JP3522280B2 - ボールボンド検査システム用の方法および装置 - Google Patents
ボールボンド検査システム用の方法および装置Info
- Publication number
- JP3522280B2 JP3522280B2 JP52839995A JP52839995A JP3522280B2 JP 3522280 B2 JP3522280 B2 JP 3522280B2 JP 52839995 A JP52839995 A JP 52839995A JP 52839995 A JP52839995 A JP 52839995A JP 3522280 B2 JP3522280 B2 JP 3522280B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- ball
- bond
- expected
- center location
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/62—Analysis of geometric attributes of area, perimeter, diameter or volume
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/60—Analysis of geometric attributes
- G06T7/66—Analysis of geometric attributes of image moments or centre of gravity
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/70—Determining position or orientation of objects or cameras
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/48—Extraction of image or video features by mapping characteristic values of the pattern into a parameter space, e.g. Hough transformation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30152—Solder
Description
導体チップ・ワイヤリング・ボンディング・デバイス、
および類似のボンディング装置に関し、さらに具体的に
は、半導体チップ上のコンタクト・パッド(contact pa
d)上に形成されたワイヤボンド(wire bond)の自動化
光学的検査を行なう方法と装置に関する。
ンディング(wire bonding)と呼ばれるプロセスによっ
てリード・フレーム(lead frame)上のリードに電気的
に接続されている。ワイヤ・ボンディング作業は、ダイ
(半導体チップ)上に置かれたパッド(pad)をリード
・フレーム内のリードに電気的に接続するワイヤを配置
し、接続することによって行なわれている。チップとリ
ード・フレーム上のすべてのパッドとリードとをワイヤ
・ボンディングすると、多くの場合セラミックまたはプ
ラスチックを用いて、パッケージすることができ、集積
回路デバイスが作られる。代表的な応用例では、ダイま
たはチップ上には、接続する必要のあるパッドやリード
が数百または数千にわたる場合がある。
あるタイプはサーマル・ボンディングを使用し、あるタ
イプは超音波ボンディングを使用し、あるタイプは両者
の組合せを使用している。ポストプロセス検査(post−
process inspection)ステップは、一般に、第3光学的
検査(third optical inspection)と呼ばれ、このステ
ップでは、デバイス上のすべてのボンドの位置とサイ
ズ、ワイヤ・コネクション(接続)およびワイヤの高さ
を光学的手段で探知し、検査することにより、ボンドに
よる接続が良好であるかどうかを確かめているのが普通
である。これはワイヤ・ボンディングが完了した後で、
集積回路をカプセル化する前に行なわれている。
完了し、別のマシンやオペレータに送られたあと初めて
行なわれていたが、そのほとんどは人間のオペレータが
マイクロスコープを使用して行なっているのが通常であ
った。この検査はサンプリングによって行なわれてい
る。サンプリングは検査回数を減少するが、欠陥接続が
見落とされるおそれがある。
(イメージ)処理システム(画像を捕獲し、捕獲した画
像をディジタル化し、コンピュータを使用して画像分析
を行なうシステム)は、デバイスのアライメント(位置
合わせ)を行ない、正しい位置にボンディングを行なう
ようにマシンをガイドするためにワイヤボンディング・
マシンで使用されているが、従来は、検査を目的とする
プロセスの過程では使用されていなかった。別々のマシ
ンを用意して、ボンディング・プロセスの外およびその
あとで検査を行なうこともできるが、そのためには、プ
ロダクション・ラインの主要な設備を別に用意する必要
がある。
ンドは、その配置とサイズが特定の許容範囲内にあるか
どうかを確かめるために検査されている。この分野の実
際の応用では、ワイヤボンド検査は、ほとんどすべてが
手作業で行なわれている。手作業による検査は非常に時
間がかかる。高価な部品はサンプリングではなく100%
の個別ごとの検査を行う必要があるが、これも手作業で
行なうと、生産性がさらに低下し、コスト増につながる
ことになる。
ヤ・ボンドを検査するために利用できることが知られて
いるが、これらのマシンはポストボンド(post bond)
検査システムとしてのみ動作するものである。その結
果、欠陥ボンドが検出されるのは、その後のアセンブリ
工程のときか、それが完了したあとである場合がある。
従って、生産性が低下し、一部の欠陥ボンドが全く検出
されない場合がある。
ールボンドの検査を自動化し、しかもインプロセスで行
なうためには、システムは、まず、チップ上に形成され
たボンドのロケーションを突き止めてからでなければ、
検査を行なうことができない。本出願と同様に係属中の
米国特許出願Automated Optical Inspection Apparatus
(自動化オプチカル検査装置)(1993年6月10日出願、
出願番号08/132,532); 上記出願の一部係属出願であるAutomated Optical In
spection Apparatus Using Nearest Neighbor Interpor
ation(最隣接インタポーレーションを用いた自動化オ
プチカル検査装置)(1994年4月30日出願、出願番号08
/236,215); 上記出願の一部係属出願であるMethod and Apparatus
for Aligning Oriented Objects(配向オブジェクトの
位置合わせ方法および装置)(1995年1月3日出願、出
願番号08/367,478); およびUsing Cone Shaped Search Models for Solder
Ball Location(ソルダ・ボール・ロケーションのコー
ン形状探索モデルの使用)(1994年4月30日出願、出願
番号08/236,211)には、ボンドの標準配置を充分な速度
と精度で突き止めて、ボンドのサイズと位置の検査を行
なうことを可能にするシステムが記載されている。
検出できる場合であっても、画像内のボールボンド・エ
ッジのロケーションを突き止めて測定しようすると、イ
ンプロセス・システムとポストプロセス・システムのど
ちらの場合にも、大きな問題が起こっている。その1つ
は、混同し易いエッジが非常に多数存在することであ
る。これらは、回路、プローブ・マーク(probe mark)
およびボンド・パッドが画像内に存在することに起因す
る。大部分の半導体チップはビジュアル・ディーテル
(回路自体の画像など)が大量に存在するため、ポスト
ボンド画像を分析する際にこれらを避けて、ボンド・エ
ッジを見つけなければならない。このディーテルの一部
はボンドの一部であると誤判断されるおそれがある。プ
ローブ・マークや変色、不完全な照明が原因で起こるパ
ッドのビジュアル欠陥は、さらに上記問題を複雑化して
いる。
ジのように、円形または楕円形エッジを見つける既存の
手法は、高精度であるとしも、速度が遅いためにインプ
ロセス検査システムで使用できないことがよくある。
ディング・マシンによって作られたボンド09のサイズと
位置を測定する方法および装置に係わるものである。本
発明によれば、ボールボンド09のディジタル化画像から
の測定が計算される。これらの画像はビデオ・カメラ04
によって捕獲されたあと、ディジタル化されてコンピュ
ータ・メモリにピクセル・アレイを形成していたもので
ある。
への変換画像(rectangular to polar coordinate tran
sform image)60を構築し、この変換画像は、検査され
る予想ボールボンドの最大サイズと半径値より大きい画
像サイズと半径値をもっている。別の好適実施例では、
極座標変換画像60は複数のセグメント65と共に作成され
る。ボールボンド画像70およびそのセンタの標準ロケー
ションは、上に列挙した米国特許出願(係属中)の方法
および装置に従って画像プロセッサ06から得られる。極
座標変換画像60はボールボンド・センタの標準ロケーシ
ョンとアライメント(位置合わせ)される。ボールボン
ド画像70は、極座標変換画像60を用いて1次元極投射ヒ
ストグラム・アレイ(one−dimensional polar project
ion histogram array)を作り、アレイをインデクシン
グしてヒストグラム結果をストアし、正規化することに
より評価される。ピークを見つけるためにエッジ・フィ
ルタ(edge filter)が投射(projection)に適用さ
れ、その標準センタのピーク数とロケーションがストア
