JP4831287B2 - コンピュータ断層撮影装置の散乱及びビームハードニング補正 - Google Patents

コンピュータ断層撮影装置の散乱及びビームハードニング補正 Download PDF

Info

Publication number
JP4831287B2
JP4831287B2 JP2005045204A JP2005045204A JP4831287B2 JP 4831287 B2 JP4831287 B2 JP 4831287B2 JP 2005045204 A JP2005045204 A JP 2005045204A JP 2005045204 A JP2005045204 A JP 2005045204A JP 4831287 B2 JP4831287 B2 JP 4831287B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scatter
image
profile
projection data
scattering
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005045204A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005241641A (ja
Inventor
ヤンフェング・デュ
フォレスト・フランク・ホプキンス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2005241641A publication Critical patent/JP2005241641A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4831287B2 publication Critical patent/JP4831287B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T11/002D [Two Dimensional] image generation
    • G06T11/003Reconstruction from projections, e.g. tomography
    • G06T11/005Specific pre-processing for tomographic reconstruction, e.g. calibration, source positioning, rebinning, scatter correction, retrospective gating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/52Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/5258Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
    • A61B6/5282Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

本発明は、一般に工業用コンピュータ断層撮影(CT)システムに関し、より具体的には工業用部品のコンピュータ断層撮影における散乱補正に関する。
散乱は、対象物とも呼ばれるターゲット材料内での放射線の特定の相互作用によって生じる(X線などイメージング用に好適な)放射線方向の偏向である。この現象は、本質的に金属である場合が多い材料がX線をかなりの程度まで散乱させるので、工業用部品のコンピュータ断層撮影において重要な意味を持ち、対象物全体がX線コーン・ビームで照射される3次元のボリュームコンピュータ断層撮影において特に有害である。対象物の3次元画像が数学的に再構成されると、この空間的に変化する背景が実際の信号に付加されて、明白なアーチファクトを生成する可能性がある。
