JPH0917841A - ピックアップ装置及びチップ位置決め方法 - Google Patents

ピックアップ装置及びチップ位置決め方法

Info

Publication number
JPH0917841A
JPH0917841A JP16078095A JP16078095A JPH0917841A JP H0917841 A JPH0917841 A JP H0917841A JP 16078095 A JP16078095 A JP 16078095A JP 16078095 A JP16078095 A JP 16078095A JP H0917841 A JPH0917841 A JP H0917841A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
chips
pitch
distance
recognition data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16078095A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3822923B2 (ja
Inventor
Nobuhiro Hori
展啓 堀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Machinery Inc
Original Assignee
Nichiden Machinery Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nichiden Machinery Ltd filed Critical Nichiden Machinery Ltd
Priority to JP16078095A priority Critical patent/JP3822923B2/ja
Publication of JPH0917841A publication Critical patent/JPH0917841A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3822923B2 publication Critical patent/JP3822923B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 チップ間距離が部分的に異なっても、最適量
のピッチ移動によりすべてのチップを正確かつ迅速に位
置決めすることにある。 【構成】 可動テーブル上に搭載されて所定ピッチで格
子状に整列配置された多数のチップをカメラにより撮像
し、そのカメラによる映像信号を画像処理部で画像処理
して得られた認識データに基づいて、前記可動テーブル
を移動させながらチップを所定ポジションに配置するに
際して、直前に位置する複数のチップTn- 1 ,Tn-2
n-3 の認識データからチップ間距離Pn ,Pn-1 ,P
n-2 及び配列方向を算出し、その算出結果に基づいて次
に認識対象とするチップTn+1 までのチップ間距離P
n+1 及び配列方向を予測し、その予測データに基づいて
可動テーブルをピッチ移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はピックアップ装置及びチ
ップ位置決め方法に関し、詳しくは、電子部品の製造で
使用されるピックアップ装置、及びチップのピックアッ
プ時にチップを位置決めするチップ位置決め方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体装置の製造におけるマウ
ント工程では、半導体ウェーハから分割された多数のチ
ップ(半導体ペレット)を画像認識した上で、良品チッ
プのみをリードフレーム上にマウントしている。
【0003】具体的には、図5に示すように半導体ウェ
ーハ1は展延可能な粘着シート2上に貼着された上で、
ダイシングにより各チップTごとに分割される。その上
で、図6に示すように粘着シート2を放射状に展延する
ことにより多数のチップTを所定ピッチで離間した状態
で整列配置して粘着シート2をリング状枠体に張設して
いる。そして、この粘着シート2が張設されたリング状
枠体(ウェーハリング)を図7に示すピックアップ装置
の可動テーブル7にセッティングしている。
【0004】ピックアップ装置では、同図に示すように
ウェーハリング3上の多数のチップTを予め固定値とし
て設定したチップ間距離に基づいて制御部6によりピッ
チ移動して、認識対象とする一つのチップTをピックア
ップポジションに配置すると共に光学系4(カメラを含
む)で撮像し、その撮像により得られた映像信号を画像
処理部5で画像処理する。この画像処理は、映像信号を
デジタル化(例えば二値化)しフレームメモリ(図示せ
ず)に画像データとして記憶すると共にそのデータに基
づいてチップの良否及び位置を画像認識する。この画像
認識データに基づいて良品チップのみを制御部6により
可動テーブル7を移動させながら正確なピックアップポ
ジションに位置決めした上でアーム系8のコレットによ
りピックアップする。このピックアップ動作の完了後、
又は、上記画像認識で不良チップを検出した場合、次の
認識対象とするチップTを同様にピッチ移動によりピッ
クアップポジションに配置した上で前述した動作を繰り
返す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来、認識
対象とするチップをピックアップポジションに配置する
際に行なわれるピッチ移動は、最初に予め設定されて固
定値であるチップ間距離Pに基づいている。
【0006】一方、ピックアップ装置の可動テーブル7
上にセッティングされるウェーハリング3は、分割され