される。本発明によれば、位置合わせ、評価、エッジ・
フィルタリングおよびピーク・ストアリング・ステップ
は、次の予想される(ポテンシャル)ボール・センタ・
ロケーションに対して繰り返され、これは、ある特定数
の予想されるロケーションが評価されるまで行なわれ
る。最大ピークは評価されたすべてのロケーションから
検出され、そのピークはボールボンドの半径として使用
される。ボンド09のサイズとロケーションは、最大ピー
クをもつボールボンド画像70の半径から計算され、信号
としてホスト・コンピュータ08に渡されて、アセンブリ
・プロセスで別の処置が行なわれる。
標から極座標への変換を高速に行なって、検査に費やさ
れる処理時間を最小限にしている。この変換は1次元投
射または累積アレイである、ヒストグラム・アレイ80を
生成するために使用され、このアレイは、センタ・ポイ
ント(中心点)からの各半径の個所のピクセルのすべて
の総和を収めている。これは、極座標のRの大きさに沿
った投射である。次に、エッジ・フィルタリングとピー
ク検出の2つのオペレーションがこの1次元アレイにつ
いて実行され、そのときボールボンドのエッジであると
推定される画像エッジの位置が計算される。ヒストグラ
ム・アレイ80内のエッジの位置は円の半径に対応してい
る。各投射で見つかったピークは、その値と一緒にリス
トにストアされる。
のセンタの位置決めを行うことである。上述した変換と
半径計算は、ボールボンド画像70内の予想される(ポテ
ンシャル)、複数のセンタ・ポイントまたはボール・セ
ンタ・ロケーションで適用される。最良のサークル・フ
ィット(best circle fit)は、1次元累積アレイ内の
エッジの勾配が最大化されているセンタ・ポイントで現
われる。各予想されるボール・センタ・ロケーションで
見つかったピークは評価され、最大ピークがボールボン
ドの半径として選択される。
形ボールのボールボンド・サイズを計算できることであ
る。かかる情報を得るために、本発明によれば、複数の
セグメントをもつ極座標変換画像が作成され、これらの
セグメントは、1つの評価ステップで、各セグメントに
対応する極投射アレイ(polar projection array)が得
られるように正規化されている。他方、セグメントは、
デカルト座標(Cartesian coordinates)におけるxと
y方向および大きさと関連づけられている。
ている、Cognex社のVC−1画像処理チップが極投射の作
成を高速化するために使用されている。この画像処理チ
ップを使用すると、標準ボール・センタ・ロケーション
画像と極座標変換モデル・ピクセルをメモリからアクセ
スするときに要する時間内で、投射全体を行なうことが
できる。つまり、画像内のカラムの各ピクセルがアクセ
スされると、ピクセルはVC−1画像処理システムによっ
て自動的に総和されて、極投射の中に入れられる。
および直交座標から極座標への画像座標の変換が、2つ
の別ステップで行なわれるのではなく、画像内のピクセ
ルの1回の評価で行なわれることである。これは、上記
に挙げた米国特許出願(係属中)を使用することによっ
て行なわれる。
円形オブジェクトだけを検出するのに役立つので、極投
射を使用すると、混同しやすいエッジが最小限になるこ
とである。その結果、ボンド・パッドやそのエッジなど
の正方形または直交オブジェエクトは、かかるオブジェ
クトの極投射によると、パッド・エッジがぼかされるこ
とになるので、フィルタにかけられた投射アレイ内でシ
ャープなエッジとして現われないことになる。
必要メモリ量を最小限にするので、製造と使用に関連す
るコストを妥当な範囲に抑えることができる。自動化イ
ンプロセス検査は、手作業による場合よりもはるかに高
速化されるので、ボールボンドの検査率を向上すること
ができる。100%検査する必要のある高価な部品の場合
は、部品製造のスループットを大幅に向上することがで
きる。
る。
イを上方から見た概略図である。
る。
画像の上面図である。
す図である。
極座標変換画像と記憶アレイを示す図である。
ローチャートである。
ョンの正規化極投射のプロット図である。
したセンタをもつ標準ボール・センタ・ロケーションの
正規化極投射のプロット図である。
の正規化極投射の第1導関数(first derivative)を示
すプロット図である。
センタが実際のセンタからオフセットしたセンタをもっ
ている場合を示すプロット図である。
化とセグメント化)を示す概略図である。
本システムは、X−Yテーブルのように、ヘッド・フレ
ーム10に置かれた半導体チップ20を保持する移動可能プ
ラットフォーム03を備えたワイヤ・ボンディング・マシ
ン01と、画像を生成するビデオ・カメラ04またはその他
の光学検出デバイス20(カメラは、ボンディングすべき
ターゲット・チップ20とリード・フレーム10上に置かれ
ているのが典型的である)と、リード・フレーム内のチ
ップに光を当てる照明手段05と、光学的に検出された画
像をディジタル化し分析する機能を備えた画像プロセッ
サ06と、ボンディング・メカニズム07と、ボンディング
・メカニズム07、移動可能プラットフォーム03、カメラ
04および画像プロセッサ06に電気的に接続されたホスト
・コントローラ08とを含んでいる。
内の半導体チップ20を示す上面図である。ワイヤ・ボン
ディング・プロセスでは、チップ20上の各パッドとリー
ド・フレーム10上のそれぞれのリード30との間で導電ワ
イヤ50がボンディングされる。
にワイヤ50で接続したボンドの側面図を示している。代
表的なワイヤ・ボンディング・デバイスでは、ワイヤ50
またはフィラメントはボンダによって押し出され、ダイ
・パッド上に堆積され、リード・フレームまで延長さ
れ、そこでワイヤも接着されて電気的接続を形成してい
る。
09のディジタル化グレーレベル画像の上面を示す概略図
である。図に示すように、ワイヤ50はボンド09から角度
をなして外側に突出している。さらに、パッド40も、デ
ィジタル化グレーレベル画像の一部として現われてい
る。
4を示す図である。これは、前掲の米国特許出願(係属
中)の方法および装置によって作成される。基本的に
は、ボンディングが行なわれる前のパッド40の画像はセ
ーブされ、ボンディングが行なわれたあとのパッド40の
画像から減算される。欠陥の一部は、このようにして結
果の減法画像44から除去される。
ワイヤボンディング・プロセスの開始前に行なわれる。
セットアップ作業では、図6に示すような極座標変換画
像60が作成される。極座標変換画像60は、測定すべきボ
ールボンドの予想最大サイズより大きい最大画像サイズ
と半径値をもつように作成される。
る。まず、変換のセンタが選択される。これはxc,ycで
ある。これは画像のセンタである必要はない。変換画像
It内の各x,yピクセルの値は、次式によって計算され
る。
のユークリッド距離(euclidean distance)である。ピ
クセル値はヒストグラム・ビン・アドレス(histogram
bin address)を表わしているので、この値は整数でな
ければならない。これは、上記計算式の中の値を最寄り
の整数に丸めることにより行なわれる。図6は、最大半
径が5で、変換のセンタが画像のセンタにある7×7極
座標変換画像60の例を示す図である。
イ80も示しているが、これは、0から変換画像の中で指
定された最大半径までの範囲内のインデックスで作成さ
れたものである。
座標変換画像60bが作成されるが、これについては後述
する。
は、1組の候補となるボールボンド画像70を作成するた
めに選択される。候補の数を選択するときの方針は、あ
る与えられた標準センタ・ポイントの不確実性の範囲
(実際のボール・センタに対する)と、要求される精度
とスピード量によって決まる。例えば、与えられた標準
ボール・センタ・ロケーションの不確実性が+/−10ピ
クセルと分かっていれば、1つの方法として、標準ポイ
ントの中心が20×20であるウィンドウで投射を適用する
ことができる。これは不確実性の全範囲をカバーしてい
る。
可能である。20×20ウィンドウの例では、画像内の予想
されるすべてのロケーションは、網羅的アプローチ(ex
haustive approach)で評価される。これは最も単純な
方法であるが、最も時間のかかる方法でもある。
きのピクセルで適用されて、ボール・センタの近接ロケ
ーションを求めている。それが見つかると、極座標変換
画像60はその近接ロケーションを取り囲むすべてのポイ
ントで実行される。20×20の例の場合には、網羅的アプ
ローチでは、極投射を400回適用する必要があるのに対
し、別のアプローチでは、10×10+9、つまり、109回
適用するだけでセンタを見つけることができる。この別
のアプローチは、画像内に現れるエッジの頻度に応じて
一般化することができる。例えば、1つおきではなく、
3または4ピクセルごとにサンプリングを行なうことが
できる。画像変換およびヒストグラム累積をどこで、何
回行なうかは、選択された特定の方法によって決まる。
全体的流れを示す図である。まず、ステップAで、ボー
ルボンド09の画像が画像プロセッサ06によって獲得さ
れ、ディジタル化される。ビデオ・カメラ04はこの画像
を獲得するために使用される。ビデオ・カメラ04は、通
常、ボンディング機器に装着され、チップ20上の様々な
ロケーションに移動可能になっている。撮像サイズに制
約があるため、ビデオ・カメラ04の1つの視野に入るボ
ールボンド09が少数に限られることがよくある。特定の
応用に応じて、正しい倍率を選択してボールボンド画像
が充分に大きく現われるようにし、充分なピクセルで正
しい測定が行なえるようにする必要がある。画像の焦点
は測定精度にも影響する。正しい倍率と焦点を設定する
方法はこの分野では周知である。
06がアクセスできるメモリにストアされる。各画素、つ
まり、ピクセルは画像内の特定のx,yロケーションのサ
ンプリング画像データを表わしている。この場合も、画