コンピュータ断層撮影における第1の測定データは、対象物に対して様々な角度から取得されたX線投影セットである。以下において、コンピュータを有する完全なコンピュータ断層撮影システムを利用可能であり、様々な投影ビューにおけるX線強度の分布が、当該技術で公知の方法で検出、測定、及びデジタル化されて、対象物の投影ビューを数値的に表す生投影データを取得すると仮定する。様々な投影ビューを表すこれらの数字配列は、コンピュータによる数字的演算に利用しやすい。投影アレイはその後コンピュータ断層撮影(CT)の公知の方法に従って結合及び処理されて、対象物の2次元(2D)又は3次元(3D)X線減弱マップ、すなわち2D又は3D表示を生成することが更に仮定される。通常、1つの再構成段階における1つの2D画像の生成は平面CTと呼ばれ、1つの再構成段階における1つの3D画像の生成はボリューム又はコーン・ビームCTと呼ばれる。更に、調整スライド位置間の適切な段階を具備する一連の2D画像は、単独コーン・ビーム再構成で生成された3D画像セットに匹敵する。通常、平面CTシステムは線形検出器アレイを使用し、コーン・ビームCTシステムは領域検出器アレイを使用する。
以下において、3D画像の参照は、3D画像のサブセットとして2D画像の参照も含蓄的に含むことになる。更にコンピュータは、対象物のボクセル化表示の再構成及び分析の手段を提供するように構成される。
様々な投影ビューにある散乱X線によって発生する画像アーチファクトは、散乱によって発生する全投影の各ポイントにおける全体信号の一部を推定し、次いで画像再構成段階で投影が結合される前にデジタル処理で差し引かれる場合には補正することができる。
これまでのところ、この散乱構成要素を推定する手法は、対象物とX線検出器との間に配置された変動幅の一連のX線遮断スリットを用いて補助的に測定することを含む。この論理的根拠は、散乱信号がある範囲の方向から入射するので、一連のスリット測定をゼロ幅に外挿することにより推定可能であることである。しかしながら、かかる方法は、大規模な追加のハードウェアを必要とし、粗いグリッドの散乱推定しか得られない。更に重要なことに、この手法は困難であり正確な散乱推定を得ることは不可能であることが実験的に証明された。
別の手法には、対象物幾何形状の事前知識を用いて物理的原則から散乱信号を計算することが含まれる。正確な散乱推定は、モンテ・カルロ輻射輸送コンピュータ・コードを用いたこのような方法で可能である。しかしながら、かかる推定は計算が困難であり、大量の処理時間がかかり、その要件は、工業用イメージングの場合のように様々な異なる複雑な形状が撮像される場合には極めて困難なものである。
特開2003−513727号公報
従って、ほぼ正確な散乱補正推定が得られ、計算時間に関して有利な方法及びシステムを有することが望ましい。
要約すると、本発明の1つの実施形態によれば、散乱を補正する方法は、複数の投影データから対象物の3D画像のボクセル化表示を得る段階を含む。対象物の単独散乱プロファイルが対象物の3D画像のボクセル化表示を用いて計算される。対象物の全体散乱プロファイルが単独散乱プロファイル及び調整係数を用いて求められ、全体散乱プロファイルを用いて投影データが補正して散乱補正投影データを得る。
別の実施形態によれば、ビームハードニング補正方法は、X線スペクトル、少なくとも1つの対象物材料、及び検出器スペクトル応答についての幾つかの減弱データをシミュレートする段階を含む。減弱データに関数が当てはめられて減弱曲線を得る。対象物の幾つかの投影データを減弱曲線を用いて補正し、幾つかのビームハードニング補正投影データを得る。ビームハードニング補正画像データから対象物の補正画像を再構成する。
別の実施形態によれば、対象物の画像における散乱を補正するイメージング・システムは、対象物にX線を照射するよう適合された少なくとも1つの放射線源を含む。検出器構成は、放射線源から対象物を透過したX線を受信するように放射線源に対して配置され、コンピュータ・システムが検出器構成に結合される。コンピュータ・システムは更に、検出器構成から幾つかの投影データを収集し、投影データから3D画像を生成するように構成される。コンピュータ・システムは更に、対象物の3D画像のボクセル化表示を生成し、対象物の3D画像のボクセル化表示を用いて対象物の単独散乱プロファイルを計算し、単独散乱プロファイル及び調整係数を用いて対象物の全体散乱プロファイルを求め、全体散乱プロファイルを用いて投影データを補正して、散乱補正投影データ及び散乱補正3D画像の少なくとも1つをそれぞれ得る。
