JPH09160663A - 低参照電圧回路およびその動作方法 - Google Patents

低参照電圧回路およびその動作方法

Info

Publication number
JPH09160663A
JPH09160663A JP8323580A JP32358096A JPH09160663A JP H09160663 A JPH09160663 A JP H09160663A JP 8323580 A JP8323580 A JP 8323580A JP 32358096 A JP32358096 A JP 32358096A JP H09160663 A JPH09160663 A JP H09160663A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
voltage
reference voltage
current
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8323580A
Other languages
English (en)
Inventor
Joseph J Nahas
ジョセフ・ジェイ・ナハス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Motorola Solutions Inc
Original Assignee
Motorola Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Motorola Inc filed Critical Motorola Inc
Publication of JPH09160663A publication Critical patent/JPH09160663A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • G05F3/245Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage producing a voltage or current as a predetermined function of the temperature
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S323/00Electricity: power supply or regulation systems
    • Y10S323/907Temperature compensation of semiconductor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 低電圧で動作する基準電圧発生器回路600
を提供する。 【解決手段】 この基準電圧発生器回路600は、加算
回路618を利用して、分圧されたバイポーラ接合電圧
信号616と、絶対温度に比例する倍増された電圧信号
622とを合成することによって得られる。基準電圧発
生器回路600は、分圧信号616を生成する分割回路
620によって分圧される基準電圧と、倍増信号622
を生成する倍増回路630によって倍増される基準電圧
とを発生する。別の様態では、バイポーラ接合電圧と、
絶対温度に比例する電圧とは、電流に変換され、加算し
て、基準電圧出力に変換される電流を与えることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一般に、参照電圧に関
し、さらに詳しくは、低電圧のバンドギャップ参照電圧
に関する。
【0002】
【従来の技術】参照電圧は、既知の電圧をシステムおよ
び回路に与えるためエレクトロニクス業界で一般に利用
される。このような基準電圧を利用することにより、安
定した供給電圧の設計および製造ならびにイベントの監
視および測定が可能になる。参照電圧は温度に対して安
定することが望ましい。バンドギャップ参照電圧発生器
は、温度に対して安定した既知のタイプの参照電圧発生
器である。バンドギャップ参照電圧発生器は、接合電圧
j と、絶対温度に比例する電圧(Vpat )とを加算す
ることによって動作する。図1は、電圧Vj を発生する
ために用いられる既知の回路100を示す。回路100
は、ダイオード106が順方向バイアスされるように、
ダイオード106に接続された電流源104を有する。
電圧Vj は、ダイオード106の順方向バイアス電圧で
ある。図2は、温度に対する電圧Vj 102の既知の伝
達特性曲線をグラフに示す。グラフの横軸は、ケルビン
単位の絶対温度を表す。縦軸は、電圧Vj 102を表
す。室温では、典型的なプロセスで形成される接合は、
0.4〜0.7ボルトの間の接合電圧Vj 10を有す
る。0°Kでは、接合電圧はバンドギャップ電圧
(VBG)によって制限される。シリコンのバンドギャッ
プ電圧は、既知のほぼ一定の値で、約1.2ボルトであ
る。0°Kと室温300°Kとの間では、伝達特性曲線
は、0°Kのおける電圧値と300°Kにおける電圧値
との間でほぼ直線によって表される。これらの電圧値
は、それぞれ1.2ボルトおよび0.5ボルトである。
従って、伝達特性曲線は負の傾きを有する。
【0003】図3は、電圧Vpat を発生するために用い
られる既知のVPT(voltage proportional to tempera
ture) 発生器回路300を示す。VPT発生器は、MO
Sまたはバイポーラ技術のいずれかで作成できるが、図
示のVPT発生器300は、MOSデバイスにおける閾
値以下電流(sub-threshold current) 指数拡散が支配的
な性質に依存する。そのため、トランジスタ308,3
06における電流密度が十分に小さく、これらのトラン
ジスタが、弱反転領域(weak inversion region) とも呼
ばれる閾値以下領域で動作する場合、絶対温度に比例す
る電圧がノード312に存在する。ただし、トランジス
タ306の幅がトランジスタ308の幅よりも大きく、
かつそれらの長さが実質的に等しく、かつ両方のトラン
ジスタ306,308に印可されるゲート電極電圧が、
両方のトランジスタが同じ値の電流を伝播するような電
圧であるものとする。図4は、VPT発生器300の既
知の伝達特性曲線を示す。縦軸は、絶対温度に比例する
電圧(Vpat )を表し、横軸は、ケルビン単位の温度を
表す。温度が絶対ゼロ(0°K)に近づくと、Vpat
ゼロ・ボルトに近づく。伝達特性曲線は、トランジスタ
306のサイズとトランジスタ308のサイズの比率
と、これらのトランジスタで用いられる特定のデバイス
・プロセス技術とに応じて、室温における20〜80ミ
リボルトの値と、絶対ゼロにおけるゼロ・ボルトとの間
の線によって表される。この曲線は線形であり、正の傾
きを有する。
【0004】図5は、参照番号504のVj の伝達特性
曲線と、参照番号5506のVpatの増幅された伝達特
性曲線とを示す。Vj 202(図2)の伝達特性曲線お
よびVpat (図4)の伝達特性曲線は、反対方向の傾き
を有する。Vpat (図4)の傾きを増幅することによ
り、Vj 505の傾きと等しいが反対方向の傾きが得ら
れる。この増幅された傾きは、曲線506によって表さ
れる。Vj 電圧曲線504および増幅された電圧曲線5
06を加算することにより、温度変化から独立した参照
電圧曲線(Vref )502が得られる。Vref 曲線50
2の傾きは実質的にゼロである。電圧シフト方法をさら
に利用することにより、参照電圧レベルを1.2ボルト
以上またはそれ以下の値にシフトできる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】バンドギャップ参照電
圧発生器の利用は普及しているが、約1.2ボルトのバ
ンドギャップ電圧以上の電源電圧での利用に制限されて
きた。バッテリおよびさらに低い電圧を必要とする現在
の用途では、1.2ボルト基準値以下の参照電圧が必要
とされる。
【0006】
【課題を解決するための手段】従って、低い電圧で動作
でき、かつ低い電圧を発生できるバンドギャップ型参照
電圧発生器および複数の基準電圧を発生できる参照電圧
発生器が必要とされる。
【0007】
【実施例】一般に、本発明は、低供給電圧の基準電圧発
生器の方法および装置を提供する。一般に、参照電圧発
生器の利用では、1.2ボルト以上の供給電圧を必要と
する。本発明は、0.9ボルトまたはそれ以下の電源電
圧で動作でき、また0.9ボルト以下の低い参照電圧を
発生できる。
【0008】図6は、本発明による電圧発生器回路60
0を示す。電圧発生器回路600は、VPT発生器(vol
tage-proportional-to-absolute temperature generato
r)602,接合参照電圧発生器604および加算回路網
(summation network) 606を含む。VPT発生器60
2は、温度依存参照電圧である電圧信号Vpat 610を
生成する。本実施例では、信号Vpat 610は、トラン
ジスタ306のサイズとトランジスタ308のサイズの
比率と、これらのトランジスタで用いられる特定のデバ
イス・プロセス技術とに応じて、室温における20〜8
0ミリボルトと、絶対ゼロにおける0.0ボルトとの間
で、絶対温度に比例して変化する。接合参照電圧発生器
604は、接合参照電圧である信号Vj 608を生成す
る。この信号は、図2に示すように、バイポーラ接合電
圧の表現である。加算回路網606は、信号Vpat 61
0と、バッファされた接合参照電圧Vj ’612とを受
ける。これらの信号を受けると、加算回路網606は基
準電圧Vref 614を生成する。
【0009】図7は、本発明による接合参照電圧発生器
604を示す。発生器604は、電流源709と、バイ
ポーラ接合を有するダイオード702と、バッファ70
6とによって構成される。電流源709は、ダイオード
702が順方向バイアスされて、このダイオードの両端
に参照電圧Vj を生成するように、ダイオード702に
接続される。バッファ706への入力は、Vj 708を
受けるべく接続され、Vj 708は、電流源709およ
びダイオード702に共通のノードにおいて生成され
る。バッファ706は、単位利得増幅器を利用して構築
できる。バッファ706の出力は、バッファ706の入
力においてダイオード電圧に比例する信号Vj ’612
である。バッファ706は、回路の出力部分における負
荷が電圧Vj 708に影響を及ぼすことを防ぐために用
いられる。
【0010】図6に示すように、加算回路網606は、
分圧回路620,倍増回路630および加算回路618
によって構成される。分圧回路620は、信号Vj ’6
12を受けて、その出力において被分圧信号616を与
える。電圧倍増回路630は、信号Vpat 610を受け
て、その出力において被倍増信号622を与える。被分
圧信号616および被倍増信号622は、加算回路61
8が受ける。これら2つの信号は、加算回路618によ
って互いに加算される。これらの信号の加算によって、
その出力において基準電圧が得られる。図5に示すよう
に、基準電圧614と同様な電圧Vref 502は、Vj
504と増幅されたVpat 信号506とを加算すること
によって生成される。これらの表現の傾きは互いに反対
で、そのためこれらの組み合わせによって、信号Vref
502によって表されるように温度依存電圧が得られ
る。
【0011】従来技術の制限は、バンドギャップ電圧の
ために生じる。シリコン・バイポーラ接合のバンドギャ
ップ電圧は、約1.2ボルトである。1.2ボルトの参
照電圧を生成するためには、1.2ボルトよりも若干高
い供給電圧を必要とする。従って、理想的な状況では、
最低動作電圧は1.2ボルトよりも大きくなる。図6に
示すように分圧回路620を追加することにより、Vj
対温度伝達特性曲線(図2)の傾きを変更できる。この
曲線の傾きを変更することにより、伝達特性曲線が縦軸
を切り取る点が修正される。例えば、分圧回路620
が、図5の伝達特性曲線504によって表されるVj
入力信号を2で分圧すると、新たな縦軸切片は0.6ボ
ルトになる。ここで、0.6ボルトの縦軸切片は、生成
できる参照電圧を表す。これは、Vpat 610の傾きが
j ’612を表す曲線の傾きのほぼ逆数となるように
pat 610を増幅することによって達成される。基準
電圧が0.6ボルトになると、0.9ボルト以下の供給
電圧で動作可能になる。0.9ボルトは、多くのバッテ
リ駆動用途において利用可能な最小供給電圧を表す。
【0012】図8は、本発明による低参照電圧回路80
0を示す。参照電圧回路800は、Pチャネル・トラン
ジスタ802,806と、Nチャネル・トランジスタ8
04,808と、抵抗器810とを有するVPT発生器
602を構成する。VPT発生器602のこの構成は、
周知の従来技術である。トランジスタ802は、電源V
DDに接続されたソース電極と、ドレイン電極と、ゲート
電極とを有する。トランジスタ806は、電源VDDに接
続されたソース電極と、ドレイン電極と、トランジスタ
806のドレイン電極およびトランジスタ802のゲー
ト電極に接続されたゲート電極とを有する。トランジス
タ804は、トランジスタ802のドレイン電極に接続
されたドレイン電極と、グランド信号を受けるべく接続
されたソース電極と、トランジスタ804のドレイン電
極に接続されたゲート電極とを有する。トランジスタ8
08は、トランジスタ806のドレイン電極に接続され
たドレイン電極と、抵抗器810の第1端子に接続され
たソース電極と、トランジスタ804のゲート電極に接
続されたゲート電極とを有する。抵抗器810は、グラ
ンド信号に接続された第2端子を有する。トランジスタ
808のソース電極および抵抗器810の第1端子に共
通のノードは、ノード836である。ノード836は、
図6の信号Vpat 610と同様である。
【0013】VPT発生器602のNチャネル・トラン
ジスタ804およびNチャネル・トランジスタ808に
おける電流密度は十分低いため、これらのトランジスタ
は閾値以下または弱反転領域で動作し、また本発明の一
実施例では、トランジスタ幅比は、トランジスタ808
の幅がトランジスタ804の幅の4倍となっている。こ
の構成において、両方のトランジスタ804,808が
同じ電流を伝播する場合、図8に示すようなVPT発生
器602は、この回路で用いられる特定のシリコン・デ
バイス技術の特性に応じて、35〜50ミリボルトの参
照電圧をノード836において生成する。ノード836
は、図6の信号Vpat と同様である。トランジスタ80
6およびトランジスタ808を通過する電流の量は、抵
抗器810によって制御される。例えば、40ミリボル
トの基準電圧を生成する特定のシリコン・デバイス技術
について、300°Kの温度で動作するために1マイク
ロアンペアの電流が望ましい場合、抵抗器810は40
キロオームとなるように選択される。この電流は、電圧
pat に比例する。トランジスタ806,802は、電
流ミラーを形成する。トランジスタ802,806が実
質的に同じ場合、出力インピーダンスおよびプロセス変
動の影響を無視すれば、トランジスタ802における電
流はトランジスタ806における電流と同じである。ト
ランジスタ802は、トランジスタ804の電流を制御
し、そのため出力インピーダンスおよびプロセス変動の
影響を無視すれば、トランジスタ804,808が同じ
電流を伝達することを保証する。さらに、Nチャネルま
たはPチャネル・トランジスタのゲート電極をNチャネ
ル・トランジスタ804またはPチャネル・トランジス
タ806のゲート電極電圧でそれぞれ駆動することによ
り、電流を回路の他の部分において複製できる 接合電圧発生器604(図6)は、Pチャネル・トラン
ジスタ812,ダイオード814および増幅器850を
利用して、図8に示すように構成できる。Nチャネル・
トランジスタ850およびPチャネル・トランジスタ8
48は、Pチャネル・トランジスタ812の電流を制御
する。増幅器850は、Pチャネル・トランジスタ81
6,822,826と、Nチャネル・トランジスタ81
8,824,820と、抵抗器828,830とによっ
て構成される。Pチャネル・トランジスタ844および
Nチャネル・トランジスタ846は、この増幅器の電流
バイアスを設定する。
【0014】トランジスタ850は、トランジスタ80
4のゲート電極に接続されたゲート電極と、グランド信
号を受けるべく接続されたソース電極と、ドレイン電極
とを有する。トランジスタ848は、電源VDDに接続さ
れたソース電極と、トランジスタ850のドレイン電極
に接続されたドレイン電極と、トランジスタ848のド
レイン電極に接続されたゲート電極とを有する。トラン
ジスタ818は、トランジスタ848のゲート電極に接
続されたゲート電極と、電源VDDに接続されたソース電
極と、ドレイン電極とを有する。ダイオード814は、
トランジスタ812のドレイン電極に接続されたアノー
ドと、グランド信号に接続されたカソードとを有する。
ダイオード814およびトランジスタ812に共通のノ
ードはノード838であり、図6のダイオードVj 60