像をディジタル化し、ストアする多くの手法が、この分
野では周知である。
中)のうち最初の3出願の方法と装置は、図5に示すよ
うにボンドの差画像(difference image)または減法画
像44を作成することにより、ディジタル化画像内のボン
ドを見つけるために使用される。好適実施例では、上に
挙げたもう1つの米国特許出願(係属中)(コーン形状
探索モデルの使用)に記載されている方法と装置を使用
すると、ディジタル化画像内のボンドを見つけやすくな
り、そのボンドの標準センタ・ロケーションを得ること
ができる。
像60は、そのセンタが一番目の標準センタのそれと一致
するように位置合わせされる。獲得されたボールボンド
のディジタル化画像は極座標変換画像60より大きくなっ
ているので、極座標変換画像60と正確に同一サイズであ
る、ディジタル化画像に収まるウィンドウを作成する必
要がある。このようにして作成された候補ボールボンド
画像70の各x,y座標(図6)は、極座標変換画像60内の
x,yロケーションに一致することになる。
ケーションはアプリケーション・ポイント(applicatio
n point)とも呼ばれる。このアプリケーション・ポイ
ント、つまり、輝度画像(intensity image)内のボー
ル・センタ候補は極座標変換画像60のセンタと位置合わ
せされる。
一番目の候補ボールボンド画像70内の画像ピクセルの総
和が計算され、その結果がヒストグラム・アレイ80にス
トアされる。図6に示すように、極座標変換画像60は、
行(row)と列(column)に配列された値を含んでい
る。これらの値はヒストグラム・アレイ80内のビン(bi
n)90またはインデックス値に対応している。
ボンド画像70は、図7のステップCでラスタ順に同時に
評価され、各ピクセルは一度だけアクセスされて、出力
の極座標投射ヒストグラムが生成される。再び図6に示
すように、ボールボンド画像70内のx,yロケーションの
各ピクセル値は総和がとられて、極座標変換画像60内の
x,yロケーションのピクセル値によってインデックスさ
れたヒストグラム・アレイ80に入れられる。
セル値を含んでいるとすると、本発明の方法および装置
によれば、ボールボンド画像70内のロケーション0,0の
一番目のピクセル値が選択され、その値は、極座標変換
画像60内でロケーション0,0に置かれたインデックス値
5が示すように、ヒストグラム・アレイ80のビン5に追
加される。ボールボンド画像70内でロケーション0,1に
置かれた次のピクセルが総和をとられて、ヒストグラム
・アレイ80のビン4に入れられる。以下、候補ボールボ
ンド画像70全体が評価されるまで繰り返される。
レイまたはヒストグラム・アレイ80(図6に図示)であ
り、各アレイ・エレメント(配列要素)またはビン90に
は、極座標変換画像60内のビン90のインデックス値に属
するピクセル値のすべての総和が入っている。逆に、極
座標の半径Rのすべての画像ピクセル値の総和を求める
には、インデックスRでヒストグラム・アレイ80にスト
アされている値を調べることになる。7ピクセルx7ピク
セルの極座標変換画像60を使用している、図6に示す例
では、ヒストグラム・アレイ80の四番目のビン90に入っ
ている値には、値が4になっている極座標変換画像60の
ピクセルの個所で評価された、ボールボンド画像70内の
対応する画像ピクセルのすべての総和が含まれているこ
とになる。
195号に記載されているCognex社のVC−1画像処理チッ
プは、図1に示す画像プロセッサ06で使用されて、極投
射を最大スピードで作成している。この画像処理チップ
を使用すると、ボールボンド画像70と極座標変換画像60
をメモリからアクセスするのに要する時間で投射全体を
行なうことができる。
ヒストグラム・アレイ80内の値は、ボールボンド画像70
内の輝度ピクセルを総和したものである。これらの値82
は本発明の以下のステップではまだ使用可能になってい
ない。ヒストグラム・アレイ内の値82は、値が変換画像
に現われる回数で正規化しなければならない。
60とボールボンド画像70を使用すると、総和がとられて
1ビンに入れられるボールボンド画像70のピクセル数は
8であるのに対し、総和がとられて2ビンに入れられる
ピクセル数は12である。半径が大きくなると、各順次の
半径ビンは、そこに追加されるサンプル数が増加してい
く。これらを正規化するには、各ヒストグラム・ビン90
内の値82は、総和がとられてそのビンに入れられる総ピ
クセル数によって除算される。これは、極座標変換画像
60に半径値が現われた個数をカウントすると簡単に行な
うことができる。投射ヒストグラム・アレイ80内のその
結果の正規化数84は、ピクセル値の総和ではなく、候補
ボールボンド画像70のセンタからの所定の半径に置かれ
た平均ピクセル値を表わしている。
グラム・ビン90に入れられるサンプルがさらに増加す
る。サンプルが多くなると、平均ピクセル輝度の統計的
精度が向上することになる。その結果、極投射は、半径
が小さい場合よりも、半径が大きい方が精度が向上する
ことになる。
位置合わされている標準ボール・センタ・ロケーション
の極投射のプロット図である。このプロットは正規化さ
れている。
き起こる主要問題の1つは、混同しやすいエッジが非常
に多数画像内に存在することである。これらは、回路、
プローブ・マーク(probe mark)およびボンド・パッド
が画像に存在することに起因する。本発明の極投射手法
によれば、画像内の円形オブジェクトだけを検出する傾
向にあるので、混同しやすいエッジが検出されることは
回避される。ボンド・パッドのような正方形オブジェク
トの極投射は、投射されたパッド・エッジをぼかす傾向
にあるが、これは、投射画像の円形パターンに一致して
いないためである。パッド・エッジは、フィルタにかけ
られた投射アレイではシャープなエッジとして現われな
い。
変化する位置を見つけるために、図7のステップDに示
すように、エッジ・フィルタリングがデータについて行
なわれ、第1導関数(first derivative)が作成され
る。好適実施例では、エッジ・フィルタリングは、正規
化された投射ヒストグラム・アレイ80を次の形式、つま
り、+1,0,−1の第1導関数または演算カーネルでコン
ボルーション(convolution)して、第1導関数を作る
ことにより行なわれる。カーネルまたはオペレータ(演
算子)の実際のサイズは、ボール・エッジ輝度プロフィ
ールの予想勾配に一致するように変更することができ
る。第1導関数カーネルをもっと大きくすると、+1,+
1,+1,0,−1,−1,−1のようになる。この分野で周知の
エッジ・フィルタリングを使用すると、ローパス・フィ
ルタリングとエッジ検出を同時に行うことも可能であ
る。この実施例で使用されているカーネル・センタの両
側は、符号が反対極性になっているので、フィルタリン
グは方向により変化する(direction sensitive)。低
から高へ(暗から明へ)遷移すると、正極性をもつ出力
ピークが生成される。高から低へ遷移すると、負極性の
ピークが生成される。
ッジ・フィルタは、応用分野の要求条件に応じてどれで
も使用することができる。上述した単純な「ボックスカ
ー(boxcar)」フィルタは、好適実施例では、計算の単
純化と高速化のために使用されている。もっと高い精度
が要求される場合は、ButterworthまたはHammingフィル
タなどの、この分野で公知の他のローパス・フィルタを
使用することができる。
る標準ボール・センタ・ロケーションの正規化投射ヒス
トグラムを示す図である。
ルタ出力の中のピークが計算される。フィルタリングさ
れ、正規化された投射データのピーク検出は、データの
中のローカル(局所)最大値を見つけることにより行な
われる。これらの点(ポイント)は、変換の候補となる
ボール・センタ・ロケーションのすべてがなくなったあ
と、将来の参照に備えてリストにストアされる。フィル
タリングされたデータ内のローカル最大値またはピーク
は、平均ピクセル輝度の変化勾配が最大になるポイント
である。
れだけ高いかを示している。コントラストが高くなる
と、正しいボール・エッジである確率が高くなる。図8
と図9に示すように、ピークは、ボールボンドのセンタ
が変換画像のセンタに一致したとき最大になる。センタ
が相互から離れていくと、ボール・エッジは円の周囲に
いくつかの異なる半径のビンを生じることになるので、
エッジ・コントラストがぼかされることになる。
わると、システムは、次の標準ボール・センタ・ロケー
ションが存在するかをチェックして確かめる。図7にお
いて、これを示したのがステップFである。標準ボール
・センタ・ロケーションの数は、要求される精度によっ
て決まる。極座標変換画像が実際のボール・センタのセ
ンタの近くにあれば、半径測定の精度はそれだけ向上す
る。もっと大きな、例えば、20×20のウィンドウ内のす
べてのポイントで極投射を適用すると、最も時間がかか
ることになる。要求される精度が低ければ、1つおきの
標準センタをスキップすることが可能である。
は、まず、ディジタル化画像内のサンプリング・ポイン
トで極座標変換画像60を適用して粗いロケーションを得
てから、次に、粗探索で見つかった近隣センタの周囲だ
けに、より精細な解像度ポイントで極座標変換画像60を
適用することにより行なうことができる。このようにす
ると、スピードと精度の面で利点がある。
と、最大ピーク値はステップEで、検出されたピーク・
リストから計算され、ストアされる。これは、この分野
で周知のいくつかの方法で行なうことができる。
取られ、ボンド09のセンタを計算するために使用され
る。
画像60に作成されていたときは、さらに計算を行なう
と、例えば、x方向とy方向の楕円形ボンドの寸法(di
mension)を測定することができる。
像60bを作成すると、ボンドの寸法に関する追加情報を
得ることができる。ここでは、極座標変換画像60はX方
向とY方向にセグメント65に分割されているので、X方
向とY方向の異なるボールボンド径を計算することがで
きる。このようにすると利点があるのは、ボールボンド
が常に完全円形であるとは限らず、XとYのサイズ差を
報告することが検査基準となっていることがよくあるた
めである。
トを使用することの主な違いは、極座標変換画像がどの
ように構築されるかという点である。複数セグメント65
の場合は、半径が同じであっても、画像内のピクセル値
が4つの四分円(quadrant)で異なるように四分円を図
示のように作ることができる。この実施例では、4つの
異なる極投射が作成され、そこでは、各投射は円の90度
円弧を通る半径の総和になっている。これは、まず、一
番目のセグメント65を生成し、次に、異なるセグメント
65内のピクセルに一定値を加えることにより行なうこと
ができる。例えば、変換画像内の最大半径が32であれ
ば、一番目のセグメント65内のピクセルは0がその値に
加えられ、二番目のセグメント65は32がそのピクセル値
に加えられ、三番目のセグメント65は64がそのピクセル
値に加えられ、四番目のセグメント65は96がそのピクセ
ル値に加えられることになる。従って、画像内の各ピク
セルを一度だけアクセスし、4つの異なる極投射を一回
のパスで生成することにより、上記のように進めていく
ことができる。0から32までの投射アレイの値は一番目
のセグメント65に対するものとなり、33から64までの値
は二番目のセグメント65に対するものとなり、以下同様
である。
円ごとに行なうことができる。
は、検出された4つの半径を使用すると、極座標変換画
像をすべてのポイントに限りなく適用するよりも高速
に、極座標変換画像を中心に置くことができることであ
る。半径情報は、標準ボール・センタがボール・センタ
からどれだけ離れていたかを示している。センタリング
する目標は、各半径をXとYとで等しくすることであ
る。
て突き止められ、そのサイズが計算されると、この情報
は、要求されたxとy寸法(dimension)に関する情報
と一緒に、ホスト・コントローラ09に渡されて、これら
の情報に見合う処置が行なわれる。結果によっては、チ
ップが欠陥のために拒否される場合や、別の作業の為の
マークが付けられる場合や、カプセル化される場合や、
次のアセンブリ工程へ送られる場合がある。
種々実施例は単なる例示であり、本明細書の教示事項の
精神に属する他のシステムは、本発明の範囲に属するも
のである。
成するカメラや他のデバイスも含まれている。カメラに
よって生成されたビデオ信号は、この分野で周知の手法
を用いてアナログからディジタルへ変換されて、フレー
ム・グラバー(frame grabber)などの画像メモリ、ま
たは画像をストアする他のデバイスへ送られるのが代表
的である。ビデオ・プロセッサ・システムはコンピュー
タ中央処理チップと入出力機能を備えており、画像メモ
リに結合され、本発明に従って画像処理と分析を行なう
ために使用される。画像処理と分析の一部は、ビジョン
・プロセッサ・システムを制御するソフトウェア・プロ
グラムによって行なわれるが、この分野の当業者ならば
理解されるように、特殊集積回路チップで作られた同等
回路で制御することも可能である。画像処理と分析の結
果は、マシン・ビジョン結果を要求する装置またはシス
テムへ電子的に送られる。別の方法として、マシン・ビ
ジョン機能をもっと大きなシステムに内蔵させて、その
一部として稼動させることも可能である。
Claims (6)
- 【請求項1】オブジェクトを光学的に検出し、前記オブ
ジェクトをディジタル化して分析する手段を備えたマシ
ン・ビジョン・システムにおいて、ボールボンドのサイ
ズと位置を自動的に測定する方法であって、 a. xc,ycに置かれたセンタと、測定すべき予想ボール
ボンドの最大サイズと半径値より大きい画像サイズと半
径値をもつ極座標変換画像(It)を次式を用いて構築す
るステップと、 b. 結果をストアしておくためのアレイ(配列)を作成
するステップであって、前記アレイは、前記予想ボール
ボンド画像の最大半径サイズに等しい複数のエレメント
(要素)をもち、各エレメントはゼロから前記極座標変
換画像の前記最大半径サイズまでの範囲のインデックス
をもつものと、 c. ディジタル化画像内で評価すべき複数の予想される
ボール・センタ・ロケーションを指定するステップと、 d. 前記ボンディング・プロセス期間にボールボンドの
ディジタル化画像を獲得するステップと、 e. 前記ボールボンドの前記ディジタル化画像を輝度画
像としてストアするステップであって、ピクセルには、
前記ボールボンド・オブジェクトから光学的に検出され
た輝度に対応するグレーレベル値が割り当てられてお
り、 f. 前記マシン・ビジョン・システムのイメージ・プロ
セッサから予想されるボール・センタ・ロケーションを
受信するステップと、 g. 前記極座標変換画像のセンタを前記予想されるボー
ルセンタ・ロケーションと位置合わせして、前記予想さ
れるボール・センタ・ロケーションをもつボールボンド
画像の各x,y座標が前記変換画像内のx,yロケーションに
一致するようにするステップと、 h. 前記予想されるボール・センタ・ロケーションと前
記極座標変換画像を同時に評価するステップであって、
前記予想されるボール・センタ・ロケーションをもつ前
記ボールボンド画像内の各ピクセル値は総和をとられ
て、前記極座標変換画像内の対応するx,y座標のピクセ
ル値によってインデックスされたアレイに入れられ、前
記予想されるボール・センタ・ロケーションに関連付け
られた1次元ヒストグラムが作成されて、前記アレイに
ストアされるようにし、 i. 前記ヒストグラム内のピークを見つけるためにエッ
ジ・フィルタを適用し、当該ピーク値をストアするステ
ップと、 j. 次の予想されるボール・センタ・ロケーションを選
択し、前記次の予想されるボール・センタ・ロケーショ
ンに前記gからiまでのステップを適用し、指定された
数の予想されるボール・センタ・ロケーションがなくな
るまで繰り返していくステップと、 k. 前記ステップiでストアした前記ピーク値の中から
前記ヒストグラムの前記アレイのうちの最大ピーク値を
見つけ、当該最大ピークをストアした前記ヒストグラム
に関連付けられた前記予想されるボール・センタ・ロケ
ーションを前記ボールボンドのセンタとして前記マシン
・ビジョン・システムに通知し、対応するヒストグラム
内の前記最大ピークのロケーションを前記ボールボンド
の半径として与える、ようにしたステップとを含んでい
ることを特徴とする方法。 - 【請求項2】請求項1に記載の方法において、変換画像
を構築する前記ステップは、第1の一定ピクセル値を一
番目のセグメント内のピクセルに加え、第2の一定ピク
セル値を次のセグメント内のピクセルに加え、n個のセ
グメントが作成されるまで続けていくことにより、前記
変換画像をn個のセグメントに分割するステップをさら
に含むことを特徴とする方法。 - 【請求項3】請求項2に記載の方法において、前記第1
の予想されるボール・センタ・ロケーションと前記極座
標変換画像を同時に評価する前記ステップは、 4個のセグメントを生成するステップと、 4個のヒストグラムを作成するステップであって、各ヒ
ストグラムは前記セグメントの1つを表わし、4個の半
径が突き止められ、予想ボール・センタ・ロケーション
とのそれぞれの差をx方向とy方向により報告できるよ
うにすることをさらに含むことを特徴とする方法。 - 【請求項4】オブジェクトを光学的に検出し、前記オブ
ジェクトをディジタル化して分析する手段を備えたマシ
ン・ビジョン・システムにおいて、ボールボンドのサイ
ズと位置を自動的に測定する装置であって、 a. xc,ycに置かれたセンタと、測定すべき予想ボール
ボンドの最大サイズと半径値より大きい画像サイズと半
径値をもつ極座標変換画像(It)であって、次式を用い
て構築されたものと、 b. 結果をストアしておくためのアレイ(配列)であっ
て、前記アレイは、前記予想ボールボンド画像の最大半
径サイズに等しい複数のエレメント(要素)をもち、各
エレメントはゼロから前記極座標変換画像の前記最大半
径サイズまでの範囲のインデックスを有しており、 c. ディジタル化画像内で評価すべき複数の予想される
ボール・センタ・ロケーションを指定する手段と、 d. 前記ボンディング・プロセス期間に獲得されるボー
ルボンドのディジタル化画像と、 e. 前記ボールボンドの前記ディジタル化画像を輝度画
像としてストアする手段であって、ピクセルには、前記
ボールボンド・オブジェクトから光学的に検出された輝
度に対応するグレーレベル値が割り当てられており、 f. 前記マシン・ビジョン・システムのイメージ・プロ
セッサからボール・センタ・ロケーションを受信する手
段と、 g. 前記極座標変換画像のセンタを前記予想されるボー
ルセンタ・ロケーションと位置合わせして、前記予想さ
れるボール・センタ・ロケーションをもつボールボンド
画像の各x,y座標が前記変換画像内のx,yロケーションに
一致するようにする手段と、 h. 前記予想されるボール・センタ・ロケーションと前
記極座標変換画像を同時に評価する手段であって、前記
予想されるボール・センタ・ロケーションをもつ前記ボ
ールボンド画像内の各ピクセル値は総和をとられて、前
記極座標変換画像内の対応するx,y座標のピクセル値に
よってインデックスされたアレイに入れられ、前記予想
されるボール・センタ・ロケーションに関連付けられた
1次元ヒストグラムが作成されて、前記アレイにストア
されるようにし、 i. 前記ヒストグラム内のピークを見つけて当該ピーク
値をストアするために適用されるエッジ・フィルタと、 j. 次の予想されるボール・センタ・ロケーションを選
択して、それを評価し、指定された数の予想されるボー
ル・センタ・ロケーションがなくなるまで繰り返してい
く手段と、 k. 前記iでストアした前記ピーク値の中から前記ヒス
トグラムの前記アレイのうちの最大ピーク値を見つけ、
当該最大ピークをストアした前記ヒストグラムに関連付
けられた前記予想されるボール・センタ・ロケーション
を前記ボールボンドのセンタとして前記マシン・ビジョ
ン・システムに通知し、対応するヒストグラム内の前記
最大ピークのロケーションを前記ボールボンドの半径と
して与える手段と、を備えていることを特徴とする装
置。 - 【請求項5】請求項4に記載の装置において、前記極座
標変換画像は、第1の一定ピクセル値を一番目のセグメ
ント内のピクセルに加え、第2の一定ピクセル値を次の
セグメント内のピクセルに加え、n個のセグメントが作
成されるまで続けていくことにより、前記変換画像をn
個のセグメントに分割する手段をさらに含むことを特徴
とする装置。 - 【請求項6】請求項5に記載の装置において、前記第1
の予想されるボール・センタ・ロケーションと前記極座
標変換画像を同時に評価する前記手段は、 4個のセグメントを生成する手段と、 4個のヒストグラムを作成する手段であって、各ヒスト
グラムは前記セグメントの1つを表わし、4個の半径が
突き止められ、予想ボール・センタ・ロケーションとの
それぞれの差をx方向とy方向により報告できるように
することをさらに含むことを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/236,213 US5581632A (en) | 1994-05-02 | 1994-05-02 | Method and apparatus for ball bond inspection system |
US08/236,213 | 1994-05-02 | ||
PCT/US1995/005273 WO1995030204A1 (en) | 1994-05-02 | 1995-05-01 | Method and apparatus for ball bond inspection system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09504401A JPH09504401A (ja) | 1997-04-28 |
JP3522280B2 true JP3522280B2 (ja) | 2004-04-26 |
Family
ID=22888598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52839995A Expired - Lifetime JP3522280B2 (ja) | 1994-05-02 | 1995-05-01 | ボールボンド検査システム用の方法および装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (3) | US5581632A (ja) |
EP (1) | EP0713593B1 (ja) |
JP (1) | JP3522280B2 (ja) |
AU (1) | AU2429295A (ja) |
DE (1) | DE69528741D1 (ja) |
WO (1) | WO1995030204A1 (ja) |
Families Citing this family (75)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5278634A (en) | 1991-02-22 | 1994-01-11 | Cyberoptics Corporation | High precision component alignment sensor system |
US5581632A (en) * | 1994-05-02 | 1996-12-03 | Cognex Corporation | Method and apparatus for ball bond inspection system |
JP3235008B2 (ja) * | 1994-07-16 | 2001-12-04 | 株式会社新川 | ワイヤボンデイング部のボール検出方法及び検出装置 |
US5813590A (en) * | 1995-12-18 | 1998-09-29 | Micron Technology, Inc. | Extended travel wire bonding machine |
JPH09181140A (ja) * | 1995-12-26 | 1997-07-11 | Toshiba Microelectron Corp | 半導体集積回路組立検査装置及び検査方法 |
US5835223A (en) * | 1996-01-05 | 1998-11-10 | Electronic Packaging Services, Ltd. | System for measuring surface flatness using shadow moire technology |
US6259827B1 (en) | 1996-03-21 | 2001-07-10 | Cognex Corporation | Machine vision methods for enhancing the contrast between an object and its background using multiple on-axis images |
US6236747B1 (en) | 1997-02-26 | 2001-05-22 | Acuity Imaging, Llc | System and method for image subtraction for ball and bumped grid array inspection |
US5926557A (en) * | 1997-02-26 | 1999-07-20 | Acuity Imaging, Llc | Inspection method |
US6201892B1 (en) | 1997-02-26 | 2001-03-13 | Acuity Imaging, Llc | System and method for arithmetic operations for electronic package inspection |
US6118524A (en) * | 1997-02-26 | 2000-09-12 | Acuity Imaging, Llc | Arc illumination apparatus and method |
US5943125A (en) * | 1997-02-26 | 1999-08-24 | Acuity Imaging, Llc | Ring illumination apparatus for illuminating reflective elements on a generally planar surface |
US5828449A (en) * | 1997-02-26 | 1998-10-27 | Acuity Imaging, Llc | Ring illumination reflective elements on a generally planar surface |
US6075881A (en) | 1997-03-18 | 2000-06-13 | Cognex Corporation | Machine vision methods for identifying collinear sets of points from an image |
US6055054A (en) * | 1997-05-05 | 2000-04-25 | Beaty; Elwin M. | Three dimensional inspection system |
AU7720798A (en) * | 1997-06-05 | 1998-12-21 | Electronic Packaging Services Ltd. Co. | Measuring surface flatness using shadow moire technology and phase-stepping image processing |
US6608647B1 (en) | 1997-06-24 | 2003-08-19 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for charge coupled device image acquisition with independent integration and readout |
JP3186667B2 (ja) * | 1997-10-07 | 2001-07-11 | 日本電気株式会社 | 検査用端子位置決定装置、検査用端子位置決定方法および検査用端子位置決定用プログラムを記録した記録媒体 |
US6363293B1 (en) * | 1998-01-05 | 2002-03-26 | Texas Instruments Incorporated | Video wire bonded system and method of operation |
US6072898A (en) * | 1998-01-16 | 2000-06-06 | Beaty; Elwin M. | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
US6915007B2 (en) | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
US6915006B2 (en) * | 1998-01-16 | 2005-07-05 | Elwin M. Beaty | Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components |
US6381375B1 (en) | 1998-02-20 | 2002-04-30 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for generating a projection of an image |
US6714670B1 (en) | 1998-05-20 | 2004-03-30 | Cognex Corporation | Methods and apparatuses to determine the state of elements |
US6577775B1 (en) | 1998-05-20 | 2003-06-10 | Cognex Corporation | Methods and apparatuses for normalizing the intensity of an image |
US6249602B1 (en) | 1998-05-28 | 2001-06-19 | Cognex Corporation | Method and apparatus for determining a reference point of an object profile within an image |
US7016539B1 (en) | 1998-07-13 | 2006-03-21 | Cognex Corporation | Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition |
US6381366B1 (en) | 1998-12-18 | 2002-04-30 | Cognex Corporation | Machine vision methods and system for boundary point-based comparison of patterns and images |
US6289492B1 (en) | 1998-12-18 | 2001-09-11 | Cognex Corporation | Methods and apparatuses for defining a region on an elongated object |
US6687402B1 (en) | 1998-12-18 | 2004-02-03 | Cognex Corporation | Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images |
US6519356B1 (en) | 1999-08-03 | 2003-02-11 | Intelligent Machine Concepts, L.L.C. | System and method for inspecting cans |
US6684402B1 (en) | 1999-12-01 | 2004-01-27 | Cognex Technology And Investment Corporation | Control methods and apparatus for coupling multiple image acquisition devices to a digital data processor |
US6407645B1 (en) | 2000-01-31 | 2002-06-18 | Agere Systems Guardian Corp. | Automated voltage control oscillator tuning |
US6748104B1 (en) | 2000-03-24 | 2004-06-08 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns |
US6744913B1 (en) * | 2000-04-18 | 2004-06-01 | Semiconductor Technology & Instruments, Inc. | System and method for locating image features |
US6657707B1 (en) * | 2000-06-28 | 2003-12-02 | Advanced Micro Devices, Inc. | Metallurgical inspection and/or analysis of flip-chip pads and interfaces |
US6525333B1 (en) | 2000-07-18 | 2003-02-25 | Intelligent Machine Concepts, L.L.C. | System and method for inspecting containers with openings with pipeline image processing |
US6778692B1 (en) * | 2000-08-11 | 2004-08-17 | General Electric Company | Image processing method and apparatus including image improving circuit |
DE10047211B4 (de) * | 2000-09-23 | 2007-03-22 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Positionsbestimmung einer Kante eines Strukturelementes auf einem Substrat |
DE10100892A1 (de) * | 2001-01-11 | 2002-07-25 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Inspektion von Bondverbindungen |
US7376175B2 (en) * | 2001-03-14 | 2008-05-20 | Mercury Computer Systems, Inc. | Wireless communications systems and methods for cache enabled multiple processor based multiple user detection |
WO2002073230A2 (en) | 2001-03-14 | 2002-09-19 | Mercury Computer Systems, Inc. | Wireless communications methods and systems for short-code and other spread spectrum waveform processing |
US6959112B1 (en) | 2001-06-29 | 2005-10-25 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method for finding a pattern which may fall partially outside an image |
US6705507B2 (en) * | 2001-07-24 | 2004-03-16 | Kulicke & Soffa Investments, Inc. | Die attach system and process using cornercube offset tool |
US6412683B1 (en) | 2001-07-24 | 2002-07-02 | Kulicke & Soffa Investments, Inc. | Cornercube offset tool |
US6729530B2 (en) * | 2001-07-24 | 2004-05-04 | Kulicke & Soffa Investments, Inc. | Fiber alignment apparatus and process using cornercube offset tool |
US7527186B2 (en) * | 2001-07-24 | 2009-05-05 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Method and apparatus for mapping a position of a capillary tool tip using a prism |
US7523848B2 (en) * | 2001-07-24 | 2009-04-28 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Method and apparatus for measuring the size of free air balls on a wire bonder |
US7885453B1 (en) | 2007-06-07 | 2011-02-08 | Cognex Technology And Investment Corporation | Image preprocessing for probe mark inspection |
US7142718B2 (en) * | 2002-10-28 | 2006-11-28 | Lee Shih-Jong J | Fast pattern searching |
US20040199052A1 (en) | 2003-04-01 | 2004-10-07 | Scimed Life Systems, Inc. | Endoscopic imaging system |
US7190834B2 (en) | 2003-07-22 | 2007-03-13 | Cognex Technology And Investment Corporation | Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image |
US8081820B2 (en) | 2003-07-22 | 2011-12-20 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns |
JP4128513B2 (ja) * | 2003-10-07 | 2008-07-30 | 株式会社新川 | ボンディング用パターン識別方法、ボンディング用パターン識別装置及びボンディング用パターン識別プログラム |
US7349567B2 (en) * | 2004-03-05 | 2008-03-25 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method and apparatus for determining angular pose of an object |
US7303528B2 (en) | 2004-05-18 | 2007-12-04 | Scimed Life Systems, Inc. | Serialization of single use endoscopes |
US10074057B2 (en) | 2004-05-21 | 2018-09-11 | Pressco Technology Inc. | Graphical re-inspection user setup interface |
US7369253B2 (en) * | 2004-10-13 | 2008-05-06 | Akrometrix, Llc | Systems and methods for measuring sample surface flatness of continuously moving samples |
US8111904B2 (en) | 2005-10-07 | 2012-02-07 | Cognex Technology And Investment Corp. | Methods and apparatus for practical 3D vision system |
US8162584B2 (en) | 2006-08-23 | 2012-04-24 | Cognex Corporation | Method and apparatus for semiconductor wafer alignment |
WO2008115532A1 (en) | 2007-03-20 | 2008-09-25 | Cyberoptics Corporation | Method for measuring center of rotation of a nozzle of a pick and place machine using a collimated laser beam |
US8068664B2 (en) * | 2007-06-05 | 2011-11-29 | Cyberoptics Corporation | Component sensor for pick and place machine using improved shadow imaging |
TR200802780A2 (tr) * | 2008-04-22 | 2009-11-23 | T�B�Tak- T�Rk�Ye B�L�Msel Ve Teknoloj�K Ara�Tirma Kurumu | Kovan dip tablası üzerinde otomatik bölge bölütleme yöntemi ve kovan karşılaştırma için en uygun iz bölgesi seçimi. |
US8358831B2 (en) * | 2008-09-11 | 2013-01-22 | Rudolph Technologies, Inc. | Probe mark inspection |
TWI408362B (zh) * | 2009-10-19 | 2013-09-11 | Innolux Corp | 陣列基板與液晶面板的自動檢測方法,製程機台及其陣列基板自動檢測裝置 |
CN103107111B (zh) | 2011-11-11 | 2017-03-01 | 飞思卡尔半导体公司 | 用于监测线接合中无空气球(fab)形成的方法和装置 |
US9122952B2 (en) | 2011-12-23 | 2015-09-01 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for one-dimensional signal extraction |
US8792713B2 (en) * | 2012-04-26 | 2014-07-29 | Sony Corporation | Deriving multidimensional histogram from multiple parallel-processed one-dimensional histograms to find histogram characteristics exactly with O(1) complexity for noise reduction and artistic effects in video |
US9679224B2 (en) | 2013-06-28 | 2017-06-13 | Cognex Corporation | Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models |
WO2015089113A1 (en) * | 2013-12-09 | 2015-06-18 | North Carolina State University | Methods, systems, and computer readable media for measuring and correcting drift distortion in images obtained using a scanning microscope |
SG11201604465VA (en) * | 2013-12-11 | 2016-07-28 | Fairchild Semiconductor | Integrated wire bonder and 3d measurement system with defect rejection |
CN104390631A (zh) * | 2014-03-11 | 2015-03-04 | 北京中天荣泰科技发展有限公司 | 一种基于自由曲面视觉标识点的编码方法及解码方法 |
US10776912B2 (en) | 2016-03-09 | 2020-09-15 | Agency For Science, Technology And Research | Self-determining inspection method for automated optical wire bond inspection |
TWI697656B (zh) * | 2017-12-20 | 2020-07-01 | 日商新川股份有限公司 | 線形狀檢查裝置以及線形狀檢查方法 |
JP7283228B2 (ja) * | 2019-05-27 | 2023-05-30 | コニカミノルタ株式会社 | 測定装置、画像形成装置、および、測定方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4240750A (en) * | 1978-10-02 | 1980-12-23 | Hurd William A | Automatic circuit board tester |
JPS55154740A (en) * | 1979-05-23 | 1980-12-02 | Hitachi Ltd | Wire bonding device |
JPS6017044B2 (ja) * | 1979-07-23 | 1985-04-30 | 株式会社日立製作所 | 印刷配線板のパタ−ン検査装置 |
US4439010A (en) * | 1982-04-01 | 1984-03-27 | Spectron Development Laboratories, Inc. | Apparatus for combining optical images |
US4567610A (en) * | 1982-07-22 | 1986-01-28 | Wayland Research Inc. | Method of and apparatus for pattern recognition |
US4441248A (en) * | 1982-12-02 | 1984-04-10 | Stanley Electric Company, Ltd. | On-line inspection method and system for bonds made to electronic components |
JPS60263807A (ja) * | 1984-06-12 | 1985-12-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | プリント配線板のパタ−ン欠陥検査装置 |
DE3580918D1 (de) * | 1984-12-14 | 1991-01-24 | Sten Hugo Nils Ahlbom | Anordnung zur behandlung von bildern. |
US4731863A (en) * | 1986-04-07 | 1988-03-15 | Eastman Kodak Company | Digital image processing method employing histogram peak detection |
JPS6362242A (ja) * | 1986-09-02 | 1988-03-18 | Toshiba Corp | ワイヤボンディング装置 |
US4955062A (en) * | 1986-12-10 | 1990-09-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Pattern detecting method and apparatus |
US4955060A (en) * | 1987-07-02 | 1990-09-04 | Nippon Sheet Glass Co., Ltd. | Image recognition apparatus |
JPH0244202A (ja) * | 1988-08-05 | 1990-02-14 | Bridgestone Corp | 物体の端部位置を検出する装置 |
US5030008A (en) * | 1988-10-11 | 1991-07-09 | Kla Instruments, Corporation | Method and apparatus for the automated analysis of three-dimensional objects |
JPH07111998B2 (ja) * | 1989-08-18 | 1995-11-29 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
JPH0715926B2 (ja) * | 1990-09-14 | 1995-02-22 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
JP2845601B2 (ja) * | 1990-10-09 | 1999-01-13 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング外観検査装置 |
JP2851151B2 (ja) * | 1990-10-12 | 1999-01-27 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング検査装置 |
US5204911A (en) * | 1991-05-29 | 1993-04-20 | Nira Schwartz | Inspection method using unique templates and histogram analysis |
JP2914850B2 (ja) * | 1993-07-16 | 1999-07-05 | 株式会社カイジョー | ワイヤボンディング装置及びその方法 |
US5640199A (en) * | 1993-10-06 | 1997-06-17 | Cognex Corporation | Automated optical inspection apparatus |
US5642158A (en) * | 1994-05-02 | 1997-06-24 | Cognex Corporation | Method and apparatus to detect capillary indentations |
US5581632A (en) * | 1994-05-02 | 1996-12-03 | Cognex Corporation | Method and apparatus for ball bond inspection system |
-
1994
- 1994-05-02 US US08/236,213 patent/US5581632A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-05-01 AU AU24292/95A patent/AU2429295A/en not_active Abandoned
- 1995-05-01 WO PCT/US1995/005273 patent/WO1995030204A1/en active IP Right Grant
- 1995-05-01 EP EP95918320A patent/EP0713593B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-01 DE DE69528741T patent/DE69528741D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-05-01 JP JP52839995A patent/JP3522280B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1995-08-31 US US08/520,935 patent/US5835622A/en not_active Expired - Lifetime
-
1996
- 1996-12-02 US US08/759,853 patent/US5901241A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO1995030204A1 (en) | 1995-11-09 |
DE69528741D1 (de) | 2002-12-12 |
US5835622A (en) | 1998-11-10 |
JPH09504401A (ja) | 1997-04-28 |
EP0713593B1 (en) | 2002-11-06 |
US5581632A (en) | 1996-12-03 |
US5901241A (en) | 1999-05-04 |
EP0713593A4 (en) | 1998-09-02 |
EP0713593A1 (en) | 1996-05-29 |
AU2429295A (en) | 1995-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3522280B2 (ja) | ボールボンド検査システム用の方法および装置 | |
US9464992B2 (en) | Automated wafer defect inspection system and a process of performing such inspection | |
EP0041870B1 (en) | Pattern position recognition apparatus | |
CN108802046B (zh) | 一种混合集成电路组件缺陷光学检测装置及其检测方法 | |
JPS6199845A (ja) | 光学的欠陥検出装置 | |
JPS62269279A (ja) | パタ−ン認識システム | |
WO1998001745A1 (en) | Automatic semiconductor wafer sorter/prober with extended optical inspection | |
JPH07111998B2 (ja) | ワイヤボンディング検査装置 | |
JP2851151B2 (ja) | ワイヤボンディング検査装置 | |
US6061467A (en) | Automated optical inspection apparatus using nearest neighbor interpolation | |
US6765666B1 (en) | System and method for inspecting bumped wafers | |
CN112834528A (zh) | 3d缺陷检测系统及方法 | |
EP0228963B1 (en) | Linescan inspection system for circuit boards | |
JP3836988B2 (ja) | パターン検査方法およびパターン検査装置 | |
JP3385916B2 (ja) | ワイヤボンディングにおけるワイヤの検出方法 | |
Ngan et al. | Geometric modelling of IC die bonds for inspection | |
KR102236258B1 (ko) | 와이어본딩 검사방법 | |
JP2003329611A (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JPS63144531A (ja) | 半導体装置の撮像検査装置 | |
Pal et al. | A feasibility study of ic chip wire bond inspection | |
Chapron | Automated Visual Integrated Circuit Mounting Operations Inspections | |
JP2010175563A (ja) | 自動化ウェハ欠陥検査システムおよびこのような検査を実行する方法 | |
JPH05251540A (ja) | ボンディングワイヤ検査装置 | |
JPH1163928A (ja) | ボンディングワイヤ検査方法および装置 | |
JP2003207320A (ja) | 3次元認識装置及びその方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040106 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040204 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090220 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100220 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110220 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120220 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130220 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130220 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140220 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |