるクロストークを補正するので、パーシ
ャルリングを解消することができるとともに、スライス
プロファイルの劣化を防止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態のＸ線ＣＴ装置の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図２】検出器のスライス方向に対して細く絞ったＸ線
ビームを各列毎に順番に照射していく様子を示す図であ
る。

【図３】スライス方向のクロストークプロファイルを示
す図である。

【図４】第１の実施の形態のクロストーク補正処理を示
すフローチャートである。

【図５】本発明のＸ線ＣＴ装置の第２の実施の形態の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図６】６列の検出器の内の内側の４列の検出器のデー
タの収集を示す図である。

【図７】本発明のＸ線ＣＴ装置の第３の実施の形態の概
略構成を示すシステム構成図である。

【図８】本発明のＸ線ＣＴ装置の第４の実施の形態の主
要部の構成図である。

【図９】本発明のＸ線ＣＴ装置の第５の実施の形態の主
要部の構成図である。

【図１０】８スライス分のＤＡＳでデータを収集する際
のスイッチ群の構成の一例を示す図である。

【図１１】同一ピッチで８スライスのデータを収集する
際のデータの束ね方を示すものであり、（Ａ）は１ｍｍ
×８スライスを示し、（Ｂ）は２ｍｍ×８スライスを示
す図である。

【図１２】同一ピッチで８スライスのデータを収集する
際のデータの束ね方を示すものであり、（Ａ）は４ｍｍ
×８スライスを示し、（Ｂ）は８ｍｍ×８スライスを示
す図である。

【図１３】シングルスライスＣＴ及びマルチスライスＣ
Ｔを示す図である。

【図１４】検出素子の構成図である。

【図１５】検出器のスライス方向のクロストークを示す
図である。

【符号の説明】

１０…Ｘ線ＣＴ装置、１１…システム制御部、１２…操
作部、１３…架台・寝台制御部、１５…寝台移動部、１
７…Ｘ線制御装置、１９…高電圧発生装置、２１…Ｘ線
ビーム発生源、２３…検出器、２５…回転架台、２７…
データ収集部、２９…収集データ記憶装置、３１…クロ
ストーク補正部、３５…プロファイル測定部、３７…補
正行列算出部、３７ｃ…近似補正行列算出部、３９…補
正実行部、４１ｂ…未測定推定部、４５…画像再構成
部、４７…表示部、５１…コリメータ、５３…コリメー
タ制御部。

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検体に向けて多方向からＸ線を曝射す
るＸ線源と、多チャンネルの検出素子を有し且つ各チャ
ンネル毎に被検体のスライス方向に複数の検出素子列が
配列され、被検体を透過した透過Ｘ線を検出する検出手
段と、この検出手段で検出された検出出力に基づく被検
体の複数スライスの投影データを収集する収集手段と、
この収集手段で収集された複数スライスの投影データに
基づき被検体の複数スライスの画像を再構成する再構成
手段とを備えたＸ線ＣＴ装置において、前記収集手段で収集された複数スライスの投影データに
対して前記スライス方向の前記複数の検出素子列の各検
出素子間における検出出力の流出入によるクロストーク
を補正する補正手段を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ
装置。
【請求項２】前記補正手段は、前記Ｘ線源がスライス
方向に対して細く絞ったＸ線を前記複数の検出素子列の
各列に順番に照射していくときに前記収集手段で収集さ
れたデータに基づきスライス方向のクロストークプロフ
ァイルを測定する測定手段と、この測定手段で測定されたクロストークプロファイルに
基づきクロストーク行列を算出する算出手段と、この算出手段で算出されたクロストーク行列を用いて前
記収集手段で収集された実際の複数スライスの投影デー
タに対して前記クロストークを補正する補正実行手段
と、を備えることを特徴とする請求項１記載のＸ線ＣＴ
装置。
【請求項３】前記算出手段は、前記クロストークプロ
ファイルに基づき、前記複数の検出素子列の内の前記画
像の再構成利用列数に２を加算して得られた列数をＮと
した場合にＮ×Ｎ行列を前記クロストーク行列として算
出し、前記補正実行手段は、前記Ｎ×Ｎ行列によるクロストー
ク行列を用いて前記クロストークを補正することを特徴
とする請求項２記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】前記算出手段は、前記クロストーク行列
に基づき前記実際の複数スライスの投影データから真の
複数スライスの投影データを求めるためのクロストーク
補正行列を算出し、前記補正実行手段は、前記算出手段で算出されたクロス
トーク補正行列を用いて前記クロストークを補正するこ
とを特徴とする請求項３記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】前記クロストーク補正行列は、前記クロ
ストーク行列の逆行列であることを特徴とする請求項４
記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】前記クロストーク補正行列は、前記クロ
ストーク行列の近似的逆行列であることを特徴とする請
求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】前記補正実行手段は、前記収集手段が前
記複数の検出素子列の内の前記画像の再構成利用列数分
の投影データを収集する場合に、前記クロストーク補正
行列を用いて収集された前記再構成利用列数分の投影デ
ータに対して前記クロストークを補正することを特徴と
する請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項８】前記補正手段は、前記収集手段が前記複
数の検出素子列の内の前記画像の再構成利用列数分の投
影データを収集する場合に、収集された再構成利用列数
分の投影データから収集されていない投影データを推定
する推定手段を備え、前記補正実行手段は、前記クロストーク補正行列を用い
て収集された再構成利用列数分の投影データと前記推定
手段で推定された投影データに対して前記クロストーク
を補正することを特徴とする請求項４記載のＸ線ＣＴ装
置。
【請求項９】前記算出手段は、前記収集手段が前記複
数の検出素子列の内の前記画像の再構成利用列数分の投
影データを収集する場合に、収集された再構成利用列数
分の投影データの配列に合わせて前記クロストーク補正
行列をクロストーク近似補正行列に近似し、前記補正実行手段は、前記算出手段で得られたクロスト
ーク近似補正行列を用いて収集された再構成利用列数分
の投影データに対してクロストークを補正することを特
徴とする請求項４記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１０】前記検出手段のＸ線入射側に設けら
れ、スライス方向に沿って移動可能な２枚のＸ線遮蔽板
を有するコリメータと、前記複数の検出素子列の内の前記再構成利用列数に応じ
て前記２枚のＸ線遮蔽板相互間の幅を制御するコリメー
タ制御手段と、を備えることを特徴とする請求項３記載
のＸ線ＣＴ装置。
【請求項１１】多チャンネルの検出素子を有し且つ各
チャンネル毎に被検体のスライス方向に複数の検出素子
列が配列され、スライス方向の前記検出素子のピッチを
不均等に形成した検出手段と、この検出手段の検出信号
を収集してその検出信号に応じたディジタルデータを得
るデータ収集素子を前記スライス方向及びチャンネル方
向に対応させて複数個配列してなる収集手段とを備えた
Ｘ線ＣＴ装置において、スライス厚条件の変化に応じて前記各検出素子を選択す
ることにより前記複数の検出素子列の束ね方を変化させ
て前記収集手段のスライス方向に対応するデータ収集素
子に接続する検出素子選択手段と、前記検出手段のＸ線入射側に設けられ、スライス方向に
沿って移動可能な２枚のＸ線遮蔽板を有するコリメータ
と、前記検出素子選択手段が前記スライス厚条件の変化に応
じて前記束ね方を変化させた場合にその束ね方を表す束
ねモードに応じて前記２枚のＸ線遮蔽板相互間の幅を制
御するコリメータ制御手段と、を備えることを特徴とす
るＸ線ＣＴ装置。