本発明のこれら及び他の特徴、態様、並びに利点は、図面全体を通して同じ符号が同じ部分を表す添付図面を参照して以下の詳細な説明を読むと、より理解されるであろう。
図1は、本発明の実施形態による対象物20の画像の散乱を補正するイメージング・システム50を示す。少なくとも1つの放射線源40が、例えばX線であるイメージングに好適な放射線に対象物20を曝露するように適合される。検出器構成42が、放射線源40から対象物20を透過するX線を受信するよう放射線源40に対して配置される。対象物を透過するX線は、生投影データ10と呼ばれる2次元インプレッションを検出器構成42上に投影する。コンピュータ・システム44が検出器構成42に結合され、検出器構成42から生投影データ10のセットを収集し、生投影データ10から3次元(3D)画像12を生成するよう構成される。投影データ10は、アプリケーションに応じた異なるビューからの幾つかの投影から構成され、場合によっては、この数は180から2500にまで及ぶ。しかしながら、投影データ10に含まれる投影ビューの数は、本実施形態に対して限定されない。コンピュータ・システム44の機能性は、例えば図2に示されている。生投影データ10は平面生データ又はコーン・ビーム生データ(イメージング・システムはそれぞれ平面CTシステム又はボリュームCTシステムである)に関連することができ、いずれの場合でもコンピュータ・システム40は、対象物20の3D画像12を生成するように適切に構成されることを当業者であれば本明細書で理解するであろう。コンピュータ・システム44は更に、例えば図2に示されるように、対象物20の3D画像12のボクセル化表示14を生成し、この対象物20のボクセル化表示14を用いて対象物20の単独散乱プロファイル13を計算するように構成される。対象物20の全体散乱プロファイル15は、単独散乱プロファイル13と、単独散乱プロファイルを対象物20の多散乱プロファイルに関連付ける調整係数とを用いて得られる。コンピュータ・システム44は更に、上述のようにして全体散乱プロファイルを計算し、散乱補正3D画像16を得るように構成される。
本明細書で用いられる「適合される」、「構成される」、及びこれに類するものは、各要素が協働して記載の効果をもたらすことができる、要素間の機械的又は構造的接続性を意味しており、これらの用語はまた、アナログ又はデジタル・コンピュータ、又は、所与の入力信号に応答して出力するシーケンスを実行するようにプログラムされた特定用途向け集積回路ASICのような特定用途向けデバイスなどといった電子要素の動作性能を表している。
本開示のより具体的な実施形態によれば、図2に示されるように、工業用CTにおける散乱を補正する方法は、対象物20の3D画像12のボクセル化表示14を取得することを含む。3D画像12は生投影データ10から再構成される。対象物の単独散乱プロファイル13は、分析的方法11により対象物20のボクセル化表示14を用いて以下のように計算される。放射線源40とボクセル22、24との間の減弱度を計算することにより、各ボクセル22、24について一次ビーム強度を計算することができる。(ボクセルは例えば図3に示される。)それぞれのボクセルの散乱断面及び材料組成並びに密度を用いて、各ボクセルについての全体散乱X線強度を計算することができる。次いで、散乱角分布、検出器ピクセル立体角、散乱X線減弱度、及び検出器応答関数を用いて、各検出器ピクセル38の単独散乱プロファイルを分析的に計算する。こうして得られた単独散乱プロファイルを用いて、単独散乱プロファイルの関数として扱うことができる全体散乱プロファイル15を求める。