た多数のチップTを貼着した粘着シート2を放射状に展
延したものであるため、粘着シート2の展延状態が中心
部分と周辺部分とで異なり、その中心部分と周辺部分と
でチップ間距離Pが異なってくる。
【0007】また、チップ間距離Pが異なるのは、粘着
シート2の展延による中心部分と周辺部分とに限らな
い。即ち、コレットによるチップTの吸着時、チップT
が粘着シート2から容易に剥離するように突き上げピン
により粘着シート2をその下方から突き上げるようにし
ているが、この突き上げにより粘着シート2が局部的に
引き延ばされることによっても、チップ間距離Pが異な
ることもある。
【0008】このように中心部分と周辺部分や一部分で
チップ間距離Pが異なっていると、前述したように最初
に予め設定された固定のチップ間距離Pに基づいてピッ
チ移動させていたのでは、設定されたチップ間距離と大
きなずれが生じることがある。この場合、図9に示すよ
うにチップ間距離Pによるピッチ移動後(ステップ20
1)、チップ位置の検出により(ステップ202)、チ
ップ位置決めするための可動テーブル7の移動量も大き
くなり(ステップ203)、チップ位置の検出(ステッ
プ204)により位置決めを完了するまでに無駄な動作
を必要とし、インデックスの向上を図ることが難しい。
【0009】そこで、本発明は上記問題点に鑑みて提案
されたもので、その目的とするところは、チップ間距離
が部分的に異なっても、最適量のピッチ移動によりすべ
てのチップを正確かつ迅速に位置決めし得るピックアッ
プ装置及びチップ位置決め方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の技術的手段として、本発明方法は、所定ピッチで格子
状に整列配置された多数のチップが搭載された可動テー
ブルをピッチ移動させながら前記チップを撮像し、その
映像信号を画像処理して得られた認識データに基づい
て、良品チップのみを所定ポジションに位置決めするに
際して、直前に位置する複数のチップの認識データから
チップ間距離及び配列方向を算出し、その算出結果に基
づいて次にピッチ移動して認識対象とするチップまでの
チップ間距離及び配列方向を予測し、その予測データに
基づいて可動テーブルをピッチ移動させることを特徴と
する。
【0011】尚、本発明方法では、直前に位置する複数
のチップのうち、良品のチップを選択してそれらの認識
データからチップ間距離及び配列方向を算出する手法、
また、直前に位置して多列に配置された複数のチップに
基づく認識データから列間のチップ間距離及び配列方向
を算出する手法を採用することが望ましい。
【0012】更に、本発明のピックアップ装置は、所定
ピッチで格子状に整列配置された多数のチップが搭載さ
れた可動テーブルをピッチ移動させながら前記チップを
光学系により撮像して画像処理部で画像認識し、その認
識データに基づいて良品チップのみを所定ポジションに
位置決めした上でアーム系によりピックアップする装置
において、直前に位置する複数のチップの認識データか
らチップ間距離及び配列方向を算出し、その算出結果に
基づいて次にピッチ移動して認識対象とするチップまで
のチップ間距離及び配列方向を予測し、その予測データ
に基づいて可動テーブルをピッチ移動させる制御部を具
備したことを特徴とする。
【0013】
【作用】本発明では、直前に位置する複数のチップの認
識データからチップ間距離及び配列方向を算出し、その
算出結果に基づいて次に認識対象とするチップまでのチ
ップ間距離及び配列方向を予測し、その予測データに基
づいて可動テーブルをピッチ移動させるようにしたか
ら、予測データによりチップ間距離及び配列方向の傾向
を把握することができ、チップ間距離が部分的に異なっ
ても、最適量のピッチ移動ですべてのチップを正確かつ
迅速に位置決めすることができる。
【0014】
【実施例】本発明の一実施例を図1乃至図4に示して説
明する。尚、図5乃至図9と同一部分には同一参照符号
を付して重複説明は省略する。
【0015】本発明のピックアップ装置では、従来と同
様(図7参照)、可動テーブル7上に搭載されたウェー
ハリング3の粘着シート2上で所定ピッチでもって格子
状に整列配置された多数のチップTを制御部6によりピ
ッチ移動して、認識対象とする一つのチップTをピック
アップポジションに配置すると共に光学系4(カメラを
含む)で撮像し、その撮像により得られた映像信号を画
像処理部5で画像処理する。この画像処理は、映像信号
をデジタル化(例えば二値化)しフレームメモリ(図示
せず)に画像データとして記憶すると共にそのデータに
基づいてチップの良否及び位置を画像認識する。この画
像認識データに基づいて良品チップのみを制御部6によ
り可動テーブル7を移動させながら正確なピックアップ
ポジションに位置決めした上でアーム系8のコレットに
よりピックアップする。このピックアップ動作の完了
後、又は、上記画像認識で不良チップを検出した場合、
次の認識対象とするチップTを同様にピッチ移動により
ピックアップポジションに配置した上で前述した動作を
繰り返す。
【0016】本発明の特徴は、前記制御部6によるピッ
チ移動が、図2に示すように現時点でピックアップポジ
ションに位置するチップTn の直前に位置する複数(例
えば、図では3個)のチップTn-1 ,Tn-2 ,Tn-3
認識データからチップ間距離Pn ,Pn-1 ,Pn-2 及び
配列方向を算出し、その算出結果に基づいて次にピック
アップポジションにピッチ移動して認識対象とする良品
チップTn+1 までのチップ間距離Pn+1 及び配列方向を
予測し、その予測データに基づいて行なわれることにあ
る。
【0017】前述したチップ間距離Pn ,Pn-1 ,P
n-2 及び配列方向の算出は、例えば、チップ間距離P
n ,Pn-1 ,Pn-2 に関しては、直前に位置する複数の
チップT n-1 ,Tn-2 ,Tn-3 のチップ間距離Pn ,P
n-1 ,Pn-2 の平均値を算出することにより得られ、ま
た、配列方向に関しては、直前に位置する複数のチップ
n-1 ,Tn-2 ,Tn-3 の位置の最小二乗法により直線
近似することにより算出することができる。このチップ
間距離Pn ,Pn-1 ,Pn-2 及び配列方向の算出方法と
しては、その他に種々の手法が存在する。
【0018】尚、本発明では、直前に位置する複数のチ
ップTn-1 ,Tn-2 ,Tn-3 のすべてについてそれらの
認識データからチップ間距離Pn ,Pn-1 ,Pn-2 及び
配列方向を算出する以外にも、例えば、直前に位置する
複数のチップTn-1 ,Tn-2,Tn-3 のうち、良品のチ
ップを選択してそれらの認識データからチップ間距離及
び配列方向を算出するようにしてもよい。このようにす
れば、チップの不良状態による位置検出精度の悪化等の
影響を受けず、高精度に次に認識対象とすべきチップT
n+1 までのチップ間距離Pn+1 及び配列方向を予測でき
るという利点がある。
【0019】また、通常、チップのピックアップ時での
位置決めは、ウェーハ一枚分について列ごとのピッチ移
動(X方向)と、図3に示すようにその列ごとのピッチ
移動後に方向転換する際の列間でのピッチ移動(Y方
向)とについて行なわれる。そこで、多列に亘って直前
に位置する複数のチップの認識データに基づいて、列ご
と(X方向)のチップ間距離及び配列方向だけでなく、
列間(Y方向)のチップ間距離P’及び配列方向を算出
するようにしてもよい。このようにすれば、列間での方
向転換時にもチップをピッチ移動により正確かつ迅速に
位置決めすることができる。
【0020】上記構成からなるピックアップ装置では、
従来と同様(図7参照)、ウェーハリング3の粘着シー
ト2上の多数のチップTを光学系4のカメラで撮像して
画像処理部5で画像処理した後、その認識データに基づ
いて良品チップをアーム系8のコレットによりピックア
ップする。
【0021】本発明では、ピッチ移動して認識対象とす
るチップのピックアップポジションへの配置時、現時点
でピックアップポジションに位置するチップTn の直前
に位置する複数のチップTn-1 ,Tn-2 ,Tn-3 の認識
データからチップ間距離Pn,Pn-1 ,Pn-2 及び配列
方向を制御部6により算出し、その算出結果に基づいて
次にピックアップポジションにピッチ移動して認識対象
とするチップTn+1 までのチップ間距離Pn+1 及び配列
方向を予測し、その予測データに基づいて可動テーブル
7をピッチ移動させる。
【0022】図1に示すようにこの予測データによるピ
ッチ移動により(ステップ101)、粘着シート2の展
延によりウェーハリング3での中心部分と周辺部分とで
チップ間距離が異なっていたり、或いは、突き上げピン
によりウェーハリング3の一部分でチップ間距離が異な
っていたりしても、次にピックアップポジションにピッ
チ移動して認識対象とするチップを正確に配置でき、そ
の後の画像処理での良品チップの位置の検出後(ステッ
プ102)、実際のチップ位置とのずれがあれば、チッ
プの位置決めを行なった上で(ステップ103)、チッ
プ位置の検出(ステップ104)により位置決めを完了
する。この場合、前述した実際のチップ位置とのずれ
は、ピッチ移動が予測データに基づくため、チップの位
置決め(ステップ103)時での移動量は小さくて済
む。
【0023】このようにして得られた予測データのチッ
プ間距離に基づけば、ウェーハリング3での実際上のチ
ップ間距離が異なる場合でも、それに追従して良品チッ
プを正確かつ迅速に位置決めでき、また、予測データの
配列方向に基づけば、ウェーハリング3でチップが直線
上に配列せずに例えば彎曲して配列している場合でも
(図4参照)、その配列方向に沿って良品チップを正確
かつ迅速に位置決めできる。
【0024】
【発明の効果】本発明によれば、直前に位置する複数の
チップの認識データからチップ間距離及び配列方向を算
出し、その算出結果に基づいて次に認識対象とするチッ
プまでのチップ間距離及び配列方向を予測し、その予測
データに基づいて可動テーブルをピッチ移動させるよう
にしたから、予測データによりチップ間距離及び配列方
向の傾向を把握することができ、チップ間距離が部分的
に異なっても、最適量のピッチ移動でもってすべてのチ
ップを正確かつ迅速に位置決めすることができ、インデ
ックスタイムの向上が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法の一実施例を説明するためのフロー
チャート
【図2】チップの配列状態の一例を示す平面図
【図3】多列のチップ配列での方向転換を説明するため
の平面図
【図4】チップ配列が彎曲した状態を示す平面図
【図5】半導体ウェーハを粘着シートに貼着してダイシ
ングした状態を示す斜視図
【図6】粘着シートを展延したウェーハリング上のチッ
プを示す平面図
【図7】ピックアップ装置の概略構成図
【図8】チップの配列状態を示す平面図
【図9】従来のチップ位置決めを説明するためのフロー
チャート
【符号の説明】
4 光学系 5 画像処理部 6 制御部 7 可動テーブル 8 アーム系 Tn チップ Tn-1 ,Tn-2 ,Tn-3 直前に位置する複数のチッ
プ Pn ,Pn-1 ,Pn-2 直前に位置する複数のチップ
でのチップ間距離 Tn+1 次に認識対象とするチップ Pn+1 次に認識対象とするチップまでのチップ間距
離 P’ 列間のチップ間距離
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/52 9061−5H G06F 15/70 350L 21/301 H01L 21/78 Y

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 所定ピッチで格子状に整列配置された多
    数のチップが搭載された可動テーブルをピッチ移動させ
    ながら前記チップを撮像し、その映像信号を画像処理し
    て得られた認識データに基づいて、良品チップのみを所
    定ポジションに位置決めするに際して、直前に位置する
    複数のチップの認識データからチップ間距離及び配列方
    向を算出し、その算出結果に基づいて次にピッチ移動し
    て認識対象とするチップまでのチップ間距離及び配列方
    向を予測し、その予測データに基づいて可動テーブルを
    ピッチ移動させることを特徴とするチップ位置決め方
    法。
  2. 【請求項2】 直前に位置する複数のチップのうち、良
    品のチップを選択してそれらの認識データからチップ間
    距離及び配列方向を算出することを特徴とする請求項1
    記載のチップ位置決め方法。
  3. 【請求項3】 直前に位置して多列に配置された複数の
    チップに基づく認識データから列間のチップ間距離及び
    配列方向を算出することを特徴とする請求項1記載のチ
    ップ位置決め方法。
  4. 【請求項4】 所定ピッチで格子状に整列配置された多
    数のチップが搭載された可動テーブルをピッチ移動させ
    ながら前記チップを光学系により撮像して画像処理部で
    画像認識し、その認識データに基づいて良品チップのみ
    を所定ポジションに位置決めした上でアーム系によりピ
    ックアップする装置において、直前に位置する複数のチ
    ップの認識データからチップ間距離及び配列方向を算出
    し、その算出結果に基づいて次にピッチ移動して認識対
    象とするチップまでのチップ間距離及び配列方向を予測
    し、その予測データに基づいて可動テーブルをピッチ移
    動させる制御部を具備したことを特徴とするピックアッ
    プ装置。
JP16078095A 1995-06-27 1995-06-27 ピックアップ装置及びチップ位置決め方法 Expired - Lifetime JP3822923B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16078095A JP3822923B2 (ja) 1995-06-27 1995-06-27 ピックアップ装置及びチップ位置決め方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16078095A JP3822923B2 (ja) 1995-06-27 1995-06-27 ピックアップ装置及びチップ位置決め方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0917841A true JPH0917841A (ja) 1997-01-17
JP3822923B2 JP3822923B2 (ja) 2006-09-20

Family

ID=15722297

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16078095A Expired - Lifetime JP3822923B2 (ja) 1995-06-27 1995-06-27 ピックアップ装置及びチップ位置決め方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3822923B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628818B1 (en) 1999-03-31 2003-09-30 Nec Machinery Corporation Method for recognizing images of fine work pieces and pickup apparatus employing the method
JP2006278468A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Shibaura Mechatronics Corp 電子部品の実装装置及び実装方法
JP2007329266A (ja) * 2006-06-07 2007-12-20 Shibaura Mechatronics Corp チップの実装装置及び実装方法
WO2013145114A1 (ja) * 2012-03-27 2013-10-03 富士機械製造株式会社 ダイ供給装置
WO2015022861A1 (ja) * 2013-08-14 2015-02-19 株式会社新川 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
CN106486398A (zh) * 2015-08-31 2017-03-08 捷进科技有限公司 芯片贴装机、贴装方法及半导体器件的制造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6628818B1 (en) 1999-03-31 2003-09-30 Nec Machinery Corporation Method for recognizing images of fine work pieces and pickup apparatus employing the method
JP2006278468A (ja) * 2005-03-28 2006-10-12 Shibaura Mechatronics Corp 電子部品の実装装置及び実装方法
JP2007329266A (ja) * 2006-06-07 2007-12-20 Shibaura Mechatronics Corp チップの実装装置及び実装方法
WO2013145114A1 (ja) * 2012-03-27 2013-10-03 富士機械製造株式会社 ダイ供給装置
CN104205317A (zh) * 2012-03-27 2014-12-10 富士机械制造株式会社 裸片供给装置
JPWO2013145114A1 (ja) * 2012-03-27 2015-08-03 富士機械製造株式会社 ダイ供給装置
WO2015022861A1 (ja) * 2013-08-14 2015-02-19 株式会社新川 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
CN105229779A (zh) * 2013-08-14 2016-01-06 株式会社新川 半导体制造装置以及半导体装置的制造方法
JPWO2015022861A1 (ja) * 2013-08-14 2017-03-02 株式会社新川 半導体製造装置及び半導体装置の製造方法
CN106486398A (zh) * 2015-08-31 2017-03-08 捷进科技有限公司 芯片贴装机、贴装方法及半导体器件的制造方法
JP2017050327A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 ファスフォードテクノロジ株式会社 ダイボンダ、ボンディング方法および半導体装置の製造方法
CN106486398B (zh) * 2015-08-31 2019-07-09 捷进科技有限公司 芯片贴装机、贴装方法及半导体器件的制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3822923B2 (ja) 2006-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3522280B2 (ja) ボールボンド検査システム用の方法および装置
CN1913118A (zh) 检测半导体晶片上局部失效的测试方法
WO2009108202A1 (en) Methods of teaching bonding locations and inspecting wire loops on a wire bonding machine, and apparatuses for performing the same
US6756796B2 (en) Method of search and identify reference die
JPH04107946A (ja) 自動外観検査装置
JPH0917841A (ja) ピックアップ装置及びチップ位置決め方法
US6174788B1 (en) Partial semiconductor wafer processing with multiple cuts of random sizes
KR100235929B1 (ko) 반도체 칩의 픽업 방법 및 장치
JP3298753B2 (ja) ワイヤ曲がり検査装置
JPH02174132A (ja) 半導体ペレットのダイボンディング方法
JPH06341960A (ja) パタ−ンの画像処理方法およびその装置
US6374149B1 (en) System and method for determining the center of a wafer on a wafer table
JPH0569301B2 (ja)
JP5148564B2 (ja) 外観検査方法およびその方法を用いて検査する外観検査装置
JPH1070143A (ja) 半導体ダイ位置合わせ方法及び装置
JP3808320B2 (ja) パターン検査装置およびパターン検査方法
JPH08330390A (ja) ピックアップ装置及びピックアップ方法
TWI897050B (zh) 提示方法及提示裝置
JP3033453B2 (ja) 小片チップのセンシング方法
CN120015650A (zh) 拾取芯片的方法及芯片拾取设备
JP2004281482A (ja) 半導体ウェハ検査装置及び検査方法及び半導体装置
JP2002342757A (ja) パターン比較検査方法及び装置
JPH06224295A (ja) 半導体ウェーハの切断ライン位置検出方法及び装置
JPH0810711B2 (ja) 微小ワ−ク片の認識方法
JP3832359B2 (ja) 電子部品のピックアップ方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051027

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051206

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060526

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060626

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100630

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100630

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110630

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110630

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120630

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120630

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130630

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term