JP6448917B2 - フォトンカウンティングct装置 - Google Patents

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Description

本発明の実施形態は、フォトンカウンティングCT装置に関する。
フォトンカウンティング型のCT(Computed Tomography)を実現するためには、エネルギー弁別可能な信号処理回路(DAS:Data Acquisition System)と最適なX線検出素子とを有する検出器が必要である。そのため、フォトンカウンティング型のCTは、積分型のCTに比して、製造コストや管理コストが高額になる。また、積分型のCTでは、各ビューについてX線フォトンのエネルギー積分に応じた信号が収集されるが、フォトンカウンティング型のCTでは、各ビューについてX線フォトンのエネルギー帯域毎の計数値に応じた信号が収集される。従って、フォトンカウンティング型のCTは、積分型のCTに比して、収集する信号のデータ量がエネルギー分解能分だけ増加する。フォトンカウンティング型のCTの商業的な成功には上記の技術的課題の解決が欠かせない。
米国特許出願公開第2012/0300896A1号明細書
実施形態の目的は、検出器のコストや収集されるデータ量を削減可能なフォトンカウンティングCT装置を提供することにある。
本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、X線を発生するX線源と、前記X線源から発生されたX線を検出する複数の積分型検出器と複数のフォトンカウンティング型検出器とを有する検出器モジュールであって、前記複数の積分型検出器は前記検出されたX線に関する積分信号を出力し、前記複数のフォトンカウンティング型検出器は前記検出されたX線に関する複数のエネルギー帯域毎の計数信号を出力する、検出器モジュールと、前記複数の積分型検出器のうちの推定対象の積分型検出器に関する推定計数信号を、前記推定対象の積分型検出器が出力した積分信号と前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号とに基づいて推定する推定部と、前記推定計数信号と前記計数信号とに基づいて画像を再構成する再構成部と、を具備する。
本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の構成を示す図 図1のCT検出器の構成を示す図 図1のPCCT検出器の構成を示す図 図1のCT検出器とPCCT検出器との配列パターンの一例を示す図 図1のCT検出器とPCCT検出器との他の配列パターンを示す図 図1のCT検出器とPCCT検出器との他の配列パターンを示す図 図1のCT検出器とPCCT検出器との他の配列パターンを示す図 図1のCT検出器とPCCT検出器との他の配列パターンを示す図 本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の動作の流れを示す図 図9の積分信号の推定に係る一連の処理を模式的に示す図 図1の正規化パラメータ算出部による正規化パラメータの算出に係る一連の処理を模式的に示す図 図4の配列パターンにおける補間の概念を示す図 図9の計数信号の推定に係る一連の処理を模式的に示す図
以下、図面を参照しながら本実施形態に係わるフォトンカウンティングCT装置を説明する。
図1は、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の構成を示す図である。図1に示すように、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、架台10とコンソール30とを備えている。架台10は、円筒形状を有する回転フレーム11を回転軸Z回りに回転可能に支持している。回転フレーム11には回転軸Zを挟んで対向するようにX線源13と混成検出器モジュール15とが取り付けられている。回転フレーム11の開口(bore)にはFOV(field of view)が設定される。回転フレーム11の開口内には天板17が挿入される。回転駆動部19は、撮像制御部43からの制御に従って回転フレーム11を回転させるための動力を発生する。回転フレーム11は、回転駆動部19からの動力を受けて回転軸Z回りに一定の角速度で回転する。天板17には、例えば、被検体Sが載置される。天板17は、天板支持機構21により移動自在に支持されている。天板支持機構21は、寝台駆動部23からの動力を受けて天板17を移動する。寝台駆動部23は、コンソール30内の撮像制御部43からの制御に従って天板17を移動させるための動力を発生する。天板17は、被検体Sの撮像部位がFOV内に含まれるように天板17が位置決めされる。
X線源13は、高電圧発生部25に接続されている。高電圧発生部25は、撮像制御部43による制御に従いX線源13に高電圧を印加し、フィラメント電流を供給する。
混成検出器モジュール15は、X線源13から発生されたX線を検出する。混成検出器モジュール15は、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT(photon counting computed tomography)検出器15−2とを有している。CT検出器15−1は積分型のCTのための検出器であり、PCCT検出器15−2はフォトンカウンティング型のCTのための検出器である。複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは共通の検出器配列面に2次元状に配列される。1のCT検出器15−1と1のPCCT検出器15−2との各々は1チャンネルを構成する。
CT検出器15−1は、X線源13からのX線を検出し、検出されたX線に関する積分信号をビュー毎に出力する。積分信号は、各ビューにおいて検出された複数のX線フォトンのエネルギーの積分値(合計値)に対応する。具体的には、CT検出器15−1は、図2に示すように、X線検出素子151−1とCT型DAS153−1とを有する。X線検出素子151−1は、X線源13からのX線を検出し、検出されたX線フォトンのエネルギーに応じた波高値を有する電荷パルス(電気信号)を出力する。電荷パルスは、CT型DAS153−1に供給される。CT型DAS153−1は、供給された電荷パルスに基づいてビュー毎に積分信号を発生する。具体的には、CT型DAS153−1は、前置増幅器61、積分器63、及びA/D変換器65を有している。前置増幅器61は、X線検出素子151−1が出力した電荷パルスを増幅する。積分器63は、前置増幅器61が出力した電荷パルスを1ビューに相当する期間に亘り積分(加算)する。積分された電荷パルスを積分信号と呼ぶ。A/D変換器65は、アナログの積分信号からデジタルの積分信号に変換する。積分信号はコンソール30に伝送される。