全体散乱プロファイルは、単独散乱と多散乱プロファイルの総和である。様々な技法(例えばモンテ・カルロ法)を用いて、多散乱プロファイルがほとんどの工業事例の単独散乱プロファイルの形状に類似していることを実証することができる。この類似性により、多散乱プロファイルは、単独散乱プロファイルと調整係数の積として近似することができる。調整係数は、定数又は変数関数とすることができ、他の技法の中でもとりわけ次の3つの異なる手法:(1)本明細書で提案される第1の段階である対象物20の画質の最適化、(2)外側のコリメートされた検出器を用いた較正、又は(3)対象物全体を透過するビーム全体の全体減弱推定値の導出、によって実行される。較正処理(手法(2))において、幾つかの外側検出器は、X線源40からの任意の第1のビームから遮断される。これらの検出器から記録される信号は、散乱寄与だけに起因するものである。実測散乱強度とこれらの検出器の算出単独散乱寄与との間の差異を比較することによって、調整係数を容易に求めることができる。手法(3)においては、全ての光線の全体の減弱が累積され、対象物を出る散乱X線によって受ける減弱を含む広範囲な近似の単独散乱係数が得られる。画質の最適化(すなわち手法(1))は、柔軟性があり正確で、通常は他の手法よりも比較的少ない労力及び時間しか必要としない。この手法において、実験的に得られた投影データ10は、全体散乱プロファイルを用いて補正され、対象物20の散乱補正3D画像16が得られる。補正は比較的均一な背景を得るように試みることで促進され、比較的均一な背景を得るように求められる均一度は特定用途に応じて選択可能なパラメータである。
より具体的な実施形態によれば、全体散乱を投影データ10から差し引いて、散乱補正投影データ18を取得し、次いで、これを用いて3D画像16を再構成する。これは次のように実施される。全体散乱は単独散乱と多散乱との合計として表され、多散乱は、単独散乱と調整係数との積として表される。全体散乱プロファイルを投影データ10から差し引いて、散乱補正3D画像16を得る。
手法1のより具体的な実施形態によれば、調整係数は反復して求められる。例えば、対象物20の補正3D画像16を分析する。例えば、画質の最適化を用いて補正3D画像16を分析する。調整係数の全てのバリエーションにおいて、補正3D画像16をチェックして、期待される改善が得られる程度まで求める。改善には、期待されるべき場合における断面不透明度の均一性の確立、及び/又はエッジの丸み付け及び延伸したストレート・エッジなどの対象物の特徴部と並ぶ縞を含めた、このような影響に起因するCT画像に特徴的に明らかなアーチファクトの低減を含むことができる。明白な改善が得られない場合には、調整係数を改良し、単独散乱プロファイルとこの調整係数を用いて、全体散乱プロファイルを再計算する。改良された全体散乱プロファイルを用いて投影データ10を補正して散乱補正3D画像16を取得する。これらの段階は、満足できる補正画像16が得られるまで繰り返される。
上記で検討された散乱補正方法は、有利には他の効率改善技法を組み込むことが可能である。図3に示される実施形態によれば、対象物20のボクセル化表示14は、幾つかのボクセル22を結合することにより得られ、個別の大きなボクセル24を形成する。関連する実施形態において、幾つかのボクセル22は、大きなボクセル24を形成するように再構成することができる。この結合又は再構成は、ボクセルの数を低減し計算を迅速化する。散乱がその性質上、材料の局所的分布ではなく全体的分布に依存する低周波作用であることに起因して、この段階では、結果として得られた算出散乱プロファイルの精度に最小限の影響しか与えないことが期待される。別の実施形態によれば、効率改善技法は、投影データ10から選択された投影ビューを補正すること、次にこの投影ビューの散乱補正を補間することを含み、介在ビューの散乱補正を推定する。例えば、10度間隔で等しく間隙を空けた36個の投影の散乱プロファイルを生成することにより、360度全体に広がる投影ビューが対象範囲となる。その後、残りのビューの散乱プロファイルは36個の投影ビューの散乱プロファイルから補間され、これが散乱補正処理を有利に迅速化する。