8の順方向バイアス接合電圧を表す。
【0015】トランジスタ816は、電源VDDに接続さ
れたソース電極と、ゲート電極と、ドレイン電極とを有
する。トランジスタ818は、トランジスタ818のド
レイン電極に接続されたドレイン電極と、ノード838
に接続されたゲート電極と、ソース電極とを有する。ト
ランジスタ844は、電源VDDに接続されたソース電極
と、トランジスタ806のゲート電極に接続されたゲー
ト電極と、ドレイン電極とを有する。トランジスタ84
6は、グランド信号に接続されたソース電極と、トラン
ジスタ844のドレイン電極に接続されたドレイン電極
と、トランジスタ846のドレイン電極に接続されたゲ
ート電極とを有する。トランジスタ820は、トランジ
スタ818のソース電極に接続されたドレイン電極と、
トランジスタ846のゲート電極に接続されたゲート電
極と、グランド信号に接続されたソース電極とを有す
る。トランジスタ822は、電源VDDに接続されたソー
ス電極と、トランジスタ816のゲート電極に接続され
たゲート電極と、トランジスタ822のゲート電極に接
続されたドレイン電極とを有する。トランジスタ824
は、トランジスタ822のドレイン電極に接続されたド
レイン電極と、ゲート電極と、トランジスタ820のド
レイン電極に接続されたソース電極とを有する。トラン
ジスタ826は、電源VDDに接続されたソース電極と、
トランジスタ818のドレイン電極およびコンデンサ8
60の第1端子に接続されたゲート電極と、トランジス
タ824のゲート電極およびコンデンサ860hの第2
端子ならびに抵抗器828の第1端子に接続されたドレ
イン電極とを有する。抵抗器828は、抵抗器830の
第1端子に接続された第2端子を有する。抵抗器830
は、グランド信号に接続された第2端子を有する。ノー
ド852は、抵抗器828の第2端子および抵抗器83
0の第1端子に共通のノードである。ノード840は、
トランジスタ826のドレイン電極,トランジスタ82
4のゲート電極および抵抗器828の第1端子に共通の
ノードである。ノード840は、図6の信号Vj ’61
2と同様である。
【0016】Nチャネル・トランジスタ850は電流源
として機能し、トランジスタ804のゲートを駆動する
同じゲート電極電圧を受ける。一般に、トランジスタ8
50は、トランジスタ804よりもはるかに小さい幅を
有し、はるかに小さい電流を導通する。Pチャネル・ト
ランジスタ848,812は、電流ミラーとして機能す
る。Pチャネル・トランジスタ812によって生成され
た電流は、ダイオード814を通り、ダイオード814
の両端に順方向バイアスを生成する。接合電圧(図6の
j 608)は、ノード838に存在する。この接合電
圧は、増幅器850によってバッファされる。Vj は、
Nチャネル・トランジスタ818のゲート電極である増
幅器850の入力が受ける。増幅器の出力は、出力ノー
ド840である。出力ノード840に存在する電圧、す
なわち図6のVj ’612は、ノード838に存在する
ダイオード電圧、すなわち図6のVj 608と実質的に
同様である。
【0017】加算回路網606(図6)は、図8におい
て、Pチャネル・トランジスタ806,832,Nチャ
ネル・トランジスタ808および抵抗器810,83
4,828,830によって表される。(Pチャネル・
トランジスタ806,Nチャネル・トランジスタ808
および抵抗器810はVPT発生器602の一部でもあ
る。抵抗器828,830は増幅器850の一部でもあ
る。)分圧回路620(図6)は、抵抗器828および
抵抗器830の直列接続によって表される。抵抗器82
8は、信号Vj ’612(図6)と同様な信号を与える
ノード840に接続される。増倍回路630(図6)
は、トランジスタ806,808,832および抵抗器
810,828,830,834によって表される。加
算回路618(図6)は、抵抗器828,830,83
4によって表される。
【0018】トランジスタ832は、電源VDDに接続さ
れたソース電極と、トランジスタ806のゲート電極に
接続されたゲート電極と、抵抗器834の第1端子に接
続されたドレイン電極とを有する。抵抗器834の第2
端子は、ノード852に接続される。トランジスタ83
2のドレイン電極および抵抗器834の第1端子に共通
のノードは、基準電圧Vref 614(図6)を表すノー
ド614である。
【0019】分圧回路において、ノード840において
表される電圧Vj ’612は、抵抗器830と直列の抵
抗器828からなる抵抗分圧回路網に結合される。ノー
ド852は、2つの抵抗器828,830に共通のノー
ドである。抵抗器828,830は分圧回路として機能
し、ノード852は、図6において分圧信号が存在する
ノードと同様であるが、抵抗器828,830は、抵抗
分圧回路網の結果を修正する図6の加算回路618の一
部でもあるので、ノード852に存在する信号は図6の
分圧信号616と同等ではない。抵抗器828,83
0,834は、実質的に2つのソース、すなわち、ノー
ド840における電圧源Vj ’と、トランジスタ832
である電流源とを有する線型回路網を形成する。重畳の
原理(superposition principle) を利用すれば、電圧源
j ’の視点からみると、この回路網は、抵抗器828
が電圧源Vj ’とグランド信号との間で抵抗器830と
直列で、抵抗器834はノード852において接続さ
れ、その他方の端子で非接続となるように見える。この
視点から、ノード852は図6のノード616と同様で
ある。
【0020】倍増回路において、図6の信号Vpat 61
0を表すノード836と、グランド信号とを接続する抵
抗器810により、電圧Vpat に比例する電流が抵抗器
810およびトランジスタ808,806に流れる。ト
ランジスタ806,832は、電流ミラーを形成する。
トランジスタ806,832がこれらのトランジスタの
幅を除いて実質的に同一ならば、トランジスタ832の
電流はトランジスタ806の電流の倍数となり、その乗
数は、出力インピーダンスおよびプロセス変数の影響を
無視すると、トランジスタ832の幅とトランジスタ8
06の幅の比である。トランジスタ832からの電流
は、抵抗器834および抵抗器828,830に流れ
る。ここでも重複原理を利用すると、トランジスタ83
2からの電流の視点から見ると、回路網は、抵抗器83
4が抵抗器828,830の並列接続と直列であるよう
にみえる。トランジスタ832からの電流によって、抵
抗器820,830の並列接続と直列の抵抗器834の
抵抗網の両端に生成される電圧は、電圧Vpat の倍数で
ある。この重畳の視点から、ノード614は、図6のノ
ード622と同等である。倍率は、トランジスタ832
の幅とトランジスタ806の幅の比を、トランジスタ8
10と抵抗828,830の並列接続と直列の抵抗83
4の組み合わせとの比率を乗じたものである。
【0021】抵抗器828,830,832も、ノード
840からの分圧された電圧と、ノード836からの倍
増された電圧とをノード614において加算すべく機能
する。図8における加算回路網の構成要素の動作、特
に、Vref の発生については、以下の式によって理解で
きる: 電流をノード852に加算する場合:
【0022】
【数1】((V40−V52)/R28)−(V52/
R30)+((Vref −V52)/R34)=0 ここで、V40は、ノード840における電圧;V52
は、ノード852における電圧;R28は、抵抗器82
8の抵抗;R30は、抵抗器830の抵抗;Vref は、
基準電圧614によって表される電圧;R34は、抵抗
器834の抵抗である。
【0023】電流をノード614に加算する場合:
【0024】
【数2】((V52−Vref )/R34)+I32=0 ここで、I32は、トランジスタ832における電流で
ある。
【0025】V52を消すように、Vref について数1
および数2を解くと、次式が得られる:
【0026】
【数3】Vref =(V40・R30/(R28+R3
0))+(I32・(R34+(R28・R30/(R
28+R30)))) V40は、Vj ’に等しい。トランジスタ806,83
2がその幅を除いて同一であることを保証し、かつトラ
ンジスタ806のゲート電極上に存在する電圧をトラン
ジスタ832のゲート電極に印加することにより、トラ
ンジスタ832を通過する電流は、トランジスタ832
の幅とトランジスタ806の幅の比によって、トランジ
スタ806を通過する電流に配給される。トランジスタ
806の電流は、VPT発生器602の抵抗器810に
流れる電流に等しい。「等しい(equal) 」「同一(ident
ical) 」および「比(ratio) 」という用語は、出力イン
ピーダンスおよびプロセス変動の影響を無視することを
意味することに留意されたい。電流は、次式によって実
質的に表される:
【0027】
【数4】I32=I06・(W32/W06)
【0028】
【数5】I06=I10=V36/R10 ここで、I10は、抵抗器810に流れる電流の値;V
36は、ノード836における電圧;R10は、抵抗器
810の抵抗;W32は、トランジスタ832の幅;W
06は、トランジスタ806の幅である。
【0029】数4および数5を数3に代入することによ
り、次式が得られる:
【0030】
【数6】Vref =(V40・R30/(R28+R3
0))+(V36・(W34/W06)・(R34+
(R28・R30/(R28+R30)))/R10) V40すなわち図6のVj ’612は、ノード838の
電圧、すなわち図6のVj に等しく、V36は、図6の
pat 610と同等であり、従って数6は次のように書
き換えることができる:
【0031】
【数7】Vref =(Vj ・R30/(R28+R3
0))+(Vpat ・(W34/W06)・(R34+
(R28・R30/(R28+R30)))/R10) Vj は、R30と、R28およびR30の和との比(こ
の比は1より小さい)によって乗算され、Vpat はW3
4とW06の比によって乗算され、R28およびR30
の並列接続と直列のR34と、R10との比によって乗
算され、また分圧されたVj および倍増されたVpat
加算されることに留意されたい。また、抵抗器828,
830は第1比を形成し、抵抗器834,810は第2
比を形成し、抵抗器828,810は第3比を形成し、
トランジスタ幅W34,W06は第4比を形成すること
にも留意されたい。これらの比は、次式によって表すこ
とができる:
【0032】
【数8】R30/(R28+R30)=Rr1
【0033】
【数9】R34/R10=Rr2
【0034】
【数10】R28/R10=Rr3
【0035】
【数11】W34/W06=Rw4 数8,数9,数10,数11を数7に代入すると、次式
が得られる:
【0036】
【数12】Vref =(Vj ・Rr1)+(Vpat ・Rw
4・(Rr2+(Rr3・Rr1))) 全ての抵抗器は、抵抗値の相関するプロセスまたは温度
変動が相殺するような比を形成する。
【0037】本発明に従って、R10,Rr1,Rr
2,Rr3,Rw4の値を適切に選択することにより、
0.9ボルト以下のVref の値が得られ、0.9ボルト
またはそれ以下の回路動作が可能になる。
【0038】図9は、本発明による別の回路実施例を示
す。参照電圧回路1000は、Pチャネル・トランジス
タ1002,1006,Nチャネル・トランジスタ10
04,1008および抵抗器1010を有するVPT発
生器602を構成する。トランジスタ1002は、電源
DDに接続されたソース電極と、ドレイン電極と、トラ
ンジスタ1002のゲート電極に接続されたゲート電極
とを有する。トランジスタ1006は、電源VDDに接続
されたソース電極と、ドレイン電極と、トランジスタ1
006のドレイン電極およびトランジスタ1002のゲ
ート電極に接続されたゲート電極を有する。トランジス
タ1004は、トランジスタ1002のドレイン電極に
接続されたドレイン電極と、グランド信号を受けるべく
接続されたソース電極と、トランジスタ1004のドレ
イン電極に接続されたゲート電極とを有する。トランジ
スタ1008は、トランジスタ1006のドレイン電極
に接続されたドレイン電極と、抵抗器1010の第1端
子に結合されたソース電極と、トランジスタ1004の
ゲート電極に結合されたゲート電極とを有する。抵抗器
1010は、グランド信号を受けるべく接続された第2
端子を有する。トランジスタ1008のソース電極およ
び抵抗器1010の第1端子に共通のノードは、ノード
1036である。ノード1036は、図6の信号Vpat
610と同様である。
【0039】VPT発生器602のNチャネル・トラン
ジスタ1004およびNチャネル・トランジスタ100
8における電流密度は十分小さく、そのためこれらのト
ランジスタは閾値以下または弱反転領域において動作
し、本発明の一実施例に従って、トランジスタ幅比は、
トランジスタ1008の幅がトランジスタ1004の幅
の4倍となる比である。この構成において、トランジス
タ1004,1008の両方が同じ電流を伝播する場
合、図9に示すようなVPT発生器1002は、回路で
用いられる特定のシリコン・デバイス技術の特性に応じ
て、35〜50ミリボルトの参照電圧をノード1036
において生成する。トランジスタ1006およびトラン
ジスタ1008に流れる電流の量は、抵抗器1010に
よって制御される。例えば、40ミリボルトの基準電圧
を生成する特定のシリコン・デバイス技術について、3
00°Kの温度において1マイクロアンペア電流が望ま
しい場合、抵抗器1010は40キロオームとなるよう
に選択される。この電流は、電圧Vpat に比例する。ト
ランジスタ1006,1002は、電流ミラーを形成す
る。トランジスタ1002,1006が実質的に同じ場
合、出力インピーダンスおよびプロセス変動の影響を無
視すれば、トランジスタ1002の電流はトランジスタ
1006の電流と同じになる。トランジスタ1002
は、トランジスタ1004における電流を制御し、それ
によりトランジスタ1004,1008は、出力インピ
ーダンスおよびプロセス変動の影響を無視すれば、同じ
電流を伝播することを保証する。さらに、Nチャネルま
たはPチャネル・トランジスタをNチャネル・トランジ
スタ1008またはPチャネル・トランジスタ1006
のゲート電極電圧で駆動することにより、電流を回路の
他の部分において複製できる。
【0040】接合電圧発生器604(図6)は、Pチャ
ネル・トランジスタ1012,ダイオード1014およ
び増幅器1050を利用して、図9に示すように構成で
きる。Nチャネル・トランジスタ1050およびPチャ
ネル・トランジスタ1048は、Pチャネル・トランジ
スタ812における電流を制御する。増幅器1050
は、Pチャネル・トランジスタ1016,1022,1
028およびNチャネル・トランジスタ1018,10
24,1020,1026によって構成される。Pチャ
ネル・トランジスタ1044およびNチャネル・トラン
ジスタ1046は、増幅器の電流バイアスを設定する。
【0041】トランジスタ1050は、トランジスタ1
004のゲート電極に接続されたゲート電極と、グラン
ド信号を受けるべく接続されたソース電極と、ドレイン
電極とを有する。トランジスタ1048は、電源VDD
接続されたソース電極と、トランジスタ1050のドレ
イン電極に接続されたドレイン電極と、トランジスタ1
048のドレイン電極に接続されたゲート電極とを有す
る。トランジスタ1012は、トランジスタ1048の
ゲート電極に接続されたゲート電極と、電源VDDに接続
されたソース電極と、ドレイン電極とを有する。ダイオ
ード1014は、トランジスタ1012のドレイン電極
に接続されたアノードと、グランド信号を受けるべく接
続されたカソードとを有する。ダイオード1014およ
びトランジスタ1012に共通のノードは、ダイオード
の順方向バイアス接合電圧、すなわち図6のVj 608
を表すノード1038である。
【0042】トランジスタ1016は、電源VDDに接続
されたソース電極と、ゲート電極と、ドレイン電極とを
有する。トランジスタ1018は、トランジスタ101
6のドレイン電極に接続されたドレイン電極と、ノード
1038に接続されたゲート電極と、ソース電極とを有
する。トランジスタ1044は、電源VDDに接続された
ソース電極と、トランジスタ1006のゲート電極に接
続されたゲート電極と、ドレイン電極とを有する。トラ
ンジスタ1046は、グランド信号受けるべく接続され
たソース電極と、トランジスタ1044のドレイン電極
に接続されたドレイン電極と、トランジスタ1046の
ドレイン電極に接続されたゲート電極とを有する。トラ
ンジスタ1020は、トランジスタ1018のソース電
極に接続されたドレイン電極と、トランジスタ1046
のゲート電極に接続されたゲート電極と、グランド信号
を受けるべく接続されたソース電極とを有する。トラン
ジスタ1022は、電源VDDに接続されたソース電極
と、トランジスタ1016のゲート電極に結合されたゲ
ート電極と、トランジスタ1022のゲート電極に接続
されたドレイン電極とを有する。トランジスタ1024
は、トランジスタ1022のドレイン電極に接続された
ドレイン電極と、ゲート電極と、トランジスタ1020
のドレイン電極に接続されたソース電極とを有する。ト
ランジスタ1028は、電源VDDに接続されたソース電
極と、トランジスタ1018のドレイン電極およびコン
デンサ1060の第1端子に接続されたゲート電極と、
トランジスタ1024のゲート電極およびコンデンサ1
060の第2端子に接続されたドレイン電極とを有す
る。トランジスタ1026は、グランド信号を受けるべ
く接続されたソース電極と、トランジスタ1046のゲ
ート電極に接続されたゲート電極と、トランジスタ10
28のドレイン電極に接続されたドレイン電極とを有す
る。ノード1040は、トランジスタ1028のドレイ
ン電極、トランジスタ1024のゲート電極およびトラ
ンジスタ1026のドレイン電極に共通で、増幅器出力
ノードである。ノード1040は、図6の信号Vj ’6
12と同様である。 Nチャネル・トランジスタ105
0は電流源として機能し、トランジスタ1004のゲー
トを駆動する同じゲート電極電圧を受ける。一般に、ト
ランジスタ1050は、トランジスタ1004よりもは
るかに小さい幅を有し、はるかに小さい電流を導通す
る。Pチャネル・トランジスタ1048,1012は、
電流ミラーとして機能する。Pチャネル・トランジスタ
1012によって生成される電流は、ダイオード101
4を通過し、ダイオード1014の両端に順方向接合バ
イアスを生成する。接合電圧(図6のVj 608)は、
ノード1038に存在する。この接合電圧は、増幅器1
050によってバッファされる。Vj は、Nチャネル・
トランジスタ1018のゲート電極である増幅器105
0の入力が受ける。増幅器の出力は、出力ノード104
0である。出力ノード1040に存在する電圧、すなわ
ち、図6のVj ’612は、ノード1038に存在する
ダイオード電圧、すなわち図6のVj 608と実質的に
同様である。
【0043】加算回路網606(図6)は、図9におい
て、抵抗器1010,Pチャネル・トランジスタ104
4,1028,1032,Nチャネル・トランジスタ1
046、1026および抵抗器1030,1034によ
って、VPT発生器602におけるVpat に比例する電
流の発生によって表される。(Pチャネル・トランジス
タ1028およびNチャネル・トランジスタ1026は
増幅器1050の一部でもある。)抵抗器1030は、
増幅器出力ノード1040に接続された第1端子と、グ
ランド信号を受けるべく接続された第2端子とを有す
る。トランジスタ1032は、電源VDDに接続されたソ
ース電極と、トランジスタ1028のゲート電極に接続
されたゲート電極と、抵抗器1034の第1端子に接続
されたドレイン電極とを有する。抵抗器1034は、グ
ランド信号を受けるべく接続された第2端子を有する。
トランジスタ1032のドレイン電極および抵抗器10
34の第1端子に共通のノードは、図6のVref 614
である。
【0044】倍増回路,分圧回路および加算回路は、本
発明のこの実施例では、互いに絡み合っている。Vpat
およびVj ’に比例する電流は、最初に抵抗器101
0,1030によってそれぞれ生成される。抵抗器10
10によって生成された、Vpat に比例する電流は、ト
ランジスタ1006,1044によって鏡映され、トラ
ンジスタ1046,1026によって鏡映・倍増され、
そして抵抗器1030によって生成されたVj ’に比例
する電流にノード1040において加算される。最後
に、トランジスタ1028,1032によって鏡映・倍
増された後、電流は抵抗器1034を介して供給され
て、基準電圧Vref を生成する。
【0045】倍増回路630(図6)は、図9におい
て、VPT発生器602における抵抗器1010による
pat に比例する電流の生成,トランジスタ1006,
1044におけるその電流の鏡映,トランジスタ104
6,1026における電流の鏡映・倍増,トランジスタ
1028,1032における電流の再度の鏡映・増幅お
よび鏡映電流の抵抗器1034への供給によって実施さ
れる。分圧回路620(図6)は、抵抗器1030によ
るVj に比例する電流の生成,トランジスタ1028,
1032における電流の鏡映・倍増および鏡映電流の抵
抗器1034への供給によって実施される。電流はトラ
ンジスタ1028,1032によって倍増されるが、抵
抗器1034と抵抗器1030の比率は、電圧に対して
最終的に分圧効果を有する。加算回路は、トランジスタ
1026および抵抗器1030を共通ノード1040に
おいて接続することによって完成される。このノードに
存在する電流、すなわちI1042は、出力電圧Vref
を最終的に制御する。以下の式は、出力基準電圧の生成
にとって重要な回路構成要素の関係を記述する:
【0046】
【数13】Vref =R34・I32
【0047】
【数14】I32=(W32/W28)・I28
【0048】
【数15】I28=I42
【0049】
【数16】I42=V40/R30+I26
【0050】
【数17】V40=Vj ’=V38=Vj
【0051】
【数18】I26=(W26/W46)・I46
【0052】
【数19】I46=I44
【0053】
【数20】I44=I06
【0054】
【数21】I06=I10
【0055】
【数22】I10=V36/R10
【0056】
【数23】V36=Vpat ここで、Vrefは、基準電圧であり、ノード614に
存在する電圧である;R34は、抵抗器1032の抵抗
の値である;I32は、トランジスタ1032を通過す
る電流の値である;W32は、トランジスタ1032の
幅の値である;W28は、トランジスタ1028の幅の
値である;I28は、トランジスタ1028を通過する
電流の値である;トランジスタ1032,1028は、
異なるかもしれないその幅を除いて、プロセス変動の制
限内で同一であり、トランジスタ1032を通過する電
流は、トランジスタ1028を通過する電流に、トラン
ジスタ1032の幅とトランジスタ1028の幅の比を
乗じたものに、出力インピーダンスおよび処理変動の制
限内で等しい;I42は、I1042によって表される
電流と同様である;V40は、ノード1040に存在す
る電圧の値である;Vj ’は、ノード1040に存在す
る電圧の値であり、ノード1038に存在する順方向バ
イアス接合電圧Vj に、プロセス制限内で等しい;V3
8は、ノード1038に存在する電圧の値である;Vj
は、接合電圧であり、ノード1038に存在する電圧で
ある;R30は、抵抗器1030の抵抗の値である;I
26は、トランジスタ1026を通過する電流の値であ
る;W26は、トランジスタ1026のゲート幅であ
る;W46は、トランジスタ1046のゲート幅であ
る;I46は、トランジスタ1046を通過する電流の
値である;トランジスタ1026,1046は、異なる
かもしれないその幅を除いて、プロセス変動の制限内で
同一であり、トランジスタ1026を通過する電流は、
トランジスタ1046を通過する電流に、トランジスタ
1026の幅とトランジスタ1046の幅の比を乗じた
ものに、出力インピーダンスおよび処理変動の制限内で
等しい;I44は、トランジスタ1044を通過する電
流の値である;I06は、トランジスタ1006を通過
する電流の値である;トランジスタ1044,1006
は、プロセス変動の制限内で同一であり、トランジスタ
1044を通過する電流は、出力インピーダンスおよび
プロセス変動の制限内で、トランジスタ1006におけ
る電流に等しい;I10は、抵抗器1010を通過する
電流の値である;V36は、ノード1036に存在する
電圧の値である;R10は、抵抗器1010の抵抗の値
である;Vpat は、絶対温度に比例する電圧の値であ
り、ノード1036に存在する電圧である。
【0057】数14および数16を数13に代入する
と、次式が得られる:
【0058】
【数24】 Vref =R34・(W32/W28)・I42 数17,数18,数19,数20,数21,数22,数
23を数16に代入すると、次式が得られる:
【0059】
【数25】I42=(Vj /R30)+((W26/W
46)・(Vpat /R10)) I42は、2つの電流成分に分割されることに留意され
たい。一方の成分は、電圧Vj および抵抗R30に依存
する。他方の成分は、Vpat ,抵抗器R10およびW2
6とW46の比に依存する。
【0060】数25を数24に代入すると、次式が得ら
れる:
【0061】
【数26】Vref =(Vj ・(R34/R30)・(W
32/W28))+(Vpat・(R34/R10)・
(W26/W46)・(W32/W28)) Vj は、1以下の正味値を有する、R34とR30およ
びR32とW28の比によって乗算されること、1以上
の正味値を有する、Vpat はR34とR10,W26と
W46およびW32とW28の比によって乗算されるこ
と、および分圧されたVj および倍増されたVpat は加
算されることに留意されたい。
【0062】抵抗器R34,R30は第1比を形成し、
抵抗器R34,R10は第2比を形成し、トランジスタ
幅W26,W46は第3比を形成し、トランジスタ幅W
32,W28は第4比を形成することに留意されたい。
これらの比は次式によって記述できる:
【0063】
【数27】R34/R30=Rr1
【0064】
【数28】R34/R10=Rr2
【0065】
【数29】W26/W46=Rw3
【0066】
【数30】W32/W28=Rw4 数27,数28,数29,数30を数26に代入するこ
とにより、次式が得られる:
【0067】
【数31】Vref =(Rr1・Rw4・Vj )+(Rr
2・Rw3・Rw4・Vpat) 本発明に従って、R10,Rr1,Rr2,Rw3,R
w4の値を適切に選択することにより、0.9ボルト以
下のVref の値が得られ、0.9ボルトまたはそれ以下
の回路動作が可能になる。
【0068】また、図9の回路では、トランジスタ10
32および抵抗器1034の構造および接続を複製する
ことにより、複数の基準電圧を得ることができる。この
ように縦続された各段について、異なる基準電圧を得る
ことができる。電流ミラー構成により、所望の基準電圧
を得るために、同様なあるいは異なる抵抗器またはトラ
ンジスタ幅を選択できる。
【0069】図9はさらに、追加出力段を利用して、追
加基準電圧を提供することを示す。図示のように、Pチ
ャネル・トランジスタ1032’および抵抗器103
4’は、トランジスタ1032および抵抗器1034と
同様に接続でき、トランジスタ1032’のゲート電極
はトランジスタ1028のゲート電極に接続される。ト
ランジスタ1032,1032’が同一ならば、抵抗器
1034’の抵抗値を変えることによって、異なる基準
電圧を得ることができる。トランジスタ1032,10
32’がその幅の比を除いて同一ならば、トランジスタ
幅比および抵抗器1034’の抵抗値の両方を利用し
て、所望の基準電圧を得ることができる。理論的には、
任意の数の追加出力段を追加できる。
【0070】上記の説明により、改善された低基準電圧
回路が提供されたことが明白であろう。さらに、本開示
回路に対してさまざまな修正を行うことができることも
明白である。例えば、回路はMOS,バイポーラ,Bi
CMOSまたは他の技術で製造できる。図示のトランジ
スタの導電型は反転してもよい。利用できる接合基準電
圧発生器604のさまざまな構成があり、またVPT発
生器602の他の構成もある。開示された実施例は特定
のトランジスタ比またはサイズを指定するかもしれない
が、本発明の目的を満たすために他のトランジスタ比お
よびサイズも利用できることが理解される。望ましけれ
ば、本発明は、温度に対して既知の量だけ変化する出力
電圧を得るためにも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】接合電圧発生器の従来の回路を示す概略図であ
る。
【図2】接合電圧と温度との関係を示す従来の特性曲線
のグラフである。
【図3】VPT発生器の従来の回路を示す概略図である
【図4】絶対温度に比例する電圧と絶対温度との関係を
示す従来の特性曲線のグラフである。
【図5】接合電圧特性曲線と、絶対温度に比例する電圧
の特性曲線との和を示すグラフである。
【図6】本発明によるバンドギャップ電圧発生器を示す
ブロック図である。
【図7】接合電圧発生器の部分的な概略図である。
【図8】本発明による基準電圧回路を示す概略図であ
る。
【図9】本発明による基準電圧回路を示す概略図であ
る。
【符号の説明】
600 電圧発生器回路 602 VPT発生器 604 接合基準電圧発生器 606 加算回路網 608 接合基準電圧Vj 610 温度依存基準電圧Vpat 612 Vj ’ 614 基準電圧 616 被分圧信号 618 加算回路 620 分圧回路 622 被倍増信号 630 倍増回路 702 ダイオード 706 バッファ 708 Vj 709 電流源 800 低基準電圧回路 802,806 Pチャネル・トランジスタ 804,808 Nチャネル・トランジスタ 810 抵抗器 812 Pチャネル・トランジスタ 814 ダイオード 816,822,826 Pチャネル・トランジスタ 818,820,824 Nチャネル・トランジスタ 828,830,834 抵抗器 832 Pチャネル・トランジスタ 836,838 ノード 840 出力ノード 844 Pチャネル・トランジスタ 846 Nチャネル・トランジスタ 848 Pチャネル・トランジスタ 850 増幅器(Nチャネル・トランジスタ) 852 ノード 860 コンデンサ 1000 基準電圧回路 1002,1006 Pチャネル・トランジスタ 1004,1008 Nチャネル・トランジスタ 1010 抵抗器 1012 Pチャネル・トランジスタ 1014 ダイオード 1016,1022,1028,1032 Pチャネル
・トランジスタ 1018,1024,1020,1026 Nチャネル
・トランジスタ 1030,1034 抵抗器 1036,1038,1040 ノード 1044 Pチャネル・トランジスタ 1046 Nチャネル・トランジスタ 1048 Pチャネル・トランジスタ 1050 増幅器(Nチャネル・トランジスタ) 1060 コンデンサ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 参照電圧回路であって:大きさが温度に
    比例する基準電圧(610)を生成する絶対温度比例電
    圧(602)発生器;接合参照電圧(612)を生成す
    る順方向バイアス・バイポーラ接合参照電圧回路(60
    4);および前記電圧発生器(602)および前記順方
    向バイアス・バイポーラ接合参照電圧回路(604)に
    結合された加算回路網(606)であって、基準電圧
    (622)を第1の所定の量だけ変更して修正された基
    準電圧を与えることにより、および前記接合参照電圧を
    第2の所定の量だけ変更して、修正された接合参照電圧
    (616)を与え、その後、前記修正された基準電圧
    (622)と前記修正された接合参照電圧(616)と
    を合成して出力参照電圧(614)を生成することによ
    り、バイポーラ半導体接合のバンドギャップ電圧よりも
    大きさが小さい出力参照電圧(614)を生成する、加
    算回路網(606);によって構成されることを特徴と
    する参照電圧回路。
  2. 【請求項2】 ある温度範囲において実質的に一定の参
    照電圧を与える方法であって:温度に比例する電圧(1
    036)を抵抗素子の両端に与える段階であって、温度
    に比例する前記電圧は、前記抵抗素子(1010)の両
    端で与えられることにより第1電流が第1導電経路を介
    して流れる、段階;前記第1電流に実質的に比例する第
    2電流を、第2導電経路を介して印加する段階;バイポ
    ーラ接合デバイス(1014)の両端で接合電圧(10
    38)を生成する段階;前記接合電圧を抵抗素子(10
    30)の両端に印加して第3導電経路を介する第3電流
    を生成する段階であって、前記第2および第3導電経路
    は、共通ノード(1042)に結合され、第4導電経路
    は前記共通ノードに結合され、前記第2電流および前記
    第3電流の和に等しい第4電流を流す、段階;および前
    記第4電流に実質的に比例する電流を抵抗(1034)
    素子(1034)に印加して、前記温度範囲にわたって
    実質的に一定の基準電圧を与える段階;によって構成さ
    れることを特徴とする方法。
JP8323580A 1995-11-20 1996-11-19 低参照電圧回路およびその動作方法 Pending JPH09160663A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US560876 1995-11-20
US08/560,876 US5614816A (en) 1995-11-20 1995-11-20 Low voltage reference circuit and method of operation

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09160663A true JPH09160663A (ja) 1997-06-20

Family

ID=24239728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8323580A Pending JPH09160663A (ja) 1995-11-20 1996-11-19 低参照電圧回路およびその動作方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5614816A (ja)
EP (1) EP0774704A3 (ja)
JP (1) JPH09160663A (ja)
TW (1) TW334634B (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005332364A (ja) * 2004-04-22 2005-12-02 Oki Electric Ind Co Ltd 定電流発生回路
JP2007514988A (ja) * 2003-10-07 2007-06-07 アナログ・デバイシス・インコーポレーテッド 半導体プロセスおよび半導体回路における温度ドリフトを補償するための方法ならびに装置
JP2007157055A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Elpida Memory Inc 基準電圧発生回路
JP2007228399A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Toshiba Corp 電圧制御電流源および可変利得増幅器
JP2012099065A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk 基準電圧源回路

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3780030B2 (ja) * 1995-06-12 2006-05-31 株式会社ルネサステクノロジ 発振回路およびdram
US5629612A (en) * 1996-03-12 1997-05-13 Maxim Integrated Products, Inc. Methods and apparatus for improving temperature drift of references
US5933045A (en) * 1997-02-10 1999-08-03 Analog Devices, Inc. Ratio correction circuit and method for comparison of proportional to absolute temperature signals to bandgap-based signals
US5900773A (en) * 1997-04-22 1999-05-04 Microchip Technology Incorporated Precision bandgap reference circuit
US6091287A (en) * 1998-01-23 2000-07-18 Motorola, Inc. Voltage regulator with automatic accelerated aging circuit
US6002243A (en) * 1998-09-02 1999-12-14 Texas Instruments Incorporated MOS circuit stabilization of bipolar current mirror collector voltages
US6225856B1 (en) * 1999-07-30 2001-05-01 Agere Systems Cuardian Corp. Low power bandgap circuit
EP1178383B1 (en) * 2000-08-03 2012-10-03 STMicroelectronics Srl Circuit generator of a voltage signal which is independent from temperature and a few sensible from manufacturing process variables
US6469572B1 (en) * 2001-03-28 2002-10-22 Intel Corporation Forward body bias generation circuits based on diode clamps
KR100493174B1 (ko) * 2003-06-16 2005-06-02 삼성전자주식회사 주파수 분주기용 기준 전압 발생기 및 그 방법
AU2003256241A1 (en) * 2003-07-09 2005-01-28 Anton Pletersek Temperature independent low reference voltage source
KR100582742B1 (ko) * 2004-12-21 2006-05-22 인티그런트 테크놀로지즈(주) 기준 전류 발생 회로
JP2006244228A (ja) * 2005-03-04 2006-09-14 Elpida Memory Inc 電源回路
US7511567B2 (en) * 2005-10-06 2009-03-31 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bandgap reference voltage circuit
TWI378227B (en) * 2009-02-27 2012-12-01 Mstar Semiconductor Inc Ptat sensor and temperature sensing method thereof
JP2012084034A (ja) * 2010-10-14 2012-04-26 Toshiba Corp 定電圧定電流発生回路
US9958895B2 (en) * 2011-01-11 2018-05-01 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Bandgap reference apparatus and methods
US8278995B1 (en) 2011-01-12 2012-10-02 National Semiconductor Corporation Bandgap in CMOS DGO process
JP2012216034A (ja) * 2011-03-31 2012-11-08 Toshiba Corp 定電流源回路
US8924765B2 (en) * 2011-07-03 2014-12-30 Ambiq Micro, Inc. Method and apparatus for low jitter distributed clock calibration
US8547166B2 (en) * 2011-07-29 2013-10-01 Macronix International Co., Ltd. Temperature compensation circuit and temperature compensated metal oxide semiconductor transistor using the same
US9634648B1 (en) * 2013-12-05 2017-04-25 Xilinx, Inc. Trimming a temperature dependent voltage reference
KR20230112326A (ko) * 2022-01-20 2023-07-27 에스케이하이닉스 주식회사 온도 변화에도 기준 전류 혹은 기준 전압을 생성하는 반도체 장치

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3617859A (en) * 1970-03-23 1971-11-02 Nat Semiconductor Corp Electrical regulator apparatus including a zero temperature coefficient voltage reference circuit
US4313082A (en) * 1980-06-30 1982-01-26 Motorola, Inc. Positive temperature coefficient current source and applications
US4375595A (en) * 1981-02-03 1983-03-01 Motorola, Inc. Switched capacitor temperature independent bandgap reference
US4368420A (en) * 1981-04-14 1983-01-11 Fairchild Camera And Instrument Corp. Supply voltage sense amplifier
US4935690A (en) * 1988-10-31 1990-06-19 Teledyne Industries, Inc. CMOS compatible bandgap voltage reference
US4849684A (en) * 1988-11-07 1989-07-18 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laaboratories CMOS bandgap voltage reference apparatus and method
US4945260A (en) * 1989-04-17 1990-07-31 Advanced Micro Devices, Inc. Temperature and supply compensated ECL bandgap reference voltage generator
US4896094A (en) * 1989-06-30 1990-01-23 Motorola, Inc. Bandgap reference circuit with improved output reference voltage
US5053640A (en) * 1989-10-25 1991-10-01 Silicon General, Inc. Bandgap voltage reference circuit
US5144223A (en) * 1991-03-12 1992-09-01 Mosaid, Inc. Bandgap voltage generator
US5148099A (en) * 1991-04-01 1992-09-15 Motorola, Inc. Radiation hardened bandgap reference voltage generator and method
US5245273A (en) * 1991-10-30 1993-09-14 Motorola, Inc. Bandgap voltage reference circuit
US5336986A (en) * 1992-02-07 1994-08-09 Crosspoint Solutions, Inc. Voltage regulator for field programmable gate arrays
US5325045A (en) * 1993-02-17 1994-06-28 Exar Corporation Low voltage CMOS bandgap with new trimming and curvature correction methods
EP0658835B1 (en) * 1993-12-17 1999-10-06 STMicroelectronics S.r.l. Low supply voltage, band-gap voltage reference

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007514988A (ja) * 2003-10-07 2007-06-07 アナログ・デバイシス・インコーポレーテッド 半導体プロセスおよび半導体回路における温度ドリフトを補償するための方法ならびに装置
JP2005332364A (ja) * 2004-04-22 2005-12-02 Oki Electric Ind Co Ltd 定電流発生回路
JP2007157055A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Elpida Memory Inc 基準電圧発生回路
JP2007228399A (ja) * 2006-02-24 2007-09-06 Toshiba Corp 電圧制御電流源および可変利得増幅器
JP2012099065A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk 基準電圧源回路

Also Published As

Publication number Publication date
EP0774704A2 (en) 1997-05-21
US5614816A (en) 1997-03-25
EP0774704A3 (en) 1998-01-21
TW334634B (en) 1998-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09160663A (ja) 低参照電圧回路およびその動作方法
US4839535A (en) MOS bandgap voltage reference circuit
JP3759513B2 (ja) バンドギャップ基準回路
US5568045A (en) Reference voltage generator of a band-gap regulator type used in CMOS transistor circuit
KR0169316B1 (ko) 기준 발생기
US4714872A (en) Voltage reference for transistor constant-current source
US5949278A (en) Reference current generator in CMOS technology
KR0153545B1 (ko) 기준 전위 발생 회로
US5686823A (en) Bandgap voltage reference circuit
US11137788B2 (en) Sub-bandgap compensated reference voltage generation circuit
US6384586B1 (en) Regulated low-voltage generation circuit
JP3519361B2 (ja) バンドギャップレファレンス回路
US7902912B2 (en) Bias current generator
JP3476363B2 (ja) バンドギャップ型基準電圧発生回路
US6614209B1 (en) Multi stage circuits for providing a bandgap voltage reference less dependent on or independent of a resistor ratio
US10379567B2 (en) Bandgap reference circuitry
JP2021185516A (ja) 定電流回路
US6388507B1 (en) Voltage to current converter with variation-free MOS resistor
US5635869A (en) Current reference circuit
JPH0727425B2 (ja) 電圧発生回路
JPS5925243B2 (ja) 定電流源
JPH02186706A (ja) バイアス電圧発生回路及びその方法
KR920010237B1 (ko) 증폭회로
JPS6269308A (ja) 基準電圧発生回路装置
JP2500985B2 (ja) 基準電圧発生回路

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20041217

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20050325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060117

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20060704