PCCT検出器15−2は、X線源13からのX線をフォトン単位で検出し、検出されたX線に関する計数信号を、X線源13から発生されるX線のエネルギースペクトラムに含まれる複数のエネルギー帯域についてビュー毎に出力する。計数信号は、各ビューにおいて検出されたX線フォトンの個数に対応する。具体的には、PCCT検出器15−2は、図3に示すように、X線検出素子151−2とPCCT型DAS153−2とを有している。X線検出素子151−2は、X線源13からのX線フォトンを検出し、検出されたX線フォトンのエネルギーに応じた波高値を有する電荷パルス(電気信号)を出力する。より詳細には、X線検出素子151−2としては、シンチレータと光センサとを有する光電変換素子が用いられる。シンチレータは、入射X線フォトンを受けてシンチレーションフォトンを発生する。発生されるシンチレーションフォトンの個数は、入射X線フォトンのエネルギーに依存する。光センサとしては、シリコンフォトマルチプライヤー(SiPM:silicon photomultipliers)が適用される。SiPMは、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)の技術により、シリコン上に2次元的に配列された高感度且つ高速応答性を有する光電子増倍デバイスである。各光センサは、入射X線フォトンのエネルギーに応じた波高値又は電荷量を有する電荷パルスを出力する。なお、本実施形態に係る光センサは、SiPMに限定されず、入射X線フォトンのエネルギーに応じた波高値を出力可能な如何なるセンサにも適用可能である。また、本実施形態に係る光電変換素子は、シンチレータと光センサとを備える間接変換型の素子に限定されず、X線フォトンを直接的に電荷パルスに変換する直接変換型の素子でも良い。PCCT型DAS153−2は、供給された電荷パルスに基づいて計数信号を発生する。具体的には、PCCT型DAS153−2は、前置増幅器71、波高弁別器73、及び計数器75を有する。前置増幅器71は、X線検出素子151−2が出力した電荷パルスを増幅する。波高弁別器73は、前置増幅器71が出力した電荷パルスの波高値に基づいて、当該電荷パルスが属するエネルギー帯域を複数のエネルギー帯域の中から弁別する。波高弁別器73は、各エネルギー帯域に応じた波高値を有する電気信号(以下、弁別信号)を出力する。計数器75は、波高弁別器73からの弁別信号を複数のエネルギー帯域の各々についてビュー毎に計数し、X線検出器151により検出されたX線フォトンの計数値を表現するデジタルの計数信号を生成する。
コンソール30は、信号記憶部31、積分信号生成部33、推定部35、前処理部37、画像再構成部39、正規化パラメータ算出部41、撮像制御部43、表示部45、入力部47、主記憶部49、及びシステム制御部51を備える。
信号記憶部31は、混成検出器モジュール15からのデジタル信号(データ)を記憶する記憶装置である。具体的には、信号記憶部31は、複数のビューに関する積分信号を記憶する。積分信号は出力元のCT検出器15−1の検出器アドレスとビュー番号とに関連づけて記憶される。また、信号記憶部31は、複数のエネルギー帯域の各々について複数のビューに関する計数信号を記憶する。計数信号は、出力元のPCCT検出器15−2の検出器アドレスとビュー番号とエネルギー帯域番号とに関連づけて記憶される。検出器アドレスは、例えば、CT検出器15−1またはPCCT検出器15−2のチャンネル番号及び列番号の組み合わせにより規定される。
積分信号生成部33は、複数のビューの各々について、複数のエネルギー帯域に関する計数信号に基づいて積分信号を生成する。より詳細には、積分信号生成部33は、複数のビューの各々について、計数信号をX線スペクトラムの全域に亘りエネルギーに関して積分することにより積分信号を生成する。生成された積分信号は、CT検出器15−1により出力される積分信号と同様の物理量を示す。
推定部35は、積分型の画像の再構成が指示された場合、複数のPCCT検出器15−2のうちの推定対象のPCCT検出器15−2に関する積分信号を、後述の正規化パラメータと推定対象のPACT検出器15−2が出力した実測の計数信号とに基づいて推定する。推定対象のPCCT検出器15−2は、積分信号が欠落している検出器アドレスに配置されているPCCT検出器15−2を意味する。フォトンカウンティング型の画像の再構成が指示された場合、推定部35は、複数のCT検出器15−1のうちの推定対象のCT検出器15−1に関する計数信号を、推定対象のCT検出器15−1が出力した実測の積分信号と推定対象のCT検出器15−1に空間的に近接するPCCT検出器15−2が出力した実測の計数信号とに基づいて推定する。推定対象のCT検出器15−1は、計数信号が欠落している検出器アドレスに配置されたCT検出器15−1を意味する。
前処理部37は、積分型の画像の再構成が指示された場合、複数のビューの各々について、積分信号に前処理を施して複数のビューに関する生データを発生する。以下、積分信号に基づく生データをCT生データと呼ぶことにする。フォトンカウンティング型の画像の再構成が指示された場合、前処理部37は、複数のビューの各々について、複数のエネルギー帯域に関する計数信号に前処理を施して生データを発生する。以下、計数信号に基づく生データをPCCT生データと呼ぶことにする。前処理としては、例えば、ログ変換やビームハードニング補正、オフセット補正等が挙げられる。
画像再構成部39は、CT生データに基づいて、被検体に関する画像を再構成する。以下、CT生データに基づく画像をCT画像と呼ぶことにする。また、画像再構成部39は、PCCT生データに基づいて、複数のエネルギー帯域のうちの画像化対象のエネルギー帯域に関する画像を再構成する。以下、PCCT生データに基づく画像をPCCT画像と呼ぶことにする。画像化対象のエネルギー帯域は、例えば、入力部47を介して操作者により指定されても良いし、自動で設定されても良い。画像再構成アルゴリズムとしては、FBP(filtered back projection)法やCBP(convolution back projection)法等に基づく解析学的画像再構成法や、ML−EM(maximum likelihood expectation maximization)法やOS−EM(ordered subset expectation maximization)法等に基づく統計学的画像再構成法等の既存の画像再構成アルゴリズムが用いられれば良い。