図4に示される別の実施形態によれば、対象物20のボクセル化表示14の取得は、3D画像12の閾値決定を含む。検査される材料の測定値であるCT値がボクセル22、26、28の各々について求められ、閾値と比較される。この比較に基づいて、ボクセル26、28の一部が除去され、対象物のボクセル化表示を単純化する。例えば、閾値は空気のCT値に設定することができ、これに応じて、空気しか含まないボクセルは、X線の任意の減弱又は散乱に有意には寄与しないので全て除去することができる。従って、対象物の画像及び散乱に有意に寄与しないボクセルが排除され、計算時間が短縮される。
コンピュータ・システム44は、上述のように散乱補正の方法及び技法を実行するように適切に構成されることは理解される。要約すると、イメージング・システム50は、上述のように、検出器構成42から幾つかの生投影データ10を受信するよう適合され、更に全体散乱プロファイルを用いて投影データ10を補正して補正3D画像16を生成するよう適合されたコンピュータ・システム44を含む。コンピュータ・システム44は、様々な数字的演算を実行するように構成される。数学的演算は、単独散乱プロファイルの計算、単独散乱プロファイルを調整係数で乗算することによる対象物20の全体散乱プロファイルの計算、投影データから全体散乱プロファイルを差し引くことにより得られる補正投影データ10の計算、及び散乱補正3D画像16の再構成を含む。数学的演算はまた、幾つかのボクセル22を結合して大きなボクセル24を形成することにより対象物20のボクセル化表示14を取得すること、CT値と閾値との比較に基づいてボクセル26、28を除去して対象物のボクセル化表示14を単純化することを含む。コンピュータ・システム44は更に、補正画像16を分析し、該分析に基づいて調整係数を改良し、単独散乱プロファイルと調整係数を用いて対象物20の全体散乱プロファイルを再計算し、全体散乱プロファイルを用いて投影データ10を補正することにより対象物の補正画像16を繰り返し計算し、後で散乱補正3D画像データ16を再構成するのに用いられる補正投影データ18のセットを得るように構成される。
散乱に加えて、CT画像は、広帯域又は多エネルギX線源の使用に起因する「ビームハードニング」作用により劣化する。例えば図5に示されるように、入射エネルギに対する吸収係数グラフ46によれば、低エネルギX線フォトンは優先的に吸収される。その結果、対象物を通る経路長が長い程減弱が少ないことを示すようになる。経路長47に対する理想的な強度減弱と、経路長48に対する実際の強度減弱を示す例示的なビームハードニング曲線が図6に示されている。ビームハードニング曲線は、X線スペクトル、対象物材料、及び検出器スペクトル応答に依存する。本発明の別の実施形態によれば、ビームハードニング補正方法が提供される。この方法は、X線スペクトル、少なくとも1つの対象物材料、及び検出器スペクトル応答に対する減弱データのセットをシミュレートすることを含む。関数を減弱データに当てはめて、減弱曲線を得る。例えば、3次多項式などの多項式適合を使用することができる。対象物20の投影データ10のセットは減弱曲線を用いて補正され、ビームハードニング補正投影データのセットを得る。対象物の補正画像は、ビームハードニング補正投影データから再構成される。
本明細書で説明された散乱及びビームハードニング補正方法及びシステムは、平面(2D)又はコーン・ビーム(3D)CTシステムで直面する散乱に関して説明してきたが、本方法は、とりわけ線形アレイ又は領域検出器を具備する、例えば放射線イメージングなどの放射線イメージング全てに適用されることは当業者であれば理解するであろう。
本発明の特定の特徴のみを本明細書で示して説明してきたが、当業者であれば多くの修正及び変更を想起するであろう。なお、特許請求の範囲に記載された符号は、理解容易のためであってなんら発明の技術的範囲を実施例に限縮するものではない。
本発明の1つの実施形態によるイメージング・システムの概略図。 本発明の1つの実施形態による散乱補正の方法を示す図。 大きなボクセルを形成するボクセルの結合を示す図。 閾値より低いCT値を有するボクセルの除去を示す図。 例示的なX線減弱曲線を示す図。 例示的なビームハードニング曲線を示す図。
符号の説明
10 投影データ
12 3D画像
14 ボクセル化表示

Claims (8)

  1. コンピュータ断層撮影(CT)システムにより得た複数の投影データ(10)から対象物(20)の3D画像(12)のボクセル化表示(14)を取得する段階と、
    前記対象物(20)の3D画像(12)のボクセル化表示(14)を用いて前記対象物(20)の一回散乱プロファイルを計算する段階と、
    前記一回散乱プロファイル及び調整係数を用いて、前記一回散乱プロファイル及び多重散乱プロファイルの合計を表す、前記対象物(20)の全体散乱プロファイルを求める段階と、
    前記全体散乱プロファイルを用いて前記投影データ(10)を補正し、散乱補正投影データ(18)を取得する段階と、
    を含む散乱補正方法。
  2. 前記散乱補正投影データ(18)を再構成して散乱補正3D画像(16)を取得する段階を更に含む請求項1に記載の方法。
  3. 前記対象物の全体散乱プロファイルを求める前記段階が、前記一回散乱プロファイルを調整係数と乗算する段階を含む請求項1又は2に記載の方法。
  4. 多重散乱プロファイルが前記一回散乱プロファイルと調整係数との乗算により得られることを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
  5. 前記投影データ(10)の補正が、該投影データ(10)から前記全体散乱プロファイルを差し引いて前記散乱補正投影データ(18)を取得する段階を含む請求項1又は2に記載の方法。
  6. 前記対象物(20)の3D画像(12)のボクセル化表示(14)を取得する前記段階が、複数のボクセル(22)を結合して個別の大きなボクセル(24)を形成する段階を更に含む請求項1乃至5のいずれかに記載の方法。
  7. 前記対象物(20)の3D画像(12)のボクセル化表示(14)が複数のボクセル(22、26、28)を含み、前記対象物の3D画像のボクセル化表示を取得する前記段階が更に、
    前記3D画像(12)の閾値を求める段階と、
    前記ボクセル(22、26、28)の各々のCT値を前記閾値と比較する段階と、
    前記比較に基づいて前記複数のボクセル(26、28)を除去して前記対象物(20)のボクセル化表示(14)を単純化する段階と、
    を含む請求項1乃至5のいずれかに記載の方法。
  8. 前記対象物の散乱補正3D画像(16)を分析する段階と、
    前記分析に基づいて調整係数を改良する段階と、
    前記一回散乱プロファイル及び前記調整係数を用いて前記対象物の全体散乱プロファイルを再計算する段階と、
    前記全体散乱プロファイルを用いて前記投影データ(10)を補正し前記散乱補正投影データ(18)を取得する段階と、
    を更に含み、
    前記分析、改良、再計算、及び補正段階が、満足できる散乱補正画像が得られるまで繰り返される請求項1乃至7のいずれかに記載の方法。

