JP2017133898A - 放射線計測方法、放射線計測装置、x線透過像撮影装置及びx線ct装置 - Google Patents

放射線計測方法、放射線計測装置、x線透過像撮影装置及びx線ct装置 Download PDF

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Abstract

【課題】放射線計測において空間分解能を向上しようとした際に、検出器アレイのチャネル間に発生するクロストークを科学的根拠に基づき補正する放射線計測手法を実現する。【解決手段】クロストーク補正装置92は、検出器間のクロストークを表現した応答関数を規格化し、その規格化した応答関数および補正行列を算出する。算出した規格化応答関数と多チャンネル測定回路31から供給される検出器アレイ出力52とを用いてベイズの定理に基づいた式で繰り返し推定した演算結果を得る。クロストーク補正装置92は補正行列の対角成分で上記演算結果を除算してクロストークが補正された放射線強度分布を算出する。【選択図】 図1

Description

本発明は、複数の検出器チャネルにより構成される検出器アレイを用いたX線CT装置に関するものであり、特に、検出器チャネル間のクロストークを補正するために好適な放射線計測方法、放射線計測装置、X線透過像撮影装置及びX線CT装置に関するものである。
X線CT装置などの放射線計測システムにおいて、撮影画像の空間分解能を向上しようとした場合には、検出器チャネルを稠密化して放射線の角度分布を詳細なピッチで取得することが考えられる。検出器チャネル間を稠密化するためには検出器チャネル間に従来配置していた遮蔽材の厚みを減じたり、無くしたりすることが不可欠となるが、このような場合において放射線がクロストークして真の信号以外の検出信号を周囲の検出器チャネルが計測してしまい、かえって分解能が悪化してしまうというトレードオフの課題があった。
特許第4194128号
特許第4194128号で提案された方法は、クロストークを表現した補正行列を作成し、近似行列を作成して補正を実行しようと試みている。しかしながら、一般的に行列演算のみで逆問題を解決することは困難であって近似的な解放を用いる必要があり、得られた解に恣意性が含まれてしまう。この恣意性は特に産業用のX線CT装置などで、CT画像を元にした形状計測などの解析を行う場合にトレーサビリティが欠如してしまうという課題も生じる、
本発明の目的は、稠密化した検出器チャネル間で顕在化するクロストークに対して、科学的根拠に基づいてチャネル間クロストークを補正できる放射線計測方法、放射線計測装置、X線透過像撮影装置及びX線CT装置を提供することにある。
上記目的を達成する本発明の特徴は、放射線源から放出され被検体を透過した放射線を検出器アレイで検出して放射線強度分布を求める放射線計測方法であって、応答関数評価装置が検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求め、クロストーク補正装置が規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイの信号出力から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることにある。
また、上記目的を達成する他の特徴は、放射線を発生する放射線源装置と、被検体を透過した放射線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、規格化された応答関数および補正行列を用いて、検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正した放射線強度分布を求めるクロストーク補正装置を備える放射線計測装置にある。
また、上記目的を達成するさらに他の特徴は、X線を発生するX線源と、被検体を透過したX線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、規格化された応答関数および補正行列を用いて、検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正したX線強度分布を求めるクロストーク補正装置と、X線強度分布を用いて被検体の透過像を作成する透視像作成装置を備えるX線透過像撮影装置にある。
また、上記目的を達成するさらに他の特徴は、X線を発生するX線源と、被検体を透過したX線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、規格化された応答関数および補正行列を用いて、検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正したX線強度分布を求めるクロストーク補正装置と、X線強度分布を用いて被検体のCT画像を作成するCT画像再構成装置を備えるX線CT装置にある。
本発明によれば、検出器チャネル間のクロストークを補正することができため、空間分解能がより向上した放射線計測方法及び放射線計測装置を実現することができるようになる。
本発明の実施の一形態に係る放射線計測方法における計測の流れを示す図である。(実施例1) 本発明の実施の一形態に係る放射線計測方法の基本アルゴリズムを示す図である。 本発明の実施の一形態に係る放射線計測方法において応答関数をシミュレーション計算により評価する場合の構成を示す図である。 本発明の第2の実施例に係る放射線計測方法におい応答関数を実際の測定により評価する場合の構成を示す図である。 本発明の第3の実施例に係る放射線計測装置の基本構成を示す図である。 本発明の第4の実施例に係るX線CT装置の基本構成を示す図である。
本発明の実施例を以下に説明する。
<実施例1>
本発明の好適な実施例である実施例1の放射線計測方法を、図1を用いて以下に説明する。
図1は、本発明の実施の一形態に関わる放射線計測装置の主要構成を示す図である。本実施例の放射線計測装置は、X線(例えばX線ファンビーム)を放出するX線源装置10と、被検体40を透過したX線を検出する複数のX線検出器(検出器チャンネル)を有する検出器アレイ21と、各々の検出器チャンネルからの出力信号を測定する多チャンネル測定回路31と、応答関数評価装置90と、検出器アレイ21からの出力信号に基づいてクロストークを考慮した放射線強度分布を求めるクロストーク補正装置92とを備える。図1には、検出器アレイ21に入射する前のX線強度分布51と、検出器アレイ21からの信号出力から求めたX線強度分布52を示す。
X線源装置10から放出されたX線ファンビーム11が被検体40を透過して透過経路に応じたX線強度分布51を形成する。検出器アレイ21に入射したX線の強度分布に応じた検出器アレイの信号出力52が得られる。しかしながら、検出器アレイ21に入射したX線の一部は散乱等の相互作用により、検出器チャネル間でクロストークX線12となり、隣接する検出器チャネルに回り込んで、検出器チャンネルはクロストークX線12による信号出力53を生成する。
さて、検出器アレイの検出器チャネルdnに入射するX線強度φ(Xm)によって、信号S(dn)だけでなく周囲の検出器チャネルdn−1, dn−2, ・・・, d1 、およびdn+1, dn+2,・・・, dNにクロストーク信号出力を付与する。つまり、検出器アレイ入射前のX線強度分布φ(xj)(j=1〜M)がS(dn)(i=1〜N)の信号出力で観測される。この過程は、検出器アレイ中の唯一の検出器チャネルdiにX線φ(xj)が入射したときにもたらされる信号強度rijを、N行M列の構成要素とした応答関数行列Rで表現することができる。なお、応答関数評価装置90が、検出器アレイの幾何体系と入射X線源のエネルギースペクトルを元にして計算機シミュレーションによって応答関数Rを算出する。
図3に、応答関数評価装置90で行う計算機シミュレーションの幾何体系を示している。X線強度分布61を持つ仮想的なペンシル状のX線ビーム13を作成し、特定の位置Xjに入力する。このとき得られる検出器アレイの信号出力62が応答関数行列RのM列の成分となる。応答関数評価装置90は、このシミュレーション計算を位置Xj(j=1〜M)まで行い、各列成分を組み合わせることで応答関数行列Rが得られる。
前記までの各関数を用いて、クロストーク補正装置92において、図1の構成で得られる検出器アレイの信号出力S(di)は次式(1)の関係で表すことができる。
S(di)=R・φ(xj) (1)
しかしながら、条件付き確率に関するベイズの定理に基づいた補正手法を適用するため、応答関数行列Rの列方向の和が1となるように規格化された規格化応答関数行列R’および補正行列Bを用いて次式(2)に示すように演算を行う。
R=R’・B (2)
このとき補正行列BはM行M列の正方行列で、その行列成分bijはディラックのデルタ関数を用いて次式(3)となる。
bij=δij×εj (3)
成分εjは次式(4)となる。
εj=Σrij (i=1〜N) (4)
図2は詳細なデータフローと計算式を示す図である。
図2において、応答関数評価装置90は応答関数Rを出力可能であり、応答関数評価装置90から出力された応答関数Rは演算部94に供給される。演算部94には応答関数評価装置90からの応答関数Rが供給され、規格化応答関数R’と補正行列Bを演算し、ベイズ推定式演算部95および除算部96に供給する。また多チャンネル測定回路31からの信号出力52もベイズ推定式演算部95に供給される。
ベイズ推定式演算部95は、検出器アレイの信号出力S(dj)と、規格化応答関数R’とを用いて、次に示すベイズの定理に基づいた推定式(5)を演算し、クロストークが補正されたX線強度分布est(xj)(l+1)を得る。
Figure 2017133898
ベイズ推定式演算部95が演算したest(xj)(l+1)は除算部96に供給される。
除算部96には、補正行列Bも供給されており、除算部96は補正行列の成分ε’jを用いて次式(6)に示すように、est(xj)(l+1)をε’jで除算して、検出器アレイ入射前のX線強度分布φ(xj)(l+1)を算出する。
Figure 2017133898
なお、演算部94とベイズ推定式演算部95と除算部96はクロストーク補正装置92に備えられている。
つまり、応答関数評価装置90は、ベイズの定理に基づいた推定式(5)を用いて、複数回の繰り返し推定計算を用い、その後ε’jで除算することによって、検出器アレイ内でクロストークを生じる直前の検出器アレイ入射前のX線強度分布φ(xj)(j=1〜M)を算出することができる。
以上のように、本実施例では、クロストーク補正装置92は、検出器間のクロストークを表現した応答関数を規格化し、その規格化した応答関数および補正行列を算出する。算出した規格化応答関数と多チャンネル測定回路31から供給される検出器アレイ21からの検出信号52とを用いてベイズの定理に基づいた式で繰り返し推定した演算結果を得る。クロストーク補正装置92は補正行列の対角成分で上記演算結果を除算してクロストークが補正された放射線強度分布を求めている。
本実施例によれば、予めシミュレーション計算によって求めたクロストークを表現する応答関数行列を作成しておき、実際のクロストークした検出器チャネルの信号出力に対して、条件付き確率に関するベイズの定理に基づく推定計算を行うことで、クロストークする前の放射線の角度分布を詳細なピッチで得ることができるようになる。
また、本実施例によれば、規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイからの検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることができる。つまり、検出器チャンネル間で生じるクロストークによる影響を補正することができるため、空間分解能が向上した放射線計測方法及び放射線計測装置を実現できるようになる。このようなクロストークは検出器チャネル間の遮蔽材を設置しない検出器アレイや、薄い遮蔽材のみを設置した検出器アレイを用いた場合に特に生じやすいため、このような検出器アレイを用いる場合に特に有効である。
<実施例2>
第2の実施例を、図4を用いて説明する。第1の実施例では、応答関数評価装置90がシミュレーション計算で応答関数行列Rを求める例を説明したが、本実施例では実測値を用いて応用関数行列Rを求める。本実施例について、第1の実施例と異なる構成を中心に、以下に説明する。
図4に示すように、X線源装置10と検出器アレイ21の間に、1チャンネルコリメータ41を設置する。1チャンネルコリメータ41は、X線源装置10から放出されたX線がいずれか一つの検出器チャンネルに入射されるように孔部(貫通穴)をもつ。1チャネルコリメータ41を検出器アレイ21の前面に配置することで、X線源装置10から放出されたX線ファンビーム11が検出器チャネルdn以外に入射しないように構成され、検出器アレイ21に入射する前のX線強度分布が図4に示すような、ペンシル状のX線強度分布61となる。本実施例では、検出器アレイの信号出力62を検出器アレイ32で実測することにより応答関数行列Rが得られる。得られた応答関数行列は第1の実施例と同様にベイズの定理に基づいた推定計算に用いる。また、実施例1と同様の方法により、検出器アレイ内でクロストークを生じる直前の検出器アレイ入射前のX線強度分布φ(xj)(j=1〜M)を算出する。
本実施例によれば、検出器アレイ21を使った実測値を用いてクロストークを表現する応答関数行列を作成し、実際のクロストークした検出器チャネルの信号出力に対して、条件付き確率に関するベイズの定理に基づく推定計算を行うことで、クロストークする前の放射線の角度分布を詳細なピッチで得ることができるようになる。
本実施例によれば、規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイからの検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることができる。つまり、検出器チャンネル間で生じるクロストークによる影響を補正することができるため、空間分解能が向上した放射線計測方法及び放射線計測装置を実現できるようになる。このようなクロストークは検出器チャネル間の遮蔽材を設置しない検出器アレイや、薄い遮蔽材のみを設置した検出器アレイを用いる場合に特に生じやすいため、このような検出器アレイを用いる場合に特に有効である。
<実施例3>
第3の実施例を、図5を用いて説明する。本実施例では、X線源装置10と検出器アレイ21の間に被検体40を配置して、被検体40を透過してくるX線強度信号を検出器アレイ21で測定し、X線透過像を撮影する透過像撮影装置について説明する。
本実施例の透過像撮影装置は、X線(例えばX線ファンビーム)を放出するX線源装置10と、被検体40を透過したエックス線を検出する複数のX線検出器(検出器チャンネル)を有する検出器アレイ21と、各々の検出器チャンネルからの出力信号を測定する多チャンネル測定回路31と、応答関数評価装置90と、検出器アレイ21からの出力信号に基づいてクロストークを考慮した放射線強度分布を求めるクロストーク補正装置92と、クロストーク補正装置92からの放射線強度分布の情報に基づいて透視画像を生成する透過像作成装置80を備える。
本実施例の透視画像撮影装置は、検出器アレイ21内における検出器チャネル間のクロストークX線12による信号が多チャンネル測定回路31から出力された段階で、応答関数評価装置90およびクロストーク補正装置92を用いて補正する。クロストーク補正装置92からクロストークが補正されたX線強度分布を透過像作成装置80に供給することにより空間分解能が向上した透過像が得られるようになる。本実施例の応答関数評価装置90は、実施例1又は実施例2のいずれかの方法で応答関数行列Rを求めればよい。
本実施例によれば、クロストークを表現する応答関数行列を作成し、実際のクロストークした検出器チャネルの信号出力に対して、条件付き確率に関するベイズの定理に基づく推定計算を行うことで、クロストークする前の放射線の角度分布を詳細なピッチで得ることができ、より空間分解能が向上した透過像を得ることができるようになる。
本実施例によれば、規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイからの検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることができる。つまり、検出器チャンネル間で生じるクロストークによる影響を補正することができるため、空間分解能が向上した透過像撮影方法及び透過像撮影装置を実現できるようになる。このようなクロストークは検出器チャネル間の遮蔽材を設置しない検出器アレイや、薄い遮蔽材のみを設置した検出器アレイを用いる場合に特に生じやすいため、このような検出器アレイを用いる場合に特に有効である。
<実施例4>
第4の実施例を、図6を用いて説明する。本実施例では、X線CT装置のスキャナテーブル60上に被検体40を搭載し、被検体40を透過してくるX線の強度信号を検出器アレイ21で測定し、X線CT画像を撮影するX線CT装置について説明する。
本実施例のX線CT装置は、X線(例えばX線ファンビーム)を放出するX線源装置10と、被検体40をのせるためのスキャナテーブル60と、被検体40を透過したエックス線を検出する複数のX線検出器(検出器チャンネル)を有する検出器アレイ21と、各々の検出器チャンネルからの出力信号を測定する多チャンネル測定回路31と、応答関数評価装置90と、検出器アレイ21からの出力信号に基づいてクロストークを考慮した放射線強度分布を求めるクロストーク補正装置92と、クロストーク補正装置92からの放射線強度分布の情報に基づいてCT画像を生成するCT画像再構成演算装置81を備える。
本実施例のX線CT装置は、検出器アレイ21内における検出器チャネル間のクロストークX線12による信号が多チャンネル測定回路31から出力された段階で、応答関数評価装置90およびクロストーク補正装置92を用いて補正する。クロストーク補正装置92からクロストークが補正されたX線強度分布をCT画像再構成演算装置81に供給することにより空間分解能が向上したCT画像が得られるようになる。本実施例の応答関数評価装置90は、実施例1又は実施例2のいずれかの方法で応答関数行列Rを求めればよい。
本実施例によれば、クロストークを表現する応答関数行列を作成し、実際のクロストークした検出器チャネルの信号出力に対して、条件付き確率に関するベイズの定理に基づく推定計算を行うことで、クロストークする前の放射線の角度分布を詳細なピッチで得ることができ、より空間分解能が向上したX線CT画像を得ることができるようになる。
本実施例によれば、規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイからの検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることができる。つまり、検出器チャンネル間で生じるクロストークによる影響を補正することができるため、空間分解能が向上したX線CT画像撮影方法及びX線CT画像装置を実現できるようになる。このようなクロストークは検出器チャネル間の遮蔽材を設置しない検出器アレイや、薄い遮蔽材のみを設置した検出器アレイを用いる場合に特に生じやすいため、このような検出器アレイを用いる場合に特に有効である。
10 X線源装置
11 X線ファンビーム
12 検出器チャネル間のクロストークX線
13 ペンシル状のX線ビーム
21 検出器アレイ
31 多チャンネル測定回路
40 被検体
41 1チャネルコリメータ
51 検出器アレイ入射前のX線強度分布
52 検出器アレイの信号出力
53 クロストークX線による信号出力
54 クロローク補正された検出器アレイの信号出力
60 スキャナテーブル
61 ペンシル状のX線の強度分布
62 ペンシル状のX線の強度分布による検出アレイの信号出力
80 透過像作成装置
81 CT画像再構成演算装置
90 応答関数評価装置
92 クロストーク補正装置
94 演算部
95 ベイズ推定式演算部
96 除算部

Claims (8)

  1. 放射線源から放出され被検体を透過した放射線を検出器アレイで検出して放射線強度分布を求める放射線計測方法であって、
    応答関数評価装置が、前記検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求め、
    クロストーク補正装置が、規格化された応答関数および補正行列を用いて、クロストークが含まれた検出器アレイの信号出力から、ベイズの定理に基づく推定式を用いて検出器アレイ入射前のクロストークが含まれない放射線強度分布を求めることを特徴とする放射線計測方法。
  2. 前記応答関数評価装置は、シミュレーション計算または実測によって前記応答関数を求めることを特徴とする請求項1に記載の放射線計測方法。
  3. 放射線を発生する放射線源装置と、
    被検体を透過した前記放射線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、
    前記検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、
    規格化された応答関数および補正行列を用いて、前記検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正した放射線強度分布を求めるクロストーク補正装置を備えることを特徴とする放射線計測装置。
  4. 前記応答関数評価装置は、シミュレーション計算または実測によって前記応答関数を求めることを特徴とする請求項3に記載の放射線計測装置。
  5. X線を発生するX線源と、
    被検体を透過した前記X線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、
    前記検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、
    規格化された応答関数および補正行列を用いて、前記検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正したX線強度分布を求めるクロストーク補正装置と、
    前記X線強度分布を用いて前記被検体の透過像を作成する透視像作成装置を備えることを特徴とするX線透過像撮影装置。
  6. 前記応答関数評価装置は、シミュレーション計算または実測によって前記応答関数を求めることを特徴とする請求項5に記載のX線透過像撮影装置。
  7. X線を発生するX線源と、
    被検体を透過した前記X線を検出して検出信号を出力する検出器アレイと、
    前記検出器アレイ内のクロストークに関する応答関数を求める応答関数評価装置と、
    規格化された応答関数および補正行列を用いて、前記検出信号から、ベイズの定理に基づく推定式を用いてクロストークの影響を補正したX線強度分布を求めるクロストーク補正装置と、
    前記X線強度分布を用いて前記被検体のCT画像を作成するCT画像再構成装置を備えることを特徴とするX線CT装置。
  8. 前記応答関数評価装置は、シミュレーション計算または実測によって前記応答関数を求めることを特徴とする請求項7に記載のX線CT装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02147883A (ja) * 1988-11-29 1990-06-06 Hitachi Ltd 多チャンネル放射線検出装置
JPH11253432A (ja) * 1998-03-13 1999-09-21 Toshiba Corp X線ct装置
JP2008142146A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc クロストーク補正方法およびx線ct装置
US20100270462A1 (en) * 2008-04-08 2010-10-28 Robert Sigurd Nelson Slit and slot scan, SAR, and compton devices and systems for radiation imaging
JP2015204985A (ja) * 2014-04-18 2015-11-19 株式会社日立製作所 X線エネルギースペクトル測定方法およびx線エネルギースペクトル測定装置およびx線ct装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02147883A (ja) * 1988-11-29 1990-06-06 Hitachi Ltd 多チャンネル放射線検出装置
JPH11253432A (ja) * 1998-03-13 1999-09-21 Toshiba Corp X線ct装置
JP2008142146A (ja) * 2006-12-07 2008-06-26 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc クロストーク補正方法およびx線ct装置
US20100270462A1 (en) * 2008-04-08 2010-10-28 Robert Sigurd Nelson Slit and slot scan, SAR, and compton devices and systems for radiation imaging
JP2015204985A (ja) * 2014-04-18 2015-11-19 株式会社日立製作所 X線エネルギースペクトル測定方法およびx線エネルギースペクトル測定装置およびx線ct装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
吉田 英治: "ベイズ推定を用いた3次元PET検出器自動校正法の開発", 電子情報通信学会技術研究報告, vol. Vol.114 No.482 (MI2014-70), JPN6019023327, March 2015 (2015-03-01), pages 85 - 88, ISSN: 0004060498 *

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