正規化パラメータ算出部41は、推定部35により用いられる正規化パラメータを算出する。正規化パラメータ算出部41は、キャリブレーションスキャンにおいてCT検出器15−1が出力した積分信号とPCCT検出器15−2が出力した計数信号とに基づいて正規化パラメータを算出する。正規化パラメータは、各CT検出器15−1及び各PCCT検出器15−2について算出される。
撮像制御部43は、架台10に搭載された各種機器の制御を統括する。具体的には、撮像制御部43は、混成検出器モジュール15、回転駆動部19、寝台駆動部23、及び発生部25を制御する。具体的には、回転駆動部19は、撮像制御部43による制御に従う一定の角速度で回転フレーム11を回転する。寝台駆動部23は、撮像制御部43による制御に従って、天板17をスライドするために天板支持機構21を駆動する。高電圧発生部25は、撮像制御部43による制御に従って、設定管電圧値に対応する高電圧をX線源13に印加し、フィラメント電流をX線源13に供給する。混成検出器モジュール15は、撮像制御部43による制御に従って、X線源13からのX線の曝射タイミングに同期して積分信号及び計数信号をビュー毎に収集する。
表示部45は、CT画像やPCCT画像等の種々の情報を表示機器に表示する。表示機器としては、例えば、CRTディスプレイや液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、プラズマディスプレイ等が適宜利用可能である。
入力部47は、入力機器によるユーザからの各種指令や情報入力を受け付ける。入力機器としては、キーボードやマウス、各種スイッチ等が利用可能である。
主記憶部49は、種々の情報を記憶するHDD(hard disk drive)やSSD(solid state drive)等の記憶装置である。例えば、主記憶部49は、本実施形態に係る撮像プログラムや正規化パラメータ等を記憶する。
システム制御部51は、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の中枢として機能する。システム制御部51は、本実施形態に係る撮像プログラムを主記憶部49から読み出し、当該撮像プログラムに従って各種構成要素を制御する。これにより、混成検出器モジュール15を利用した積分信号と計数信号との並列同時収集が可能となる。
次に、本実施形態に係るCT検出器15−1とPCCT検出器15−2との配列パターンについて図4、図5、図6、図7、及び図8を参照しながら説明する。
図4、図5、図6、図7、及び図8に示すように、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは、混成検出器モジュール15の検出器配列面に2次元状に敷き詰められている。混成検出器モジュール15の検出器配列面において回転軸Zに沿う方向は列(Row)方向と呼ばれ、検出器配列面内において回転軸Zに直交する方向はチャンネル(Channel)方向と呼ばれている。図4、図5、図6、図7、及び図8において列番号は1からmまでであり、チャンネル番号は1からnまでであるとする。各検出器15−1,15−2はX線検出素子のX線入射面が混成検出器モジュール15の表面に位置するように配置される。検出器配列面に配列されるCT検出器15−1は、PCCT検出器15−2に比して計数率や検出効率が高いため、PCCT検出器15−2よりも多い個数が配列されると良い。なお、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2とが同数であっても良い。以下、同列番号の検出器15−1,15−2の束を検出器列と呼び、同チャンネル番号の検出器15−1,15−2の束を検出器行と呼ぶことにする。
図4に示す配列パターンの場合、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは、検出器列単位で列方向に関して所定の順番で配列される。図4においては、同一の列番号に属する全てのチャンネル番号には同種の検出器(すなわち、CT検出器15−1又はPCCT検出器15−2)が配置される。PCCT検出器列が所定の列数毎に配列され、当該PCCT検出器列の間にCT検出器列が配列される。図4においては、2列置きにPCCT検出器列が配列される。この場合、列番号R(1)に属する全てのチャンネル番号C(1)からC(n)にはPCCT検出器15−2が配置され、列番号R(2)に属する全てのチャンネル番号C(1)からC(n)にはCT検出器15−1が配置され、列番号R(3)に属する全てのチャンネル番号C(1)からC(n)にはCT検出器15−1が配置される。なお、PCCT検出器列は、1以上の任意数列置きに配置されれば良い。図4の配列パターンの場合、同列の検出器15−1,15−2が全て同種であるので、1スライスの画像を再構成するために必要な全ての信号を同種の検出器15−1,15−2で収集することができる。このため、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2とを搭載する混成検出器モジュール15であっても、スライス単位の画質を良好に保つことができる。また、一検出器列又は複数検出器列に亘り同種の検出器15−1,15−2が配列されているので、当該検出器列単位に構造的に独立な一ユニットを構成することができる。従ってユニット単位で交換や保守をすることができる。
図5に示す配列パターンの場合、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは、検出器行単位でチャンネル方向に関して所定の順番で配列される。図5においては、同一のチャンネル番号に属する全ての列番号には同種の検出器15−1,15−2が配置される。PCCT検出器列が所定のチャンネル数毎に配列され、当該PCCT検出器列の間にCT検出器列が配置される。例えば、チャンネル番号C(1)に属する全ての列番号R(1)からR(n)にはPCCT検出器15−2が配置され、チャンネル番号C(2)に属する全ての列番号R(1)からR(n)にはCT検出器15−1が配置され、チャンネル番号C(3)に属する全ての列番号R(1)からR(n)にはCT検出器15−1が配置される。なお、PCCT検出器列は、1以上の任意数列置きに配置されれば良い。また、一検出器行又は複数検出器行に亘り同種の検出器が配列されているので、当該検出器行単位に構造的に独立な1ユニットを構成することができる。従ってユニット単位で交換や保守をすることができる。
図6に示す配列パターンの場合、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは、市松模様状に配列される。すなわち、列方向及びチャンネル方向に関してCT検出器15−1とPCCT検出器15−2とが交互に配列される。この配列パターンの場合、全てのスライスにおいて実測の積分信号及び計数信号を収集することができる。
図7に示す配列パターンの場合、所定の規則に従って、複数のCT検出器15−1が密に配列され、複数のPCCT検出器15−2が疎に配列される。従って、PCCT検出器15−2の個数がCT検出器15−1に比して大幅に少ないので、他の配列パターンに比してコストを削減することができる。
図8に示す配列パターンの場合、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とが不規則なパターンで配列される。複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とを規則的に配列したときに当該規則的な配列パターンに起因する画像アーチファクトが発生する場合、この画像アーチファクトの発生を防止することができる。
次に、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の動作例について説明する。図9は、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置の動作の流れを示す図である。なお、図9に示す動作例は、上記の図4、図5、図6、図7、及び図8に示す何れの配列パターンにも適用可能である。
図9に示すようにシステム制御部51は、ユーザにより入力部47を介してスキャン開始指示がなされたことを契機として撮像制御部43にスキャンを実行させる(ステップS1)。ステップS1において撮像制御部43は、被検体Sを対象とするスキャンを実行する。なお、天板17の静止状態でスキャンを行う場合、すなわち、コンベンショナルスキャンの場合、撮像制御部43は、混成検出器モジュール15、回転駆動部19、及び高電圧発生部25を同期的に制御する。天板17の移動下でスキャンを行う場合、すなわち、ヘリカルスキャンの場合、撮像制御部43は、混成検出器モジュール15、回転駆動部19、寝台駆動部23、及び高電圧発生部25を同期的に制御する。スキャンにおいて混成検出器モジュール15は、撮像制御部43の制御により、複数のビューの各々について積分信号と計数信号とを並列的に収集する。収集された積分信号と計数信号とは信号記憶部31に記憶される。
ステップS1が行われるとシステム制御部51は、再構成対象の画像タイプを判断する(ステップS2)。再構成対象の画像タイプとして、ユーザにより入力部47を介して積分信号に基づくCT画像又は計数信号に基づくPCCT画像が選択される。画像タイプは、スキャンの開始前や実行中、終了後の何れのタイミングにおいても選択可能である。なお、画像タイプは、自動的に設定されていても良い。以下、画像タイプが積分信号に基づくCT画像である場合と計数信号に基づくPCCT画像である場合とを順番に説明する。
画像タイプが積分信号に基づくCT画像であると判断した場合(ステップS2:CT)、システム制御部51は、ステップS3及びS4の一連の処理により積分信号を推定する。図10は、積分信号の推定に係る一連の処理を模式的に示す図である。なお、図10においては、説明を具体的に行うため、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とは市松模様状に配列されているものとする。
まず、システム制御部51は、積分信号生成部33に生成処理を行わせる(ステップS3)。ステップS3において積分信号生成部33は、PCCT検出器15−2が出力した計数信号を積分して積分信号を生成する。積分信号は、画像再構成処理に用いられる全てのPCCT検出器15−2の検出器アドレスについて生成される。具体的には、積分信号生成部33は、まず、積分信号の生成対象の検出器アドレスP0に配置されたPCCT検出器15−2が出力した計数信号について、各エネルギー帯域のエネルギー値と当該計数信号が示す計数値との積を算出する。算出された積は、各ビューにおいて当該PCCT検出器15−2により検出された、当該エネルギー帯域に属する全てのX線フォトンの総エネルギーに対応する。各エネルギー帯域のエネルギー値は、当該エネルギー帯域の中間値や平均値等に設定される。そして積分信号生成部33は、複数のエネルギー帯域に関する複数の積の積分値を算出する。この積分値を示すデジタル信号が積分信号に対応する。積分値は、各ビューにおいてPCCT検出器15−2により検出された全てのX線フォトンの総エネルギーに対応する。生成された積分信号は、CT検出器15−1により出力される積分信号と同様の物理量を示す。このようにして、画像再構成処理に用いられる全てのPCCT検出器15−2の検出器アドレスについて積分信号が生成される。以下、積分信号生成部33により生成された積分信号を、計算積分信号と呼ぶことにする。例えば、実測の積分信号が欠落している検出器アドレス(以下、欠落アドレスと呼ぶことにする)P0について計数信号SC0に基づいて計算積分信号SCI0が算出される。
ステップS3が行われるとシステム制御部51は、推定部35に計算積分信号の正規化処理を行わせる(ステップS4)。ステップS4において推定部35は、欠落アドレスP0に配置されたPCCT検出器15−2が出力した計数信号SC0に基づく計算積分信号SCI0を正規化パラメータにより正規化し、正規化された計算積分信号(以下、正規化積分信号と呼ぶ)SNI0を算出する。以下、正規化について詳細に説明する。
CT検出器15−1とPCCT検出器15−2とは構造や素材の違いにより検出器特性が異なる。検出器特性としては、例えば、電気容量、計数率、及び検出効率が挙げられる。電気容量は、各検出器15−1,15−2のDAS153−1,153−2に搭載されたコンデンサの容量である。計数率は、各検出器15−1,15−2による単位時間当りのX線検出イベントの計数値に規定される。一般的に計数率は、PCCT検出器15−2に比してCT検出器15−1の方が高い。検出効率は、入射X線に対する各検出器15−1,15−2により検出されたX線の強度の比率に規定される。一般的に検出効率は、PCCT検出器15−2に比してCT検出器15−1の方が高い。このCT検出器15−1とPCCT検出器15−2との検出器特性の相違に起因する補間積分信号SIIと実測の積分信号SIとの信号量(積分値)の尺度を揃えるため正規化パラメータが利用される。
次に、正規化パラメータ算出部41による正規化パラメータの算出について説明する。正規化パラメータ算出部41は、キャリブレーションスキャンによりCT検出器15−1により収集された積分信号とPCCT検出器15−2により収集された計数信号とに基づいて正規化パラメータを算出する。各検出器15−1,15−2の全検出器特性の相違は、CT検出器15−1からの積分信号とPCCT検出器15−2からの計数信号に基づく計算積分信号との信号量の相違に依存するからである。キャリブレーションスキャンは、ステップS1において行われたスキャンよりも前のキャリブレーション時に行われる。キャリブレーションスキャンは、入力部47を介したキャリブレーションスキャンの実行指示を契機として撮像制御部43により実行される。キャリブレーションスキャンにおいて天板17には、空気や水等の既知の組成を有するファントムが載置され、当該ファントムを対象としてX線CTスキャンが行われる。キャリブレーションスキャンにおいてCT検出器15−1は、X線源13から発生されファントムを透過したX線を検出し、検出されたX線に関する積分信号を生成する。また、キャリブレーションスキャンにおいてPCCT検出器15−2は、X線源13から発生されファントムを透過したX線を検出し、検出されたX線に関する計数信号を生成する。生成された積分信号と計数信号とは信号記憶部31に記憶される。
図11は、正規化パラメータ算出部41による正規化パラメータの算出に係る一連の処理を模式的に示す図である。正規化パラメータ算出部41は、複数のPCCT検出器15−2の各々について、キャリブレーションスキャンにおいてCT検出器15−1により収集された積分信号とPCCT検出器15−2により収集された計数信号とに基づいて正規化パラメータを算出する。
例えば、図11に示すように、検出器アドレスP0について正規化パラメータを算出する場合、検出器アドレスP0の4近傍に位置するCT検出器15−1の検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4が周囲の検出器アドレスに設定される。周囲の検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4が設定されると正規化パラメータ算出部41は、当該検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4の積分信号に補間法を適用して検出器アドレスP0に関する補間積分信号SII0を補間する。補間法は、画像処理のピクセル補間として用いられるニアレストネイバー(nearest-neighbor)法、バイリニアー(bi-liner)法、バイキュービック(bi-cubic)法等が挙げられる。バイキュービック法を用いる場合、Sinc関数やスプライン関数等の任意の補間関数を用いても良い。例えば、図11に示すように、4近傍の検出器アドレスP1に関する積分信号SI1の積分値、検出器アドレスP2に関する積分信号SI2の積分値、検出器アドレスP3に関する積分信号SI3の積分値、及び検出器アドレスP4に関する積分信号SI4の積分値の加算平均により、検出器アドレスP0に関する補間積分信号SII0が算出される。
なお、周囲の検出器アドレスの設定方法は、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2との配列パターンに応じて決定される。例えば、図4に示す配列パターンの場合、図12に示すように、PCCT検出器15−2の検出器アドレスに隣接するCT検出器15−1の検出器アドレスが周囲のアドレスに設定される。すなわち、CT検出器列に関する積分信号に基づいてPCCT検出器列に関する補間積分信号が算出される。図5に示す配列パターンの場合、CT検出器行に関する積分信号に基づいてPCCT検出器行に関する補間積分信号が算出される。図7に示す配列パターンの場合、PCCT検出器15−2に関する補間積分信号は、当該PCCT検出器15−2の近傍に位置するCT検出器15−1に関する積分信号に基づいて算出される。図8に示す配列パターンについても同様に、PCCT検出器15−2に関する補間積分信号は、当該PCCT検出器15−2の近傍に位置するCT検出器15−1に関する積分信号に基づいて算出される。
補間信号SII0が算出されると正規化パラメータ算出部41は、検出器アドレスP0に関する計算積分信号SCI0の信号量と補間積分信号SII0の信号量とに基づいて正規化パラメータを算出する。具体的には、検出器アドレスP0に関する計算積分信号の信号量と補間積分信号SII0の信号量との比率、より詳細には、検出器アドレスP0に関する計算積分信号の信号量を補間信号SII0に関する信号量に一致させるための倍率が正規化パラメータとして算出される。上記の方法により、正規化パラメータ算出部41は、各PCCT検出器15−2について正規化パラメータを算出する。算出された各PCCT検出器15−2に関する正規化パラメータは、主記憶部49に記憶される。
ステップS4において推定部35は、まず、実測の積分信号が欠落している検出器アドレスすなわち欠落アドレスP0を特定する。例えば、推定部35は、信号記憶部31に記憶されている実測の計数信号に関連づけられた検出器アドレスを欠落アドレスとして特定する。あるいは、推定部35は、信号記憶部31に記憶されている実測の積分信号に関連づけられた検出器アドレスを記録し、全検出器アドレスのうちの記録されなかった検出器アドレスを欠落アドレスとして特定する。欠落アドレスが特定されると推定部35は、当該欠落アドレスに関連づけられた正規化パラメータを、ステップS3において生成された当該欠落アドレスに関する計算積分信号に乗じて、正規化された正規化積分信号を算出する。推定部35は、全ての欠落アドレスについて正規化積分信号を算出する。
なお正規化パラメータは、管電圧に応じて変化する。このため、撮像制御部43は、複数の管電圧の各々についてキャリブレーションスキャンを実行する。キャリブレーションスキャンに用いられる管電圧の値は、自動的に又は入力部47を介して任意に設定可能である。収集された積分信号と計数信号とは管電圧値に関連づけて信号記憶部31に記憶される。正規化パラメータ算出部41は、複数の管電圧の各々について正規化パラメータを算出する。
上記の処理により算出された正規化パラメータを用いて欠落アドレスP0に関する計算積分信号が正規化される。より詳細には推定部35は、ステップS1におけるスキャンに用いられた管電圧に対応する正規化パラメータを欠落アドレスP0に関する計算積分信号SCI0に乗じることにより正規化積分信号SNI0を算出する。
ステップS4が行われるとシステム制御部51は、前処理部37に前処理を行わせる(ステップS5)。ステップS5において前処理部37は、複数のビューに関する正規化積分信号SNIと積分信号SIとの各々に前処理を施し、複数のビューに関するCT生データを生成する。
ステップS5が行われるとシステム制御部51は、画像再構成部39に再構成処理を行わせる(ステップS6)。ステップS8において画像再構成部39は、ステップS5において生成されたCT生データに基づいて3次元のCT画像のデータを再構成する。
なお、上記の説明においては、欠落アドレスに関する計算積分信号に正規化パラメータを乗じることにより算出された積分信号(すなわち、正規化積分信号)が欠落アドレスに関する積分信号として用いられるとした。しかしながら、本実施形態はこれに限定されない。例えば、欠落アドレスの周囲の検出器アドレスに配置されたCT検出器15−2が出力する実測の積分信号の補間積分信号を当該欠落アドレスに関する積分信号として用いても良い。これにより、欠落アドレスについて、正規化パラメータを用いることなく精度の高い積分信号を得ることができる。
次に、画像タイプがPCCT画像である場合の流れについて説明する。
画像タイプが計数信号に基づくPCCT画像であると判断した場合(ステップS2:PCCT)、システム制御部は、ステップS7及びS8の一連の処理により積分信号を推定する。図13は、計数信号の推定に係る一連の処理を模式的に示す図である。なお、図12においても図10と同様に、複数のCT検出器15−1と複数のPCCT検出器15−2とが市松模様状に配列されているものとする。
まずシステム制御部51は、推定部35に計数信号の補間処理を行わせる(ステップS7)。ステップS7において推定部35は、計数信号が欠落している検出器アドレス(欠落アドレス)について、当該欠落アドレスの周囲の検出器アドレスに配置されたPCCT検出器15−2からの計数信号に基づいて計数信号を補間する。具体的には、図13に示すように、まず推定部35は、CT検出器15−1に関する欠落アドレスP0を特定する。例えば、推定部35は、信号記憶部31に記憶されている積分信号に関連づけられた検出器アドレスを欠落アドレスとして特定する。あるいは、推定部35は、信号記憶部31に記憶されている計数信号に関連づけられた検出器アドレスを記録し、全検出器アドレスのうちの記録されなかった検出器アドレスを欠落アドレスとして特定する。
欠落アドレスが特定されると推定部35は、欠落アドレスP0の周囲の検出器アドレスに関連づけられた計数信号に基づいて、欠落アドレスP0に関する計数信号を補間する。例えば、図13に示すように、欠落アドレスがCT検出器15−1の検出器アドレスP0の場合、欠落アドレスP0の4近傍に位置するPCCT検出器15−2の検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4が周囲の検出器アドレスに設定される。周囲の検出器アドレスの設定方法は、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2との配列パターンに応じて決定される。例えば、図4に示す配列パターンの場合、図12に示すように、CT検出器15−1の検出器アドレスに隣接するPCCT検出器15−2の検出器アドレスが周囲のアドレスに設定される。すなわち、PCCT検出器列に関する計数信号に基づいてCT検出器列に関する計数信号が補間される。図5に示す配列パターンの場合、PCCT検出器行に関する計数信号に基づいてCT検出器行に関する計数信号が補間される。図7に示す配列パターンの場合、CT検出器15−1に関する計数信号は、当該CT検出器15−1の近傍に位置するPCCT検出器15−2に関する計数信号に基づいて補間される。図8に示す配列パターンについても同様に、CT検出器15−1に関する計数信号は、当該CT検出器15−1の近傍に位置するPCCT検出器15−2に関する計数信号に基づいて補間される。
周囲の検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4が設定されると推定部35は、当該検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4に関する計数信号に補間法を適用して欠落アドレスP0に関する計数信号SIC0を補間する。以下、補間により算出された計数信号を補間計数信号と呼ぶことにする。補間法は、画像処理のピクセル補間として用いられるニアレストネイバー法、バイリニアー法、バイキュービック法等が挙げられる。バイキュービック法を用いる場合、Sinc関数やスプライン関数等の任意の補間関数を用いても良い。例えば、図13に示すように、4近傍の検出器アドレスP1に関する計数信号の計数値(カウント)、検出器アドレスP2に関する計数信号の計数値、検出器アドレスP3に関する計数信号の計数値、及び検出器アドレスP4に関する計数信号の計数値の加算平均により、欠落アドレスP0に関する補間計数信号SIC0の計数値が算出される。より詳細には推定部35は、エネルギー値毎に計数信号SC1、SC2、SC3、及びSC4の計数値について補間処理を行い補間計数信号SIC0の計数値を算出する。
ステップS7が行われるとシステム制御部51は、推定部35に補間計数信号の正規化処理を行わせる(ステップS8)。ステップS8において推定部35は、欠落アドレスP0に配置されたCT検出器15−1からの実測の積分信号SI0により補間計数信号SIC0を正規化し、正規化された補間計数信号(すなわち、正規化計数信号)SNC0を算出する。より詳細には、推定部35は、積分信号SI0に正規化パラメータを乗じ、正規化パラメータが乗じられた積分信号SI0の信号量(計数値)により補間計数信号SIC0を正規化し、正規化計数信号SNC0を算出する。
欠落アドレスP0に関する補間計数信号SIC0は、欠落アドレスP0の周囲の検出器アドレスP1、P2、P3、及びP4に関する計数信号SC1、SC2、SC3、及びSC4に基づいて算出される。すなわち、補間計数信号SIC0は、欠落アドレスP0に配置されたCT検出器15−1に到達するX線パス上の被検体Sのジオメトリを厳密には反映していない。この被検体Sのジオメトリを、補間計数信号SIC0に反映させるために、当該欠落アドレスP0に配置されたCT検出器15−1が出力した積分信号SI0に基づく正規化が行われる。正規化パラメータは、正規化パラメータ算出部41により各CT検出器15−1について算出される。正規化パラメータは、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2との検出器特性の相違に起因する積分信号SI0と補間計数信号SIC0との信号量(積分値)の尺度を揃えるためが利用される。上述のように、正規化パラメータ算出部41は、複数のCT検出器15−1の各々について、予め実行されたキャリブレーションスキャンにおいてCT検出器15−1により収集された積分信号とPCCT検出器15−2により収集された計数信号とに基づいて正規化パラメータを算出する。算出された各CT検出器15−1に関する正規化パラメータは、主記憶部49に記憶される。なお、正規化パラメータとしては、ステップS4と同様、ステップS1におけるスキャンに用いられた管電圧に対応する正規化パラメータが選択されると良い。
ステップS8が行われるとシステム制御部51は、前処理部37に前処理を行わせる(ステップS9)。ステップS9において前処理部37は、複数のエネルギー帯域の各々について、複数のビューに関する正規化計数信号SNCと計数信号SCとの各々に前処理を施し、複数のビューに関するPCCT生データを生成する。
ステップS9が行われるとシステム制御部51は、画像再構成部39に再構成処理を行わせる(ステップS10)。ステップS10において画像再構成部39は、ステップS9において生成されたPCCT生データに基づいて、画像化対象のエネルギー帯域に関する3次元のPCCT画像のデータを再構成する。
ステップS6又はステップS10が行われるとシステム制御部51は、表示部45に表示処理を行わせる(ステップS11)。ステップS11において表示部45は、ステップS6において再構成されたCT画像又はステップS10において再構成されたPCCT画像を表示機器に表示する。より詳細には、CT画像に基づく2次元の表示画像又はPCCT画像に基づく2次元の表示画像が表示される。2次元の表示画像は、CT画像又はPCCT画像に3次元画像処理を施すことにより発生される。3次元画像処理としては、例えば、ボリュームレンダリング、サーフェスレンダリング、MPR、画素値投影処理等が挙げられる。
以上により、本実施形態に係る動作例の説明を終了する。
なお、上記の動作例においては、CT画像又はPCCT画像を再構成するものとした。しかしながら、本実施形態はこれに限定されない。すなわちシステム制御部51は、ステップS3−S7の処理系列とステップS8−S11の処理系列とを並行して実行するようことにより、CT画像とPCCT画像との両方を並行して再構成することができる。
上記の通り、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、検出器モジュール15にPCCT検出器15−2のみを搭載するのではなく、PCCT検出器15−2の個数を減らし、代わりにCT検出器15−1も搭載している。従って本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、PCCT検出器15−2のみを搭載する場合に比して、検出器の製造コスト及び管理コストを削減することができる。また、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、PCCT検出器15−2のみを搭載する場合に比して、スキャンにより収集されるデータ量を削減することができる。また、CT画像を再構成する場合、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、予め実行されたキャリブレーションスキャンにおいてPCCT検出器15−2が出力した計数信号とCT検出器15−1が出力した積分信号とに基づく正規化パラメータと、対象スキャンにおいて欠落アドレスに配置されたPCCT検出器15−2が出力した計数信号とに基づいて、欠落アドレスに関する積分信号の信号量を推定することができる。正規化パラメータは、各検出器アドレスに配置されたPCCT検出器15−2について当該検出器アドレスに関する計数信号の信号量と周囲の検出器アドレスに配置されたCT検出器15−1が出力した積分信号に基づく補間信号の信号量との尺度を揃える。このように決定された正規化パラメータを欠落アドレスに関する計数信号に適用することにより、厳密に当該欠落アドレスに関する積分信号の信号量を推定することができる。PCCT画像を再構成する場合、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、欠落アドレスに関する計数信号について、当該欠落アドレスに関する実測の積分信号と周囲の検出器アドレスに関する実測の計数信号とに基づいて推定する。このように周囲の検出器アドレスに関する実測の計数信号に基づく補間だけではなく、欠落アドレスに関する実測の積分信号による正規化も行うことにより、より厳密に当該欠落アドレスに関する計数信号の信号量を推定することができる。このような欠落アドレスに関する信号の信号量についての推定アルゴリズムを有することにより、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、CT検出器15−1とPCCT検出器15−2とを有しながら、実測の信号の欠落に起因するCT画像又はPCCT画像の画質の劣化を低減することができる。
かくして、本実施形態によれば、フォトンカウンティングCTにおいて、検出器のコストや収集されるデータ量を削減することが可能となる。
なお上記の説明においてフォトンカウンティングCT装置は、いわゆる第3世代であるとした。すなわち、フォトンカウンティングCT装置は、X線源とフォトンカウンティングCT検出器とが1体となって被検体Sの周囲を回転する回転/回転型(ROTATE/ROTATE―TYPE)であるとした。しかしながら、本実施形態に係るフォトンカウンティングCT装置は、それのみに限定されない。例えば、フォトンカウンティングCT装置は、リング状に配列された多数の検出器画素が固定され、X線源のみが被検体Sの周囲を回転する固定/回転型(STATIONARY/ROTATE―TYPE)でも良い。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
10…架台、11…回転フレーム、13…X線源、15…混成検出器モジュール、17…天板、19…回転駆動部、21…天板支持機構、23…寝台駆動部、25…高電圧発生部、30…コンソール、31…信号記憶部、33…積分信号生成部、35…推定部、37…前処理部、39…画像再構成部、41…正規化パラメータ算出部、43…撮像制御部、45…表示部、47…入力部、49…主記憶部、51…システム制御部

Claims (11)

  1. X線を発生するX線源と、
    前記X線源から発生されたX線を検出する複数の積分型検出器と複数のフォトンカウンティング型検出器とを有する検出器モジュールであって、前記複数の積分型検出器は前記検出されたX線に関する積分信号を出力し、前記複数のフォトンカウンティング型検出器は前記検出されたX線に関する複数のエネルギー帯域毎の計数信号を出力する、検出器モジュールと、
    前記複数の積分型検出器のうちの推定対象の積分型検出器に関する推定計数信号を、前記推定対象の積分型検出器が出力した積分信号と前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号とに基づいて推定する推定部と、
    前記推定計数信号と前記計数信号とに基づいて画像を再構成する再構成部と、
    を具備するフォトンカウンティングCT装置。
  2. 前記複数の積分型検出器と前記複数のフォトンカウンティング型検出器とは近接して配置される、請求項1記載のフォトンカウンティングCT装置。
  3. 前記推定部は、前記推定対象の積分型検出器が出力した積分信号と前記推定対象の積分型検出器に空間的に近接するフォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号とに基づいて前記推定計数信号を推定する、請求項1記載のフォトンカウンティングCT装置。
  4. 前記推定部は、前記近接するフォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号に基づいて前記推定対象の積分型検出器に関する補間計数信号を補間し、前記補間計数信号を前記推定対象の積分型検出器が出力した積分信号により正規化して前記推定対象の積分型検出器に関する推定計数信号を推定する、請求項3記載のフォトンカウンティングCT装置。
  5. 前記推定部は、前記推定対象の積分型検出器が出力した積分信号と、予め実行されたキャリブレーションスキャンにおいて前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号と前記積分型検出器が出力した積分信号とに基づく正規化パラメータとにより前記補間計数信号を正規化する、請求項4記載のフォトンカウンティングCT装置。
  6. 前記推定部は、
    フォトンカウンティング型の画像の再構成が指示された場合、前記推定対象の積分型検出器に関する推定計数信号を推定し、
    積分型の画像の再構成が指示された場合、予め実行されたキャリブレーションスキャンにおいて前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号と前記積分型検出器が出力した積分信号とに基づく正規化パラメータと、前記複数のフォトンカウンティング型検出器のうちの推定対象のフォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号とに基づいて、前記推定対象のフォトンカウンティング型検出器に関する推定積分信号を推定する、
    請求項1記載のフォトンカウンティングCT装置。
  7. 前記推定部は、前記推定対象のフォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号を前記正規化パラメータで正規化することにより前記推定積分信号を算出する、請求項6記載のフォトンカウンティングCT装置。
  8. 前記再構成部は、積分型の画像の再構成が指示された場合、前記推定積分信号と前記積分信号とに基づいて画像を再構成する、請求項6記載のフォトンカウンティングCT装置。
  9. 前記正規化パラメータを、前記キャリブレーションスキャンにおいて前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号と前記積分型検出器が出力した積分信号とに基づいて算出する算出部をさらに備える、請求項5又は6記載のフォトンカウンティングCT装置。
  10. 前記キャリブレーションスキャンは、複数の管電圧の各々について行われ、
    前記算出部は、前記複数の管電圧の各々について前記正規化パラメータを算出する、
    請求項9記載のフォトンカウンティングCT装置。
  11. X線を発生するX線源と、
    前記X線源から発生されたX線を検出する複数のフォトンカウンティング型検出器と複数の積分型検出器とを有する検出器モジュールであって、前記複数のフォトンカウンティング型検出器はX線スペクトラムに関する複数のエネルギー帯域毎の計数信号を出力し、前記複数の積分型検出器は前記X線スペクトラムに亘る積分信号を出力する、検出器モジュールと、
    予め実行されたキャリブレーションスキャンにおいて前記フォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号と前記積分型検出器が出力した積分信号とに基づく正規化パラメータと、前記複数のフォトンカウンティング型検出器のうちの推定対象のフォトンカウンティング型検出器が出力した計数信号とに基づいて、前記推定対象のフォトンカウンティング型検出器に関する推定積分信号を推定する推定部と、
    前記推定積分信号と前記積分信号とに基づいて画像を再構成する再構成部と、
    を具備するフォトンカウンティングCT装置。
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