JP2005045204A 2004-02-23 2005-02-22 コンピュータ断層撮影装置の散乱及びビームハードニング補正 Expired - Fee Related JP4831287B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/784,099 2004-02-23
US10/784,099 US7065234B2 (en) 2004-02-23 2004-02-23 Scatter and beam hardening correction in computed tomography applications

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005241641A JP2005241641A (ja) 2005-09-08
JP4831287B2 true JP4831287B2 (ja) 2011-12-07

Family

ID=34711892

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005045204A Expired - Fee Related JP4831287B2 (ja) 2004-02-23 2005-02-22 コンピュータ断層撮影装置の散乱及びビームハードニング補正

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7065234B2 (ja)
EP (1) EP1566771A1 (ja)
JP (1) JP4831287B2 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005091225A1 (en) * 2004-03-17 2005-09-29 Philips Intellectual Property & Standards Gmbh Beam-hardening and attenuation correction for coherent-scatter ct
WO2007007247A1 (en) * 2005-07-07 2007-01-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multiple scatter correction
WO2007044417A2 (en) * 2005-10-06 2007-04-19 Imaging Sciences International, Inc. Scatter correction
DE102005048397A1 (de) * 2005-10-10 2007-04-12 Siemens Ag Verfahren zur Strahlungskorrektur eines CT-Systems
DE102005053498B4 (de) * 2005-11-09 2008-07-24 Siemens Ag Verfahren zur Beschleunigung der Streustrahlungskorrektur in einem Computertomographiesystem sowie Computertomographiesystem zur Durchführung des Verfahrens
FR2897255B1 (fr) 2006-02-10 2008-03-14 Commissariat Energie Atomique Procede d'estimation du rayonnement diffuse en tomographie par rayons x
CN101473348A (zh) * 2006-06-22 2009-07-01 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于误差补偿的方法和系统
US8000435B2 (en) * 2006-06-22 2011-08-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method and system for error compensation
US7336760B2 (en) * 2006-07-28 2008-02-26 Varian Medical Systems Technologies, Inc. Methods, systems, and computer-program products to estimate scattered radiation in cone-beam computerized tomographic images and the like
US8045776B2 (en) * 2007-03-06 2011-10-25 General Electric Company Geometry-dependent filtering in CT method and apparatus
DE102007020065A1 (de) * 2007-04-27 2008-10-30 Siemens Ag Verfahren für die Erstellung von Massenbelegungsbildern anhand von in unterschiedlichen Energiebereichen aufgenommenen Schwächungsbildern
EP2009592B1 (de) 2007-06-25 2013-03-06 EMPA Eidgenössische Materialprüfungs- und Forschungsanstalt Verfahren zur Streukorrektur von röntgentomografischen Daten
US7812314B1 (en) 2007-11-06 2010-10-12 The United Sttes of America as represented by the United States Department of Energy Flat panel X-ray detector with reduced internal scattering for improved attenuation accuracy and dynamic range
EP2283464B1 (en) * 2008-05-21 2015-01-21 Koninklijke Philips N.V. Method and apparatus for scatter correction
CN102160085B (zh) 2008-09-16 2013-11-20 皇家飞利浦电子股份有限公司 成像装置
US8184767B2 (en) * 2008-12-10 2012-05-22 General Electric Company Imaging system and method with scatter correction
US8488902B2 (en) * 2009-01-29 2013-07-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Detection values correction apparatus
FR2964195B1 (fr) * 2010-08-31 2012-09-28 Commissariat Energie Atomique Procede d'extraction de spectre de diffuse premier, dispositif et programme d'ordinateur associes
WO2012050510A1 (en) * 2010-10-11 2012-04-19 Flatfrog Laboratories Ab Touch determination by tomographic reconstruction
EP2847620B1 (de) * 2012-05-07 2020-07-01 Werth Messtechnik GmbH Computertomografie-verfahren und anordnung zur bestimmung von merkmalen an einem messobjekt
JP5924232B2 (ja) * 2012-10-24 2016-05-25 株式会社島津製作所 散乱線補正方法、画像処理装置および断層撮影装置
US9091628B2 (en) 2012-12-21 2015-07-28 L-3 Communications Security And Detection Systems, Inc. 3D mapping with two orthogonal imaging views
US9589373B2 (en) * 2013-02-05 2017-03-07 Carestream Health, Inc. Monte carlo modeling of field angle-dependent spectra for radiographic imaging systems
GB2521409A (en) * 2013-12-18 2015-06-24 Elekta Ab Target-specific dose & scatter estimation in CT images
KR101613391B1 (ko) 2015-02-11 2016-04-19 (의료)길의료재단 치료 계획용 ct 영상을 이용한 산란선 제거 방법 및 시스템
US10746671B2 (en) 2015-03-06 2020-08-18 Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh Imaging system and method with scatter correction
FR3042285B1 (fr) * 2015-10-09 2017-12-01 Commissariat Energie Atomique Procede de correction d’un spectre
JP2017176297A (ja) * 2016-03-29 2017-10-05 キヤノン株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラム
DE102016217984A1 (de) * 2016-09-20 2018-04-05 Siemens Healthcare Gmbh Sinogrammbasierte Streustrahlenkorrektur in der Computertomographie
JP6707046B2 (ja) * 2017-03-17 2020-06-10 富士フイルム株式会社 断層像処理装置、方法およびプログラム
CN111096761B (zh) * 2018-10-29 2024-03-08 上海西门子医疗器械有限公司 修正楔形滤波器散射的方法、装置和相关设备

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2939146A1 (de) * 1979-09-27 1981-04-16 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Verfahren zur untersuchung eines koerpers mit durchdringender strahlung
US6163589A (en) 1998-06-13 2000-12-19 General Electric Company Monte Carlo scatter correction method for computed tomography of general object geometries
US6408049B1 (en) 1999-11-09 2002-06-18 General Electric Company Apparatus, methods, and computer programs for estimating and correcting scatter in digital radiographic and tomographic imaging
EP1328189B1 (en) * 2000-05-16 2016-08-24 Dario B. Crosetto Apparatus for anatomical and functional medical imaging
US6879715B2 (en) 2001-12-05 2005-04-12 General Electric Company Iterative X-ray scatter correction method and apparatus
US6633626B2 (en) 2002-02-01 2003-10-14 General Electric Company Methods and apparatus for correcting scatter
US7620674B2 (en) * 2003-03-07 2009-11-17 Sensys Medical, Inc. Method and apparatus for enhanced estimation of an analyte property through multiple region transformation
US7092482B2 (en) * 2003-04-11 2006-08-15 Fischer Imaging Corporation Signal profiling for medical imaging systems
US7352887B2 (en) * 2003-04-11 2008-04-01 Hologic, Inc. Scatter rejection for composite medical imaging systems
US7433507B2 (en) * 2003-07-03 2008-10-07 Ge Medical Systems Global Technology Co. Imaging chain for digital tomosynthesis on a flat panel detector
US6950494B2 (en) * 2003-09-11 2005-09-27 Siemens Medical Solutions, Usa Method for converting CT data to linear attenuation coefficient map data
US6921902B2 (en) * 2003-10-07 2005-07-26 National Tsing Hua University Scatter correction device for radiative tomographic scanner
US7653229B2 (en) * 2003-12-23 2010-01-26 General Electric Company Methods and apparatus for reconstruction of volume data from projection data
US7020240B2 (en) * 2003-12-31 2006-03-28 General Electric Company Method and apparatus for measuring matter properties
JP3950855B2 (ja) * 2004-01-07 2007-08-01 ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー 散乱測定方法、散乱補正方法およびx線ct装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20050185753A1 (en) 2005-08-25
JP2005241641A (ja) 2005-09-08
US7065234B2 (en) 2006-06-20
EP1566771A1 (en) 2005-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4831287B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置の散乱及びビームハードニング補正
JP4656413B2 (ja) 予備補正を備えたct再構成方法及びシステム
JP4711662B2 (ja) 多モードエッジ情報を用いる反復ct再構成方法
Davis et al. Artefacts in X-ray microtomography of materials
US7747057B2 (en) Methods and apparatus for BIS correction
CN110072459B (zh) 用于自校准的自校准ct检测器、系统和方法
US9198632B2 (en) Method for scattering correction for sparsely distributed stationary detectors and rotating X-ray source
US7519143B2 (en) Method and system for generating a scatter corrected X-ray image
JP7181832B2 (ja) Alvarez-Macovski減衰モデルを使用した断層像再構成におけるX線ビームハードニング補正
US20130121553A1 (en) Method and apparatus for statistical iterative reconstruction
US20160314584A1 (en) Target-specific dose and scatter estimation in ct images
JP2019532699A (ja) スペクトルコンピュータ断層撮影法(ct)のスペクトル較正
Lee et al. A single scatter model for x-ray CT energy spectrum estimation and polychromatic reconstruction
Kole et al. Evaluation of the ordered subset convex algorithm for cone-beam CT
US20220042932A1 (en) Estimating Background Radiation from Unknown Sources
US20080226019A1 (en) Multiple Scatter Correction
US7676074B2 (en) Systems and methods for filtering data in a medical imaging system
JP2022113115A (ja) ビームハードニング補正方法、x線ct装置及びビームハードニング補正プログラム
CN108065950B (zh) 一种放射成像方法及其系统
US20220296202A1 (en) Self calibration method and apparatus for correcting offset angle in a photon counting computed tomography system
US11263792B1 (en) Calibration method for a spectral computerized tomography system
JP6281640B2 (ja) X線装置、画像形成方法、構造物の製造方法、及び構造物製造システム
JP4062232B2 (ja) X線ct装置及びx線ct装置による撮像方法
Cant et al. Continuous digital laminography
Krumm et al. Beam hardening correction of multi-material objects

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100706

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20101006

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20101006

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20101006

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20101012

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101013

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110118

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110325

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110816

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110906

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140930

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees